CN115413362A - 分析仪器的校准 - Google Patents

Abstract

一种方法包括测量分析物离子的第一物理化学性质以便产生数据集，以及识别所述数据集内的第一组分析物离子。所述第一组内的分析物离子各自具有属性的值，所述值对应于第一值，或者在所述属性的第一范围内。所述方法还包括从多个不同校准中选择与所述属性的所述第一值或所述第一范围相关联的第一校准，以及使用所述第一校准来校准所述第一组分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

Description

分析仪器的校准

相关申请的交叉引用

本申请要求于2021年4月20日提交的英国专利申请第2005715.4号的优先权和权益。本申请的全部内容通过引用并入本文中。

技术领域

本发明提供一种校准诸如质谱仪和/或离子迁移率谱仪的分析仪器的方法。

背景技术

诸如质谱仪和/或离子迁移率谱仪的分析仪器通常通过以下操作来校准：使校准化合物电离，然后测量所得离子的物理化学性质(诸如质荷比或离子迁移率漂移时间)。将所测量的物理化学性质值与参考物理化学性质值进行比较，并且确定测量值与参考值之间的差，并且使用所述差来确定针对仪器的校准。

当随后使用分析仪器对分析物进行分析时，使分析物电离，并且使用仪器测量所得分析物离子的物理化学性质。随后使用校准来校正分析物离子的所测量的物理化学性质值。

申请人相信，仍然存在对校准分析仪器的方法进行改进的空间。

发明内容

根据一方面，提供一种方法，其包括：

测量分析物离子的第一物理化学性质以便产生数据集；

识别数据集内的第一组分析物离子，其中所述第一组内的分析物离子各自具有属性的值，所述值对应于第一值，或者在所述属性的第一范围内；

从多个不同校准中选择与所述属性的所述第一值或所述第一范围相关联的第一校准；以及

使用所述第一校准来校准所述第一组分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

各种实施方案涉及一种校准分析仪器(诸如质谱仪和/或离子迁移率谱仪)的方法，其中可使用多个不同校准来校准数据集(诸如质谱和/或离子迁移谱)。根据各种实施方案，多个不同校准中的每个校准与至少第一离子属性(诸如特定电荷状态)的不同值或范围、第二物理化学性质(诸如离子迁移率)的值或范围和/或初始离子能量的值或范围相关联。在各种实施方案中，在数据集(谱)中识别一组或多组分析物离子，使得每个组内的离子共享相同值，或者在(第一)属性的范围内。随后通过使用与所述一组的(第一)离子属性的值或范围相关联的校准分别校准数据集内的每组离子来校准数据集(谱)。

因此，各种实施方案涉及一种校准方法，其中能够对数据集进行多种不同校准，并且其中根据那些离子的一个或多个所确定的属性来选择针对数据集内的一组离子的特定校准。

各种实施方案与对数据集使用单一校准的常规技术形成对比。申请人已认识到，对数据集使用多个不同校准可产生更准确的校准。

如将在下文更详细地描述，这是因为具有第一物理化学性质(诸如质荷比)的相同本征值的离子的初始条件可取决于离子的属性值(诸如电荷状态、第二物理化学性质(离子迁移率)值和/或初始离子能量)而不同，并且初始条件的这些差异可能引起具有第一物理化学性质(质荷比)的相同本征值的离子的所测量的第一物理化学性质(诸如飞行时间)的差异。

在这方面，申请人首先已认识到，有可能识别数据集内的不同组离子，其中每个组中的离子共享相同或类似的属性值(以及因而初始条件)(即使在所述组中的至少一些在第一物理化学性质方面重叠的情况下)，并且其次，通过对每个组使用不同校准，可以考虑初始条件的差异(以及因而所测量的第一物理化学性质的差异)。

因此，通过识别数据集内的一组或多组分析物离子(其中每个组包括具有相同或类似属性值的离子)，并且选择与每个组的属性值相关联的校准，可提升校准的准确度。

因此，将了解，各种实施方案提供一种校准分析仪器的改进方法。

所述方法可包括：

识别所述数据集内的不同的第二组分析物离子，其中所述第二组内的分析物离子各自具有所述(第一)属性的值，所述值对应于所述(第一)属性的第二不同值，或者在所述(第一)属性的第二不同范围内；

从所述多个不同校准中选择与所述(第一)属性的所述第二值或所述第二范围相关联的第二校准；以及

使用所述第二校准来校准所述第二组分析物离子的所测量的物理化学性质。

根据一方面，提供一种方法，其包括：

测量分析物离子的第一物理化学性质以便产生数据集；

使用第一校准来校准第一组所述分析物离子的所测量的第一物理化学性质；以及

使用第二不同校准来校准不同的第二组所述分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

所述第一组内的分析物离子可各自具有第一属性的值，所述值对应于所述第一属性的第一值，或者在所述第一属性的第一范围内。所述第二组内的分析物离子可各自具有所述第一属性的值，所述值对应于所述第一属性的第二不同值，或者在所述第一属性的第二不同范围内。

所述第一组内的分析物离子可各自具有第二(不同)属性的值，所述值对应于所述第二属性的第一值，或者在所述第二属性的第一范围内。所述第二组内的分析物离子可各自具有所述第二属性的值，所述值对应于所述第二属性的第二不同值，或者在所述第二属性的第二不同范围内。

所述方法可包括使用一个或多个第三不同校准来校准一个或多个不同的第三组所述分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

所述方法可包括使用多个不同校准来校准所述数据集以获得校准的数据集。

所述方法可包括确定分析仪器的多个不同校准，其中所述多个不同校准中的每个校准与所述(第一)属性的相应不同值或范围相关联。

多个不同校准中的每个校准也可与第二属性的相应不同值或范围相关联。

根据一方面，提供一种方法，其包括：

使校准物电离以便产生离子；

使用分析仪器来测量所述离子的第一物理化学性质；

对于所述第一物理化学性质的第一组参考值中的每个参考值，确定所述参考值与和所述参考值相关联的所述第一物理化学性质的测量值之间的差，并且使用所述差确定针对所述分析仪器的第一校准；以及

对于所述第一物理化学性质的第二组参考值中的每个参考值，确定所述参考值与和所述参考值相关联的所述第一物理化学性质的测量值之间的差，并且使用所述差确定针对所述分析仪器的第二校准。

所述第一组参考值内的参考值可对应于具有(第一)属性的值的离子，所述值对应于所述(第一)属性的第一值，或者在所述(第一)属性的第一范围内。所述第二组参考值内的参考值可对应于具有所述(第一)属性的值的离子，所述值对应于所述(第一)属性的第二不同值，或者在所述(第一)属性的第二不同范围内。

所述第一组参考值内的参考值可对应于具有第二(不同)属性的值的离子，所述值对应于所述第二属性的第一值，或者在所述第二属性的第一范围内。所述第二组参考值内的参考值可对应于具有所述第二属性的值的离子，所述值对应于所述第二属性的第二不同值，或者在所述第二属性的第二不同范围内。

所述方法可包括：

对于所述第一物理化学性质的第三组多个参考值中的每个参考值，确定所述参考值与和所述参考值相关联的所述第一物理化学性质的测量值之间的差，并且使用所述差确定针对所述分析仪器的第三校准。

所述第三组参考值内的参考值可对应于具有所述(第一)属性的值的离子，所述值对应于所述(第一)属性的第三不同值，或者在所述(第一)属性的第三不同范围内。所述第三组参考值内的参考值可对应于具有所述第二属性的值的离子，所述值对应于所述第二属性的第三不同值，或者在所述第二属性的第三不同范围内。

所述第一物理化学性质可包括质荷比、飞行时间、离子迁移率和/或碰撞截面。

所述第一物理化学性质可包括质荷比和/或飞行时间，并且测量所述离子的所述第一物理化学性质的步骤可包括对所述离子进行质量分析，以便产生质谱和/或飞行时间谱。

测量所述离子的所述第一物理化学性质的所述步骤可包括使用飞行时间(“ToF”)质量分析仪对所述离子进行质量分析。

第一和/或第二属性可包括第二(任选地不同)物理化学性质。至少一个(诸如第一)属性可包括第二不同物理化学性质(即与第一物理化学性质不同(不相同)的物理化学性质)。

第一和/或第二属性可包括电荷状态。每个组内的离子可具有相同电荷状态，并且每个组可对应于不同电荷状态。

第一和/或第二属性可包括质荷比、飞行时间、离子迁移率和/或碰撞截面。

每个组内的离子可具有在相同范围内的离子迁移率值和/或碰撞截面，并且每个组可对应于不同离子迁移率和/或碰撞截面范围。

每组内的离子可具有在相同范围内的质荷比和/或飞行时间，并且每个组可对应于不同质荷比和/或飞行时间范围。

第一和/或第二属性可包括能量。

第一属性可包括离子迁移率值和/或碰撞截面，并且第二属性可包括质荷比和/或飞行时间。

根据一方面，提供一种分析仪器，其被配置成执行上文所描述的方法。

所述分析仪器可包括质谱仪和/或离子迁移率谱仪。

根据一方面，提供一种方法，其包括：

使用飞行时间质谱仪(“ToFMS”)测量离子群；

识别具有特定属性和/或特性的离子；以及

基于所述属性和/或特性来应用校准。

附图说明

现在将仅借助于示例并且参考附图来描述本发明的各种实施方案，在附图中：

图1示意性地展示根据各种实施方案的分析仪器；

图2示意性地展示根据各种实施方案的飞行时间(“ToF”)质量分析仪；

图3展示使用飞行时间质谱仪(“ToF-MS”)测量的单电荷离子、双电荷离子和三电荷离子的质量精度与质荷比数据；

图4概念性地展示多维漂移时间-m/z数据集；

图5是示出根据各种实施方案的校准方法的流程图；并且

图6是示出根据各种实施方案的确定多个校准的方法的流程图。

具体实施方式

图1示意性地展示根据各种实施方案的分析仪器，诸如质谱仪和/或离子迁移率谱仪。如图1中所展示，分析仪器包括离子源10、布置在离子源10下游的一个或多个功能部件20，以及布置在离子源10和一个或多个功能部件20下游的分析仪30。

如图1所示，分析仪器可被配置为使得离子可由(从)离子源10经由一个或多个功能部件20提供到分析仪30。

离子源10可被配置成例如通过使校准物或分析物电离来产生离子。离子源10可包括任何合适的离子源，诸如选自由以下组成的组的离子源：(i)电喷雾电离(“ESI”)离子源；(ii)大气压光致电离(“APPI”)离子源；(iii)大气压化学电离(“APCI”)离子源；(iv)基质辅助激光解吸电离(“MALDI”)离子源；(v)激光解吸电离(“LDI”)离子源；(vi)大气压电离(“API”)离子源；(vii)硅上解吸电离(“DIOS”)离子源；(viii)电子撞击(“EI”)离子源；(ix)化学电离(“CI”)离子源；(x)场电离(“FI”)离子源；(xi)场解吸(“FD”)离子源；(xii)电感耦合等离子体(“ICP”)离子源；(xiii)快速原子轰击(“FAB”)离子源；(xiv)液相二次离子质谱法(“LSIMS”)离子源；(xv)解吸电喷雾电离(“DESI”)离子源；(xvi)镍-63放射性离子源；(xvii)大气压基质辅助激光解吸电离离子源；(xviii)热喷雾离子源；(xix)大气采样辉光放电电离(“ASGDI”)离子源；(xx)辉光放电(“GD”)离子源；(xxi)撞击器离子源；(xxii)实时直接分析(“DART”)离子源；(xxiii)激光喷雾电离(“LSI”)离子源；(xxiv)超声喷雾电离(“SSI”)离子源；(xxv)基质辅助入口电离(“MAII”)离子源；(xxvi)溶剂辅助入口电离(“SAII”)离子源；(xxvii)解吸电喷雾电离(“DESI”)离子源；(xxviii)激光烧蚀电喷雾电离(“LAESI”)离子源；(xxix)表面辅助激光解吸电离(“SALDI”)离子源；(xxx)低温等离子体(“LTP”)离子源；(xxxi)氦等离子体电离(“HePI”)离子源；(xxxii)快速蒸发电离质谱(“REIMS”)离子源；和/或(xxxiii)激光辅助快速蒸发电离质谱(“LA-REIMS”)离子源。

在各种特定实施方案中，离子源10包括电喷雾电离(“ESI”)离子源。

分析仪器可包括在离子源10上游(并且耦合到离子源)的色谱法分离装置或其他分离装置(图1中未展示)。色谱法分离装置可以包括液相色谱法装置或气相色谱法装置。可替代地，分离装置可以包括：(i)毛细管电泳(“CE”)分离装置；(ii)毛细管电色谱法(“CEC”)分离装置；(iii)基本刚性的陶瓷基多层微流体基板(“瓷片”)分离装置；或(iv)超临界流体色谱法分离装置。

分析仪30可被配置为分析离子，以便确定(测量)它们的一种或多种物理化学属性，如它们的质荷比、飞行时间、(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS)。

分析仪30可包括质量分析仪(其被配置为确定离子的质荷比或飞行时间)和/或离子迁移率分析仪(其被配置为确定离子迁移率漂移时间或碰撞截面(CCS))。

在分析仪30包括质量分析仪的情况下，质量分析仪可包括任何合适的质量分析仪，诸如选自由以下组成的组的质量分析仪：(i)四极质量分析仪；(ii)2D或线性四极质量分析仪；(iii)保罗(Paul)或3D四极质量分析仪；(iv)彭宁阱(Penning trap)质量分析仪；(v)离子阱质量分析仪；(vi)磁式扇形质量分析仪；(vii)离子回旋共振(“ICR”)质量分析仪；(viii)傅里叶(Fourier)变换离子回旋共振(“FTICR”)质量分析仪；(ix)被布置成生成具有四极对数电势分布的静电场的静电质量分析仪；(x)傅里叶变换静电质量分析仪；(xi)傅里叶变换质量分析仪；(xii)飞行时间质量分析仪；(xiii)正交加速度飞行时间质量分析仪；和(xiv)线性加速飞行时间质量分析仪。

在各种特定实施方案中，分析仪30包括飞行时间质量分析仪。

一个或多个功能部件20可包括分析仪器(质谱仪和/或离子迁移率谱仪)的任何合适的这类部件、装置和功能元件。

例如，在各种实施方案中，一个或多个功能部件20包括一个或多个离子导向器、一个或多个离子阱和/或一个或多个滤质器，例如所述一个或多个离子导向器、一个或多个离子阱和/或一个或多个滤质器可选自由以下组成的组：(i)四极滤质器；(ii)2D或线性四极离子阱；(iii)保罗或3D四极离子阱；(iv)彭宁离子阱；(v)离子阱；(vi)磁式扇形滤质器；(vii)飞行时间滤质器；和(viii)维恩滤波器(Wien filter)。

一个或多个功能部件20可包括被配置成使离子活化、碎裂或反应以便产生碎片或产物离子的活化、碰撞、碎裂或反应装置。

一个或多个功能部件20可包括被配置成根据其离子迁移率来分离离子的离子迁移率分离器。离子迁移率分离器可包括线性离子迁移率分离器或闭环(环状)离子迁移率分离器。

分析仪器可在各种操作模式下操作，所述操作模式包括：质谱法(“MS”)操作模式；串联质谱法(“MS/MS”)操作模式；其中母体或前体离子交替碎裂或反应以便产生碎片离子或产物离子，并且不碎裂或不反应或者在较小程度上碎裂或反应的操作模式；多反应监测(“MRM”)操作模式；数据依赖分析(“DDA”)操作模式；数据独立分析(“DIA”)操作模式；定量操作模式；或离子迁移谱法(“IMS”)操作模式。

应注意，图1仅为示意性的，并且分析仪器可以(并且在各种实施方案中确实)包括针对图1中所展示的那些部件、装置和功能元件的其他部件、装置和功能元件。

如图1中所展示，分析仪器可包括控制系统40，所述控制系统可被配置成控制分析仪器的操作，例如以本文中所描述的各种实施方案的方式。控制系统可包括合适的控制电路系统，所述控制电路系统被配置成致使仪器以本文中所描述的各种实施方案的方式进行操作。控制系统可包括合适的处理电路系统，所述处理电路系统被配置成执行关于本文中所描述的各种实施方案的必要的处理和/或后处理操作中的任何一个或多个或全部操作。在各种实施方案中，控制系统可包括合适的计算装置、微处理器系统、可编程FPGA(现场可编程门阵列)等。

图2更详细地展示根据各种实施方案的飞行时间(“ToF”)质量分析仪30。

可经由在质量分析仪30上游的一个或多个功能部件20将离子供应给质量分析仪30。在被引入到分析仪30之前，离子可被“热化”(使得所有离子具有相同热能)，例如通过与在分析仪30上游的(一个或多个功能部件20的)充气区碰撞冷却。

如图2中所示出，质量分析仪30可包括加速电极31(诸如推送器和/或牵拉器电极)、加速区32、无场区或漂移区33，以及布置在无场区或漂移区33的出口区处的离子检测器34。

此处应注意，图2仅为示意性的，并且可使用其他飞行时间(“ToF”)质量分析仪布置，诸如反射器布置、多反射飞行时间(“mr-ToF”)布置。因此，尽管图2中未展示，但在各种实施方案中，质量分析仪30还可包括反射器(在所述情况下，检测器34可任选地位于加速电极31附近)和/或一个或多个离子镜。

来自仪器的一个或多个上游级20的离子可被布置成进入加速区32，在所述加速区中，可通过将电压脉冲施加到加速(推送器)电极31而将离子驱动到无场区或漂移区33中。离子可加速到由电压脉冲所施加的能量和离子的质荷比确定的速度。具有相对较低的质荷比的离子实现相对较高的速度，并且在具有相对较高的质荷比的离子之前到达离子检测器34。

离子可在由其速度和行进距离确定的时间之后到达离子检测器34处，这使得能够确定离子的质荷比。到达检测器34处的每个离子或离子组可由检测器34采样，并且可对来自检测器34的信号进行数字化。处理器随后可确定指示离子或离子组的飞行时间和/或质荷比(“m/z”)的值。可收集并组合多个离子的数据以生成包括飞行时间(“ToF”)谱和/或质谱的数据集。

根据各种实施方案，对于到达检测器34处的每个离子或离子组，检测器34将产生一个或多个信号，所述一个或多个信号随后可被数字化，且被转换成时间-强度对，即包括飞行时间值以及强度值的数据值。在这些实施方案中，可收集并组合多个这类时间-强度对以生成包括飞行时间(“ToF”)谱和/或质谱的数据集。

各种实施方案涉及校准分析仪器(诸如图1的分析仪器)的方法。各种实施方案涉及校准分析仪器的方法，所述分析仪器包括质量分析仪，诸如飞行时间(“ToF”)质量分析仪，诸如图2的飞行时间(“ToF”)质量分析仪。

在飞行时间(“ToF”)质量分析仪(和其他)布置中，可使用诸如校准曲线的校准特征曲线以根据所测量的飞行时间来确定质荷比。另外或可替代地，可使用诸如转换曲线的转换特征曲线以根据所测量的飞行时间来确定质荷比，然后可使用诸如校准曲线的校准特征曲线来确定校准的(更准确的)质荷比值。

在常规布置中，通常使用单个校准曲线以在其整个(质荷比)范围内校准数据集(质谱)。

然而，各种实施方案涉及一种校准分析仪器的方法，其中可使用多个不同校准(诸如通过使用多个不同校准曲线)来校准数据集(诸如质谱)。申请人已认识到，对数据集(质谱)使用多个不同校准可产生更准确的校准。

这是因为具有第一物理化学性质的相同本征值(诸如相同本征质荷比)的离子的初始条件可取决于离子的属性值(诸如电荷状态、第二物理化学性质(诸如离子迁移率)值和/或初始离子能量)而不同，并且初始条件的这些差异可引起具有第一物理化学性质的相同本征值的离子的所测量的第一物理化学性质(诸如飞行时间)的差异。

例如，具有相同质荷比值的离子在加速区32内(相对于加速电极31)的初始位置或位置散布可取决于离子的属性值(诸如电荷状态、第二物理化学性质(诸如离子迁移率)值和/或初始离子能量)而不同，并且初始位置或位置散布的这些差异可引起具有质荷比的相同本征值的离子的所测量的飞行时间(以及因而所测量的质荷比)的差异。

在这方面，申请人首先已认识到，有可能识别数据集(诸如质谱)内的不同组离子，其中每个组中的离子共享相同或类似的属性值(以及因而初始条件)(即使在所述组中的至少一些在第一物理化学性质(诸如质荷比)方面重叠的情况下)，并且其次，通过对每个组使用不同校准，可以考虑并校正初始条件的差异(以及因而所测量的第一物理化学性质的差异)。

因此，根据各种实施方案，测量分析物离子的第一物理化学性质以便产生数据集，并且在数据集内识别至少第一组分析物离子。所述第一组内的分析物离子可各自具有属性的值，所述值对应于第一值，或者在所述属性的第一范围内。随后从多个不同校准中选择与属性的第一值或第一范围相关联的第一校准，并且使用第一校准来校准第一组分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

例如，可测量分析物离子的飞行时间和/或质荷比以便产生飞行时间谱和/或质谱，并且可在所述谱内识别至少第一组分析物离子。第一组内的分析物离子可各自具有属性(诸如电荷状态、第二物理化学性质(诸如离子迁移率)值和/或初始离子能量)的值，所述值对应于第一值，或者在属性的第一范围内。随后可从多个不同校准中选择与属性的第一值或第一范围相关联的第一校准，并且可使用第一校准来校准第一组分析物离子的所测量的飞行时间和/或质荷比。

根据各种实施方案，提供多个不同校准，其中所述多个不同校准中的每个校准与离子属性(诸如特定电荷状态)的不同值或范围、第二物理化学性质(诸如离子迁移率)的值或范围和/或初始离子能量的值或范围相关联。在各种实施方案中，在数据集内识别不同的多组分析物离子，使得每个组内的离子共享相同值，或者在所述属性的范围内。随后使用与所述组的离子属性的值或范围相关联的校准来分别校准每组离子。

因此，也可在数据集内识别第二组、第三组和/或不同的另一组分析物离子。第二组、第三组和/或另一组内的分析物离子可各自具有属性的值，所述值对应于第二、第三和/或另一不同值，或者在所述属性的第二、第三和/或另一不同范围内。随后可从多个不同校准中选择与属性的第二、第三和/或另一值或者第二、第三和/或另一范围相关联的第二、第三和/或另一校准，并且可使用第二、第三和/或另一校准来校准第二组、第三组和/或另一组分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

例如，也可在飞行时间谱和/或质谱内识别第二组、第三组和/或不同的另一组分析物离子。随后可从多个不同校准中选择与属性的第二、第三和/或另一值或者第二、第三和/或另一范围相关联的第二、第三和/或另一校准，并且可使用第二、第三和/或另一校准来校准第二组、第三组和/或另一组分析物离子的所测量的飞行时间和/或质荷比。

因此，各种实施方案涉及一种校准方法，其中对数据集进行多种不同校准是可能的，并且其中根据那些离子的所确定的属性来选择针对数据集内的一组离子的特定校准。通过识别数据集内的一组或多组分析物离子(其中每个组包括具有相同或类似属性值的离子)，并且选择与每个组的属性值相关联的校准，可提升校准的准确度。因此，各种实施方案允许提升(质量)精度。

在各种其他实施方案中，可基于多于一个属性而将离子识别为在特定组内。例如，对于多维数据(诸如质荷比(m/z)-迁移率)数据，可将不同校准应用于多维(诸如m/z-迁移率)空间的不同区。

因此，所述方法可包括识别数据集内的第一组分析物离子，其中第一组内的分析物离子各自具有第一属性的值，所述值对应于第一值，或者在第一属性的第一范围内，并且其中第一组内的分析物离子各自具有第二(不同)属性的值，所述值对应于第一值，或者在第二属性的第一范围内。所述方法可包括从多个不同校准中选择与第一属性的第一值或第一范围以及与第二属性的第一值或第一范围相关联的第一校准。

所述方法可包括识别数据集内的不同的第二组分析物离子，其中第二组内的分析物离子各自具有第一属性的值，所述值对应于第二不同值，或者在第一属性的第二不同范围内，并且其中第二组内的分析物离子各自具有第二属性的值，所述值对应于第二不同值，或者在第二属性的第二不同范围内。所述方法可包括从多个不同校准中选择与第一属性的第二值或第二范围以及与第二属性的第二值或第二范围相关联的第二校准。

所述方法可包括以对应方式识别不同的第三组分析物离子等。

在这些实施方案中，第一属性和第二属性可各自包括本文中所描述的属性中的任何一个属性。在各种实施方案中，至少一个(诸如第一)属性包括第二不同物理化学性质(即与第一物理化学性质不同(不相同)的物理化学性质)。在各种实施方案中，第一属性包括离子迁移率值和/或碰撞截面，并且第二属性包括质荷比和/或飞行时间。

各种实施方案尤其适用于高质量精度系统，诸如多反射飞行时间(“mr-ToF”)布置。

在这些(和其他)布置中，离子在加速电极31处的初始条件(位置/空间分布)可能会限制质量精度(而不是ToF本身)。这是因为，即使到达加速电极31处的离子被完全热化(即具有相同热能)，初始条件也可能取决于离子的不同属性而不同。

例如，在飞行时间质谱仪(“ToF-MS”)(和其他地方)中，通常将离子从充气RF限制装置(诸如RF离子导向器)引入分析仪30中。此装置可用以调节离子束以便提高谱仪的分辨率与透射特性。

离子的初始条件可微妙地取决于离子束内的离子的属性，尤其诸如质量、电荷状态(z)、质荷比(“m/z”)、离子迁移率、能量以及这些属性的组合。尽管初始条件的此变化可能对仪器的分辨率与灵敏度特征曲线具有极小影响，但申请人已认识到其可能显著影响质荷比(“m/z”)校准。

例如，当测量双电荷离子时，基于单电荷离子的校准可能不是最佳的。这是因为具有不同电荷状态(但具有相同质荷比(“m/z”))的离子将以不同空间分布到达加速电极31处。

这是因为在热化之后，所有离子将具有相同能量(对应于热化气体的温度)。动能与质量(m)和速度的平方(v²)成比例。因此，较大离子(较大质量)将具有较小速度(v)，并且因此在(ToF)质量分析仪30之前在充气区中具有较小空间分布。这随后意味着，对于具有相同质荷比(“m/z”)的离子，相较于具有较小电荷(以及因而较小质量)的那些离子，具有较大电荷(z)(以及因而较大质量(m))的那些离子将具有更小的空间分布。

因此，在这种情况下，具有相同质荷比(“m/z”)的离子将具有相同飞行时间的常规假设不成立(因为具有不同电荷但具有相同质荷比(“m/z”)的离子的初始位置不同)。

因此将了解，ToF分析仪中的离子群的平均飞行时间不仅仅取决于其质荷比(“m/z”)。平均飞行时间还取决于加速区32内的初始相空间。由于RF限制的性质，这又取决于离子的其他属性，诸如电荷状态、离子迁移率和轴向能量。即使对于热化离子，对于具有相同质荷比(“m/z”)但具有不同电荷状态的离子，这也可能引起数百ppb的飞行时间差异。(此问题对于非热化离子会变得更糟，如下文将进一步描述)。

图3示出了这一点，所述图展示使用飞行时间质谱仪测量的单电荷、双电荷和三电荷离子的质量精度与质荷比数据。如由图3可见，单电荷离子、双电荷离子和三电荷离子的精度都不同。此外，由图3可见，每组离子可使用相应不同的校准曲线(图3中的实线)进行准确校准。

各种实施方案也适用于或替代地尤其适用于较低精度仪器，尤其是在所有离子在到达(ToF)质量分析仪30之前可能尚未完全热化的情况下。

随着朝更小、更便宜的仪器推动，性能不可避免地会受到影响。通常，首先受到影响的性能指标之一是质量精度。例如，在质量分析仪30之前具有相对较短的充气区的仪器中可能会出现这种情况。

例如在PCT/GB2019/051510中描述了一种这样的仪器的示例，所述专利的全部内容以引用方式并入本文中。在此示例中，分段四极离子导向器320可能相对较短，并且因此到达质量分析仪304的离子可能并没有完全热化。热化程度可能影响质量校准，并且可取决于诸如电荷状态、离子迁移率和注入能量的因素。

例如，具有较高离子迁移率的离子将较少地受热化气体影响，并且因此将具有较高能量，并且因此在(ToF)质量分析仪30之前具有较大空间分布。

因此，同样，具有相同质荷比(“m/z”)的离子将具有相同飞行时间的常规假设不成立(因为具有不同离子迁移率但具有相同质荷比(“m/z”)的离子的初始位置不同)。

因此，根据其属性和/或特性来校准这些离子是有益的。这些影响也可能出现在例如具有较低质量精度目标的较高性能仪器上。

各种实施方案也可适用于离子以不同能量输入到质量分析仪30(或一个或多个上游功能级20中的一个或多个上游功能级)的布置，即离子具有不同输入能量的布置。例如，在其中离子的能量被切换或改变(诸如被斜坡化)成在诸如碰撞池的碎裂装置中的实验(诸如“霰弹枪”实验，例如，如US 6717130中所描述，所述专利的全部内容以引用方式并入本文中)中，离开碎裂装置(碰撞池)的离子可具有不同残余能量，并且因此在(ToF)质量分析仪30之前具有不同空间分布。

因此，同样，具有相同质荷比(“m/z”)的离子将具有相同飞行时间的常规假设不成立(因为具有不同输入能量但具有相同质荷比(“m/z”)的离子的初始位置不同)。

如上文所描述，在各种实施方案中，识别分析物离子数据中的不同离子组(诸如不同电荷状态、迁移率的不同区、不同多维数据区、不同输入能量)，并且对每个不同组使用不同的校准。

在各种实施方案中，所述组中的一个或多个组可在第一物理化学性质(质荷比(“m/z”))方面重叠。也就是说，不同组内的离子可散布在第一物理化学性质的相同范围或重叠范围内。然而，申请人已认识到可识别每个组内的离子的多种方式。

例如，在属性是电荷状态的情况下，对于一维(诸如质荷比(m/z))数据，可对混合谱使用峰值检测以分辨出哪些离子是单电荷、双电荷、三电荷等。例如，单电荷离子可具有1Da间隔的同位素，双电荷离子可具有1/2Da间隔的同位素，三电荷离子可具有1/3Da间隔的同位素，以此类推。每个电荷状态的离子可被分组在一起，并且可对每组离子使用不同校准。

对于二维(诸如m/z迁移率)数据，可基于其特征m/z迁移率分布来区分不同电荷状态。

在属性是离子迁移率的情况下，可将不同校准应用于迁移率的不同区或m/z迁移率空间的不同区。

更一般来说，对于多维数据(诸如m/z迁移率)数据，可将不同校准应用于多维数据的不同区(诸如m/z迁移率空间的不同区)。

因此，例如，如图4中所展示，第一校准可用于区1(其具有第一范围的质荷比和第一范围的离子迁移率漂移时间)，并且第二不同校准可用于区2(其具有第二不同(重叠)范围的质荷比和第二不同(重叠)范围的离子迁移率漂移时间)。更一般来说，在这种数据中，不同校准可用于不同质荷比(m/z)范围、不同离子迁移率漂移时间范围或数据的不同m/z迁移率区。

实施方案也可适用于并行累加串行碎裂(PASEF)型实验或类似实验，其中从不同母离子获得不同碎片离子组，并且其中在对应于母离子的漂移时间间隔的漂移时间中分离碎片离子组。在这种情况下，可对每组碎片离子使用不同校准。

图5是示出根据各种实施方案的校准分析仪器的方法的流程图。

如图5中所展示，根据各种实施方案，分析物被离子化以便产生分析物离子(图5中的步骤60)。这可以使用离子源10来完成。

随后可使用分析仪器来测量分析物离子的物理化学性质(诸如质荷比、飞行时间、(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS))。(另外或可替代地，分析仪器可用以测量源自校准离子的产物或碎片离子的物理化学性质。)因此，第一物理化学性质可包括质量、质荷比、飞行时间、离子迁移率、(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS)。

这可以包括使来自离子源10的离子通过一个或多个功能部件20，并且进入分析仪30。随后可由分析仪30分析离子(和/或源自离子的产物或碎片离子)，例如以便产生分析物离子(和/或源自分析物离子的产物或碎片离子)的质谱和/或离子迁移谱(图5中的步骤61)。

因此，数据集可包括质谱和/或离子迁移谱，并且使用分析仪器来测量离子(和/或源自离子的产物或碎片离子)的物理化学性质可包括使用分析仪器来产生分析物离子(和/或源自分析物离子的产物或碎片离子)的质谱和/或离子迁移谱。

分析仪器可用以测量单种物理化学性质，在所述情况下，数据集可以是一维数据集，诸如质谱和/或离子迁移谱。可替代地，分析仪器可用以测量多种物理化学性质，在所述情况下，数据集可以是多维数据集，诸如二维质荷比和离子迁移率数据集。例如，可通过在质量分析仪30中分析离子之前在离子迁移率分离器中分离离子来获得二维质荷比和离子迁移率数据集。

一旦已获得数据集，就可以在数据集内识别至少第一组离子。在各种实施方案中，可在数据集内识别不同的多组离子。可将数据集内的离子中的一些、大部分或所有离子分配给一组。分配给一组的每个离子可以仅被分配给单个组。

一组内的所有分析物离子可各自具有属性的相同值，或者可各自具有属性的在属性的特定范围内的值。因此，第一组内的分析物离子将各自具有属性的值，所述值对应于第一值，或者在属性的第一范围内；第二组内的分析物离子可各自具有属性的值，所述值对应于第二值，或者在属性的第二范围内；第三组内的分析物离子可各自具有属性的值，所述值对应于第三值，或者在属性的第三范围内，以此类推。

所述值中的每个值(第一值、第二值、第三值(等))可以不同。所述范围中的每个范围(第一范围、第二范围、第三范围(等))可以不同。范围中的一些或大部分或所有可相异(不重叠)，并且/或者所述范围中的一些或大部分或所有可部分重叠。

(第一)属性可包括第二不同物理化学性质(即与第一物理化学性质不相同的物理化学性质)，诸如质量、电荷、质荷比、飞行时间、(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS)。

在各种特定实施方案中，所述属性包括电荷(电荷状态)。在这些实施方案中，第一组离子可包括具有特定电荷的离子(诸如单、双、三(等)电荷离子中的一者)。因此，在数据集内识别第一组离子可包括在数据集内识别具有特定电荷的离子(诸如单、双、三(等)电荷离子中的一者)。类似地，第二(第三)组离子可包括具有不同电荷的离子(诸如单、双、三(等)电荷离子中的另一者)。因此，在数据集内识别第二(第三)组离子可包括在数据集内识别具有不同电荷的离子(诸如单、双、三(等)电荷离子中的一者)。

如上文所描述，在数据集内识别一组分析物离子的步骤可包括使数据集(谱)经历峰值检测算法，以便在数据集内识别不同离子组，诸如单电荷离子和/或双电荷离子和/或三电荷离子等(图5中的步骤62)。另外或可替代地，识别一组分析物离子的步骤可包括在数据集内使用所测量的第二物理化学性质(诸如(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS))来识别不同离子组。

在各种特定实施方案中，所述属性可包括(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS)。在这些实施方案中，第一组离子可包括具有在特定范围内的(离子迁移率)漂移时间值和/或碰撞截面(CCS)的离子。因此，在数据集内识别第一组离子可包括在数据集内识别具有在特定范围内的(离子迁移率)漂移时间值和/或碰撞截面(CCS)的离子。

类似地，第二(第三)组离子可包括具有在特定不同范围内的(离子迁移率)漂移时间值和/或碰撞截面(CCS)的离子。因此，在数据集内识别第二(第三)组离子可包括在数据集内识别具有在特定不同范围内的(离子迁移率)漂移时间值和/或碰撞截面(CCS)的离子。

如上文所描述，这可以通过使用所测量的(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS)以在数据集内识别不同离子组来完成(其中当测量分析物离子的第一物理化学性质(质荷比)时，测量离子的(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS))。

对于多维数据(诸如m/z迁移率)数据，可将不同校准应用于多维数据的不同区(诸如m/z迁移率空间的不同区)。

因此，一组内的所有分析物离子可各自具有第一属性的相同值(诸如离子迁移率值和/或碰撞截面)，或者可各自具有第一属性的在第一属性的特定范围内的值。一组内的所有分析物离子还可各自具有第二不同属性的相同值(诸如质荷比和/或飞行时间)，或者可各自具有第二属性的在第二属性的特定范围内的值。

随后可使用特定于所述组的校准来校准所识别的每组分析物离子。这可以包括使用与所述组相关联的校准来校正每个组内的离子的所测量的第一物理化学性质。

因此，例如，如图5中所展示，可使用与单电荷离子相关联的校准来校准单电荷离子(步骤63)，可使用与双电荷离子相关联的校准来校准双电荷离子(步骤64)，可使用与三电荷离子相关联的校准来校准三电荷离子(步骤65)，以此类推。

可组合这些多个校正的结果以产生最终的校准数据集(步骤66)。因此，在各种实施方案中，可使用多个校准(包括至少第一校准和第二校准)来校准数据集(所测量的第一物理化学性质)以获得校准数据集。

各种实施方案还针对为分析仪器(诸如上文所描述的分析仪器)确定多个校准的方法。根据各种实施方案，这可以包括使一种或多种校准物电离以产生离子，以及使用分析仪器来测量离子的第一物理化学性质。所述方法可包括：对于所述第一物理化学性质的第一组多个参考值中的每个参考值，确定所述参考值与和所述参考值相关联的所述第一物理化学性质的测量值之间的差，并且使用所述差确定针对所述分析仪器的第一校准。所述方法可包括：对于所述第一物理化学性质的第二组多个参考值中的每个参考值，确定所述参考值与和所述参考值相关联的所述第一物理化学性质的测量值之间的差，并且使用所述差确定针对所述分析仪器的第二校准。

图6是示出根据各种实施方案的为分析仪器确定多个校准的方法的流程图。

如图6中所展示，根据这些实施方案，校准物化合物可被离子化以便产生校准物离子(图6中的步骤70)。这可以使用离子源10来完成。

随后可使用分析仪器来测量校准物离子的第一物理化学性质(诸如质荷比、飞行时间、(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS))。(另外或可替代地，分析仪器可用以测量源自校准物离子的产物或碎片离子的物理化学性质。)

使用分析仪器来测量离子(和/或源自离子的产物或碎片离子)的第一物理化学性质可包括使来自离子源10的校准物离子通过一个或多个功能部件20，并且进入分析仪30。随后可由分析仪30分析离子(和/或源自离子的产物或碎片离子)，例如以便产生校准物离子(和/或源自校准物离子的产物或碎片离子)的质谱和/或离子迁移谱(图6中的步骤71)。因此，使用分析仪器来测量离子(和/或源自离子的产物或碎片离子)的第一物理化学性质可包括使用分析仪器来产生校准物离子(和/或源自校准物离子的产物或碎片离子)的质谱和/或离子迁移谱。

数据集(谱)可经历峰值检测算法以便确定一组测量值，例如其中每个测量值对应于谱中的离子峰(的中心)。因此，使用分析仪器来测量离子(和/或源自离子的产物或碎片离子)的第一物理化学性质可包括确定一组测量值。

随后可在数据集内识别至少第一组离子。在各种实施方案中，可在数据集内识别不同的多组离子。一组内的所有分析物离子(测量值)可各自具有属性的相同值，或者可各自具有属性的在属性的特定范围内的值(例如，如上文关于图5所描述)。任选地，一组内的所有分析物离子(测量值)还可各自具有第二不同属性的相同值，或者可各自具有第二属性的在第二属性的特定范围内的值(例如，如上文所描述)。

例如，如图6中所展示，可在数据集(谱)中识别对应于单电荷离子的第一组离子(测量值)、对应于双电荷离子的第二组离子(测量值)以及/或者对应于三电荷离子第三组离子(测量值)(等)(图6中的步骤72)。

根据各种实施方案，可将物理化学性质的针对所选校准值的多个参考值中的每个参考值(诸如质荷比、飞行时间、(离子迁移率)漂移时间和/或碰撞截面(CCS)的多个参考值中的每个参考值)与离子的物理化学性质的测量值进行比较。具体地说，分析仪器可将物理化学性质的(单个)测量值分配给物理化学性质的多个参考值中的每个参考值。换句话说，对于多个参考值中的每个参考值，分析仪器可寻找测量值集合中对应(最接近)于参考值的(单个)测量值。

因此，例如，分析仪器可将质谱和/或离子迁移谱中的(单个)离子峰分配给参考值中的一些或所有参考值中的每个参考值。这可以例如由控制系统40使用一种或多种适当算法来完成。

多个参考值可包括一组或多组参考值，例如其中一组内的所有参考值可各自对应于具有属性的相同值或者具有属性的在特定范围内的值的离子(例如，如上文所描述)。任选地，一组内的所有参考值可各自对应于具有第二不同属性的相同值或者具有第二属性的在特定范围内的值的离子(例如，如上文所描述)。

随后可确定分针对析仪器的多个不同校准。对于每组参考值内的参考值中的一些或所有参考值中的每个参考值，可通过以下操作来确定每个校准：确定参考值与已分配给所述参考值的测量值之间的(百分比)差，然后使用这些差以针对分析仪器为所述组确定校准。随后可使用这些差来确定分析仪器的校准特征曲线，诸如校准曲线。

可以此方式为所识别的组中的每个组确定校准。因此，例如，如图6中所展示，可以为单电荷离子确定校准(步骤73)，可以为双电荷离子确定不同校准(步骤74)，可以为三电荷离子确定不同校准(步骤75)(以此类推)，直到获得一组多个校准(步骤76)为止。

一旦已确定一组多个校准，就可以存储所述校准，以供稍后用以校准仪器。如上文所描述，可通过以下操作来使用校准：使分析物电离以产生分析物离子，并且使用分析仪器来测量分析物离子(和/或源自分析物离子的产物或碎片离子)的物理化学性质。所述校准可用以校正分析物离子(和/或源自分析物离子的产物或碎片离子)的所测量的物理化学性质值。

尽管上文已详细描述了各种实施方案，但各种额外和替代实施方案是可能的。

例如，根据各种实施方案，可以实时地或在后处理中应用校准。

根据各种实施方案，关于每组的不同校准可以是“航位推算”，并且/或者一般在没有完整的重新校准例程的情况下应用。例如，可仅针对单电荷离子确定校准，并且在校准双电荷离子时可应用校正因子(以及针对单电荷离子的所确定的校准)。这是可能的，因为如图3中所展示，校准可仅相差一个恒定校正因子。因此，在各种实施方案中，多个校准中的一个或多个或每个校准可以或可以不包括(完整)校准曲线。

根据各种实施方案，可以在不测量离子的属性的情况下应用校正，而是基于目标实验中的已知和/或预期离子。因此，在数据集内识别每组分析物离子(其中每组内的分析物离子各自具有属性的值，所述值对应于特定值，或者在属性的特定范围内)可以(或可以不)包括测量、估计和/或推断属性。

尽管上文已在质荷比校准(尤其是漂移时间与质荷比校准)(例如以校准ToF质量分析仪30的质量标度)方面描述了各种实施方案，但各种实施方案也可适用于不同类型的校准。例如，在各种实施方案中，可将多个校准用于漂移时间与离子迁移率校准。

可通过以下操作来确定碰撞截面(CCS)校准：从每个参考质荷比值的测量数据中提取到达时间分布(ATD)，并且根据相应ATD来确定每个参考质荷比值的漂移时间。随后可将这些漂移时间值针对参考碰撞截面值作图，并且可将曲线拟合到此数据。随后可使用此曲线将所测量的分析物漂移时间值转换为碰撞截面。

将了解，各种实施方案提供一种方法，其包括对具有不同属性的离子应用不同校准。

各种特定实施方案包括使用飞行时间质谱仪(“ToFMS”)测量离子群，识别具有特定属性和/或特征的离子，以及基于所述属性和/或特征来应用校准。

根据各种实施方案，常规校准例程被修改为包括具有属性范围的离子，其中校准例程识别具有这些不同属性的离子，并且分别对根据不同属性分组的离子进行校准。例如，校准例程可对源自单电荷离子与双电荷离子的混合物的谱进行操作，并且针对单电荷序列和双电荷序列计算不同校准曲线。

未来的分析物测量可能包括确定所关注离子的属性以确定将应用哪种校准。因此，在校准、重新校准和质量测量过程中，确定离子的其他属性，并且在校准和/或质量测量之前将离子分组在一起。

各种实施方案可实现高质量精度测量(<100ppb)，并且/或者在较小仪器中使得准确度能够提升或维持。

尽管已参考优选实施方案描述了本发明，但是本领域的技术人员将理解，在不脱离如所附权利要求书中所阐述的本发明的范围的情况下，可以做出形式和细节上的各种改变。

Claims (20)

1.一种方法，其包括：

测量分析物离子的第一物理化学性质以便产生数据集；

识别所述数据集内的第一组分析物离子，其中所述第一组内的分析物离子各自具有属性的值，所述值对应于第一值，或者在所述属性的第一范围内；

从多个不同校准中选择与所述属性的所述第一值或所述第一范围相关联的第一校准；以及

使用所述第一校准来校准所述第一组分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

2.根据权利要求1所述的方法，其还包括：

识别所述数据集内的不同的第二组分析物离子，其中所述第二组内的分析物离子各自具有所述属性的值，所述值对应于第二不同值，或者在所述属性的第二不同范围内；

从所述多个不同校准中选择与所述属性的所述第二值或所述第二范围相关联的第二校准；以及

使用所述第二校准来校准所述第二组分析物离子的所测量的物理化学性质。

3.一种方法，其包括：

测量分析物离子的第一物理化学性质以便产生数据集；

使用第一校准来校准第一组所述分析物离子的所测量的第一物理化学性质；以及

使用第二不同校准来校准不同的第二组所述分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其中

所述第一组内的分析物离子各自具有第二属性的值，所述值对应于所述第二属性的第一值，或者在所述第二属性的第一范围内；并且/或者

所述第二组内的分析物离子各自具有所述第二属性的值，所述值对应于所述第二属性的第二不同值，或者在所述第二属性的第二不同范围内。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其还包括使用一个或多个第三不同校准来校准一个或多个不同的第三组所述分析物离子的所测量的第一物理化学性质。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述方法包括使用多个不同校准来校准所述数据集以获得校准的数据集。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其还包括确定分析仪器的多个不同校准，其中所述多个不同校准中的每个校准与所述属性的相应不同值或范围相关联。

8.一种方法，其包括：

使校准物电离以便产生离子；

使用分析仪器来测量所述离子的第一物理化学性质；

对于所述第一物理化学性质的第一组参考值中的每个参考值，确定所述参考值与和所述参考值相关联的所述第一物理化学性质的测量值之间的差，并且使用所述差确定针对所述分析仪器的第一校准；以及

对于所述第一物理化学性质的第二组参考值中的每个参考值，确定所述参考值与和所述参考值相关联的所述第一物理化学性质的测量值之间的差，并且使用所述差确定针对所述分析仪器的第二校准。

9.根据权利要求8所述的方法，其中：

所述第一组参考值内的参考值对应于具有属性的值的离子，所述值对应于第一值，或者在所述属性的第一范围内；并且

所述第二组参考值内的参考值对应于具有所述属性的值的离子，所述值对应于第二不同值，或者在所述属性的第二不同范围内。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其还包括：

对于所述第一物理化学性质的第三组多个参考值中的每个参考值，确定所述参考值与和所述参考值相关联的所述第一物理化学性质的测量值之间的差，并且使用所述差确定针对所述分析仪器的第三校准；

其中所述第三组参考值内的参考值对应于具有所述属性的值的离子，所述值对应于第三不同值，或者在所述属性的第三不同范围内。

11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述第一物理化学性质包括质荷比、飞行时间、离子迁移率和/或碰撞截面。

12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述第一物理化学性质包括质荷比和/或飞行时间，并且测量所述离子的所述第一物理化学性质的步骤包括对所述离子进行质量分析，以便产生质谱和/或飞行时间谱。

13.根据权利要求12所述的方法，其中测量所述离子的所述第一物理化学性质的所述步骤包括使用飞行时间(“ToF”)质量分析仪对所述离子进行质量分析。

14.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述属性包括第二不同物理化学性质。

15.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述属性包括电荷状态，其中每个组内的离子具有相同电荷状态，并且其中每个组对应于不同电荷状态。

16.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述属性包括离子迁移率和/或碰撞截面。

17.根据权利要求16所述的方法，其中每个组内的离子具有在相同范围内的离子迁移率值和/或碰撞截面，并且其中每个组对应于不同离子迁移率和/或碰撞截面范围。

18.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述属性包括能量。

19.一种分析仪器，其被配置成执行前述权利要求中任一项所述的方法。

20.根据权利要求19所述的分析仪器，其中所述分析仪器包括质谱仪和/或离子迁移率谱仪。

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