JP2014011296A - ガラス基板搬送装置 - Google Patents

ガラス基板搬送装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014011296A
JP2014011296A JP2012146747A JP2012146747A JP2014011296A JP 2014011296 A JP2014011296 A JP 2014011296A JP 2012146747 A JP2012146747 A JP 2012146747A JP 2012146747 A JP2012146747 A JP 2012146747A JP 2014011296 A JP2014011296 A JP 2014011296A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass substrate
current conduction
conductive film
detection unit
conduction detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012146747A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinji Sekiguchi
真路 関口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP2012146747A priority Critical patent/JP2014011296A/ja
Publication of JP2014011296A publication Critical patent/JP2014011296A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Rollers For Roller Conveyors For Transfer (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】搬送装置を一時停止することなく、ガラス基板を搬送しながら表裏判別及び未処理ガラスの判別を行う機能を有するガラス基板搬送装置を提供する。
【解決手段】表面と裏面の一方に導電膜が形成されたガラス基板を搬送しながら導電膜が形成されている面の判別を行なうガラス基板搬送装置であって、前記ガラス基板を載置する載置手段に、前記ガラス基板の裏面の導電膜を検出する電流導通検出部Aが設けられており、前記載置手段に載置されたガラス基板の表面に当接して、このガラス基板の表面の導電膜を検出する電流導通検出部Bが設けられていることを特徴とするガラス基板搬送装置。
【選択図】図5

Description

本発明は、液晶表示装置に用いられるガラス基板を搬送する装置に関するもので、更に詳細には、搬送中のガラス基板の導電膜面の表裏判別及び導電膜が形成されていない未処理ガラスの判別を行う機能を有するガラス基板搬送装置に関するものである。
図1はガラス基板の例としてカラー液晶表示装置に用いられるカラーフィルタの一例を断面で示す。カラーフィルタ1は、ガラス基板2上にブラックマトリックス(以下、BM)3、レッドRの着色画素(以下、R画素)4−1、グリーンGの着色画素(以下、G画素)4−2、ブルーBの着色画素(以下、B画素)4−3、透明電極5、及びフォトスペーサー(Photo Spacer)(以下、PS)6、バーテイカルアライメント(Vertical Alignment)(以下、VA)7が順次形成されたものである。
上記構造のカラーフィルタの製造方法は、フォトリソグラフィー法、印刷法、インクジェット法を用いることが知られているが、図2は一般的に用いられているフォトリソグラフィー法の工程を示すフロー図である。カラーフィルタは、先ず、ガラス基板上にBMを形成処理する工程(C1)、ガラス基板を洗浄処理する工程(C2)、着色フォトレジストを塗布および予備乾燥処理する工程(C3)、着色フォトレジストを乾燥、硬化処理するプリベーク工程(C4)、露光処理する工程(C5)、現像処理する工程(C6)、着色フォトレジストを硬化処理する工程(C7)、透明電極を成膜処理する工程(C8)、PS、VAを形成処理する工程(C9)がこの順に行われ製造される。
例えば、R画素、G画素、B画素の順に画素が形成される場合には、カラーフィルタ用ガラス基板を洗浄処理する工程(C2)から、着色フォトレジストを硬化処理する工程間(C7)ではレッドR、グリーンG、ブルーBの順に着色フォトレジストを変更して3回繰り返されてR画素、G画素、B画素が形成される。
上記カラーフィルタの製造工程では、製造工程内の各処理装置内や処理装置間でガラスの搬送が行われている。搬送装置によるガラス基板の搬送方法としては図3(a)に示されるコロ11上にガラス基板10を載置し、コロ11を回転させることにより矢印12の方向に搬送するコロ方式や、図3(b)に示されるエアー浮上台14から吹き出しエアー13aを吹き出してガラス基板10を浮かせ、同時に吸い込みエアー13bによってガラス基板10を吸い込み、更に図示しないガイド等でガラス基板を支持しながら矢印12の方向に搬送するエアー浮上方式が多く用いられている。特に、処理装置間で用いる搬送方法としては、安価で制御しやすいことから図3(a)に示されるコロ方式が多く採用されている。
また、カラーフィルタ製造工程において、上記ガラス基板の搬送のほかに処理装置から処理装置へのガラス基板の受け取り、受け渡しが行われる。この場合は一般的にロボッが用いられる。ガラス基板搬送ロボットは、ガラス基板を一時的に保管するバッファ装置や、処理装置から処理装置へガラス基板の受け取り、受け渡しを行う場合に用いられる(以下、この場合のガラス基板の受け取り、受け渡しすることを移載と記す)。
図4はガラス基板を移載する方法を説明するための図である。ガラス基板の移載に用いられているガラス基板搬送ロボットは、一般的に、図4(c)に示すガラス基板搬送ロボットの本体の先端に備えられたロボットハンド22に設けられたガラス基板支持体23によってガラス基板24を支えながらガラス基板の移載を行う。ガラス基板支持体23は摩擦係数の高い材料で作られたパッドやガラス基板を真空で吸着する吸着パッドが設けられ、ガラス基板を載置して搬送する場合にガラス基板がずれたり、落下することを防いでいる。
ロボットハンド22に設けられたガラス基板支持体23によってガラス基板24の受け取り、受け渡しを行う場合には、搬送コロ21で搬送されたガラス基板24を、リフトピン26が矢印27で示す方向に上昇して(図4(a))、ガラス基板24を持上げ、ロボットハンド22が侵入するスペースを確保(図4(b))した後、ロボットハンド22をガラス基板の下方で矢印28で示す方向に挿入し、更に矢印29で示す方向に上昇させてガラス基板24を支え、矢印30で示す方向に引き出してガラス基板24を抜き取り(図4(c))、更にロボットハンド22にガラス基板を保持した状態でロボットハンド22を旋回した後、次の処理装置へ受け渡す。リフトピン26はこの後、下降される。
このようにしてカラーフィルタ製造工程では、処理装置間や処理装置内でガラス基板の搬送や移載が行われる。
特開2008−63144号公報 特開平10−265018号公報
一般的に液晶表示装置に用いられるカラーフィルタはガラス基板上に導電膜を付与する製品がある。図2に示すカラーフィルタ製造工程の透明電極成膜(C8)においては、表面に導電膜を付与する場合であるが、品種によって裏面に形成する場合、または導電膜を形成しないものがある。カラーフィルタ製造工程では、一般的に目視によって導電膜の表裏や、有無を判定している。
導電膜を付与したガラス基板を、例えば次の処理工程に投入する際に表裏を逆転して投入してしまった場合には、そのガラス基板は不良品となってしまう。そのため次工程に投入する前に表裏逆転を判別することが望まれていた。
しかしながら、上記導電膜は薄膜で透明であるために、人による目視検査では表面、裏面のどちらに形成されているかを判別することが非常に困難であり、一方、判別するための導電膜検査装置の導入とともに、カラーフィルタ製造ラインの改造が伴い、導入費用の増加と製造ラインの生産効率を低下させる原因となる問題があった。また、搬送中のガラス基板の導電膜を付与した面の検出を搬送しながら自動で行う装置も提案されていない。
以上の問題点に鑑みて本発明は、構成が簡単で、しかも搬送装置を一時停止することなく、ガラス基板を搬送しながら表裏判別及び未処理ガラスの判別を行う機能を有するガラス基板搬送装置を提供することを目的とする。
そこで本発明の請求項1に係る発明は、表面と裏面の一方に導電膜が形成されたガラス基板を搬送しながら導電膜が形成されている面の判別を行なうガラス基板搬送装置であって、
前記ガラス基板を載置する載置手段に、前記ガラス基板の裏面の導電膜を検出する電流導通検出部Aが設けられており、
前記載置手段に載置されたガラス基板の表面に当接して、このガラス基板の表面の導電
膜を検出する電流導通検出部Bが設けられていることを特徴とするガラス基板搬送装置である。
本発明の請求項2に係る発明は、前記載置手段がガラス基板を載置して搬送する複数のコロを備えて構成されており、前記電流導通検出部Aがコロ間の電流導通を検出して裏面の導電膜を検出するものであることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板搬送装置である。
本発明の請求項3に係る発明は、前記載置手段が、ガラス基板を載置しリフトアップして移載する複数のリフトピンを備えて構成されており、前記電流導通検出部Aがリフトピン間の電流導通を検出して裏面の導電膜を検出するものであることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板搬送装置である。
本発明の請求項4に係る発明は、前記電流導通検出部Bが、前記載置手段に載置されたガラス基板両端部に近接した位置でその表面に当接する複数のコロ間の電流導通を検出して表面の導電膜を検出するものであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のガラス基板搬送装置である。
本発明の請求項5に係る発明は、電流導通検出部Aの検出結果及び電流導通検出部Bの検出結果に基づいて、ガラス基板の表裏逆転の有無及び導電膜未処理を判断する制御手段を備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のガラス基板搬送装置である。
本発明の請求項6に係る発明は、表裏逆転又は導電膜未処理と判断されたガラス基板を、搬送を停止するか、または、搬送装置の外側に振り分ける機構を備えることを特徴とする請求項5に記載のガラス基板搬送装置である。
本発明のガラス基板搬送装置によれば、構成が簡単で、しかも搬送しながらガラス基板の表裏の導電膜の検査を行うことが出来るので、表裏逆転の場合や導電膜未処理のガラス基板の場合は、搬送装置を停止またはその基板を搬送装置の外側に振り分けることによって、不良基板の発生を防ぐことが出来る。
カラーフィルタガラス基板の一例を断面で示す図。 一般的に用いられているフォトリソグラフィー法の工程のフロー図。 従来の搬送装置でのガラス基板の搬送方法を示す図。(a)はコロ方式を示す図。(b)はエアー浮上方式を示す図。 ガラス基板を移載する方法を説明するための図。(a)はリフトピンが上昇することを示す図。(b)はロボットハンドが侵入するスペースを確保することを示す図。(c)はロボットハンドがガラス基板を抜き取ることを示す図。 本発明によるガラス基板搬送装置の概略構成例を示す図。 本発明に係る第一の電流導通検出部を正面から見た図で、第一の電流導通検出部Aと第一の電流導通検出部Bを詳細に示す図。 本発明に係る第一の電流導通検出部Aと第一の電流導通検出部Bによって導電膜が形成されているか否かを検出する方法を説明するための図。(a)はガラス基板が第一の電流導通検出部Aに到達した場合に第一の電流導通検出部Bを下降させることを示す図。(b)は電流導通検出時を示す図。 本発明に係る第二の電流導通検出部を正面から見た図で、第二の電流導通検出部Aと第二の電流導通検出部Bを詳細に示す図。 第二の電流導通検出部Aと第二の電流導通検出部Bによって導電膜が形成されているか否かを検出する方法を説明するための図。(a)はガラス基板が第二の電流導通検出部Aに到達した場合に第二の電流導通検出部Aを上昇させることを示す図。(b)は電流導通検出時を示す図。
以下、図面を参照して本発明に係るガラス基板搬送装置を実施するための形態を説明する。
図5に本発明によるガラス基板搬送装置の概略構成例を示す。本発明によるガラス基板搬送装置はガラス基板100を複数のコロに載置して搬送するガラス基板を載置する第一の載置手段31と、ガラス基板を移載搬送する第二の載置手段32を有している。
第一の載置手段31には第一の電流導通検出部33が設けられ、第二の載置手段32には第二の電流導通検出部34が設けられている。第一の電流導通検出部33は第一の電流導通検出部A35と第一の電流導通検出部B36とで構成され、また第二の電流導通検出部34は第二の電流導通検出部A37と第二の電流導通検出部B38とで構成されている。尚、符号39は第一の電流導通検出部B36を矢印41で示す方向に昇降制御する第一の制御部である。また符号40は第二の電流導通検出部A37を矢印42で示す方向に昇降制御し、また第二の電流導通検出部B38を矢印43で示す方向に昇降制御する第二の制御部である。
図6は第一の電流導通検出部33を正面から見た図で、第一の電流導通検出部A35と第一の電流導通検出部B36を詳細に示す図である。第一の電流導通検出部A35は、ガラス基板100を搬送する搬送コロ35aと搬送コロ35bと、そのコロ軸35cに設けられ搬送コロ35aと搬送コロ35bとを電気的に絶縁する絶縁部35dと、で構成されている。第一の電流導通検出部B36はガラス基板100の両端に近接した位置に設けられたコロ36aとコロ36bと、そのコロ軸36cと、コロ36aとコロ36bとを絶縁する絶縁部36dと、で構成され、電流導通検出時はガラス基板100に接しながらコロ36aとコロ36bとコロ軸36cが回転する。
上記第一の電流導通検出部A35及び第一の電流導通検出部B36は、以上のような構成であるからそれぞれをガラス基板に接触させることによってガラス基板面に形成された導電膜を検出することが出来る。
図7は第一の電流導通検出部A35と第一の電流導通検出部B36によって導電膜が形成されているか否かを検出する方法を説明するための図である。例えば光学素子センサーを用いて搬送されるガラス基板100が第一の電流導通検出部A35に到達したことを検出し、その時点で第一の制御部39によって第一の電流導通検出部B36を矢印41で示す方向に下降する(図7(a))。次にガラス基板100を搬送させながら(搬送途中で)ガラス基板の表面を第一の電流導通検出部B36で、ガラス基板の裏面を第一の電流導通検出部A36で電流導通を検知する(図7(b))。この場合の電流導通は、一般的に使用される導通チエッカーを用いることが出来る。第一の電流導通検出部A35と第一の電流導通検出部B36によって検出される電流導通結果に基づいて、第一の制御部39内に設けられた表裏判定機能によってガラス基板が載置されている表裏の正否が判定される。導通検出後は、第一の電流導通検出部B36は矢印41で示す方向に上昇される。
図8は第二の電流導通検出部を正面から見た図で、第二の電流導通検出部A37と第二の電流導通検出部B38を詳細に示す図である。上述したように第二の電流導通検出部は第二の載置手段32に設けられている(図5)。第二の載置手段32は処理装置から処理装置へのガラス基板の受け取り受け渡しや、ガラス基板を一時的に保管するバッファ装置や、処理装置から処理装置へガラス基板の受け取り受け渡しを行う場合に用いられる。
第二の電流導通検出部A37はガラス基板100をリフトアップする複数のリフトピン37aを有しており、またリフトピン37aはリフトピン台37bに固定して設けられている。更にリフトピン台37bは絶縁部37cによって左右が電気的に絶縁される構造となっている。リフトピン台37bは第二の制御部40によって矢印42で示す方向に昇降制御される。第二の電流導通検出部B38は、ガラス基板100の両端に近接した位置に設けられたコロ38aとコロ38bと、そのコロ軸38cと、コロ38aとコロ38bとを絶縁する絶縁部38dと、で構成されている。この場合のコロ38aとコロ38bは回転する必要が無く、ガラス基板100に接すれば良い。
第二の電流導通検出部A37及び第二の電流導通検出部B38は、以上のような構成であるからそれぞれをガラス基板に接触させることによってガラス基板面に形成された導電膜を検出することが出来る。
図9は第二の電流導通検出部A37と第二の電流導通検出部B38によって導電膜が形成されているか否かを検出する方法を説明するための図である。例えば光学素子センサーを用いて搬送されるガラス基板100が第二の電流導通検出部A37に到達したことを検出し、その時点で第二の制御部40によって第二の電流導通検出部A37を矢印42で示す方向に上昇する(図9(a))。この時の第二の電流導通検出部A37をガラス基板10が第二の電流導通検出部B38のコロ38aとコロ38bに接するまで上昇する。このようにしてガラス基板の表面を第二の電流導通検出部B38で、ガラス基板の裏面を第二の電流導通検出部A37で電流導通を検知する(図9(b))。この場合の電流導通は、一般的に使用される導通チエッカーを用いることが出来る。第二の電流導通検出部A37と第二の電流導通検出部B38によって検出される電流導通の結果に基づいて、第二の制御部40内に設けられた表裏判定機能によってガラス基板が載置されている表裏の正否が判定される。導通検出後は、第二の電流導通検出部B38は昇降され、ガラス基板100は図示しないロボットアームによって受け渡し先の処理装置に移載される。ガラス基板が移載された後に、第二の電流導通検出部A37は下降され、次に搬送されてくるガラス基板を待つ。
上記では、第一の電流導通検出部33と第二の電流導通検出部34について説明したが、どちらか一方の電流導通検出部によってガラス基板の導電膜が形成されている面を検出することが出来るので、ガラス基板搬送装置の設置場所や設備費用などを考慮して、第一の電流導通検出部33と第二の電流導通検出部34のどちらか一方を選択して備えればよい。
上記第一の電流導通検出部33と第二の電流導通検出部34によってガラス基板の所定の面に電流導通が検出されなかった場合には、ガラス基板が表裏反転されて搬送されているか、導電膜が形成されていないガラス基板であるため、搬送停止または表裏逆転したガラス基板または導電膜が形成されていないガラス基板を搬送装置の外側に振り分ける機構を搬送装置に設けることによって、不良品の発生を防ぐことが出来る。
以上のように本発明のガラス基板搬送装置によれば、構成が簡単で、しかも搬送しながらガラス基板の表裏の導電膜の検査を行うことが出来るので、搬送されるガラス基板の表裏逆転を判別することが可能で、表裏逆転の場合や導電膜が未処理のガラス基板の場合は
、搬送装置を停止またはその基板を搬送装置の外側に振り分けることによって、不良基板の発生を防ぐことが出来る。
1・・・カラーフィルタ
2・・・ガラス基板
3・・・ブラックマトリックス(BM)
4−1・・・レッドRの着色画素(R画素)
4−2・・・グリーンGの着色画素(G画素)
4−3・・・ブルーBの着色画素(B画素)
5・・・透明電極
6・・・フォトスペーサー(PS)
7・・・バーテイカルアライメント(VA)
10・・・ガラス基板
11・・・コロ
12・・・ガラス基板を搬送する方向を示す矢印
13a・・・吹き出しエアー
13b・・・吸い込みエアー
14・・・エアー浮上台
21・・・搬送コロ
22・・・ロボットハンド
23・・・ガラス基板支持体
24・・・ガラス基板
26・・・リフトピン
27・・・リフトピンが上昇する方向を示す矢印
28・・・ロボットハンドをガラス基板の下方で挿入する方向を示す矢印
29・・・ロボットハンドを上昇させる方向を示す矢印
30・・・ロボットハンドを引き出す方向を示す矢印
31・・・第一の載置手段
32・・・第二の載置手段
33・・・第一の電流導通検出部
34・・・第二の電流導通検出部
35・・・第一の電流導通検出部A
35a、35b・・・搬送コロ
35c・・・コロ軸
35d・・・絶縁部
36・・・第一の電流導通検出部B
36a、36b・・・コロ
36c・・・コロ軸
36d・・・絶縁部
37・・・第二の電流導通検出部A
37a・・・複数のリフトピン
37b・・・リフトピン台
37c・・・絶縁部
38・・・第二の電流導通検出部B
38a、38b・・・コロ
38c・・・コロ軸
38d・・・絶縁部
39・・・第一の制御部
40・・・第二の制御部
41・・・第一の電流導通検出部Bを昇降する方向を示す矢印
42・・・第二の電流導通検出部Aを昇降する方向を示す矢印
43・・・第二の電流導通検出部Bを昇降する方向を示す矢印
100・・・ガラス基板

Claims (6)

  1. 表面と裏面の一方に導電膜が形成されたガラス基板を搬送しながら導電膜が形成されている面の判別を行なうガラス基板搬送装置であって、
    前記ガラス基板を載置する載置手段に、前記ガラス基板の裏面の導電膜を検出する電流導通検出部Aが設けられており、
    前記載置手段に載置されたガラス基板の表面に当接して、このガラス基板の表面の導電膜を検出する電流導通検出部Bが設けられていることを特徴とするガラス基板搬送装置。
  2. 前記載置手段がガラス基板を載置して搬送する複数のコロを備えて構成されており、前記電流導通検出部Aがコロ間の電流導通を検出して裏面の導電膜を検出するものであることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板搬送装置。
  3. 前記載置手段が、ガラス基板を載置しリフトアップして移載する複数のリフトピンを備えて構成されており、前記電流導通検出部Aがリフトピン間の電流導通を検出して裏面の導電膜を検出するものであることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板搬送装置。
  4. 前記電流導通検出部Bが、前記載置手段に載置されたガラス基板両端部に近接した位置でその表面に当接する複数のコロ間の電流導通を検出して表面の導電膜を検出するものであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のガラス基板搬送装置。
  5. 電流導通検出部Aの検出結果及び電流導通検出部Bの検出結果に基づいて、ガラス基板の表裏逆転の有無及び導電膜未処理を判断する制御手段を備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のガラス基板搬送装置。
  6. 表裏逆転又は導電膜未処理と判断されたガラス基板を、搬送を停止するか、または、搬送装置の外側に振り分ける機構を備えることを特徴とする請求項5に記載のガラス基板搬送装置。
JP2012146747A 2012-06-29 2012-06-29 ガラス基板搬送装置 Pending JP2014011296A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012146747A JP2014011296A (ja) 2012-06-29 2012-06-29 ガラス基板搬送装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012146747A JP2014011296A (ja) 2012-06-29 2012-06-29 ガラス基板搬送装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014011296A true JP2014011296A (ja) 2014-01-20

Family

ID=50107719

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012146747A Pending JP2014011296A (ja) 2012-06-29 2012-06-29 ガラス基板搬送装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2014011296A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105097626A (zh) * 2015-07-07 2015-11-25 京东方科技集团股份有限公司 一种搬送机械手和激光退火装置
KR20190118087A (ko) * 2018-04-09 2019-10-17 주식회사 야스 패스 챔버와 디척 챔버 사이에 기판 검사 장비가 배치된 증착 시스템
JP2020507472A (ja) * 2016-12-22 2020-03-12 オートテック・エンジニアリング・ソシエダッド・リミターダAutotech Engineering, S.L. ブランクを加熱するための方法と加熱システム
CN110957243A (zh) * 2018-09-27 2020-04-03 东京毅力科创株式会社 基板处理装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105097626A (zh) * 2015-07-07 2015-11-25 京东方科技集团股份有限公司 一种搬送机械手和激光退火装置
US9941147B2 (en) 2015-07-07 2018-04-10 Boe Technology Group Co., Ltd. Transfer apparatus and laser annealing apparatus
CN105097626B (zh) * 2015-07-07 2018-12-18 京东方科技集团股份有限公司 一种搬送机械手和激光退火装置
JP2020507472A (ja) * 2016-12-22 2020-03-12 オートテック・エンジニアリング・ソシエダッド・リミターダAutotech Engineering, S.L. ブランクを加熱するための方法と加熱システム
KR20190118087A (ko) * 2018-04-09 2019-10-17 주식회사 야스 패스 챔버와 디척 챔버 사이에 기판 검사 장비가 배치된 증착 시스템
KR102126115B1 (ko) * 2018-04-09 2020-06-24 주식회사 야스 패스 챔버와 디척 챔버 사이에 기판 검사 장비가 배치된 증착 시스템
CN110957243A (zh) * 2018-09-27 2020-04-03 东京毅力科创株式会社 基板处理装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2482059B1 (en) Apparatus for optical inspection
JP2014011296A (ja) ガラス基板搬送装置
JP2009051672A (ja) 基板搬送装置
JP2010098126A (ja) 基板搬送処理装置
JP2013139071A (ja) 搬送システム
US8087652B2 (en) Substrate supporting apparatus
JP3897133B2 (ja) 基板反転方法及び装置
JP2011029565A (ja) 基板保持装置
KR20160048549A (ko) 기판 검사 장치
KR101820011B1 (ko) 기판 이송 장치 및 이를 이용한 디스플레이 장치의 제조 장치
CN104022053A (zh) 一种用于成膜的真空腔室检测设备及真空腔室检测方法
CN100354734C (zh) 液晶板自动把持装置及其方法
JP3563851B2 (ja) 基板搬送装置
WO2014180133A1 (zh) 一种机械手设备
JP4937953B2 (ja) ウェハ搬送装置
KR101011485B1 (ko) 도광판 얼라인 방법 및 얼라인 장치와 이를 이용한 도광판 제조방법
US8827260B2 (en) Apparatus for detecting a foreign substance on an interleaving paper to be inserted between glass substrates
CN110880461B (zh) 基板处理装置
JP2013004949A (ja) 基板アライメント装置
KR101235624B1 (ko) 기판 접촉감지 시스템
JP2012216573A (ja) 基板搬送ロボット
JP4474672B2 (ja) 基板移載装置
KR20120023246A (ko) 기판 지지 장치
JP2012137300A (ja) 基板搬送装置及び基板搬送方法並びに基板処理システム及び基板処理方法
KR20100128484A (ko) 기판처리장치 및 이를 이용한 기판처리방법