JP7390270B2 - 質量分析システム及び変換式補正方法 - Google Patents
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Description
実施形態に係る質量分析システムは、検索部、特定部、及び、補正部を有する。検索部は、試料に対して飛行時間型質量分析を適用することにより得られた対象マススペクトルをライブラリ内の登録マススペクトル群と照合することにより、試料に含まれる化合物を判定する。特定部は、化合物について実測された飛行時間を実測値として特定すると共に、化合物についての理論上の質量電荷比を理論値として特定する。補正部は、実測値及び理論値の組に基づいて、飛行時間から質量電荷比を求める変換式を補正する。
最初に、飛行時間tから質量電荷比m/zを求める変換式について説明しておく。変換式は、例えば、N次多項式としてり構成される。ここで、Nは例えば4である。以下の(1)式は、変換式の一例である。但し、(1)式は、z=1、つまり一価を前提としており、(1)式の左辺において電荷zは省略されている。
Claims (9)
- 試料に対して飛行時間型質量分析を適用することにより得られた対象マススペクトルをライブラリ内の登録マススペクトル群と照合することにより、前記試料に含まれる化合物を判定する検索部と、
前記化合物について実測された飛行時間を実測値として特定すると共に、前記化合物についての理論上の質量電荷比を理論値として特定する特定部と、
前記実測値及び前記理論値の組に基づいて、飛行時間から質量電荷比を求める変換式を補正する補正部と、
を含み、
前記試料に対して飛行時間型質量分析を適用することにより飛行時間スペクトルが生成され、
前記対象マススペクトルは、飛行時間から質量電荷比を求める変換式に従って前記飛行時間スペクトルを変換することにより得られたマススペクトルである、
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1記載の質量分析システムにおいて、
前記試料から取り出された一連の成分に対して飛行時間型質量分析を繰り返し適用することにより飛行時間スペクトル列を生成する質量分析部と、
前記変換式に従って前記飛行時間スペクトル列からマススペクトル列を生成する変換部と、
を含み、
前記マススペクトル列から前記対象マススペクトルが生成又は選択され、
前記特定部は、前記対象マススペクトルに含まれる化合物ピークに対応する飛行時間を前記実測値として特定する、
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項2記載の質量分析システムにおいて、
前記対象マススペクトルは、前記マススペクトル列から生成された積算マススペクトルである、
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項2記載の質量分析システムにおいて、
前記飛行時間スペクトル列を記憶しておく記憶部を含み、
前記変換部は、前記補正部により補正された変換式を前記記憶部から読み出された飛行時間スペクトル列の全部又は一部に対して適用する、
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1記載の質量分析システムにおいて、
前記試料から取り出された一連の成分に対して電子イオン化法に従う飛行時間型質量分析を繰り返し適用することにより第1の飛行時間スペクトル列を生成し、前記試料から取り出された一連の成分に対して前記電子イオン化法よりもソフトな別のイオン化法に従う飛行時間型質量分析を繰り返し適用することにより第2の飛行時間スペクトル列を生成する質量分析部と、
飛行時間から質量電荷比を求める第1変換式に従って前記第1の飛行時間スペクトル列から第1のマススペクトル列を生成し、飛行時間から質量電荷比を求める第2変換式に従って前記第2の飛行時間スペクトル列から第2のマススペクトル列を生成する変換部と、
を含み、
前記対象マススペクトルは、前記第1のマススペクトル列から生成又は選択された第1の対象マススペクトルであり、
前記特定部は、前記第2のマススペクトル列から生成又は選択された第2の対象マススペクトルに含まれる化合物ピークに対応する飛行時間を前記実測値として特定し、
前記補正部は、前記第1の対象マススペクトルに基づいて特定される前記理論値及び前記第2の対象マススペクトルに基づいて特定される前記実測値に基づいて前記第2変換式を補正する、
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項5記載の質量分析システムにおいて、
前記第1の対象マススペクトルは、前記第1のマススペクトル列から生成された第1の積算マススペクトルであり、
前記第2の対象マススペクトルは、前記第2のマススペクトル列から生成された第2の積算マススペクトルである、
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項5記載の質量分析システムにおいて、
前記第2の飛行時間スペクトル列を記憶しておく記憶部を含み、
前記変換部は、前記補正部により補正された第2変換式を前記記憶部から読み出された第2の飛行時間スペクトル列の全部又は一部に対して適用する、
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1記載の質量分析システムにおいて、
前記検索部は、複数の対象マススペクトルを前記登録マススペクトル群と照合することにより、前記試料に含まれる複数の化合物を特定し、
前記特定部は、前記複数の化合物について実測された複数の飛行時間を複数の実測値として特定すると共に、前記複数の化合物についての理論上の複数の質量電荷比を複数の理論値として特定し、
前記補正部は、前記複数の実測値及び前記複数の理論値からなる複数の組に基づいて複数の補正係数を演算し、前記複数の補正係数に基づいて前記変換式を補正するための関数を演算する、
ことを特徴とする質量分析システム。 - 試料から得られた対象マススペクトルをライブラリ内の登録マススペクトル群と照合することにより、前記試料に含まれる化合物を判定する工程と、
前記化合物について実測された飛行時間を実測値として特定する工程と、
前記化合物についての理論上の質量電荷比を理論値として特定する工程と、
前記実測値及び前記理論値の組に基づいて、飛行時間から質量電荷比を求める変換式を補正する工程と、
を含み、
前記試料に対して飛行時間型質量分析を適用することにより飛行時間スペクトルが生成され、
前記対象マススペクトルは、飛行時間から質量電荷比を求める変換式に従って前記飛行時間スペクトルを変換することにより得られたマススペクトルである、
ことを特徴とする変換式補正方法。
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JP2007256126A (ja) | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析システム |
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JP2013521470A (ja) | 2010-02-26 | 2013-06-10 | ゾイクス コーポレーション | 飛行時間型質量分析法におけるパルス化質量校正 |
JP2016026302A (ja) | 2011-02-23 | 2016-02-12 | レコ コーポレイションLeco Corporation | 飛行時間型質量分析計での飛行時間ドリフトの補正 |
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