JP2013521470A - 飛行時間型質量分析法におけるパルス化質量校正 - Google Patents
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Abstract
Description
ペルフルオロケロシン(PFK)又はペルフルオロトリブチルアミン(PFTBA)などの校正物質を、イオン源に一定の時間導入することと、
校正物質の質量スペクトルを記録することと、
校正物質イオンのm/Q比と測定されたそれらの飛行時間との間の経験的関係を決定することと、
イオン源の中への校正物質の導入を停止することと、
GC−HRTOFMS分析のための試料を承認することと、
実行全体を通して、いわゆる「ロックマス」をモニタリングすることによって分析の間の一時的なドリフトを補償することと
という工程が含まれる。
となり、このときaとbとは定数であり、iは質量校正に使用されるイオンの指数である。いくつかの実施形態において、既知の質量電荷比を有する多くのイオンを提供する校正物質が導入されると、方程式(1)は、データ配列[ti,Mi]に適合する。次に、校正物質が除去され、単一のロックマスの飛行時間が、分析実行の全体を通して測定される。測定した飛行時間は、ドリフトに対する定数aを補正するために使用する。図3は、この単一パラメータのドリフト補償の典型的な結果を説明する。
Claims (16)
- クロマトグラフィーシステムと直列配置され且つ流体連通している質量分析計から得た質量電荷比測定値を校正する方法であって、
i)分析実行中に、イオン源を備えた質量分析計に校正物質を導入することであって、前記質量分析計の前記イオン源において校正物質と試料物質とが同時にほぼ存在しないように、当該分析実行のために試料をクロマトグラフィーシステムに導入した後で且つ前記試料の分析が完了する前に前記導入を行うようにし、
ii)前記分析実行中に、前記校正物質の多数の質量スペクトルを取得し、
iii)前記分析実行中に導入した前記校正物質から得た質量スペクトルに基づいて、多数の質量校正を計算すること
を含む方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記クロマトグラフィーシステムは、包括的二次元ガスクロマトグラフを備え、
前記校正物質は、多数の二次カラム不感帯中に前記質量分析計のイオン源にパルス導入されることを特徴とする方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記クロマトグラフィーシステムはガスクロマトグラフを備え、
キャリアガス流を用いることにより前記校正物質を前記質量分析計に送出することを含む方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記分析実行中に、少なくとも2つの質量校正パラメータの一時的なドリフトを補償することをさらに含む方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記校正物質は前記イオン源にパルス導入される方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記導入は、前記校正物質をヘリウムガス流に注入することを含む方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記質量分析計は飛行時間型質量分析計を備える方法。 - イオン源を備える飛行時間型質量分析計と、
前記飛行時間型質量分析計に操作可能に接続されたクロマトグラフィーシステムと、
前記飛行時間型質量分析計と遮断可能に流体連通する校正物質源と、
制御部とを備え、
当該制御部は、
前記クロマトグラフィーシステムに試料を導入し、
前記飛行時間型質量分析計の前記イオン源に校正物質と試料物質とが同時に存在しないように、前記試料が前記クロマトグラフィーシステムに導入された後で且つ前記試料の分析が完了する前に、前記校正物質源から前記校正物質を前記飛行時間型質量分析計に導入し、
前記分析実行中に前記校正物質の多数の質量スペクトルを取得し、
前記分析実行中に導入した前記校正物質から得た質量スペクトルに基づいて、多数の質量校正を計算するよう構成されているシステム。 - 請求項8に記載のシステムにおいて、
前記制御部は、
キャリアガス源と、
弁を備え且つ前記キャリアガス源と前記校正物質源との間を流体連通させる第1の流路と、
弁を備え且つ前記キャリアガス源と前記飛行時間型質量分析計との間を流体連通させる第2の流路と、
前記校正物質源と前記飛行時間型質量分析計との間を流体連通させる第3の流路と
を備えるシステム。 - 請求項9に記載のシステムにおいて、
前記キャリアガス源はヘリウムガス源を備えるシステム。 - 請求項9に記載のシステムにおいて、
前記キャリアガス源は水素ガス源を備えるシステム。 - 請求項8に記載のシステムにおいて、
前記校正物質源は、ペルフルオロケロシン(PFK)、ペルフルオロトリブチルアミン(PFTBA)、ペルフルオロメチルデカリン(PFD)、又はこれらの組み合わせの物質源であるシステム。 - 請求項8に記載のシステムにおいて、
前記クロマトグラフィーシステムは、包括的二次元ガスクロマトグラフを備え、
前記制御部は、多数の二次カラム不感帯中に、前記校正物質源からの校正物質を前記質量分析計の前記イオン源にパルス導入するように構成されるシステム。 - 請求項8に記載のシステムにおいて、
前記クロマトグラフィーシステムに操作可能に接続された試料源をさらに備えるシステム。 - 請求項8に記載のシステムにおいて、
前記クロマトグラフィーシステムに操作可能に接続されたキャリアガス源をさらに備えシステム。 - 請求項8に記載のシステムにおいて、
メモリを有し且つ前記制御部が計算した多数の質量校正を格納及び表示するよう構成されているプロセッサをさらに備えるシステム。
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