JP2014021489A - 顕微鏡法における被写界深度(dof)を改善するための方法及び装置 - Google Patents

顕微鏡法における被写界深度(dof)を改善するための方法及び装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014021489A
JP2014021489A JP2013144308A JP2013144308A JP2014021489A JP 2014021489 A JP2014021489 A JP 2014021489A JP 2013144308 A JP2013144308 A JP 2013144308A JP 2013144308 A JP2013144308 A JP 2013144308A JP 2014021489 A JP2014021489 A JP 2014021489A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
focus
degree
series
images
detecting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013144308A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5679523B2 (ja
Inventor
Liu Ming-Chang
リュー ミン−チャン
Mark Robertson
ロバートソン マーク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Publication of JP2014021489A publication Critical patent/JP2014021489A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5679523B2 publication Critical patent/JP5679523B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing
    • G02B21/244Devices for focusing using image analysis techniques
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T9/00Image coding
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N19/00Methods or arrangements for coding, decoding, compressing or decompressing digital video signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

【課題】顕微鏡法における被写界深度(DOF)を改善するための装置及び方法を提供する。
【解決手段】顕微鏡撮像における被写界深度(DOF)を改善する方法400であって、異なる焦点距離からキャプチャした一連の画像を組み合わせて全焦点画像を形成するステップを含み、このステップは、全ての画素における合焦度を計算するステップ404と、各位置における合焦度の最大ピークを複数の候補値として検出するステップ406と、全焦点画像を決定するために合焦度に従って複数の候補値を混合するステップ408とを含む。
【選択図】図4

Description

本発明の実施形態は、一般に、デジタル顕微鏡法に関する画像の処理に関し、より具体的には、顕微鏡法における被写界深度(DOF)を改善するための方法及び装置に関する。
デジタル顕微鏡は、標本を異なる深度で撮像して一連のデジタル画像を作成するものである。各画像は、特定の焦点深度における標本のスライスを表す。従って、単一の標本スライスでは、標本全体の一部にしか焦点が合っていない。この一連のデジタル画像は、深度に対応するZ次元に沿ってスタックされたものであり、これをZスタックと呼ぶ。Zスタック内の各画像は、キャプチャする標本の異なる深度に合焦したものである。デジタル顕微鏡の光学系が設定する被写界深度は非常に浅く、標本全体に焦点を合わせて単一の写真でキャプチャするには浅すぎる。従って、Zスタック内の全ての画像は、同じ標本のものではあるが、画像毎に焦点が異なる。
画像のDOFを改善するための、すなわち拡張被写界深度(EDOF)のための既存の方法には、共通の基本となる論拠がある。既存の方法では、識別するデジタル画像が指定の場所において最も良好に合焦する深度でデジタル画像を識別することにより、出力画像内の各指定場所の最良の画像を検出する。この結果、出力画像内の出力画素は、検出された最良の画像に基づく値を取得する。既存の方法は、最良の焦点を定めて(すなわち決定して)深度マップ推定の一貫性を高めるという点で異なる。しかしながら、これらの方法は効果が薄いことが多く、その高い計算の複雑性に起因して問題を含んでいる。
米国特許出願代理人整理番号SCA3832 米国特許出願代理人整理番号SCA3833
従って、顕微鏡法における被写界深度(DOF)を改善するための方法及び装置が必要とされている。
実質的に図の少なくとも1つに示し及び/又はこれに関連して説明し、特許請求の範囲により完全に記載する、顕微鏡法における被写界深度(DOF)を改善するための装置及び/又は方法を提供する。
以下の説明及び図面から、本開示の様々な利点、態様及び新規の特徴、並びにこれらを示す実施形態の詳細がより完全に理解されるであろう。
上述した本発明の特徴を詳細に理解できるように、いくつかを添付図面に示す実施形態を参照しながら、上記で簡単に要約した本発明のより詳細な説明を行うことができる。しかしながら、添付図面には、本発明の典型的な実施形態しか示しておらず、従って本発明は他の等しく効果的な実施形態も認めることができるので、これらの図面が本発明の範囲を限定すると見なすべきではない。
本発明の例示的な実施形態による、顕微鏡法における被写界深度(DOF)を改善するための装置のブロック図である。 本発明の例示的な実施形態によるZスタックの例を示す図である。 本発明の例示的な実施形態による、図2の5つの個々のデジタル画像を示す図である。 本発明の例示的な実施形態による、顕微鏡法におけるDOFを改善する方法のフロー図である。 本発明の例示的な実施形態による合焦度の例を示すグラフである。 本発明の例示的な実施形態による処理済み画像を示す図である。
本開示の実施形態は、一般に顕微鏡法における被写界深度(DOF)を改善するための方法及び装置を含む。顕微鏡法におけるDOFを改善するための装置は、標本の顕微鏡画像を異なる深度でキャプチャして一連の画像を作成するためのデジタル顕微鏡、及び異なる焦点距離からキャプチャした一連の画像を組み合わせて単一の全焦点画像を形成するためのコンピュータ装置を含む。異なる焦点距離からキャプチャした一連の画像を組み合わせて単一の全焦点画像を形成するステップは、全ての画素における合焦度を計算するステップと、この合焦度に基づいて全焦点画像のための複数の候補値を検出するステップと、合焦度に従って候補値を混合し、全焦点画像のための最終画素値を決定するステップとを含む。
いくつかの実施形態では、異なる焦点距離で撮影した画像の組を組み合わせて単一の全焦点画像を形成する、顕微鏡法における拡張被写界深度(EDOF)のための方法を開示する。大量の顕微鏡画像を単一の全焦点画像に低減する方法、又は大量の顕微鏡画像を少量の顕微鏡画像に低減する方法を使用することが可能である。顕微鏡法におけるEDOFのための方法の様々な実施形態は、大量の顕微鏡画像を単一の全焦点画像又は少量の顕微鏡画像に低減する上で、実質的なデータの削減を可能にする。1つの実施形態によれば、この方法は、まず全ての画素における合焦度を計算し、次にこの合焦度に基づいて全焦点画素のための複数の候補値を検出する。最終的な全焦点画像を決定するために、これらの候補を合焦度に従って混合する。この方法の副産物として、いくつか用途においても有用となり得る深度マップが得られる。
図1は、本発明の例示的な実施形態による、デジタル顕微鏡102を使用する顕微鏡法におけるDOFを改善するための装置100の機能ブロック図である。装置100は、デジタル顕微鏡102及びコンピュータ装置104を備える。いくつかの実施形態では、デジタル顕微鏡102がコンピュータ装置104に結合される。他の実施形態では、顕微鏡102によって画像スタックが作成され、メモリスティック、コンパクトディスク、ネットワーク接続などを介してコンピュータ装置104に転送される。
デジタル顕微鏡102は、標本のデジタル画像を異なる焦点深度でキャプチャして、各々が「スライス」を表す一連の画像を作成する。デジタル顕微鏡102は、標本を異なる深度で撮像して、一連のデジタル画像を作成する。例示を目的として、この一連のデジタル画像を、式1:I(x,y,z)によって表し、式中、(x,y)は、x=0〜X−1、y=0〜Y−1とする空間指数であり、zは、z=0〜Z−1とする深度指数である[式1]。
コンピュータ装置104は、中央処理装置(CPU)106、サポート回路108、メモリ110及びI/O装置112を備える。CPU106は、データの処理及び記憶を容易にする1又はそれ以上の市販のマイクロプロセッサ又はマイクロコントローラを含むことができる。様々なサポート回路108は、CPU106の動作を容易にし、1又はそれ以上のクロック回路、電源、キャッシュ、入力/出力回路などを含む。メモリ110は、リードオンリメモリ(ROM)、ランダムアクセスメモリ(RAM)、ディスクドライブ型記憶装置、光学記憶装置、取り外し可能記憶装置及び/又は同様のもの、のうちの少なくとも1つを含む。
メモリ110は、オペレーティングシステム(OS)114及びEDOF生成モジュール116を含む。
EDOF生成モジュール116は、全焦点画像生成器118及び深度マップ生成器120を含む。EDOF生成モジュール116は、デジタル顕微鏡102によって異なる焦点距離でキャプチャされた一連のデジタル画像を組み合わせて全焦点画像を形成することを容易にする。EDOF生成モジュール116は、深度マップの生成を容易にする。
本明細書では「全焦点画像」という用語を使用しているが、これは、Zスタックを3次元から2次元に縮小して、焦点が合った全体的な標本が得られるようにすることを意味する。
例示的な実施形態によれば、全焦点画像生成器118は、全焦点画像を生成する。深度マップ生成器120は、全焦点画像を生成する処理全体の副産物としての深度マップを生成する。1つの実施形態では、この深度マップをZスタックのデータ圧縮に使用する。他の実施形態によれば、同一出願人による米国特許出願代理人整理番号SCA3832及びSCA3833に記載されるように、この深度マップを使用して、全ての画像を手動でスクロールせずに所望の画素に最良に合焦する画像が表されるように、Z次元を素早く「スナップ撮影」する。動作中、コンピュータ装置104は、EDOF生成モジュール116を実行する。EDOF生成モジュール116は、全焦点画像生成器118に結合される。EDOF生成モジュール116は、デジタル顕微鏡102によって異なる焦点距離でキャプチャされた一連のデジタル画像を組み合わせて全焦点画像を形成することを容易にする。全焦点画像生成器118は、一連のデジタル画像の各々の全ての画素における合焦度を計算する。全焦点画像生成器118は、この合焦度に基づいて、全焦点画素のための複数の候補値を検出する。全焦点画像生成器118は、これらの候補を合焦度に従って混合し、全焦点画像のための画素値を作成する。
図2に、デジタル顕微鏡102によって生成されたZスタック200の例を示す。Zスタック内の各画像は、標本内の異なる深度に焦点を合わせたものである。デジタル顕微鏡102は、標本のデジタル画像を異なる焦点深度でキャプチャして一連の画像を作成する。従って、標本の深度全体を通じて焦点深度を増分して、デジタル画像の少なくとも1つに合焦した全体的標本をキャプチャする。この一連のデジタル画像は、空間次元X及びYに加え、深度に対応するZ次元に沿ってZスタックにスタックされる。
図3に、本発明の例示的な実施形態による、図2に示すZスタック200の5つの個々の画像を示す。図3には、各々が異なるZ深度における画像302、304、306、308及び310を示している。例えば、デジタル顕微鏡のユーザが最初に標本のスライドを観察した時には、画像302が見える。ユーザが異なるZ深度に焦点を調整したいと望む場合、図2に示すZスタック200を形成する画像304などが現れる。
図4は、本発明の例示的な実施形態による、図1のEDOF生成モジュール116により実行される、顕微鏡法におけるDOFを改善する方法400のフロー図である。
方法400は、コンピュータ装置104上のCPU106により実行されるEDOF生成モジュール116によって実施される。EDOF生成モジュール116は、全焦点画像生成器118及び深度マップ生成器120を含む。EDOF生成モジュール116は、デジタル顕微鏡102によって異なる焦点距離でキャプチャされた一連のデジタル画像を組み合わせて全焦点画像を形成することを容易にする。EDOF生成モジュール116は、深度マップの生成も容易にする。
この方法は、ステップ402から開始してステップ404に進む。
ステップ404において、全焦点画像生成器118は、一連のデジタル画像の各々の全ての画素における合焦度を計算する。
この合焦度は、式:H(x,y,z)[式2]によって表される。ステップ404(a)において、全焦点画像生成器118は、一連のデジタル画像を2次元(2−D)高域フィルタで畳み込むことによって合焦度を計算する。一連のデジタル画像及び2−D高域フィルタは、式:I(x,y,z)[式3]、及びF1(x,y)[式4]によって表される。全焦点画像生成器118は、ステップ404(b)において、畳み込みの結果における各画素位置の絶対値を取ることにより、2−D高域フィルタによる一連のデジタル画像の畳み込みの結果を正の信号に変換する。
いくつかの代替の実施形態では、畳み込みの結果を変換するために、絶対値の代わりに絶対値の2乗が考慮される。全焦点画像生成器118は、変換した結果を2−D低域フィルタ(ここには明示せず)で畳み込んで合焦度H(x,y,z)を生成する。この2−D低域フィルタは、式:f2(x,y)[式5]によって表される。
次に、方法400はステップ406に進み、全焦点画像生成器が、平滑化後の合焦度に適用する1次元関数の最大ピークを各位置における合焦度の候補として検出する。この合焦度は、各位置における合焦度のzの1次元(1−D)関数である。このzの1−D関数は、式:Hx,y(z)=H(x,y,z)[式6]によって表される。全焦点画像生成器118は、この合焦度が各位置における合焦度のzの1次元(1−D)関数であるという仮定に基づいて、Hx,y(z)が最大となるピークを検出する。いくつかの実施形態によれば、f[tp]>f[tp+1]かつf[tp]>f[tp−1]の場合、すなわち離散的1−D関数が複数のピークを有することができる場合、1−D関数f[t]のピークはtpになる。
x,y(z)の平滑化バージョンおける最大ピーク(極大値)は、一連の項:d1(x,y)、d2(x,y)...dp(x,y)によって表される。ステップ406(a)において、これらのピークを平滑化し、そしてさらに正確にする。全焦点画像生成器118は、式:f3(z)[式7]によって表される低域フィルタ(ここでは明示せず)を使用することにより、zの1−D関数、すなわちHx,y(z)を平滑化する。平滑化は、ノイズによって誤ったピークが生じるのを防ぐ。全焦点画像生成器118は、Hx,y(z)の平滑化バージョンにおけるピークを検出する。いくつかの任意の実施形態では、全焦点画像生成器118が、Hx,y(z)の未平滑化バージョンにおけるピークを、Hx,y(z)の平滑化バージョンから検出されたピークのすぐ近くで検出することにより、検出されたピークをさらに正確にする。全焦点画像生成器118は、位置(x,y)に、改善されたDOF画像、すなわちEDOF画像を生成する。このEDOF画像は、元々のZスタックI(x,y,z)の検出されたピークに対応する深度から得られた画素の混合物である。
ステップ408において、全焦点画像生成器116は、合焦度に従って候補を混合して、ステップ406において検出されたピークに対応する全焦点画像を次式に従って決定する。
ステップ408(a)において、より高い合焦度が、最終的な加重和においてより高い重みになるように重みγiを選択する。この一般原則を満たす重みを選択する方法は数多く存在する。1つの実施形態によれば、重みが次のように選択される。i=1...pの場合、初期値を以下のように設定する。
最小値を減算することにより、「ノイズフロア(noise floor)」に従ってゼロがリセットされる。この結果、重みは以下のように指定される。
1つの実施形態によれば、高域フィルタf1(x,y)では、パラメータβを有するガウス型フィルタを次式に従って使用する。
この実施形態では、β=2.0であるが、代替の実施形態では、異なる状況を考慮するようにこの値を調整することができる。なお、δ(x,y)は、原点では1と定義され、その他の場所では0と定義される衝撃関数である。
低域フィルタf2(x,y)では、パラメータαを有するガウス型フィルタを次式に従って使用する。
1つの実施形態によれば、α=2.0であるが、他の実施形態によれば、異なる状況に適するようにこの値を調整することができる。低域フィルタf3(z)では、パラメータσを有するガウス型フィルタを次式に従って使用する。
この実施形態では、スライスの数に依存するσの値を使用する。スライスの数が多いZスタックでは、強い平滑化(大きなσ値)が必要であり、スライスの数が少ないZスタックでは、弱い平滑化(小さなσ値)が必要である。σの正確な値は、様々な状況に合わせて適宜調整することができる。
他の実施形態によれば、単純化したフィルタを使用して、ガウス型フィルタによる結果と同様の結果が達成される。1つの実施形態によれば、ガウス型フィルタの代わりに平均化(平均)フィルタが使用される。方法400の副産物として、深度マップ生成器120により生成される深度マップが得られる。深度マップは、単純に深度di(x,y)であり、いくつかの実施形態によれば、複数のピークに起因して、特定の位置(x,y)において内容の焦点が合った複数の深度が存在する。全ての画素に対してこれらのステップが実行されると、方法400はステップ410に進んで終了する。
図5に、合焦度、すなわち式6においてHx,y(z)により表されるzの1次元(1−D)関数の例を、Hx,y(z)対zの1つの「円」上の2−Dグラフ表示で示す。Zスタックの各画像における、画像内の1つの特定の画素に関する合焦度Hx,y(z)を表す円を使用して、グラフ内の複数の点を示している。曲線500は、f3(z)による低域フィルタ処理の結果を表し、合焦度の2つのピークをより明確に示している。
図6に、2つのピーク、すなわちp=2の場合の、本発明のいくつかの実施形態による処理結果の例を示す。元々のデータセット、すなわちZスタックは50枚の画像を含み、そのうちのいくつかを図2及び図3に示している。図6では、画像602は全焦点画像であり、画像604は、各位置における主要ピークで構成される深度マップである。2次ピークを考慮することにより、追加の深度マップが生成される。代替の実施形態では、M枚の画像のZスタックを使用して、Zスタックのサブセットを表す複数の全焦点画像を作成する。M枚の画像をマージして、N枚の全焦点画像を形成する。
以上、特定の実施形態を参照しながら説明目的で上述の説明を行った。しかしながら、上記の例示的な説明は網羅的であることを意図するものではなく、或いは開示する正確な形に本発明を限定するものでもない。上述の教示に照らして多くの修正及び変形が可能である。実施形態は、本開示の原理及びその実施可能な応用について説明するために、及びこれにより当業者が本発明及び様々な実施形態を、企図される特定の用途に適するような様々な修正を加えて最も良く利用できるようにするために選択し説明したものである。
上述した内容は、本発明の実施形態を対象とするものであるが、本発明の基本的な範囲から逸脱することなく、本発明の他の及びさらなる実施形態を考案することができ、その範囲は特許請求の範囲により決定される。

Claims (15)

  1. 顕微鏡撮像における被写界深度(DOF)を改善する方法であって、
    異なる焦点距離からキャプチャした一連の画像を組み合わせて全焦点画像を形成するステップを含み、該ステップが、
    前記一連の画像の各画像の全ての画素における合焦度を計算するステップと、
    各位置における前記合焦度の1又はそれ以上の最大ピークを複数の候補値として検出するステップと、
    前記全焦点画像のための画素値を決定するために前記合焦度に従って前記複数の候補を混合し、これを全ての画素に関して繰り返すステップと、
    を含む、
    ことを特徴とする方法。
  2. 前記一連の画像が、深度に対応するZ次元に沿ってZスタックにスタックされる、
    ことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 異なる焦点距離からキャプチャした前記一連の画像を組み合わせて前記全焦点画像を形成するステップが、データを3次元から2次元に縮小するステップをさらに含む、
    ことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  4. 全ての画素における前記合焦度を計算するステップが、
    前記一連のデジタル画像を2次元(2−D)高域フィルタで畳み込むことにより、前記合焦度を計算するステップと、
    各位置における絶対値を使用して前記畳み込みの結果を正の信号に変換するステップと、
    前記変換の前記結果を2−D低域フィルタで畳み込むステップと、
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  5. 各位置における前記合焦度の最大ピークを検出するステップが、
    前記合焦度を、各位置における前記合焦度のzの1次元(1−D)関数として計算するステップと、
    前記計算した合焦度に基づいて、前記zの1次元(1−D)関数の1又はそれ以上のピークを検出するステップと、
    低域フィルタを使用することにより、前記zの1−D関数を平滑化するステップと、
    前記zの1−D関数の平滑化バージョンの前記ピークを検出するステップと、
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  6. 前記畳み込みの結果を変換するステップが、前記絶対値の代わりに前記絶対値の2乗を使用するステップを含む、
    ことを特徴とする請求項4に記載の方法。
  7. 各位置における前記合焦度の前記1又はそれ以上のピークを検出するステップが、前記zの1−D関数の平滑化バージョンから検出された前記ピークの近くに前記zの1−D関数の未平滑化バージョンの前記ピークを検出することにより、前記検出されたピークをさらに正確にするステップをさらに含む、
    ことを特徴とする請求項5に記載の方法。
  8. 前記合焦度に従って前記複数の候補値を混合して前記全焦点画像を決定するステップが、式:
    に従って実行される、
    ことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  9. 顕微鏡撮像における被写界深度を改善する(DOF)ための装置であって、前記装置が、
    標本の顕微鏡画像を異なる深度でキャプチャして一連の画像を作成するためのデジタル顕微鏡と、
    全焦点画像を形成することによって前記標本の前記被写界深度を拡張するための拡張被写界深度(EDOF)生成モジュールと、
    を備え、前記EDOF生成モジュールは全焦点画像生成モジュールを含み、該全焦点画像生成モジュールは、
    前記一連の画像の各画像の全ての画素における合焦度を計算し、
    前記合焦度に基づいて、全焦点画素のための1又はそれ以上の候補値を検出し、
    前記全焦点画像のための画素値を決定するために前記合焦度に従って前記複数の候補を混合し、これを全ての画素に関して繰り返す、
    ことを特徴とする装置。
  10. 前記一連の画像が、深度に対応するZ次元に沿ってZスタックにスタックされる、
    ことを特徴とする請求項9に記載の装置。
  11. 異なる焦点距離からキャプチャした前記一連の画像を組み合わせて前記全焦点画像を形成するステップが、データを3次元から2次元に縮小するステップをさらに含む、
    ことを特徴とする請求項9に記載の装置。
  12. 全ての画素における前記合焦度を計算するステップが、
    前記一連のデジタル画像を2次元(2−D)高域フィルタで畳み込むことにより、前記合焦度を計算するステップと、
    各位置における絶対値を使用して前記畳み込みの結果を正の信号に変換するステップと、
    前記変換の前記結果を2−D低域フィルタで畳み込むステップと、
    をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の装置。
  13. 各位置における前記合焦度の最大ピークを検出するステップが、
    前記全焦点画像生成モジュールが、前記合焦度を、各位置における前記合焦度のzの1次元(1−D)関数として計算するステップと、
    前記計算した合焦度に基づいて、前記zの1次元(1−D)関数の1又はそれ以上のピークを検出するステップと、
    低域フィルタを使用することにより、前記zの1−D関数を平滑化するステップと、
    前記zの1−D関数の平滑化バージョンの前記ピークを検出するステップと、
    をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の装置。
  14. 前記畳み込みの結果を変換するステップが、前記絶対値の代わりに前記絶対値の2乗を使用するステップを含む、
    ことを特徴とする請求項12に記載の装置。
  15. 各位置における前記合焦度の前記1又はそれ以上のピークを検出するステップが、前記zの1−D関数の平滑化バージョンから検出された前記ピークの近くに前記zの1−D関数の未平滑化バージョンの前記ピークを検出することにより、前記検出されたピークをさらに正確にするステップをさらに含む、
    ことを特徴とする請求項13に記載の装置。
JP2013144308A 2012-07-19 2013-07-10 顕微鏡法における被写界深度(dof)を改善するための方法及び装置 Expired - Fee Related JP5679523B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/553,265 US8988520B2 (en) 2012-07-19 2012-07-19 Method and apparatus for improving depth of field (DOF) in microscopy
US13/553,265 2012-07-19

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014021489A true JP2014021489A (ja) 2014-02-03
JP5679523B2 JP5679523B2 (ja) 2015-03-04

Family

ID=48700476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013144308A Expired - Fee Related JP5679523B2 (ja) 2012-07-19 2013-07-10 顕微鏡法における被写界深度(dof)を改善するための方法及び装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8988520B2 (ja)
EP (1) EP2687893A1 (ja)
JP (1) JP5679523B2 (ja)
CN (1) CN103578101A (ja)
CA (1) CA2819973A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016166858A1 (ja) * 2015-04-15 2016-10-20 オリンパス株式会社 顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム
US10690899B2 (en) 2016-09-02 2020-06-23 Olympus Corporation Image observation device and microscope system
US10721413B2 (en) 2015-12-08 2020-07-21 Olympus Corporation Microscopy system, microscopy method, and computer readable recording medium
JP2022061224A (ja) * 2020-10-06 2022-04-18 学校法人福岡工業大学 三次元画像生成システム、三次元画像生成方法、三次元画像生成プログラムおよび記録媒体

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5800611B2 (ja) * 2011-07-07 2015-10-28 オリンパス株式会社 撮影装置
US20150134425A1 (en) * 2013-05-27 2015-05-14 Brent Michael LeGris Collaboration Catalyst Machine
DE102014006717A1 (de) 2014-05-05 2015-11-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Erzeugung einer dreidimensionalen Information eines Objektes mit einem Digitalmikroskop und Datenverarbeitungsprogramm zur Abarbeitung des Verfahrens
EP3146728B1 (en) * 2014-05-21 2024-03-27 DRNC Holdings, Inc. Methods and systems for contextual adjustment of thresholds of user interestedness for triggering video recording
WO2016050767A1 (en) * 2014-09-29 2016-04-07 Biosurfit S.A. Focusing method
WO2017174652A1 (en) * 2016-04-06 2017-10-12 Biosurfit, S.A. Method and system for capturing images of a liquid sample
JP6722505B2 (ja) * 2016-05-11 2020-07-15 富士通株式会社 画像制御方法、装置、及びプログラム
US20180213286A1 (en) * 2017-01-20 2018-07-26 Essential Products, Inc. Contextual user interface based on shared activities
DE102017101188B4 (de) * 2017-01-23 2021-09-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zum Mikroskopieren einer Probe
US10389936B2 (en) 2017-03-03 2019-08-20 Danylo Kozub Focus stacking of captured images
CN110476185B (zh) * 2017-06-02 2023-04-04 上海科技大学 景深信息估算方法和装置
DE102017123510A1 (de) 2017-10-10 2019-04-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Digitales Mikroskop und Verfahren zum Aufnehmen eines Stapels von mikroskopischen Bildern einer Probe

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09274142A (ja) * 1996-02-08 1997-10-21 Olympus Optical Co Ltd 走査型顕微鏡
JPH09298682A (ja) * 1996-04-30 1997-11-18 Olympus Optical Co Ltd 焦点深度伸長装置
JP2000147384A (ja) * 1998-11-17 2000-05-26 Yokogawa Electric Corp 共焦点顕微鏡
JP2000357229A (ja) * 1999-06-14 2000-12-26 Sony Corp 表示装置、表示方法及び表示機能を有するプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な情報記録媒体
US6201899B1 (en) * 1998-10-09 2001-03-13 Sarnoff Corporation Method and apparatus for extended depth of field imaging
JP2001257932A (ja) * 2000-03-09 2001-09-21 Denso Corp 撮像装置
JP2002250707A (ja) * 1992-05-27 2002-09-06 Kla Instr Corp 荷電粒子ビームを用いた自動基板検査の装置及び方法
WO2002082805A1 (fr) * 2001-03-30 2002-10-17 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Camera de microscope omnifocale en temps reel
US20060038144A1 (en) * 2004-08-23 2006-02-23 Maddison John R Method and apparatus for providing optimal images of a microscope specimen
JP2006323045A (ja) * 2005-05-18 2006-11-30 Seiko Epson Corp 画像処理方法、および当該画像処理方法を用いた画像表示装置、プロジェクタ
JP2008271240A (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Fujifilm Corp 撮像装置、画像処理装置、撮像方法、及び画像処理方法
JP2009175682A (ja) * 2007-12-27 2009-08-06 Olympus Corp 共焦点顕微鏡
WO2011158515A1 (ja) * 2010-06-17 2011-12-22 パナソニック株式会社 距離推定装置、距離推定方法、集積回路、コンピュータプログラム
US20120061590A1 (en) * 2009-05-22 2012-03-15 British Columbia Cancer Agency Branch Selective excitation light fluorescence imaging methods and apparatus
US20120092546A1 (en) * 2009-07-08 2012-04-19 Freescale Semicondutor Inc. Degree-of-focus determination module, position-of-best-focus selection modules, image processing module, imaging system, and corresponding method

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005034597A1 (de) 2005-07-25 2007-02-08 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Anordnung zur Erzeugung einer Tiefenkarte
US20110169985A1 (en) * 2009-07-23 2011-07-14 Four Chambers Studio, LLC Method of Generating Seamless Mosaic Images from Multi-Axis and Multi-Focus Photographic Data
US8314837B2 (en) 2009-10-15 2012-11-20 General Electric Company System and method for imaging with enhanced depth of field
US8581162B2 (en) * 2009-12-08 2013-11-12 Mitutoyo Corporation Weighting surface fit points based on focus peak uncertainty
CN102696219B (zh) * 2010-11-08 2016-03-23 松下电器产业株式会社 摄像装置、摄像方法及集成电路

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002250707A (ja) * 1992-05-27 2002-09-06 Kla Instr Corp 荷電粒子ビームを用いた自動基板検査の装置及び方法
JPH09274142A (ja) * 1996-02-08 1997-10-21 Olympus Optical Co Ltd 走査型顕微鏡
JPH09298682A (ja) * 1996-04-30 1997-11-18 Olympus Optical Co Ltd 焦点深度伸長装置
US6201899B1 (en) * 1998-10-09 2001-03-13 Sarnoff Corporation Method and apparatus for extended depth of field imaging
JP2000147384A (ja) * 1998-11-17 2000-05-26 Yokogawa Electric Corp 共焦点顕微鏡
JP2000357229A (ja) * 1999-06-14 2000-12-26 Sony Corp 表示装置、表示方法及び表示機能を有するプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な情報記録媒体
JP2001257932A (ja) * 2000-03-09 2001-09-21 Denso Corp 撮像装置
WO2002082805A1 (fr) * 2001-03-30 2002-10-17 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Camera de microscope omnifocale en temps reel
US20060038144A1 (en) * 2004-08-23 2006-02-23 Maddison John R Method and apparatus for providing optimal images of a microscope specimen
JP2006323045A (ja) * 2005-05-18 2006-11-30 Seiko Epson Corp 画像処理方法、および当該画像処理方法を用いた画像表示装置、プロジェクタ
JP2008271240A (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Fujifilm Corp 撮像装置、画像処理装置、撮像方法、及び画像処理方法
JP2009175682A (ja) * 2007-12-27 2009-08-06 Olympus Corp 共焦点顕微鏡
US20120061590A1 (en) * 2009-05-22 2012-03-15 British Columbia Cancer Agency Branch Selective excitation light fluorescence imaging methods and apparatus
US20120092546A1 (en) * 2009-07-08 2012-04-19 Freescale Semicondutor Inc. Degree-of-focus determination module, position-of-best-focus selection modules, image processing module, imaging system, and corresponding method
WO2011158515A1 (ja) * 2010-06-17 2011-12-22 パナソニック株式会社 距離推定装置、距離推定方法、集積回路、コンピュータプログラム

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016166858A1 (ja) * 2015-04-15 2016-10-20 オリンパス株式会社 顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム
JPWO2016166858A1 (ja) * 2015-04-15 2018-02-08 オリンパス株式会社 顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム
US10429632B2 (en) 2015-04-15 2019-10-01 Olympus Corporation Microscopy system, microscopy method, and computer-readable recording medium
US10721413B2 (en) 2015-12-08 2020-07-21 Olympus Corporation Microscopy system, microscopy method, and computer readable recording medium
US10690899B2 (en) 2016-09-02 2020-06-23 Olympus Corporation Image observation device and microscope system
JP2022061224A (ja) * 2020-10-06 2022-04-18 学校法人福岡工業大学 三次元画像生成システム、三次元画像生成方法、三次元画像生成プログラムおよび記録媒体
JP7262800B2 (ja) 2020-10-06 2023-04-24 学校法人福岡工業大学 三次元画像生成システム、三次元画像生成方法、三次元画像生成プログラムおよび記録媒体

Also Published As

Publication number Publication date
US20140022346A1 (en) 2014-01-23
EP2687893A1 (en) 2014-01-22
US8988520B2 (en) 2015-03-24
JP5679523B2 (ja) 2015-03-04
CN103578101A (zh) 2014-02-12
CA2819973A1 (en) 2014-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5679523B2 (ja) 顕微鏡法における被写界深度(dof)を改善するための方法及び装置
JP5705096B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
US8942506B2 (en) Image processing apparatus, image processing method, and program
WO2016070680A1 (en) Methods and apparatus for controlling light field capture
CN102968800B (zh) 一种图像清晰度的评价方法
Shih Autofocus survey: a comparison of algorithms
CN111325763B (zh) 一种基于光场重聚焦的遮挡预测方法和装置
JP2015108837A (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
Florea et al. Parametric logarithmic type image processing for contrast based auto-focus in extreme lighting conditions
Hao et al. Improving the performances of autofocus based on adaptive retina-like sampling model
JP5369729B2 (ja) 画像処理装置、撮像装置およびプログラム
EP3194886A1 (en) Positional shift amount calculation apparatus and imaging apparatus
JP4696261B2 (ja) 空間周波数特性測定方法および空間周波数特性測定装置
US10523861B2 (en) Defocus estimation method independent of the scene content and use in an autofocus system
JP2017098933A (ja) 画像処理装置および画像処理方法
Tello-Mijares et al. Efficient autofocus method for sequential automatic capturing of high-magnification microscopic images
US9769372B2 (en) Image estimating method including calculating a transverse cutoff frequency, non-transitory computer readable medium, and image estimating apparatus
JP6949494B2 (ja) 画像処理装置および画像処理方法、撮像装置、プログラム
JP6399517B2 (ja) 流体計測方法、流体計測装置、流体計測用データ生成方法、流体計測用データ生成装置、及びコンピュータプログラム
JP5868758B2 (ja) 画像処理システム及びそれを備えた顕微鏡システム
US20230186483A1 (en) Method for determining boundaries of a z-stack of images of an object, corresponding optical instrument and computer program therefor
JP5654956B2 (ja) 視差画像生成装置および視差画像生成プログラム
WO2016042721A1 (en) Positional shift amount calculation apparatus and imaging apparatus
JP2012043397A (ja) 特徴量取得装置、特徴量取得方法、類似画像検索方法およびプログラム。
Wang et al. Depth estimation from a single defocused image using multi-scale kernels

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140416

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140519

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140718

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141215

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141228

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees