JP2014002818A - Manufacturing method of carrier plate and discoidal substrate, and double-side processing device of discoidal substrate - Google Patents

Manufacturing method of carrier plate and discoidal substrate, and double-side processing device of discoidal substrate Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a carrier plate capable of suppressing an increase in difference between polishing (grinding) amounts of an upper surface and a lower surface of a discoidal substrate after polishing (grinding) processing.SOLUTION: A carrier plate 30 is provided in a double-side processing device 60 for polishing or grinding both upper and lower surfaces of a discoidal substrate 10. The carrier plate 30 includes: a substrate holding hole for holding the discoidal substrate 10; and a belt-like blade protrusively formed on at least one surface. The double-side processing device 60 includes: a pair of upper and lower surface plates oppositely arranged via the carrier plate 30; supply means for supplying polishing liquid or grinding liquid to the discoidal substrate 10; and drive means for relatively moving the carrier plate 30 and the pair of upper and lower surface plates. The carrier plate 30 polishes or grinds both the upper and lower surfaces of the discoidal substrate 10 by relatively moving the carrier plate 30 and the pair of upper and lower surface plates.

Description

本発明は、ハードディスクドライブなどの磁気記録再生装置用の磁気記録媒体に好適に用いられる円盤状基板を、研磨加工や研削加工する際に用いられるキャリアプレートおよびキャリアプレートを用いる円盤状基板の製造方法、キャリアプレートを備えた円盤状基板の両面加工装置に関する。   The present invention relates to a carrier plate used for polishing or grinding a disk-like substrate suitably used for a magnetic recording medium for a magnetic recording / reproducing apparatus such as a hard disk drive, and a method of manufacturing a disk-like substrate using the carrier plate The present invention relates to a double-sided processing apparatus for a disk-shaped substrate provided with a carrier plate.

近年、記録メディアの需要の高まりを受けて、円盤状のディスク基板の製造が活発化している。ディスク基板の一つである磁気ディスク基板としては、アルミ基板とガラス基板とが広く用いられている。アルミ基板は加工性に優れ、安価である点に特長があり、一方のガラス基板は強度に優れている点に特長がある。   In recent years, with the increasing demand for recording media, the manufacture of disk-shaped disk substrates has been activated. As a magnetic disk substrate which is one of the disk substrates, an aluminum substrate and a glass substrate are widely used. The aluminum substrate is characterized by excellent workability and low cost, while the glass substrate is characterized by excellent strength.

従来から円盤状基板の製造工程において、円盤状基板の研磨加工や研削加工が行われている。円盤状基板を研磨(研削)加工する方法としては、キャリアプレートの基板保持孔に円盤状基板を保持させ、対向配置された上下一対の定盤間にキャリアプレートを挟持させ、上下一対の定盤とキャリアプレートとを相対的に移動させて円盤状基板の表裏面を加工する方法がある。   Conventionally, in the manufacturing process of a disk-shaped substrate, polishing or grinding of the disk-shaped substrate has been performed. As a method of polishing (grinding) the disk-shaped substrate, the disk-shaped substrate is held in the substrate holding hole of the carrier plate, the carrier plate is sandwiched between a pair of upper and lower surface plates arranged opposite to each other, and a pair of upper and lower surface plates There is a method of processing the front and back surfaces of the disk-shaped substrate by relatively moving the carrier plate and the carrier plate.

例えば、特許文献1には、キャリアプレートの収納孔内に板状の被加工物を収容し、上記キャリアプレートを上定盤と下定盤との間で研磨液を供給しつつ回転させることにより、上記被加工物の両面を平坦に研磨する技術が記載されている。
また、特許文献2には、研磨機用キャリアのワーク保持穴内にワークを位置させて、ワークの上下面を、これらと相対移動する上定盤ないし下定盤の間に供給された研磨剤中の砥粒によって研磨する技術が記載されている。
For example, in Patent Document 1, a plate-like workpiece is accommodated in the accommodation hole of the carrier plate, and the carrier plate is rotated while supplying a polishing liquid between the upper surface plate and the lower surface plate, A technique for flatly polishing both surfaces of the workpiece is described.
Further, in Patent Document 2, the workpiece is positioned in the workpiece holding hole of the carrier for the polishing machine, and the upper and lower surfaces of the workpiece in the polishing agent supplied between the upper surface plate or the lower surface plate that moves relative to these workpieces. Techniques for polishing with abrasive grains are described.

特開2000−280167号公報JP 2000-280167 A 特開2000−198064号公報JP 2000-198064 A

しかしながら、従来の技術では、円盤状基板が保持されているキャリアプレートを、上下一対の定盤間に挟持させて円盤状基板の両面を研磨(研削)加工する方法を用いて、複数枚の円盤状基板の両面を連続して研磨(研削)加工すると、円盤状基板の上面と下面とにおける研磨(研削)加工速度が経時的に変化する。このため、研磨(研削)加工後の円盤状基板の上面と下面との研磨(研削)量の差が徐々に大きくなり、研磨(研削)加工後の円盤状基板の品質のばらつきが大きくなるという問題があった。   However, in the conventional technique, a plurality of disks are used by a method in which a carrier plate holding a disk-shaped substrate is sandwiched between a pair of upper and lower surface plates and both surfaces of the disk-shaped substrate are polished (grinded). When both surfaces of the cylindrical substrate are continuously polished (ground), the polishing (grinding) processing speed on the upper surface and the lower surface of the disk-shaped substrate changes with time. For this reason, the difference in the amount of polishing (grinding) between the upper surface and the lower surface of the disk-shaped substrate after polishing (grinding) processing gradually increases, and the variation in quality of the disk-shaped substrate after polishing (grinding) processing increases. There was a problem.

本願発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、円盤状基板が保持されているキャリアプレートを、上下一対の定盤間に挟持させて円盤状基板の両面を研磨(研削)加工する方法を用いて、複数枚の円盤状基板の両面を連続して研磨(研削)加工した場合であっても、円盤状基板の上面と下面とにおける研磨(研削)加工速度の変化が生じにくく、研磨(研削)加工後の円盤状基板の上面と下面との研磨(研削)量の差の増大を抑制できるキャリアプレートを提供することを目的とする。   The present invention has been made in order to solve the above-described problem. The carrier plate holding the disk-shaped substrate is sandwiched between a pair of upper and lower surface plates to polish (grind) both surfaces of the disk-shaped substrate. Even when both surfaces of a plurality of disk-shaped substrates are continuously polished (grinded) using the processing method, changes in the polishing (grinding) speed on the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate occur. An object of the present invention is to provide a carrier plate that is difficult and can suppress an increase in the amount of polishing (grinding) between the upper surface and the lower surface of a disk-shaped substrate after polishing (grinding).

また、本発明のキャリアプレートを用い、品質のばらつきの小さい複数枚の円盤状基板を連続して製造できる生産性に優れた円盤状基板の製造方法および円盤状基板の両面加工装置を提供することを目的とする。   Also provided are a disk-like substrate manufacturing method and a disk-like substrate double-sided processing apparatus that are capable of continuously manufacturing a plurality of disk-like substrates with small variations in quality using the carrier plate of the present invention. With the goal.

本発明者は、上記課題を解決すべく、円盤状基板を保持するキャリアプレートを一対の上下定盤間に挟持させて円盤状基板の両面を研磨(研削)加工する場合に、円盤状基板の研磨(研削)面に供給される研磨(研削)液の排出性に着目し、以下に示すように、検討を重ねた。
すなわち、研磨(研削)液は、研磨(研削)加工に用いられた後、研磨(研削)屑とともに、主に下側の定盤の外周部に排出される。しかし、複数枚の円盤状基板の両面を連続して研磨(研削)加工すると、排出されるべき研磨(研削)屑および研磨(研削)液が、徐々に円盤状基板の研磨(研削)面と下側の定盤との間に残留するようになる。
In order to solve the above-mentioned problems, the present inventor has a method for polishing (grinding) both surfaces of a disk-shaped substrate by sandwiching a carrier plate that holds the disk-shaped substrate between a pair of upper and lower surface plates. Focusing on the discharge of the polishing (grinding) liquid supplied to the polishing (grinding) surface, investigations were repeated as shown below.
That is, the polishing (grinding) liquid is used for polishing (grinding), and is then discharged together with the polishing (grinding) waste mainly to the outer peripheral portion of the lower surface plate. However, if both surfaces of a plurality of disk-shaped substrates are continuously polished (grinded), the polishing (grinding) waste and the polishing (grinding) liquid to be discharged gradually move toward the polishing (grinding) surface of the disk-shaped substrate. It remains between the lower surface plate.

残留した研磨(研削)屑および研磨(研削)液は重力により下方に移動するため、円盤状基板の下面の研磨(研削)加工速度を変化させるとともに、特に下側の研磨布や定盤の表面を摩耗させる。その結果、研磨(研削)加工後の円盤状基板における上面と下面との研磨(研削)量の差が増大していることが分かった。
そこで、本発明者は、円盤状基板の両面を研磨(研削)加工する際に、研磨(研削)加工に用いられた後の排出されるべき研磨(研削)液および研磨(研削)屑が、安定して排出されるようにするべく、鋭意検討を重ねた。
Residual polishing (grinding) scraps and polishing (grinding) liquid move downward due to gravity, changing the polishing (grinding) processing speed of the lower surface of the disk-shaped substrate, and especially the surface of the lower polishing cloth or surface plate Wear out. As a result, it was found that the difference in the amount of polishing (grinding) between the upper surface and the lower surface of the disk-shaped substrate after polishing (grinding) processing was increased.
Therefore, the present inventor, when polishing (grinding) both sides of the disk-shaped substrate, the polishing (grinding) liquid and the polishing (grinding) waste to be discharged after being used for polishing (grinding) processing, In order to ensure stable discharge, intensive investigations were repeated.

その結果、キャリアプレートとして、少なくとも一方の面に突出して形成された帯状ブレードを備えるものを用い、円盤状基板を研磨(研削)加工する際に、帯状ブレードを、定盤上に存在する研磨(研削)屑および研磨(研削)液を払拭するスクレイパーとして機能させればよいことを見出した。
このような帯状ブレードを備えるキャリアプレートを用いた場合、研磨(研削)加工する際に、上下一対の定盤とキャリアプレートとを相対的に移動させると、円盤状基板の上下両面が研磨(研削)されるとともに、上下一対の定盤の帯状ブレードと対向する表面上において排出されるべき研磨(研削)屑および研磨(研削)液が、帯状ブレードによって移動される。
As a result, when the carrier plate is provided with a belt-like blade formed so as to protrude on at least one surface and the disk-like substrate is polished (grinded), the belt-like blade is polished on the surface plate ( It has been found that it is sufficient to function as a scraper for wiping off grinding and scraping and grinding (grinding) liquids.
When a carrier plate having such a belt-like blade is used, when polishing (grinding), if the pair of upper and lower surface plates and the carrier plate are relatively moved, the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are polished (ground). ) And polishing (grinding) waste and polishing (grinding) liquid to be discharged on the surface of the pair of upper and lower surface plates facing the belt-like blades are moved by the belt-like blades.

このことによって、上下一対の定盤の帯状ブレードと対向する表面上からの研磨(研削)屑および研磨(研削)液の排出が促進され、複数枚の円盤状基板の両面を連続して研磨(研削)加工した場合であっても、排出されるべき研磨(研削)屑および研磨(研削)液の残留が防止される。したがって、円盤状基板の上面と下面とにおける研磨(研削)加工速度の変化が抑制される。
本発明は以下に関する。
This promotes the discharge of polishing (grinding) waste and polishing (grinding) liquid from the surface facing the strip blades of a pair of upper and lower surface plates, and continuously polishes both surfaces of a plurality of disk-shaped substrates ( Even in the case of (grinding) processing, residual polishing (grinding) waste and polishing (grinding) liquid to be discharged are prevented. Therefore, a change in the polishing (grinding) processing speed between the upper surface and the lower surface of the disk-shaped substrate is suppressed.
The present invention relates to the following.

(1)円盤状基板の上下両面を研磨または研削する両面加工装置に備えられるキャリアプレートであり、前記キャリアプレートが、前記円盤状基板を保持する基板保持孔と、少なくとも一方の面に突出して形成された帯状ブレードとを備えるものであり、前記両面加工装置が、前記キャリアプレートを介して対向配置される上下一対の定盤と、前記円盤状基板に研磨液または研削液を供給する供給手段と、前記キャリアプレートと前記上下一対の定盤とを相対的に移動させる駆動手段とを備え、前記キャリアプレートと前記上下一対の定盤とを相対的に移動させることにより、前記円盤状基板の上下両面を研磨または研削するものであることを特徴とするキャリアプレート。 (1) A carrier plate provided in a double-sided processing apparatus that polishes or grinds both the upper and lower surfaces of a disk-shaped substrate, and the carrier plate is formed to protrude from at least one surface of a substrate holding hole for holding the disk-shaped substrate. A pair of upper and lower surface plates disposed opposite to each other via the carrier plate, and supply means for supplying a polishing liquid or a grinding liquid to the disk-shaped substrate. Drive means for relatively moving the carrier plate and the pair of upper and lower surface plates, and by moving the carrier plate and the pair of upper and lower surface plates relatively, A carrier plate for polishing or grinding both surfaces.

(2)前記帯状ブレードが、上下両面に形成されていることを特徴とする(1)に記載のキャリアプレート。
(3)前記キャリアプレートが、平面視円形状のものであり、前記帯状ブレードが、平面視で円周方向と交差する方向に延在するものであることを特徴とする(1)または(2)に記載のキャリアプレート。
(4)前記帯状ブレードが、平面視同形で円周方向に等間隔で並べられた複数の帯状部からなることを特徴とする(3)に記載のキャリアプレート。
(2) The carrier plate according to (1), wherein the belt-like blade is formed on both upper and lower surfaces.
(3) The carrier plate has a circular shape in plan view, and the belt-like blade extends in a direction intersecting the circumferential direction in plan view (1) or (2) ) Carrier plate.
(4) The carrier plate according to (3), wherein the belt-like blade includes a plurality of belt-like portions arranged in the circumferential direction at equal intervals in the same shape in plan view.

(5)円盤状基板の上下両面を研磨または研削する工程を備える円盤状基板の製造方法であり、前記研磨または研削する工程は、キャリアプレートに備えられた基板保持孔に前記円盤状基板を保持させる工程と、前記キャリアプレートに保持された前記円盤状基板を上下一対の定盤間に配置する工程と、前記円盤状基板に研磨液または研削液を供給しながら、前記キャリアプレートと前記上下一対の定盤とを相対的に移動させることにより、前記円盤状基板の上下両面を研磨または研削するとともに、前記キャリアプレートの少なくとも一方の面に突出して形成された帯状ブレードにより、前記上下一対の定盤の前記帯状ブレードに対向する表面上の研磨屑または研削屑と前記研磨液または研削液とを移動させる表面加工工程とを備えることを特徴とする円盤状基板の製造方法。 (5) A method for manufacturing a disk-shaped substrate comprising a step of polishing or grinding both upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate, wherein the step of polishing or grinding holds the disk-shaped substrate in a substrate holding hole provided in a carrier plate. A step of placing the disk-shaped substrate held on the carrier plate between a pair of upper and lower surface plates, and supplying the polishing liquid or the grinding liquid to the disk-shaped substrate while supplying the pair of upper and lower carrier plates to the disk-shaped substrate. The upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are polished or ground by moving the surface plate relative to each other, and the pair of upper and lower surfaces are fixed by a belt-like blade formed to protrude from at least one surface of the carrier plate. A surface processing step of moving the polishing waste or grinding waste on the surface of the disc facing the belt-like blade and the polishing liquid or grinding liquid. Method for producing a disk-shaped substrate, wherein.

(6)前記キャリアプレートとして、前記帯状ブレードが、上下両面に形成されているものを用いることを特徴とする(5)に記載の円盤状基板の製造方法。
(7)前記上下一対の定盤として、研削定盤を用い、
前記表面加工工程において、研削液としてクーラントを供給しながら、前記円盤状基板の上下両面を研削することを特徴とする(5)または(6)に記載の円盤状基板の製造方法。
(8)前記上下一対の定盤として、研磨定盤を用い、
前記表面加工工程において、研磨液として研磨剤を含むスラリーを供給しながら、前記円盤状基板の上下両面を研磨することを特徴とする(5)または(6)に記載の円盤状基板の製造方法。
(6) The disk-shaped substrate manufacturing method according to (5), wherein the carrier plate is one in which the belt-like blades are formed on both upper and lower surfaces.
(7) A grinding surface plate is used as the pair of upper and lower surface plates,
In the surface processing step, the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are ground while supplying a coolant as a grinding liquid. The method for manufacturing a disk-shaped substrate according to (5) or (6),
(8) A polishing surface plate is used as the pair of upper and lower surface plates,
In the surface processing step, the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are polished while supplying a slurry containing an abrasive as a polishing liquid. The method for manufacturing a disk-shaped substrate according to (5) or (6) .

(9)円盤状基板の上下両面を研磨または研削する円盤状基板の両面加工装置であり、円盤状基板を保持する基板保持孔と、少なくとも一方の面に突出して形成された帯状ブレードとを備えるキャリアプレートと、前記キャリアプレートを介して対向配置される上下一対の定盤と、前記円盤状基板に研磨液または研削液を供給する供給手段と、前記キャリアプレートと前記上下一対の定盤とを相対的に移動させる駆動手段とを備えることを特徴とする円盤状基板の両面加工装置。 (9) A disk-like double-sided processing apparatus for polishing or grinding the upper and lower surfaces of the disk-like substrate, comprising a substrate holding hole for holding the disk-like substrate and a belt-like blade formed to protrude on at least one surface. A carrier plate, a pair of upper and lower surface plates disposed opposite to each other via the carrier plate, supply means for supplying a polishing liquid or a grinding liquid to the disk-shaped substrate, the carrier plate and the pair of upper and lower surface plates A disk-side substrate double-side processing apparatus, comprising: a drive unit that relatively moves.

本発明のキャリアプレートは、少なくとも一方の面に突出して形成された帯状ブレードを備えるものであるので、本発明のキャリアプレートに保持された円盤状基板を上下一対の定盤間に配置して、上下一対の定盤とキャリアプレートとを相対的に移動させて円盤状基板の上下両面を研磨または研削した場合、円盤状基板の上下両面が研磨(研削)されるとともに、帯状ブレードによる定盤上に存在する研磨(研削)屑および研磨(研削)液を払拭するスクレイパーとしての機能により、上下一対の定盤の帯状ブレードと対向する表面上における排出されるべき研磨(研削)屑および研磨(研削)液が移動される。   Since the carrier plate of the present invention is provided with a belt-like blade formed to protrude on at least one surface, the disk-shaped substrate held by the carrier plate of the present invention is disposed between a pair of upper and lower surface plates, When the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are polished or ground by relatively moving the upper and lower pair of surface plates and the carrier plate, the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are polished (ground) and on the surface plate by the belt blade Abrasive (grinding) scraps and polishing (grinding) to be discharged on the surface facing the strip blades of a pair of upper and lower surface plates by the function of a scraper for wiping away polishing (grinding) scraps and polishing (grinding) liquid ) The liquid is moved.

このことによって、上下定盤の帯状ブレードと対向する表面上からの研磨(研削)屑および研磨(研削)液の排出が促進され、複数枚の円盤状基板の両面を連続して研磨(研削)加工した場合であっても、排出されるべき研磨(研削)屑および研磨(研削)液の残留が防止される。したがって、円盤状基板の上面と下面とにおける研磨(研削)加工速度の変化が抑制される。
よって、本発明のキャリアプレートを用いる本発明の円盤状基板の製造方法は、品質のばらつきの小さい複数枚の円盤状基板を連続して製造できる生産性に優れた方法となる。
This facilitates the removal of polishing (grinding) debris and polishing (grinding) liquid from the surface of the upper and lower surface plates facing the strip blades, and continuously polishes (grinds) both surfaces of a plurality of disk-shaped substrates. Even when processed, the residue of polishing (grinding) waste and polishing (grinding) liquid to be discharged is prevented. Therefore, a change in the polishing (grinding) processing speed between the upper surface and the lower surface of the disk-shaped substrate is suppressed.
Therefore, the manufacturing method of the disk-shaped substrate of the present invention using the carrier plate of the present invention is a method with excellent productivity capable of continuously manufacturing a plurality of disk-shaped substrates with small variations in quality.

図1は、本発明の円盤状基板の両面加工装置の一例を示した概略斜視図である。FIG. 1 is a schematic perspective view showing an example of a double-sided processing apparatus for a disk-shaped substrate according to the present invention. 図2は、図1に示す円盤状基板の両面加工装置に備えられたキャリアプレートを拡大して示した概略斜視図である。FIG. 2 is an enlarged schematic perspective view showing a carrier plate provided in the disk-side substrate double-side processing apparatus shown in FIG. 図3は、本発明のキャリアプレートの他の例を示した概略斜視図である。FIG. 3 is a schematic perspective view showing another example of the carrier plate of the present invention. 図4は、本発明のキャリアプレートの他の例を示した概略斜視図である。FIG. 4 is a schematic perspective view showing another example of the carrier plate of the present invention. 図5は、本発明のキャリアプレートの他の例を示した概略斜視図である。FIG. 5 is a schematic perspective view showing another example of the carrier plate of the present invention.

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
本発明は、ハードディスクドライブ用の磁気記録媒体などに用いられる円盤状基板を研磨(研削)加工する際に用いられるキャリアプレートおよびキャリアプレートを用いる円盤状基板の製造方法、キャリアプレートを備えた円盤状基板の両面加工装置に関する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
The present invention relates to a carrier plate used for polishing (grinding) a disk-shaped substrate used for a magnetic recording medium for a hard disk drive and the like, a method for manufacturing a disk-shaped substrate using the carrier plate, and a disk-shaped substrate including the carrier plate. The present invention relates to a double-sided processing apparatus for substrates.

「両面加工装置」
図1は、本発明の円盤状基板の両面加工装置の一例を示した概略斜視図であり、図2は、図1に示す円盤状基板の両面加工装置に備えられたキャリアプレートを拡大して示した概略斜視図である。図1に示す両面加工装置60は、円盤状基板10の上下両面を研磨する両面研磨装置または円盤状基板10の上下両面を研削する両面研削装置である。
"Double-sided processing equipment"
FIG. 1 is a schematic perspective view showing an example of a disk-like substrate double-sided processing apparatus according to the present invention. FIG. 2 is an enlarged view of a carrier plate provided in the disk-like substrate double-sided processing apparatus shown in FIG. It is the shown schematic perspective view. A double-sided processing apparatus 60 shown in FIG. 1 is a double-side polishing apparatus that polishes the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 or a double-side grinding apparatus that grinds the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10.

本実施形態の両面加工装置60は、図1に示すように、キャリアプレート30と、キャリアプレート30を介して対向配置される上下一対の定盤21a、21bと、円盤状基板10に研磨液または研削液を供給する供給手段(不図示)と、キャリアプレート30と上下一対の定盤21a、21bとを相対的に移動させる駆動手段(不図示)とを備えている。   As shown in FIG. 1, the double-sided processing device 60 of the present embodiment includes a carrier plate 30, a pair of upper and lower surface plates 21 a and 21 b that are arranged to face each other via the carrier plate 30, and a disc-like substrate 10. Supply means (not shown) for supplying the grinding fluid and drive means (not shown) for moving the carrier plate 30 and the pair of upper and lower surface plates 21a, 21b relatively are provided.

円盤状基板10は、上下両面を研磨および/または研削することにより、ハードディスクドライブ用の磁気記録媒体などの基板として用いられるものである。円盤状基板10としては、例えば、中央に開口部を有する円盤状の薄板からなるアルミニウム合金基板やガラス基板などからなるものが挙げられる。アルミニウム合金基板は、表面にNiPめっき被膜の形成されたものであってもよい。
このような円盤状基板10は、後述する研磨加工および/または研削加工を行ってから、上面に磁性層、保護層及び潤滑膜などの磁気記録媒体を構成する各層が積層されて、磁気記録媒体とされるものである。
The disk-shaped substrate 10 is used as a substrate for a magnetic recording medium for a hard disk drive, by polishing and / or grinding both upper and lower surfaces. Examples of the disk-like substrate 10 include those made of an aluminum alloy substrate or a glass substrate made of a disk-like thin plate having an opening at the center. The aluminum alloy substrate may have a NiP plating film formed on the surface.
Such a disk-shaped substrate 10 is subjected to polishing and / or grinding described later, and then, on the upper surface, layers constituting the magnetic recording medium such as a magnetic layer, a protective layer, and a lubricating film are laminated to form a magnetic recording medium. It is supposed to be.

図1に示す両面加工装置60では、定盤として、下定盤21aと上定盤21bとからなる上下一対の定盤(以下、単に定盤という場合がある。)が備えられている。下定盤21aは、円盤状基板10が載置されるものである。上定盤21bは、下定盤21に載置された円盤状基板10を上部から押えつけ、円盤状基板10に対して加工圧力を加えるものである。   The double-sided processing apparatus 60 shown in FIG. 1 includes a pair of upper and lower surface plates (hereinafter sometimes simply referred to as “surface plate”) composed of a lower surface plate 21a and an upper surface plate 21b. The lower surface plate 21a is on which the disk-shaped substrate 10 is placed. The upper surface plate 21 b presses the disk-shaped substrate 10 placed on the lower surface plate 21 from above and applies a processing pressure to the disk-shaped substrate 10.

図1に示す定盤21a、21bは、平面視円形であり、下定盤21aおよび上定盤21bの中心部には、これらを回転させるための回転軸(中心軸)46a,46bがそれぞれ設けられている。図1に示す定盤21a、21bは、各々中心軸46a,46bを中心として自転可能とされている。定盤21a、21bの自転の方向は、図1において矢印で示されるように、互いに逆向きとされている。   The surface plates 21a and 21b shown in FIG. 1 have a circular shape in a plan view, and rotation axes (center axes) 46a and 46b for rotating the lower surface plate 21a and the upper surface plate 21b are provided at the central portions of the surface plates 21a and 21b, respectively. ing. The surface plates 21a and 21b shown in FIG. 1 can rotate about the central axes 46a and 46b, respectively. The directions of rotation of the surface plates 21a and 21b are opposite to each other as indicated by arrows in FIG.

定盤21a、21bとしては、本実施形態の両面加工装置60を両面研磨装置として用いる場合、定盤21a、21bの下定盤21aと上定盤21bとの対向面を研磨面とする研磨定盤が用いられる。研磨定盤としては、例えば、研磨面である定盤21a、21bの下定盤21aと上定盤21bとの対向面に、円盤状基板10の表面を研磨する研磨パッドが設けられているものなどが用いられる。   As the surface plates 21a and 21b, when the double-sided processing device 60 of the present embodiment is used as a double-sided polishing device, a polishing surface plate whose surface is an opposite surface between the lower surface plate 21a and the upper surface plate 21b. Is used. As the polishing surface plate, for example, a polishing pad for polishing the surface of the disk-shaped substrate 10 is provided on the opposing surface of the lower surface plate 21a and the upper surface plate 21b which are the polishing surfaces 21a and 21b. Is used.

研磨パッドとしては、円盤状基板10の材料や研磨に使用される研磨剤を含むスラリーの種類、研磨の目的などに応じて決定できる。例えば、円盤状基板10が、アルミニウム合金基板の表面にNiPめっき被膜の形成されたものである場合、研磨パッドとしてウレタンにより形成された硬質研磨布や、スエード状の軟質研磨布を用いることが好ましい。また、円盤状基板10が、ガラス基板からなるものである場合、例えば、研磨パッドとしてスエード状の軟質研磨布を用いることが好ましい。   The polishing pad can be determined according to the material of the disk-shaped substrate 10, the type of slurry containing an abrasive used for polishing, the purpose of polishing, and the like. For example, when the disk-shaped substrate 10 has an NiP plating film formed on the surface of an aluminum alloy substrate, it is preferable to use a hard polishing cloth formed of urethane or a suede-like soft polishing cloth as a polishing pad. . Moreover, when the disk-shaped board | substrate 10 consists of glass substrates, it is preferable to use a suede-like soft polishing cloth as a polishing pad, for example.

また、本実施形態の両面加工装置60を両面研削装置として用いる場合には、定盤21a、21bの下定盤21aと上定盤21bとの対向面を研削面とする研削定盤が用いられる。研削定盤は、円盤状基板10の材料や研削の目的などに応じて決定できる。例えば、円盤状基板10が、ガラス基板である場合、研削定盤として、アルミナやダイヤモンドからなる砥粒を用いた研削砥石を用いることが好ましい。   Moreover, when using the double-sided processing apparatus 60 of this embodiment as a double-sided grinding apparatus, the grinding surface plate which uses the opposing surface of the surface plates 21a and 21b of the lower surface plate 21a and the upper surface plate 21b as a grinding surface is used. The grinding surface plate can be determined according to the material of the disk-shaped substrate 10 and the purpose of grinding. For example, when the disk-shaped substrate 10 is a glass substrate, it is preferable to use a grinding wheel using abrasive grains made of alumina or diamond as the grinding surface plate.

また、下定盤21aの上定盤21bとの対向面には、図1に示すように、円周方向に沿うリング状の凹部22が形成されている。凹部22は、キャリアプレート30を収容するためのものである。
図1に示すように、凹部22の外側の壁面部には歯部42が設けられている。また、凹部22の内側の壁面部に沿って太陽歯車44が設けられている。下定盤21aの半径方向の凹部22の幅は、図1に示すように、キャリアプレート30の直径に対応する寸法とされている。
Moreover, as shown in FIG. 1, the ring-shaped recessed part 22 along the circumferential direction is formed in the surface facing the upper surface plate 21b of the lower surface plate 21a. The recess 22 is for accommodating the carrier plate 30.
As shown in FIG. 1, a tooth portion 42 is provided on the outer wall surface of the recess 22. A sun gear 44 is provided along the inner wall surface of the recess 22. The width of the recess 22 in the radial direction of the lower surface plate 21a is set to a dimension corresponding to the diameter of the carrier plate 30 as shown in FIG.

キャリアプレート30は、下定盤21a上に載置されており、図1に示すように、定盤21a、21bの間に配置されている。図1に示すように、キャリアプレート30は、下定盤21aの上定盤21bとの対向面に形成されたリング状の凹部22に収容されている。図1に示す両面加工装置60では、凹部22に5個のキャリアプレート30が収容されている。図1に示す両面加工装置60では、5個のキャリアプレート30が定盤21a、21bの間に配置されているが、定盤21a、21bの間に配置されるキャリアプレート30の数は特に限定されるものではない。   The carrier plate 30 is placed on the lower surface plate 21a, and is disposed between the surface plates 21a and 21b as shown in FIG. As shown in FIG. 1, the carrier plate 30 is accommodated in a ring-shaped recess 22 formed on a surface facing the upper surface plate 21b of the lower surface plate 21a. In the double-sided processing apparatus 60 shown in FIG. 1, five carrier plates 30 are accommodated in the recess 22. In the double-side processing apparatus 60 shown in FIG. 1, five carrier plates 30 are arranged between the surface plates 21a and 21b, but the number of carrier plates 30 arranged between the surface plates 21a and 21b is particularly limited. Is not to be done.

キャリアプレート30は、図2に示すように、平面視円形であり、基板保持孔34と、キャリアプレート30の上面および下面に突出して形成された帯状ブレード36とを備えている。図2に示すキャリアプレート30では、上面に形成された帯状ブレード36と下面に形成された帯状ブレード36とは、帯状ブレード36の厚み方向中心に対して対称形状となっている。なお、図2においては、図面を見やすくし、帯状ブレード36の配置や形状の説明を容易とするため、キャリアプレート30の下面の帯状ブレード36の図示を省略している。   As shown in FIG. 2, the carrier plate 30 has a circular shape in plan view, and includes a substrate holding hole 34 and a belt-like blade 36 that protrudes from the upper and lower surfaces of the carrier plate 30. In the carrier plate 30 shown in FIG. 2, the belt-like blade 36 formed on the upper surface and the belt-like blade 36 formed on the lower surface are symmetrical with respect to the center of the belt-like blade 36 in the thickness direction. In FIG. 2, the illustration of the belt-like blades 36 on the lower surface of the carrier plate 30 is omitted to make it easier to see the drawing and to facilitate the description of the arrangement and shape of the belt-like blades 36.

基板保持孔34は、円盤状基板10を保持するものである。基板保持孔34は、平面視円形であり、キャリアプレート30を貫通して複数設けられている。円盤状基板10を研磨(研削)加工する際に、円盤状基板10を基板保持孔34内に設置することで、円盤状基板10を安定して高精度で研磨(研削)加工できる。基板保持孔34の数は特に限定されるものではなく、キャリアプレート30の厚みや強度、保持すべき円盤状基板10の厚み等によって適宜決定できる。   The substrate holding hole 34 holds the disk-shaped substrate 10. The substrate holding hole 34 is circular in plan view, and a plurality of substrate holding holes 34 are provided through the carrier plate 30. When polishing (grinding) the disk-shaped substrate 10, the disk-shaped substrate 10 can be stably and precisely polished (ground) by installing the disk-shaped substrate 10 in the substrate holding hole 34. The number of the substrate holding holes 34 is not particularly limited, and can be appropriately determined depending on the thickness and strength of the carrier plate 30, the thickness of the disk-like substrate 10 to be held, and the like.

基板保持孔34の内径は、円盤状基板10の直径に応じて決定されるものであり、円盤状基板10を保持しうる範囲で円盤状基板10の直径よりも大きいものとされている。このように基板保持孔34の内径を円盤状基板10の直径よりも大きくした場合、円盤状基板10の研磨(研削)加工を行う際に、円盤状基板10の外周端の一部に余分な応力がかかることを防止でき、好ましい。   The inner diameter of the substrate holding hole 34 is determined according to the diameter of the disk-shaped substrate 10 and is larger than the diameter of the disk-shaped substrate 10 in a range where the disk-shaped substrate 10 can be held. As described above, when the inner diameter of the substrate holding hole 34 is larger than the diameter of the disk-shaped substrate 10, when performing polishing (grinding) processing of the disk-shaped substrate 10, an extra portion is added to a part of the outer peripheral end of the disk-shaped substrate 10. It is possible to prevent stress from being applied, which is preferable.

図2に示す帯状ブレード36は、平面視同形で円周方向に等間隔で並べられた4本の帯状部36aからなる。帯状部36aの数は、特に限定されるものではなく、1〜3本でもよいし、5本以上であってもよい。また、図2に示す帯状ブレード36では、4本の帯状部36aは全て同じ形状とされているが、複数本の帯状部のうち一部または全部が異なる形状とされていてもよい。   The belt-like blade 36 shown in FIG. 2 includes four belt-like portions 36a that are the same shape in plan view and are arranged at equal intervals in the circumferential direction. The number of the belt-like portions 36a is not particularly limited, and may be 1 to 3, or 5 or more. Further, in the belt-like blade 36 shown in FIG. 2, all of the four belt-like portions 36a have the same shape, but some or all of the plurality of belt-like portions may have different shapes.

各帯状部36aは、図2に示すように、平面視でキャリアプレート30の円周方向と交差する方向に延在する直線状のものであり、隣接する基板保持孔34同士の間に配置されている。帯状部36aが平面視でキャリアプレート30の円周方向と交差する方向に延在するものである場合、帯状部がキャリアプレート30の円周方向に延在するものである場合と比較して、帯状ブレード36が定盤21a、21b上に存在する研磨(研削)屑および研磨(研削)液を払拭するスクレイパーとして効果的に機能するものとなる。   As shown in FIG. 2, each belt-like portion 36 a has a linear shape extending in a direction intersecting the circumferential direction of the carrier plate 30 in a plan view, and is disposed between adjacent substrate holding holes 34. ing. When the belt-like portion 36a extends in a direction intersecting with the circumferential direction of the carrier plate 30 in plan view, compared to the case where the belt-like portion extends in the circumferential direction of the carrier plate 30, The belt-like blade 36 effectively functions as a scraper for wiping off polishing (grinding) waste and polishing (grinding) liquid existing on the surface plates 21a and 21b.

各帯状部36aの延在方向は、図2に示すように、キャリアプレート30の半径方向に対して所定の角度で傾いている。帯状部36aがキャリアプレート30の円周方向と交差する方向に延在するものであって、帯状部36aの延在方向がキャリアプレート30の半径方向に対して傾いている場合、帯状ブレード36が定盤上に存在する研磨(研削)屑および研磨(研削)液を払拭するスクレイパーとして効果的に機能しうるものとなる。   As shown in FIG. 2, the extending direction of each strip 36 a is inclined at a predetermined angle with respect to the radial direction of the carrier plate 30. When the belt-like portion 36a extends in a direction intersecting the circumferential direction of the carrier plate 30, and the extending direction of the belt-like portion 36a is inclined with respect to the radial direction of the carrier plate 30, the belt-like blade 36 is It can effectively function as a scraper for wiping off polishing (grinding) scraps and polishing (grinding) liquid present on the surface plate.

帯状部36aの延在方向のキャリアプレート30の半径方向に対する傾きは、帯状ブレード36をスクレイパーとしてより効果的に機能しうるものとするために、帯状部36aの延在方向とキャリアプレート30の半径方向とのなす角度のうち、キャリアプレート30の外周側の角度θが、0°〜80°の範囲内、より好ましくは、1°〜45°の範囲内とされていることが好ましい。   The inclination of the extending direction of the band-shaped part 36a with respect to the radial direction of the carrier plate 30 is such that the extending direction of the band-shaped part 36a and the radius of the carrier plate 30 can function more effectively as the scraper blade 36 as a scraper. Of the angles formed with the direction, the angle θ on the outer peripheral side of the carrier plate 30 is preferably in the range of 0 ° to 80 °, more preferably in the range of 1 ° to 45 °.

キャリアプレート30は、後述するように、キャリアプレート30の中心軸37を中心として図2において矢印で示される方向に自転可能とされているものである。帯状部36aの延在方向のキャリアプレート30の半径方向に対する傾きは、キャリアプレート30の自転方向に応じて決定されることが好ましい。
図2に示すキャリアプレート30においては、帯状部36aの中心側端部3aが帯状部36aの外周側端部3bよりも、キャリアプレート30の半径方向に対してキャリアプレート30の自転方向の前方に配置されている。
As will be described later, the carrier plate 30 is capable of rotating in the direction indicated by the arrow in FIG. 2 around the central axis 37 of the carrier plate 30. The inclination of the extending direction of the belt-shaped portion 36 a with respect to the radial direction of the carrier plate 30 is preferably determined according to the rotation direction of the carrier plate 30.
In the carrier plate 30 shown in FIG. 2, the center side end portion 3a of the strip-shaped portion 36a is more forward than the outer peripheral side end portion 3b of the strip-shaped portion 36a in the rotation direction of the carrier plate 30 with respect to the radial direction of the carrier plate 30. Has been placed.

このことにより、駆動手段によってキャリアプレート30を、キャリアプレート30の中心軸37を中心として自転させながら、円盤状基板10の上下両面を研磨(研削)加工した場合に、帯状ブレード36が定盤21a、21b上に存在する研磨(研削)屑および研磨(研削)液をキャリアプレート30の外周に向かって効果的に払拭するものとなる。その結果、図2に示すキャリアプレート30は、例えば、キャリアプレート30の自転方向を図2に示す方向と反対方向にした場合と比較して、研磨(研削)屑および研磨(研削)液の定盤21a、21b上からの排出をより一層促進できるものとなっている。   As a result, when the upper and lower surfaces of the disc-like substrate 10 are polished (ground) while the carrier plate 30 is rotated about the central axis 37 of the carrier plate 30 by the driving means, the belt-like blade 36 is fixed to the surface plate 21a. The polishing (grinding) debris and the polishing (grinding) liquid existing on 21b are effectively wiped toward the outer periphery of the carrier plate 30. As a result, in the carrier plate 30 shown in FIG. 2, for example, as compared with the case where the rotation direction of the carrier plate 30 is opposite to the direction shown in FIG. The discharge from the boards 21a and 21b can be further promoted.

帯状ブレード36の帯状部36aの幅、厚み、長さ、平面形状などは、キャリアプレート30の大きさなどに応じて適宜決定できる。
帯状ブレード36(帯状部36a)の幅は、例えば、2mm〜10mmとすることが好ましい。帯状ブレード36の幅を2mm以上とすることで、帯状ブレード36をスクレイパーとして機能させるために十分な強度を有するものとなる。また、帯状ブレード36の幅を10mm以下とすることで、複数の基板保持孔34が高密度で配置されている場合であっても、隣接する基板保持孔34同士の間に帯状ブレード36を容易に配置できる。
The width, thickness, length, planar shape, and the like of the belt-like portion 36 a of the belt-like blade 36 can be appropriately determined according to the size of the carrier plate 30.
The width of the belt-like blade 36 (band-like portion 36a) is preferably 2 mm to 10 mm, for example. By setting the width of the belt-like blade 36 to 2 mm or more, the belt-like blade 36 has sufficient strength to function as a scraper. Further, by setting the width of the belt-like blade 36 to 10 mm or less, even if the plurality of substrate holding holes 34 are arranged at a high density, the belt-like blade 36 can be easily placed between adjacent substrate holding holes 34. Can be placed.

また、帯状ブレード36(帯状部36a)の厚さ(キャリアプレート30の表面からの高さ)は、被加工物である円盤状基板10の厚さやキャリアプレート30の厚さなどに応じて適宜選択でき、特に限定されないが、0.2mm〜2mmであることが好ましい。帯状ブレード36の厚さを0.2mm以上とすることで、帯状ブレード36がスクレイパーとしてより効果的に機能しうるものとなり、研磨(研削)屑および研磨(研削)液の定盤上からの排出をより一層促進できる。帯状ブレード36の厚さを0.2mm以上とすることで、排出されるべき研磨(研削)液や研磨(研削)加工に使用した砥粒、研磨(研削)屑が、キャリアプレート30の外周部に設けられた歯部35に蓄積しにくいものとなる。また、帯状ブレード36の厚さは、キャリアプレート30への帯状ブレード36の取り付けの容易性から、2mm以下であることが好ましい。   The thickness of the belt-like blade 36 (band-like portion 36a) (height from the surface of the carrier plate 30) is appropriately selected according to the thickness of the disc-like substrate 10 that is the workpiece, the thickness of the carrier plate 30, and the like. Although it can do and it is not specifically limited, It is preferable that it is 0.2 mm-2 mm. By setting the thickness of the belt-like blade 36 to 0.2 mm or more, the belt-like blade 36 can function more effectively as a scraper, and the polishing (grinding) waste and the polishing (grinding) liquid are discharged from the surface plate. Can be further promoted. By setting the thickness of the belt-like blade 36 to 0.2 mm or more, the abrasive (grinding) liquid to be discharged, the abrasive grains used for the polishing (grinding) processing, and the polishing (grinding) debris are removed from the outer periphery of the carrier plate 30. Therefore, it is difficult to accumulate in the tooth portion 35 provided in the. Further, the thickness of the belt-like blade 36 is preferably 2 mm or less from the viewpoint of easy attachment of the belt-like blade 36 to the carrier plate 30.

また、キャリアプレート30の厚さと帯状ブレード36(帯状部36a)の厚さとの合計厚さは、研磨(研削)後の円盤状基板10の厚さ以下とされ、前記合計厚さと研磨(研削)後の円盤状基板10の厚さとの差は、0.2mm〜1mmの範囲内であることが好ましい。上記の厚さの差を0.2mm以上とすることで、円盤状基板10を研磨(研削)加工する際に、帯状ブレード36と定盤21a、21bとが接触して、円盤状基板10の研磨(研削)加工に支障を来すことを防止できる。また、上記の厚さの差を1mm以下とすることで、上記の厚さの差が十分に小さいものとなり、帯状ブレード36がスクレイパーとしてより効果的に機能しうるものとなり、研磨(研削)屑および研磨(研削)液の定盤21a、21b上からの排出をより一層促進できる。   The total thickness of the carrier plate 30 and the band-shaped blade 36 (band-shaped portion 36a) is equal to or less than the thickness of the disk-shaped substrate 10 after polishing (grinding). The difference from the thickness of the subsequent disk-shaped substrate 10 is preferably in the range of 0.2 mm to 1 mm. By setting the difference in thickness to 0.2 mm or more, when the disk-shaped substrate 10 is polished (ground), the band-shaped blade 36 and the surface plates 21a and 21b come into contact with each other, and the disk-shaped substrate 10 It is possible to prevent the polishing (grinding) process from being hindered. In addition, by setting the difference in thickness to 1 mm or less, the difference in thickness is sufficiently small, and the belt-like blade 36 can function more effectively as a scraper. Further, the discharge of the polishing (grinding) liquid from the surface plates 21a and 21b can be further promoted.

図2に示すキャリアプレート30では、帯状ブレード36がキャリアプレート30の上面および下面に設けられているが、帯状ブレード36はキャリアプレート30の少なくとも一方の面に設けられていればよく、上面のみに設けられていてもよいし、下面のみに設けられていてもよい。帯状ブレード36が、上下両面に形成されている場合、研磨(研削)屑および研磨(研削)液の下定盤21aおよび上定盤21b上からの排出が促進され、排出されるべき研磨(研削)屑および研磨(研削)液の残留をより効果的に防止できる。   In the carrier plate 30 shown in FIG. 2, the belt-like blades 36 are provided on the upper and lower surfaces of the carrier plate 30, but the belt-like blades 36 may be provided on at least one surface of the carrier plate 30, and only on the upper surface. It may be provided, or may be provided only on the lower surface. When the belt-like blades 36 are formed on both upper and lower surfaces, the discharge from the lower surface plate 21a and the upper surface plate 21b of the polishing (grinding) waste and the polishing (grinding) liquid is promoted, and the polishing (grinding) to be discharged It is possible to more effectively prevent waste and polishing (grinding) liquid from remaining.

なお、キャリアプレート30が一方の面にのみ設けられている場合、下面のみに設けられている方が、研磨(研削)屑および研磨(研削)液の下定盤21a上からの排出を効果的に促進できるため、好ましい。これは、研磨(研削)加工に用いられた研磨(研削)液および研磨(研削)屑が、重力の影響で下定盤21a側に蓄積しやすいためである。
キャリアプレート30の材料としては、特に限定されないが、例えば、アラミド繊維やガラス繊維を混入することにより強化されたエポキシ樹脂などを使用できる。また、帯状ブレード36は、キャリアプレート30と同時に同様の材料を用いて、キャリアプレート30と一体化されて形成されることが好ましい。
In addition, when the carrier plate 30 is provided only on one surface, the one provided only on the lower surface effectively discharges the polishing (grinding) waste and the polishing (grinding) liquid from the lower surface plate 21a. Since it can promote, it is preferable. This is because the polishing (grinding) liquid and the polishing (grinding) waste used for the polishing (grinding) process easily accumulate on the lower surface plate 21a side due to the influence of gravity.
Although it does not specifically limit as a material of the carrier plate 30, For example, the epoxy resin etc. which were strengthened by mixing an aramid fiber or glass fiber can be used. The belt-like blade 36 is preferably formed integrally with the carrier plate 30 using the same material as the carrier plate 30.

図1および図2に示すように、キャリアプレート30の外周部には、歯部35が設けられている。図1に示すように、下定盤21aのリング状の凹部22に収容されたキャリアプレート30では、歯部35が凹部22の外側の壁面部において歯部42と噛合しているとともに、凹部22の内側の壁面部において太陽歯車44と噛合している。
このことにより、図2に示すキャリアプレート30は、円盤状基板10の両面を研磨(研削)加工する際に、駆動手段によって、キャリアプレート30の中心軸37を中心として自転しつつ、上下定盤21a、21bの中心軸46a,46bを中心として公転する遊星運動するものとされている。また、図1に示すキャリアプレート30の自転方向は、下定盤21aの自転方向と同じ方向とされているとともに、上定盤21bの自転方向と反対方向とされている。
As shown in FIGS. 1 and 2, a tooth portion 35 is provided on the outer peripheral portion of the carrier plate 30. As shown in FIG. 1, in the carrier plate 30 accommodated in the ring-shaped recess 22 of the lower surface plate 21 a, the tooth portion 35 meshes with the tooth portion 42 on the outer wall surface of the recess 22, and the recess 22 The inner wall surface meshes with the sun gear 44.
As a result, the carrier plate 30 shown in FIG. 2 rotates up and down around the central axis 37 of the carrier plate 30 by the driving means when polishing (grinding) both surfaces of the disk-shaped substrate 10. The planetary motion revolves around the central axes 46a and 46b of 21a and 21b. Further, the rotation direction of the carrier plate 30 shown in FIG. 1 is the same as the rotation direction of the lower surface plate 21a, and is the opposite direction to the rotation direction of the upper surface plate 21b.

帯状ブレード36の形状は、キャリアプレート30に設けられた基板保持孔34の個数や密度に応じて適宜決定でき、図2に示す形状に限定されるものではない。例えば、帯状ブレードは、図3〜図5に示す形状であってもよい。
図3〜図5は、本発明のキャリアプレートの他の例を示した概略斜視図である。なお、図3〜図5に示される矢印は、キャリアプレートを、キャリアプレートの中心軸37を中心として自転させた場合の自転方向を示している。
The shape of the belt-like blade 36 can be appropriately determined according to the number and density of the substrate holding holes 34 provided in the carrier plate 30, and is not limited to the shape shown in FIG. For example, the belt-like blade may have the shape shown in FIGS.
3 to 5 are schematic perspective views showing other examples of the carrier plate of the present invention. 3 to 5 indicate the rotation direction when the carrier plate is rotated about the center axis 37 of the carrier plate.

図3に示すキャリアプレート31に備えられた帯状ブレードは、平面視同形でキャリアプレート31の円周方向に等間隔で並べられた3本の帯状部36bからなる。各帯状部36bは、キャリアプレート31の半径方向に延在する直線状のものであり、隣接する基板保持孔34同士の間に配置されている。
本発明においては、図2に示すキャリアプレート30のように、帯状部36aの延在方向がキャリアプレート30の半径方向に対して所定の角度で傾いていてもよいし、図3に示すキャリアプレート31のように、帯状部36aの延在方向がキャリアプレート31の半径方向とされていてもよい。
本発明においては、キャリアプレートの回転に伴う遠心力によって、定盤上の排出されるべき研磨(研削)屑および研磨(研削)液がキャリアプレートの外周側に移動されるため、帯状部の延在方向は、図3に示すようにキャリアプレート31の半径方向(図2におけるキャリアプレート30の外周側の角度θが0°)であってもよい。
The belt-like blade provided in the carrier plate 31 shown in FIG. 3 is composed of three belt-like portions 36b arranged in the circumferential direction of the carrier plate 31 at equal intervals in the same shape in plan view. Each belt-like portion 36 b is a linear member extending in the radial direction of the carrier plate 31, and is disposed between adjacent substrate holding holes 34.
In the present invention, like the carrier plate 30 shown in FIG. 2, the extending direction of the strip 36a may be inclined at a predetermined angle with respect to the radial direction of the carrier plate 30, or the carrier plate shown in FIG. 31, the extending direction of the band-shaped portion 36 a may be the radial direction of the carrier plate 31.
In the present invention, since the polishing (grinding) waste and the polishing (grinding) liquid to be discharged on the surface plate are moved to the outer peripheral side of the carrier plate by the centrifugal force accompanying the rotation of the carrier plate, The present direction may be the radial direction of the carrier plate 31 as shown in FIG. 3 (the angle θ on the outer peripheral side of the carrier plate 30 in FIG. 2 is 0 °).

図4に示すキャリアプレート32に備えられた帯状ブレードは、平面視同形でキャリアプレート32の円周方向に等間隔で並べられた3本の帯状部36cからなる。各帯状部36cは、図2に示す帯状部36aと同様に、平面視でキャリアプレート30の円周方向と交差する方向に延在するものであって、帯状部36cの延在方向がキャリアプレート32の半径方向に対して傾いている直線状のものであり、隣接する基板保持孔34同士の間に配置されている。   The belt-like blade provided on the carrier plate 32 shown in FIG. 4 is composed of three belt-like portions 36c arranged in the circumferential direction of the carrier plate 32 at regular intervals in the same shape in plan view. Each band-like portion 36c extends in a direction intersecting the circumferential direction of the carrier plate 30 in plan view, like the band-like portion 36a shown in FIG. 2, and the extending direction of the band-like portion 36c is the carrier plate. It is a linear thing inclined with respect to the radial direction of 32, and is arrange | positioned between adjacent board | substrate holding holes 34. FIG.

図5に示すキャリアプレート33は、平面視同形で円周方向に等間隔で並べられた3本の帯状部36dからなる。各帯状部36dは、キャリアプレート33の回転方向に凸とされた平面視略C字形の曲線状ものであり、円周方向と交差する方向に延在し、隣接する基板保持孔34同士の間に配置されている。
図5に示すキャリアプレート33においては、帯状部36dの外周側端部3dが帯状部36aの中心側端部3cよりも、キャリアプレート33の半径方向に対してキャリアプレート33の自転方向の前方に配置されている。
The carrier plate 33 shown in FIG. 5 includes three belt-like portions 36d that are the same shape in plan view and are arranged at equal intervals in the circumferential direction. Each band-like portion 36d is a substantially C-shaped curved line in a plan view that is convex in the rotation direction of the carrier plate 33, extends in a direction intersecting the circumferential direction, and between adjacent substrate holding holes 34. Is arranged.
In the carrier plate 33 shown in FIG. 5, the outer peripheral side end 3d of the belt-like portion 36d is more forward of the carrier plate 33 in the rotation direction than the center-side end portion 3c of the belt-like portion 36a with respect to the radial direction of the carrier plate 33. Has been placed.

図5に示すキャリアプレート33では、帯状部36dがキャリアプレート33の回転方向に凸とされた平面視略C字形の曲線状ものであるので、駆動手段によってキャリアプレート33を、キャリアプレート33の中心軸37を中心として自転させながら、円盤状基板10の上下両面を研磨(研削)加工した場合に、定盤21a、21b上に存在する研磨(研削)屑および研磨(研削)液が帯状ブレード36dのC字形状に湾曲された部分に蓄積されることがなく、定盤21a、21b上に存在する研磨(研削)屑および研磨(研削)液をキャリアプレート33の外周に向かって効果的に払拭できる。したがって、図5に示すキャリアプレート33は、例えば、キャリアプレート33の自転方向を図5に示す方向と反対方向にした場合と比較して、研磨(研削)屑および研磨(研削)液の定盤21a、21b上からの排出を促進できる。   In the carrier plate 33 shown in FIG. 5, the belt-like portion 36 d has a substantially C-shaped curved shape in a plan view in which the carrier plate 33 is convex in the rotation direction of the carrier plate 33. When the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 are polished (grinded) while rotating around the shaft 37, polishing (grinding) scraps and polishing (grinding) liquid existing on the surface plates 21a and 21b are removed from the belt-like blade 36d. The polishing (grinding) debris and the polishing (grinding) liquid existing on the surface plates 21a and 21b are effectively wiped toward the outer periphery of the carrier plate 33 without being accumulated in the C-shaped curved portion. it can. Therefore, the carrier plate 33 shown in FIG. 5 has, for example, a surface plate for polishing (grinding) waste and polishing (grinding) liquid as compared with the case where the rotation direction of the carrier plate 33 is opposite to the direction shown in FIG. The discharge from 21a and 21b can be promoted.

研磨液または研削液の供給手段としては、円盤状基板10に研磨液または研削液を供給できるものであれば如何なるものであってもよい。供給手段は、例えば、上定盤21bに設けられ、所定の流量で研磨液または研削液を供給する供給口を有するものとすることができる。
研磨液または研削液は、円盤状基板10の材質や、研磨(研削)の目的などに応じて適宜決定できる。例えば、研磨液としては、研磨剤を含むスラリーを用いることができる。また、研削液としては、クーラントを用いることができる。
As a means for supplying the polishing liquid or the grinding liquid, any means may be used as long as it can supply the polishing liquid or the grinding liquid to the disk-shaped substrate 10. The supply means may be provided on the upper surface plate 21b, for example, and may have a supply port for supplying a polishing liquid or a grinding liquid at a predetermined flow rate.
The polishing liquid or the grinding liquid can be appropriately determined according to the material of the disc-shaped substrate 10 and the purpose of polishing (grinding). For example, as the polishing liquid, a slurry containing an abrasive can be used. Moreover, a coolant can be used as a grinding fluid.

また、駆動手段は、キャリアプレート30と上下一対の定盤21a、21bとを相対的に移動させるものである。図1に示す両面加工装置60では、駆動手段が、定盤21a、21bの中心軸46a,46bを中心として定盤21a、21bをそれぞれ逆方向に自転させるとともに、キャリアプレート30の中心軸37を中心としてキャリアプレート30を自転させることで、キャリアプレート30を遊星運動させるものとされている。   The driving means relatively moves the carrier plate 30 and the pair of upper and lower surface plates 21a and 21b. In the double-sided processing apparatus 60 shown in FIG. 1, the driving means rotates the surface plates 21a and 21b in the opposite directions around the center axes 46a and 46b of the surface plates 21a and 21b, and the center shaft 37 of the carrier plate 30 is rotated. By rotating the carrier plate 30 as the center, the carrier plate 30 is caused to make a planetary motion.

「円盤状基板の製造方法」
次に、本発明の円盤状基板の製造方法として、図2に示す本発明のキャリアプレート30を備える図1に示す本発明の円盤状基板の両面加工装置60を用いて、磁気記録媒体用の複数枚の円盤状基板10の上下両面を連続して研磨または研削する場合を例に挙げて説明する。
"Manufacturing method of disk-shaped substrate"
Next, as a method for manufacturing a disk-shaped substrate of the present invention, the disk-shaped substrate double-side processing apparatus 60 of the present invention shown in FIG. 1 provided with the carrier plate 30 of the present invention shown in FIG. A case where the upper and lower surfaces of the plurality of disk-shaped substrates 10 are continuously polished or ground will be described as an example.

図2に示すキャリアプレート30を備える図1に示す両面加工装置60を用いて、円盤状基板10の両面を研削または研磨する場合、まず、下定盤21aのリング状の凹部22にキャリアプレート30を収容する。このことにより、図1に示すように、キャリアプレート30の歯部35は、凹部22の外側の壁面部において歯部42と噛合され、凹部22の内側の壁面部において太陽歯車44と噛合される。   When grinding or polishing both surfaces of the disk-like substrate 10 using the double-sided processing apparatus 60 shown in FIG. 1 having the carrier plate 30 shown in FIG. 2, first, the carrier plate 30 is placed in the ring-shaped recess 22 of the lower surface plate 21a. Accommodate. As a result, as shown in FIG. 1, the tooth portion 35 of the carrier plate 30 meshes with the tooth portion 42 at the outer wall surface portion of the recess 22 and meshes with the sun gear 44 at the inner wall surface portion of the recess 22. .

次いで、キャリアプレート30に設けられた基板保持孔34に円盤状基板10を載置して、キャリアプレート30に円盤状基板10を保持させる。次いで、円盤状基板10を保持させたキャリアプレート30の収容された下定盤21a上に、上定盤21bを載置する。このことにより、キャリアプレート30に保持された円盤状基板10が、上下一対の定盤21a、21bの間に配置される。   Next, the disk-shaped substrate 10 is placed in the substrate holding hole 34 provided in the carrier plate 30, and the disk-shaped substrate 10 is held on the carrier plate 30. Next, the upper surface plate 21 b is placed on the lower surface plate 21 a in which the carrier plate 30 holding the disk-shaped substrate 10 is accommodated. Thus, the disc-like substrate 10 held on the carrier plate 30 is disposed between the pair of upper and lower surface plates 21a and 21b.

次いで、円盤状基板10の研削面または研磨面に、例えば、上定盤21bに設けられた供給手段の供給口から所定の流量で研磨液または研削液を供給しながら、駆動手段によりキャリアプレート30と定盤21a、21bとを相対的に移動させる。
このことにより、円盤状基板10の上下両面を研磨(研削)するとともに、キャリアプレート30の上下両面に突出して形成された帯状ブレード36により、定盤21a、21bの帯状ブレード36に対向する表面上の研磨屑または研削屑と研磨液または研削液とを移動させる(表面加工工程)。
Next, the carrier plate 30 is driven by the driving means while supplying the polishing liquid or the grinding liquid to the grinding surface or the polishing surface of the disk-shaped substrate 10 at a predetermined flow rate from the supply port of the supply means provided on the upper surface plate 21b, for example. And the surface plates 21a and 21b are relatively moved.
As a result, both the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 are polished (ground), and the surface of the surface of the surface plates 21 a and 21 b facing the belt blades 36 is formed by the belt blades 36 protruding from the upper and lower surfaces of the carrier plate 30. The polishing debris or grinding debris and the polishing liquid or grinding liquid are moved (surface processing step).

本実施形態の表面加工工程においては、駆動手段によって、一対の上下定盤21a、21bの中心軸46a、46bを中心として一対の上下定盤21a、21bをそれぞれ自転させるとともに、キャリアプレート30を、キャリアプレート30の中心軸37を中心として自転させながら一対の上下定盤21a、21bの中心軸46a、46bを中心として公転させて遊星運動させる。具体的には、駆動手段により、キャリアプレート30と下定盤21aとを同じ方向に自転させるとともに、上定盤21bをキャリアプレート30および下定盤21aと反対方向に自転させる。
本実施形態の製造方法によれば、表面加工工程において、駆動手段によってキャリアプレート30が遊星運動されることにより、キャリアプレート30の基板保持孔34に載置された円盤状基板10も遊星運動されることになるため、円盤状基板10を精度よく迅速に研磨または研削できる。
In the surface processing step of this embodiment, the driving means rotates the pair of upper and lower surface plates 21a and 21b around the center axes 46a and 46b of the pair of upper and lower surface plates 21a and 21b, respectively, While rotating around the center axis 37 of the carrier plate 30, the planet plate revolves around the center axes 46a and 46b of the pair of upper and lower surface plates 21a and 21b to cause planetary motion. Specifically, the carrier plate 30 and the lower surface plate 21a are rotated in the same direction by the driving means, and the upper surface plate 21b is rotated in the opposite direction to the carrier plate 30 and the lower surface plate 21a.
According to the manufacturing method of the present embodiment, the disk-like substrate 10 placed in the substrate holding hole 34 of the carrier plate 30 is also planetarily moved when the carrier plate 30 is planetarily moved by the driving means in the surface processing step. Therefore, the disk-shaped substrate 10 can be polished or ground accurately and quickly.

本実施形態の製造方法では、キャリアプレート30として、上下両面に帯状ブレード36が備えられているものを用いているので、表面加工工程において、円盤状基板10の上下両面が研磨(研削)されるとともに、帯状ブレード36のスクレイパーとしての機能により、上下定盤21a、21bの帯状ブレード36と対向する表面上における排出されるべき研磨(研削)屑や研磨(研削)加工に使用した砥粒、研磨(研削)液が移動される。   In the manufacturing method of the present embodiment, since the carrier plate 30 is provided with the belt-like blades 36 on the upper and lower surfaces, the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 are polished (ground) in the surface processing step. Along with the scraper function of the belt-like blade 36, polishing (grinding) scraps to be discharged on the surface of the upper and lower surface plates 21a, 21b facing the belt-like blade 36, abrasive grains used for grinding (grinding) processing, and polishing (Grinding) fluid is moved.

したがって、本実施形態の表面加工工程においては、研磨(研削)加工に用いられた後の排出されるべき研磨(研削)液や研磨(研削)加工に使用した砥粒、研磨(研削)屑は、キャリアプレート30の自転および公転に伴って得られる帯状ブレード36のスクレイパーとしての掃き出し作用と、定盤21a、21bの自転による遠心力と、重力とによって、主に下定盤21aの外周部に安定して排出される。   Therefore, in the surface processing step of the present embodiment, the polishing (grinding) liquid to be discharged after being used for polishing (grinding) processing, the abrasive grains used for polishing (grinding) processing, and polishing (grinding) scrap are The belt plate 36 obtained by the rotation and revolution of the carrier plate 30 as a scraper, the centrifugal force generated by the rotation of the surface plates 21a and 21b, and the gravity, are mainly stabilized on the outer periphery of the lower surface plate 21a. Then discharged.

これに対し、例えば、帯状ブレードが設けられていないキャリアプレートを用いて、本実施形態と同様にして表面加工工程を連続して行うと、以下に示すように、排出されるべき研磨(研削)屑および研磨(研削)液が円盤状基板10の研磨(研削)面と下定盤21aとの間に残留するようになる。
すなわち、帯状ブレードが設けられていないキャリアプレートを用いた場合、表面加工工程におけるキャリアプレートの自転および公転に伴う研磨(研削)液の掃き出し作用は、キャリアプレートの外周部に設けられた歯部(図2に示すキャリアプレート30おける符号35に相当する。)によって得られる。
On the other hand, for example, when a surface processing step is continuously performed in the same manner as in this embodiment using a carrier plate not provided with a belt-like blade, as shown below, polishing (grinding) to be discharged Debris and polishing (grinding) liquid remain between the polishing (grinding) surface of the disk-shaped substrate 10 and the lower surface plate 21a.
That is, when a carrier plate not provided with a belt-like blade is used, the sweeping action of the polishing (grinding) liquid accompanying the rotation and revolution of the carrier plate in the surface processing step is performed by a tooth portion provided on the outer periphery of the carrier plate ( It corresponds to reference numeral 35 in the carrier plate 30 shown in FIG.

キャリアプレートの歯部は、複雑な凹凸形状からなるものであるので、表面加工工程を連続して行うと、使用済みの排出されるべき研磨(研削)液や、研磨(研削)屑、研磨(研削)加工に使用した砥粒が、徐々に歯部に蓄積される。歯部に蓄積された研磨(研削)液や研磨(研削)屑、砥粒は、下定盤21aの外周部への研磨(研削)液や研磨(研削)屑、砥粒の排出を阻害する。このため、研磨(研削)加工を連続して行うと、徐々にキャリアプレートの掃き出し作用が低下して、排出されるべき研磨(研削)液や、研磨(研削)屑、研磨(研削)加工に使用した砥粒が円盤状基板10の研磨(研削)面と下定盤21aとの間に残留するようになる。残留した研磨(研削)液や、研磨(研削)屑、研磨(研削)加工に使用した砥粒は、研磨(研削)加工速度を変化させる原因になるとともに、下定盤21aの表面を摩耗させる。このため、帯状ブレードが設けられていないキャリアプレートを用いて、表面加工工程を連続して行うと、円盤状基板10の上面と下面における研磨(研削)加工速度の差が生じやすく、研磨(研削)加工後の円盤状基板の上面と下面との研磨(研削)量の差が大きくなりやすかった。   Since the teeth of the carrier plate have a complicated uneven shape, if the surface processing step is continuously performed, the used polishing (grinding) liquid to be discharged, polishing (grinding) waste, polishing ( Grinding) The abrasive grains used for processing are gradually accumulated in the teeth. The polishing (grinding) liquid, polishing (grinding) waste, and abrasive grains accumulated in the tooth portion inhibit the discharge of the polishing (grinding) liquid, polishing (grinding) waste, and abrasive grains to the outer peripheral portion of the lower surface plate 21a. For this reason, when polishing (grinding) processing is performed continuously, the sweeping action of the carrier plate gradually decreases, and the polishing (grinding) liquid to be discharged, polishing (grinding) waste, and polishing (grinding) processing The used abrasive grains remain between the polishing (grinding) surface of the disk-shaped substrate 10 and the lower surface plate 21a. The remaining polishing (grinding) liquid, polishing (grinding) waste, and abrasive grains used for the polishing (grinding) process cause a change in the polishing (grinding) processing speed and wear the surface of the lower surface plate 21a. For this reason, if the surface processing step is continuously performed using a carrier plate not provided with a belt-like blade, a difference in polishing (grinding) processing speed between the upper surface and the lower surface of the disk-shaped substrate 10 is likely to occur, and polishing (grinding) is performed. ) The difference in the amount of polishing (grinding) between the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate after processing was likely to be large.

これに対し、本実施形態の製造方法では、キャリアプレート30の自転および公転に伴って得られる帯状ブレード36のスクレイパーとしての掃き出し作用によって、表面加工工程において、上下定盤21a、21bの帯状ブレード36と対向する表面上からの研磨(研削)液や研磨(研削)加工に使用した砥粒、研磨(研削)屑の排出が促進される。   On the other hand, in the manufacturing method of the present embodiment, the strip blades 36 of the upper and lower surface plates 21a and 21b are used in the surface processing step by the sweeping action as a scraper of the strip blades 36 obtained as the carrier plate 30 rotates and revolves. The discharge of the abrasive (grinding) liquid, the abrasive grains used for the polishing (grinding) processing, and the polishing (grinding) waste from the surface opposite to the surface is promoted.

また、帯状ブレード36が、キャリアプレート30の上下両面に突出して形成されているので、キャリアプレート30の歯部35が上下定盤21a、21bと非接触状態となり、キャリアプレート30を自転および公転させても、排出されるべき研磨(研削)液や研磨(研削)加工に使用した砥粒、研磨(研削)屑が、キャリアプレート30の外周部に設けられた歯部35に蓄積しにくいものとなり、歯部35に蓄積された研磨(研削)液や研磨(研削)加工に使用した砥粒、研磨(研削)屑によって、下定盤21aの外周部への研磨(研削)液や研磨(研削)加工に使用した砥粒、研磨(研削)屑の排出が阻害されることも防止できる。   Further, since the belt-like blades 36 are formed so as to protrude on both the upper and lower surfaces of the carrier plate 30, the tooth portions 35 of the carrier plate 30 are brought into a non-contact state with the upper and lower surface plates 21a and 21b, and the carrier plate 30 rotates and revolves. However, the abrasive (grinding) liquid to be discharged, the abrasive grains used for the polishing (grinding) processing, and the polishing (grinding) scraps are difficult to accumulate in the tooth portion 35 provided on the outer peripheral portion of the carrier plate 30. Polishing (grinding) liquid and polishing (grinding) on the outer peripheral portion of the lower surface plate 21a by the polishing (grinding) liquid accumulated in the tooth portion 35, abrasive grains used for polishing (grinding) processing, and polishing (grinding) scrap It is also possible to prevent the discharge of abrasive grains and polishing (grinding) debris used in the processing.

したがって、本実施形態の製造方法によれば、複数枚の円盤状基板10の両面を連続して研磨(研削)加工した場合であっても、円盤状基板10の上面と下面とにおける研磨(研削)加工速度の変化が抑制される。よって、本実施形態の製造方法によれば、品質のばらつきの小さい複数枚の円盤状基板10を連続して製造でき、優れた生産性が得られる。   Therefore, according to the manufacturing method of the present embodiment, polishing (grinding) on the upper surface and the lower surface of the disk-shaped substrate 10 even when both surfaces of the plurality of disk-shaped substrates 10 are continuously polished (ground). ) Changes in machining speed are suppressed. Therefore, according to the manufacturing method of the present embodiment, a plurality of disk-shaped substrates 10 with small variations in quality can be manufactured continuously, and excellent productivity can be obtained.

次に、本実施形態のキャリアプレート30を備える両面加工装置60を両面研磨装置として用い、アルミニウム合金基板の表面にNiPめっき被膜の形成された円盤状基板10の上下両面を連続して研磨(ポリッシング)する工程を備える円盤状基板の製造方法について、詳細に説明する。
円盤状基板10の上下両面を研磨する工程では、上下一対の定盤21a、21bとして研磨定盤を用い、表面加工工程において研磨液として研磨剤を含むスラリーを供給しながら、円盤状基板10の上下両面を研磨することが好ましい。
Next, the double-sided processing apparatus 60 including the carrier plate 30 of this embodiment is used as a double-side polishing apparatus, and the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 on which the NiP plating film is formed on the surface of the aluminum alloy substrate are continuously polished (polishing). ) Will be described in detail.
In the step of polishing both the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10, a polishing surface plate is used as the pair of upper and lower surface plates 21 a and 21 b, and a slurry containing an abrasive is supplied as a polishing liquid in the surface processing step. It is preferable to polish the upper and lower surfaces.

研磨定盤としては、研磨面である定盤21a、21bの下定盤21aおよび上定盤21bの対向面に、ウレタンにより形成された硬質研磨布またはスエード状の軟質研磨布からなる研磨パッドが設けられているものを用いることが好ましい。
円盤状基板10の上下両面に供給する研磨剤を含むスラリーとしては、例えば、水、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール等の公知の溶媒に、研磨剤としてアルミナやコロイダルシリカからなる砥粒を分散してスラリー化したものを用いることができる。研磨剤を含むスラリーには、必要に応じて、酸化剤、界面活性剤、分散剤、防錆剤等の公知の添加剤を添加することができる。
As the polishing surface plate, a polishing pad made of a hard polishing cloth or a suede-like soft polishing cloth made of urethane is provided on the opposing surfaces of the lower surface plate 21a and the upper surface plate 21b of the surface plates 21a and 21b, which are polishing surfaces. It is preferable to use what is said.
As a slurry containing an abrasive to be supplied to the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10, for example, a known solvent such as water, methanol, ethanol, propanol, isopropanol, or butanol, and abrasive grains made of alumina or colloidal silica as an abrasive are used. A dispersion and slurry can be used. Known additives such as an oxidizing agent, a surfactant, a dispersant, and a rust preventive agent can be added to the slurry containing the abrasive as necessary.

研磨剤を含むスラリーに含まれる砥粒の濃度(スラリー濃度)は、1〜50質量%とすることが好ましく、より好ましくは3〜40質量%、更に好ましくは5〜10質量%とする。スラリー濃度が1質量%を下回ると、十分な研磨性能を発揮させることが難しくなる一方、スラリー濃度が50質量%を越えると、研磨剤を含むスラリーの粘度が上昇して流動性が悪くなり、研磨後の円盤状基板10の表面が荒れる虞があるし、砥粒の過剰な使用により不経済となる。   The concentration of the abrasive grains contained in the slurry containing the abrasive (slurry concentration) is preferably 1 to 50% by mass, more preferably 3 to 40% by mass, and even more preferably 5 to 10% by mass. If the slurry concentration is less than 1% by mass, it will be difficult to exert sufficient polishing performance, while if the slurry concentration exceeds 50% by mass, the viscosity of the slurry containing the abrasive will increase and the fluidity will deteriorate. The surface of the disk-shaped substrate 10 after polishing may be roughened, and it becomes uneconomical due to excessive use of abrasive grains.

本実施形態においては、円盤状基板10を研磨する工程として、それぞれ別個の研磨定盤を用いる2段階の研磨工程を行うことが好ましい。なお、別個の研磨定盤とは、2段階の研磨工程において共通する研磨定盤を用いないことを意味し、2段階の研磨工程において使用する研磨定盤は同じものであっても異なるものであってもよい。
円盤状基板10を研磨する工程をそれぞれ別個の研磨定盤を用いる2段階以上の多段階の研磨工程とすることで、円盤状基板10を研磨する工程が1段階の研磨工程のみである場合と比較して、生産性を向上させることができるとともに、研磨した後に、より一層傷が少なく平滑な表面を有する高品質な円盤状基板10を得ることができる。
In the present embodiment, it is preferable to perform a two-step polishing process using a separate polishing surface plate as a process of polishing the disk-shaped substrate 10. The separate polishing surface plate means that a common polishing surface plate is not used in the two-step polishing process, and the polishing surface plate used in the two-step polishing step is the same or different. There may be.
The process of polishing the disk-shaped substrate 10 is a multi-stage polishing process of two or more stages using separate polishing surface plates, so that the process of polishing the disk-shaped substrate 10 is only a single-stage polishing process. In comparison, productivity can be improved, and after polishing, a high-quality disk-shaped substrate 10 having a smooth surface with fewer scratches can be obtained.

本実施形態においては、2段階の研磨工程として、粗研磨工程と仕上げ研磨工程とを行う場合を例に挙げて説明する。
(粗研磨工程)
粗研磨工程は、本実施形態の両面加工装置60を両面研磨装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われる。
具体的には、粗研磨工程は、第1の研磨定盤を用い、表面加工工程において研磨剤としてアルミナ砥粒を含むスラリーを供給しながら、円盤状基板10の上下両面を研磨する工程とすることが好ましい。
粗研磨工程の後、研磨された円盤状基板10を洗浄する。その後、仕上げ研磨工程を行う。
In this embodiment, a case where a rough polishing process and a final polishing process are performed as a two-stage polishing process will be described as an example.
(Rough polishing process)
The rough polishing step is performed using the disk-shaped substrate manufacturing method of this embodiment using the double-sided processing device 60 of this embodiment as a double-side polishing device.
Specifically, the rough polishing step is a step of polishing the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 while supplying a slurry containing alumina abrasive grains as an abrasive in the surface processing step using the first polishing surface plate. It is preferable.
After the rough polishing step, the polished disc-like substrate 10 is washed. Thereafter, a finish polishing step is performed.

(仕上げ研磨工程)
仕上げ研磨工程は、本実施形態の両面加工装置60を両面研磨装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われる。
具体的には、仕上げ研磨工程は、第2の研磨定盤を用い、表面加工工程において研磨剤としてコロイダルシリカ砥粒を含むスラリーを供給しながら、円盤状基板10の上下両面を研磨する工程であることが好ましい。
(Finishing polishing process)
The final polishing step is performed using the disk-shaped substrate manufacturing method of this embodiment using the double-sided processing apparatus 60 of this embodiment as a double-side polishing apparatus.
Specifically, the final polishing step is a step of polishing the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 while using the second polishing surface plate and supplying the slurry containing colloidal silica abrasive grains as an abrasive in the surface processing step. Preferably there is.

仕上げ研磨工程においては、研磨剤として使用するコロイダルシリカ砥粒の体積換算の50%累積平均径(D50)を5〜180nmとすることが好ましい。このような研磨剤を用いることにより、仕上げ研磨工程において円盤状基板10表面の傷を効果的に除去することができ、より平滑性の高い円盤状基板10が得られる。   In the finish polishing step, the 50% cumulative average diameter (D50) in terms of volume of the colloidal silica abrasive used as the abrasive is preferably 5 to 180 nm. By using such an abrasive, scratches on the surface of the disk-shaped substrate 10 can be effectively removed in the final polishing step, and the disk-shaped substrate 10 with higher smoothness can be obtained.

上記の粗研磨工程および仕上げ研磨工程は、本実施形態のキャリアプレート30を備える両面加工装置60を両面研磨装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われるため、帯状ブレード36による定盤21a、21b上に存在する研磨屑および砥粒を含むスラリーを払拭するスクレイパーとしての機能により、円盤状基板10の上面と下面とにおける研磨加工速度の変化が抑制される。よって、本実施形態の製造方法によれば、アルミニウム合金基板の表面にNiPめっき被膜の形成されたものからなり、品質のばらつきの小さい複数枚の円盤状基板10を連続して製造でき、優れた生産性が得られる。   The rough polishing step and the finish polishing step are performed using the disk-like substrate manufacturing method of the present embodiment using the double-sided processing apparatus 60 including the carrier plate 30 of the present embodiment as the double-side polishing apparatus. Due to the function as a scraper for wiping off slurry containing polishing scraps and abrasive grains present on the surface plates 21a and 21b, changes in the polishing speed on the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 are suppressed. Therefore, according to the manufacturing method of the present embodiment, the surface of the aluminum alloy substrate is formed with the NiP plating film, and a plurality of disk-shaped substrates 10 with small variations in quality can be continuously manufactured, which is excellent. Productivity is obtained.

次に、本実施形態のキャリアプレート30を備える両面加工装置60を両面研削装置として用い、ガラス基板からなる円盤状基板10の上下両面を連続して研削する工程と、本実施形態の両面加工装置60を両面研磨装置として用い、ガラス基板からなる円盤状基板10の上下両面を連続して研磨する工程とを備える円盤状基板の製造方法について説明する。   Next, using the double-sided processing device 60 including the carrier plate 30 of the present embodiment as a double-sided grinding device, a process of continuously grinding the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 made of a glass substrate, and the double-sided processing device of the present embodiment A method of manufacturing a disk-shaped substrate including a step of continuously polishing upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 made of a glass substrate using 60 as a double-side polishing apparatus will be described.

円盤状基板10の上下両面を研削する工程では、上下一対の定盤21a、21bとして研削定盤を用い、表面加工工程において研削液としてクーラントをを供給しながら、円盤状基板10の上下両面を研削することが好ましい。
本実施形態においては、ガラス基板からなる円盤状基板10に対して、1次研削工程、内外周研削工程、内周研磨工程、2次研削工程、外周研磨工程、1次研磨工程、2次研磨工程、最終洗浄・検査工程をこの順に行う。
In the process of grinding both the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10, a grinding surface plate is used as the pair of upper and lower surface plates 21 a, 21 b, and coolant is supplied as a grinding liquid in the surface processing step, It is preferable to grind.
In the present embodiment, a primary grinding step, an inner and outer peripheral grinding step, an inner peripheral polishing step, a secondary grinding step, an outer peripheral polishing step, a primary polishing step, and a secondary polishing are performed on the disk-shaped substrate 10 made of a glass substrate. The process and the final cleaning / inspection process are performed in this order.

(1次研削工程)
1次研削工程は、本実施形態の両面加工装置60を両面研削装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われる。
1次研削工程は、ガラス基板からなる円盤状基板10の表面を平滑に研削する工程である。1次研削工程では、研削定盤として、アルミナやダイヤモンドからなる砥粒を用いた研削砥石を用い、クーラントとして、水を用いることが好ましい。
(Primary grinding process)
The primary grinding step is performed by using the method for manufacturing a disk-shaped substrate of the present embodiment using the double-sided processing device 60 of the present embodiment as a double-sided grinding device.
The primary grinding process is a process of smoothly grinding the surface of the disk-shaped substrate 10 made of a glass substrate. In the primary grinding step, it is preferable to use a grinding wheel using abrasive grains made of alumina or diamond as the grinding surface plate and water as the coolant.

(内外周研削工程)
内外周研削工は、ガラス基板からなる円盤状基板10の内外周端面を荒削りする研削を行う工程である。
内外周研削工では、内周砥石と外周砥石とを備え、互いの中心孔を一致させた状態でスペーサを挟んで複数枚の円盤状基板10を積層した積層体を軸回りに回転させて、円盤状基板10の内周端面を研削すると同時に外周端面を研削する装置を用いる。内周砥石および外周砥石としては、例えば、ダイヤモンド砥粒が結合剤で固定されてなるものを用いることができる。
(Inner and outer grinding process)
The inner and outer peripheral grinding process is a process of performing rough grinding on the inner and outer peripheral end faces of the disk-shaped substrate 10 made of a glass substrate.
In the inner and outer peripheral grinding machine, an inner peripheral grindstone and an outer peripheral grindstone are provided, and a laminated body in which a plurality of disk-shaped substrates 10 are laminated with a spacer sandwiched in a state where the center holes are aligned with each other, is rotated around an axis, A device that grinds the inner peripheral end face of the disk-shaped substrate 10 and simultaneously grinds the outer peripheral end face is used. As the inner peripheral grindstone and the outer peripheral grindstone, for example, diamond abrasive grains fixed with a binder can be used.

(内周研磨工程)
内周研磨工程は、内外周研削工程後の円盤状基板10の内周端面を平滑にする研磨を行う工程である。内周研磨工程としては、例えば、円盤状基板10の開口部に研磨液を流し込みながら、ブラシを開口部内で高速回転させる工程が挙げられる。研磨液としては、例えば、酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることが好ましい。
(Inner grinding process)
The inner peripheral polishing step is a step of performing polishing to smooth the inner peripheral end surface of the disc-like substrate 10 after the inner and outer peripheral grinding steps. Examples of the inner peripheral polishing step include a step of rotating the brush at a high speed in the opening while pouring a polishing liquid into the opening of the disk-shaped substrate 10. As the polishing liquid, for example, it is preferable to use a slurry obtained by dispersing cerium oxide abrasive grains in water.

(2次研削工程)
2次研削工程は、本実施形態の両面加工装置60を両面研削装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われる。
2次研削工程は、1次研削工程後の円盤状基板10の表面をさらに平滑に研削する工程である。2次研削工程では、1次研削工程と同様に研削定盤として、アルミナやダイヤモンドからなる砥粒を用いた研削砥石を用いることが好ましく、砥粒の粒度が1次研削工程で用いたものよりも細かいものであることが好ましい。また、2次研削工程では、クーラントとしては、水を用いることが好ましい。
(Secondary grinding process)
The secondary grinding step is performed by using the method for manufacturing a disk-shaped substrate according to the present embodiment using the double-sided processing apparatus 60 according to the present embodiment as a double-sided grinding apparatus.
The secondary grinding step is a step of further smoothly grinding the surface of the disc-like substrate 10 after the primary grinding step. In the secondary grinding process, it is preferable to use a grinding wheel using abrasive grains made of alumina or diamond as the grinding surface plate as in the primary grinding process, and the grain size of the abrasive grains is higher than that used in the primary grinding process. Also, it is preferable to be fine. In the secondary grinding step, it is preferable to use water as the coolant.

(外周研磨工程)
外周研磨工程は、内外周研削工程後の円盤状基板10の外周端面を平滑にする研磨を行う工程である。外周研磨工程としては、例えば、円盤状基板10の外周部に研磨液を流しながら、回転させたブラシを接触させる工程が挙げられる。研磨液としては、例えば、酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることができる。
(Outer periphery polishing process)
The outer peripheral polishing step is a step of performing polishing to smooth the outer peripheral end surface of the disc-shaped substrate 10 after the inner and outer peripheral grinding steps. Examples of the outer peripheral polishing step include a step of bringing a rotated brush into contact with the outer peripheral portion of the disk-shaped substrate 10 while flowing a polishing liquid. As the polishing liquid, for example, a slurry obtained by dispersing cerium oxide abrasive grains in water can be used.

(1次研磨工程)
1次研磨工程は、本実施形態の両面加工装置60を両面研磨装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われる。
1次研磨工程は、2次研削工程後の円盤状基板10の表面をさらに平滑に研磨する工程である。1次研磨工程では、研磨定盤として、研磨面である定盤21a、21bの下定盤21aおよび上定盤21bの対向面に、ウレタンにより形成された硬質研磨布からなる研磨パッドが設けられているものを用いることが好ましい。円盤状基板10の上下両面に供給する研磨剤を含むスラリーとしては、研磨剤である酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることが好ましい。
(Primary polishing process)
The primary polishing step is performed using the disk-shaped substrate manufacturing method of this embodiment using the double-sided processing apparatus 60 of this embodiment as a double-side polishing apparatus.
The primary polishing step is a step of further smoothly polishing the surface of the disk-shaped substrate 10 after the secondary grinding step. In the primary polishing step, a polishing pad made of a hard polishing cloth formed of urethane is provided on the opposing surfaces of the lower surface plate 21a and the upper surface plate 21b as the polishing surface plate as the polishing surface plate. It is preferable to use what is. As the slurry containing the abrasive supplied to the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10, it is preferable to use a slurry obtained by dispersing cerium oxide abrasive grains, which are an abrasive, in water.

(2次研磨工程)
2次研磨工程は、本実施形態の両面加工装置60を両面研磨装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われる。
2次研磨工程は、1次研磨工程後の円盤状基板10の表面を、最終的な仕上げとしてさらに平滑に研磨する工程である。2次研磨工程では、研磨定盤として、研磨面である定盤21a、21bの下定盤21aおよび上定盤21bの対向面に、スエード状の軟質研磨布からなる研磨パッドが設けられているものを用いることが好ましい。円盤状基板10の上下両面に供給する研磨剤を含むスラリーとしては、研磨剤として酸化セリウム砥粒またはコロイダルシリカを、水などの溶媒に分散してスラリー化したものを用いることが好ましい。
(Secondary polishing process)
The secondary polishing step is performed using the disk-shaped substrate manufacturing method of this embodiment using the double-sided processing apparatus 60 of this embodiment as a double-side polishing apparatus.
The secondary polishing step is a step of further smoothly polishing the surface of the disk-shaped substrate 10 after the primary polishing step as a final finish. In the secondary polishing step, as the polishing surface plate, a polishing pad made of a suede-like soft polishing cloth is provided on the opposing surface of the lower surface plate 21a and the upper surface plate 21b as the polishing surfaces 21a and 21b. Is preferably used. As the slurry containing the abrasive supplied to the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10, it is preferable to use a slurry obtained by dispersing cerium oxide abrasive grains or colloidal silica as an abrasive in a solvent such as water.

(最終洗浄・検査工程)
最終洗浄を行うことにより、上述した一連の工程において使用した研磨剤等を、円盤状基板10の表面から除去する。最終洗浄方法としては、例えば、超音波を併用する洗剤(薬品)による化学的洗浄法などを用いることができる。
また、検査工程としては、例えばレーザを用いた光学式検査器により、円盤状基板10の表面の傷やひずみの有無等を検査する方法を行うことができる。
(Final cleaning / inspection process)
By performing the final cleaning, the abrasive used in the above-described series of steps is removed from the surface of the disk-shaped substrate 10. As the final cleaning method, for example, a chemical cleaning method using a detergent (chemical) that uses ultrasonic waves can be used.
Moreover, as an inspection process, the method of inspecting the surface of the disk-shaped board | substrate 10 for the presence or absence of a damage | wound, a distortion | strain, etc. can be performed, for example with the optical inspection device using a laser.

上記の1次研削工程および2次研削工程は、本実施形態のキャリアプレート30を備える両面加工装置60を両面研削装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われるため、帯状ブレード36による定盤21a、21b上に存在する研削屑および加工に使用した砥粒、クーラントを払拭するスクレイパーとしての機能により、円盤状基板10の上面と下面とにおける研磨加工速度の変化が抑制される。   The primary grinding step and the secondary grinding step are performed using the disk-like substrate manufacturing method of the present embodiment using the double-sided processing device 60 including the carrier plate 30 of the present embodiment as a double-side grinding device. By the function as a scraper for wiping away grinding scraps, abrasive grains used for processing, and coolant existing on the surface plates 21a and 21b by the blade 36, changes in the polishing processing speed on the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10 are suppressed. The

また、上記の1次研磨工程および2次研磨工程は、本実施形態のキャリアプレート30を備える両面加工装置60を両面研磨装置として用いる本実施形態の円盤状基板の製造方法を用いて行われるため、帯状ブレード36による定盤21a、21b上に存在する研磨屑および砥粒を含むスラリーを払拭するスクレイパーとしての機能により、円盤状基板10の上面と下面とにおける研磨加工速度の変化が抑制される。
よって、本実施形態の製造方法によれば、ガラス基板からなり、品質のばらつきの小さい複数枚の円盤状基板10を連続して製造でき、優れた生産性が得られる。
In addition, the primary polishing step and the secondary polishing step described above are performed using the disk-shaped substrate manufacturing method of this embodiment using the double-sided processing device 60 including the carrier plate 30 of this embodiment as a double-side polishing device. By the function as a scraper for wiping off slurry containing polishing scraps and abrasive grains existing on the surface plates 21a and 21b by the belt-like blade 36, changes in the polishing processing speed on the upper and lower surfaces of the disk-like substrate 10 are suppressed. .
Therefore, according to the manufacturing method of the present embodiment, a plurality of disk-shaped substrates 10 made of a glass substrate and having small variations in quality can be continuously manufactured, and excellent productivity can be obtained.

以下、実施例により本発明の効果をより明らかなものとする。なお、本発明は、以下の実施例に限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することができる。   Hereinafter, the effects of the present invention will be made clearer by examples. In addition, this invention is not limited to a following example, In the range which does not change the summary, it can change suitably and can implement.

(実施例)
図2に示すキャリアプレート30を備える両面加工装置を用いて、以下に示す方法により、磁気記録媒体用の複数枚の円盤状基板10の上下両面を連続して研磨した。
円盤状基板10として、外径65mm、内径20mm、厚さ1.3mmの円盤状のアルミニウム合金(材料記号A5086に相当)からなる基板の内外周端面およびデータ面を旋削加工した後に、基板の全表面に無電解Ni−Pめっき処理を施して、厚さ約10μmのNiPめっき被膜を形成したものを用いた。
(Example)
Using the double-sided processing apparatus provided with the carrier plate 30 shown in FIG. 2, the upper and lower surfaces of a plurality of disk-shaped substrates 10 for magnetic recording media were continuously polished by the method shown below.
After turning the inner and outer peripheral end faces and the data face of a disc-shaped aluminum alloy (corresponding to the material symbol A5086) of a disc-like aluminum alloy (corresponding to material symbol A5086) as the disc-like substrate 10, An electroless Ni—P plating treatment was applied to the surface to form a NiP plating film having a thickness of about 10 μm.

円盤状基板10の上下両面を研磨する工程として、以下に示すように、粗研磨工程と仕上げ研磨工程とを行った。
粗研磨工程および仕上げ研磨工程においては、キャリアプレート30として、幅5mm、高さ0.3mmの4本の帯状部36aからなる帯状ブレード36を有する図2に示すものを用いた。なお、帯状部36aの延在方向とキャリアプレート30の半径方向とのなす角度のうち、キャリアプレート30の外周側の角度θを2°とした。
As steps for polishing the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate 10, a rough polishing step and a final polishing step were performed as described below.
In the rough polishing step and the finish polishing step, the carrier plate 30 shown in FIG. 2 having a belt-like blade 36 composed of four belt-like portions 36a having a width of 5 mm and a height of 0.3 mm was used. Of the angles formed by the extending direction of the strip 36a and the radial direction of the carrier plate 30, the angle θ on the outer peripheral side of the carrier plate 30 was 2 °.

粗研磨工程および仕上げ研磨工程においては、それぞれ両面加工装置として3ウエイタイプ両面研磨機(システム精工社製11B型)を用いた。
この両面加工装置は、図2に示すキャリアプレート30と、研磨面である定盤の下定盤および上定盤の対向面にスエード状の軟質研磨布からなる研磨パッドが設けられている研磨定盤と、上定盤に設けられた供給口から所定の流量で研磨液を供給する供給手段と、一対の上下定盤をそれぞれ自転させるとともに、キャリアプレート30を、キャリアプレート30の中心軸37を中心として自転させながら一対の上下定盤の中心軸を中心として公転させて遊星運動させる駆動手段とを備えるものである。
In the rough polishing step and the finish polishing step, a three-way type double-side polishing machine (type 11B manufactured by System Seiko Co., Ltd.) was used as a double-sided processing device.
This double-sided processing apparatus includes a carrier plate 30 shown in FIG. 2 and a polishing surface plate in which a polishing pad made of a suede-like soft polishing cloth is provided on the opposite surface of the lower surface plate and the upper surface plate which are polishing surfaces. And a supply means for supplying the polishing liquid at a predetermined flow rate from a supply port provided in the upper surface plate and a pair of upper and lower surface plates, respectively, and the carrier plate 30 around the central axis 37 of the carrier plate 30 Driving means for revolving around the central axis of the pair of upper and lower surface plates and causing planetary movement while rotating.

粗研磨工程および仕上げ研磨工程では、まず、キャリアプレート30に設けられた基板保持孔34に円盤状基板10を載置して、キャリアプレート30に30枚の円盤状基板10を保持させた。次いで、円盤状基板10を保持させたキャリアプレート30の収容された下定盤上に、上定盤を載置して、キャリアプレート30に保持された円盤状基板10を、上下一対の定盤の間に配置した。下定盤と上定盤との間の加工圧力は110g/cmとした。 In the rough polishing process and the finish polishing process, first, the disk-shaped substrate 10 was placed in the substrate holding hole 34 provided in the carrier plate 30, and the 30 disk-shaped substrates 10 were held on the carrier plate 30. Next, the upper platen is placed on the lower platen in which the carrier plate 30 holding the disk-like substrate 10 is accommodated, and the disk-like substrate 10 held on the carrier plate 30 is placed between a pair of upper and lower platens. Arranged between. The processing pressure between the lower surface plate and the upper surface plate was 110 g / cm 2 .

その後、粗研磨工程および仕上げ研磨工程では、円盤状基板10の研磨面に、供給手段の供給口から研磨液を供給しながら、駆動手段によりキャリアプレート30と定盤とを相対的に移動させた(表面加工工程)。
粗研磨工程および仕上げ研磨工程の表面加工工程においては、駆動手段によって、キャリアプレート30を下定盤と同じ方向に自転させ、上定盤をキャリアプレート30および下定盤と反対方向に自転させた。下定盤および上定盤の回転数は20rpmとした。
Thereafter, in the rough polishing step and the final polishing step, the carrier plate 30 and the surface plate are relatively moved by the driving means while supplying the polishing liquid from the supply port of the supply means to the polishing surface of the disk-shaped substrate 10. (Surface processing step).
In the surface processing steps of the rough polishing step and the finish polishing step, the carrier plate 30 was rotated in the same direction as the lower surface plate by the driving means, and the upper surface plate was rotated in the opposite direction to the carrier plate 30 and the lower surface plate. The rotation speed of the lower surface plate and the upper surface plate was 20 rpm.

なお、粗研磨工程においては、研磨液として、キレート剤と酸化剤とを添加してpH1.5の酸性領域に調整した水溶液からなる溶媒に、研磨剤としてD50の値が0.3μmのアルミナ砥粒を5質量%の濃度で分散してスラリー化したスラリーを用いた。また、粗研磨工程は、研磨液を円盤状基板10の研磨面に流量500ml/分で供給しながら行った。
粗研磨工程においては、研磨液を供給しながら6分間キャリアプレート30と定盤とを相対的に移動させ、その後、スラリーに代えて水を供給しながら2分間キャリアプレート30と定盤とを相対的に移動させた。
粗研磨工程では、円盤状基板10の片面当たりの研磨量を約1.5μmとした。
In the rough polishing step, a polishing solution containing an aqueous solution prepared by adding a chelating agent and an oxidizing agent to an acidic region having a pH of 1.5 and an alumina polishing agent having a D50 value of 0.3 μm as the polishing agent. A slurry obtained by dispersing particles at a concentration of 5% by mass to form a slurry was used. The rough polishing step was performed while supplying the polishing liquid to the polishing surface of the disk-shaped substrate 10 at a flow rate of 500 ml / min.
In the rough polishing process, the carrier plate 30 and the surface plate are relatively moved for 6 minutes while supplying the polishing liquid, and then the carrier plate 30 and the surface plate are relatively moved for 2 minutes while supplying water instead of the slurry. Moved.
In the rough polishing step, the polishing amount per one side of the disk-shaped substrate 10 was set to about 1.5 μm.

粗研磨工程の後、研磨された円盤状基板10を、水を用いて洗浄した。
その後、仕上げ研磨工程を行った。仕上げ研磨工程においては、研磨液として、キレート剤と酸化剤とを添加してpH1.5の酸性領域に調整した水溶液からなる溶媒に、研磨剤としてD50の値が10nmのコロイダルシリカ砥粒を7質量%の濃度で分散してスラリー化したスラリーを用いた。また、仕上げ研磨工程は、研磨液を円盤状基板10の研磨面に流量500ml/分で供給しながら行った。
仕上げ研磨工程においては、研磨液を供給しながら10分間キャリアプレート30と定盤とを相対的に移動させた。
仕上げ研磨工程では、円盤状基板10の片面当たりの研磨量を約0.5μmとした。
After the rough polishing step, the polished disc-like substrate 10 was washed with water.
Thereafter, a finish polishing step was performed. In the final polishing step, 7 colloidal silica abrasive grains having a D50 value of 10 nm as an abrasive are added to a solvent consisting of an aqueous solution prepared by adding a chelating agent and an oxidizing agent as a polishing liquid to an acidic region of pH 1.5. A slurry which was dispersed and slurried at a concentration of mass% was used. The finish polishing step was performed while supplying the polishing liquid to the polishing surface of the disk-shaped substrate 10 at a flow rate of 500 ml / min.
In the final polishing process, the carrier plate 30 and the surface plate were relatively moved for 10 minutes while supplying the polishing liquid.
In the final polishing step, the polishing amount per one side of the disk-shaped substrate 10 was set to about 0.5 μm.

仕上げ研磨工程の後、研磨された円盤状基板10を、水を用いて洗浄し、円盤状基板10を研磨する工程を終了した。
その後、キャリアプレート30に保持された研磨済みの円盤状基板10と、研磨していない円盤状基板10とを交換して上記と同様にして円盤状基板10を研磨することを繰り返し、合計4万枚の円盤状基板10を連続して研磨した。
After the final polishing step, the polished disc-like substrate 10 was washed with water to finish the step of polishing the disc-like substrate 10.
Thereafter, the polished disc-like substrate 10 held on the carrier plate 30 and the unpolished disc-like substrate 10 are exchanged and the disc-like substrate 10 is polished in the same manner as described above, for a total of 40,000. A single disk-shaped substrate 10 was polished continuously.

(比較例)
キャリアプレートとして帯状ブレード36のないものを用いたこと以外は、実施例と同様にして、4万枚の円盤状基板を連続して研磨した。
(評価)
実施例および比較例において研磨した円盤状基板の上面と下面の研磨量を600枚ごとに測定し、上面と下面の研磨量の差を算出し、平均値を求めた。
その結果、実施例では、上面と下面の研磨量の差の平均値は0.005μmであった。これに対し、比較例では、上面と下面の研磨量の差の平均値は0.048μmであった。
(Comparative example)
40,000 disk-shaped substrates were continuously polished in the same manner as in the example except that a carrier plate without the belt-like blade 36 was used.
(Evaluation)
The polishing amount of the upper surface and the lower surface of the disk-shaped substrate polished in the examples and comparative examples was measured every 600 sheets, the difference between the polishing amounts of the upper surface and the lower surface was calculated, and the average value was obtained.
As a result, in the example, the average value of the polishing amount difference between the upper surface and the lower surface was 0.005 μm. On the other hand, in the comparative example, the average value of the difference in polishing amount between the upper surface and the lower surface was 0.048 μm.

3a、3c…中心側端部、3b、3d…外周側端部、10…円盤状基板、21a…下定盤、21b…上定盤、22…凹部、30、31、32、33…キャリアプレート、34…基板保持孔、36…帯状ブレード、36a、36b、36c、36d…帯状部、37、46a,46b…中心軸、35、42…歯部、44…太陽歯車、60…両面加工装置。 3a, 3c ... center side end, 3b, 3d ... outer peripheral side end, 10 ... disc substrate, 21a ... lower surface plate, 21b ... upper surface plate, 22 ... concave portion, 30, 31, 32, 33 ... carrier plate, 34 ... Substrate holding hole, 36 ... Band-shaped blade, 36a, 36b, 36c, 36d ... Band-shaped portion, 37, 46a, 46b ... Center axis, 35, 42 ... Tooth portion, 44 ... Sun gear, 60 ... Double-sided processing device.

Claims (9)

円盤状基板の上下両面を研磨または研削する両面加工装置に備えられるキャリアプレートであり、
前記キャリアプレートが、前記円盤状基板を保持する基板保持孔と、少なくとも一方の面に突出して形成された帯状ブレードとを備えるものであり、
前記両面加工装置が、前記キャリアプレートを介して対向配置される上下一対の定盤と、
前記円盤状基板に研磨液または研削液を供給する供給手段と、
前記キャリアプレートと前記上下一対の定盤とを相対的に移動させる駆動手段とを備え、
前記キャリアプレートと前記上下一対の定盤とを相対的に移動させることにより、前記円盤状基板の上下両面を研磨または研削するものであることを特徴とするキャリアプレート。
It is a carrier plate provided in a double-sided processing device that polishes or grinds the upper and lower surfaces of a disk-shaped substrate,
The carrier plate is provided with a substrate holding hole for holding the disk-shaped substrate, and a belt-like blade formed to protrude on at least one surface,
A pair of upper and lower surface plates on which the double-sided processing device is disposed to face the carrier plate;
Supply means for supplying a polishing liquid or a grinding liquid to the disk-shaped substrate;
Drive means for relatively moving the carrier plate and the pair of upper and lower surface plates;
A carrier plate characterized in that the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are polished or ground by relatively moving the carrier plate and the pair of upper and lower surface plates.
前記帯状ブレードが、上下両面に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のキャリアプレート。   The carrier plate according to claim 1, wherein the belt-like blade is formed on both upper and lower surfaces. 前記キャリアプレートが、平面視円形状のものであり、前記帯状ブレードが、平面視で円周方向と交差する方向に延在するものであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のキャリアプレート。   3. The carrier plate according to claim 1, wherein the carrier plate has a circular shape in a plan view, and the belt-like blade extends in a direction intersecting a circumferential direction in the plan view. Carrier plate. 前記帯状ブレードが、平面視同形で円周方向に等間隔で並べられた複数の帯状部からなることを特徴とする請求項3に記載のキャリアプレート。   The carrier plate according to claim 3, wherein the belt-like blade is composed of a plurality of belt-like portions arranged in the circumferential direction at equal intervals in the same shape in plan view. 円盤状基板の上下両面を研磨または研削する工程を備える円盤状基板の製造方法であり、
前記研磨または研削する工程は、キャリアプレートに備えられた基板保持孔に前記円盤状基板を保持させる工程と、
前記キャリアプレートに保持された前記円盤状基板を上下一対の定盤間に配置する工程と、
前記円盤状基板に研磨液または研削液を供給しながら、前記キャリアプレートと前記上下一対の定盤とを相対的に移動させることにより、前記円盤状基板の上下両面を研磨または研削するとともに、前記キャリアプレートの少なくとも一方の面に突出して形成された帯状ブレードにより、前記上下一対の定盤の前記帯状ブレードに対向する表面上の研磨屑または研削屑と前記研磨液または研削液とを移動させる表面加工工程とを備えることを特徴とする円盤状基板の製造方法。
A method of manufacturing a disk-shaped substrate comprising a step of polishing or grinding both upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate,
The polishing or grinding step includes the step of holding the disk-shaped substrate in a substrate holding hole provided in a carrier plate;
Placing the disk-shaped substrate held by the carrier plate between a pair of upper and lower surface plates;
While supplying a polishing liquid or a grinding liquid to the disk-shaped substrate, the carrier plate and the pair of upper and lower surface plates are moved relatively to polish or grind the upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate, and A surface for moving the polishing waste or grinding waste and the polishing liquid or grinding liquid on the surface of the pair of upper and lower surface plates facing the belt-like blade by a belt-like blade formed to protrude from at least one surface of the carrier plate A disk-shaped substrate manufacturing method comprising: a processing step.
前記キャリアプレートとして、前記帯状ブレードが、上下両面に形成されているものを用いることを特徴とする請求項5に記載の円盤状基板の製造方法。   6. The method for manufacturing a disk-shaped substrate according to claim 5, wherein the carrier plate is one in which the belt-like blade is formed on both upper and lower surfaces. 前記上下一対の定盤として、研削定盤を用い、
前記表面加工工程において、研削液としてクーラントを供給しながら、前記円盤状基板の上下両面を研削することを特徴とする請求項5または請求項6に記載の円盤状基板の製造方法。
As a pair of upper and lower surface plates, using a grinding surface plate,
The method for manufacturing a disk-shaped substrate according to claim 5 or 6, wherein, in the surface processing step, upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are ground while supplying a coolant as a grinding liquid.
前記上下一対の定盤として、研磨定盤を用い、
前記表面加工工程において、研磨液として研磨剤を含むスラリーを供給しながら、前記円盤状基板の上下両面を研磨することを特徴とする請求項5または請求項6に記載の円盤状基板の製造方法。
As a pair of upper and lower surface plates, using a polishing surface plate,
The method for manufacturing a disk-shaped substrate according to claim 5 or 6, wherein in the surface processing step, upper and lower surfaces of the disk-shaped substrate are polished while supplying a slurry containing an abrasive as a polishing liquid. .
円盤状基板の上下両面を研磨または研削する円盤状基板の両面加工装置であり、
円盤状基板を保持する基板保持孔と、少なくとも一方の面に突出して形成された帯状ブレードとを備えるキャリアプレートと、
前記キャリアプレートを介して対向配置される上下一対の定盤と、
前記円盤状基板に研磨液または研削液を供給する供給手段と、
前記キャリアプレートと前記上下一対の定盤とを相対的に移動させる駆動手段とを備え ることを特徴とする円盤状基板の両面加工装置。
A disk-like double-sided processing device that polishes or grinds the upper and lower surfaces of a disk-like substrate,
A carrier plate comprising a substrate holding hole for holding a disk-shaped substrate, and a belt-like blade formed to project on at least one surface;
A pair of upper and lower surface plates disposed opposite to each other via the carrier plate;
Supply means for supplying a polishing liquid or a grinding liquid to the disk-shaped substrate;
A double-sided processing apparatus for a disk-shaped substrate, comprising: a drive unit that relatively moves the carrier plate and the pair of upper and lower surface plates.
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