JPH10249720A - Polishing work method of flat workpiece - Google Patents

Polishing work method of flat workpiece

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JPH10249720A
JPH10249720A JP5927697A JP5927697A JPH10249720A JP H10249720 A JPH10249720 A JP H10249720A JP 5927697 A JP5927697 A JP 5927697A JP 5927697 A JP5927697 A JP 5927697A JP H10249720 A JPH10249720 A JP H10249720A
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JP
Japan
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carrier
polishing
workpiece
pads
grinding
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Application number
JP5927697A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshiki Wada
吉樹 和田
Norihide Tokunaga
典秀 徳永
Masaichi Miyamoto
政一 宮本
Hidetaka Yamaguchi
秀隆 山口
Nobuhiro Hara
宣宏 原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Kobe Steel Ltd filed Critical Kobe Steel Ltd
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Publication of JPH10249720A publication Critical patent/JPH10249720A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To continuously perform the polishing process while keeping the performance, by supplying the slurry including the free abrasive grain while continuously conveying a carrier which holds a number of plate-shaped workpieces between the pads, and respectively pressing the pads onto the surfaces of the workpieces, for simultaneously and continuously polishing the both parallel faces. SOLUTION: A carrier 1 holding the disc-shaped workpieces W in the pocket parts 6, is passed through between the pads 2, 3 which are opposite to each other and rotates in the direction B, C opposite to each other. A pair of pads 2, 3 are respectively pasted on the metallic plates 7 for supporting the pad, and rotated in the directions B, C opposite to each other by a rotary driving shaft, and the angle of the pads to the workpiece is adjusted. The pressing force of the pads 2, 3 to the workpieces is controlled by the adjustment of the stroke of the rotary driving shaft. Further the pads 2, 3 comprise the slurry supply ports 4, so that the slurry (polishing fluid including free abrasive grain) is supplied to the interfaces of the pads 2, 3 and the workpieces from the external during the polishing.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、平板状工作物のポ
リッシング加工方法に関し、特に、例えば磁気ディスク
用のアルミ基板などの、軟質平板状工作物の両面を仕上
げ加工するのに適したポリッシング加工方法に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polishing method for a flat work, and more particularly to a polishing method suitable for finishing both surfaces of a soft flat work such as an aluminum substrate for a magnetic disk. It is about the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、光学レンズやSiウェーハ、
あるいはアルミニウム、ガラス、樹脂、カーボンなどか
らなる磁気ディスクなど、表面を鏡面ないし幾何学的精
度を有する面に仕上げ加工(研磨)する方法として、ポ
リッシング加工方法がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, optical lenses, Si wafers,
Alternatively, there is a polishing method as a method of finishing (polishing) a surface such as a magnetic disk made of aluminum, glass, resin, carbon, or the like to a mirror surface or a surface having geometric accuracy.

【0003】周知のように、Siウェーハの仕上げ精度
としては、平面度NTV(non linear thickness varia
tion)2 μm以下という高い精度が要求されている。ま
た、コンピュータ等の記憶装置に使用される磁気ディス
ク用の基板では、更なる高密度化の要求に伴って、表面
粗さ0.013 μmRa(130ÅRa) 以下を必要としてい
る。
[0003] As is well known, the finishing accuracy of a Si wafer is determined by a flatness NTV (non linear thickness varia).
Option) High accuracy of 2 μm or less is required. In addition, a substrate for a magnetic disk used in a storage device such as a computer requires a surface roughness of 0.013 μm Ra (130 以下 Ra) or less in accordance with a demand for higher density.

【0004】これら高い表面の仕上げ精度が要求される
平板状工作物の研磨には、言い換えると、平板状工作物
の平行な2表面を研磨加工して、表面粗さを小さくした
い場合には、ポリッシング加工方法が優れている。一般
的にこのポリッシング加工方法によれば、他の研削加工
や、遊離砥粒加工法として同種のラッピング加工法など
よりも小さな表面粗さが得られ、加工精度に優れてい
る。
[0004] In polishing a flat workpiece requiring high surface finishing accuracy, in other words, when it is desired to reduce the surface roughness by polishing two parallel surfaces of the flat workpiece, Excellent polishing method. In general, according to this polishing method, a smaller surface roughness is obtained than in other grinding processes or the same type of lapping process as a loose abrasive process, and the process accuracy is excellent.

【0005】このポリッシング加工方法は、例えば、
「金属便覧」(平成2 年3 月31日丸善発行、1207〜1209
頁) 、あるいは「超精密生産技術大系第2巻実用技術」
(平成6 年 8月23日フジテクノシステム発行、233 〜23
9 頁) に記載されているように、ラッピング加工などと
ともに、遊離砥粒を研磨液に混合したスラリーで研磨す
る遊離砥粒加工の一種である。より具体的には、数μm
以下の微細砥粒と、合成樹脂、人工皮革、繊維、ピッチ
などの軟質材料工具のポリシャないし研磨布(以下パッ
ドと言う)を用いて適当な研磨圧力で加工する。このた
め、1 〜数十μmの砥粒と、鋳鉄などの硬質材料工具の
ラップを用いるラッピング加工に比して、砥粒がパッド
に弾性的に抱えられた状態で平板状工作物に当接するた
め、より高精度の研磨加工が可能である。
[0005] This polishing method is, for example,
"Metal Handbook" (issued by Maruzen on March 31, 1990, 1207-1209)
Page), or "Ultra-precision production technology large volume 2 practical technology"
(Published by Fuji Techno System on August 23, 1994, 233 to 23
As described in (p. 9), this is one type of free abrasive grain processing in which free abrasive grains are polished with a slurry in which free abrasive grains are mixed with a polishing liquid together with lapping. More specifically, several μm
Processing is performed at an appropriate polishing pressure using a polisher or a polishing cloth (hereinafter referred to as a pad) of a soft material tool such as a synthetic resin, artificial leather, fiber, pitch, or the like with the following fine abrasive grains. For this reason, compared with lapping processing using abrasive grains of 1 to several tens of μm and a lap of a hard material tool such as cast iron, the abrasive grains are brought into contact with the plate-like workpiece while being elastically held by the pad. Therefore, more accurate polishing can be performed.

【0006】また、前記平板状工作物の平行な2平面
(両面) をポリッシング加工する機構は、研磨圧付加機
構やマイクロメータを備えた上下定盤(金属プレート)
にパッドを接着し、このパッドと自転および公転するキ
ャリア内に保持した平板状工作物を相対摺動させ、遊離
砥粒を含むスラリーを、平板状工作物の被研磨面に補給
して研磨を行うものである。
A mechanism for polishing two parallel surfaces (both surfaces) of the flat workpiece is a polishing plate applying mechanism or an upper and lower platen (metal plate) provided with a micrometer.
The pad is adhered to the pad, and the pad and the flat work held in the carrier that rotates and revolves are slid relative to each other, and the slurry containing loose abrasive grains is supplied to the surface to be polished of the flat work to perform polishing. Is what you do.

【0007】このように、ポリッシング加工方法は、得
られる表面粗さを他の仕上げ加工方法よりも小さくでき
る点で優れるものの、加工方式は、平板状工作物を一枚
ずつポリッシング加工機に供給、加工、排出する枚葉式
か、平板状工作物をキャリアに一括搬入し、かつキャリ
アから一括搬出するとともに、これらの作業の際にポリ
ッシング加工機の運転を停止するというバッチ式で行わ
れる。
As described above, the polishing method is excellent in that the obtained surface roughness can be made smaller than other finishing methods. However, the processing method supplies a plate-like workpiece one by one to a polishing machine. The processing is performed in a single-wafer system for processing and discharging, or in a batch system in which a plate-shaped workpiece is collectively carried into and out of the carrier, and the operation of the polishing machine is stopped during these operations.

【0008】一方、これに対し、高い生産性を有する仕
上げ加工方法として、両頭研削加工方法がある。この両
頭研削加工方法は、元々、主として鉄や鋼などの硬質金
属材料、例えばベアリングなどの機械部品の仕上げ加工
に使用されているもので、円盤状または帯状のキャリア
に研削対象工作物を保持させて、該対象工作物と共に、
円盤状または帯状のキャリアを、数百rpm で高速回転し
ている一対の砥石間を、連続的に通過させ、対象工作物
の表面を連続的に研削するものである。
On the other hand, there is a double-head grinding method as a finishing method having high productivity. This double-head grinding method is originally used mainly for finishing hard metal materials such as iron and steel, for example, for finishing mechanical parts such as bearings, and holds a workpiece to be ground on a disk-shaped or band-shaped carrier. And, together with the target workpiece,
The disk-shaped or band-shaped carrier is continuously passed between a pair of grinding wheels rotating at a high speed of several hundred rpm to continuously grind the surface of a target workpiece.

【0009】このため、両頭研削加工方法は、前記ポリ
ッシング加工方法や他の両面ラッピング法などよりも研
削速度が速い。また、ポリッシング加工法のように、ア
ルミ基板をキャリアに搬入し、かつキャリアから搬出す
る際に両面研削機の運転を停止する必要がなく、連続的
なアルミ基板の研削加工が可能である。したがって、両
頭研削加工方法は、格段に高い生産性が得られる点で、
他の研削加工方法よりも有利である。
For this reason, the double-head grinding method has a higher grinding speed than the polishing method or other double-sided lapping method. Further, unlike the polishing method, there is no need to stop the operation of the double-sided grinding machine when the aluminum substrate is carried into and out of the carrier, and continuous grinding of the aluminum substrate is possible. Therefore, the double-sided grinding method is extremely high in productivity,
It is more advantageous than other grinding methods.

【0010】この両頭研削加工方法自体は、例えば特公
昭55−37378号公報や特開平6−304854号
公報などに開示されている。先ず、特公昭55−373
78号公報には、精密部品用の金属薄板小片やIC用セ
ラミック薄板小片を、両頭研削加工法で連続的に研削す
るため、無端ベルト状キャリアにより搬送することが開
示されている。
This double-ended grinding method itself is disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 55-37378 and Japanese Patent Laid-Open No. 6-304854. First, Japanese Patent Publication No. 55-373
Japanese Patent Publication No. 78 discloses that a metal thin plate piece for a precision component or a ceramic thin plate piece for an IC is conveyed by an endless belt-shaped carrier for continuous grinding by a double-head grinding method.

【0011】同公報では、工作物の大きさにほぼ適合し
たポケット部を等間隔に有する金属帯状材からなるベル
トをキャリアとし、直線状または無端状に走行させる。
そしてキャリアに保持されて移動する工作物を表裏両面
から、回転するディスク形砥石で加工する機構となって
いる。また、工作物は自動挿入および排出装置により、
キャリアのポケット部に着脱され連続的な加工を保障し
ている。
[0011] In this publication, a belt made of a metal strip having pocket portions substantially adapted to the size of a workpiece at equal intervals is used as a carrier and is run linearly or endlessly.
The mechanism is such that a workpiece moving while being held by a carrier is machined from both front and back sides by a rotating disk-shaped grindstone. Also, the workpiece is automatically inserted and ejected by
It is attached to and detached from the carrier pocket to ensure continuous processing.

【0012】次に、特開平6−304854号公報に
は、前記ベルト状タイプのキャリアとは別の、円盤状タ
イプのキャリアを有する両頭研削加工法が開示されてい
る。同公報の両頭研削加工装置は、対向配置されてなる
一対の砥石車の間に、円弧上に工作物を収納できる複数
のポケットが等間隔で設けられた円板状のキャリアを回
転させて、このキャリアのポケットに収納されている工
作物の両面を連続して研削する構成になるものである。
なお、同公報でも、連続的な加工を保障するために、工
作物をポケットに収納およびポケットから取外す、ロー
ディングプッシャやアンローディングプッシャが開示さ
れている。
Next, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-304854 discloses a double-head grinding method having a disc-shaped carrier different from the belt-shaped carrier. The double-headed grinding apparatus of the publication discloses a disk-shaped carrier in which a plurality of pockets capable of accommodating a workpiece on an arc are provided at equal intervals between a pair of grinding wheels arranged opposite to each other, This is a configuration in which both sides of the workpiece stored in the pocket of the carrier are continuously ground.
This publication also discloses a loading pusher and an unloading pusher for storing and removing a workpiece in and from a pocket to ensure continuous processing.

【0013】本発明者らは、鉄、鋼、セラミック等の比
較的硬質材料の研削を対象としていた、これら従来の両
頭研削加工方法を、アルミ基板等の比較的軟質材料の仕
上げ加工用に改良した。即ち使用砥石を、ビトリファイ
ド砥石、レジノイド砥石等の硬質砥石から、PVA系砥
石等の弾性砥石に代え、無端ベルト状キャリアや円盤状
タイプのキャリアを用いた両頭研削加工法により、アル
ミ基板などの平板状工作物を連続的に仕上げ(研削)加
工する方法を、特願平 8−83820 号、特願平 8−85165
号、特願平 8−117923号等で、既に出願している。
The present inventors have improved these conventional double-ended grinding methods for grinding relatively hard materials such as iron, steel, and ceramics for finishing of relatively soft materials such as aluminum substrates. did. That is, the used grindstone is changed from a hard grindstone such as a vitrified grindstone or a resinoid grindstone to an elastic grindstone such as a PVA grindstone, and a flat plate such as an aluminum substrate is formed by a double-head grinding method using an endless belt-shaped carrier or a disc-shaped carrier. The method of continuously finishing (grinding) a workpiece is described in Japanese Patent Application Nos. 8-83820 and 8-85165.
And Japanese Patent Application No. Hei 8-117923.

【0014】そして、この改良により、磁気ディスクと
してのアルミ基板に要求される、表面粗さが0.02μmRa
(Rmaxで0.2 μm)程度の表面精度が達成できるようにな
った。因みに前記硬質の砥石を用いて、アルミ基板を両
頭研削加工した場合、達成可能な表面粗さは、せいぜい
1 〜 2μmRa 程度までである。
With this improvement, the surface roughness required for an aluminum substrate as a magnetic disk is 0.02 μm Ra.
(Rmax of 0.2 μm) can be achieved. By the way, when the aluminum substrate is subjected to double-head grinding using the hard grindstone, the achievable surface roughness is at most
It is up to about 1-2 μmRa.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本発明
が対象とする例えば磁気ディスクなどでは、更なる高密
度化に伴い、要求される表面粗さは益々小さくなり、最
近では、0.013 μmRa以下のものも必要とするように
なっている。これに対し、前記PVA系砥石を用いた両
頭研削加工法では、除去量を大きくすることはできるも
のの、前記要求表面粗さの更なる微小化に対応すること
は、後述する砥石の製造上と構造上の基本的な制約があ
り、困難である。
However, in the case of, for example, a magnetic disk to which the present invention is applied, the required surface roughness is becoming smaller and smaller with the further increase in density, and recently, the magnetic disk having a surface roughness of 0.013 μm Ra or less is required. Is also needed. On the other hand, in the double-head grinding method using the PVA-based grindstone, although the removal amount can be increased, it is difficult to cope with the further miniaturization of the required surface roughness with respect to the production of the grindstone described later. Difficult due to fundamental structural constraints.

【0016】また、前記ポリッシング加工方法は、スラ
リー中の遊離砥粒によって、小さな切込圧力と小さな切
込深さで除去加工を行うもので、他の仕上げ加工法よ
り、高精度に表面粗さを小さくできるものの、前記した
通り、ポリッシング加工機への平板状工作物の供給、加
工、排出は、枚葉式かバッチ式で行われるため、生産性
が低く、しかも更なる生産性の向上が望めないという、
重大な課題がある。
In the above polishing method, removal is performed with a small cutting pressure and a small cutting depth by using free abrasive grains in the slurry. However, as described above, the supply, processing, and discharge of the flat workpiece to the polishing machine are performed in a single-wafer system or a batch system, so that the productivity is low and the productivity is further improved. I ca n’t hope
There are serious challenges.

【0017】従って、本発明の目的は、要求表面粗さを
達成できる等、より高精度に仕上げ加工できるポリッシ
ング加工方法の性能(利点)は保持したまま、研磨工程
を連続化することであり、この連続化により、工作物の
仕上げ加工の生産性向上が図れるポリッシング加工方法
を提供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to make the polishing process continuous while maintaining the performance (advantage) of the polishing processing method capable of finishing with higher precision such as achieving the required surface roughness. An object of the present invention is to provide a polishing method capable of improving productivity of finishing work of a workpiece by the continuity.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】この目的のため、本発明
においては、ポリッシング加工方法を、平板状工作物を
所定間隔で多数保持したキャリアを、相対向して回転す
るパッドの間に連続的に通過させつつ、前記パッドの表
面に遊離砥粒を含むスラリーを供給するとともに、各パ
ッドを平板状工作物の表面にそれぞれ押しつけ、平板状
工作物の平行な両面の研磨を同時かつ連続的に行うよう
に改良する。
For this purpose, in the present invention, a polishing method is provided in which a carrier holding a large number of flat workpieces at predetermined intervals is continuously placed between pads rotating opposite to each other. While passing the slurry, the slurry containing loose abrasive grains is supplied to the surface of the pad, and each pad is pressed against the surface of the plate-like workpiece to simultaneously and continuously grind the parallel surfaces of the plate-like workpiece. Improve to do.

【0019】ポリッシング加工は、基本的にスラリーと
軟質材料工具のパッドを用いて研磨する。したがって、
加工作用を及ぼすのは、スラリー中の遊離砥粒であり、
この砥粒について注目すると、小さな切り込み圧力と小
さな切り込み深さで除去加工を行うことができる。した
がって、加工単位が小さくなるため、加工能率は低くな
るものの、得られる表面粗さは小さくなり、要求表面粗
さを満足した良好な仕上げ加工面が得られるようにな
る。
The polishing is basically performed by using a slurry and a pad of a soft material tool. Therefore,
It is the free abrasive grains in the slurry that exert a processing action,
Paying attention to this abrasive grain, the removal processing can be performed with a small cutting pressure and a small cutting depth. Therefore, since the processing unit is small, the processing efficiency is low, but the obtained surface roughness is small, and a good finished processed surface satisfying the required surface roughness can be obtained.

【0020】これを、前記弾性砥石を用いた両頭研削加
工方法と比較すると、PVA系砥石などの弾性砥石は、
ポリビニールアルコール(PVA)などを主体とし、こ
れにメラミンおよびフェノール系等の調質用の樹脂を適
宜混合した樹脂組成物を結合剤とし、この結合剤に、G
C、C、WA等の砥粒を埋め込んだ砥石である。このよ
うに、PVA系砥石などの砥石は、結合剤が軟らかい樹
脂であるがゆえに、また、結合剤中に多くの気孔を有す
る多孔質であるため、ビトリファイド砥石、レジノイド
砥石等の硬質の砥石に比して、弾性や靱性に富む砥石で
ある。
When this is compared with the double-head grinding method using the above-mentioned elastic grindstone, the elastic grindstone such as the PVA grindstone is
A binder is a resin composition mainly composed of polyvinyl alcohol (PVA) or the like, and a melamine and a phenol-based refining resin mixed appropriately as a binder.
A grindstone in which abrasive grains such as C, C, and WA are embedded. As described above, a grinding wheel such as a PVA-based grinding wheel is used as a hard grinding wheel such as a vitrified grinding wheel or a resinoid grinding wheel because the binder is a soft resin and is porous having many pores in the binder. In comparison, it is a grindstone with high elasticity and toughness.

【0021】したがって、純アルミやアルミ合金(以
下、単にアルミと言う)などの軟質の工作物を研削加工
する際には、結合剤自体や気孔の存在により、弾性や靱
性に富み、個々の砥粒の実切り込み荷重が緩衝され、そ
の結果加工単位が小さくなるので、表面粗さの小さな面
が得られる。また、前記した気孔の機能により、脱落し
た砥粒や微小アルミ研削屑の排出性にも優れるという特
徴を有する。
Therefore, when grinding a soft workpiece such as pure aluminum or an aluminum alloy (hereinafter simply referred to as aluminum), the elasticity and toughness of the individual abrasive are high due to the binder itself and the presence of pores. The actual cutting load of the grains is buffered, and as a result, the processing unit is reduced, so that a surface having a small surface roughness is obtained. Further, due to the function of the pores described above, it is also excellent in discharging property of dropped abrasive grains and minute aluminum grinding debris.

【0022】しかし、ポリッシング加工の遊離砥粒に比
べれば、PVA系砥石と言えども、結合剤によって拘束
を受けた固定砥粒であり、拘束を受けている分だけ、個
々の砥粒の切り込み圧力、切り込み深さとも大きくなり
がちである。また、砥粒の大きさも、砥粒を砥石に製造
し、砥石として使用可能とするための技術的な制約を受
けるため、その最小値は概ね1 〜0.5 μm 程度である。
However, compared to the free abrasive grains in the polishing process, the PVA-based grindstone is a fixed abrasive grain restrained by a binder, and the cutting pressure of each abrasive grain is limited by the restraint. However, the cutting depth tends to be large. Also, the minimum size of the abrasive grains is generally about 1 to 0.5 μm because of the technical restrictions for manufacturing the abrasive grains into a grindstone and making it usable as a grindstone.

【0023】これに対し、ポリッシング加工法の砥粒
は、研磨液に混合される遊離砥粒であり、PVA系砥石
のような砥石製造上などの制約が無い。このため、所望
の粒径の砥粒の製造さえ可能であれば、小さな砥粒径を
自由に選択でき、この砥粒の点からも、両頭研削加工方
法よりも微小な表面粗さを実現できる。
On the other hand, the abrasive grains used in the polishing method are free abrasive grains mixed with the polishing liquid, and there are no restrictions on the production of a grindstone such as a PVA grindstone. For this reason, as long as it is possible to produce abrasive grains of a desired particle size, a small abrasive grain size can be freely selected, and in terms of the abrasive grains, a finer surface roughness can be realized than the double-head grinding method. .

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】本発明における遊離砥粒の大きさ
は、研磨条件や目的表面精度(表面粗さ)により適宜選
択されるが、磁気ディスク用のアルミ基板などでは、平
均粒径が0.1〜2.0 μm の遊離砥粒を用いることが好ま
しい。遊離砥粒の平均粒径が小さすぎると、研磨効率が
著しく低下するとともに除去量(加工量)も少なくな
り、研磨加工自体ができない場合が生じる。一方、遊離
砥粒の平均粒径が大きすぎると、前記した表面粗さ0.01
3 μmRa以下の表面精度が得られなくなる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The size of free abrasive grains in the present invention is appropriately selected depending on polishing conditions and target surface accuracy (surface roughness). It is preferred to use loose abrasives of ~ 2.0 µm. If the average particle size of the free abrasive grains is too small, the polishing efficiency is remarkably reduced and the removal amount (processing amount) is also reduced, so that polishing may not be performed. On the other hand, if the average particle size of the free abrasive grains is too large, the surface roughness 0.01
A surface accuracy of 3 μmRa or less cannot be obtained.

【0025】このように、ポリッシング加工方法では、
遊離砥粒を含むスラリーを使うことがポイントとなる
が、ポリッシング加工方法の連続化においては、この遊
離砥粒を用いた場合に新たに生じる問題も考慮しておく
ことが好ましい。本発明者らは、循環式の無端状キャリ
アを用いて連続的にポリッシング加工した場合に、加工
時間とともに工作物の表面粗さが大きくなったり、また
スクラッチが増えたりする現象が生じる場合があること
を知見した。
As described above, in the polishing method,
The point is to use a slurry containing free abrasive grains, but in the continuation of the polishing method, it is preferable to take into account a new problem that occurs when the free abrasive grains are used. The present inventors have found that when performing continuous polishing using a circulating endless carrier, a phenomenon in which the surface roughness of a workpiece increases with the processing time or scratches increase may occur. I found that.

【0026】そこでこの原因を究明した結果、使用スラ
リーがポリッシング加工の際に、キャリアやその周辺の
機材に必然的に付着し、この付着スラリーがキャリアを
循環使用する際に、次の平板状工作物の仕上げ加工精度
に悪影響を及ぼすことを突き止めた。
Therefore, as a result of investigating the cause, the slurry used inevitably adheres to the carrier and the peripheral equipment during the polishing process. It has been found that it has an adverse effect on the finishing accuracy of the product.

【0027】即ち、本発明では、ポリッシング加工の連
続化のために、ベルト状あるいは円板状の無端状キャリ
アを循環使用するが、この場合、ポリッシング加工を終
えてパッドから出てきたキャリアに付着しているスラリ
ーが、キャリアが一周乃至周回して、新たな工作物とと
もに再びパッド間に入るまでの間に、砥粒が凝集、乾燥
してキャリア表面に固まる現象が生じ易い。この固まっ
た砥粒は、再びパッド間に入ったときに、新しいスラリ
ーにより溶け、キャリアからは脱落するものの、一端凝
集した砥粒はすぐには分散しない。このため、この凝集
した砥粒がパッド間に入ったときに、あたかも粒径の大
きな一個の砥粒のように振る舞い、工作物を研磨するた
めに、工作物の表面粗さを大きく(劣化)させたり、ス
クラッチを発生させたりする可能性がある。
That is, in the present invention, a belt-shaped or disk-shaped endless carrier is circulated and used in order to make the polishing process continuous. During the period in which the slurry is rotated once or around the carrier and re-enters between the pads together with a new workpiece, a phenomenon is likely to occur in which the abrasive grains agglomerate, dry and solidify on the carrier surface. When the hardened abrasive grains are again put between the pads, they are melted by the new slurry and fall off from the carrier, but the abrasive grains once aggregated do not immediately disperse. Therefore, when the agglomerated abrasive grains enter between the pads, they behave as if they are a single abrasive grain having a large particle diameter. In order to polish the workpiece, the surface roughness of the workpiece is increased (deteriorated). Or cause scratching.

【0028】したがって、本発明のポリッシング加工の
連続化のためには、パッドの間に無端状キャリアを通過
させる前および/または後に、無端状キャリアを洗浄し
て付着しているスラリーを除去することが特に好まし
い。なお、キャリア周辺機器にもポリッシング加工の際
のスラリーは飛散し付着するので、これらがキャリア上
やパッド上に落下、飛来等する可能性もある。このた
め、これらスラリーが前記キャリアに付着したスラリー
と同じ悪影響を与えないよう、これらキャリア周辺機器
もスラリーが付着しないよう合わせて洗浄されることが
より好ましい。
Therefore, in order to make the polishing process continuous according to the present invention, the endless carrier is washed to remove the attached slurry before and / or after passing the endless carrier between the pads. Is particularly preferred. In addition, since the slurry at the time of the polishing process is scattered and adheres to the peripheral devices of the carrier, there is a possibility that these slurries may fall or fly on the carrier or the pad. For this reason, it is more preferable that these carrier peripheral devices are also washed together so that the slurry does not adhere so that the slurry does not have the same adverse effect as the slurry attached to the carrier.

【0029】更に本発明では、本発明者らが改良した前
記弾性砥石を用いた両頭研削加工方法を、ポリッシング
加工方法の前加工として使うことが好ましい。ポリッシ
ング加工方法自体は、表面精度には優れるものの、他の
研磨・研削加工に比較して、除去量を大きくできない
(加工量を大きく取れない)問題がある。したがって、
除去量を大きくし、仕上げ加工工程としての高い効率化
を図るためには、前加工が必要である。従来この前加工
には、前記ラッピング加工などが用いられていた。しか
し、このラッピング加工も従来のポリッシング加工方法
と同様、バッチ式であり、ポリッシング加工のみ生産性
を向上させても、前加工の方の生産性が上がらなけれ
ば、仕上げ加工工程全体の生産性向上につながらない。
Further, in the present invention, it is preferable to use the double-headed grinding method using the above-mentioned elastic grindstone improved by the present inventors as preprocessing of the polishing method. Although the polishing method itself has excellent surface accuracy, it has a problem that the removal amount cannot be increased (the processing amount cannot be increased) as compared with other polishing / grinding processes. Therefore,
Pre-processing is required to increase the removal amount and achieve high efficiency as a finishing processing step. Conventionally, the lapping or the like has been used for this pre-processing. However, this lapping process is also a batch type, similar to the conventional polishing method. Even if the productivity is improved only by the polishing process, if the productivity of the pre-process does not increase, the productivity of the entire finishing process can be improved. Does not lead to

【0030】したがって、本発明では、ポリッシング加
工方法の連続化に合わせ、仕上げ加工工程全体の生産性
向上を図るために、前加工も合わせて連続化することが
好ましい。このため、連続化に優れた前加工として、前
記弾性砥石を用いた両頭研削加工方法を用いる。即ち、
この両頭研削加工方法とポリッシング加工方法とを、連
続化した一つの仕上げ加工ラインとすることにより、除
去量を大きくすることができ、また、工作物のキャリア
への着脱などのハンドリング工程を少なくし、高精度の
加工物をより高能率や高効率化で得られるようにでき
る。
Therefore, in the present invention, in order to improve the productivity of the entire finishing process, it is preferable that the pre-processing is also performed continuously in accordance with the continuous polishing process. For this reason, as a pre-process excellent in continuity, a double-headed grinding method using the elastic grinding stone is used. That is,
The double head grinding method and the polishing method can be combined into one continuous finishing line to increase the removal amount and reduce the number of handling steps such as attaching and detaching the workpiece to and from the carrier. In addition, a highly accurate workpiece can be obtained with higher efficiency and higher efficiency.

【0031】以下、本発明ポリッシング加工方法に用い
る装置の実施態様を、図1〜図7を用いて説明する。ま
ず、図1(a)、(b)において、10は本発明ポリッ
シング加工装置を示す。符号1は工作物のキャリアであ
り、後述する図2〜5で示すキャリア移動機構によっ
て、同図において右向きの矢印A方向に移動される。
An embodiment of the apparatus used in the polishing method of the present invention will be described below with reference to FIGS. First, in FIGS. 1A and 1B, reference numeral 10 denotes a polishing apparatus of the present invention. Reference numeral 1 denotes a workpiece carrier, which is moved by a carrier moving mechanism shown in FIGS.

【0032】帯状金属からなるキャリア1は、長手方向
に所定の間隔で、アルミ基板等の円板状工作物Wが掛合
される抜穴からなる複数のポケット部6を有する。この
キャリア1は、ポケット部6に円板状工作物Wを保持し
たまま、矢印BとCの方向に相互に逆回転され、対向配
設されてなるパッド2、3の間に通されるように構成さ
れている。
The carrier 1 made of a band-shaped metal has a plurality of pockets 6 formed at predetermined intervals in the longitudinal direction and formed with holes through which a disk-shaped workpiece W such as an aluminum substrate is engaged. The carrier 1 is rotated counterclockwise in the directions of arrows B and C while holding the disk-shaped workpiece W in the pocket portion 6 so that the carrier 1 is passed between the pads 2 and 3 disposed opposite to each other. Is configured.

【0033】このキャリア1の同図における左側の一方
側には、ポケット部1aに順次アルミ基板2を掛合させ
るローディング機構8が、また右側の他方側にはポケッ
ト部1aからアルミ基板2を取外すアンローディング機
構9が設けられている。このローディング8ないしアン
ローディング機構9について詳細な図示はしないが、一
般的に使用されている、公知の機構が適宜使用できる。
A loading mechanism 8 for sequentially engaging the aluminum substrate 2 with the pocket portion 1a is provided on one side on the left side of the carrier 1 in the figure, and an anchor for removing the aluminum substrate 2 from the pocket portion 1a is provided on the other right side. A loading mechanism 9 is provided. Although the loading 8 or the unloading mechanism 9 is not shown in detail, a commonly used known mechanism can be appropriately used.

【0034】前記一対のパッド2、3は、パッド支持用
の金属製のプレート7に各々貼り付けられており、図示
しない回転駆動軸により互いに逆方向B、Cに回転させ
られるとともに、工作物に対するパッドの角度を調節さ
れる。また、パッド2、3の工作物への押しつけ力を、
回転駆動軸のストロークの調節により制御する。更にパ
ッド2,3には、スラリー供給口4が設けられ、研磨
中、外部よりスラリー(遊離砥粒を含む研磨液)が、パ
ッド2,3と工作物の界面に供給される。
The pair of pads 2 and 3 are attached to a metal plate 7 for supporting the pads, respectively. The pair of pads 2 and 3 are rotated in mutually opposite directions B and C by a rotary drive shaft (not shown), and are rotated with respect to the workpiece. The angle of the pad is adjusted. In addition, the pressing force of the pads 2 and 3 against the workpiece is
It is controlled by adjusting the stroke of the rotary drive shaft. Further, the pads 2 and 3 are provided with a slurry supply port 4, and a slurry (a polishing liquid containing free abrasive grains) is externally supplied to the interface between the pads 2 and 3 and the workpiece during polishing.

【0035】以上のような構成により、対象工作物の連
続的なポリッシング加工が可能であるが、このスラリー
供給およびポリッシング加工の連続化に際して、スラリ
ーがキャリアへ必然的に付着する問題がある。この問題
解決のためには、前記した通り、パッドの間に無端状キ
ャリアを通過させる前および/または後に、無端状キャ
リアを洗浄して、付着しているスラリーを除去する機構
が必要であり、この機構について、次に説明する。
With the above configuration, continuous polishing of the target workpiece can be performed, but there is a problem that the slurry inevitably adheres to the carrier when the slurry is supplied and the polishing is continuously performed. To solve this problem, as described above, before and / or after passing the endless carrier between the pads, a mechanism for cleaning the endless carrier and removing the attached slurry is necessary, This mechanism will be described next.

【0036】図2〜5は、この無端状キャリアを洗浄す
る機構の態様を示しており、ポリッシング加工装置10
およびローディング機構8ないしアンローディング機構
9等については図1(a)、(b)と同じである。まず
図2において、無端状キャリアを洗浄する洗浄機構11
は、通過する無端状キャリアを両側から洗浄し、キャリ
ア幅全域をカバーできる長さを持つ、一対の円柱状の回
転ブラシ13と、該回転ブラシ13の無端状キャリアへ
の当接面やその近傍に洗浄水を供給するノズル12(無
端状キャリアに向けてキャリアの両側から一対配置)か
らなる。そして、この回転ブラシを図示しないモータに
よって回転させながらキャリア1の表面に押し当て付着
スラリーを除去する。
FIGS. 2 to 5 show an embodiment of a mechanism for cleaning the endless carrier.
The loading mechanism 8 and the unloading mechanism 9 are the same as those shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b). First, in FIG. 2, a cleaning mechanism 11 for cleaning an endless carrier
Is a pair of cylindrical rotating brushes 13 having a length sufficient to wash the passing endless carrier from both sides and covering the entire carrier width, and a contact surface of the rotating brush 13 with the endless carrier and its vicinity. And a nozzle 12 (a pair is arranged from both sides of the carrier toward the endless carrier) for supplying the cleaning water to the carrier. Then, the rotating brush is rotated by a motor (not shown) and pressed against the surface of the carrier 1 to remove the adhered slurry.

【0037】キャリアの洗浄機構自体はこれに限定され
るものではなく、要は、走行するキャリア1の表面を連
続的に洗浄できるものであれば、他の形状のブラシやブ
ラシに代わるスポンジなど公知の手段が適宜選択可能で
ある。また、スラリーが除去できるのであれば、ブラシ
やスポンジ等の拭く乃至擦る等の手段を使わず、水およ
び/または洗浄剤のみを使用しても良い。
The mechanism for cleaning the carrier itself is not limited to this. In short, any known brush or sponge in place of a brush can be used as long as it can continuously clean the surface of the traveling carrier 1. Can be appropriately selected. If the slurry can be removed, only water and / or a cleaning agent may be used without using a means such as wiping or rubbing with a brush or a sponge.

【0038】この図2においては、洗浄機構11は、ポ
リッシング加工装置10の下流側に設けられている。ま
た、図3〜5は、洗浄機構11の構成自体は図2と同じ
だが、洗浄機構11を設ける位置を各々変えた例を示し
ており、図3は無端状キャリアの中間地点、図4はポリ
ッシング加工装置10の上流側、図5はポリッシング加
工装置10の上流側と下流側との両方に設けられてい
る。
In FIG. 2, the cleaning mechanism 11 is provided downstream of the polishing apparatus 10. 3 to 5 show examples in which the configuration of the cleaning mechanism 11 is the same as that in FIG. 2, but the positions at which the cleaning mechanism 11 is provided are respectively changed. FIG. 3 shows an intermediate point of the endless carrier, and FIG. 5 is provided on both the upstream side and the downstream side of the polishing apparatus 10 in FIG.

【0039】このように洗浄機構11は、キャリアの適
宜の位置に適当数設けて良いが、キャリアをガイドする
部分などキャリア周辺機器にスラリーが転写付着するの
を未然に防止するためには、図2のように、洗浄機構1
1をポリッシング加工装置10の下流側に設けることが
好ましい。また、図のようにポリッシング加工装置10
の上流側に洗浄機構11を設けた場合には、キャリアが
一周する間に付着する異物(キャリアをガイドする各部
分との間で生じる摩擦粉、空気中の塵、埃等)がパッド
間に入って生じるスクラッチの発生を確実に防止するこ
とができるので好ましい。したがって、図5のように、
ポリッシング加工装置10の上流側と下流側との両方に
洗浄機構を設ける方が、表面粗さを向上させ、スクラッ
チの発生を防止しつつ、連続的なポリッシング加工を行
う点で、より好ましい。
As described above, an appropriate number of the cleaning mechanisms 11 may be provided at appropriate positions on the carrier. Cleaning mechanism 1 like 2,
1 is preferably provided downstream of the polishing apparatus 10. Also, as shown in FIG.
If the cleaning mechanism 11 is provided on the upstream side of the pad, foreign matter (frictional powder generated between each part guiding the carrier, dust in the air, dust, etc.) adhering during one round of the carrier is generated between the pads. This is preferable because it is possible to reliably prevent the occurrence of scratches caused by entering. Therefore, as shown in FIG.
Providing a cleaning mechanism on both the upstream side and the downstream side of the polishing apparatus 10 is more preferable in terms of improving the surface roughness and preventing the occurrence of scratches while performing continuous polishing.

【0040】なお、図1〜5のポリッシング加工装置
は、工作物のローディング機構とアンローディング機構
との間に、一対の相対向するパッドを一段配設した例し
か図示していないが、例えば、研磨加工を段階的に行う
必要がある場合には、キャリア1に沿ってパッドの対を
複数段直列に配列し、各パッド対における供給スラリー
中の遊離砥粒の粗さを順次細かくするか、あるいは同じ
遊離砥粒の粗さとするようにしても良い。
The polishing apparatus shown in FIGS. 1 to 5 only shows an example in which a pair of opposing pads is arranged in one stage between a loading mechanism and an unloading mechanism for a workpiece. When the polishing process needs to be performed stepwise, a plurality of pad pairs are arranged in series along the carrier 1 and the roughness of the free abrasive grains in the supply slurry in each pad pair is gradually reduced. Or you may make it the roughness of the same free abrasive grain.

【0041】図6は、前記ベルト状タイプのキャリアと
は別の、円盤状タイプのキャリアを有するポリッシング
加工装置を開示している。同図のポリッシング加工装置
は、対向配置されてなる一対のパッド2、3の間に、円
弧上に工作物を収納できる複数のポケット6が等間隔で
設けられた円板状のキャリア1を回転させて、このキャ
リア1のポケット6に収納されている工作物Wの両面を
連続して研削する構成になるものである。なお、同図で
も、連続的な加工を保障するために、工作物Wをポケッ
ト6に収納およびポケット6から取外すプッシャ等の手
段が適宜選択されるローディング機構8やアンローディ
ング機構9を設けている。
FIG. 6 discloses a polishing apparatus having a disc-shaped carrier different from the belt-shaped carrier. The polishing apparatus shown in FIG. 1 rotates a disc-shaped carrier 1 in which a plurality of pockets 6 capable of accommodating a workpiece on an arc are provided at equal intervals between a pair of pads 2 and 3 arranged opposite to each other. Then, both surfaces of the workpiece W stored in the pocket 6 of the carrier 1 are continuously ground. In this figure, too, a loading mechanism 8 and an unloading mechanism 9 for appropriately selecting a means such as a pusher for storing and removing the workpiece W in the pocket 6 and removing the workpiece W from the pocket 6 are provided in order to ensure continuous processing. .

【0042】なお、図6での円盤状タイプのキャリアの
洗浄機構は、キャリアに垂直な回転軸を中心に回転する
回転ブラシ13と、ブラシの作用面に向けて洗浄水を供
給するノズル12とからなる。また、この洗浄機構を、
パッドの間に円盤状タイプのキャリアを通過させた後に
設けているが、前記ベルト状のキャリアと同様、パッド
の間に入る前および/またはパッドの間から出た後に適
宜設けてよい。
The disc-type carrier cleaning mechanism shown in FIG. 6 includes a rotating brush 13 rotating around a rotation axis perpendicular to the carrier, and a nozzle 12 for supplying cleaning water toward the working surface of the brush. Consists of Also, this cleaning mechanism,
The carrier is provided after the disc-shaped carrier is passed between the pads. However, like the belt-shaped carrier, the carrier may be provided before entering between the pads and / or after exiting from between the pads.

【0043】また、図7は、弾性砥石を用いた両頭研削
加工方法を、ポリッシング加工方法の前加工として使
い、お互いに連続化した両頭研削加工方法とポリッシン
グ加工方法とを組み合わせ、一つのラインで連続して行
う装置を示している。この構成とすることにより、ポリ
ッシング加工方法の連続化に合わせ、仕上げ加工工程全
体の生産性向上を図ることができる。
FIG. 7 shows a double-headed grinding method using an elastic grindstone as a pre-processing of the polishing method. Shown is a continuous apparatus. With this configuration, it is possible to improve the productivity of the entire finishing process in accordance with the continuation of the polishing process.

【0044】図7において、20は両頭研削加工を行う
装置を示しており、ポリッシング加工装置10の上流側
に設けられている。同図において、洗浄機構11は、ポ
リッシング加工装置10の下流側と、両頭研削装置20
とポリッシング加工装置10との間に設けられている。
この内、両頭研削装置20とポリッシング加工装置10
との間の洗浄機構11は、両頭研削装置20における脱
落砥粒のポリッシング加工装置10への混入を防止する
ため事前に洗浄することを目的とするもので、この場
合、回転ブラシなどを接触させると、工作物に傷をつけ
たりキャリアから押し外してしまう恐れがあるので、同
図の通り、洗浄水供給ノズルのみを配設している。ま
た、この図7の例においては、この洗浄機構の他、ロー
ド機構8が両頭研削装置20の上流側に設けられている
以外は、前記図2〜5と装置構成は概ね同じである。
In FIG. 7, reference numeral 20 denotes an apparatus for performing double-head grinding, which is provided on the upstream side of the polishing apparatus 10. In FIG. 1, a cleaning mechanism 11 includes a downstream side of a polishing apparatus 10 and a double-sided grinding apparatus 20.
And a polishing apparatus 10.
Among them, the double-ended grinding device 20 and the polishing device 10
The purpose of the cleaning mechanism 11 is to carry out pre-cleaning in order to prevent the falling-off abrasive grains in the double-headed grinding device 20 from being mixed into the polishing device 10, and in this case, a rotating brush or the like is brought into contact therewith. Therefore, there is a possibility that the workpiece may be damaged or the workpiece may be pushed out of the carrier. Therefore, only the cleaning water supply nozzle is provided as shown in FIG. In addition, in the example of FIG. 7, the device configuration is substantially the same as in FIGS. 2 to 5 except that a load mechanism 8 is provided on the upstream side of the double-headed grinding device 20 in addition to the cleaning mechanism.

【0045】この両頭研削装置20の実施態様を図8
(a)、(b)に示す。同図において、工作物のキャリ
ア1は、前記図2〜5で示したキャリア移動機構によっ
て、同図において右向きの矢印A方向に移動される。帯
状金属からなるキャリア1は、前記図1で示したものと
同じで、ポケット部6に円板状工作物Wを保持したま
ま、相互に逆回転される対向配設されてなる一対の弾性
砥石22,23の間に通されるように構成されている。
このキャリア1の同図における左側の一方側には、ポケ
ット部1aに順次アルミ基板2を掛合させるローディン
グ機構8が設けられている。
FIG. 8 shows an embodiment of the double-headed grinding device 20.
(A) and (b) show. In the figure, the carrier 1 of the workpiece is moved in the direction of the right arrow A in the figure by the carrier moving mechanism shown in FIGS. The carrier 1 made of a band-shaped metal is the same as that shown in FIG. 1 described above, and a pair of elastic grindstones arranged opposite to each other and rotated in the opposite direction while holding the disk-shaped workpiece W in the pocket portion 6. It is configured to be passed between 22, 23.
On one side of the carrier 1 on the left side in the figure, a loading mechanism 8 for sequentially engaging the aluminum substrate 2 with the pocket portion 1a is provided.

【0046】砥石の回転駆動軸21は、弾性砥石を高速
回転させるとともに、弾性砥石の角度を調節する。ま
た、弾性砥石22、23の切り込み量を、回転駆動軸2
1のストロークの調節により制御し、砥石間ギャップを
保っている。また、このストロークの調節は、工作物が
弾性砥石から通過離脱する際の砥石間ギャップを一定に
保持する手段として用いても良い。
The rotary drive shaft 21 of the grindstone rotates the elastic grindstone at a high speed and adjusts the angle of the elastic grindstone. In addition, the cutting amount of the elastic grindstones 22 and 23 is set to
The stroke is controlled by adjusting the stroke to maintain the gap between the grinding wheels. The adjustment of the stroke may be used as a means for maintaining a constant gap between the grindstones when the workpiece passes and separates from the elastic grindstone.

【0047】また、図8(b)に示すように、一対の砥
石22,23のキャリア1の入口と出口側とのそれぞれ
には工作物回転制動手段24が配設されている。この工
作物回転制動手段24は、円板状工作物が砥石の間に入
り込むときと、砥石から通過離脱するときに、この円板
状工作物の回転を制動することにより、円板状工作物の
両研削面に異なった向きの研削条痕が発生するのを防止
し、また同時に、円板状工作物の端面の傷付きも防止
し、工作物の表面精度を保障するための手段である。ま
た、工作物回転制動手段24は、工作物の片面のみから
作用させると、工作物の姿勢に影響を及ぼす恐れがあ
る。したがって、そのようなことがないように、図8
(b)に示すように、両面から作用させるべく、工作物
の両側に対向して設けられている。
As shown in FIG. 8 (b), a workpiece rotation braking means 24 is provided at each of the pair of grindstones 22 and 23 at the entrance and exit sides of the carrier 1. The workpiece rotation braking means 24 brakes the rotation of the disk-shaped workpiece when the disk-shaped workpiece enters between the whetstones and when the disk-shaped workpiece passes and separates from the whetstone. It is a means for preventing the occurrence of grinding streaks in different directions on both grinding surfaces, and at the same time, preventing the end face of the disc-shaped workpiece from being scratched and ensuring the surface accuracy of the workpiece. . Further, if the workpiece rotation braking means 24 is operated only from one side of the workpiece, it may affect the attitude of the workpiece. Therefore, as shown in FIG.
As shown in FIG. 2B, the work is provided on both sides of the work so as to oppose each other.

【0048】この工作物回転制動手段24は、一端が固
定されてなる一定力で押付ける押付け機構であるコイル
ばね24aの先端に、円板状工作物Wよりも低硬度の弾
性樹脂、例えばゴムからなるブロック状の固体である制
動体24bが取付けられた構成になっており、この制動
体24bをコイルばね24aの弾性力で円板状工作物W
に押付けることにより、円板状工作物Wの回転を制動す
るように構成されている。この場合は、キャリア1の一
面側だけに工作物回転制動手段24が配設されている
が、工作物回転制動手段24をキャリア1の両面側に設
けると円板状工作物Wが両面側から押圧されるので、円
板状工作物Wの研削精度の向上にとって好ましい。な
お、押付け機構としては、例えば板バネ、エアシリンダ
あるいはゴムの弾力を利用するものであっても良い。
The workpiece rotation braking means 24 is provided with an elastic resin, for example, rubber, having a lower hardness than the disk-shaped workpiece W at the tip of a coil spring 24a which is a pressing mechanism for pressing with a constant force having one end fixed. A block-shaped solid brake body 24b is attached to the disk-shaped workpiece W by the elastic force of the coil spring 24a.
, The rotation of the disk-shaped workpiece W is braked. In this case, the workpiece rotation braking means 24 is provided only on one side of the carrier 1. However, if the workpiece rotation braking means 24 is provided on both sides of the carrier 1, the disc-shaped workpiece W can be moved from both sides. Since it is pressed, it is preferable for improving the grinding accuracy of the disk-shaped workpiece W. As the pressing mechanism, for example, a leaf spring, an air cylinder, or a mechanism using elasticity of rubber may be used.

【0049】前記工作物回転制動手段としては、この他
に、円板状工作物の面に転接する弾性樹脂等の、円板
状工作物よりも低硬度のローラ状の固体、円板状工作
物の面に先端部分が接触する薄板状樹脂、円板状工作
物の面に先端部分がキャリアの移動方向に曲げられた状
態で接触するブラシなどがあり、これらの手段を円板状
工作物の面に一定力で押付ける押付け機構とともに設け
ても良い。
The workpiece rotation braking means may be a roller-shaped solid or disk-shaped workpiece having a lower hardness than that of the disk-shaped workpiece, such as an elastic resin rolling on the surface of the disk-shaped workpiece. There are thin-plate resin whose tip contacts the surface of the object, and brushes that contact the surface of the disc-shaped workpiece in a state where the tip is bent in the moving direction of the carrier. May be provided together with a pressing mechanism that presses the surface with a constant force.

【0050】また、図7乃至図8(a)、(b)の両頭
平面研削盤は、工作物のローディング機構とアンローデ
ィング機構との間に、一対の弾性砥石を一段配設した例
しか図示していないが、例えば、研削加工を粗研削加工
から仕上研削加工までの段階的に行う必要がある場合に
は、キャリア1に沿って、砥石の粗さを順次細かくし
た、あるいは同じ砥石の粗さである弾性砥石対を、工作
物の進行方向に沿って、複数段、直列或いは並列して配
置しても良い。この場合、粗研削加工から仕上研削加工
まで、同じ弾性砥石、例えばPVA系砥石を使わずと
も、粗研削加工に通常の硬質砥石を用い、仕上研削加工
にPVA系砥石を用いても良い。更に、砥石の大きさ
(径)を大きくして、キャリア1の幅を広げ、工作物を
複数列配列する、あるいはキャリア1を複数列平行に配
設しても良い。
The double-sided surface grinders of FIGS. 7 to 8A and 8B are only examples in which a pair of elastic grindstones are arranged in a single stage between a loading mechanism and an unloading mechanism for a workpiece. Although not shown, for example, when it is necessary to perform the grinding stepwise from rough grinding processing to finish grinding processing, the roughness of the grindstone is sequentially reduced along the carrier 1 or the same grindstone is roughened. A plurality of elastic grinding stone pairs may be arranged in a plurality of stages, in series or in parallel along the traveling direction of the workpiece. In this case, from the rough grinding to the finish grinding, the same elastic grindstone, for example, a PVA grindstone may not be used, but a normal hard grindstone may be used for the rough grind and the PVA grindstone may be used for the finish grind. Further, the size (diameter) of the grindstone may be increased, the width of the carrier 1 may be increased, and the workpieces may be arranged in a plurality of rows, or the carriers 1 may be arranged in a plurality of rows in parallel.

【0051】[0051]

【実施例】【Example】

〔実施例1〕図2に示す、洗浄機構11をポリッシング
加工装置10の下流側に設けたポリッシング加工装置を
用いて、外径φ90mm、初期厚さ0.9mmの、磁気
ディスク用JIS5086系アルミニウム合金製基板を
ポリッシング加工した例を示す。なお、キャリアは基板
保持用の穴(ポケット)を設けたステンレス製で厚み
0.5mm、幅150mmのエンドレスベルトを用い
た。研磨条件は、パッドとして、アルミの研磨用として
一般に市販されているパッド(外径φ585mm、内径
φ40mm)を用い、回転数が50rpmで、対向した
パッドが互いに逆向きに回転するようにした。パッドの
アルミニウム合金製基板に対する切り込み量の制御は、
基板への押しつけ力(圧力)にて行った。また、スラリ
ーも平均粒径1.6μmの砥粒を含むアルミ用の市販研
磨液に混合したものを使用し、各々のパッドに供給する
スラリー流量は、合計で40ml/minとした。
[Example 1] A JIS 5086-based aluminum alloy for a magnetic disk having an outer diameter of 90 mm and an initial thickness of 0.9 mm, using a polishing apparatus provided with a cleaning mechanism 11 shown in FIG. An example in which a substrate made by polishing is shown. The carrier used was an endless belt made of stainless steel having a hole (pocket) for holding a substrate and having a thickness of 0.5 mm and a width of 150 mm. The polishing conditions were such that a pad (outside diameter φ585 mm, inside diameter φ40 mm) which was generally commercially available for polishing aluminum was used as the pad, and the rotation speed was 50 rpm, and the opposing pads were rotated in opposite directions. The control of the cut amount of the pad to the aluminum alloy substrate is as follows:
This was performed with a pressing force (pressure) against the substrate. The slurry used was also mixed with a commercially available polishing liquid for aluminum containing abrasive grains having an average particle diameter of 1.6 μm, and the total flow rate of the slurry supplied to each pad was 40 ml / min.

【0052】以上の条件で、連続的なポリッシング加工
を行ったが、図2の洗浄機構11を用いた場合には、ポ
リッシング加工された全ての(300枚)アルミニウム
合金製基板は、表面粗さ100〜130ÅRaのレベル
で維持されていた。本実施例では1.6μmと比較的大
きな砥粒を用いたにも係わらず、130ÅRa以下の表
面粗さが得られており、更に細かい砥粒を用いるほど、
より小さい表面粗さが得られる。一方、比較のために、
図2の洗浄機構11を用いずに、同じ条件でポリッシン
グ加工を行った。この結果、加工開始後の数枚のアルミ
ニウム合金製基板では、表面粗さ100〜130ÅRa
のレベルで維持されていたものの、キャリアが一周以上
走行し、かつ5分経過後(100枚)加工した時点で、
アルミニウム合金製基板の表面粗さが130〜260Å
Raと大きくなる場合が生じ、また、目視で確認できる
スクラッチも増加した。これは、前記した通り、キャリ
アが循環使用されるために、付着スラリーがキャリアに
堆積して、ポリッシング加工に悪影響を与えたためであ
る。したがって、ポリッシング加工の連続化を保障し、
歩留りを向上させるためには、キャリアの洗浄を行うこ
とが好ましいことが分かる。
Although continuous polishing was performed under the above conditions, when the cleaning mechanism 11 shown in FIG. 2 was used, all (300) aluminum alloy substrates subjected to polishing had a surface roughness It was maintained at a level of 100 to 130 ° Ra. In this example, despite the use of relatively large abrasive grains of 1.6 μm, a surface roughness of 130 ° Ra or less was obtained. As finer abrasive grains were used,
A smaller surface roughness is obtained. On the other hand, for comparison,
Polishing was performed under the same conditions without using the cleaning mechanism 11 of FIG. As a result, in several aluminum alloy substrates after the start of processing, the surface roughness was 100 to 130 ° Ra.
However, when the carrier has traveled one or more rounds and processed after 5 minutes (100 sheets),
The surface roughness of the aluminum alloy substrate is 130-260Å
Ra sometimes increased, and the number of scratches that could be visually confirmed also increased. This is because, as described above, since the carrier is used in a circulating manner, the adhered slurry is deposited on the carrier and adversely affects the polishing process. Therefore, the continuity of the polishing process is guaranteed,
It can be seen that it is preferable to wash the carrier in order to improve the yield.

【0053】〔実施例2〕前記ベルト状タイプのキャリ
アとは別の、図6の、円盤状タイプのキャリアを有する
ポリッシング加工装置を用いて、実施例1と同じ条件で
磁気ディスク用JIS5086系アルミニウム合金製基
板を連続的にポリッシング加工した例を示す。図6の洗
浄機構11を用いた場合には、加工された全ての(30
0枚)アルミニウム合金製基板は、表面粗さ100〜1
30ÅRaのレベルで維持されていた。一方、比較のた
めに、図6の洗浄機構11を用いずに、同じ条件でポリ
ッシング加工を行ったところ、加工開始後キャリアが2
周以上走行し、3分経過(100枚)まで加工した時点
で、アルミニウム合金製基板の表面粗さが130〜26
0ÅRaと大きくなる場合が生じ、また、目視で確認で
きるスクラッチも増加した。
Example 2 A JIS 5086-based aluminum alloy for magnetic disks was used under the same conditions as in Example 1 by using a polishing apparatus having a disc-shaped carrier shown in FIG. An example in which an alloy substrate is continuously polished is shown. When the cleaning mechanism 11 of FIG. 6 is used, all the processed (30
0) Aluminum alloy substrate has a surface roughness of 100 to 1
It was maintained at a level of 30 Ra. On the other hand, for comparison, polishing was performed under the same conditions without using the cleaning mechanism 11 of FIG.
When the aluminum alloy substrate has been run for at least 3 minutes (100 sheets) and has been processed until the elapse of 3 minutes
In some cases, 0ÅRa was large, and the number of scratches that could be visually confirmed also increased.

【0054】この実施例1および2において、パッドの
代わりにバフまたは不織布、ポリエステルフィルム基材
に不織布を貼り付けたもの等の研磨布、研磨紙を用いて
も、表面粗さの程度は若干異なるが、キャリアの洗浄の
有無に対して同様の効果が得られる。
In Examples 1 and 2, the degree of surface roughness is slightly different even if a buff or a nonwoven fabric, a polishing cloth such as a polyester film substrate with a nonwoven fabric attached thereto, or a polishing paper is used instead of the pad. However, the same effect can be obtained depending on whether or not the carrier is washed.

【0055】〔実施例3〕次に、弾性砥石を用いた両頭
研削加工方法を、ポリッシング加工方法の前加工として
使った例を示す。装置として、図7に示す、両頭研削加
工方法とポリッシング加工方法とを組み合わせ、一つの
ラインで連続して行う装置を用いた。この場合、両頭研
削条件として、GC#3000の、外径φ585mm、
内径φ40mmのディスク形PVA砥石を用い、砥石回
転数を800rpmとし、アルミ基板両面から、合計3
0μm除去するようNCにより切込み量を制御した。そ
して互いに反対方向に回転するPVA砥石の中心穴から
加工面に水溶性研削液を連続的に供給した。また、砥石
のキャリアの入口と出口側とのそれぞれに、前記図4
(b)に示した工作物回転制動手段(コイルばね4aと
してばね定数3N/mのものを用い、ゴム製の制動体4
bを0.1Nでアルミ基板Wに押付けた)を配設して研
削加工を行った。また、キャリアの洗浄は、図7に示す
ポリッシング加工装置10の下流側に設けた洗浄機構1
1のうち、回転ブラシ13は工作物の傷つきが生じる恐
れがあるため使わず、洗浄水(供給ノズル12)のみ使
用した。ポリッシング加工条件は、実施例1と同じ条件
とし、磁気ディスク用JIS5086系アルミニウム合
金製基板を連続的にポリッシング加工するようにした。
[Embodiment 3] Next, an example in which a double-headed grinding method using an elastic grindstone is used as a pre-processing of a polishing method will be described. As the apparatus, an apparatus shown in FIG. 7 that combines the double-sided grinding method and the polishing method and performs the processing continuously in one line was used. In this case, the double-sided grinding conditions were as follows: GC # 3000, outer diameter φ585 mm,
Using a disk-shaped PVA grinding wheel with an inner diameter of φ40 mm, the rotation speed of the grinding wheel is 800 rpm, and a total of 3
The depth of cut was controlled by NC so as to remove 0 μm. Then, a water-soluble grinding fluid was continuously supplied to the processing surface from the center hole of the PVA grinding wheel rotating in the opposite direction. In addition, the carrier shown in FIG.
(B) a workpiece rotation braking means (using a coil spring 4a having a spring constant of 3 N / m;
b was pressed against the aluminum substrate W at 0.1 N) to perform grinding. The cleaning of the carrier is performed by a cleaning mechanism 1 provided on the downstream side of the polishing apparatus 10 shown in FIG.
Among them, the rotating brush 13 was not used because the work piece might be damaged, and only the washing water (supply nozzle 12) was used. Polishing conditions were the same as those in Example 1, and a JIS 5086-based aluminum alloy substrate for a magnetic disk was continuously polished.

【0056】以上の条件により、まず比較のために、両
頭研削加工を用いず、ポリッシング加工のみで30μm
の除去量の加工を行ったが、パッドが過負荷による焼き
付きを起こし加工できなくなった。したがって、本発明
ポリッシング加工方法でも、仕上げ加工の除去量(加工
量)が多くなった場合には、両頭研削加工などの前加工
を入れた方が良いことが分かる。
Under the above conditions, first, for comparison, 30 μm was obtained by polishing only, without using double-headed grinding.
However, the pad was burned due to overload, and could not be processed. Therefore, it can be seen that in the polishing method of the present invention, when the removal amount (processing amount) of the finishing processing is large, it is better to insert a pre-processing such as double-sided grinding.

【0057】更に、比較のために、ポリッシング加工を
用いず、両頭研削加工のみで30μmの除去量の加工を
行った。この結果、除去量は工作物の両面合計で30μ
mの除去量を得ることができたが、工作物の表面粗さは
150〜180ÅRa程度の粗いものしか得ることがで
きなかった。
Further, for comparison, a processing with a removal amount of 30 μm was performed only by double-head grinding without using polishing. As a result, the removal amount was 30 μm in total on both sides of the workpiece.
Although a removal amount of m could be obtained, the surface roughness of the workpiece could only be as high as about 150 to 180 ° Ra.

【0058】これに対し、前記条件にて、両頭研削加工
方法をポリッシング加工方法の前加工として使った本発
明ポリッシング加工例を実施した結果、連続的に加工さ
れた800枚全てのアルミニウム合金製基板は、工作物
の両面合計で30μmの除去量を得ることができるとと
もに、表面粗さが100〜130ÅRaのレベルで維持
されていた。したがって、両頭研削加工と組み合わせる
と、表面粗さを小さくできるとともに、除去量を大きく
とれるなどの相乗効果があることが分かる。
On the other hand, under the above-mentioned conditions, the polishing example of the present invention using the double-headed grinding method as a pre-processing of the polishing method was carried out. As a result, all 800 aluminum alloy substrates continuously processed were obtained. Was able to obtain a removal amount of 30 μm in total on both surfaces of the workpiece, and the surface roughness was maintained at a level of 100 to 130 ° Ra. Therefore, it can be seen that when combined with the double-sided grinding, there is a synergistic effect that the surface roughness can be reduced and the removal amount can be increased.

【0059】更に、この両頭研削加工を用いた場合の本
発明ポリッシング加工例は、いずれも両頭研削加工工程
において、前記図8(b)に示した工作物回転制動手段
24を用いたために、アルミニウム合金製基板表面に異
なった向きの研削条痕や、工作物の端面の傷つきは無か
った。
Further, in any of the polishing examples of the present invention in which this double-head grinding is used, the work rotation braking means 24 shown in FIG. There were no grinding marks in different directions on the surface of the alloy substrate, and no damage on the end face of the workpiece.

【0060】[0060]

【発明の効果】以上述べたように、本発明のポリッシン
グ加工方法によれば、より高精度に表面粗さを小さく研
磨加工できるポリッシング加工方法の性能は保持したま
まで、加工工程を連続化することができる。しかも、工
作物の加工枚数を増加ないし長時間連続運転しても、工
作物の表面精度を維持することができる。従って、要求
品質に対応した工作物の仕上げ加工の自動化や、更に仕
上げ加工の前後の工程とを一貫させた生産システムの自
動化が図れるなど、生産性の向上に対して大いに貢献す
ることができる。
As described above, according to the polishing processing method of the present invention, the processing steps can be continued while maintaining the performance of the polishing processing method capable of polishing with less surface roughness with higher accuracy. be able to. Moreover, the surface accuracy of the workpiece can be maintained even when the number of processed workpieces is increased or when the workpiece is continuously operated for a long time. Therefore, it is possible to greatly contribute to improvement of productivity such as automation of finishing of a workpiece corresponding to required quality, and automation of a production system in which processes before and after finishing are integrated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1(a)、(b)は本発明ポリッシング加工
方法の原理を示し、パッド間に工作物を連続的に通過さ
せてポリッシング加工する様子を示した説明図である。
FIGS. 1A and 1B are explanatory views showing the principle of a polishing method according to the present invention and showing a state in which a workpiece is continuously passed between pads to perform a polishing process. FIG.

【図2】本発明ポリッシング加工方法に用いるベルト状
キャリアタイプの装置の実施態様を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing an embodiment of a belt-type carrier type apparatus used in the polishing method of the present invention.

【図3】本発明ポリッシング加工方法に用いるベルト状
キャリアタイプの装置の他の実施態様を示す説明図であ
る。
FIG. 3 is an explanatory view showing another embodiment of a belt-type carrier type device used in the polishing method of the present invention.

【図4】本発明ポリッシング加工方法に用いるベルト状
キャリアタイプの装置の他の実施態様を示す説明図であ
る。
FIG. 4 is an explanatory view showing another embodiment of a belt-type carrier type apparatus used in the polishing method of the present invention.

【図5】本発明ポリッシング加工方法に用いるベルト状
キャリアタイプの装置の他の実施態様を示す説明図であ
る。
FIG. 5 is an explanatory view showing another embodiment of a belt type carrier type apparatus used in the polishing method of the present invention.

【図6】本発明ポリッシング加工方法に用いる円板状キ
ャリアタイプの装置の実施態様を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory view showing an embodiment of a disc-shaped carrier type device used in the polishing method of the present invention.

【図7】本発明ポリッシング加工方法の別の実施態様を
示し、ポリッシング加工の前に両頭研削加工を行う装置
の概要を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory view showing another embodiment of the polishing method of the present invention and showing an outline of an apparatus for performing double-disc grinding before polishing.

【図8】本発明ポリッシング加工方法に用いる両頭研削
加工装置の概要を示す説明図である。
FIG. 8 is an explanatory view showing an outline of a double-head grinding apparatus used in the polishing method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…キャリア 2、3…パッド 4…スラリー供給口 5…スラリー 6…キャリアのポケット部 7…プレート 8…ローダー 9…アンローダ
ー 10…ポリッシング加工装置 11…洗浄機構 12…洗浄水供給ノズル 13…回転ブラ
シ 14…キャリア 15、16…キャリア
駆動手段 20…両頭研削加工装置 21…弾性砥石
回転駆動軸 22、23…弾性砥石 24…工作物回
転制動手段 W…円板状工作物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Carrier 2, 3 ... Pad 4 ... Slurry supply port 5 ... Slurry 6 ... Carrier pocket part 7 ... Plate 8 ... Loader 9 ... Unloader 10 ... Polishing apparatus 11 ... Cleaning mechanism 12 ... Cleaning water supply nozzle 13 ... Rotation Brush 14 Carrier 15, 16 Carrier driving means 20 Double-head grinding machine 21 Elastic grindstone rotation drive shaft 22, 23 Elastic grindstone 24 Workpiece rotation braking means W Disc-shaped workpiece

フロントページの続き (72)発明者 山口 秀隆 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 原 宣宏 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内Continued on the front page (72) Inventor Hidetaka Yamaguchi 1-5-5 Takatsukadai, Nishi-ku, Kobe City Inside Kobe Steel Research Institute, Kobe Steel Co., Ltd. (72) Inventor Nobuhiro Hara 1-5-5, Takatsukadai, Nishi-ku, Kobe City No.Kobe Steel Works, Kobe Research Institute

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 平板状工作物を所定間隔で多数保持した
キャリアを、相対向して回転するパッドの間に連続的に
通過させつつ、前記パッドの表面に遊離砥粒を含むスラ
リーを供給するとともに、各パッドを平板状工作物の表
面にそれぞれ押しつけ、平板状工作物の平行な両面の研
磨を同時かつ連続的に行うことを特徴とするポリッシン
グ加工方法。
1. A slurry containing loose abrasive grains is supplied to the surface of a pad while continuously passing a plurality of carriers holding a plurality of flat workpieces at predetermined intervals between pads rotating opposite to each other. A polishing method, wherein each pad is pressed against the surface of a plate-shaped workpiece, and polishing of both parallel surfaces of the plate-shaped workpiece is performed simultaneously and continuously.
【請求項2】 前記キャリアが循環使用される無端状キ
ャリアであり、該無端状キャリアを前記パッドの間に通
過させる前および/または通過させた後に、キャリアを
洗浄し、キャリアに付着しているスラリーを除去する請
求項1に記載のポリッシング加工方法。
2. The method according to claim 1, wherein the carrier is an endless carrier that is circulated and used, and the carrier is washed and attached to the carrier before and / or after the endless carrier is passed between the pads. The polishing method according to claim 1, wherein the slurry is removed.
【請求項3】 前記パッドの上流側で、かつキャリアの
走行経路上に、相対向して回転する弾性砥石を配置し、
該弾性砥石の間に、前記キャリアに保持された平板状工
作物を連続的に通過させ、平板状工作物の平行な両面を
同時かつ連続的に研削する両頭研削加工を行う請求項1
または2に記載のポリッシング加工方法。
3. An elastic grindstone rotating opposite to the pad is disposed on the upstream side of the pad and on the traveling path of the carrier.
2. A double-head grinding process for continuously passing a plate-like workpiece held by the carrier between the elastic whetstones and simultaneously and continuously grinding both parallel surfaces of the plate-like workpiece.
Or the polishing method according to 2.
【請求項4】 前記弾性砥石がPVA系砥石である請求
項3に記載のポリッシング加工方法。
4. The polishing method according to claim 3, wherein the elastic grindstone is a PVA grindstone.
【請求項5】 前記平板状工作物がアルミである請求項
1乃至4のいずれか1項に記載のポリッシング加工方
法。
5. The polishing method according to claim 1, wherein the flat workpiece is aluminum.
【請求項6】 前記アルミが、磁気ディスク用アルミ基
板である請求項5に記載のポリッシング加工方法。
6. The polishing method according to claim 5, wherein the aluminum is an aluminum substrate for a magnetic disk.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005095053A1 (en) * 2004-03-31 2005-10-13 Japan Science And Technology Agency Linearly advancing polishing method and apparatus
JP2007210045A (en) * 2006-02-07 2007-08-23 Kobe Steel Ltd High-speed double-disk polishing method and double-end polishing apparatus
KR100776014B1 (en) 2006-06-29 2007-11-15 주식회사 싸이노스엔지니어링 In-line lapping and polishing system
JP2009039827A (en) * 2007-08-09 2009-02-26 Fujitsu Ltd Polishing apparatus, substrate manufacturing method, and electronic device manufacturing method
JP2016055413A (en) * 2014-09-12 2016-04-21 株式会社東芝 Surface treatment apparatus and surface treatment method
CN112643440A (en) * 2020-12-18 2021-04-13 望江县天长光学仪器有限公司 Spacer ring deburring device for optical instrument production
JP6999205B1 (en) * 2020-10-06 2022-01-18 ユアサ化成株式会社 Polishing system

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005095053A1 (en) * 2004-03-31 2005-10-13 Japan Science And Technology Agency Linearly advancing polishing method and apparatus
KR100806949B1 (en) 2004-03-31 2008-02-22 도꾸리쯔교세이호징 가가꾸 기쥬쯔 신꼬 기꼬 Linearly advancing polishing method and apparatus
JP2007210045A (en) * 2006-02-07 2007-08-23 Kobe Steel Ltd High-speed double-disk polishing method and double-end polishing apparatus
KR100776014B1 (en) 2006-06-29 2007-11-15 주식회사 싸이노스엔지니어링 In-line lapping and polishing system
JP2009039827A (en) * 2007-08-09 2009-02-26 Fujitsu Ltd Polishing apparatus, substrate manufacturing method, and electronic device manufacturing method
JP2016055413A (en) * 2014-09-12 2016-04-21 株式会社東芝 Surface treatment apparatus and surface treatment method
JP6999205B1 (en) * 2020-10-06 2022-01-18 ユアサ化成株式会社 Polishing system
JPWO2022074738A1 (en) * 2020-10-06 2022-04-14
CN112643440A (en) * 2020-12-18 2021-04-13 望江县天长光学仪器有限公司 Spacer ring deburring device for optical instrument production

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