JP2013520573A - 粒子を製造するためのプラズマ・スパッタリング・プロセス - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
LITA/LC≦0.5
但し、LITAは、前記プラズマの内側でのイオン化されスパッタされたターゲット原子平均自由行路である。
ΓITA/(ΓITA+ΓNTA)≧0.5
好ましくは、ΓITA/(ΓITA+ΓNTA)≧0.66
より好ましくは、ΓITA/(ΓITA+ΓNTA)≧0.70
但し、ΓITAは、前記プラズマの中に存在するグレインの表面での、イオン化されたターゲット原子のピックアップ・フラックスであり、
ΓNTAは、グレインの表面での、前記プラズマの中に存在する中性ターゲット原子のピックアップ・フラックスである。
(1+3Lc/LITA)(1+4We/WITA)>10
但し、WITAは、前記プラズマの中の、イオン化されスパッタされた原子の平均運動エネルギーであり、
Weは、前記プラズマの内側の平均の電子運動エネルギーであって、We=(3/2)kBTe を介して、Teに関係付けられる。
LITA/Lc≦0.5 及び WITA/We≦0.5
LITA/LC≦0.5
好ましくは、このプロセスは、この基準:LIA/LC≦0.5 に加えて、以下の三つの基準の内の少なくとも一つが満足されるように行われる:
ΓITA/(ΓITA+ΓNTA)≧0.5
WITA/We≦0.5 及び
(1+3Lc/LITA)(1+4We/WITA)>10
ΓNTAは、グレインの表面での、中性ターゲット原子のピックアップ・フラックスであり、
LITAは、前記プラズマの内側での、イオン化されスパッタされたターゲット原子の平均自由行路であり、
WITAは、前記プラズマの中での、イオン化されスパッタされた原子の平均運動エネルギーであり、
Weは、前記プラズマの内側での平均の電子運動エネルギーであって、We=(3/2)kBTe を介して、Teに関係付けられる。
λD=√(ε0kBTe/(nee2))
LITA/Lc≦0.5
この基準が満足されるとき、作り出されたITAは、粒子の成長のために効率良く使用される。より短い平均自由行路は、より遅い拡散、及び、イオン化されスパッタされたターゲット原子の、プラズマ体積の内側でのより長い滞在時間をもたらす。このようにして、装置の壁面へ逃れる可能性と比べて、グレインによりピックアップされるより大きな可能性が得られる。より短いLITAはまた、成長プロセスの間の、プラズマの中の高いグレイン密度に対する必要性を減少させる。その理由は、ITA滞在時間がより長くなり、ITAは、所与のグレイン密度でグレインにピックアップされるより大きな機会を有しているからである。先に論じられたように、イオン−中性(ITA−ガス)衝突と、イオン−イオン(ITA−プラズマ・イオン)衝突との両方が、より長い拡散時間に寄与する。
ΓITA/(ΓITA+ΓNTA)≧0.5
フラックスΓITA及びΓNTAは、直接的に測定することは困難であるが、この基準によりカバーされるパラメータ範囲に到達することが現実的であると言うことが、間接的に示されることが可能である。スパッタされたターゲット原子のイオン化の高い程度は、スパッタされたターゲット原子の電子衝突によるイオン化に対する可能性が、プラズマの中でのそれらの滞在時間の間に、十分に高くなるような、高いne及びTeで運転することにより得られることが可能である。十分に高いne及びTeは、プラズマに十分に高いエネルギーを提供することにより得られる。
WITA/We≦0.5
この基準に対する理由は、所与の同一のグレイン密度に対して、 静電的な引力に起因して、グレインへのITAのピックアップ速度が、WITAのこの範囲でドラスチックに増大することである。要求される低いWITAは、ガスとの熱運動化(thermalizing)衝突に対する、ITA平均自由行路が、LCと比べて遥かに小さくなるように、nGを高く維持することにより実現される。
TITA≒Tgm
λenergy≒λelastic(2mgas/me)
電子の遥かに遅い冷却と結合した、ITAの急速な冷却は、それ故に、中空カソードの丁度下側の領域で、パラメータ範囲 WITA<0.5We の中の、プラズマを与える。
τdiff≒Lc 2/D≒(Lc/UITA)(1+3Lc/LITA)
但し、拡散係数の表現:
D≒LITA・UITA/3
が使用されていて、衝突が無い場合において、Lc/UITAに近づく関数が選択されている。
(1+3Lc/LITA)
そのような遭遇での収集の可能性は、グレインの電位、及びエネルギー、及びITAのチャージに依存する。これは、プラズマ物理において良く研究されている問題であって、その理由は、それが、ラングミュア・プローブ理論(Langmuir probe theory)と、ダスティ・プラズマ物理(dusty plasma physics)の両方の中央にあるからである。
PITA-collection ∝ (1+3Lc/LITA)(1+4We/WITA) (式1)
LITA/Lc≦0.5 及び WITA/We≦0.5。
LITA/Lc≦0.5 及び WITA/We≦0.5
チタン粒子が、パルス直流電源を使用して、本発明の一つの実施形態に基づく縦方向に配置された中空カソードを有する、プラズマ・スパッタリング装置の中で作り出された。パルスの継続期間は、50μsに設定され、パルスは、600Hzの周波数で、矩形パルスを使用して印加された。中空カソードへの平均電力供給は、約72Wであった。更に、プロセスは、約80Wで運転され一定の(非パルスの)直流電源により生成されたプラズマを使用して、同一の装置の中で繰り返された。
モリブデンの粒子が、縦方向に配置された中空カソードを有するプラズマ・スパッタリング装置の中で作り出された。カソードは、5mmの内径及び50mmの長さを有していた。アルゴンが、プロセス・ガスとして使用され、中空カソードを介して流された。圧力は、約1.0トール(133Pa)でコントロールされた。プラズマは、40μmのパルスの継続期間で、且つ500Hzの周波数で、パルス電源を使用して作り出された。平均電力は、約110Wであって、約50Aの最大電流、及び約−640Vの最大電圧を使用することにより得られた。
チタンの粒子が、パルス直流電源を使用して、縦方向に配置された中空カソード・プラズマ発生装置により、作り出された。パルスの継続期間は、30μmに設定され、パルスが、600Hzの周波数を有する矩形パルスを使用して印加された。中空カソードへの平均電力供給は、約88Wであって、最大約50A及び最大約−536Vを使用して印加された。
れる装置、その寸法、及び、粒子が作り出される材料に依存する。しかしながら、大半の
場合に対して、プラズマの電子の数密度neは、少なくとも1017m−3、好ましくは
、少なくとも1018m−3であることが好ましい。また、大半の場合に対して、カソー
ドに供給される平均電力は、少なくとも30,000W/m2、好ましくは、少なくとも
35,000W/m2であることが好ましい。
Claims (19)
- 10μm未満のサイズを有する粒子を製造するためのプラズマ・スパッタリング・プロセスであって、
プラズマ発生装置の中にターゲットを供給し、このプラズマ発生装置は、特性長Lcを有していて、但し、Lc3は、このプラズマ発生装置の中で生成されるプラズマの体積に等しく、
前記プラズマ発生装置の中にプロセス・ガスを導入し、プロセス・ガスの数密度nGを得るために、プラズマ発生装置の内側の圧力をコントロールし、
前記プラズマ発生装置の内側にプラズマを生成し、プラズマ電子の数密度ne及びプラズマ電子の温度Teを得るために、前記プラズマに供給されるエネルギーをコントロールし、
前記プラズマにより、前記ターゲットから原子をスパッタリングし、
スパッタされた原子が、前記プラズマ発生装置の中に存在するグレインの表面にピックアップされることを可能にし、このようにして、粒子を作り出す、
プラズマ・スパッタリング・プロセスにおいて、
前記プラズマ電子の数密度ne及びプラズマ電子の温度Teは、スパッタされたターゲット原子の少なくとも一部のイオン化を引き起こすために十分なものであって、それにより、グレインの表面での、イオン化されスパッタされたターゲット原子のピックアップ・フラックスをもたらすこと、及び、
下記の基準が満足されること、
LITA/Lc≦0.5
但し、LITAは、前記プラズマの内側のイオン化されスパッタされたターゲット原子の平均自由行路であり、
前記プラズマ発生装置は、パルス電源により運転されること、
を特徴とするプラズマ・スパッタリング・プロセス。 - 下記特徴を有する請求項1に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
ΓITA/(ΓITA+ΓNTA)≧0.5 であり、
好ましくは、ΓITA/(ΓITA+ΓNTA)≧0.66 であり、
より好ましくは、ΓITA/(ΓITA+ΓNTA)≧0.70 であり、
但し、
ΓITAは、グレインの表面での、イオン化されたターゲット原子のピックアップ・フラックスであり、
ΓNTAは、グレインの表面での、中性ターゲット原子のピックアップ・フラックスである。 - 下記特徴を有する請求項1または2に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プラズマに供給されるエネルギーは、前記プラズマの中のスパッタされた原子の少なくとも20%を、好ましくは、少なくとも30%を、イオン化させるために十分なものである。 - 下記特徴を有する請求項1から3の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プラズマ発生装置は、中空カソード装置である。 - 下記特徴を有する請求項1から3の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プラズマ発生装置は、マグネトロン・スパッタリング装置である。 - 下記特徴を有する請求項1から5の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
(1+3Lc/LITA)(1+4We/WITA)>10 であり、
但し、
WITAは、前記プラズマの中の、イオン化されスパッタされた原子の平均運動エネルギーであり、
Weは、前記プラズマの内側の平均の電子運動エネルギーであって、We=(3/2)kBTe を介して、Teに関係付けられる。 - 下記特徴を有する請求項1から6の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
電力は、本質的に矩形パルスの形態で供給される。 - 下記特徴を有する請求項1から7の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記パルス電源は、少なくとも100Hzの、好ましくは200〜2,000Hzの周波数で、且つ、少なくとも5マイクロ秒の、好ましくは10〜100マイクロ秒のパルスの継続期間で、印加される。 - 下記特徴を有する請求項1から8の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
カソードに印加される平均電力は、少なくとも30,000W/m2である。 - 下記特徴を有する請求項1から9の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プロセス・ガスの数密度nG及び電子の数密度neは、
WITA/We≦0.5 の関係にあり、
但し、
WITAは、前記プラズマの中のイオン化されスパッタされた原子の平均運動エネルギーであり、
Weは、前記プラズマの内側の平均の電子運動エネルギーであって、We=(3/2)kBTe を介して、Teに関係付けられる。 - 下記特徴を有する請求項1から10の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
LITA/Lc≦0.4 であり、好ましくは、LITA/Lc≦0.3 である。 - 下記特徴を有する請求項10または11に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
WITA/We≦0.4 であり、好ましくは、WITA/We≦0.3 である。 - 下記特徴を有する請求項1から12の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プロセス・ガスは、不活性ガス、反応性ガス、不活性ガスのガス混合物、または、少なくとも反応性ガスを有するガス混合物である。 - 下記特徴を有する請求項1から13の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プラズマは、前記プロセス・ガスから、少なくとも部分的に作り出される。 - 下記特徴を有する請求項1から14の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プロセス・ガスは、不活性ガスであり、且つ、
当該プロセスは、反応性ガスまたは反応性ガスを有するガス混合物を、前記プラズマ発生装置の中に導入することを、更に有している。 - 下記特徴を有する請求項1から15の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記グレインは、前記プラズマ発生装置の中に導入される。 - 下記特徴を有する請求項1から16の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記グレインは、前記プラズマ発生装置の中で、インサイチューに形成される。 - 下記特徴を有する請求項1から17の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プラズマ電子の数密度neは、少なくとも1017m−3である。 - 下記特徴を有する請求項1から18の何れか1項に記載のプラズマ・スパッタリング・プロセス、
前記プラズマ発生装置が中空カソード装置である場合に対して、前記プロセス・ガスの数密度nGは、少なくとも3*1021m−3のプロセス・ガスの数密度に等しく、
ここで、この中空カソードは、5mmの内径を有している。
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