TWM467872U - 光學檢查設備的取像系統 - Google Patents
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Description
本新型是有關於一種取像系統,特別是指一種光學檢查設備的取像系統。
在光學檢測領域中,有些物品需要使用環形光源照明以能清楚觀察物品各區域是否有缺陷,例如一般曲面鏡片通常使用環形光源照明。環形光源的結構通常是光源圍繞一中央穿孔分布呈環形,該中央穿孔可供光線穿過以使一影像擷取裝置透過該中央穿孔擷取一待測物品的影像。
現有的光學檢測設備中僅設有一個環形光源以搭配一個影像擷取裝置,所以一次僅能擷取一個待測物品的影像,使得檢測效率較差。
然而,參閱圖1與圖2,若同時設置兩個環形光源91時,環形光源91會遮擋影像擷取裝置92的視野,如圖2所示,所擷取的待測物品影像931會被環形光源影像911干擾。
故,如何增加環形光源設置的數量以使影像擷取裝置可以同時擷取多個待測物品的影像,並且使影像不
受干擾,實為需要改進的課題。
因此,本新型之目的,即在提供一種光學檢查
設備的取像系統,其能同時擷取多個分別由環形光源照明的待測物品影像且不會被環形光源干擾。
於是本新型光學檢查設備的取像系統,用以擷
取在一工作平台上彼此間隔設置的多個待測物品的影像,該取像系統包含:一影像擷取裝置、多個環形光源及多個反射單元。該影像擷取裝置包括一朝向該工作平台設置的鏡頭。該等環形光源分布於該鏡頭與該工作平台之間且彼此相間隔地朝向該工作平台設置以對應照射該等待測物品,每一環形光源具有一中央取像穿孔。該等反射單元分別對應該等環形光源設置,每一反射單元包括對應該鏡頭設置的一第一反射件,及對應該環形光源設置的一第二反射件,該第二反射件位於該中央取像穿孔相反於該工作平台側,以將該待測物品反射的光線反射至該第一反射件,再由該第一反射件反射至該鏡頭,藉此使該影像擷取裝置同時擷取該等待測物品的影像。
本新型所述的光學檢查設備的取像系統,其
中,該等環形光源設置於同一水平高度。
本新型所述的光學檢查設備的取像系統,其
中,該等環形光源對稱分布。
本新型所述的光學檢查設備的取像系統,其
中,每一反射單元的第一反射件為一反射鏡。
本新型所述的光學檢查設備的取像系統,其
中,每一反射單元的第二反射件為一稜鏡且其一表面塗佈反射層。
本新型之功效,本新型光學檢查設備的取像系
統藉由該等反射單元分別將該等待測物品反射的光線傳遞至該鏡頭,而使該鏡頭的視野不會被該等環形光源阻擋,能夠同時擷取每一待測物品個別的影像,從而能夠增加影像擷取裝置的使用效率及檢查效率,並且可以減少影像處理成本。
100‧‧‧光學檢查設備的取像系統
1‧‧‧影像擷取裝置
11‧‧‧鏡頭
2‧‧‧環形光源
21‧‧‧中央取像穿孔
3‧‧‧反射單元
31‧‧‧第一反射件
32‧‧‧第二反射件
7‧‧‧待測物品
8‧‧‧工作平台
本新型之其他的特徵及功效,將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現,其中:圖1是一示意圖,說明現有的光學檢查設備若設置兩個環形光源的狀態;圖2是一示意圖,說明現有的光學檢查設備若設置兩個環形光源時,影像擷取裝置之鏡頭的視野會被遮擋;圖3是一示意圖,說明本新型光學檢查設備的取像系統之第一較佳實施例;圖4是一示意圖,說明該第一較佳實施例所擷取的影像;圖5是一示意圖,說明本新型光學檢查設備的取像系統之第二較佳實施例;圖6是一示意圖,說明該第二較佳實施例所擷取的影像。
在本新型被詳細描述之前,應當注意在以下的
說明內容中,類似的元件是以相同的編號來表示。
參閱圖3與圖4,本新型光學檢查設備的取像系
統100之第一較佳實施例用以擷取在一工作平台8上彼此間隔設置的多個待測物品7的影像。該取像系統100包含:一影像擷取裝置1、多個環形光源2及多個反射單元3。
該影像擷取裝置1包括一朝向該工作平台8設
置的鏡頭11。該等環形光源2分布於該鏡頭11與該工作平台8之間且彼此相間隔地朝向該工作平台8設置以對應照射該等待測物品7。每一環形光源2具有一中央取像穿孔21,以供光線通過。在本實施例,共設置兩個環形光源2,其可採用現有的用於光學檢查設備的環形燈具。該等環形光源2與該鏡頭11的配置關係,以其等正投影於該工作平台8的位置而言,該等環形光源2對稱地分別位於該鏡頭11兩側,亦即,該鏡頭11位於該等環形光源2中間,三者呈線性排列。而就空間的高度位置而言,該等環形光源2設置於同一水平高度並低於該鏡頭11。
該等反射單元3分別對應該等環形光源2設
置。每一反射單元3包括對應該鏡頭11設置的一第一反射件31,及對應該環形光源2設置的一第二反射件32。該第二反射件32位於該中央取像穿孔21相反於該工作平台8側,以將該待測物品7反射的光線反射至該第一反射件31,再由該第一反射件31反射至該鏡頭11,藉此使該影像
擷取裝置1同時擷取該等待測物品7的影像。具體來說,在本實施例,對應兩個環形光源2而設置兩個反射單元3,每一反射單元3的第一反射件31為一反射鏡,且第二反射件32為一稜鏡且其一表面塗佈反射層。本實施例使用稜鏡可方便安裝於環形光源2,但是第二反射件32也可以為一反射鏡,並不以本實施例為限。再者,該第二反射件32即位於環形光源2的中央取像穿孔21上方,而該第一反射件31位於該鏡頭11下方一定距離處並與該第二反射件32相對,以將從第二反射件32反射過來的光線反射至該鏡頭11。
圖4為該影像擷取裝置1擷取該等待測物品7
的影像畫面的示意圖,在該鏡頭11的視野範圍4內可清楚地擷取兩個待測物品影像41。亦即,藉由該等反射單元3分別將該等待測物品7反射的光線傳遞至該鏡頭11,而使該鏡頭11的視野不會被該等環形光源2阻擋,能夠同時擷取每一待測物品7個別的影像。
參閱圖5與圖6,本新型光學檢查設備的取像系
統100之第二較佳實施例,其與第一較佳實施例大致相同,惟,在第二較佳實施例是設置四個環形光源2且對應設置四個反射單元3,以供同時擷取四個待測物品7之影像。
該等環形光源2與該鏡頭11的配置關係,以其
等正投影於該工作平台8的位置而言,該等環形光源2與該鏡頭11概呈十字形排列,亦即,該鏡頭11位於該等環形光源2中間,該等環形光源2以該鏡頭11為中心對稱地呈十字形排列。每一反射單元3亦如第一較佳實施例包括
對應該鏡頭11設置的一第一反射件31,及對應該環形光源2設置的一第二反射件32,且其設置方式與第一較佳實施例相同,於此不再重述。
同樣地,如圖6所示為第二較佳實施例的影像
擷取裝置1擷取該等待測物品7的影像畫面的示意圖,在該鏡頭11的視野範圍4內可清楚地擷取四個待測物品影像41。
前述第一、第二較佳實施例是以鏡頭11的視野
範圍4為方形為例說明,在方形的視野範圍4下,該等環形光源2以對稱配置較佳。然而,該等環形光源2的配置亦可依據實際需求調整,並不限制要對稱設置。
如前述第一、第二較佳實施例的影像擷取裝置1
可以同時擷取多個待測物品7的影像而不會受到環形光源2的遮擋,如此不僅能夠一次檢查多個待測物品7以增加影像擷取裝置1的使用效率及檢查效率,而且影像擷取裝置1所擷取的每一幀影像中含有多個待測物品影像41,使該等待測物品影像41的影像處理可以同步完成。因而相較於現有檢查設備擷取的每一幀影像僅含有一個待測物品影像即可減少影像處理成本,例如第一較佳實施例可一次處理兩個待測物品影像41,相較於現有技術兩個待測物品影像需處理兩次,即可減少一半的影像處理成本;而如第二較佳實施例可一次處理四個待測物品影像41,對比於現有技術四個待測物品影像需要處理四次,更可大幅降低影像處理成本。
綜上所述,本新型光學檢查設備的取像系統100
藉由該等反射單元3分別將該等待測物品7反射的光線傳遞至該鏡頭11,而使該鏡頭11的視野不會被該等環形光源2阻擋,能夠同時擷取每一待測物品7個別的影像,從而能夠增加影像擷取裝置1的使用效率及檢查效率,並且可以減少影像處理成本,故確實能達成本新型之目的。
惟以上所述者,僅為本新型之較佳實施例而已,當不能以此限定本新型實施之範圍,即大凡依本新型申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。
100‧‧‧光學檢查設備的取像系統
1‧‧‧影像擷取裝置
11‧‧‧鏡頭
2‧‧‧環形光源
21‧‧‧中央取像穿孔
3‧‧‧反射單元
31‧‧‧第一反射件
32‧‧‧第二反射件
7‧‧‧待測物品
8‧‧‧工作平台
Claims (5)
- 一種光學檢查設備的取像系統,用以擷取在一工作平台上彼此間隔設置的多個待測物品的影像,該取像系統包含:一影像擷取裝置,包括一朝向該工作平台設置的鏡頭;多個環形光源,分布於該鏡頭與該工作平台之間且彼此相間隔地朝向該工作平台設置以對應照射該等待測物品,每一環形光源具有一中央取像穿孔;及多個反射單元,分別對應該等環形光源設置,每一反射單元包括對應該鏡頭設置的一第一反射件,及對應該環形光源設置的一第二反射件,該第二反射件位於該中央取像穿孔相反於該工作平台側,以將該待測物品反射的光線反射至該第一反射件,再由該第一反射件反射至該鏡頭,藉此使該影像擷取裝置同時擷取該等待測物品的影像。
- 如請求項1所述的光學檢查設備的取像系統,其中,該等環形光源設置於同一水平高度。
- 如請求項2所述的光學檢查設備的取像系統,其中,該等環形光源對稱分布。
- 如請求項1所述的光學檢查設備的取像系統,其中,每一反射單元的第一反射件為一反射鏡。
- 如請求項1所述的光學檢查設備的取像系統,其中,每一反射單元的第二反射件為一稜鏡且其一表面塗佈反射層。
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TW102214275U TWM467872U (zh) | 2013-07-30 | 2013-07-30 | 光學檢查設備的取像系統 |
CN201320569611.9U CN203432921U (zh) | 2013-07-30 | 2013-09-13 | 光学检查设备的取像系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW102214275U TWM467872U (zh) | 2013-07-30 | 2013-07-30 | 光學檢查設備的取像系統 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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TWM467872U true TWM467872U (zh) | 2013-12-11 |
Family
ID=50061952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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TW102214275U TWM467872U (zh) | 2013-07-30 | 2013-07-30 | 光學檢查設備的取像系統 |
Country Status (2)
Country | Link |
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TW (1) | TWM467872U (zh) |
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- 2013-07-30 TW TW102214275U patent/TWM467872U/zh not_active IP Right Cessation
- 2013-09-13 CN CN201320569611.9U patent/CN203432921U/zh not_active Expired - Fee Related
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