JP2014017593A - 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム - Google Patents

放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム Download PDF

Info

Publication number
JP2014017593A
JP2014017593A JP2012152392A JP2012152392A JP2014017593A JP 2014017593 A JP2014017593 A JP 2014017593A JP 2012152392 A JP2012152392 A JP 2012152392A JP 2012152392 A JP2012152392 A JP 2012152392A JP 2014017593 A JP2014017593 A JP 2014017593A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
signal
pixels
unit
drive circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012152392A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5988735B2 (ja
Inventor
Toshio Kameshima
登志男 亀島
Tomoyuki Yagi
朋之 八木
Katsuro Takenaka
克郎 竹中
Sho Sato
翔 佐藤
Takashi Iwashita
貴司 岩下
Eriko Sugawara
恵梨子 菅原
Hideyuki Okada
英之 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2012152392A priority Critical patent/JP5988735B2/ja
Priority to US13/934,430 priority patent/US9329280B2/en
Publication of JP2014017593A publication Critical patent/JP2014017593A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5988735B2 publication Critical patent/JP5988735B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/17Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/30Transforming light or analogous information into electric information
    • H04N5/32Transforming X-rays
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4208Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
    • A61B6/4258Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector for detecting non x-ray radiation, e.g. gamma radiation
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/63Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/74Circuitry for scanning or addressing the pixel array

Abstract

【課題】 放射線の照射の有無を即時に高い精度で検知するために適切な閾値の設定が可能な放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】 各々が変換素子Sとスイッチ素子Tとを含む複数の画素Pが配置された画素アレイ101と、スイッチ素子Tの導通状態と非導通状態とを制御するする駆動回路102と、画素アレイ101への放射線133の照射の強度に応じた変動を有する検知信号DSを出力する検知部と、スイッチ素子Tが駆動回路102によって行単位で順次に導通状態とされている画素アレイ101へ放射線が照射されていない期間に検知部から出力される検知信号DSと、スイッチ素子Tが駆動回路102によって行単位で順次に導通状態とされている画素アレイ101へ放射線が照射されている期間に検知部から出力される検知信号DSと、に基づいて、放射線133の照射の開始を検知するための開始閾値Sthを算出する演算処理を行う演算部120と、を含む。
【選択図】 図1

Description

本発明は、医療用の診断や工業用の非破壊検査に好適に用いられる放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システムに関する。特に、放射線発生装置からの放射線の照射の開始や終了といった放射線の照射の有無を検知することが可能な放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システムに関する。
平面型の検出器(以下FPDと略す)を用いた放射線撮像装置は、放射線発生装置による放射線の照射と同期して撮像動作を行う。この同期の手法として、特許文献1にあるように、以下の手法が用いられ得る。特許文献1の放射線撮像装置は、複数の画素を備えており、各画素は、放射線又は光を電荷に変換する変換素子と、電荷に基づく電気信号を転送することによって変換素子の一方の電極に所望の電圧を提供し得るスイッチ素子とを有する。また、放射線の照射の有無を検知するための検知部を有する。放射線発生装置からの放射線の照射の開始が検知部によって検知されるまで、駆動回路から行毎にスイッチ素子を導通状態とする導通電圧を順にスイッチ素子に供給して、変換素子の一方の電極の電圧をリセットする。そして、放射線発生装置からの放射線の照射の開始が検知部によって検知されると、駆動回路からの導通電圧の供給が停止される。それにより、スイッチ素子を非導通状態とする非導通電圧が駆動回路から全てのスイッチ素子に供給され、変換素子で発生した電荷を各画素に蓄積する。更に、放射線の照射の終了が検知部によって検知されると、駆動回路から行毎に導通電圧を順にスイッチ素子へ供給し、蓄積された電荷に応じた電気信号を画素から転送する。
特許文献2では、リセットする動作によって、放射線の照射を検知するための検知部が出力する信号に放射線に起因しないノイズ成分が混入すること、及び、このノイズ成分が特定のばらつきを有することが開示されている。そのため、特許文献2では、放射線の照射を検知するための信号のプロファイルを予め測定しておき、測定された放射線の照射を検知するための信号をそのプロファイルを用いて差分処理を行う。そして、差分処理された信号と所定の閾値とを比較することにより、放射線の照射の開始を検知する。
特開2007−151761号公報 特開2011−185622号公報
このように、放射線の照射の有無を精度よく検知するためには、閾値を適切に設定しなければならない。しかしながら、特許文献1及び2では、適切な閾値の設定について具体的な開示はなく、検討の余地がある。
そこで本発明の課題は、放射線の照射の有無を即時に高い精度で検知するために適切な閾値の設定が可能な放射線撮像装置を提供することである。
本発明の放射線撮像装置の制御方法は、各々が変換素子とスイッチ素子とを含んで放射線発生装置から出射された放射線を電気信号に変換する複数の画素が行列状に配置された画素アレイと、前記スイッチ素子の導通状態と非導通状態とを制御する駆動信号を前記複数の画素の前記スイッチ素子に供給する駆動回路と、前記電気信号に基づく画像信号を読み出す読出回路と、前記画素アレイへの放射線の照射を検知するために前記画素アレイへの放射線の照射の強度に応じて変動する信号である検知信号を出力する検知部と、を含む放射線撮像装置の制御方法であって、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイに放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、に基づいて、前記画素アレイへの放射線の照射の開始を検知するための閾値である開始閾値を算出する第1モードと、前記第1モードの後に、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている期間に前記検知部から出力される前記検知信号の値と前記開始閾値とを比較して前記検知信号の値が前記開始閾値を上回った場合に、前記複数の画素の前記スイッチ素子を前記駆動回路が前記非導通状態とする第2モードと、を含む。
また、本発明の放射線撮像装置は、各々が変換素子とスイッチ素子とを含んで放射線発生装置から出射された放射線を電気信号に変換する複数の画素が行列状に配置された画素アレイと、前記スイッチ素子の導通状態と非導通状態とを制御する駆動信号を前記複数の画素の前記スイッチ素子に供給する駆動回路と、前記画素アレイへの放射線の照射を検知するために前記画素アレイへの放射線の照射の強度に応じて変動する信号である検知信号を出力する検知部と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、に基づいて、放射線の照射の開始を検知するための閾値である開始閾値を算出するための演算処理を行う演算部と、を含む。
本発明により、放射線の照射の有無を即時に高い精度で検知するために適切な閾値の設定が可能な放射線撮像装置を提供できる。
放射線撮像装置及び放射線撮像システムを説明するための模式的等価回路図、及び、放射線撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。 第1の実施形態に係る放射線撮像装置及び放射線撮像システムの動作を説明するためのフローチャートである。 第1の実施形態に係る、放射線の照射の開始を検知するための閾値を算出するための動作を説明するためのタイミングチャート、及び、各種条件ごとに閾値等を記憶した記憶手段内の情報を説明するテーブルである。 放射線撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。 他の放射線撮像システムを説明するための模式的等価回路図である。 第2の実施形態に係る、放射線撮像装置及び放射線撮像システムの動作を説明するためのフローチャート、及び、放射線の照射の終了を検知するための閾値を算出するための動作を説明するためのタイミングチャートである。 第1の実施形態に係る、各種条件ごとに閾値等を記憶した記憶手段内の情報を説明するテーブルである。 他の放射線撮像装置の一画素の構成を説明するための模式的等価回路図である。
以下に、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、本発明において放射線は、放射線崩壊によって放出される粒子(光子を含む)の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギーを有するビーム、例えばX線や粒子線、宇宙線なども、含まれるものとする。
(第1の実施形態)
まず、図1(a)を用いて、放射線撮像システム及び放射線撮像装置について説明する。図1(a)は、放射線撮像装置及び放射線撮像システムを説明するための模式的等価回路図である。
放射線撮像システムは、放射線撮像装置100と、放射線発生装置130と、放射線制御装置131、曝射ボタン132と、を含む。放射線制御装置131は、曝射ボタン132からの制御信号を受けて放射線発生装置130へ制御信号を出力し、放射線発生装置130が放射線133を出射する動作の制御を行う。放射線発生装置130は、複数の照射条件で放射線133を出射することが可能であり、複数の照射条件は、放射線制御装置131で設定することが可能である。放射線制御装置131は、設定された照射条件に応じて、放射線発生装置130を制御する。ここで、照射条件とは、管電圧、管電流、照射時間、放射線発生装置130と放射線撮像装置100との間の距離、放射線発生装置130の絞りの状態、放射線の透過波長を制限するフィルタの有無、等が挙げられる。放射線撮像装置100は、画素アレイ101と、駆動回路102と、検知部と、を含む。本実施形態における検知部は、画素アレイ101への放射線の照射の強度に応じて変動する検知信号DSを出力することにより画素アレイ101への放射線の照射を検知するものであり、検知回路110及び検知素子110’の少なくとも一方を含む。ここで、検知信号DSは、放射線の照射の有無や照射の強度、画素アレイ101の動作に応じて、その値が変動する。なお、検知部に関しては、後で詳細に説明する。画素アレイ101は、行列状に配置された複数の画素Pを備えており、各画素Pは、放射線発生装置130から出射されて被検体(不図示)を透過した放射線を電荷に変換する変換素子Sと、スイッチ素子Tとを有して、放射線を電気信号に変換する。変換素子Sは2つの電極の間に半導体層を有するもので、間接型の変換素子や直接型の変換素子が好適に用いられる。間接型の変換素子は、光電変換素子と、放射線を光電変換素子が感知可能な波長帯域の光に変換する波長変換体と、を備えたもので、直接型の変換素子は、放射線を直接電荷に変換する。なお、本実施形態では、光電変換素子の一種であるフォトダイオードとして、ガラス基板等の絶縁性基板上に配置されアモルファスシリコンを主材料とするPIN型フォトダイオードを用いる。スイッチ素子Tは、変換素子Sの電荷又はその電荷に基づく電気信号を転送するもので、制御端子と2つの主端子を有するトランジスタが好適に用いられ、本実施形態では薄膜トランジスタ(TFT)が用いられる。なお、本実施形態では、説明の簡便化のために、画素アレイ101は4行×4列の画素Pを有する形態としている。本実施形態の画素Pにおいて、変換素子Sを構成する2つの電極のうちの1方の電極(第1電極)は、スイッチ素子Tの2つの主端子の1方に電気的に接続される。また、他方の電極(第2電極)は、バイアス配線Vsを介して、電源部107に含まれる、バイアス電圧を供給するバイアス電源VSと電気的に接続される。スイッチ素子Tの制御端子は駆動配線Gに接続され、導通電圧と非導通電圧とを含む駆動信号が駆動配線Gを介して駆動回路102から供給される。画素アレイ101を駆動する駆動回路102は、シフトレジスタ等が用いられ、スイッチ素子Tの導通状態と非導通状態とを制御する信号である駆動信号を、複数の画素Pのスイッチ素子Tに供給する。駆動配線Gは、導通電圧配線Von及び駆動回路102を介して導通電圧を供給する導通電源VONと、非導通電圧配線Voff及び駆動回路102を介して非導通電圧を供給する非導通電源VOFFと、に選択的に接続される。ここで、導通電源VON及び非導通電源VOFFは、電源部107に含まれている。行方向に沿って配された複数のスイッチ素子、例えばT11〜T14は、それらの制御端子が1行目の駆動配線Gに共通に電気的に接続されている。そのため、駆動回路102から駆動信号が、駆動配線Gを介して行単位で、各行に配されたスイッチ素子に与えられる。本実施形態では、スイッチ素子Tの一方の主端子は、変換素子Sの第1電極に電気的に接続されており、他方の主端子は列方向に沿って延在する信号配線Sigに電気的に接続されている。信号配線Sigは、基準電圧配線Vrefを介して、電源部107に含まれる、基準電圧を供給する基準電源VREFと接続される。列方向に沿って配された複数のスイッチ素子、例えばT11〜T41は、それらの他方の主端子が1列目の信号配線Sigに電気的に接続されている。そのため、ある行のスイッチ素子の制御端子に導通電圧が供給され、当該スイッチ素子が導通状態になっている間に、変換素子の電荷に応じた電気信号が、信号配線を介して読出回路103に転送される。複数配列された信号配線Sig〜Sigは、同一行の複数の画素の各々から出力された電気信号を並列に読出回路103に伝送する。また、画素アレイ101は更に、駆動配線Gと容量Cdを介して容量結合する容量配線Vdを有する。そして、電源部107は、容量配線Vdに定電圧を供給する容量用電源VDを更に有している。
読出回路103は、増幅回路部103aと、サンプルホールド回路部103bと、マルチプレクサ103cと、出力バッファ回路103dと、を有する。増幅回路部103aは、画素アレイ101から並列に出力された電気信号を増幅する。増幅回路部103aは、読み出された電気信号を増幅して出力する演算増幅器Aと、積分容量Cfと、積分容量をリセットするリセットスイッチRCと、を有する増幅回路を、各信号配線に対応して有する。演算増幅器Aの反転入力端子には出力された電気信号が入力され、出力端子から増幅された電気信号が出力される。ここで、演算増幅器Aの正転入力端子には基準電源配線Vrefを介して基準電源VREFが接続される。サンプルホールド回路部103bは、増幅回路部103aからの電気信号をサンプルしホールドする。サンプルホールド回路部103bは、サンプリングスイッチSHとサンプリング容量Chとによって構成されるサンプルホールド回路を、各増幅回路に対応して有している。マルチプレクサ103c及び出力バッファ回路103dは、サンプルホールド回路部103bから並列に読み出された電気信号を、それぞれ順次出力して直列信号の画像信号として出力する。マルチプレクサ103cは、各サンプルホールド回路に対応して設けられたスイッチSWを含んでおり、各スイッチSWを順次選択することにより、並列信号を直列信号に変換する動作が行われる。このような構成により、読出回路103は、駆動された画素アレイ101からの電気信号に基づく画像信号を読み出す。
A/D変換器104は、直列信号に変換されたアナログ信号をデジタル信号に変換してデジタル信号処理部105に伝送する。デジタル信号処理部105は、A/D変換器104からのデジタル信号に対して、デジタルマルチプレックス処理やオフセット補正等の簡易なデジタル信号処理を行い、デジタル画像信号を出力する。
検知部は、検知回路110及び検知素子110’の少なくとも一方を含む。検知回路110は、バイアス配線Vs、基準電圧配線Vref、導通電圧配線Von、非導通電圧配線Voff、及び、容量配線Vdのうちの少なくとも1つの配線に流れる電流、又は、その電流に基づく信号である、検知信号DSを出力する。ここで、駆動配線Gに流れる電流は、導通電圧配線Von及び非導通電圧配線Voffの一方に流れる電流と等価であり、基準電圧配線Vrefに流れる電流は、駆動配線Gと容量結合している信号配線Sigに流れる電流と等価である。すなわち、検知回路110は、画素アレイ101に配置される、駆動配線G、バイアス配線Vs、駆動配線と容量結合された結合配線である信号配線Sig及び容量配線Vd、のいずれかの配線に流れる電流を検知することができる。上記配線に流れる電流は、いずれも、変換素子Sとスイッチ素子Tと各配線との間の容量結合によって、変換素子Sに放射線が照射することによって変換素子Sで発生した電荷に応じた電位の変動に応じて変動する。すなわち、上記配線に流れる電流は、放射線の照射によって変換素子Sで発生する電荷を反映したものであるため、その電流を検知することにより、画素アレイ101への放射線の照射の有無を含め、放射線の強度を検知できる。検知回路110は、例えば、電流を電圧に変換する電流電圧変換回路が各種配線に応じて備えられ、各電流電圧変換回路の出力を選択し、帯域制限し、アナログデジタル変換する構成を有するものが挙げられる。また、検知回路110は、信号処理部106から出力された信号に基づいて、検知信号DSを出力してもよい。検知素子110’は、画素アレイ101とは別に、放射線が照射され得る位置に、例えば画素アレイ101の放射線発生装置130の側とは反対側に、設けられる。そして、検知素子110’は、間接型の変換素子や、直接型の変換素子を含み、放射線又は波長変換体が変換した光を変換した電気信号、又は、その電気信号に基づく信号である、検知信号DSを出力する。
次に、図1(b)を用いて、放射線の照射の検知に際する放射線撮像装置の動作を説明する。背景技術で説明したように、放射線発生装置130からの放射線133の照射の開始が検知されるまで、駆動回路102から順次、各行のスイッチ素子Tに、当該スイッチ素子Tを導通状態とする導通電圧を供給して、変換素子Sの一方の電極の電圧を初期化する。そして、時刻t1において放射線発生装置130からの放射線133の照射の開始が検知されると、駆動回路102からの導通電圧の供給が停止される。それにより、スイッチ素子Tを非導通状態とする非導通電圧が駆動回路102から全てのスイッチ素子Tに供給され、変換素子Sで発生した電荷を各画素Pに蓄積する。更に、時刻t2において放射線133の照射の終了が検知されると、駆動回路102から行毎に導通電圧を順にスイッチ素子Tへ供給し、蓄積された電荷に基づく電気信号を画素Pから転送する。
ここで、放射線の照射の開始の検知に際して、検知信号DSには、スイッチ素子Tに供給される駆動信号に応じて、放射線に起因しないノイズ成分が混入する。本願発明者は、誠意検討の結果、このノイズ成分が以下に示す2種類に大別できることを見出した。一つは、画素アレイ101に放射線が照射されていない状況でスイッチ素子Tに供給される駆動信号に応じたノイズ成分である。もう一つは、画素アレイ101に放射線が照射されている状況でスイッチ素子Tに供給される駆動信号に応じたノイズ成分である。本願発明者は、誠意検討の結果、これら2種類のノイズ成分を鑑みて、放射線の照射の開始を検知するための閾値(以下、開始閾値と称する)Sthを設定することにより、放射線の照射の開始をより高い精度で検知できることを見出した。
そこで、本願発明では、放射線撮像装置100は、以下の2つの検知信号DSに基づいて開始閾値Sthを算出するための演算処理を行う演算部120を有する。一つは、複数の画素Pのスイッチ素子Tが駆動回路102によって行単位で順次に導通状態とされている画素アレイ104へ放射線が照射されていない期間に検知部から出力される検知信号DSである。この検知信号DSには、画素アレイ101に放射線が照射されていない状況でスイッチ素子Tに供給される駆動信号に応じたノイズ成分が含まれている。もう一つは、複数の画素Pのスイッチ素子Tが駆動回路102によって行単位で順次に導通状態とされている画素アレイ104へ放射線が照射されている期間に検知部から出力される検知信号DSである。この検知信号DSには、画素アレイ101に放射線が照射されている状況でスイッチ素子Tに供給される駆動信号に応じたノイズ成分が含まれている。これらの検知信号DSに基づいて演算部120が開始閾値Sthを算出する演算処理を行うことによって、上記2種類のノイズ成分を鑑みた開始閾値Sthを設定することが可能となる。
演算部120は、算出された開始閾値Sthに基づいて、放射線の照射の開始と終了とを規定する制御信号(以下、放射線信号と称する)RSを、制御部108に出力する。演算部120は、選択部121と、一時記憶部122と、算出部123と、記憶部124と、比較部125と、を含む。選択部121は、制御コンピュータ150からの制御信号を受けた制御部108によって生成されたモード選択信号を受けて、一時記憶部122及び比較部125のいずれか一方を選択する。そして、選択部121は、入力された検知信号DSを、選択された一時記憶部122及び比較部125のいずれか一方に出力する。一時記憶部122は、変動する検知信号DSを記憶し、算出部123に出力する。算出部123は、一時記憶部122に記憶された検知信号DSに基づいて開始閾値Sthを算出し、算出された開始閾値Sthを記憶部124に出力する。記憶部124は、制御部108を介して制御コンピュータ150から取得した、後述する照射条件に関連付けて、算出された開始閾値Sthを照射条件ごとに記憶する。比較部125は、制御部108を介して制御コンピュータ150から取得した照射条件に応じて、記憶部124に照射条件ごとに記憶された開始閾値から該当する開始閾値を選択する。そして、比較部125は、選択された開始閾値Sthと、入力された検知信号DSと、を比較して、放射線信号RSを生成して、生成された放射線信号RSを制御部108に出力する。なお、演算部120は、検知信号DSの変動に基づいて、放射線の照射の終了を検知するための閾値(以下、終了閾値と称する)Sth’を更に算出するための演算処理を行うことができる。その場合、算出部123は、検知信号DSに基づいて終了閾値Sth’を更に算出し、算出された開始閾値Sth’を記憶部124に出力することができる。また、記憶部124は、照射条件に関連付けて、算出された終了閾値Sth’を更に記憶することができる。そして、比較部125は、照射条件に応じて選択された終了閾値Sth’と、入力された検知信号DSの値と、を更に比較して放射線信号RSを生成して出力することができる。なお、算出部120の動作などは、後で詳細に説明する。
制御部108は、制御コンピュータ150からの制御信号、及び、算出部120から出力された放射線信号RSに応じて、駆動回路102、信号処理部106、電源部107、及び、検知部に各種制御信号を供給し、放射線撮像装置100の動作を制御する。また、制御部108は、制御コンピュータ150から取得した照射条件を閾値記憶部124に伝送する。また、制御部108は、制御コンピュータ150から取得したモード選択信号を選択部121に伝送する。なお、制御部108の動作などは、後で詳細に説明する。
次に、図2、図3(a)〜(c)、及び、図4を用いて、本実施形態における放射線の曝射の検知とそれに基づく動作及び制御を説明する。なお、図2は、第1の実施形態に係る放射線撮像装置及び放射線撮像システムの動作を説明するためのフローチャートである。また、図3(a)及び図3(b)は、開始閾値Sthを算出するための動作を説明するためのタイミングチャートである。図3(c)は、各種条件ごとに閾値等を記憶した記憶手段内の情報を説明するテーブルである。
図2に示すように、放射線撮像装置100に電源が投入され、制御コンピュータ150からのモード選択信号により、制御部108は、閾値設定モード(第1モード)と撮影モード(第2モード)のいずれかを選択する。
制御部108に第1モードを選択する旨のモード選択信号が供給された場合、制御部108は、検知信号DSを一時記憶部122に出力するよう、選択部121に一時記憶部122との接続を選択させる。また、制御部108は、第1モードを行うよう、各制御信号を、信号処理部106、電源部107、検知部に供給する。電源部107は、検知回路110を介して、画素アレイ101にバイアス電圧を、駆動回路102に導通電圧及び非導通電圧を、読出回路103に対して基準電圧を、それぞれ供給する。
次に、図2に示す工程S1−1において、制御部108は、駆動回路102に制御信号を供給し、駆動回路102は、各駆動配線G1〜G8に順次に導通電圧を供給するように、駆動信号を出力する。それにより、図3(a)に示すように、スイッチ素子Tが行単位で順次に全て導通状態となる初期化動作Kが開始される。
次に、図2に示す工程S1−2に示す期間において、初期化状態Kが行われている画素アレイ101は、複数の画素Pのスイッチ素子Tの少なくとも1つが駆動回路102によって導通状態とされている。また、画素アレイ101には放射線発生装置130から放射線133が照射されていない。この期間に検知部から出力された検知信号DSには、スイッチ素子Tの動作に同期したノイズ(以下、スイッチングノイズと称する)が混入し、図3(a)に示すような変動を示す。このような変動を有する検知信号DSは、選択部121を介して一時記憶部122に出力され、一時記憶部122で記憶される。一時記憶部122に記憶された検知信号DSに基づいて、算出部123は、当該期間に検知部から出力された検知信号DSの最大値である、放射線非照射期間におけるスイッチングノイズの最大値Snmaxを算出する。そして、算出部123は、算出された射線非照射期間におけるスイッチングノイズの最大値Snmaxを、変動を有する検知信号DSと共に記憶部124に記憶させる。
次に、図2に示す工程S1−3に示す期間において、初期化状態Kが行われている画素アレイ101は、複数の画素Pのスイッチ素子Tが駆動回路102によって行単位で順次に導通状態とされている。そして、放射線制御装置131によって所定の照射条件に設定された放射線発生装置130から放射線133の照射が開始され終了される。この期間に検知部から出力された検知信号DSは、放射線133の照射の強度に応じて、図3(b)に示す変動を有する。このような変動を有する検知信号DSは、図2に示す工程S1−4において、選択部121を介して一時記憶部122に出力され、一時記憶部122で記憶される。一時記憶部122に記憶された検知信号DSの変動に基づいて、算出部123は、図3(b)に示す変動に、図2に示す工程S1−2で得られたスイッチングノイズの最大値Snmaxをあてはめる。そして、算出部123は、放射線照射期間における検知信号DSの最小値であるスイッチングノイズの最小値Sn’minを算出し、変動を有する検知信号DSと共に記憶部124に記憶させる。ここで、スイッチングノイズの最小値Sn’minはスイッチングノイズの最大値Snmaxより大きいものが算出される。その算出においては、算出部123が図3(b)に示す変動の値をフーリエ変換して得られた値とスイッチングノイズの最大値Snmaxとを比較し、スイッチングノイズの最大値Snmaxを超えた値を示す期間を放射線照射期間とする。その放射線照射期間中の値のうち最小値のものを、放射線照射期間におけるスイッチングノイズの最小値Sn’minとすることにより算出される。この際、記憶部124は、制御部108を介して制御コンピュータ105から照射条件を取得し、各値を照射条件と関連付けて記憶する。工程S1−3と工程S1−4は、照射条件ごとに行われる。
その後、図2に示す工程S1−5において、制御部108は、駆動回路102に制御信号を供給し、駆動回路102は、駆動配線G4への導通電圧を供給した後に、全ての駆動配線への非導通電圧の供給を維持し、初期化動作Kが終了する。
そして、図2に示す工程S1−6において、算出部123は、記憶部124に記憶された各値に基づいて、開始閾値Sthを算出する。開始閾値Sthは、放射線非照射期間におけるスイッチングノイズの最大値Snmaxと放射線照射期間におけるスイッチングノイズの最小値Sn’minの間に設定される。開始閾値Sthが、小さいほど放射線の照射が開始されてからその開始を検知するまでの時間が短くなり、検知精度が向上する。このように設定されることにより、スイッチングノイズの影響を受けることなくより短い時間で放射線の照射の開始を検知することが可能となる。ただし、放射線照射期間におけるスイッチングノイズの最小値Sn’minが放射線非照射期間におけるスイッチングノイズの最大値Snmaxより必ずしも大きいとは限らない。そのような場合、算出部123は、記憶部124に記憶された、図3(a)に示す検知信号DSを図3(b)に示す検知信号DSと位相を合わせて差分処理する。それにより、検知信号DSから放射線の照射に基づく成分のみが抽出される。算出部123は、差分処理された信号から、最大値Smax、最小値Smin、変曲点Scを算出し、記憶部124に記憶させる。ここで、変曲点Scの算出は、例えば、別途用意された時間計測部(不図示)によって各時刻を計測する。次に、記憶された検知信号DSのプロットから、最小値Sminと最大値Smaxを抽出する。そして、時刻taから最大値Smaxの時刻であるtcまでの間の検知信号DSのプロットから近似式を作成し、近似式から変曲点Scを算出する。そして算出部123は、開始閾値Sthを、放射線非照射期間におけるスイッチングノイズの最大値Snmaxと、最大値Smaxもしくは変曲点Scと、の間に設定する。終了閾値Sth’は、開始閾値Sthと同じ値でもよいが、最大値Smaxと最小値Sminの間に設定され、好ましくは、開始閾値Sth’と最小値Sminの間に設定される。放射線の終了時には、スイッチ素子Tは非導通状態に維持されているため、スイッチングノイズを考慮する必要がないため、開始閾値Sthより小さくすることができる。これらの算出部123及び記憶部124の処理は、照射条件ごとに行われ、照射条件ごとに得られた終了閾値Sthは、算出部123により照射条件に関連付けて記憶部124に記憶される。それにより、記憶部124には、複数の照射条件に応じて複数の終了閾値が記憶される。図3(c)に示す例では、108通りの照射条件に対して、108の終了閾値Sth1〜Sth108が、ルックアップテーブルとして記憶部124に記憶されている。全ての照射条件に対して各閾値が算出及び記憶された後、第1モードは終了される。なお、工程S1−6は本発明の第1工程に相当する。
次に、第2モードについて説明する。ここで、本発明の放射線撮像装置の動作は、図4に示すように、放射線画像撮像動作と、暗画像撮像動作と、を含む。ただし、暗画像撮像動作は、本発明では必須でないが、オフセット補正精度の向上のために行った方が望ましい。
制御部108に第2モードを選択する旨のモード選択信号が供給された場合、制御部108は、撮影モードである第2モードを選択するモード選択信号を選択部121に与える。その制御信号により、選択部121は、検知信号DSを比較部125に出力するよう、比較部125との接続を選択する。次に図2に示す工程S2−1において、制御部108は、制御コンピュータ150から取得した照射条件に応じて、閾値記憶部124に記憶されている開始閾値Sth’及び当該照射条件に対応した終了閾値Sthを選定し、比較部125に供給する。
次に、図2に示す工程S2−2において、制御部108は、駆動回路102に制御信号を供給し、駆動回路102は、各駆動配線G1〜G4に順次に導通電圧を供給するように、駆動信号を出力する。それにより、スイッチ素子Tが行単位で順次に全て導通状態となる初期化動作Kが開始される。図4に示すように、初期化動作Kは放射線の曝射の開始が検知されるまで行われる。
そして、図2に示す工程S2−3において、検知部が、初期化動作Kを含む準備動作の間に、検知信号DSの検出を開始し、選択部121を介して比較部125に検知信号DSを出力する。そして、図2に示す工程S2−4において、比較部125が、検知信号DSの値と開始閾値Sth’とを比較して放射線信号RSを生成して、制御部108に出力する。ここでは、図4に示すように、検知信号DSの値が開始閾値Sthを超えないと、放射線信号RSはLoであり、検知信号DSの値が開始閾値Sthを上回ると、放射線信号RSがLoからHiとなり、放射線の照射の開始を規定する。検知信号DSの値が開始閾値Sthを超えない場合には、図2に示す工程S2−3に戻り、検知信号DSの値が開始閾値Sthを上回るまで、図2に示す工程S2−3と工程S2−4が繰り返し行われる。検知信号DSの値が開始閾値Sthを上回った場合には、放射線信号RSがHiとなって制御部108に供給され、制御部108は駆動回路102に制御信号を供給し、駆動回路102による駆動配線Gへの導通電圧の供給を停止する。図4では、初期化動作K’において駆動回路102から駆動配線G2に導通電圧が供給されている際に放射線の照射の開始が検知され、駆動回路102による駆動配線G3〜G4への導通電圧の供給が行われず、全スイッチ素子Tが非導通状態で維持される。これにより、図2に示す工程S2−5において、初期化動作K’が途中の行で終了するように、画素アレイ101の動作が検知された放射線の照射の開始に応じて制御される。それにより、放射線撮像装置100の動作は、準備動作から蓄積動作Wに遷移する。
次に、図2に示す工程S2−6において、蓄積動作が行われている画素アレイ101に、放射線が照射され、各画素Pには、放射線に応じた電荷が蓄積される。そして、図2に示す工程S2−7において、比較部125が、検知信号DSの値と終了閾値Sth’とを比較して放射線信号RSを生成して、制御部108に出力する。ここでは、図4に示すように、検知信号DSの値が終了閾値Sth’を下回らないと、放射線信号RSはHiであり、検知信号DSの値が終了閾値Sth’を下回ると、放射線信号RSがHiからLoとなり、放射線の照射の終了を規定する。検知信号DSの値が終了閾値Sth’を下回らない場合には、図2に示す工程S2−6に戻り、検知信号DSの値が終了閾値Sth’を下回るまで、図2に示す工程S2−6と工程S2−7が繰り返し行われる。検知信号DSの値が終了閾値Sth’を下回った場合には、放射線信号RSがLoとなって制御部108に供給される。なお、工程S2−6は本発明の第2工程に相当する。
次に、図2に示す工程S2−8において、Loの放射線信号RSを受けた制御部108は、検知部に制御信号を供給し、検知部は検知信号DSの出力を終了する。そして、図2に示す工程S2−9において、制御部108は、駆動回路102、信号処理回路106、電源部107に各制御信号を供給する。電源部107は、信号処理回路106に基準電圧を供給する。図4に示すように、駆動回路102は、各駆動配線G1〜G4に順次に導通電圧を供給するように、駆動信号を出力し、スイッチ素子Tが行単位で順次に全て導通状態となる。それにより、放射線撮像装置100は、照射された放射線に応じた電気信号を画素アレイ101から読出回路103に出力する画像出力動作Xを行う。以上により、放射線撮像装置100は、準備動作と、蓄積動作Wと、画像出力動作Xと、を含む放射線画像撮像動作を行う。ここで、初期化動作Kの動作期間は、画像出力動作Xの動作期間より短いことが好ましい。なお、本実施形態では、初期化動作Kの動作期間は、画像出力動作Xの動作期間より短いため、画像出力動作Xでは、初期化動作K’において導通電圧の供給が行われなかった駆動配線G3からではなく、駆動配線G1に導通電圧が供給される。これは、初期化動作Kの動作期間が短いため、駆動配線G3から導通電圧が供給される場合に比べて蓄積時間の相違がより小さくなるためである。また、駆動配線G3から導通電圧が供給されると駆動配線G3に接続される画素Pと駆動配線G2に接続される画素Pとの蓄積時間の差が大きくなり、駆動配線G1から導通電圧が供給される場合に比べて、得られる画像信号に与える影響が大きくなるためである。次に、放射線撮像装置100は、暗画像撮像動作を行う。暗画像撮像動作は、放射線画像撮像動作と同様に、1回以上の初期化動作Kと初期化動作K’とを含む準備動作と、蓄積動作Wと、暗画像出力動作Fと、を含む。ここで、暗画像撮像動作における蓄積動作Wでは放射線は照射されない。また、暗画像出力動作Fは変換素子Sで発生するダーク電流に起因する暗時出力に基づく電気信号を画素アレイ101から読出回路103に出力するもので、放射線撮像装置100の動作自体は画像出力動作Xと同じである。なお、工程S2−9は本発明の第3工程に相当する。
そして、図2に示す工程S2−10において、画像出力動作Xと暗画像出力動作Fによって得られてA/D変換器104でデジタル信号に基づいて、デジタル信号処理部105がオフセット補正等を行って、制御コンピュータ150にデジタル画像信号を出力する。制御コンピュータ105は、受信したデジタル画像信号を画像処理して表示手段160に出力し、表示手段160が、画像処理されたデジタル画像信号に基づいて、画像を表示する。
なお、図1(a)では、放射線発生装置130と放射線制御装置131と曝射スイッチ132とで構成される放射線発生手段が一組の放射線撮像システムを用いて説明した。ただし、本発明はそれに限定されるものではなく、図5に示すように、放射線発生手段を複数有する放射線撮像システムに適用してもよい。複数の放射線発生装置に応じて、それぞれ図3(c)に示すようなルックアップテーブルを用意し、使用された放射線発生装置に応じてルックアップテーブルを選択することが望ましい。
なお、本実施形態では、第1のモードにおいて開始閾値と終了閾値を両方算出するフローを示したが、本発明はこれに限定されるものではない。開始閾値の算出と終了閾値の算出とを別のモードで行ってもよい。
(第2の実施形態)
次に、図6(a)及び図6(b)を用いて、第2の実施形態における放射線の曝射の検知とそれに基づく動作及び制御を説明する。ここで、図6(a)は、第2の実施形態に係る放射線撮像装置及び放射線撮像システムの動作を説明するためのフローチャートであり、図6(b)は、終了閾値Sth’を算出するための更なる動作を説明するためのタイミングチャートである。なお、第1の実施形態で説明した構成及び工程と同じものは同じ番号を付与してあり、詳細な説明は割愛する。
本実施形態では、図6(a)に示すように、第1モードのフローチャートにおいて、図2で示した第1の実施形態の第1モードのフローチャートの、工程S1−5と工程S1−6の間に、以下に示す工程S3−1〜S3−2が追加されている。
まず、図6(a)の工程S1−5に続く工程S3−1に示す期間において、駆動回路102が全ての駆動配線への非導通電圧の供給を維持している。それにより、図6(b)に示すように、画素アレイ101は、複数の画素Pのスイッチ素子Tが駆動回路102によって非導通状態とされている。そして、放射線制御装置131によって所定の照射条件に設定された放射線発生装置130から、放射線133の照射が開始され終了される。この期間に検知部から出力された検知信号DSは、放射線133の照射の強度に応じて、図6(b)に模式的に示す変動を有する。この変動は例えば、図6(b)に示すように、放射線の照射がない時に最小値Sminを示し、時刻taにおいて立ち上がり、時刻tbにおいて信号値Scを変曲点とし、時刻tcにおいて最大値Smaxとなる。その後、この変動は遅延しながら最大値Smaxから徐々に低下し、時刻teで最小値Sminとなる。このような変動を有する検知信号DSは、選択部121を介して一時記憶部122に出力され、一時記憶部122で記憶される。その後、図6(a)に示す工程S3−2において、一時記憶部122に記憶された検知信号DSに基づいて、算出部123は、最小値Smin、最大値Smax、変曲点Scを算出し、検知信号DSと共に記憶部124に記憶させる。また、算出部123は、時刻ta、tb、tc、teを算出し、記憶部124に記憶させてもよい。例えば、別途用意された時間計測部(不図示)によって各時刻を計測する。次に、算出部123は、記憶された検知信号DSのプロットから、最小値Sminと最大値Smaxを抽出する。そして、算出部123は、時刻taから最大値Smaxの時刻であるtcまでの間の検知信号DSのプロットから近似式を作成し、近似式から変曲点Scを算出する。この際、記憶部124は、制御部108を介して制御コンピュータ105から照射条件を取得し、各値を照射条件と関連付けて記憶する。工程S3−1と工程S3−2は、照射条件ごとに行われる。
ここで、放射線制御装置131から出力される制御信号及び放射線発生装置130から出射する放射線133について、図6(b)を用いて説明する。放射線制御装置131から出力される制御信号がHi状態となることにより、放射線発生装置130への所望の管電圧の供給が開始され、放射線133の出射が開始される。一方、制御信号がLo状態となることにより、放射線発生装置130への所望の管電圧の供給が終了し、放射線133の出射が終了する。図6(b)に示すように、出射される放射線133の強度は、制御信号の切り替えに対して遅延しており、特に、図6(b)の時刻tc〜teで示す、HiからLoに切り替えた際の遅延である「波尾(Wave Tail)」を考慮しなければならない。波尾の影響を考慮せずに、スイッチ素子Tを導通状態にして電気信号を転送すると、例えば一部の画素のスイッチ素子Tに放射線や光が照射され、残りの画素のスイッチ素子Tには照射されない状態で、スイッチ素子Tが導通するおそれがある。その場合、放射線や光が照射されていないスイッチ素子Tと、放射線や光が照射されているスイッチ素子Tとでは、転送能力が変わる。それにより、画素アレイ101内でスイッチ素子Tの転送むらが発生し、取得される画像信号に悪影響が生じるおそれがある。
そこで、本実施形態では、演算部120が、複数の画素Pのスイッチ素子Tが駆動回路102によって非導通状態とされている画素アレイ101に放射線が照射されている期間に検知部から出力される検知信号DSに基づいて、終了閾値Sthを算出する。それにより、波尾等の放射線133の遅延を考慮した終了閾値が設定でき、このように算出された終了閾値Sthを用いて、蓄積された電荷に基づく電気信号を画素Pから転送する動作の開始を制御することにより、画像信号に悪影響が生じることを抑制できる。
そして、図6(a)に示す工程S1−6において、算出部123は、工程S3−1と工程S3−2によって得られ記憶部124に記憶された各値に基づいて、終了閾値Sth’を更に算出する。終了閾値Sth’は、最大値Smaxと最小値Sminの間に設定され、好ましくは、開始閾値Sthと最小値Sminの間に設定される。放射線の終了時には、スイッチ素子Tは非導通状態に維持されているため、スイッチングノイズを考慮する必要がないため、開始閾値Sthより小さくすることができる。これにより、波尾の影響を抑制しつつ放射線の照射の終了を検知することが可能となる。また、算出部123は、検知信号DSの値が終了閾値Sthを下回る時刻tdと、最小値Sminとなる時刻teと、の間の時間DTを算出し、算出された時間DTを記憶部124に記憶させる。記憶された時間DTは、後述する放射線画像撮像動作の画像出力動作の開始において、終了閾値Sth’を下回ってからスイッチ素子Tの導通を開始するまでに経過する所定の時間として、制御部108が利用してもよい。これらの算出部123及び記憶部124の処理は、照射条件ごとに行われ、照射条件ごとに得られた終了閾値Sthは、算出部123により照射条件に関連付けて記憶部124に記憶される。それにより、記憶部124には、複数の照射条件に応じて複数の終了閾値が記憶される。図7に示す例では、108通りの照射条件に対して、108の終了閾値Sth’1〜Sth108及び遅延時間DT1〜DT108が、ルックアップテーブルとして記憶部124に記憶されている。全ての照射条件に対して各閾値が算出及び記憶された後、第1モードは終了される。なお、工程S1−6は本発明の第1工程に相当する。また、工程S3−1と工程S3−2によって得られた最小値Smin、最大値Smax、変曲点Scは、第1の実施形態における開始閾値Sthの算出に用いてもよい。
ここで、図1(a)及び図5に示す放射線撮像装置は、1つの画素Pに変換素子Sとスイッチ素子Tを有する、所謂パッシブ画素を用いて説明した。ただし、本発明はそれに限定されるものではなく、図8に示すような、増幅素子STとリセット素子RTとを更に含む、所謂アクティブ画素を用いた放射線撮像装置であってもよい。ここで、増幅素子STとして、制御端子(ゲート電極)と2つの主端子とを有するトランジスタを用いている。そのトランジスタの制御端子が変換素子Sの一方の電極に接続され、一方の主端子がスイッチ素子Tに接続され、他方の主端子が動作電源配線Vssを介して動作電圧を供給する動作電源VSSsに接続される。また、信号配線Sigにはスイッチ702を介して定電流源701が接続されており、増幅素子STとソースフォロア回路を構成する。また、リセット素子RTとして、制御端子(ゲート電極)と2つの主端子とを有するトランジスタを用いており、一方の主端子がリセット配線Vrを介してリセット電圧を供給するリセット電源VRに接続され、他方の主端子が増幅素子STの制御電極に接続される。リセット素子RTの制御電極は、リセット用駆動配線Grを介して、駆動配線Gと同様に駆動回路102に接続される。また、検知回路110は、先に説明した配線に流れる電流に加えて、リセット用配線Vrに流れる電流、及び動作電源配線Vssを流れる電流、のうちのいずれかの電流に基づいて、検知信号DSを出力できるものが好ましい。また、電源部107は、リセット用電源VRと、動作電源VSSと、を更に有する。更に、リセット配線Vr及び動作電源配線Vssは、先に説明した結合配線に含まれる。
なお、本発明の各実施形態は、例えば制御部108に含まれるコンピュータや制御コンピュータ150がプログラムを実行することによって実現することもできる。また、プログラムをコンピュータに供給するための手段、例えばかかるプログラムを記録したCD−ROM等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体又はかかるプログラムを伝送するインターネット等の伝送媒体も本発明の実施形態として適用することができる。また、上記のプログラムも本発明の実施形態として適用することができる。上記のプログラム、記録媒体、伝送媒体及びプログラムプロダクトは、本発明の範疇に含まれる。また、第1又は第2の実施形態から容易に想像可能な組み合わせによる発明も本発明の範疇に含まれる。
100 放射線撮像装置
101 画素アレイ
102 駆動回路
103 読出回路
104 A/D変換器
105 デジタル信号処理部
106 信号処理部
107 電源部
108 制御部
110 検知回路
120 演算部
P 画素
S 変換素子
T スイッチ素子
G 制御配線
Sig 信号配線
Vs バイアス配線

Claims (20)

  1. 各々が変換素子とスイッチ素子とを含んで放射線発生装置から出射された放射線を電気信号に変換する複数の画素が行列状に配置された画素アレイと、前記スイッチ素子の導通状態と非導通状態とを制御する駆動信号を前記複数の画素の前記スイッチ素子に供給する駆動回路と、前記電気信号に基づく画像信号を読み出す読出回路と、前記画素アレイへの放射線の照射を検知するために前記画素アレイへの放射線の照射の強度に応じて変動する信号である検知信号を出力する検知部と、を含む放射線撮像装置の制御方法であって、
    前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイに放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、に基づいて、前記画素アレイへの放射線の照射の開始を検知するための閾値である開始閾値を算出する第1モードと、
    前記第1モードの後に、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている期間に前記検知部から出力される前記検知信号の値と前記開始閾値とを比較して前記検知信号の値が前記開始閾値を上回った場合に、前記複数の画素の前記スイッチ素子を前記駆動回路が前記非導通状態とする第2モードと、
    を含む放射線撮像装置の制御方法。
  2. 前記放射線撮像装置は、前記開始閾値を記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された前記開始閾値と前記検知信号の値とを比較する比較部と、を含み、
    前記第1モードは、前記記憶部が前記開始閾値を記憶する第1工程を含み、
    前記第2モードは、の比較により、前記第1モードの後に前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている期間に前記検知部から出力される前記検知信号の値と前記記憶部に記憶された前記開始閾値とを前記比較部が比較して前記検知信号の値が前記開始閾値を上回った場合に、前記比較部が前記放射線の照射の開始を規定する信号を生成する第2工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置の制御方法。
  3. 前記開始閾値は、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号の最大値と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイに放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号の最小値と、の間の値であることを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置の制御方法。
  4. 前記開始閾値は、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号を、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイに放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号と位相を合わせて差分処理することにより得られる信号の最大値又は変曲点と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号の最大値と、の間の値であることを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置の制御方法。
  5. 前記複数の画素の前記スイッチ素子を前記駆動回路が前記非導通状態としている前記画素アレイへ放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号に基づいて前記画素アレイへの放射線の照射の終了を検知するための閾値である終了閾値を更に算出し、
    前記記憶部が前記終了閾値を更に記憶し、
    前記第2工程において、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている期間に前記検知部から出力される前記検知信号の値と前記記憶部に記憶された前記終了閾値とを前記比較部が比較して前記検知信号の値が前記終了閾値を下回った場合に、前記比較部が前記放射線の照射の終了を規定する信号を生成することを特徴とする請求項2から4のいずれか1項に記載の放射線撮像装置の制御方法。
  6. 前記第2工程において放射線の照射の終了が規定されてから所定の時間を経過した後に、前記駆動回路が前記複数の画素の前記スイッチ素子を行単位で順次に前記導通状態し、
    前記所定の時間は、前記第1モードの前記検知信号に基づいて算出されることを特徴とする請求項5に記載の放射線撮像装置の制御方法。
  7. 前記終了閾値が、前記開始閾値よりも小さいことを特徴とする請求項5又は6に記載の放射線撮像装置の制御方法。
  8. 前記放射線発生装置は、前記第1モードにおいて、複数の照射条件で放射線を出射し、
    前記第1工程は、前記複数の照射条件に応じて算出した複数の前記開始閾値を、前記記憶部が前記複数の照射条件と関連づけて記憶し、
    前記第2工程は、前記比較部が、前記複数の前記開始閾値から前記第2モードにおいて前記画素アレイへ照射される放射線の照射条件に応じた開始閾値を選定し、当該選定された開始閾値に基づいて放射線の照射の開始を規定する信号を生成することを特徴とする請求項2から7のいずれか1項に記載の放射線撮像装置の制御方法。
  9. 前記第1工程は、複数の前記放射線発生装置に応じて算出した複数の前記開始閾値を、前記記憶部が前記複数の前記放射線発生装置と関連づけて記憶し、
    前記第2工程は、前記比較部が、前記複数の前記開始閾値から前記複数の前記放射線発生装置のうち前記第2モードにおいて使用された放射線発生装置に応じた開始閾値を選定し、当該選定された開始閾値に基づいて放射線の照射の開始を規定する信号を生成することを特徴とする請求項2から8のいずれか1項に記載の放射線撮像装置の制御方法。
  10. 各々が変換素子とスイッチ素子とを含んで放射線発生装置から出射された放射線を電気信号に変換する複数の画素が行列状に配置された画素アレイと、
    前記スイッチ素子の導通状態と非導通状態とを制御する駆動信号を前記複数の画素の前記スイッチ素子に供給する駆動回路と、
    前記画素アレイへの放射線の照射を検知するために前記画素アレイへの放射線の照射の強度に応じて変動する信号である検知信号を出力する検知部と、
    前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、に基づいて、放射線の照射の開始を検知するための閾値である開始閾値を算出するための演算処理を行う演算部と、
    を含むことを特徴とする放射線撮像装置。
  11. 前記電気信号に基づく画像信号を読み出す読出回路と、
    前記駆動回路、前記読出回路、及び、前記演算部を制御する制御部と、を更に有し、
    前記制御部は、前記算出部が前記開始閾値を算出する第1モードと、放射線が照射された前記画素アレイの前記複数の画素の前記スイッチ素子を前記駆動回路が行単位で順次に前記導通状態とすることによって前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記電気信号を転送し、当該転送された前記電気信号に基づく前記画像信号を前記読出回路が読み出す第2モードと、を切り替えるように、前記駆動回路、前記読出回路、及び、前記演算部を制御することを特徴とする請求項10に記載の放射線撮像装置。
  12. 前記演算部は、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイに放射線が照射されている期間に前記検知部から出力された前記検知信号と、に基づいて、放射線の照射の開始を検知するための閾値である開始閾値を算出する算出部と、前記算出部から出力された前記開始閾値を記憶する記憶部と、前記第2モードにおいて前記検知部から出力される前記検知信号の値と前記記憶部に記憶された前記開始閾値とを比較して、前記制御部に前記放射線の照射の開始を規定する信号を出力する比較部と、を含むことを特徴とする請求項11に記載の放射線撮像装置。
  13. 前記算出部は、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号の最大値と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイに放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号の最小値と、の間に設定された前記開始閾値を算出することを特徴とする請求項12に記載の放射線撮像装置。
  14. 前記算出部は、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号を、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイに放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号と位相を合わせて差分処理することにより得られる信号の最大値又は変曲点と、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって行単位で順次に前記導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されていない期間に前記検知部から出力される前記検知信号の最大値と、の間に設定された前記開始閾値を算出することを特徴とする請求項12に記載の放射線撮像装置。
  15. 前記比較部は、前記検知部から出力される前記検知信号の値が前記開始閾値を上回った場合に前記制御部に放射線の照射の開始を規定する信号を出力し、
    前記制御部は、前記第2モードにおいて、放射線の照射の開始を規定する信号を前記比較部から受けて、前記複数の画素の前記スイッチ素子を行単位で順次に前記導通状態としている前記駆動回路が、前記複数の画素の前記スイッチ素子を非導通状態に維持するように、前記駆動回路を制御することを特徴とする請求項12から14のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  16. 前記演算部は、前記複数の画素の前記スイッチ素子が前記駆動回路によって前記非導通状態とされている前記画素アレイへ放射線が照射されている期間に前記検知部から出力される前記検知信号に基づいて、放射線の照射の終了を検知するための閾値である終了閾値を更に算出するための演算処理を行うことを特徴とする請求項10から15のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  17. 前記終了閾値が、前記開始閾値よりも小さいことを特徴とする請求項16に記載の放射線撮像装置。
  18. 前記放射線発生装置は、複数の照射条件で放射線を出射することが可能であり、
    前記算出部は、前記第1モードにおいて前記複数の照射条件に応じて複数の前記開始閾値を算出し、
    前記記憶部は、前記複数の照射条件と関連づけて前記複数の前記開始閾値を記憶し、
    前記比較部は、前記第2モードにおいて設定された照射条件に応じて前記記憶部に記憶された前記複数の前記開始閾値から選定された開始閾値に基づいて、放射線の照射の開始を規定することを特徴とする請求項12から17のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  19. 前記算出部は、前記第1モードにおいて複数の前記放射線発生装置に応じて複数の前記開始閾値を算出し、
    前記記憶部は、前記複数の前記放射線発生装置と関連づけて前記複数の前記開始閾値を記憶し、
    前記比較部は、前記複数の前記放射線発生装置のうち前記第2モードにおいて使用された放射線発生装置に応じて前記記憶部に記憶された前記複数の前記開始閾値から選定された開始閾値に基づいて、放射線の照射の開始を規定することを特徴とする請求項12から18のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  20. 請求項10から19のいずれか1項に記載の放射線撮像装置と、
    前記放射線発生装置と、
    を含む放射線撮像システム。
JP2012152392A 2012-07-06 2012-07-06 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム Active JP5988735B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012152392A JP5988735B2 (ja) 2012-07-06 2012-07-06 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム
US13/934,430 US9329280B2 (en) 2012-07-06 2013-07-03 Method for controlling radiation image pickup apparatus, radiation image pickup apparatus, and radiation image pickup system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012152392A JP5988735B2 (ja) 2012-07-06 2012-07-06 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014017593A true JP2014017593A (ja) 2014-01-30
JP5988735B2 JP5988735B2 (ja) 2016-09-07

Family

ID=49877815

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012152392A Active JP5988735B2 (ja) 2012-07-06 2012-07-06 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9329280B2 (ja)
JP (1) JP5988735B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019013843A (ja) * 2018-11-02 2019-01-31 キヤノン株式会社 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160045112A1 (en) * 2012-10-26 2016-02-18 Koninklijke Philips N.V. Reducing interference in a combined system comprising an mri system and a non-mr imaging system
TWI682632B (zh) 2014-12-26 2020-01-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置
JP7319809B2 (ja) * 2019-03-29 2023-08-02 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム
JP7319825B2 (ja) * 2019-05-17 2023-08-02 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011086826A1 (ja) * 2010-01-14 2011-07-21 コニカミノルタエムジー株式会社 放射線画像撮影装置
JP2011196689A (ja) * 2010-03-17 2011-10-06 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線画像撮影装置
WO2011135917A1 (ja) * 2010-04-30 2011-11-03 コニカミノルタエムジー株式会社 放射線画像撮影装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0724730B1 (en) * 1993-10-20 1999-01-27 Cambridge Imaging Limited Improved imaging method and apparatus
GB9515762D0 (en) * 1995-08-01 1995-10-04 Eev Ltd Imaging apparatus
JP2007151761A (ja) 2005-12-02 2007-06-21 Canon Inc 放射線撮像装置、システム及び方法、並びにプログラム
JP2011185622A (ja) 2010-03-05 2011-09-22 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線画像撮影装置
JP5508340B2 (ja) * 2011-05-30 2014-05-28 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及び放射線画像検出装置の制御方法
US9239391B2 (en) * 2011-08-12 2016-01-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus and method for distinguishing energy bands of photons in multi-energy radiation

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011086826A1 (ja) * 2010-01-14 2011-07-21 コニカミノルタエムジー株式会社 放射線画像撮影装置
JP2011196689A (ja) * 2010-03-17 2011-10-06 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線画像撮影装置
WO2011135917A1 (ja) * 2010-04-30 2011-11-03 コニカミノルタエムジー株式会社 放射線画像撮影装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019013843A (ja) * 2018-11-02 2019-01-31 キヤノン株式会社 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US20140008544A1 (en) 2014-01-09
JP5988735B2 (ja) 2016-09-07
US9329280B2 (en) 2016-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6391388B2 (ja) 放射線撮像装置
RU2627929C2 (ru) Устройство визуализации излучения и система обнаружения излучения
US10009990B2 (en) Imaging apparatus, control method therefor, and imaging system
JP6525579B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6572025B2 (ja) 放射線撮像装置及びその制御方法
JP5950840B2 (ja) 放射線撮像装置及び撮像システム
JP5721405B2 (ja) 撮像システム、その制御方法及びプログラム
CN103654807B (zh) 放射线成像装置和放射线成像系统
US20140361189A1 (en) Radiation imaging system
US9360562B2 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP2016178230A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP5988735B2 (ja) 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム
JP6164798B2 (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法
US20140320685A1 (en) Imaging apparatus and imaging system
JP2013219408A (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法
JP2011120101A (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP5988736B2 (ja) 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム
US20110128359A1 (en) Imaging apparatus, imaging system, method of controlling the apparatus and the system, and program
US9239390B2 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP2013219405A (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法
JP6494387B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6202840B2 (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム
JP2015019155A (ja) 放射線撮像システム
JP7319809B2 (ja) 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム
JP7441032B2 (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150706

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160627

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160712

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160809

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5988735

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151