CN114270473A - 自适应本征锁定质量校正 - Google Patents
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- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 90
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 title description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 100
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 42
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 40
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 176
- 239000012491 analyte Substances 0.000 claims description 71
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 17
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 16
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 28
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 28
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 27
- 238000010828 elution Methods 0.000 description 19
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 14
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 11
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 10
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 10
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 7
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 7
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 7
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 6
- 238000004811 liquid chromatography Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000000132 electrospray ionisation Methods 0.000 description 5
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 5
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 5
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 5
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 238000000688 desorption electrospray ionisation Methods 0.000 description 4
- 238000001698 laser desorption ionisation Methods 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000005295 random walk Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 3
- 238000002045 capillary electrochromatography Methods 0.000 description 2
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 description 2
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000001211 electron capture detection Methods 0.000 description 2
- 238000001077 electron transfer detection Methods 0.000 description 2
- 238000010265 fast atom bombardment Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 2
- 238000000091 laser ablation electrospray ionisation Methods 0.000 description 2
- 238000000816 matrix-assisted laser desorption--ionisation Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 102100022704 Amyloid-beta precursor protein Human genes 0.000 description 1
- 208000035699 Distal ileal obstruction syndrome Diseases 0.000 description 1
- 101000823051 Homo sapiens Amyloid-beta precursor protein Proteins 0.000 description 1
- 238000007476 Maximum Likelihood Methods 0.000 description 1
- 238000012614 Monte-Carlo sampling Methods 0.000 description 1
- 238000012952 Resampling Methods 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000032005 Spinocerebellar ataxia with axonal neuropathy type 2 Diseases 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 1
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- DZHSAHHDTRWUTF-SIQRNXPUSA-N amyloid-beta polypeptide 42 Chemical compound C([C@@H](C(=O)N[C@@H](C)C(=O)N[C@@H](CCC(O)=O)C(=O)N[C@@H](CC(O)=O)C(=O)N[C@H](C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CO)C(=O)N[C@@H](CC(N)=O)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](C)C(=O)N[C@H](C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](CCSC)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)NCC(=O)NCC(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)N[C@@H](C)C(O)=O)[C@@H](C)CC)C(C)C)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CC(C)C)NC(=O)[C@H](CCCCN)NC(=O)[C@H](CCC(N)=O)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CCC(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC(O)=CC=1)NC(=O)CNC(=O)[C@H](CO)NC(=O)[C@H](CC(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@H](CCCNC(N)=N)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@H](CCC(O)=O)NC(=O)[C@H](C)NC(=O)[C@@H](N)CC(O)=O)C(C)C)C(C)C)C1=CC=CC=C1 DZHSAHHDTRWUTF-SIQRNXPUSA-N 0.000 description 1
- 238000004164 analytical calibration Methods 0.000 description 1
- 238000000065 atmospheric pressure chemical ionisation Methods 0.000 description 1
- 208000033361 autosomal recessive with axonal neuropathy 2 spinocerebellar ataxia Diseases 0.000 description 1
- 238000013476 bayesian approach Methods 0.000 description 1
- 238000013398 bayesian method Methods 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000005251 capillar electrophoresis Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000000451 chemical ionisation Methods 0.000 description 1
- 238000004587 chromatography analysis Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000375 direct analysis in real time Methods 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 238000012063 dual-affinity re-targeting Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000007515 enzymatic degradation Effects 0.000 description 1
- 230000006862 enzymatic digestion Effects 0.000 description 1
- 238000004992 fast atom bombardment mass spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000004817 gas chromatography Methods 0.000 description 1
- 238000000165 glow discharge ionisation Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-RNFDNDRNSA-N nickel-63 Chemical compound [63Ni] PXHVJJICTQNCMI-RNFDNDRNSA-N 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000004808 supercritical fluid chromatography Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0009—Calibration of the apparatus
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
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Abstract
一种校正质谱数据的方法包括：使用具有已知质荷比(m/z)值或先前质量测量的质荷比(m/z)值的校准物在一个或多个校准时间(tl)进行第一本征成分(A、B、C)的校准测量；列出在一个以上的采集期间存在的第二本征成分(D、E、F)列表，其中所述第二本征成分的质荷比(m/z)值在一个或多个校准时间(tl)期间或接近校准时间(tl)的时间不存在或未被观察到，但是在时间上确实与所述第一本征成分(A、B、C)重叠；并且利用所述列表计算一个或多个采集期的质量或质荷比(m/z)校正系数，所述采集期在时间上不接近或邻近与包含直接校准的质荷比(m/z)值的采集期。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年8月30日提交的美国临时专利申请第62/894298号的优先权和其利益。本申请的全部内容通过引用并入本文中。本申请要求于2019年8月30日提交的英国专利申请第1912494.0号的优先权和其利益。本申请的全部内容通过引用并入本文中。
技术领域
本发明总体上涉及校正质谱数据的方法、质谱仪和质谱分析方法。公开了涉及一种改进的锁定质量校正方法的各种实施方案，该方法能够在质谱采集期间进行或应用一系列校准测量，其中质谱数据可根据一系列校准测量进行校正。
背景技术
众所周知，高分辨率质量分析仪或质谱仪的精度受限于其对环境因素(如温度和电源稳定性)的敏感性。
高分辨率质量分析仪或质谱仪的精度也可能受到被分析样品的各种块体性质的影响。例如，与被分析样品有关的空间电荷效应可能影响高分辨率质量分析仪或质谱仪的分辨率。
众所周知，为了提高高分辨率质量分析仪或质谱仪的精度，定期对质量分析仪或质谱仪进行校准。校准质量分析仪或质谱仪的过程可以包括生成或使用与一个或多个充分表征的分析物有关的一个或多个测试信号，以便监测并校正校准移位。高分辨率质量分析仪或质谱仪的一般精度损失可以表征或近似为与一阶校准移位有关(尽管也可考虑高阶校准移位)。
已知有各种技术试图校正这种校准移位。已知的技术大致分为两类，即：(i)非本征校正方法；以及(ii)本征校正方法。
校准移位可以发生在特征时间尺度上。因此，只有在与生成测试信号的时间足够接近的情况下，才能以足够的精度确定校准校正，该校准校正在理想情况下，应当应用于获得的质谱数据，以校正这种校准移位。因此，可以理解的是，如果在生成测试信号之间有一段合理的时间，那么质量分析仪或质谱仪的校准可能在测试信号之间开始漂移。可以通过在受控条件下(例如在温控环境室中)研究仪器来确定，或者仅仅通过在自然变化的环境中运行已知样品来确定校准漂移所涉及的时间尺度(或多个时间尺度)。
已知的非本征校正方法通常涉及在操作模式下定期运行仪器或质谱仪，其中仪器或质谱仪中引入外部锁定质量样品或校准物，并获取与锁定质量样品或外部校准物相对应的质谱数据。可以基于已知锁定质量离子的确定质量或质荷比调整或校正分析物离子的质量或质荷比。
锁定质量样品或外部校准物可以通过单独的专用机械装置被供应或以其他方式引入到仪器或质谱仪中，单独的专用机械装置可以与可用于运送或引入一个或多个分析物样品的相应的机械装置单独分开。锁定质量样品或外部校准物可以通过单独的、不同的或专用的离子源被供应或引入到仪器或质谱仪中。例如，众所周知，提供了具有两个单独的电喷雾电离(“ESI”)离子源的仪器或质谱仪。第一电喷雾电离离子源可用于电离样品并产生分析物离子，而第二单独电喷雾离子源可以包括专用的电喷雾电离离子源，其只是用于将锁定质量样品或外部校准物引入到仪器或质谱仪中以进行质量校准目的。
可以理解的是，已知的非本征校正方法涉及引入锁定质量样品或外部校准物而使得样品分析以及因此感兴趣的分析物离子的产生被定期中断，这通常是不可取的。
与锁定质量样品或外部校准物有关的质量峰不会出现在与分析物样品对应的质谱中，这有利于锁定质量数据和分析物质谱数据的纯度。然而，要求在两种不同的配置或操作模式之间反复切换仪器或质谱仪可能有问题。具体地，如果在实验或采集期间需要进行多次校正，那么在进行单独锁定质量采集时，将需要多次中断实验。显然，反复中断采集分析物质谱数据会导致分析物数据丢失，这是有问题的。
此外，已知的非本征校正方法需要提供附加的专用离子源以将锁定质量物质或外部校准物引入到仪器或质谱仪中。要求提供单独的专用锁定质量离子源会引起额外的复杂性(包括机械和电气)，并涉及附加的成本。
已知的本征校正方法与非本征校正方法不同，因为根据已知的本征校正方法，有效用作锁定质量或校准物的物质已经存在于一些或所有的分析物频谱中。本征锁定质量物质或校准物可以是与被分析的分析物样品内源或外源的。例如，如果本征锁定质量是与分析物样品外源的，那么可能在样品电离之前将锁定质量或校准物添加到样品中。如果锁定质量或校准物是与分析物样品内源的，那么锁定质量或校准物可以包括化学背景离子或样品本身的另一种成分。
与已知的非本征校正方法相比，已知的本征校正方法的优点是不需要中断采集分析物数据。然而，如果在电离作用之前将非原生的(外源性的)锁定质量的化合物添加到样品中，那么在分析物物质和添加的锁定质量物质之间就可能发生干扰，这可能影响到分析物和锁定质量物质的测量精度。另外，如果使用内源性成分(如背景离子)来校准仪器，那么可能出现抑制这种成分的情况。
US-9418824(Micromass)公开了一种质谱分析方法，该方法包括在时间T0初步校准或重新校准质谱仪，并且同时测量一个或多个锁定质量离子的飞行时间或质荷比M0。虽然US-9418824(Micromass)涉及一种改进的校准质谱仪的方法，但US-9418824(Micromass)并没有解决上面讨论的一些问题。
因此，希望提供一种改进的质谱数据校正方法、质谱仪和质谱分析方法，具体地希望通过提供一种改进的仪器校正方法来提高高分辨率质量分析仪或质谱仪的精度。
发明内容
根据一方面，提供了一种校正质谱数据的方法，包括：
使用具有已知质荷比(m/z)值或先前质量测量的质荷比(m/z)值的校准物在一个或多个校准时间进行(直接)校准测量；
列出在一个以上的采集期间存在的本征成分列表，其中所述成分的质荷比(m/z)值在一个或多个校准时间期间或接近校准时间时没有出现或被观察到；并且
利用所述列表计算一个或多个采集期的校正系数，所述采集期在时间上不接近或邻近与含有直接校准的质荷比(m/z)值的采集期。
该列表可以包括实验中的部分或全部采集期的每种成分的一组峰值位置。
已知进行标准的锁定质量实验，其中所有需要校正的数据被认为是足够接近于校准期。与已知的方法相反，根据各种实施方案，对一个或多个采集期计算校正系数，所述采集期在时间上不接近包含直接校准的质荷比(m/z)值的采集期。
还已知锁定质量实验，其中所采用的锁定质量是在校准后立即测量的质荷比。因此，在锁定质量位置的任何校准误差不会作为系统误差被强加给所有校正的数据。锁定质量物质不需要有已知的理论质荷比，但毫无疑问仍可以直接校准。
根据各种实施方案，对一个或多个时间段进行校正，该时间段不接近或邻近包含直接校准值的时间段。根据各种实施方案，校正可以应用于与获得直接校准值的时间段相距、间隔或相隔至少有两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个或十个时间段的时间段内。单一时间段选自由以下各项组成的群组：(i)<1μs；(ii)1-10μs；(iii)10-100μs；(iv)100-1000μs；(v)1-10ms；(vi)10-100ms；(vii)100-1000ms；(viii)1-10s；(ix)10-100s；(x)100-1000s；以及(xi)>1000s。
根据另一方面，提供一种质谱分析方法，包括：
对样品进行质量分析；
在第一时间t1引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；
在所述第一时间t1或与之相关的时间进行第一外部校准测量；
识别在靠近所述第一时间t1不存在的一种或多种中间成分；并且
基于至少一些所述一种或多种中间成分，计算或确定校正系数。
根据另一方面，提供一种质谱分析方法，包括：
对样品进行质量分析；
在第一时间t1引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；
在所述第一时间t1或与之相关的时间，进行第一外部校准测量；
识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到的一种或多种中间成分；并且
基于至少一些所述一种或多种中间成分，计算或确定校正系数。
该方法还可以包括在稍后的第二时间t2引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；并且
在所述第二时间t2或与之相关的时间进行第二外部校准测量；
其中，识别一种或多种中间成分的步骤包括识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到并且在所述稍后的第二时间t2之前最后出现或最后观察到一种或多种中间成分。
根据一个方面，提供了一种质谱分析方法，包括：
对样品进行质量分析；
在第一时间t1引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；
在所述第一时间t1或与之相关的时间进行第一(外部)校准测量；
在第二时间t2引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；
在所述第二时间t2或与之相关的时间进行第二(外部)校准测量；
识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到并且在所述稍后的第二时间t2之前最后出现或最后观察到的一种或多种中间成分；并且
基于至少一些所述一种或多种中间成分，计算或确定校正系数。
根据一个方面，提供了一种质谱分析方法，包括：
对样品进行质量分析；
识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到并且在所述稍后的第二时间t2之前最后出现或最后观察到的一种或多种中间成分；并且
基于至少一些所述一种或多种中间成分，计算或确定校正系数。
本发明的各种实施方案涉及一种可用于替代或支持传统校准方法的完全本征锁定质量校正方法。
根据各种实施方案，公开了可在实验期间的一个或多个时间段内应用的一种方法，在此期间，由于另一种方法的失败(可能是暂时的)，或是由于有意减少引入外部锁定质量物质或校准物的频率以避免干扰分析物数据的采集，因此可能未获得或不存在可靠的已知锁定质量物质或校准物。
根据各种实施方案的方法可以用来改进仪器(质量分析仪和质谱仪等)的质量测量的稳健性和可重复性，这些仪器可能易受环境变化的影响，这可能导致质量精度随着时间的推移而降低。具体地，当连续采集参考化合物之间的时间过长或当参考化合物的质量测量结果受到影响时，已知的质量校正方法可能失败或否则开始变得无效。
根据各种实施方案的方法的一个优点是该方法允许降低外部锁定质量事件(或加入内部锁定质量化合物的事件)的频率。因此，根据各种实施方案的方法允许延长外部锁定质量事件之间的时间，这减少了在采集分析物数据时的任何中断。
根据各种实施方案的方法使用或依赖于被分析样品中存在的本征(分析物)成分。本征成分可以包括感兴趣的母离子或前体离子或感兴趣的碎片离子，并且这种离子可能只在相对短的时间内存在。因此，本征成分可能在采集期出现和消失，这与已知的本征校准方法不同，已知的本征校准方法依赖于化学背景离子的检测，通常预计在整个采集过程中不断观察到化学背景离子(但这些化学背景离子可能有时在采集期间的某些时间点受到抑制)。当然，各种实施方案可以附加地/可替代性地利用持久性(或接近持久性)的本征离子物质的测量。然而，本文描述的方法的有益效果是不需要使用完全持久性的物质。
根据各种实施方案的方法避免了要求精准质量测量并构建成分库(例如背景离子)，成分库用于在开始分析前的校准目的。
所述方法还可以包括：
在所述第一时间t1引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；
在所述第一时间t1或与之相关的时间，进行第一(外部)校准测量；
任选地在稍后的第二时间t2引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；并且
任选地在所述第二时间t2或与之相关的时间进行第二(外部)校准测量。
所述第一时间t1和所述第二时间t2有效地确定了扩展时间窗口的界限，在此时间窗口内，希望对感兴趣的分析物离子进行质量校准。在第一时间t1和第二时间t2之间的整个时间段内，只在第一时间t1之后和第二时间t2之前观察到至少一些用于扩展质量校准的中间成分。
校正系数可包括质量、质荷比或时间校正系数。
可以理解的是，飞行时间数据质量、质荷比和飞行时间是相互关联的。因此，设想了实施方案，其中基于确定的校正系数对质谱数据的质量、质荷比或飞行时间进行校正或调整。
校正系数还可以包括与离子迁移率分离校准有关的漂移时间校正系数。
校正系数可以包括单一的值，或者校正系数可以包括可用于调整质谱数据的质量、质荷比或飞行时间(或离子迁移率分离数据的漂移时间)的多项式方程或关系。更具体地说，校正系数可以是飞行或质量-电荷校正时间或飞行或质量-电荷校正的线性(双参数)的倍数。可以理解的是，校正系数可以例如根据它们的质荷比对感兴趣的不同分析物离子进行加权并且略有不同的应用。
所述方法可以进一步包括生成第一质谱数据集，并且使用计算或确定的校正系数校正所述第一质谱数据集的至少一部分的质量、质荷比或时间，以便生成第二质谱数据集。
相应地，第一质谱数据集可以被当作包括未经调整或不相关的质谱数据，并且第二质谱数据可以被当作包括调整的、校正的或相关的质谱数据。
所述一种或多种中间成分可以包括所述样品内的本征分析物或从所述样品产生的本征分析物离子。
与传统的方法相反，其中非本征锁定质量离子可以用于校准样品，或者其中本征背景离子可以用于校准样品，根据各种实施方案，感兴趣的本征分析物离子可用于校准样品。
用于计算或确定所述校正系数的所述一种或多种中间成分中的至少一些中间成分可以包含在与所述第一时间t1重叠和或与所述第二时间t2重叠的时间段期间存在或观察到的第一中间成分。
在与第一时间t1重叠和/或与第二时间t2重叠的时间段期间存在或观察到的第一中间成分提供了用于将质量、质荷比、飞行时间或漂移时间的校准扩展到t1和t2之间的时间段中的框架，其中t1和t2与对仪器进行精确质量校正或校准的时间相对应。由于可以在时间t1和t2精确校准仪器，所以也可以精确地质量校正或校准在与所述第一时间t1重叠和或与所述第二时间t2重叠的时间段期间存在或观察到的第一中间成分。
可以直接校准第一中间成分。
可以直接校准在与第一时间t1重叠和/或与第二时间t2重叠的时间段内存在或观察到的第一中间成分，因为可以参照已知的锁定质量离子对它们进行直接校准，其中相应的锁定质量校准事件发生在时间t1和t2。
用于计算或确定所述校正系数的所述一种或多种中间成分中的至少一些中间成分包含在与所述第一时间t1重叠和或与所述第二时间t2重叠的时间段期间不存在或未观察到的第二中间成分。
在与第一时间t1或与第二时间t2重叠的时间段内，不存在或未观察到第二中间成分。然而，第二中间成分在时间上确实与第一中间成分重叠，并且其中第一中间成分确实与第一时间t1或第二时间t2重叠。因此，可以依靠第一中间成分提供的校准框架来校准第二中间成分。由于可以在时间t1和t2精确校准仪器并且然后扩展到观察到第一中间成分的时间，那么根据各种实施方案，通过将第二中间成分与第一中间成分关联上，可以将仪器进一步校准到观察到第二中间成分的时间。
可以间接校准第二中间成分。
可以直接校准在与第一时间t1重叠和/或与第二时间t2重叠的时间段内不存在或未观察到的第二中间成分，因为可以参照第一中间成分对它们进行校准，并且其中在时间t1和t2可能发生的锁定质量校准事件中，可以相对于已知的锁定质量离子直接校准第一中间成分。
根据一些实施方案，在所述第一时间段t1和所述第二时间段t2之间连续重叠的时间段内存在或观察到至少一些所述第一中间成分和至少一些所述第二中间成分。
设想了各种不同的实施方案。根据各种实施方案，两个时间段t1和t2之间的离子可以通过以下方式进行校准：校准与时间段t1和t2重叠的离子，然后通过尝试依靠在时间段t1和t2之间观察到的不同分析物离子的连续重叠来扩展校准过程。然而，在两个时间段t1和t2之间，不同分析物离子的连续重叠并不是必要的。
根据其他实施方案，在非连续时间段内可以存在或观察到用于计算或确定校正系数的所述一种或多种中间成分。
根据其他实施方案，在不尝试依靠在时间段t1和t2之间观察到的不同分析物离子的连续重叠的情况下，可以实现离子校准。根据该实施方案，后续扫描、采集期或相邻频谱扫描中的分析物离子可用于提供定期校准。
该方法还可以包括改变施加在一个或多个离子光学元件上的一个或多个电压，以补偿计算或确定的质量、质荷比或时间的移位。
因此，各种实施方案涉及一种质量校正方法，其中仪器、质量分析仪或质谱仪的参数被实时调整，以便维持质量、质荷比或时间精度，并降低否则可能观察到的校准漂移的影响。
识别一种或多种中间成分的步骤可以包括识别在接近或邻近第一时间t1和/或第二时间t2的时间不存在的一种或多种中间成分。用于计算或确定所述校正系数的至少一些所述一种或多种中间成分包括在时间上不接近或邻近第一时间t1和/或第二时间t2的一种或多种中间成分。
当成分与第一时间t1和/或第二时间t2相距、间隔或相隔至少两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个或十个时间段时，可以认为在与第一时间t1和/或第二时间t2接近或邻近的时间上不存在该成分。单个时间段可以选自由以下各项组成的群组：(i)<1μs；(ii)1-10μs；(iii)10-100μs；(iv)100-1000μs；(v)1-10ms；(vi)10-100ms；(vii)100-1000ms；(viii)1-10s；(ix)10-100s；(x)100-1000s；以及(xi)>1000s。
根据一方面，提供了一种质谱仪，包括：
布置并适配成在第一时间t1引入外部或非本征锁定质量样品或校准物的装置；并且
控制系统，所述控制系统布置并适配成：
(i)对样品进行质量分析；
(ii)在所述第一时间t1或与之相关的时间进行第一外部校准测量；
(iii)识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到的一种或多种中间成分；并且
(iv)根据至少一些所述一种或多种中间成分计算或确定校正系数。
所述装置可以进一步布置并适配成在第二时间t2引入外部或非本征锁定质量样品或校准物，并且其中所述控制系统进一步布置并适配成：
在所述第二时间t2或与之相关的时间进行第二外部校准测量；并且
识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到并且在所述稍后的第二时间t2之前最后出现或最后观察到的一种或多种中间成分。
根据一方面，提供了一种质谱仪，包括：
布置并适配成在第一时间t1和第二时间t2引入外部或非本征锁定质量样品或校准物的装置；并且
控制系统，所述控制系统布置并适配成：
(i)对样品进行质量分析；
(ii)在所述第一时间t1或与之相关的时间进行第一外部校准测量；
(iii)在所述第二时间t2或与之相关的时间进行第二外部校准测量；
(iv)识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到并且在所述稍后的第二时间t2之前最后出现或最后观察到的一种或多种中间成分；并且
(v)根据至少一些所述一种或多种中间成分计算或确定校正系数。
根据另一方面，提供了一种具有控制系统的质谱仪，所述控制系统布置或适配成：
(i)对样品进行质量分析；
(ii)识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到并且在所述稍后的第二时间t2之前最后出现或最后观察到的一种或多种中间成分；并且
(iii)根据至少一些所述一种或多种中间成分计算或确定校正系数。
质谱仪还可以包括：布置并适配成在第一时间t1和第二时间t2引入外部或非本征锁定质量样品或校准物的装置，并且其中所述控制系统进一步布置并适配成：
(i)在所述第一时间t1或与之相关的时间进行第一(外部)校准测量；并且
(ii)在所述第二时间t2或与之相关的时间进行第二(外部)校准测量。
所述控制系统可以进一步布置并适配成生成第一质谱数据集，并且使用计算或确定的校正系数校正所述第一质谱数据集的至少一部分的质量、质荷比或时间，以便生成第二质谱数据集。
根据另一方面，提供一种质谱分析方法，包括：
对样品进行质量分析；
识别在第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域期间存在或观察到的一种或多种成分；
识别在随后的第二扫描、第二时间窗口或第二空间区域期间存在或观察到的一种或多种成分，其中所述随后第二扫描、第二时间窗口或第二空间区域与第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域相对应，是第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域重复或与之相邻；并且
基于至少一些所述一种或多种成分，计算或确定校正系数。
根据另一方面，提供了一种具有控制系统的质谱仪，所述控制系统布置或适配成：
(i)对样品进行质量分析；
(ii)识别在第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域期间存在或观察到的一种或多种成分；
(iii)识别在随后的第二扫描、第二时间窗口或第二空间区域期间存在或观察到的一种或多种成分，其中所述随后第二扫描、第二时间窗口或第二空间区域与第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域相对应，是第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域重复或与之相邻；并且(iv)根据至少一些所述一种或多种成分计算或确定校正系数。
附图说明
现在将仅以举例的方式并且参考附图来描述各个实施方案，其中：
图1示出了表示在常规锁定质量校正不可用的时间段，并且其中横条表示具有用于校准目的的具有足够优良特性的分析物离子物质的洗脱轮廓；
图2示出了在质量校正前质荷比为255的离子的滚动平均值，并且图示了在两个锁定质量校准事件之间精确校准离子的问题；
图3示出了根据实施方案校正具有质荷比为255的离子的质荷比，并且图示了根据各种实施方案可以实现质量校准的显著改进；并且
图4图示了另一个实施方案，并且示出了高能扫描质量过滤实验，其中在第一质量过滤步骤后进行碎裂，并且图示了可以通过利用在连续实验或扫描中出现的成分来实现校准，使得非连续的成分可以用于质量或质荷比校正。
具体实施方式
现在将更加详细地描述各种实施方案。根据各种实施方案，提供了本征的质荷比校准方法。该方法包括完全本征方法，其中在分析物质谱中本征或自然存在的分析物物质用于锁定质量校正。
根据各种实施方案的方法与其他已知的本征校准方法的不同之处在于，该方法依赖于检测可仅在一部分采集期内存在的分析物离子，而不是可在整个采集过程中存在的背景离子。
根据各种实施方案，本征物质可以在实验的大部分时间内存在，或可替代地本征物质可以在相对较短的时间内从分离技术(如液相色谱(“LC”)柱)中洗脱。
根据各种实施方案，提供了布置在离子源上游的色谱分析或其他分离装置的分析仪器、质量分析仪或质谱仪。色谱分析或其它分离装置可以包括液相色谱或气相色谱装置。可替代地，分离装置可以包括：(i)毛细管电泳(“CE”)分离装置；(ii)毛细管电色谱法(“CEC”)分离装置；(iii)基本刚性的陶瓷基多层微流体基板(“瓷片”)分离装置；或(iv)超临界流体色谱法分离装置。
例如，离子源可以选自由以下组成的群组：(i)电喷雾电离(“ESI”)离子源；(ii)大气压光致电离(“APPI”)离子源；(iii)大气压化学电离(“APCI”)离子源；(iv)基质辅激光解吸电离(“MALDI”)离子源；(v)激光解吸电离(“LDI”)离子源；(vi)大气压电离(“API”)离子源；(vii)硅上解吸电离(“DIOS”)离子源；(viii)电子撞击(“EI”)离子源；(ix)化学电离(“CI”)离子源；(x)场电离(“FI”)离子源；(xi)场解吸(“FD”)离子源；(xii)电感耦合等离子体(“ICP”)离子源；(xiii)快速原子轰击(“FAB”)离子源；(xiv)液相二次离子质谱法(“LSIMS”)离子源；(xv)解吸电喷雾电离(“DESI”)离子源；(xvi)镍-63放射性离子源；(xvii)大气压基质辅激光解吸电离离子源；(xviii)热喷雾离子源；(xix)大气采样辉光放电电离(“ASGDI”)离子源；(xx)辉光放电(“GD”)离子源；(xxi)撞击器离子源；(xxii)实时直接分析(“DART”)离子源；(xxiii)激光喷雾电离(“LSI”)离子源；(xxiv)超声喷雾电离(“SSI”)离子源；(xxv)基质辅入口电离(“MAII”)离子源；(xxvi)溶剂辅入口电离(“SAII”)离子源；(xxvii)解吸电喷雾电离(“DESI”)离子源；(xxviii)激光烧蚀电喷雾电离(“LAESI”)离子源；(xxix)表面辅激光解吸电离(“SALDI”)离子源；和(xxx)低温等离子体(“LTP”)离子源。
分析仪器还可以包括：(i)一个或多个离子导向器；(ii)一个或多个离子迁移率分离装置和/或一个或多个场非对称离子迁移率频谱仪装置；和/或(iii)一个或多个离子阱或一个或多个离子捕集区域。
根据方法，本征物质的精确质量可以存储在已知物质和/或背景离子的库中。
然而，使用本征物质来校准质谱数据的校准方法存在几个问题。一个具体的问题是，当分析物物质洗脱时，可能抑制用作校准目的的本征离子物质的背景离子的电离。已知方法的另一个问题是，可用的背景离子的数量和类型在洗脱时间期间会发生变化。这可能是由于，例如，应用液相色谱(LC)梯度。
当仪器的质量标度在短时间尺度内发生变化时，使用本征成分的传统校准方法有关的问题会变得特别尖锐。因此，重要的是可靠且频繁更新锁定质量校正。
各种实施方案涉及可以用于替代或支撑上述讨论的传统校准方法的完全本征方法。根据各种实施方案的方法可以应用在没有获得可靠的外部已知锁定质量物质的实验期间的一个或多个时间段内。例如，由于另一种方法的失败(可能是暂时的)，或是由于有意减少引入外部锁定质量物质的频率以避免干扰分析物数据的采集，因此可靠的已知锁定质量物质可能不可用。
根据各种实施方案，假定质量标度对于正在进行的应用或实验在时间段的开始和/或结束时是足够精确的。在时间段的开始和/或结束时，精确的质量校准可能是由于例如最近的仪器校准，或者可能是由于使用了另一种锁定质量方法(例如外部锁定质量方法)。
因此，如图1所示，精确的质量或质荷比可以被分配给样品中存在的或以其他方式在每个时间段的一个或两个端点观察到的许多离子峰。
参照图1，示出了两个竖条，代表或表示感兴趣的时间段的开始t1和结束t2。时间段例如可以包括数分钟或数十分钟。假设在感兴趣的时间段的开始(t1)和感兴趣的时间段的结束(t2)时都是充分校准仪器、质量分析仪或质谱仪。
图1中示出的横条对应于感兴趣的分析物离子物质的洗脱轮廓而不是背景离子的轮廓。图1中由横条代表的分析物离子物质可以有非常好的特性，使得该离子物质可以用于将仪器、质量分析仪或质谱仪的校准传播或扩展到感兴趣的时间段的开始(t1)与感兴趣的时间段的结束(t2)之间的中间时间。
显然，在所有时间上(以时间点T1和T2为例，该时间点仅用于说明目的)，至少两个或三个分析物离子物质被洗脱，并且可以用于校准目的。在图1中，离子物质都是在感兴趣的时间段内出现和消失的瞬时离子物质。然而，可以理解的是，这仅仅是为了说明问题，并且也可能有其他的离子物质存在于实质上跨整个感兴趣的时间段内，可以利用或者可以不利用这些其他的离子物质。
因此，仅出于说明的目的，图1中示出的分析物离子物质A、B和C洗脱的洗脱时间与时间段的开始t1重叠。由于分析物离子物质A、B和C洗脱的洗脱时间与时间段的开始t1时间重叠，所以也可以精确地校准离子物质A、B和C，并且因此可以精确校准离子的时间段可以(朝向t2)扩展超过t1。这可以作为后处理步骤来执行。
以类似的方式，图1中示出的分析物离子物质X、Y和Z洗脱的洗脱时间与时间段的结束t2重叠。由于分析物离子物质X、Y和Z洗脱的洗脱时间与时间段的结束t2时间重叠，所以也可以精确地校准离子物质X、Y和Z，并且因此可以精确校准离子的时间段(向后朝着t1)扩展到t2前。
现在可以考虑进一步的分析物离子物质，如F、D和E(以及U、V和W)，这些离子物质在第一时间t1之后才开始洗脱，并且在第二时间t2之前已经完成洗脱。
从图1可以看出，分析物离子物质F洗脱的洗脱时间与分析物离子物质A和C重叠。分析物离子物质D洗脱的洗脱时间与分析物离子物质A、B和C重叠。分析物离子物质E洗脱的洗脱时间与分析物离子物质A和C重叠。
因此，基于在已经校准的分析物离子物质A、B和C上，校准可以扩展到分析物离子物质F、D和E。
此外，分析物离子物质G和H洗脱的洗脱时间与分析物离子物质F、D和E重叠。因此，基于在校准的分析物离子物质F、D和E上，校准可以进一步扩展到分析物离子物质G和H。
在说明性的时间T1上，正在洗脱三种分析物离子物质(G、H和未标记的第三种)。三个分析物离子物质的洗脱时间与至少一个校准的分析物离子物质F、D和E重合，并且表明了如何进一步扩展校准。
本质上，在第一时间t1上，基于外部锁定质量进行校准的离子然后可用于校准一系列后期洗脱的分析物离子，如分析物离子物质F、D和E。后期洗脱的分析物离子F、D和E又可以用于校准一系列更后期洗脱的分析物离子，如G和H。
相应地，在t1之后洗脱的分析物离子可以基于一系列先前校准的分析物离子进行校准。
同样，可以后处理质谱数据，使得可以校准在稍后第二时间t2之前洗脱的离子物质，并且校准可以适用在时间上朝t1倒退。
参照图1，很明显仅间接地凭借离子物质G、H和T与早期校准的分析物离子物质F、D和E或后期校准的分析物离子物质U的重叠，来确定校正分析物离子物质G、H和T的质荷比。
在任何校准期或事件t1、t2期间，都不存在分析物离子物质F、D、E和分析物离子物质U。然而，仍然可以精确测量分析物离子物质F、D、E和U，因为在与直接校准分析物离子物质A、B和C以及直接校准在校准事件t1、t2期间存在的的分析物离子物质X、Y和Z的时间重合的时间存在或观察到这些分析物离子物质。
根据各种实施方案，可以通过与之前的频谱M-1相比较来确定第一频谱M的质量校正。
当两个扫描进行比较时，可以自信地确定两次扫描的N离子峰相同。
根据各种实施方案，可以从这个列表中去除受干扰或饱和影响的离子峰。
因此，可以为扫描1编译N个质量测量的列表：
m1＝(m11,m12,m13…m1N) (1)
相关的不确定性为：
σ1＝(σ11,σ12,σ13…σ1N) (2)
同样，可以为扫描2编译N个质量测量的列表：
m2＝(m21,m22,m23…m2N) (3)
相关的不确定性为：
σ2＝(σ21,σ22,σ23…σ2N) (4)
可以假设质量测量误差的高斯分布。此外，假设两个频谱之间的质量移位是简单的比例常数，即
那么g的最大似然值为：
图2示出了根据未校正的质谱数据的质荷比为255的离子的滚动平均值。具体地，图2示出了质荷比(m/z)为255的离子峰的50秒注入实验的时间平均质量测量，并且其中质谱数据未对校准移位进行校正。
使用正交加速飞行时间仪器或质量分析仪获取质荷比测量值。
为了模拟校准峰的色谱分析替换，使用质荷比为785和524的两个离子峰，以5s为周期交替方式计算校正。图3示出了校正后的质谱数据，并图示了根据各种实施方案可获得的质量精度的提高以及残留的统计行为。
通过利用数据中尽可能多的峰值，在可能的情况下将跨非连续采集时间段的特征链接在一起，并且根据需要经常引入附加的非本征校准物，可以减少随机游走行为。
根据各种实施方案，可以使用预测的离子统计和预测的随机游走行为来确定非本征校准事件所需的频率。
可替代地，可以基于观察到的离子统计数据和预测的随机游走行为，实时确定附加的校准事件的需求。
如Apex3D(TM)WATERS CORPORATION(RTM)的算法可用来识别数据中感兴趣的特征或区域。特征可以包括存在于一个以上的采集期的数据中的任何物质的一个或多个同位素。由于特征的质荷比不应该随保留时间的变化而变化，因此可以将不一定是连续的扫描关联起来。这归纳了上文所述的二元方法。
一般问题可以重述为针对n1<＝n<＝n2寻找函数g(n)，其中n是采集期或扫描索引，n1和n2是有关时间区域的端点(因此g(n1)和g(n2)是已知的)。
无论是否增加了特征检测，施加平滑约束或对g(n)的形式的先前知识将有助于减少该方法的自然随机游走行为。
具体地，可以对g(n)的综合曲率或作为每单位时间的预期变化施加限制。这在后处理校正中特别有帮助，其中来自未来的信息(在时间段的末端)可以用于帮助稳定在早期时间的锁定质量校正。可以基于仪器的预先特性确定关于校正系数的预期时间相关性的先前知识，例如使用已知样品在环境室内或自然变化环境中进行测量。各种其它方法当然将是可行的。
可以使用马尔科夫链蒙特卡洛(Markov Chain Monte Carlo)方法或具体地说，嵌套抽样或许多其他优化或统计推理技术(包括贝叶斯(Bayesian)方法)中的一种来确定定义g(n)的参数。例如，使用贝叶斯方法，可以基于在任何直接校准时间的校正系数的知识以及校正系数随时间的预期变化(例如基于仪器的预先特性确定)来确定定义g(n)随时间变化的参数的先前概率分布。因此，对本征离子物质的任何测量都代表着新的数据，可以用来更新概率分布。鉴于观察到的本征离子物质，然后可以计算出定义g(n)的参数的更新后概率分布，并且之后用来推断出定义g(n)的参数在任何感兴趣的时间点的代表值，以及相关的误差范围(不确定性)值。作为这个程序的一部分，可以探索(边缘化)要被利用的成分的未知质荷比(例如检测到的Apex特征)。
函数g表示校正系数的时间相关性(可以是单参数或多参数校准表达式，如多项式)。当校正系数是多参数(如线性)校正时，与校正系数的预期时间相关性有关的先前知识可以独立地得出包括校正的每个参数(例如多项式系数)。可替代地，可以以每单位时间的协方差矩阵的形式给出具有各个参数相对应的矩阵维度的信息。
其他非质量频谱信息可用于帮助约束校正系数g(n)的行为，例如，温度测量可能与质量-电荷测量的变化已知相关。
在没有存在合适的重叠物质的区域，当前的锁定质量校正可以向前传播(或者，在后处理时，向后传播)而不改变。
可替代地，在后处理方法中，可以使用与校正系数的预期时间相关性相一致的内插法。在远离可靠测量的时候，这种内插法变得越来越不确定，并且这可以反映在这些期间内测量的校准和/或物质的成分的误差估计中。
在后处理方法中，可以按照与关于校正系数时间相关性的任何先前信息保持一致的方式在时间上向后传播校正，并且这允许校正在第一引入非本征锁定质量样品或校准物之前首先出现的成分。
该技术不限于色谱分析时间尺度的变化。还可以考虑其他的实施方案，其中在由足够高分辨率的质谱仪分析的离子迁移率(或其他分离器或质量选择离子阱)实验或扫描或步进式质量过滤器(或其他过滤器，如差分频谱仪(“DMS”))实验期间可以存在质量标度的可测量变化。
在这些情况下，“采集期”可以是单个飞行时间实验或采集的顺序，例如，可以是100μs的顺序。只要成分存在于一个以上的采集期，就有可能在所讨论的分离或扫描期间使用该信息来约束函数g(n)。
此外，技术并不局限于利用存在于一组连续的采集期的特征。例如，持久性特征有可能在某段时间内无法使用。这是可能发生的，例如，由于临时的质量干扰，这可以通过使用峰形的变化或与仪器的已知行为不一致的质量突然变化识别。由于离子抑制或离子源条件的变化，该特征也可以暂时消失或低于统计学上的有用强度。
特征重复出现和消失的其他原因包括在质谱仪中有意诱导的时间相关行为，如上所述的嵌套离子迁移率分离或扫描质量过滤实验。
图4描述了高能扫描质量过滤实验，其中在第一质量滤波步骤后进行碎裂，并图示了根据各种实施方案的方法如何扩展到非连续的质谱数据。
离子可以使用碰撞、碎裂或反应装置进行裂解。碰撞、碎裂或反应装置可以包括任何合适的碰撞、碎裂或反应装置。例如，碰撞、碎裂或反应装置可以选自由以下组成的群组：(i)碰撞诱导解离(“CID”)碎裂装置；(ii)表面诱导解离(“SID”)碎裂装置；(iii)电子转移解离(“ETD”)碎裂装置；(iv)电子捕获解离(“ECD”)碎裂装置；(v)电子碰撞或撞击解离碎裂装置；(vi)光诱导解离(“PID”)碎裂装置；(vii)激光诱导解离碎裂装置；(viii)红外辐射诱导解离装置；(ix)紫外辐射诱导解离装置；(x)喷嘴-分离器界面碎裂装置；(xi)源内碎裂装置；(xii)源内碰撞诱导解离碎裂装置；(xiii)热源或温度源碎裂装置；(xiv)电场诱导碎裂装置；(xv)磁场诱导碎裂装置；(xvi)酶消化或酶降解碎裂装置；(xvii)离子-离子反应碎裂装置；(xviii)离子-分子反应碎裂装置；(xix)离子-原子反应碎裂装置；(xx)离子-亚稳态离子反应碎裂装置；(xxi)离子-亚稳态分子反应碎裂装置；(xxii)离子-亚稳态原子反应碎裂装置；(xxiii)用于使离子反应以形成加合物或产物离子的离子-离子反应装置；(xxiv)用于使离子反应以形成加合物或产物离子的离子-分子反应装置；(xxv)用于使离子反应以形成加合物或产物离子的离子-原子反应装置；(xxvi)用于使离子反应以形成加合物或产物离子的离子-亚稳态离子反应装置；(xxvii)用于使离子反应以形成加合物或产物离子的离子-亚稳态分子反应装置；(xxviii)用于使离子反应以形成加合物或产物离子的离子-亚稳态原子反应装置；以及(xxix)电子电离解离(“EID”)碎裂装置。
根据将参照图4更详细地描述的各种实施方案，可以提供质量过滤器，质量过滤器可以以图4所示的方式在质量m1和m2之间反复扫描。在扫描期间可以记录多个飞行时间的质谱。x轴上的精细刻度表示频谱间的分界线，其中x轴表示时间。
在每次扫描期间，由横线或洗脱轮廓A、B、C、D、E、F、G表示的母离子或前体离子在一段有限的时间传送，该时间由倾斜线或斜线表示的质量过滤器的分辨率和扫描速度决定。
一些母离子或前体离子(如母离子或前体离子C和F)显示为正在裂解以产生多个碎片或子离子。这些碎片或子离子具有一定范围的质荷比，并且与它们相应的母离子或前体离子C和F同时出现或以其他方式同时被观察到。
由于完全碎裂，一些母离子或前体离子可能不在高能数据中。
只要有足够数量的成分存在于一个以上的采集时间段，并且这些成分有足够的接近性，以便在扫描过程中保留质量精度，那么根据各种实施方案的扩展校准方法(以上已参照图1-3进行描述)也可以应用于以参考图4的方式获得的质谱数据。
例如，母离子或前体离子A和B持续了几个采集时间段，并且在这些时间段中的几个时间段都存在。
同样，母离子或前体离子B和C以及母离子或前体离子C的相应碎片离子持续存在并重叠，等等。
同样的方法可以应用于存在主要是母离子或前体离子的低能量过滤扫描实验、低能量和高能量离子迁移率质谱实验以及高低能量交替的质谱MS实验(MSE)。
在连续过滤扫描或分离周期之间存在明显共性的实验中(如图4所示的两个质量过滤扫描)，连续的实验或扫描中存在的成分是上述非连续成分的特殊实例。
在注入实验和扫描或分离时间嵌套在慢速实验(如LC分离)中的实验中，可以观察到非连续的成分。
在参照图4描述的实施方案中，在第一和第二扫描开始时存在成分A约束这些时间的g(n)之间的关系。
因此，如果在第一高能扫描期间精确地测量了成分A的质量，那么即使在第一扫描期间由于某种原因无法维持质量精度，仍然有可能在第二高能扫描开始时通过有效地使用成分A作为本征锁定质量来恢复质量的精度。对于其他常见的成分和碎片也可以采用类似的方法。
贝叶斯方法的使用也允许该方法扩展到任何任意的(例如非连续的)频谱数据。例如，由于校准移位(即定义g(n)的参数)的先前概率分布是基于校正系数的预期变化，而校正系数是随时间连续定义的，因此不同时间点的推断是相关的。因此，校正系数的预期变化可以用来补偿在没有或仅相对较少的本征离子物质的任何间隙，以覆盖更大的感兴趣时间段。因此，鉴于现有的知识(包括任何测量的本征离子物质)，可以计算出涵盖所有时间的更新后概率分布。然后，更新后概率分布可用于推断任何感兴趣的时间点上的校准移位。
根据各种实施方案的方法的适用性利用了在多个采集时间段内将质谱特征识别为属于单一成分的能力。这可能仅仅是由于这些采集期在时间上比较接近，使得可以利用小的质量窗口来匹配误差概率低的成分。然而，可以有其他原因需要在采集期之间关联特征。例如，由于成像的样品在空间上接近，即使频谱的采集间隔时间很长，在MS成像实验中的两个频谱也预计会有很大的共性。例如，这两个频谱可以位于图像的连续几行上。
物质的关联可以是概率性的，而不是确定性的。可以通过约束关联频谱间可能发生的质量变化类型来辅助这个过程。具体地，通过跟踪跨不同采集期的质谱峰，并在不同采集期的质谱峰的质荷比(m/z)的变化与基于校准移位的预期变化的质荷比(m/z)随时间的变化一致时，将来自不同采集期的多个质谱峰与单一离子物质关联起来可以识别存在跨多个采集期的本征离子物质。校准移位的预期变化可以基于仪器的预先特性来确定，例如使用已知校准物在环境室进行的测量。各种其它方法当然将是可行的。
此外，如果要使用大量的物质用于质量校正，则可以使用各种已知的统计方法(如离群点剔除技术和马尔科夫链蒙特卡洛抽样方法)，以减少或消除不正确关联的影响。
许多不同的标准可以用来选择数据中适当的特征，以用于校正。例如，可以有意地将被认定为饱和或会产生干扰的数据排除在考虑范围之外。如上所述，这种选择过程可能导致包括非连续时间段的成分。
同样的方法也可用于校正质量以外的测量，如离子迁移率实验中的漂移时间。
在实时操作中，可以通过改变电压或应用于一个或多个离子光学元件的电压来校正质量标度，以补偿计算出的质量移位。可以利用反馈回路来确定所需的变化。
在计算校正时可以加入额外的项，以防止反馈回路中任何可能的不稳定或游移。例如，可以采用控制回路的优化比例-积分-导数(“PID”)类型。与上述“仅有比例项”的实例相比，这种优化的反馈回路可以能够补偿更高的频率变化。
此外，反馈参数可以使用机器学习方法进行优化。
可以使用现场可编程门阵列(“FPGA”)在线进行实时计算和询问回路中的误差信号。
与调整数据相反，调整离子到达时间的优势是在多个频谱相加时保持质量分辨率，避免了对数据进行重新取样以维持峰位和时间仓位置之间的关系。
可以理解的是，上面详细描述的各种实施方案有可能适用于所有飞行时间仪器或质量分析仪。各种实施方案也可与折叠式飞行路径仪器一起使用。具体地，根据各种实施方案的方法可以在折叠飞行路径仪器上实施，以解决折叠飞行路径仪器的特定短期质量稳定性问题。
尽管已参考优选实施方案描述本发明，但所属领域的技术人员将理解，在不脱离所附权利要求书所阐述的本发明的范围的情况下，可在形式和细节上进行各种改变。
Claims (20)
1.一种质谱分析方法，包括：
对样品进行质量分析；
在第一时间t1引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；
在所述第一时间t1或与之相关的时间进行第一外部校准测量；
识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到的一种或多种中间成分；并且
基于至少一些所述一种或多种中间成分，计算或确定校正系数。
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
在稍后的第二时间t2引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；并且
在所述第二时间t2或与之相关的时间进行第二外部校准测量；
其中，识别一种或多种中间成分的所述步骤包括识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到并且在所述稍后的第二时间t2之前最后出现或最后观察到一种或多种中间成分。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述校正系数包括质量、质荷比或时间校正系数。
4.根据权利要求1、2或3所述的方法，还包括生成第一质谱数据集，并使用计算或确定的校正系数校正所述第一质谱数据集的至少一部分的质量、质荷比或时间，以便生成第二质谱数据集。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中所述一种或多种中间成分包括所述样品内的本征分析物或从所述样品产生的本征分析物离子。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其中用于计算或确定所述校正系数的所述一种或多种中间成分中的至少一些中间成分包含在与所述第一时间t1重叠和或与所述第二时间t2重叠的时间段期间存在或观察到的第一中间成分。
7.根据权利要求6所述的方法，其中所述第一中间成分是直接校准的。
8.根据权利要求6或7所述的方法，其中用于计算或确定所述校正系数的所述一种或多种中间成分中的至少一些中间成分包含在与所述第一时间t1重叠和/或与所述第二时间t2重叠的时间段期间不存在或未观察到的第二中间成分。
9.根据权利要求8所述的方法，其中所述第二中间成分是间接校准的。
10.根据权利要求6-9中任一项所述的方法，其中在所述第一时间段t1和所述第二时间段t2之间连续重叠的时间段内存在或观察到至少一些所述第一中间成分和至少一些所述第二中间成分。
11.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其中在非连续时间段内存在或观察到用于计算或确定校正系数的所述一种或多种中间成分。
12.根据权利要求1-11中任一项所述的方法，还包括改变施加在一个或多个离子光学元件上的一个或多个电压，以补偿计算或确定的质量、质荷比或时间的移位。
13.根据权利要求1-12中任一项所述的方法，其中用于计算或确定所述校正系数的至少一些所述一种或多种中间成分包括在时间上不接近或邻近所述第一时间t1和/或所述第二时间t2的一种或多种中间成分。
14.一种校正质谱数据的方法，包括：
使用具有已知质荷比(m/z)值或先前质量测量的质荷比(m/z)值的校准物在一个或多个校准时间进行校准测量；
列出在一个以上的采集期间存在的本征成分列表，其中所述成分的质荷比(m/z)值在一个或多个校准时间期间或接近校准时间时没有出现或被观察到；并且
利用所述列表计算一个或多个采集期的校正系数，所述采集期在时间上不接近或邻近与含有直接校准的质荷比(m/z)值的采集期。
15.一种质谱分析方法，包括：
对样品进行质量分析；
在第一时间t1引入外部或非本征锁定质量样品或校准物；
在所述第一时间t1或与之相关的时间进行第一外部校准测量；
识别在靠近所述第一时间t1不存在的一种或多种中间成分；并且
基于至少一些所述一种或多种中间成分，计算或确定校正系数。
16.一种质谱仪，包括：
布置并适配成在第一时间t1引入外部或非本征锁定质量样品或校准物的装置；并且
控制系统，所述控制系统布置并适配成：
(i)对样品进行质量分析；
(ii)在所述第一时间t1或与之相关的时间进行第一外部校准测量；
(iii)识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到的一种或多种中间成分；并且
(iv)根据至少一些所述一种或多种中间成分计算或确定校正系数。
17.根据权利要求16所述的质谱仪，其中所述装置进一步布置并适配成在第二时间t2引入外部或非本征锁定质量样品或校准物，并且其中所述控制系统进一步布置并适配成：
在所述第二时间t2或与之相关的时间进行第二外部校准测量；并且
识别在所述第一时间t1之后首先出现或首先观察到并且在所述稍后的第二时间t2之前最后出现或最后观察到的一种或多种中间成分。
18.根据权利要求16或17所述的质谱仪，其中所述控制系统进一步布置并适配成生成第一质谱数据集，并且使用计算或确定的校正系数校正所述第一质谱数据集的至少一部分的质量、质荷比或时间，以便生成第二质谱数据集。
19.一种质谱分析方法，包括：
对样品进行质量分析；
识别在第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域期间存在或观察到的一种或多种成分；
识别在随后的第二扫描、第二时间窗口或第二空间区域期间存在或观察到的一种或多种成分，其中所述随后第二扫描、第二时间窗口或第二空间区域与第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域相对应，是第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域重复或与之相邻；并且
基于至少一些所述一种或多种成分，计算或确定校正系数。
20.一种具有控制系统的质谱仪，所述控制系统布置或适配成：
(i)对样品进行质量分析；
(ii)识别在第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域期间存在或观察到的一种或多种成分；
(iii)识别在随后的第二扫描、第二时间窗口或第二空间区域期间存在或观察到的一种或多种成分，其中所述随后第二扫描、第二时间窗口或第二空间区域与第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域相对应，是第一扫描、第一时间窗口或第一空间区域重复或与之相邻；并且
(iv)根据至少一些所述一种或多种成分计算或确定校正系数。
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201962894298P | 2019-08-30 | 2019-08-30 | |
| GBGB1912494.0A GB201912494D0 (en) | 2019-08-30 | 2019-08-30 | Mass spectometer calibration |
| GB1912494.0 | 2019-08-30 | ||
| US62/894,298 | 2019-08-30 | ||
| PCT/GB2020/052069 WO2021038242A1 (en) | 2019-08-30 | 2020-08-28 | Adaptive intrinsic lock mass correction |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114270473A true CN114270473A (zh) | 2022-04-01 |
| CN114270473B CN114270473B (zh) | 2024-04-02 |
Family
ID=68207209
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202080060668.9A Active CN114303228B (zh) | 2019-08-30 | 2020-08-28 | 质谱仪校准 |
| CN202080058265.0A Active CN114270473B (zh) | 2019-08-30 | 2020-08-28 | 自适应本征锁定质量校正 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202080060668.9A Active CN114303228B (zh) | 2019-08-30 | 2020-08-28 | 质谱仪校准 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US20220293403A1 (zh) |
| EP (2) | EP4022664A1 (zh) |
| CN (2) | CN114303228B (zh) |
| GB (4) | GB201912494D0 (zh) |
| WO (2) | WO2021038244A1 (zh) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| GB201912494D0 (en) * | 2019-08-30 | 2019-10-16 | Micromass Ltd | Mass spectometer calibration |
| CN115545082A (zh) * | 2022-10-20 | 2022-12-30 | 广东省麦思科学仪器创新研究院 | 质谱图生成方法、装置、系统及可读存储介质 |
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| CN117554545A (zh) * | 2023-11-10 | 2024-02-13 | 广东省麦思科学仪器创新研究院 | 基于弱监督在线学习的质谱校正方法和装置 |
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-
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- 2019-08-30 GB GBGB1912494.0A patent/GB201912494D0/en not_active Ceased
-
2020
- 2020-08-28 US US17/635,318 patent/US20220293403A1/en active Pending
- 2020-08-28 GB GB2013535.6A patent/GB2590107B/en active Active
- 2020-08-28 GB GB2205973.7A patent/GB2608249B/en active Active
- 2020-08-28 US US17/638,640 patent/US20220301838A1/en active Pending
- 2020-08-28 EP EP20764438.6A patent/EP4022664A1/en active Pending
- 2020-08-28 WO PCT/GB2020/052071 patent/WO2021038244A1/en unknown
- 2020-08-28 WO PCT/GB2020/052069 patent/WO2021038242A1/en unknown
- 2020-08-28 CN CN202080060668.9A patent/CN114303228B/zh active Active
- 2020-08-28 EP EP20764439.4A patent/EP4022665A1/en active Pending
- 2020-08-28 CN CN202080058265.0A patent/CN114270473B/zh active Active
- 2020-08-28 GB GB2013542.2A patent/GB2590108B/en active Active
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|---|---|
| GB2590108A (en) | 2021-06-23 |
| WO2021038242A1 (en) | 2021-03-04 |
| GB202013542D0 (en) | 2020-10-14 |
| GB202205973D0 (en) | 2022-06-08 |
| GB202013535D0 (en) | 2020-10-14 |
| EP4022664A1 (en) | 2022-07-06 |
| GB201912494D0 (en) | 2019-10-16 |
| WO2021038244A1 (en) | 2021-03-04 |
| CN114270473B (zh) | 2024-04-02 |
| CN114303228B (zh) | 2024-03-29 |
| US20220293403A1 (en) | 2022-09-15 |
| GB2608249A (en) | 2022-12-28 |
| EP4022665A1 (en) | 2022-07-06 |
| US20220301838A1 (en) | 2022-09-22 |
| CN114303228A (zh) | 2022-04-08 |
| GB2590108B (en) | 2022-06-08 |
| GB2590107B (en) | 2023-07-19 |
| GB2590107A (en) | 2021-06-23 |
| GB2608249B (en) | 2023-10-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |