JP2013504082A - パターン生成システム - Google Patents

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Abstract

パターン生成システムは、光学系(106)および回転子(100)を備えている。光学系(106)は、光学スキャナc(104)にレーザ像を投影するように構成されている。回転子(100)は、互いに対して第1角度で配置された複数の光学アーム(102)を有し、光学スキャナ(104)をさらに備えている。レーザ像は、光学スキャナ(104)によって回転子(100)の複数の光学アーム(102)の各々に順次反射され、ワーク上にパターンを生成する。

Description

実施形態の例は、パターン生成器、パターン生成システム、ツール、焦点制御システム、ワークおよび/または基板(例えば、パターンまたは像を読み書きする比較的大きくて平坦な基板)を走査する、方法、装置およびシステムに関する。
幾つかの関連技術のパターン生成システムでは、ステージがワークを一方向に進める一方で、ヘッドがワークを垂直方向に走査する。静止したワークおよびxy移動可能な走査ヘッド、または、静止したヘッドおよびxy移動可能なステージを有したパターン生成システムもさらに知られている。
移動可能な走査ヘッドを有したパターン生成システムに関する潜在的な問題は、走査ヘッドが冷却水、ガスおよび/または無線周波数(RF)ケーブルなどの提供を必要とする場合があるということである。ケーブルの曲がりが、システムの信頼性および/または性能に否定的に影響することもある。同様に、多くの関連技術のパターン生成システムは、比較的重く、嵩張り、および/または、比較的速い動作には適していない。
さらに、すべての動作がxy軸ステージによって行なわれる関連技術パターン生成システムでは、サイズ、重量の問題があり、および/または、比較的速い動作に適していないことがある。
さらに、両方のタイプのパターン生成システムには、比較的大きい慣性および/または比較的高い機械的なオーバーヘッドに関する問題がある場合があり、走査の速度および/または機敏さを制限することがある。
本発明は、ワークを処理する方法およびシステムまたは装置について記述し、このシステムは、複数の回転光学アームと、光学スキャナとを備えている。
本発明の実施形態の例では、システムは、ワークのパターニング(または測定)中に書込み(または読取り)ビームの再合焦を行う焦点系を備えている。この焦点系には、焦点センサおよび/または焦点センサ系からの位置情報および/またはワーク表面構造情報が提供されることが可能である。
本発明の実施形態の例では、回転子系の並進および/または回転(例えば、z軸方向およびy軸方向の並進、ならびにx軸回転)にそれほど高感度でなくてもよい(例えば、有意に高感度でない)焦点系を提供する。
実施形態の例による焦点モータは、共通の焦点を有した複数のレンズを備えたすべてのシステムまたは実質的にすべてのシステムに適用可能であり、比較的速い投影スワップが使用され、抑制した(例えば、最小の)振動生成が要求される。
幾つかの実施形態の例は、回転パターン生成システムを提供する。
少なくとも1つの実施形態の例は、光学系と回転子とを備えるパターン生成システムまたは他のツールを提供する。この光学系は、光学スキャナ上にレーザ像を投影するように構成されている。この回転子は、互いに対して第1角度で配置された複数の光学アームと、光学スキャナとを備えている。光学スキャナによってレーザ像が回転子の複数の光学アームの各々に順次反射され、ワーク上にパターンを生成する。
少なくとも1つの他の実施形態の例は、パターン生成器または他のツールでの実施のための回転子を提供する。少なくともこの実施形態の例によれば、回転子は、光学スキャナと、互いに対して第1角度で配置された複数の光学アームとを備えている。光学スキャナによってレーザ像が回転子の複数の光学アームの各々に順次反射され、ワーク上にパターンを生成する。
光学スキャナは、プリズムなどの形態をなした角錐形(pyramid)の光学スキャナであ
り得る。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、複数の光学アームの各々は、ワーク上に或る弓状の長さを有する走査像をプリントすることが可能である。各光学アームは、対応する走査像をプリントすべく順次動作することが可能であり、対応する走査像を各光学アームがプリントする期間が重複しない。
レーザ像は、静止ビームの形態であることが可能であり、静止ビームが光学スキャナの縁部に達したときに、複数の光学アームの各々の間の投影スワップが生じることがある。
光学スキャナおよび複数の光学アームは、一定の速度または実質的に一定の速度で回転することが可能である。光学スキャナおよび複数の光学アームは、同一の速度または実質的に同一の速度で回転することが可能である。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、パターン生成システムは、ワークの表面構造マップと、複数の光学アーム間の投影スワップ中、投影スワップ後、またはその両方における複数の光学アーム間の焦点長さの変動とのうちの一方または両方にしたがって公称焦点位置を変更するように構成された焦点系をさらに備えることが可能である。
少なくとも1つの実施形態の例によれば、この焦点系は、レーザ像を投影する書込みビームの再合焦を行うように構成された可変鏡をさらに備えることが可能である。ワーク上にパターンを生成すべく可変鏡から反射された光を平面に向けるように構成されたビーム分割器を具備することも可能である。
少なくとも1つの他の実施形態の例では、この焦点系は、ワークの表面構造マップと、複数の光学アーム間の投影スワップ中、投影スワップ後、またはその両方における複数の光学アーム間の焦点長さの変動とのうちの一方または両方にしたがって公称焦点位置を変更するように構成された焦点装置と、該焦点装置を駆動するように構成された焦点モータとを備えることが可能である。
パターン生成システムは、焦点モータに位置情報を提供するように構成された焦点センサまたは焦点センサ系をさらに備えることが可能である。
焦点センサは、ワークを処理する(例えば、撮像または測定する)光学アームの同時走査中に動的に再合焦を行う「リアルタイム」位置情報を提供することが可能である。これに代えて、焦点センサは、ワークの、以前の走査からの位置情報を提供することが可能である。
実施形態の例によるパターン生成システムまたは他のツールの一部を示す図。 実施形態の例による焦点モータの斜視図。 図2の線III−III’に沿って得られた焦点モータ200の断面。 実施形態の例による軸線上作用力/反作用力ユニットを示す図。 実施形態の例による軸線外作用力/反作用力ユニットを示す図。 別の実施形態の例による軸線外作用力/反作用力ユニットを示す図。 さらに別の実施形態の例による軸線外作用力/反作用力ユニットを示す図。 再合焦が可変鏡で行なわれる焦点系の実施形態の例を示す図。 再合焦(例えば、動的な再合焦)を行う焦点系に位置情報を提供するように構成された、および/または、ワーク上への書込み/読取りに先立ってワーク表面構造マップを提供するように構成された焦点センサまたはセンサ・アレイの異なる実施および位置を示している。 再合焦(例えば、動的な再合焦)を行う焦点系に位置情報を提供するように構成された、および/または、ワーク上への書込み/読取りに先立ってワーク表面構造マップを提供するように構成された焦点センサまたはセンサ・アレイの異なる実施および位置を示している。
実施形態の例は、以下の図面に関して、より詳細に議論される。
実施形態の例は、ここでは添付図面を参照して、より十分に記述され、幾つかの実施形態の例が示される。それらの図面では、層および領域の厚さは、明瞭さのために誇張されている。図面中の同様の参照符号は、同様の要素を示している。
詳細な実例となる実施形態がここでは示されている。しかし、ここで示される特定の構造的および機能的な詳細は、実施形態の例について記述する目的のための単なる代表例である。しかし、実施形態の例は、多くの代替の形態で具現化されることが可能であり、ここで述べられた実施形態の例だけに限定されるものとして解釈されるべきではない。
しかし、開示される特定の実施形態の例に本発明の範囲を限定する意図がないことは理解されるべきである。これに対して、実施形態の例は、本発明の範囲内にあるすべての改良物、等価物、および代替物を包含すべきである。同様の符号は、図の記述の全体に亘って同様の要素を参照している。
用語「第1」、「第2」などは、様々な要素について記述するためにここでは使用されることがあるが、これらの要素は、これらの用語に限定されるべきでない。これらの用語は、1つの要素を別の要素から区別するためだけに使用されている。例えば、実施形態の例の範囲を逸脱することなしに、第1要素を第2要素と名付けることができ、同様に、第2要素を第1要素と名付けることができる。ここで使用される用語「および/または」は、関連する列挙した一または複数のアイテムのすべての組合せを含んでいる。
要素が別の要素に「接続される」または「結合される」ものとして引用される場合、その要素は、別の要素に直接的に接続または結合されることができ、あるいは、介在する要素が存在することがある。対照的に、要素が別の要素に「直接接続される」または「直接結合される」ものとして引用される場合、介在する要素は存在しない。要素間の関係を記述するために使用される他の言葉は、同様に解釈されるべきである(例えば、「の間に」に対して「直接…の間に」、「隣接して」に対して「直接隣接して」などである)。
ここで使用される用語は、特定の実施形態のみについて記述する目的のものであり、限定するようには意図していない。ここで使用される単数「a(1つの)」「an(1つの)」、および「the(その)」は、文脈が明白的に示していなければ、同様に複数形を含むように意図している。さらに、用語「comprises(含む/備える)」、「comprising(含んでいる/備えている)」、「includes(含む/具備する」、および/または「including(含んでいる/具備している)」は、ここで使用される際に、記述した特徴、整数、ステップ、動作、要素、および/または構成要素の存在を指定するが、一または複数の他の特徴、整数、ステップ、動作、要素、構成要素
、および/またはそれらの群の存在または追加を妨げるものではないと理解される。
さらに、幾つかの代替の実施では、特記した機能/作用が、図に特記した順序以外の順序で生じることがある。例えば、連続して示される2つの図は、実際には、実質的に同時に実行されることがあるか、または、該当する機能/作用に依存して、場合によっては逆の順番で実行されることがある。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、読取りおよび書込みは、広範な意味で理解されるべきである。例えば、読取りは、比較的大きい基板またはワークの、顕微鏡検査法、検査、計測学、分光学、干渉分光法、光波散乱計測法、および前述のものの一または複数の組合せなどを含むことが可能である。書込みは、フォトレジストを露出すること、光学的加熱、除去によってアニールすること、光学ビームによるその表面への任意の他の変更を生じさせることなど、を含むことが可能である。基板の例は、平面パネルディスプレイ、プリント基板(PCB)、パッケージ化用途、光起電力パネルなどにおける基板またはワークを含んでいる。
実施形態の例は、基板上に像を書き込む/パターニングするパターン生成器またはパターン生成システムで実施されることが可能である(例えば、一または複数の像生成変調器を備えたパターン生成器である)。
さらに、実施形態の例は、一または複数の検知器、センサ(例えば、時間遅延積分(TDI)センサ)、またはカメラ(例えば、電荷結合素子(CCD))を有した測定および/または検査ツールに関連して使用されることが可能である。
さらに、実施形態の例は、3次元(3D)基板などの比較的厚い基板上にパターンを書き込むパターン生成器またはパターン生成システムで実施されることも可能であるか、または、比較的厚いワークまたは基板を測定および/または検査するツールとして実施されることも可能である(例えば、約2μm〜約100μmのフォトレジスト(または、さらに厚いフォトレジストを含む)における3次元(3D)パターンを測定または検査するツールである)。
本発明は、ワークを処理する方法およびシステムまたは装置について記述し、このシステムは、複数の回転光学アームと、光学スキャナとを備えている。
本発明の実施形態の例では、システムまたは装置は、ワークのパターニング(または測定)中の書込み(または読取り)ビームの再合焦を行う焦点系を備えている。この焦点系には、焦点センサおよび/または焦点センサ系からの位置情報および/またはワーク表面構造情報が提供されることが可能である。
本発明の実施形態の例による焦点モータは、共通の焦点を持つ複数のレンズを備えたすべてのシステムまたは実質的にすべてのシステムに適用可能であり、比較的速い投影スワップが使用され、抑制された(例えば、最小の)振動生成が要求される。
幾つかの実施形態の例は、回転パターン生成システムを提供する。
少なくとも1つの実施形態の例は、光学系と回転子とを備えるパターン生成システムまたは他のツールを提供する。光学系は、光学スキャナ上にレーザ像を投影するように構成されている。この回転子は、互いに対して第1角度で配置された複数の光学アームと、光学スキャナとを備えている。光学スキャナによってレーザ像が回転子の複数の光学アームの各々に順次反射され、ワーク上にパターンを生成する。
少なくとも1つの他の実施形態の例は、パターン生成器または他のツールにおける実施
のための回転子を提供する。少なくともこの実施形態の例によれば、回転子は、光学スキャナと、互いに対して第1角度で配置された複数の光学アームとを備えている。光学スキャナによってレーザ像が回転子の複数の光学アームの各々に順次反射され、ワーク上にパターンを生成する。
光学スキャナは、プリズムなどの形態をなした角錐形の光学スキャナであり得る。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、複数の光学アームの各々は、ワーク上に或る弓状の長さを有する走査像をプリントすることが可能である。各光学アームは、対応する走査像をプリントすべく順次動作することが可能であり、各光学アームが、対応する走査像をプリントする期間が重複しない。
レーザ像は、静止ビームの形態であることが可能であり、静止ビームが光学スキャナの縁部に達したときに、複数の光学アームの各々の間の投影スワップが生じることが可能である。
光学スキャナおよび複数の光学アームは、一定の速度または実質的に一定の速度で回転することが可能である。光学スキャナおよび複数の光学アームは、同一の速度または実質的に同一の速度で回転することが可能である。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、パターン生成システムは、複数の光学アーム間の投影スワップ中におよび/またはその投影スワップ後に、ワークの表面構造マップおよび/または複数の光学アーム間の焦点長さの変動にしたがって公称焦点位置を変更するように構成された焦点系をさらに備えることが可能である。
少なくとも1つの実施形態の例によれば、焦点系は、レーザ像を投影する書込みビームの再合焦を行うように構成された可変鏡をさらに備えることが可能である。ワーク上にパターンを生成すべく可変鏡から反射された光を平面に向けるように構成されたビーム分割器を備えることも可能である。
少なくとも1つの他の実施形態の例では、焦点系は、複数の光学アーム間の投影スワップ中におよび/またはその投影スワップ後に、ワークの表面構造マップおよび/または複数の光学アーム間の焦点長さの変動にしたがって公称焦点位置を変更するように構成された焦点装置と、焦点装置を駆動するように構成された焦点モータとを備えることが可能である。
パターン生成システムは、焦点モータに位置情報を提供するように構成された焦点センサまたは焦点センサ系をさらに備えることが可能である。
焦点センサは、ワークを処理する(例えば、撮像または測定する)光学アームの同時走査中に動的に再合焦を行う「リアルタイム」位置情報を提供することが可能である。これに代えて、焦点センサは、ワークの以前の走査からの位置情報を提供することが可能である。
位置情報(例えば、高さ変動)を提供する焦点センサは、ワークの書き込み/測定をするための位置情報を使用して、前記光学アームと同一または異なる光学アームに位置することが可能である。
或る実施形態の例では、焦点センサ系は、ワークを処理する前に測定される、ワーク表面構造マップを提供するように構成されたセンサ・アレイを備えることが可能である。焦点センサ系は、ツールの一方の書込み/測定領域、および/またはローディング領域に位置することが可能である。
焦点モータは、線形光学符号化器を使用して、および/または、焦点センサによって提供される位置情報によって、および/または、ツールによって処理されるべきワークの予め測定された表面構造マップに基づいて、配置されることが可能である。焦点モータは、線形光学符号化器を使用して、および/または、焦点センサによって提供される位置情報によって、および/または、ツールによって処理されるべきワークの測定された表面構造の情報(例えば、表面構造マップ)に基づいて、配置されることが可能である。
焦点モータは、パターン生成システムの運動部分に作用する力を打ち消すように構成された釣り合い錘を備えることが可能である。モータ本体は、熱が釣り合い錘に伝達するように伝熱性接着剤によって釣り合い錘に接着されることが可能であり、その釣り合い錘は冷却フランジとして作用する。
焦点モータは、釣り合い錘に接続されたホースをさらに備えることが可能である。ホースは、吸引によって焦点モータを冷却するように構成されることが可能である。柔軟なホースは、釣り合い錘に接続され、該釣り合い錘に空気を供給するように構成されることが可能である。ダンパー・リングは、釣り合い錘に装着され、該釣り合い錘と焦点モータの作動アセンブリとの間の衝突によって生じる損傷を抑制するように構成されることが可能である。焦点モータのストロークは、様々なワーク厚さに適合することが可能である。焦点モータは、ワークの高さに応じて様々な公称位置において機能することが可能である。
焦点モータは、ストローク端に装着され、焦点モータへの衝突損傷を抑制するように構成された粘性ダンパをさらに備えることが可能である。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、パターン生成システムは、焦点センサからの位置情報(例えば、ワークの表面構造マップ)に基づいてレーザ像を書き込む書込みビームの焦点位置を変更するように構成された焦点系をさらに備えることが可能である。一例では、焦点系は、書込みビームの再合焦を行うように構成された可変鏡を備えることが可能である。
少なくとも1つの他の実施形態の例は、ワーク上にパターンを生成する方法を提供する。少なくともこの実施形態の例によれば、本方法は、光学系によって、光学スキャナ上にレーザ像投影すること、および、光学スキャナによって、ワーク上にパターンを生成すべき回転子の複数の光学アームの各々にレーザ像を順次反射することを含んでいる。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、複数の光学アームの各々は、ワーク上に或る弓状の長さを有する走査像をプリントすることが可能である。各光学アームは、対応する走査像をプリントすべく順次動作することが可能であり、複数の光学アームの各々が、対応する走査像をプリントする期間が重複しないことが可能である。レーザ像は、静止ビームの形態であることが可能であり、静止ビームが光学スキャナの対応する縁部に達したときに、複数の光学アームの各々の間の投影スワップが生じる。光学スキャナおよび複数の光学アームは、一定の速度または実質的に一定の速度で回転することが可能である。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、公称焦点位置は、投影スワップ中におよび/またはその投影スワップ後に、ワークの表面構造マップと、複数の光学アーム間の焦点長さの変動とのうちの少なくとも一方によって変更されることが可能である。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、焦点モータは、作用力/反作用力が焦点モータの作動部分の運動と平行に加えられるように構成された作用力/反作用力ユニットを備えることが可能である。
作用力/反作用力ユニットは、軸受に包囲された対象物を有する軸線上作用力/反作用力ユニットであり得る。軸受は、焦点モータの駆動力に位置決めされた重心位置を有することが可能である。
代替実施形態の例では、作用力/反作用力ユニットは、焦点モータの駆動力が重心位置にあり、且つ、重心位置が駆動力の方向にあるように構成された軸線外作用力/反作用力ユニットであり得る。
少なくとも1つの実施形態の例によれば、回転パターン生成システムは、共通の光学系を有する複数の光学アームを備えており、走査像は、一度に1つの光学アームを使用して、基板上に投影およびプリントされる(書き込まれる)。静止入射ビームが光学スキャナの縁部に達したときに、回転子の残りの部分と一緒に同一速度(例えば、一定の速度または実質的に一定の速度)で回転して、投影スワップが光学アーム間に生じる。一例では、光学スキャナは、角錐形の光学スキャナ(例えば、プリズムなど)であり得る。投影スワップは、基板上に像を投影およびプリントするために使用される光学アームの変化(つまり、1つの光学アームから別のアームに投影される光の変化)を指す。
一度に1つの光学アームが基板上に像を投影している複数の光学アームを使用する場合に、システムの残りの部分へのインパルス伝達は、投影スワップ中に低減させる必要がある。処理中の(例えば、書き込み中および/または測定中の)基板表面上の高さ変動が光学系の焦点深度よりも大きい可能性が高いので、ダイナミックフォーカスが必要な場合がある。ダイナミックフォーカスは、投影スワップ中の光学アーム間の焦点長さの変動のために、より速く公称焦点位置を変更するためにも必要な場合がある。
焦点センサは、ワークを処理する(例えば、撮像または測定する)光学アームの同時走査中に動的に再合焦を行うための「リアルタイム」位置情報を提供することが可能である。これに代えて、焦点センサは、ワークの以前の走査からの位置情報を提供することが可能である。
位置情報(例えば、高さ変動)を提供する焦点センサは、位置情報を使用してワークの書き込み/測定をするための光学アームと同じ光学アームに配置されてもよく、別の光学アームに配置されてもよい。
或る実施形態の例では、焦点センサ系は、ワークを処理する前に測定されるワーク表面構造マップを提供するように構成されたセンサ・アレイを備えることが可能である。焦点センサ系は、書込み/測定エリア、および/または、ツールのローディング領域のいずれか一方に配置されることが可能である。焦点モータは、線形光学符号化器を使用して、および/または、焦点センサによって提供される位置情報によって、および/または、ツールによって処理されるべきワークの予め測定された表面構造マップに基づいて、配置されることがある。
幾つかの実施形態の例は、回転子の並進および/または回転(例えば、z軸方向およびy軸方向の並進、ならびにx軸回りの回転)にそれほど高感度でない(例えば、有意に高感度でない)ことがある焦点(または集束)システムを提供する。
焦点調整装置は、例えば、単一軸線方向に並進する90°ミラーの使用によって操ることが可能である。パターン配置の精度に関する要求は比較的高いので、比較的低いノイズおよび比較的高い剛性が、共振周波数の振幅を低減する(例えば、最小化する)ために要求されることがある。ノイズを抑制すべく、焦点モータは、比較的良好な(例えば、優れた)減衰および剛性特性を有した焼結空気軸受ブッシング上で基本的に摩擦をなしで作動
することが可能である。
焦点(または集束)系は、焦点モータおよび焦点センサを備えることが可能であり、焦点モータに位置情報を提供する。焦点モータは、線形光学符号化器を使用して内部に配置されることが可能である。必要な帯域幅は、投影スワップを行なうのに必要な時間によって設定されることがある。投影スワップ角度は、プリント時間を改善すべく低減される(例えば、最小化される)ことがある。しかし、投影スワップ角度は、基板のサイズ、幾何学的な問題、および/または可能性のあるレーザ効果の変動に対する適応および最適化に依存することもある。
少なくとも1つの実施形態の例によれば、焦点モータは、釣り合い錘質量を有するように設計されることが可能であり、これによって、システムの残りの部分へのインパルス伝達を抑制する(例えば、最小化する)ために作動アセンブリに作用する力を適応させる。伝達される反力は、理論上、約1700分の1に低減されることが可能である。釣り合い錘質量は、比較的低い剛性を持ったバネによって位置決めされることが可能であり、これによって、釣り合い錘質量を比較的低い共振周波数に到達させ、伝達を抑制および/または最小化する。一例では、釣り合い錘質量は、ステンレス鋼製であり得る。
システムの残りの部分へのインパルス伝達をさらに減少させるために、釣り合い錘質量は、作動アセンブリ(動作部)よりも約3〜約10倍(例えば、約5倍)大きい質量を有していることがあり、釣り合い錘の動作/伝達力は、同一または実質的に同一倍に低減されることがある。
全体質量は、作動アセンブリの帯域幅を増加させるべく低減される(例えば、最小化される)ことがある。全体質量を低減するには、センサ・スケールが作動アセンブリに装着されることが可能であり、そのハウジング本体が比較的軽量の材料(例えば、アルミニウムなど)からなることが可能である。センサ・スケールは、xy平面における作動アセンブリの中心に配置されることが可能であり、これによって、望ましくない回転によって生じる位置誤差を最小化する。作用力/反作用力ユニットは、両アセンブリの重心位置に配置されることが可能であり、これによって、振動をもたらす望ましくないトルクを除去する。
図1は、実施形態の例によるパターン生成システムまたは他のツールの一部を示している。図1に示される装置は、上で議論したパターン生成器、パターン生成システム、または他のツールにより実施されることが可能である。しかし、明瞭さのために、図1は、パターン生成システムに関して議論される。
図1を参照して、パターン生成システムは、回転子100と、焦点(または集束)系110と、光学系106とを備えている。回転子100は、互いに対して第1角度で配置された複数の光学アーム102を有している。回転子100は、光学スキャナ104をさらに備えている。光学スキャナ104は、プリズムなどの形態をなした角錐形の光学スキャナであり得る。図1に示される4つの光学アーム102は、約90°のスワップ角度を持った回転子を構成している(光学アーム同士の間が約90°離れている)。パターン生成器システムは、例えば、空間光変調器(SLM)、グレーティング・ライトバルブ(GLV)、または音響光学変調器(AOM)などの少なくとも1つの変調器の形態で、光学系106の一部としてまたはこの光学系106に結合された像生成装置(図示せず)を備えることが可能である。
図1の光学系106の下端部で、光学系106が光学スキャナ104上にレーザ像を投影する。レーザ像が、光学スキャナ104によって回転子100の複数の光学アームの各
々102に順次反射され、基板(図示せず)上にパターンを生成する。
図1に示される回転子は、互いに対して90°で配置された4つの光学アーム102を備えているが、実施形態の例による回転子は、互いに対して様々な角度で配置された任意の数の光学アームを備えることが可能である。
少なくとも幾つかの実施形態の例によれば、像は、一度に1つの光学アームで、特定の位置での、或る弓状の長さを有する基板上にプリントされる。この場合、複数の光学アーム102の各々は、基板上の或る弓状の長さを有する走査像をプリントする。
レーザ像は、静止したビームの形態であることが可能であり、また、上述したように、この静止した入射ビームが光学スキャナ104(回転子100の残りの部分と一緒に一定またはほぼ一定の速度で回転する)の縁部に達したときに、光学アーム102間の投影スワップが起きる。従って、各光学アーム102は、対応する走査像をプリントすべく順次動作し、各光学アーム102が、対応する走査像をプリントする期間が重複しない。
上述したように、実施形態の例は、様々な理由でダイナミックフォーカスを必要とすることがある。ダイナミックフォーカスは、図1に示される焦点系110によって提供されることが可能である。
焦点系110は、焦点装置および焦点モータを備えることが可能である。焦点系は、複数の光学アーム102間の投影スワップ中または投影スワップ後に、ワークの表面構造マップと、複数の光学アーム102間の焦点長さの変動とのうちの少なくとも一方にしたがって公称焦点位置を変更するように構成されることが可能である。焦点モータは、焦点装置を駆動するように構成されることが可能である。構成によっては、焦点系110は、図1における光学系106のいずれかの端部に配置されることが可能である。像生成装置(図示せず)が光学系106の一部でないパターン生成器システムの例では、焦点系110は、光学系106と像生成器装置との間に位置することが可能である(例えば、図1に示される光学系106の上端部である)。
別の実施形態の例では、焦点装置は、焦点センサからの位置情報に基づいてレーザ像を投影する書込みビームの焦点位置を変更するように構成されることが可能である。焦点モータは、焦点装置を駆動するように構成されることが可能である。この例では、焦点系110は、図1における光学系106のいずれかの端部に再び配置されることが可能である。
実施形態の例による焦点モータは、図2〜図7に関してより詳細に下に記述される。
さらに別の例では、焦点系110は、書込みビームの再合焦を行うように構成された可変鏡を備えることが可能である。一例では、可変鏡は、図1における光学系106の端部に配置されることが可能である。可変鏡の実施形態の例は、図8に関してより詳細に下に記述される。
図2は、実施形態の例による焦点モータの斜視図である。図3は、図2の線III−III’に沿って得られた焦点モータ200の断面である。
焦点モータ200は、投影スワップ中および/またはその投影スワップ後に、ワークの表面構造マップと、複数の光学アーム間の焦点長さの変動とのうちの少なくとも一方にしたがって公称焦点位置を変更するように構成された焦点系の一部(またはそのように構成された焦点系それ自体)であり得る。
図2および図3を参照して、焦点モータ200は、特に、作動アセンブリ316および
釣り合い錘質量アセンブリ302を備えており、それは比較的良好な(例えば、優れた)減衰および剛性特性を有した4つの焼結空気軸受ブッシング202上で基本的にまたは実質的に摩擦なく動作する。釣り合い錘質量アセンブリ302は、パターン生成システムの運動部分に作用する力を打ち消すように構成されている。
一例では、焦点センサは、書込みビームの外側の回転光学アーム102のまさに端部に配置されることが可能であり、および/または、センサ・アレイは、撮像の前にワークの表面構造マップを測定するためにツールのローディング領域に配置されることが可能である。焦点センサは、焦点モータ200に位置情報を提供し、焦点モータ200は、線形光学符号化器312を使用して、および/または、焦点センサからの位置情報によって、内部に配置されることが可能である。必要な帯域幅は、投影スワップを行なうのに必要な時間によって設定されることが可能である。上述したように、投影スワップは、1つの光学アームから別のアームへの投影される光の変化を指す。
図9および図10は、再合焦(例えば、動的な再合焦)を行う焦点系に位置情報を提供するように構成された、および/または、ワーク上の書込み/読取りに先立ってワーク表面構造マップを提供するように構成された、焦点センサの様々な実施および位置を示している。
図9に示されるように、焦点センサ902は、複数(例えば、約10個)の指向性反射センサ9022および複数(例えば、約25個)の拡散反射センサ9024を備えることが可能である。焦点センサ902は、パターン生成システムにおける、位置決めブリッジ904の下に(例えば、ローディング領域内に)、および/または、回転子アームの位置の直前に(例えば、書込み/測定領域内に)、配置される。
図10を参照して、焦点センサは、位置決めブリッジ1004(例えば、ローディング領域内)に配置された表面構造センサ1002であり得る。また、図10は、焦点センサ1006が、(例えば、書込み/測定領域内に配置された)一または複数の回転子アーム1008に取り付けられた実施形態の例を示している。
図9および図10の実施形態の例は、ローディング領域および書込み/測定領域の両方に配置された焦点センサを示しているが、実施形態の例によれば、焦点センサは、ローディング領域および測定/書込み領域のうちの1箇所にだけ配置されることが可能である。
図2および図3を参照して、少なくとも1つの実施形態の例によれば、システムの残りの部分へのインパルス伝達を低減する(例えば、最小化する)ために、焦点モータ200は、釣り合い錘質量アセンブリ302を備えている。伝達される反力は、理論上、約1700分の1に低減されることが可能である。
ステンレス鋼製などである釣り合い錘質量302は、比較的低い剛性を持ったバネ318にしたがって配置されることが可能であり、これによって、釣り合い錘質量アセンブリ302が比較的低い共振周波数内に達し、且つ、伝達を抑制する(例えば、最小化する)。
さらにシステムの残りの部分へのインパルス伝達を減少させるために、釣り合い錘質量アセンブリ302は、作動アセンブリ316の約3〜約10倍(例えば、約5倍)大きい質量を有することが可能である。この場合、釣り合い錘の動作/伝達力は、同一倍数に低減されることが可能である。全体質量は、作動アセンブリ316の帯域幅を改善する(例えば、最大化する)ために低減される(例えば、最小化される)ことが可能である。
一例では、全体質量を低減するために、センサ・スケール322は、作動アセンブリ316に装着されることが可能であり、そのハウジング本体は、比較的軽量な材料(例えば、アルミニウムなど)からなり得る。センサ・スケール322は、作動アセンブリ316上のxy平面を中心に配置されることが可能であり、これによって、望ましくない回転によって生じる位置誤差を最小化する。
作用力/反作用力は、釣り合い錘質量アセンブリ302および作動アセンブリ316の両方の重心位置(COG)に配置されることが可能であり、これによって、振動をもたらす望ましくないトルクを抑制する(例えば、除去する)。作用力/反作用力ユニットの例は、図4〜図7に関してより詳細に議論される。実施形態の例によれば、作用力/反作用力ユニットは、作用力/反作用力が図2に特記した方向に前後に作用するように配置されることが可能である。
依然として図2および図3を参照して、モータ本体310は、伝熱性接着剤(または同様の接着剤)を使用することによって、釣り合い錘質量アセンブリ302に固着または接着されることが可能であり、これによって、釣り合い錘質量アセンブリ302への熱伝達が提供される。釣り合い錘質量アセンブリ302は、冷却フランジとして作用することが可能である。作動アセンブリ316上に装着されたモータ・コイルは、熱的に分離されることが可能であり、これによって、図3に示されるx方向への熱膨張を抑制(例えば、最小化)して実焦点位置のオフセットをもたらし、且つ、図3におけるy方向のオフセット(例えば、空気軸受と地面との間)の可能性を低減する(例えば、防止する)。ホース308は、より高感度でない釣り合い錘質量アセンブリ302に接続されることがあり、これによって、吸引による焦点モータ200の熱損失の除去をさらに増加させる。
焦点モータ200は、焦点センサに対して較正されることが可能である。また、焦点モータ200のストロークは、様々な基板厚さに適合することが可能である。その結果、焦点モータ200は、基板高さに応じた様々な公称位置において動作することが可能である。ノイズの伝達を抑制する(例えば、最小化する)ために、作動アセンブリの空気供給は、柔軟なホースによって釣り合い錘質量アセンブリ302に接続されることが可能である。
位置決めは、比較的(例えば、非常に)重要であり、外部の位置決めツール(図示せず)を使用することによって、および、様々な位置304に接着剤を塗布してシステムを同時に固定することによって、達成されることが可能である。作動アセンブリ316および釣り合い錘質量アセンブリ302のための粘性ダンパ306および314は、衝突損傷を抑制すべく(例えば、防止すべく)ストローク端に装着されることが可能である。
ダンパー・リング320は、釣り合い錘質量アセンブリ302および作動アセンブリ316が互いに衝突またはぶつかる場合、損傷を抑制すべく(例えば、防止する)釣り合い錘質量アセンブリ302に装着されることが可能である。
図4は、実施形態の例による軸線上作用力/反作用力ユニット400を示している。
図4を参照して、対象物402は、空気または他の軸受404で包囲されている。軸受404は、駆動力に対して位置決めされた重心位置(COG)を有している。軸線上作用力/反作用力ユニット400は、比較的大きい開口のモータ(例えば、音声コイル)または任意の他の軸線外モータの解決策(例えば、並列モータ)を備え、且つ、COGに中心を配置された軸線上釣り合い錘質量406を備えてまたはこの質量なしに、利用されることが可能である。対象物402の回転は、平面上で動作するアームおよび平坦な旋回空気軸受などの磁石または他の種類の外部の「回転ロック」によって禁じられる。
図5は、実施形態の例による軸線外作用力/反作用力ユニット500を示している。
図5を参照して、2つ以上の平行軸504が、空気軸受または他の軸受502を使用する。図5に示される実施形態の例は、釣り合い錘質量を備えたまたはこの質量なしの、且つ、駆動力方向にCOGを備えた、駆動力がCOGにある設計を提供する。対象物506は、2つの平行軸504の間に配置されるが、軸受502の上に位置している。追加の質量508が、平行軸504の間の中間位置にCOGを得るべく、追加または除去されることが可能である。
図6は、別の実施形態の例による軸線外作用力/反作用力ユニット600を示している。
図6を参照して、駆動力は、釣り合い錘質量を備えてまたはこの質量なしに、且つ、駆動力方向にCOGを備えて、COGに加えられる。軸受(例えば、空気軸受)604の異なる構成が、運動学的に決定されたアセンブリを設計すべく使用されることが可能である。軸線外作用力/反作用力ユニットは、追加の質量(図示せず)および対象物602を備えることも可能である。
図7は、さらに別の実施形態の例による軸線外作用力/反作用力ユニット700を示している。
図7を参照して、駆動力は、釣り合い錘質量を備えてまたはこの質量なしに、且つ、駆動力方向にCOGを備えて、COGに加えられる。軸受(例えば、空気軸受)704,706,708の異なる構成を使用することによって、運動学的に決定されたアセンブリを設計することが可能である。軸線外作用力/反作用力ユニット700は、追加の質量(図示せず)および対象物702を備えることも可能である。
実施形態の例は、焦点モータではなく可変鏡で再合焦(例えば、動的合焦)が行なわれる方法および装置をさらに提供する。
図8は、再合焦が可変鏡で行なわれる焦点系の実施形態の例を示している。
図8を参照して、再合焦を行う可変鏡815は、光ビームを正常な角度で反射させ、入射および出射ビームを分離するビーム分割器(例えば、偏光ビーム分割器)816(および恐らく波長板)を備えた構成である。ビーム分割器816、可変鏡815から反射された光を平面802Bに向け、像を生成する。
図8では、802Aは、像を生成すべく平面802Bにその像が投影される対象平面を指す。生成されたビームは、それらビームの経路に応じてレンズ素子804A/804Bを通過する。レンズ素子804A/804Bは、レンズの機能説明を参照し(例えば、近軸または理想的なレンズ)、それは一または複数の物理的なレンズ素子、あるいは、レンズ・アセンブリを備えることが可能である。
ビーム分割器816は、例えば、可変鏡815を傾け、それによって入射および出射ビームを分離することによって、省略されることが可能である。しかし、これは使用可能な再合焦の範囲を限定することがある。なぜならば、矢状方向および接線方向の光線が、球状鏡面から反射された傾斜光線に対して様々な焦点位置を有するからである。
図8に示される構成では、(非明示の)非点収差が、軸線上にでさえ現れ、傾斜角の二乗に焦点ずれ(defocus)を乗じたものに比例する。
斜めになった(傾斜した)光線は、偏光ビーム分割器816および波長板を備えた構成でさえ存在し、それは利用可能な再合焦の範囲を限定する。しかし、この限定は厳格ではない。なぜならば、それが再合焦の量を決定するミラー凹形曲線であり、その領域箇所の角度は、適切な焦点距離および対応する鏡サイズを選択することによって低減されること
が可能である。
幾つかの実施形態の例についての先の記述は、実例および記述を目的として提供されている。それは、本開示を包括または限定するようには意図しない。特定の実施形態の個々の要素または特徴は、一般に、特定の実施形態に限定されないが、適用可能である場合には、それらは、特に示されるかまたは記述されなくても、置換可能であり、選択された実施形態で使用されることができる。同じことが、多くの方法で変更されることがある。そのような変更は、本開示からの逸脱とは見なすべきでなく、また、そのような修正はすべて、本開示の範囲内に包含されるように意図されている。

Claims (39)

  1. 光学スキャナにレーザ像を投影するように構成された光学系と、
    複数の光学アームを有した回転子であって、該光学アームは互いに対して第1角度で配置されており、該回転子は、前記光学スキャナをさらに具備する、前記回転子と、
    を備え、
    前記光学スキャナによって前記レーザ像が前記回転子の前記複数の光学アームの各々の中へ順次反射され、ワーク上にパターンを生成するパターン生成システム。
  2. 前記複数の光学アームの各々は、前記ワーク上に或る弓状の長さを有する走査像をプリントする、請求項1記載のパターン生成システム。
  3. 各光学アームは、対応する走査像をプリントするように順次動作し、各光学アームが前記対応する走査像をプリントする期間が重複しない、請求項2記載のパターン生成システム。
  4. 前記レーザ像は、静止ビームの形態をなし、該静止ビームが前記光学スキャナの縁部に達したときに、前記複数の光学アームの各々の間の投影スワップが生じる、請求項3記載のパターン生成システム。
  5. 前記光学スキャナおよび前記複数の光学アームは、一定の速度で回転する、請求項1記載のパターン生成システム。
  6. 前記光学スキャナは、回転可能なプリズムの形態をなした角錐形の光学スキャナである、請求項1記載のパターン生成システム。
  7. 前記複数の光学アーム間の投影スワップ中および投影スワップ後のいずれか一方において、前記ワークの表面構造マップおよび前記複数の光学アーム間の焦点長さの変動の少なくとも一方にしたがって公称焦点位置を変更するように構成された焦点系をさらに備える、請求項1記載のパターン生成システム。
  8. 前記焦点系は、
    前記複数の光学アーム間の投影スワップ中および投影スワップ後のいずれか一方において、前記ワークの表面構造マップおよび前記複数の光学アーム間の焦点長さの変動の少なくとも一方にしたがって公称焦点位置を変更するように構成された焦点装置と、
    該焦点装置を駆動するように構成された焦点モータと、
    を具備する、請求項7記載のパターン生成システム。
  9. 前記焦点モータに位置情報を提供するように構成された焦点センサをさらに具備し、
    前記焦点モータは、線形光学符号化器を使用し、且つ、前記焦点センサによって提供された前記位置情報および前記ワークの表面構造の少なくとも一方にしたがって配置される、請求項8記載のパターン生成システム。
  10. 前記焦点センサは、前記ワークを処理する光学アームの同時走査中に、ダイナミックフォーカスによる再合焦を行うためのリアルタイム位置情報を提供する、請求項9記載のパターン生成システム。
  11. 前記焦点センサは、前記ワークの以前の走査からの位置情報を提供する、請求項9記載のパターン生成システム。
  12. 前記焦点センサは、前記位置情報を使用して前記ワークを処理するための光学アームと同じ光学アームまたは別の光学アームに位置する、請求項9記載のパターン生成システム。
  13. 前記焦点センサは、ワークの表面構造マップを提供するように構成されたセンサ・アレイを具備する、請求項9記載のパターン生成システム。
  14. 前記焦点モータは、前記パターン生成システムの運動部分に作用する力を打ち消すように構成された釣り合い錘を具備する、請求項8記載のパターン生成システム。
  15. 前記焦点モータは、熱が釣り合い錘に伝達するように伝熱性接着剤によって前記釣り合い錘に接着されるモータ本体をさらに具備し、前記釣り合い錘が冷却フランジとして作用する、請求項14記載のパターン生成システム。
  16. 前記焦点モータは、前記釣り合い錘に接続されたホースをさらに具備し、該ホースが吸引によって前記焦点モータを冷却するように構成される、請求項14記載のパターン生成システム。
  17. 前記釣り合い錘に接続されるとともに、前記釣り合い錘に空気を供給するように構成された柔軟なホースをさらに備える、請求項14記載のパターン生成システム。
  18. 前記焦点モータは、前記釣り合い錘上に装着され、釣り合い錘と前記焦点モータの作動アセンブリとの間の衝突によって生じる損傷を抑制するように構成されたダンパー・リングをさらに具備する、請求項14記載のパターン生成システム。
  19. 前記焦点モータのストロークは、前記ワークの様々な厚さに適合する、請求項8記載のパターン生成システム。
  20. 前記焦点モータは、前記ワークの高さに応じた様々な公称位置において機能する、請求項8記載のパターン生成システム。
  21. 前記焦点モータは、ストローク端に装着され、前記焦点モータへの衝突損傷を抑制するように構成された粘性ダンパをさらに具備する、請求項8記載のパターン生成システム。
  22. 焦点センサからの位置情報に基づいて前記レーザ像を投影する書込みビームの焦点位置を変更するように構成された焦点系をさらに備える、請求項1記載のパターン生成システム。
  23. 前記焦点系は、前記書込みビームの再合焦を行うように構成された可変鏡を具備する、請求項22記載のパターン生成システム。
  24. 前記焦点系は、前記ワーク上にパターンを生成すべく、可変鏡から反射した光を平面に向けるように構成されたビーム分割器をさらに備える、請求項23記載のパターン生成システム。
  25. 前記焦点系は、
    前記焦点センサからの位置情報に基づいて前記レーザ像を投影する前記書込みビームの前記焦点位置を変更するように構成された焦点装置と、
    該焦点装置を駆動するように構成された焦点モータと、
    を具備する、請求項22記載のパターン生成システム。
  26. 前記焦点モータは、作用力/反作用力が前記焦点モータの作動部分の運動と平行に加えられるように構成された作用力/反作用力ユニットを具備する、請求項8記載のパターン生成システム。
  27. 前記作用力/反作用力ユニットは、軸線上作用力/反作用力ユニットであり、軸受に包囲された対象物を具備し、前記軸受は、前記焦点モータの駆動力に整合した重心位置を有している、請求項26記載のパターン生成システム。
  28. 前記作用力/反作用力ユニットは、前記焦点モータの駆動力が重心位置にあり、前記軸受けの重心位置が前記駆動力の方向にあるように構成される、請求項26記載のパターン生成システム。
  29. ワーク上にパターンを生成する方法であって、
    光学系によって、光学スキャナ上にレーザ像を投影するステップと、
    前記光学スキャナによって、回転子の複数の光学アームの各々に前記レーザ像を順次反射し、ワーク上にパターンを生成するステップとを含む方法。
  30. 前記複数の光学アームの各々は、前記ワーク上に或る弓状の長さを有する走査像をプリントする、請求項29記載の方法。
  31. 各光学アームは、対応する走査像をプリントすべく順次動作し、前記複数の光学アームの各々が前記対応する走査像をプリントする期間が重複しない、請求項30記載の方法。
  32. 前記レーザ像は、静止ビームの形態をなし、該静止ビームが前記光学スキャナの対応する縁部に達したときに、前記複数の光学アームの各々の間の投影スワップが生じる、請求項31記載の方法。
  33. 前記光学スキャナおよび前記複数の光学アームは、一定の速度で回転する、請求項29記載の方法。
  34. 焦点系によって、投影スワップ中および投影スワップ後の少なくとも一方において、前記ワークの表面構造および前記複数の光学アーム間の焦点長さの変動の少なくとも一方にしたがって公称焦点位置を変化させるステップをさらに含む、請求項29記載の方法。
  35. パターン生成器または他のツールの実施のための回転子であって、該回転子が、
    光学スキャナと、
    互いに対して第1角度で配置された複数の光学アームと、を備え、
    前記光学スキャナによってレーザ像が前記回転子の前記複数の光学アームの各々に順次反射され、ワーク上にパターンを生成する、回転子。
  36. 前記複数の光学アームの各々は、前記ワーク上に或る弓状の長さを有する走査像をプリントする、請求項35記載の回転子。
  37. 各光学アームは、対応する走査像をプリントすべく順次動作し、前記複数の光学アームの各々が前記対応する走査像をプリントする期間が重複しない、請求項36記載の回転子。
  38. 前記レーザ像は、静止ビームの形態をなし、該静止ビームが前記光学スキャナの対応する縁部に達したときに、前記複数の光学アームの各々の間の投影スワップが生じる、請求
    項37記載の回転子。
  39. 前記光学スキャナおよび前記複数の光学アームは、一定の速度で回転する、請求項35記載の回転子。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8531648B2 (en) 2008-09-22 2013-09-10 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, programmable patterning device and lithographic method
TWI448830B (zh) 2010-02-09 2014-08-11 Asml Netherlands Bv 微影裝置及元件製造方法
NL2006256A (en) 2010-02-23 2011-08-24 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method.
JP5584784B2 (ja) 2010-02-25 2014-09-03 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
US9696633B2 (en) 2010-04-12 2017-07-04 Asml Netherlands B.V. Substrate handling apparatus and lithographic apparatus
CN103238113B (zh) 2010-12-08 2015-09-09 Asml荷兰有限公司 光刻设备和器件制造方法
WO2012130532A1 (en) 2011-03-29 2012-10-04 Asml Netherlands B.V. Measurement of the position of a radiation beam spot in lithography
WO2012136434A2 (en) 2011-04-08 2012-10-11 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, programmable patterning device and lithographic method
US9513561B2 (en) 2011-04-21 2016-12-06 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, method for maintaining a lithographic apparatus and device manufacturing method
NL2009213A (en) 2011-08-18 2013-02-19 Asml Netherlands Bv Lithograpic apparatus and device manufacturing method.
NL2009342A (en) 2011-10-31 2013-05-07 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method.
JP5886979B2 (ja) 2011-11-29 2016-03-16 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置用の所望のデバイスパターンのベクタ形式表現を変換する装置および方法、プログラマブルパターニングデバイスにデータを供給する装置および方法、リソグラフィ装置、デバイス製造方法
NL2009761A (en) 2011-11-29 2013-05-30 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus, device manufacturing method and computer program.
JP5840303B2 (ja) 2011-12-05 2016-01-06 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
JP5881851B2 (ja) 2011-12-06 2016-03-09 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置、セットポイントデータを提供する装置、デバイス製造方法、セットポイントデータの計算方法、およびコンピュータプログラム
NL2009902A (en) 2011-12-27 2013-07-01 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method.
US9354502B2 (en) 2012-01-12 2016-05-31 Asml Netherlands B.V. Lithography apparatus, an apparatus for providing setpoint data, a device manufacturing method, a method for providing setpoint data and a computer program
KR101633761B1 (ko) 2012-01-17 2016-06-27 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피 장치 및 디바이스 제조 방법
WO2013124114A1 (en) 2012-02-23 2013-08-29 Asml Netherlands B.V. Device, lithographic apparatus, method for guiding radiation and device manufacturing method
NL2010204A (en) * 2012-04-11 2013-10-15 Asml Netherlands Bv Rotatable frame, lithographic apparatus, projection system, method for focusing radiation and device manufacturing method.
NL2012052A (en) 2013-01-29 2014-08-04 Asml Netherlands Bv A radiation modulator for a lithography apparatus, a lithography apparatus, a method of modulating radiation for use in lithography, and a device manufacturing method.
CN108803252B (zh) * 2018-06-27 2020-10-16 合肥泰沃达智能装备有限公司 一种导光板生产加工工艺及其涂布曝光设备
CN108490745B (zh) * 2018-06-27 2020-12-22 合肥泰沃达智能装备有限公司 一种旋转紫外曝光机

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6370821A (ja) * 1986-09-12 1988-03-31 ジエネラル・システムズ・リサ−チ・インコ−ポレイテツド 表面上に放射線を走査するための光学装置
JP2005244238A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Asml Netherlands Bv リソグラフィ機器及びデバイスの製造方法
JP2005266779A (ja) * 2004-02-18 2005-09-29 Fuji Photo Film Co Ltd 露光装置及び方法
JP2009514012A (ja) * 2005-10-26 2009-04-02 マイクロニック レーザー システムズ アクチボラゲット 書込み装置および方法
WO2010063830A1 (en) * 2008-12-05 2010-06-10 Micronic Laser Systems Ab Rotating arm for writing or reading an image on a workpiece

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1913867A (en) * 1932-01-29 1933-06-13 Remsen V Wood Method and apparatus for controlling projection of light by sound waves
US4023126A (en) * 1975-06-26 1977-05-10 Gte Laboratories Incorporated Scanning photographic printer for integrated circuits
US4155620A (en) * 1976-05-20 1979-05-22 Xerox Corporation Rotating mirror optical scanner with flat scan and linear scan rate
US4170397A (en) * 1976-12-16 1979-10-09 Decca Limited Vibratile optical boresight
KR920002820B1 (ko) 1987-05-27 1992-04-04 마쯔시다덴기산교 가부시기가이샤 주사형 투영 노광장치
US5210635A (en) * 1989-04-17 1993-05-11 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Multibeam scanning system
DE69226511T2 (de) * 1992-03-05 1999-01-28 Micronic Laser Systems Ab Verfahren und Vorrichtung zur Belichtung von Substraten
US5339188A (en) * 1992-09-16 1994-08-16 Hughes Aircraft Company Step stare scanning apparatus and method
US6201639B1 (en) * 1998-03-20 2001-03-13 James W. Overbeck Wide field of view and high speed scanning microscopy
US6188502B1 (en) * 1998-03-26 2001-02-13 Nec Corporation Laser pointing apparatus and on-fulcrum drive apparatus
US6283601B1 (en) * 2000-04-14 2001-09-04 C Speed Corporation Optical mirror system with multi-axis rotational control
US7019877B2 (en) * 2003-03-25 2006-03-28 Shpizel Matvey B Light beam deflector
US7130020B2 (en) 2003-04-30 2006-10-31 Whitney Theodore R Roll printer with decomposed raster scan and X-Y distortion correction
CN1823290A (zh) * 2003-07-14 2006-08-23 皇家飞利浦电子股份有限公司 激光束扫描器
US20050134141A1 (en) * 2003-12-23 2005-06-23 Jovica Savic Meso-microelectromechanical system having a glass beam and method for its fabrication
US7184184B2 (en) * 2003-12-31 2007-02-27 Reliant Technologies, Inc. High speed, high efficiency optical pattern generator using rotating optical elements
US7372606B2 (en) * 2003-12-31 2008-05-13 Reliant Technologies, Inc. Optical pattern generator using a single rotating component
WO2005086858A2 (en) * 2004-03-08 2005-09-22 Board Of Regents Of The University And Community College System Of Nevada On Behalf Of The University Of Nevada, Reno Method and apparatus for two-axis, high-speed beam-steering
JPWO2005102909A1 (ja) * 2004-04-22 2008-03-13 松下電器産業株式会社 アクチュエータ
WO2006014689A2 (en) * 2004-07-20 2006-02-09 Neptec Optical Solutions. Inc. Rotary optical switch
WO2006039645A2 (en) * 2004-09-30 2006-04-13 Picometrix, Llc. Optical delay
US7375795B2 (en) * 2004-12-22 2008-05-20 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby
JP2009545781A (ja) * 2006-08-03 2009-12-24 インフェイズ テクノロジーズ インコーポレイテッド 円形化およびピッチ補正機能を備えた角度多重化のための小型単一アクチュエータスキャナ
WO2013182562A1 (en) 2012-06-04 2013-12-12 Micronic Mydata AB Optical writer for flexible foils

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6370821A (ja) * 1986-09-12 1988-03-31 ジエネラル・システムズ・リサ−チ・インコ−ポレイテツド 表面上に放射線を走査するための光学装置
JP2005266779A (ja) * 2004-02-18 2005-09-29 Fuji Photo Film Co Ltd 露光装置及び方法
JP2005244238A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Asml Netherlands Bv リソグラフィ機器及びデバイスの製造方法
JP2009514012A (ja) * 2005-10-26 2009-04-02 マイクロニック レーザー システムズ アクチボラゲット 書込み装置および方法
WO2010063830A1 (en) * 2008-12-05 2010-06-10 Micronic Laser Systems Ab Rotating arm for writing or reading an image on a workpiece

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