JP2013505464A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013505464A5 JP2013505464A5 JP2012530966A JP2012530966A JP2013505464A5 JP 2013505464 A5 JP2013505464 A5 JP 2013505464A5 JP 2012530966 A JP2012530966 A JP 2012530966A JP 2012530966 A JP2012530966 A JP 2012530966A JP 2013505464 A5 JP2013505464 A5 JP 2013505464A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection system
- optical inspection
- illumination
- camera array
- images
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical Effects 0.000 claims 32
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 31
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 16
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims 1
- 230000002093 peripheral Effects 0.000 claims 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims 1
Claims (28)
- 検査されるフィーチャを含むワークピースを検査するための光学検査システムであって、
ワークピースをノンストップで輸送するように構成されたワークピース輸送機構、
第一のストロボ照明野タイプ及び第二のストロボ照明野タイプを提供するように構成された照明装置であって、フィーチャに近い第一端及び前記第一端とは反対側にあり、前記第一端から離間した第二端を有し、少なくとも一つの反射性側壁を有するライトパイプを含み、前記第一端が出口アパーチャを有し、前記第二端が少なくとも一つの第二端アパーチャを有して、それらを通して前記フィーチャの視認を提供する照明装置、
前記フィーチャをデジタル式に画像化するように構成され、第一の照明野を用いて前記フィーチャの第一の複数の画像を生成し、第二の照明野を用いて前記フィーチャの第二の複数の画像を生成するように構成されているカメラアレイ、及び
前記照明装置及び前記カメラアレイに操作可能に結合され、前記第一及び第二の複数の画像の少なくともいくつかを記憶し、他の装置に提供するように構成されている処理装置
を含む光学検査システム。 - 前記カメラアレイの第一の複数のカメラが非テレセントリック光学素子を含み、前記第一の複数のカメラが、ワークピース移動方向に対して垂直な軸に沿って互いに整列している、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記カメラアレイの第二の複数のカメラが非テレセントリック光学素子を含み、前記第二の複数のカメラが、ワークピース移動方向に対して垂直な軸に沿って互いに整列しているが、ワークピース移動方向において前記第一の複数のカメラから離間している、請求項2記載の光学検査システム。
- 前記カメラアレイが、
ワークピース移動方向に対して垂直な軸に沿って互いに整列しており、互いに重複しない視野を有する、テレセントリック光学素子を有する第一の複数のカメラ、
ワークピース移動方向に対して垂直な軸に沿って互いに整列しており、互いに重複しない視野を有する、テレセントリック光学素子を有する第二の複数のカメラ
を含み、前記第一及び第二の複数のカメラが、ワークピース移動方向に対して垂直な方向に互い違いに位置する視野を有する、請求項1記載の光学検査システム。 - 前記アレイ中の各カメラの視野の少なくとも一部分が、前記アレイ中の他のカメラと重複しないように、前記第一及び第二の複数のカメラが互い違いに配置されている、請求項4記載の光学検査システム。
- 前記処理装置へのワークピース移動の指標を提供するための、前記ワークピース輸送機構に操作可能に結合されたエンコーダをさらに含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記指標が約100ミクロンの解像度を有する、請求項6記載の光学検査システム。
- 前記照明装置が少なくとも一つのアーク灯を含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記照明装置が少なくとも一つの発光ダイオードを含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記ライトパイプが複数の反射性側壁を含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記少なくとも一つの反射性側壁が、照明を方位角方向に混合しながらも照明仰角を保存する湾曲した反射面を含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記照明装置が、照明の少なくとも一部分を所望の光源仰角に反射させるように配置された少なくとも一つのミラーを含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記少なくとも一つのミラーが、前記照明の一部分を前記少なくとも一つの反射性側壁に向けて所望の仰角で反射させるように傾けられている、請求項12記載の光学検査システム。
- 前記カメラアレイが、前記ライトパイプの前記第二端の近くに取り付けられ、少なくとも一つの第二端アパーチャを通して前記フィーチャを見るように構成されている、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記照明装置が、前記第二端の近くに配置された照明混合チャンバを含み、前記混合チャンバ及び前記ライトパイプが、少なくとも一つの第二端アパーチャそれぞれと整列した少なくとも一つの拡散板アパーチャを有する半透明の拡散板によって分けられている、請求項14記載の光学検査システム。
- 第一の光源が、ストロボ照明を前記混合チャンバの中に導入するように構成されている、請求項15記載の光学検査システム。
- 第一の暗視野光源が、ストロボ照明を前記拡散板と前記第一端との間で前記ライトパイプの中に導入するように構成されている、請求項16記載の光学検査システム。
- さらなる照明を前記拡散板と前記第一端との間で前記ライトパイプの中に導入するように構成された第二の暗視野光源をさらに含む、請求項17記載の光学検査システム。
- 前記混合チャンバが複数の反射面を含む、請求項15記載の光学検査システム。
- 前記処理装置が、前記カメラアレイの各カメラからの複数の画像を記憶するように構成されたランダムアクセスメモリを含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記ランダムアクセスメモリが、前記第一及び第二の複数の画像それぞれに関して前記ワークピース全体を表すための数の画像を記憶するのに十分である容量を有する、請求項20記載の光学検査システム。
- 前記カメラアレイ中の各カメラが約5メガピクセルの解像度を有し、前記ランダムアクセスメモリが約2.0ギガバイトの容量を有する、請求項21記載の光学検査システム。
- 前記処理装置が、記憶された画像を前記他の装置に提供するための高速データ転送バスを含む、請求項21記載の光学検査システム。
- 前記処理装置が、記憶された画像を前記他の装置に提供しながら同時に前記カメラアレイから画像を取得し、記憶するように構成されている、請求項23記載の光学検査システム。
- 前記高速データ転送バスが、周辺機器相互接続エクスプレス(PCIe)バスにしたがって作動する、請求項23記載の光学検査システム。
- 前記他の装置が、少なくとも部分的に前記第一及び第二の複数の画像に基づいて前記ワークピース上の前記フィーチャに関する検査結果を提供するように構成されている、請求項23記載の光学検査システム。
- 少なくとも一つの対象領域を有する製品を検査して検査結果を提供する方法であって、
製品とカメラアレイとの間に相対運動を生じさせること、
前記相対運動の間に、前記製品に対して第一の照明野タイプをストロボ照明しながら同時に前記カメラアレイからライトパイプを介して画像を取得すること、
取得された画像セットによって縫合画像を生成すること、
少なくとも部分的に前記縫合画像に基づいて少なくとも一つの対象領域に関する検査結果を決定すること、及び
前記検査結果を提供すること
を含む方法。 - 前記製品に対して第二の照明野タイプをストロボ照明しながら前記カメラアレイから前記ライトパイプを介してさらなる画像を取得すること、
前記カメラアレイから取得された前記さらなる画像からさらなる縫合画像を生成すること、及び
少なくとも部分的に前記さらなる縫合画像に基づいて前記少なくとも一つの対象領域に関する検査結果を決定すること
をさらに含む、請求項27記載の方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US24467109P | 2009-09-22 | 2009-09-22 | |
US24461609P | 2009-09-22 | 2009-09-22 | |
US61/244,616 | 2009-09-22 | ||
US61/244,671 | 2009-09-22 | ||
PCT/US2010/049617 WO2011037903A1 (en) | 2009-09-22 | 2010-09-21 | High speed optical inspection system with camera array and compact, integrated illuminator |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013505464A JP2013505464A (ja) | 2013-02-14 |
JP2013505464A5 true JP2013505464A5 (ja) | 2013-10-10 |
JP5809628B2 JP5809628B2 (ja) | 2015-11-11 |
Family
ID=43086315
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012530966A Expired - Fee Related JP5809628B2 (ja) | 2009-09-22 | 2010-09-21 | カメラアレイ及びコンパクトな組み込み照明装置を備えた高速光学検査システム |
JP2012530968A Withdrawn JP2013505465A (ja) | 2009-09-22 | 2010-09-21 | 高速高解像度三次元太陽電池検査システム |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012530968A Withdrawn JP2013505465A (ja) | 2009-09-22 | 2010-09-21 | 高速高解像度三次元太陽電池検査システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP5809628B2 (ja) |
KR (1) | KR20120084738A (ja) |
CN (2) | CN102656444B (ja) |
DE (1) | DE112010003742T5 (ja) |
WO (2) | WO2011037905A1 (ja) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120133920A1 (en) * | 2009-09-22 | 2012-05-31 | Skunes Timothy A | High speed, high resolution, three dimensional printed circuit board inspection system |
CN102253051A (zh) * | 2011-05-03 | 2011-11-23 | 3i系统公司 | 一种线扫描探测器检测太阳能电池片缺陷的系统 |
CN103076330A (zh) * | 2013-01-05 | 2013-05-01 | 王锦峰 | 多面阵相机aoi设备及其拍摄图像方法 |
US20140198185A1 (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-17 | Cyberoptics Corporation | Multi-camera sensor for three-dimensional imaging of a circuit board |
KR101351000B1 (ko) * | 2013-04-10 | 2014-01-15 | 주식회사 미루시스템즈 | 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치 |
US10126252B2 (en) | 2013-04-29 | 2018-11-13 | Cyberoptics Corporation | Enhanced illumination control for three-dimensional imaging |
US9599572B2 (en) * | 2014-04-07 | 2017-03-21 | Orbotech Ltd. | Optical inspection system and method |
JP6267366B2 (ja) * | 2014-05-05 | 2018-01-24 | アーコニック インコーポレイテッドArconic Inc. | 溶接測定装置及び方法 |
KR102025038B1 (ko) * | 2014-09-11 | 2019-09-24 | 사이버옵틱스 코포레이션 | 3-차원 형상측정에서 복수 카메라 및 광원으로부터의 포인트 클라우드 병합 |
DE102015101252B4 (de) * | 2015-01-28 | 2023-10-19 | Chromasens Gmbh | Beleuchtungsvorrichtung, optisches Analysesystem sowie Verfahren zum Abtasten einer Oberfläche |
CN106706657A (zh) * | 2015-11-17 | 2017-05-24 | 北大方正集团有限公司 | 基于喷墨印刷的在线检测系统及方法 |
US10976535B2 (en) * | 2016-03-30 | 2021-04-13 | Optical Wavefront Laboratories | Multiple camera microscope imaging with patterned illumination |
CN106093068A (zh) * | 2016-08-10 | 2016-11-09 | 武汉科技大学 | 锂电池极片表面缺陷检测装置的成像系统及其使用方法 |
CN106501267A (zh) * | 2016-10-18 | 2017-03-15 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 用于表面缺陷检测的线性光源装置及系统 |
CN106525874A (zh) * | 2016-11-01 | 2017-03-22 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种大幅面工业品表面检测系统 |
US20190320145A1 (en) * | 2017-02-02 | 2019-10-17 | Ismeca Semiconductor Holding Sa | Assembly and method for inspecting components |
TWI647444B (zh) * | 2017-05-12 | 2019-01-11 | 廣盈自動化工程股份有限公司 | Battery yield automatic detecting device and method thereof |
JP6584454B2 (ja) * | 2017-06-14 | 2019-10-02 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び方法 |
CN109425617A (zh) * | 2017-08-31 | 2019-03-05 | 菱光科技股份有限公司 | 光学检测系统及图像处理方法 |
CN107478661A (zh) * | 2017-09-11 | 2017-12-15 | 深圳市中天元光学玻璃有限公司 | 一种玻璃屏幕在线检测装置 |
JPWO2019188198A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2021-03-25 | 倉敷紡績株式会社 | 線状物の3次元計測装置、および、線状物の3次元計測方法 |
CN109000566B (zh) * | 2018-08-15 | 2020-09-11 | 深圳科瑞技术股份有限公司 | 激光扫描三维成像和ccd二维成像组合测量方法及装置 |
US20220070343A1 (en) * | 2019-01-14 | 2022-03-03 | Orbotech Ltd. | Multiplexed Image Acquisition Device for Optical System |
CN111060516B (zh) * | 2019-12-10 | 2022-03-08 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 光学元件亚表面缺陷的多通道原位检测装置及检测方法 |
JP7373436B2 (ja) * | 2020-03-09 | 2023-11-02 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | ダイボンディング装置および半導体装置の製造方法 |
DE102021104947B4 (de) | 2021-03-02 | 2023-05-25 | Gerhard Schubert Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Scanner, damit ausgestattete Ermittlungs-Vorrichtung sowie Verfahren für deren Betrieb |
CN113075232A (zh) * | 2021-03-31 | 2021-07-06 | 深圳中科飞测科技股份有限公司 | 一种检测设备及检测方法 |
KR102528246B1 (ko) * | 2021-04-30 | 2023-05-03 | (주)자비스 | 배터리 내부 전체 전극 상태 검사 시스템 |
CN116500050B (zh) * | 2023-06-28 | 2024-01-12 | 四川托璞勒科技有限公司 | 一种pcb板视觉检测系统 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1577388A (en) | 1923-05-19 | 1926-03-16 | Hilger Ltd Adam | Projection apparatus |
JP4558112B2 (ja) * | 1998-10-13 | 2010-10-06 | 山形カシオ株式会社 | 部品搭載装置用の照明装置とその照明装置を備える部品搭載装置 |
GB9828109D0 (en) * | 1998-12-19 | 1999-02-17 | Kestra Ltd | Inspection equipment and methods of inspection |
GB2375392B (en) | 2000-01-07 | 2004-12-15 | Cyberoptics Corp | Phase profilometry system with telecentric projector |
CN1242290C (zh) * | 2003-09-18 | 2006-02-15 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种能使光束光能分布均匀的均化光学组件 |
WO2009094489A1 (en) * | 2008-01-23 | 2009-07-30 | Cyberoptics Corporation | High speed optical inspection system with multiple illumination imagery |
US20100074515A1 (en) * | 2008-02-05 | 2010-03-25 | Kla-Tencor Corporation | Defect Detection and Response |
-
2010
- 2010-09-21 CN CN201080042290.6A patent/CN102656444B/zh active Active
- 2010-09-21 CN CN2010800418027A patent/CN102498387A/zh active Pending
- 2010-09-21 WO PCT/US2010/049619 patent/WO2011037905A1/en active Application Filing
- 2010-09-21 WO PCT/US2010/049617 patent/WO2011037903A1/en active Application Filing
- 2010-09-21 DE DE112010003742T patent/DE112010003742T5/de not_active Withdrawn
- 2010-09-21 KR KR1020127009863A patent/KR20120084738A/ko not_active Application Discontinuation
- 2010-09-21 JP JP2012530966A patent/JP5809628B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-09-21 JP JP2012530968A patent/JP2013505465A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2013505464A5 (ja) | ||
JP5809628B2 (ja) | カメラアレイ及びコンパクトな組み込み照明装置を備えた高速光学検査システム | |
US8670031B2 (en) | High speed optical inspection system with camera array and compact, integrated illuminator | |
JP5559163B2 (ja) | 多結晶ウエハの検査方法 | |
US8681211B2 (en) | High speed optical inspection system with adaptive focusing | |
WO2010005399A2 (en) | Hole inspection method and apparatus | |
JP2005300553A5 (ja) | ||
JP5481484B2 (ja) | 3次元物体を2次元平面画像に光学的に変換する装置および方法 | |
CN110809731A (zh) | 玻璃处理装置和方法 | |
JP6310372B2 (ja) | 検査装置 | |
JP2012502316A5 (ja) | ||
JP2010261837A (ja) | 外観検査装置及び外観検査用の光学装置 | |
TWM355371U (en) | Detection device for inner thread of nut | |
TWM467872U (zh) | 光學檢查設備的取像系統 | |
KR101658700B1 (ko) | 표면 검사 광학장치 및 표면 검사방법 | |
KR20160121716A (ko) | 하이브리드 조명 기반 표면 검사 장치 | |
JP7175214B2 (ja) | 検査装置 | |
JP6616040B1 (ja) | 外観検査装置 | |
JP2016065782A (ja) | 検査装置 | |
JP2014098676A (ja) | 両端面撮像装置及び両端面撮像方法 | |
JP2008064656A (ja) | 周縁検査装置 | |
JP7448808B2 (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
US11774374B2 (en) | Inspection device | |
KR101485425B1 (ko) | 커버 글라스 분석 장치 | |
JP2012098131A (ja) | 配光特性測定装置、配光特性検査装置、配光特性測定プログラム、配光特性測定方法および配光特性検査方法 |