JP2013516056A - ビジョンシステムを含むウェハハンドラ - Google Patents
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Abstract
【選択図】図5
Description
複数のデバイス(複数のダイまたはチップ)は、ウェハと呼ばれる一枚のスライス状のシリコンで生産されることが多い。
ウェハ上の各チップは、ウェハ試験として公知のプロセスで自動試験装置を用いて試験される。
この試験の結果、ウェハ内の各デバイスは、品質により分類される。
単純な試験においては、デバイスは単に「優良」または「不良」として分類される。
さらに細かい分類が用いられることもあり、その場合デバイスは「第一級」、「第二級」などとして分類される。
このプロセスは時としてウェハダイシングと呼ばれ、ダイシングしたウェハを生産する。
ダイシングは、デバイスに損傷を与え、その表面に粒子を落下させる可能性がある。
時には、不良デバイスがダイシングしたウェハから除去され、部分的なウェハが生産される。
一枚のウェハは、ウェハのサイズおよび各々のデバイスの寸法に応じて、数百、数千または10万個超のデバイス10を有することができる。
複数の異なるデバイスが互いに分離されているため、それらは多くの場合、プラスチックフィルム2(時として粘着性フィルムと呼ばれる)上に接着によって保持される。
図1の例においては、粘着性フィルム上で一部のデバイスが欠落しているが、これは例えば、ウェハ試験後に意図的に取り除かれたからか、あるいは、チップの分離中または粘着性フィルムの搬送中などに発生し得るさまざまな問題の結果である。
「部分的なウェハ」とは、一部のデバイスが欠落しているダイシングしたウェハを意味する。
本出願においては、フィルム上のこれらの個別デバイスのセットは、「ウェハ」と呼び、たとえそれらが一枚のシリコンウェハにおける複数のダイの分離化の結果として得られるものでない場合も含む。
このデバイス試験は、ウェハ試験の後に、かつ付加的に実施される。
デバイス試験の目的は、不良デバイス、すなわち機械的問題(例えば亀裂など)または電気的問題を有するチップを除去することにある。
この新しい試験の後、優良デバイスは例えば粘着性フィルム上に再設置されるかまたは、例えば搬送管内またはテープ内のようなデバイス収納システム内に装填される。
図の右側部分で、粘着性フィルム上にマウントされた複数のウェハ1がスタック3を形成している。
ウェハは、ウェハを移動させるウェハフィーダ40によって、スタックから、図の左側部分にある試験機6へと連続して装填される。
この例において、試験機はタレット65を含み、該タレットが有する複数の真空ノズル66がタレット65の回りを回転している。
ウェハの複数のデバイス10は、試験機の装填ステーションにおいてノズル66の一つによって連続的にピッキングされ、さまざまな電気的、機械的および/または光学的試験をデバイスに行なうために、複数の試験ステーション61を通ってタレットによって循環させられる。
試験に合格しなかったデバイスは、優良デバイスと区別するために除去またはマーキングされる。
優良デバイスは、試験の後に粘着性フィルム上に再設置されるか、またはアウトプットステーションでデバイス収納システム内に装填される。
試験機6の動作は、例えばコンピュータワークステーション5である処理システムによって制御される。
複数の空隙13を有する部分的なウェハの一例が図3に示されている。
さらに、ウェハは多くの場合、ウェハ整列のための特殊なマーキングを有する基準デバイスと呼ばれる特徴的なデバイス12を含み、これらの特徴的なデバイスは通常使用されず、ピッキングする必要がない。
ウェハまたはウェハが上にマウントされているフィルム2には、この特徴的なウェハを識別するための何らかのマーキング(図示せず)、例えばバーコードまたは2Dデータマトリクスが具備されている場合がある。
図3上の符号10は、「ピッキング可能な」デバイス、すなわち優良であることが自明で試験する必要のあるデバイスに対応する。
不良であることがわかっているデバイスは、ピッキングをする必要も試験する必要もない。
試験機6は、ピッキング可能なデバイス10の位置を知らないことから、多くの場合、不良であることがわかっているデバイス11、基準デバイス12または空隙位置13からデバイスをピッキングしようと試みる。
これらの位置からのピッキングおよび試験は、処理量、すなわち試験機6が毎時または毎日実施できる有意な試験の数を低減させる。
このようなウェハマップは、例えばウェハがダイシングされる前のウェハ試験中に生成可能である。
それは多くの場合、例えばウェハ試験中に予め判定した各デバイスの状態が一つの文字で明記される単純なASCIIファイルで構成されている。
この例では、ウェハマップは、それが対応しているウェハと同じ数の行と列のマトリクスを含んでいる。
この例において基準デバイスを含む、不良であることがわかっている各デバイスは、Xという文字で表示され、各空隙(デバイスが全くない位置)がゼロ(「0」)でマーキングされている。
「1」は、ピッキング可能なデバイス、すなわちピッキングおよび試験するに値する優良性が自明のデバイスの位置を示す。
ワークステーションは、この情報を用いて、試験機6の下のウェハの変位を制御し、こうしてこのウェハマップの例においては「1」でマーキングされたピッキング可能な位置からだけデバイスをピッキングし試験する。
第一に、ウェハマップは、多くの場合、例えば異なる工場または異なる部屋である、個別デバイス試験が行なわれる場所とは異なる場所でウェハ試験中に生成される。
したがって、ウェハマップをこの遠隔の場所から移送してワークステーション5内にロードする必要がある。
ウェハマップが喪失したりまたは対応するウェハのデバイス試験に間に合うように受領されないという状況が発生する。
この場合、試験機6はこのデータなしで続行し、ウェハ上の考えられる全てのデバイスの場所を試行する必要があり、その結果試験プロセスは緩慢になる。
このような場合、試験機6は、空隙位置からデバイスをピッキングしようとするかまたはすでに不良であることあるいは欠落していることがわかっている不良デバイスを試験するかあるいは優良な可能性のあるデバイスを無視するかもしれない。
作動中に、例えば予定の場所との関係においてシフトおよび/または回転しているような、デバイスが粘着性フィルム2上でわずかに誤配置されることが多く発生する。
この場合、試験機の装填ステーションにある真空ノズル66は、誤配置されたまたは配向がずれたデバイスを高い信頼性でピッキングするのが困難になるかもしれない。
配向および位置を補正しノズル下でデバイスをセンタリングするため、このピッキングノズルの近くに付加的なカメラが具備される場合がある。
このカメラの視野は必然的に狭く、予定の位置を大きく外れて変位してしまったデバイスを包含しない。
それ故、この段階では、わずかな補正しか行なうことができない。
これらのカメラはウェハの全体的な位置および配向を送出するにすぎず、各デバイスの個別の位置および配向は送出しない。
この場合、ピッキングエラーの危険性は極めて高い。実際、ピッキングノズルは、第一のデバイスまたはウェハ上のデバイスをピッキングするためにウェハとの関係において長い距離を走行しなければならない。
この初期変位中に累積するエラーはきわめて大きいものになり得、ピッキングノズルが、意図された第一のピッキング可能なデバイスをピッキングする代りに第一のピッキング可能なデバイスの隣接デバイスから開始することもおきてしまう。
第一のデバイスが優良デバイスではなく、ウェハがピッキング毎に一つのデバイスずつずれてしまうことから、ピッキングシーケンス全体がずれてしまう可能性がある。
特開2000−012571号公報の装置のXYテーブルは、第二のカメラによる認識に基づいて移動させられ、こうしてピッキングすべきデバイスの場所特定が遅延させられる。
特開2000−012571号公報の装置のXYテーブルは、第二のカメラによる認識に基づいて、初めてかつ一回だけ移動させられる。
したがって、ピックアップのためのピックアップ手段6の一般的領域までピッキングすべきデバイスを移動させるために、XYテーブルは大規模な移動をする必要がある。
特開2000−012571号公報の装置は、ピックアップ手段6の下でピッキングすべきデバイスをセンタリングできるようにXYテーブルの精細な移動を提供するものではない。
したがって、特開2000−012571号公報の装置において、ピッキングすべきデバイスは、ピックアップ手段6がデバイスをピッキングする時にセンタリングされていないかもしれない。
ピッキングすべきデバイスがセンタリングされていない場合、ピックアップ手段6がデバイスをしっかりピッキングしない危険性が高く、デバイスは、ピッキング中にピッキング手段から外れて落下するかもしれない。
例えば、ピッキングすべきデバイスがピックアップ手段6の下でセンタリングされていない場合、ピックアップ手段6は、デバイスの極縁部と係合して、ピッキングすべきデバイスの把持に支障をきたすかもしれない。
ピックアップ手段6が次にウェハからデバイスを持ち上げようとした場合、デバイスはピックアップ手段から外れて落下するかまたは所望されない配向へと移動し、こうしてその後のデバイスの設置に問題が生じることになる。
ウェハ位置付けマップの生成と、このウェハからのデバイスのピッキングに同じ機械が使用されることから、ピッキング機を制御するために誤ったウェハマップを使用してしまう危険性は完全に回避される。
こうして、各デバイスの位置および配向を判定するために単一の画像が用いられ、こうして、ピッキングすべき各デバイスの個別の画像をキャプチャするのに必要であると考えられる時間や障害が回避される。
一実施形態では、ウェハはウェハ変位ユニットにより移動させられて、ピッキングすべき各デバイスをピッキングモジュールの下、例えば真空ノズルの下で連続的にセンタリングする。
好ましくは、ウェハの連続的変位は、ピッキング可能な位置のリストを通して最短経路に沿ってウェハを移動させるように、ビジョンシステムによって制御され、第一の画像に応じて決定される。
この第二の画像は、ピッキングモジュールの下でのウェハの精細な調整およびセンタリングのために用いられる。
好ましくは、この第二の画像の視野は第一の画像のものよりもはるかに小さく、ピッキングすべきデバイスだけかまたはこのデバイスとその直近のデバイスだけを表示する。
ピッキング可能なデバイスの大まかな位置は第一の大きな視野の画像から読取れることから、ピッキング不能位置での画像キャプチャのための時間的損失は一切無く、ピッキング可能なデバイスの大まかな位置まで非常に迅速にかつ直接的にウェハを移動させることができ、そこで、視界の狭い第二の高解像度画像が整列および配向の微細な補正を目的としてキャプチャされる。
ビジョンシステムによりキャプチャされた第一の画像は、このコードを包含し、このコードはデコードされる。
こうして、映像は、ウェハの位置および/または配向、ウェハ内の各デバイスの個別の位置および/または配向に応じて決まるデータ、ならびに前記コードに応じて決まる付随データを生成する。一実施形態では、コードはウェハの識別情報を含む。
ウェハは、モノブロックであるかまたは、異なるデバイスが互いに分離されている場合にはダイシング(カット/分離化)されている可能性がある。
「ウェハ」という表現は本出願において、試験およびさらなる処理のため相次いでピッキングされ得る他のピッキング可能なデバイスのセットを呼称するためにも使用されている。
これには、非限定的に以下のものが含まれる:
−ウェハセラミックフレーム;
−一つまたは複数のウェハにあるデバイスが、初期の配置とは異なる配置で粘着性フィルム上に設置されている、再装着(または再構築)されたウェハ;および
−リードフレームストリップから成形プロセスを用いて製造され、粘着性フィルム上に設置され、分離化された、QFNデバイスなどの他のデバイス。
例示された配置には、ウェハ装填機3が含まれ、ここで、試験すべき複数のデバイスを有する複数のウェハ1が図の右側部分でスタック3を形成している。
このスタック内のウェハ1は、ウェハフィーダ40で図の左側部分にある試験機6まで連続的に捕捉され移送される。符号30はテンショナーすなわち、ウェハが接着的にマウントされている粘着性フィルムにテンションを加えて、それをしっかりと平坦に保持するための機器を表わしている。
テンショナーは、フィルムを保持する調節可能なフレームを含んでいてよい。
真空ノズルによって保持されたデバイスは、タレットがその回転でインデキシングされると、一つの試験ステーション61から次の試験ステーションまで移動させられる。試験には例えば電気、機械および/または光学試験が含まれていてよい。
デバイスとしては、例えば非限定的にLEDまたはQFNコンポーネントなどのパッケージ化されたデバイスまたはダイが含まれていてよい。
好ましくは、カメラ50はウェハ全体の画像をキャプチャできる、広角レンズと比較的低い解像度とを有する工業用ビデオカメラである。
例えば4台といった複数のカメラを互いに隣接して取り付け、12インチウェハなどの非常に大きなウェハの画像をキャプチャするようにしてもよい。
別の実施形態では、同じカメラが大きいウェハに対し相対的に移動させられて、複数の連続する段階でウェハの高解像度の単一の第一の画像をキャプチャする。
好ましくは、同じウェハまたはウェハの各部分の多数の画像を、異なる照明条件下で連続的にキャプチャし、マージすることで、より多くの情報を提供する一つの高解像度画像を生成する。
このビジョンシステムは、第一の画像から、ウェハロケーションマップ、すなわち、ウェハの各デバイスの少なくとも大まかな位置および/または配向を示すファイルまたはデータを生成する。
これに関連して、位置決定は、誤差が個別のデバイスのサイズの0.25〜2倍である場合におおまかであると言われる。
好ましい実施形態においては、ピッキングモジュール66の下でデバイスの第2の精密な画像をキャプチャするため、そしてピッキングすべき連続する各デバイスの精細な位置調整およびセンタリングを行うために、付加的なより高解像度のカメラ63が具備される。
したがって、第一のカメラ50の一利点は、いかなるデバイス、またはいかなる優良デバイスも存在しないピッキングノズル66の下の位置でのウェハの移動をさせないことにある。
このマップは、コンピュータファイル内に記憶され、該コンピュータファイルは、好ましくは、例えばコードまたはデータマトリクスから読み取られたウェハ識別情報(wafer−id)、粘着性フィルム2上のウェハ1の全体的な位置および配向を示すためのウェハ配向および位置表示θ、X、Y、ならびにウェハの各々の個別デバイスの配向および位置を示すためのデバイスの配向および位置表示のマトリクスθij、Xij、Yijを含む。
任意には、品質表示Sijが各デバイスに付随する品質を示し、例えば、デバイスが優良であるか、インク付けされている(不良)か、基準であるか、または特別な品質のものであるかなどを示す。
XMLファイルを含む他のファイル構造、または例えばデータベースシステム内での記録として記憶装置が好まれ得る。
この角度は、好ましくは、ビジョンシステム5、50により測定され、ウェハロケーションマップ内に記憶される。
これは、ピッキングモジュールが正しい配向に沿ってデバイスの連続的横列(または縦列)を走査するために使用され得る。
ピックアンドプレース機器の不正確さのために、この機器がデバイスを粘着性フィルム上に設置するときに、デバイスがシフトされまたは回転させられてしまうかもしれない。
したがって、図示されている通り、粘着性フィルム上のデバイスの位置は予定されるものと異なる位置および配向であるかもしれない。
実施例において、デバイスは、誤整列され垂直軸Yに沿って変位させられている。
試験ステーション6のピッキングモジュール66が、図に示されたZ形状のラインに沿ってデバイスをピッキングする場合、第一のデバイス101および102は正しくピッキングされ、第三のデバイスはその縁部の極近で捕捉され、傾動してしまうかもしれない。
次のデバイス104は、第一の横列の走査中にピッキングされることはない。
第一の横列に属するデバイス104が108に代わってピッキングされる。
これは、ウェハ上のデバイスの誤整列がピッキングの失敗およびデバイスの混同を導き得ることを示している。
したがって、ピッキングモジュール66の下のウェハの位置の補正は、これらのエラーを補うために有用である。
この個別の配向は、ピッキングノズルの下でデバイス(例えば一つのデバイス)をセンタリングし配向する目的で、ビジョンシステムによって(少なくとも大まかに)判定され、ウェハロケーションマップ内に記憶され得る。
したがって、ピッキングモジュールの下へのウェハの初期設置は、非常に高速に行われ、またこの表示に基づいたものである。
この初期位置から後続するピッキング可能なデバイスへの連続的移動は、合計移動時間を最小限におさえる目的で、ビジョンシステムによって判定された軌道に沿って行なわれる。
この場合、最初に第一のタイプ/品質のデバイス18のピッキングおよび試験を行ない、その後で次のタイプ19のピッキングおよび試験を行なうことが望ましい場合が多い。
異なる二つの品質のデバイスを有するウェハの一例が、図11に示されている。
このウェハマップ内のこのデータは、(利用可能であるとき)ビジョンシステム5内に導入され、ビジョンシステムにより送出されるウェハロケーションマップとマージされて、図6に示されているように各デバイスについて品質係数Si,jを提供してもよい。
この品質係数は、デバイスがピッキングされる順序を判定するために使用されてよい。
データが合致しない場合、エラーメッセージが生成され、マージは実施されない。
試験機が、ウェハからピッキング可能な全てのデバイスをピッキングし試験した時点で、このウェハはウェハフィーダ40により後方に移動させられ、ウェハの新しい画像がビジョンシステム5、50によりキャプチャされる。
ほぼ全てのデバイスがピッキングされたウェハは、多くの場合「スケルトン」と呼ばれる。
ビジョンシステム5、50は、このスケルトンの画像から別のファイル、産出表示マップを生成する。
この産出表示マップは、予定された結果と比較され、非一貫性またはエラーが検出される。
オペレータまたはコンピュータソフトウェアは、全てのインク付けされたデバイスおよび基準デバイスがそこにあること、そしてピッキング可能なデバイスが一切忘れられていないことを検査するために、産出表示マップ内でこの情報を使用することができる。
過度に多いエラーが存在する場合、オペレータ妥当性確認が要求される。
2 粘着性フィルム
3 スタック
5 ビジョンシステム
6 試験機
10 デバイス
11 不良であることがわかっている各デバイス
12 基準デバイス
13 空隙
17 ピッキング可能な最初のデバイス
18 異なる品質タイプのデバイス
19 異なる品質タイプのデバイス
20 ウェハマップ
21 ファイル
30 テンショナー
40 ウェハフィーダ
50 カメラ
50 ビジョンシステム
61 試験ステーション
63 カメラ
65 タレット
66 ピッキングモジュール
複数のデバイス(複数のダイまたはチップ)は、ウェハと呼ばれる一枚のスライス状のシリコンで生産されることが多い。
ウェハ上の各チップは、ウェハ試験として公知のプロセスで自動試験装置を用いて試験される。
この試験の結果、ウェハ内の各デバイスは、品質により分類される。
単純な試験においては、デバイスは単に「優良」または「不良」として分類される。
さらに細かい分類が用いられることもあり、その場合デバイスは「第一級」、「第二級」などとして分類される。
このプロセスは時としてウェハダイシングと呼ばれ、ダイシングしたウェハを生産する。
ダイシングは、デバイスに損傷を与え、その表面に粒子を落下させる可能性がある。
時には、不良デバイスがダイシングしたウェハから除去され、部分的なウェハが生産される。
一枚のウェハは、ウェハのサイズおよび各々のデバイスの寸法に応じて、数百、数千または10万個超のデバイス10を有することができる。
複数の異なるデバイスが互いに分離されているため、それらは多くの場合、プラスチックフィルム2(時として粘着性フィルムと呼ばれる)上に接着によって保持される。
図1の例においては、粘着性フィルム上で一部のデバイスが欠落しているが、これは例えば、ウェハ試験後に意図的に取り除かれたからか、あるいは、チップの分離中または粘着性フィルムの搬送中などに発生し得るさまざまな問題の結果である。
「部分的なウェハ」とは、一部のデバイスが欠落しているダイシングしたウェハを意味する。
本出願においては、フィルム上のこれらの個別デバイスのセットは、「ウェハ」と呼び、たとえそれらが一枚のシリコンウェハにおける複数のダイの分離化の結果として得られるものでない場合も含む。
このデバイス試験は、ウェハ試験の後に、かつ付加的に実施される。
デバイス試験の目的は、不良デバイス、すなわち機械的問題(例えば亀裂など)または電気的問題を有するチップを除去することにある。
この新しい試験の後、優良デバイスは例えば粘着性フィルム上に再設置されるかまたは、例えば搬送管内またはテープ内のようなデバイス収納システム内に装填される。
図の右側部分で、粘着性フィルム上にマウントされた複数のウェハ1がスタック3を形成している。
ウェハは、ウェハを移動させるウェハフィーダ40によって、スタックから、図の左側部分にある試験機6へと連続して装填される。
この例において、試験機はタレット65を含み、該タレットが有する複数の真空ノズル66がタレット65の回りを回転している。
ウェハの複数のデバイス10は、試験機の装填ステーションにおいてノズル66の一つによって連続的にピッキングされ、さまざまな電気的、機械的および/または光学的試験をデバイスに行なうために、複数の試験ステーション61を通ってタレットによって循環させられる。
試験に合格しなかったデバイスは、優良デバイスと区別するために除去またはマーキングされる。
優良デバイスは、試験の後に粘着性フィルム上に再設置されるか、またはアウトプットステーションでデバイス収納システム内に装填される。
試験機6の動作は、例えばコンピュータワークステーション5である処理システムによって制御される。
複数の空隙13を有する部分的なウェハの一例が図3に示されている。
さらに、ウェハは多くの場合、ウェハ整列のための特殊なマーキングを有する基準デバイスと呼ばれる特徴的なデバイス12を含み、これらの特徴的なデバイスは通常使用されず、ピッキングする必要がない。
ウェハまたはウェハが上にマウントされているフィルム2には、この特徴的なウェハを識別するための何らかのマーキング(図示せず)、例えばバーコードまたは2Dデータマトリクスが具備されている場合がある。
図3上の符号10は、「ピッキング可能な」デバイス、すなわち優良であることが自明で試験する必要のあるデバイスに対応する。
不良であることがわかっているデバイスは、ピッキングをする必要も試験する必要もない。
試験機6は、ピッキング可能なデバイス10の位置を知らないことから、多くの場合、不良であることがわかっているデバイス11、基準デバイス12または空隙位置13からデバイスをピッキングしようと試みる。
これらの位置からのピッキングおよび試験は、処理量、すなわち試験機6が毎時または毎日実施できる有意な試験の数を低減させる。
このようなウェハマップは、例えばウェハがダイシングされる前のウェハ試験中に生成可能である。
それは多くの場合、例えばウェハ試験中に予め判定した各デバイスの状態が一つの文字で明記される単純なASCIIファイルで構成されている。
この例では、ウェハマップは、それが対応しているウェハと同じ数の行と列のマトリクスを含んでいる。
この例において基準デバイスを含む、不良であることがわかっている各デバイスは、Xという文字で表示され、各空隙(デバイスが全くない位置)がゼロ(「0」)でマーキングされている。
「1」は、ピッキング可能なデバイス、すなわちピッキングおよび試験するに値する優良性が自明のデバイスの位置を示す。
ワークステーションは、この情報を用いて、試験機6の下のウェハの変位を制御し、こうしてこのウェハマップの例においては「1」でマーキングされたピッキング可能な位置からだけデバイスをピッキングし試験する。
第一に、ウェハマップは、多くの場合、例えば異なる工場または異なる部屋である、個別デバイス試験が行なわれる場所とは異なる場所でウェハ試験中に生成される。
したがって、ウェハマップをこの遠隔の場所から移送してワークステーション5内にロードする必要がある。
ウェハマップが喪失したりまたは対応するウェハのデバイス試験に間に合うように受領されないという状況が発生する。
この場合、試験機6はこのデータなしで続行し、ウェハ上の考えられる全てのデバイスの場所を試行する必要があり、その結果試験プロセスは緩慢になる。
このような場合、試験機6は、空隙位置からデバイスをピッキングしようとするかまたはすでに不良であることあるいは欠落していることがわかっている不良デバイスを試験するかあるいは優良な可能性のあるデバイスを無視するかもしれない。
作動中に、例えば予定の場所との関係においてシフトおよび/または回転しているような、デバイスが粘着性フィルム2上でわずかに誤配置されることが多く発生する。
この場合、試験機の装填ステーションにある真空ノズル66は、誤配置されたまたは配向がずれたデバイスを高い信頼性でピッキングするのが困難になるかもしれない。
配向および位置を補正しノズル下でデバイスをセンタリングするため、このピッキングノズルの近くに付加的なカメラが具備される場合がある。
このカメラの視野は必然的に狭く、予定の位置を大きく外れて変位してしまったデバイスを包含しない。
それ故、この段階では、わずかな補正しか行なうことができない。
これらのカメラはウェハの全体的な位置および配向を送出するにすぎず、各デバイスの個別の位置および配向は送出しない。
この場合、ピッキングエラーの危険性は極めて高い。実際、ピッキングノズルは、第一のデバイスまたはウェハ上のデバイスをピッキングするためにウェハとの関係において長い距離を走行しなければならない。
この初期変位中に累積するエラーはきわめて大きいものになり得、ピッキングノズルが、意図された第一のピッキング可能なデバイスをピッキングする代りに第一のピッキング可能なデバイスの隣接デバイスから開始することもおきてしまう。
第一のデバイスが優良デバイスではなく、ウェハがピッキング毎に一つのデバイスずつずれてしまうことから、ピッキングシーケンス全体がずれてしまう可能性がある。
ウェハ位置付けマップの生成と、このウェハからのデバイスのピッキングに同じ機械が使用されることから、ピッキング機を制御するために誤ったウェハマップを使用してしまう危険性は完全に回避される。
こうして、各デバイスの位置および配向を判定するために単一の画像が用いられ、こうして、ピッキングすべき各デバイスの個別の画像をキャプチャするのに必要であると考えられる時間や障害が回避される。
一実施形態では、ウェハはウェハ変位ユニットにより移動させられて、ピッキングすべき各デバイスをピッキングモジュールの下、例えば真空ノズルの下で連続的にセンタリングする。
好ましくは、ウェハの連続的変位は、ピッキング可能な位置のリストを通して最短経路に沿ってウェハを移動させるように、ビジョンシステムによって制御され、第一の画像に応じて決定される。
この第二の画像は、ピッキングモジュールの下でのウェハの精細な調整およびセンタリングのために用いられる。
好ましくは、この第二の画像の視野は第一の画像のものよりもはるかに小さく、ピッキングすべきデバイスだけかまたはこのデバイスとその直近のデバイスだけを表示する。
ピッキング可能なデバイスの大まかな位置は第一の大きな視野の画像から読取れることから、ピッキング不能位置での画像キャプチャのための時間的損失は一切無く、ピッキング可能なデバイスの大まかな位置まで非常に迅速にかつ直接的にウェハを移動させることができ、そこで、視界の狭い第二の高解像度画像が整列および配向の微細な補正を目的としてキャプチャされる。
ビジョンシステムによりキャプチャされた第一の画像は、このコードを包含し、このコードはデコードされる。
こうして、映像は、ウェハの位置および/または配向、ウェハ内の各デバイスの個別の位置および/または配向に応じて決まるデータ、ならびに前記コードに応じて決まる付随データを生成する。一実施形態では、コードはウェハの識別情報を含む。
ウェハは、モノブロックであるかまたは、異なるデバイスが互いに分離されている場合にはダイシング(カット/分離化)されている可能性がある。
「ウェハ」という表現は本出願において、試験およびさらなる処理のため相次いでピッキングされ得る他のピッキング可能なデバイスのセットを呼称するためにも使用されている。
これには、非限定的に以下のものが含まれる:
−ウェハセラミックフレーム;
−一つまたは複数のウェハにあるデバイスが、初期の配置とは異なる配置で粘着性フィルム上に設置されている、再装着(または再構築)されたウェハ;および
−リードフレームストリップから成形プロセスを用いて製造され、粘着性フィルム上に設置され、分離化された、QFNデバイスなどの他のデバイス。
例示された配置には、ウェハ装填機3が含まれ、ここで、試験すべき複数のデバイスを有する複数のウェハ1が図の右側部分でスタック3を形成している。
このスタック内のウェハ1は、ウェハフィーダ40で図の左側部分にある試験機6まで連続的に捕捉され移送される。符号30はテンショナーすなわち、ウェハが接着的にマウントされている粘着性フィルムにテンションを加えて、それをしっかりと平坦に保持するための機器を表わしている。
テンショナーは、フィルムを保持する調節可能なフレームを含んでいてよい。
真空ノズルによって保持されたデバイスは、タレットがその回転でインデキシングされると、一つの試験ステーション61から次の試験ステーションまで移動させられる。試験には例えば電気、機械および/または光学試験が含まれていてよい。
デバイスとしては、例えば非限定的にLEDまたはQFNコンポーネントなどのパッケージ化されたデバイスまたはダイが含まれていてよい。
好ましくは、カメラ50はウェハ全体の画像をキャプチャできる、広角レンズと比較的低い解像度とを有する工業用ビデオカメラである。
例えば4台といった複数のカメラを互いに隣接して取り付け、12インチウェハなどの非常に大きなウェハの画像をキャプチャするようにしてもよい。
別の実施形態では、同じカメラが大きいウェハに対し相対的に移動させられて、複数の連続する段階でウェハの高解像度の単一の第一の画像をキャプチャする。
好ましくは、同じウェハまたはウェハの各部分の多数の画像を、異なる照明条件下で連続的にキャプチャし、マージすることで、より多くの情報を提供する一つの高解像度画像を生成する。
このビジョンシステムは、第一の画像から、ウェハロケーションマップ、すなわち、ウェハの各デバイスの少なくとも大まかな位置および/または配向を示すファイルまたはデータを生成する。
これに関連して、位置決定は、誤差が個別のデバイスのサイズの0.25〜2倍である場合におおまかであると言われる。
好ましい実施形態においては、ピッキングモジュール66の下でデバイスの第2の精密な画像をキャプチャするため、そしてピッキングすべき連続する各デバイスの精細な位置調整およびセンタリングを行うために、付加的なより高解像度のカメラ63が具備される。
したがって、第一のカメラ50の一利点は、いかなるデバイス、またはいかなる優良デバイスも存在しないピッキングノズル66の下の位置でのウェハの移動をさせないことにある。
このマップは、コンピュータファイル内に記憶され、該コンピュータファイルは、好ましくは、例えばコードまたはデータマトリクスから読み取られたウェハ識別情報(wafer−id)、粘着性フィルム2上のウェハ1の全体的な位置および配向を示すためのウェハ配向および位置表示θ、X、Y、ならびにウェハの各々の個別デバイスの配向および位置を示すためのデバイスの配向および位置表示のマトリクスθij、Xij、Yijを含む。
任意には、品質表示Sijが各デバイスに付随する品質を示し、例えば、デバイスが優良であるか、インク付けされている(不良)か、基準であるか、または特別な品質のものであるかなどを示す。
XMLファイルを含む他のファイル構造、または例えばデータベースシステム内での記録として記憶装置が好まれ得る。
この角度は、好ましくは、ビジョンシステム5、50により測定され、ウェハロケーションマップ内に記憶される。
これは、ピッキングモジュールが正しい配向に沿ってデバイスの連続的横列(または縦列)を走査するために使用され得る。
ピックアンドプレース機器の不正確さのために、この機器がデバイスを粘着性フィルム上に設置するときに、デバイスがシフトされまたは回転させられてしまうかもしれない。
したがって、図示されている通り、粘着性フィルム上のデバイスの位置は予定されるものと異なる位置および配向であるかもしれない。
実施例において、デバイスは、誤整列され垂直軸Yに沿って変位させられている。
試験ステーション6のピッキングモジュール66が、図に示されたZ形状のラインに沿ってデバイスをピッキングする場合、第一のデバイス101および102は正しくピッキングされ、第三のデバイスはその縁部の極近で捕捉され、傾動してしまうかもしれない。
次のデバイス104は、第一の横列の走査中にピッキングされることはない。
第一の横列に属するデバイス104が108に代わってピッキングされる。
これは、ウェハ上のデバイスの誤整列がピッキングの失敗およびデバイスの混同を導き得ることを示している。
したがって、ピッキングモジュール66の下のウェハの位置の補正は、これらのエラーを補うために有用である。
この個別の配向は、ピッキングノズルの下でデバイス(例えば一つのデバイス)をセンタリングし配向する目的で、ビジョンシステムによって(少なくとも大まかに)判定され、ウェハロケーションマップ内に記憶され得る。
したがって、ピッキングモジュールの下へのウェハの初期設置は、非常に高速に行われ、またこの表示に基づいたものである。
この初期位置から後続するピッキング可能なデバイスへの連続的移動は、合計移動時間を最小限におさえる目的で、ビジョンシステムによって判定された軌道に沿って行なわれる。
この場合、最初に第一のタイプ/品質のデバイス18のピッキングおよび試験を行ない、その後で次のタイプ19のピッキングおよび試験を行なうことが望ましい場合が多い。
異なる二つの品質のデバイスを有するウェハの一例が、図11に示されている。
このウェハマップ内のこのデータは、(利用可能であるとき)ビジョンシステム5内に導入され、ビジョンシステムにより送出されるウェハロケーションマップとマージされて、図6に示されているように各デバイスについて品質係数Si,jを提供してもよい。
この品質係数は、デバイスがピッキングされる順序を判定するために使用されてよい。
データが合致しない場合、エラーメッセージが生成され、マージは実施されない。
試験機が、ウェハからピッキング可能な全てのデバイスをピッキングし試験した時点で、このウェハはウェハフィーダ40により後方に移動させられ、ウェハの新しい画像がビジョンシステム5、50によりキャプチャされる。
ほぼ全てのデバイスがピッキングされたウェハは、多くの場合「スケルトン」と呼ばれる。
ビジョンシステム5、50は、このスケルトンの画像から別のファイル、産出表示マップを生成する。
この産出表示マップは、予定された結果と比較され、非一貫性またはエラーが検出される。
オペレータまたはコンピュータソフトウェアは、全てのインク付けされたデバイスおよび基準デバイスがそこにあること、そしてピッキング可能なデバイスが一切忘れられていないことを検査するために、産出表示マップ内でこの情報を使用することができる。
過度に多いエラーが存在する場合、オペレータ妥当性確認が要求される。
2 粘着性フィルム
3 スタック
5 ビジョンシステム
6 試験機
10 デバイス
11 不良であることがわかっている各デバイス
12 基準デバイス
13 空隙
17 ピッキング可能な最初のデバイス
18 異なる品質タイプのデバイス
19 異なる品質タイプのデバイス
20 ウェハマップ
21 ファイル
30 テンショナー
40 ウェハフィーダ
50 カメラ
50 ビジョンシステム
61 試験ステーション
63 カメラ
65 タレット
66 ピッキングモジュール
Claims (13)
- ウェハハンドラであって、
粘着性フィルム(2)上にマウントされたウェハ(1)を装填するためのウェハ装填ステーション(3)と;
粘着性フィルムにテンションを加えるためのテンショナー(30)と;
前記ウェハから複数のデバイスを連続してピッキングするためのピッキングモジュール(66)と;
前記ウェハまたは前記ウェハの各部分の第一の画像をキャプチャするための一つまたは複数のカメラ(50)を有するビジョンシステム(5、50)であって、前記第一の画像が複数のデバイスを含んでいるシステムとを含む、
ウェハハンドラにおいて、
前記ビジョンシステムが、前記第一の画像から複数のデバイスの個別位置を判定するために配置されており、かつ、ウェハハンドラがさらに、前記ピッキングモジュール(66)の近位に位置決めされピッキングすべきデバイスの第二の画像をキャプチャするために配置された付加的なカメラ(63)を含み、
第二の画像が、ピッキングすべきデバイスがピッキングモジュールの下でセンタリングされるように、ウェハを精細に調整するために使用される、ウェハハンドラ。 - 前記ビジョンシステムが、前記第一の画像から前記ウェハ内の複数のデバイスの個別の配向を判定するために配置されている、請求項1に記載のウェハハンドラ。
- 前記ピッキングモジュールが、
前記ピッキングモジュールの下でピッキングするためにデバイスをセンタリングし整列させることを目的とする、前記ピッキングモジュール(66)の下で前記ウェハを変位させるための、一つのウェハ変位ユニット、を含み、
前記ビジョンシステム(5、50)が生成したウェハロケーションマップが、前記ウェハ変位ユニットの制御に使用される、請求項1または2に記載のウェハハンドラ。 - 前記ウェハを識別するために前記粘着性フィルム(2)上にコード(16)を含み、
前記ビジョンシステムが、前記コードおよび前記粘着性フィルム上の各デバイスの個別位置に応じてデータを生成するために配置されており、
前記データが前記ウェハの変位の制御に使用される、
請求項1〜3のいずれか一つに記載のウェハハンドラ。 - ウェハハンドリング方法であって、
粘着性フィルム(2)上にマウントされたウェハ(1)を装填するステップと;
前記粘着性フィルムにテンションを加えるステップと;
前記粘着性フィルム上の前記ウェハの第一の画像をキャプチャするステップであって、前記第一の画像が複数のデバイス(10)を表示しているステップと;
前記第一の画像から前記部分的なウェハ内の複数のデバイスの個別位置を判定することによって、前記ウェハからのデバイスの連続的ピッキングの制御に前記第一の画像を使用するステップと;
ウェハの第二の画像をキャプチャするステップと;
ピッキングすべきデバイスがピッキングモジュールの下でセンタリングされるようにウェハを精細に調整するために、第二の画像を使用するステップと、を含むウェハハンドリング方法。 - 前記第一の画像から、前記ウェハ内の複数のデバイスの個別の配向を判定するステップをさらに含む、請求項5に記載の方法。
- ピッキングモジュール(66)の下でピッキングするためにデバイスをセンタリングし、整列させることを目的として、前記ピッキングモジュール(66)の下で前記ウェハを変位させるステップをさらに含み、
前記ウェハの変位の制御に前記第一の画像が使用される、請求項5または6に記載の方法。 - 前記粘着性フィルム上のコードおよび前記粘着性フィルム上の各デバイスの個別位置に応じてデータを生成するステップをさらに含む、請求項5〜7のいずれか一つに記載の方法。
- 前記データが、前記粘着性フィルム上の前記ウェハの全体的な位置および/または配向をさらに示している、請求項8に記載の方法。
- 前記データが、前記粘着性フィルム上の第一のピッキング可能なデバイスの位置をさらに示している、請求項8または9に記載の方法。
- 前記ウェハ内の各デバイスの品質パラメータを表示するウェハマップを提供するステップと;
各デバイスの位置、配向および品質パラメータを表示するために前記第一の画像および前記ウェハマップに応じてデータを生成するステップとをさらに含む、請求項5〜10のいずれか一つに記載の方法。 - 前記デバイスがひとたびピッキングされた時点でウェハの第三の画像をキャプチャするステップと;
前記粘着性フィルム上に残っているデバイスが前記第一の画像および/または前記ウェハマップに基づいて予定していたものに対応しているか否かを、前記第三の画像で確認するステップとをさらに含む、請求項5〜11のいずれか一つに記載の方法。 - 少なくとも一つのマーカーを前記テンショナーに具備するステップと;
前記マーカーを含む画像をキャプチャするステップと;
前記画像に基づいて前記テンショナーを位置決めするステップとをさらに含む、請求項5〜12のいずれか一つに記載の方法。
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