JP2013258300A - Chip mounting device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chip mounting device which allows for enhancement of various types of adjustment workability while avoiding hard work of a worker, by making the whole device compact.SOLUTION: The chip mounting device conveys a wafer ring holding a wafer sheet up to a pick-up position, and mounts the chips produced by individualizing the wafer sheet on a substrate. The chip mounting device includes an exchange stage for exchanging a wafer ring to be used and a used wafer ring, reciprocation means for reciprocating the wafer ring between the exchange stage and the pick-up position, and a drawer stage on which a ring magazine for housing the wafer rings in multiple stages is mounted, and which allows the ring magazine to be housed at a lower position of the exchange stage and to be drawn out forward.

Description

本発明は、リードフレームなどの基板に半導体チップなどのチップ(ダイ)をボンディングするためのチップ実装装置に関する。   The present invention relates to a chip mounting apparatus for bonding a chip (die) such as a semiconductor chip to a substrate such as a lead frame.

チップ実装装置には特許文献1等に記載があるように、このチップ実装装置は、図13に示すように、基板保持部101と、ウエハリング保持部102と、ウエハ供給部103等を備えたものである。   As described in Patent Document 1 or the like, the chip mounting apparatus includes a substrate holding unit 101, a wafer ring holding unit 102, a wafer supply unit 103, and the like as shown in FIG. Is.

基板保持部101は、X方向に沿って配設される基板搬送コンベア101aを備え、基板105をX方向に沿って搬送されるものである。ウエハリング保持部102は、ウエハシート106が張り付けられたウエハリング107を保持するものである。ウエハシート106は個片化されてチップ108が形成される。ウエハ供給部103は、ウエハシート106が張り付けられたウエハリング107を複数段保持するマガジン110を備える。   The substrate holding unit 101 includes a substrate transport conveyor 101a disposed along the X direction, and transports the substrate 105 along the X direction. The wafer ring holding unit 102 holds the wafer ring 107 to which the wafer sheet 106 is attached. The wafer sheet 106 is singulated to form chips 108. The wafer supply unit 103 includes a magazine 110 that holds a plurality of stages of wafer rings 107 to which wafer sheets 106 are attached.

このような装置では、マガジン110に保持されているウエハリング107を、移送手段、この場合、移送アーム111によってウエハリング保持部102に供給する。そして、ウエハリング保持部102において、ウエハリング107に張り付けられたウエハシート106のチップ108を実装ヘッド112にて吸着してピップアップし、基板保持部101に保持されている基板105上に実装される。   In such an apparatus, the wafer ring 107 held in the magazine 110 is supplied to the wafer ring holder 102 by the transfer means, in this case, the transfer arm 111. In the wafer ring holding unit 102, the chip 108 of the wafer sheet 106 attached to the wafer ring 107 is sucked and pipped up by the mounting head 112 and mounted on the substrate 105 held by the substrate holding unit 101. The

ところで、このような装置では、基板保持部101と、ウエハリング保持部102と、ウエハ供給部103等を、平面的にて、重ねあわされることなく配置されることになる。このため、装置全体の配置スペースが大となっていた。   By the way, in such an apparatus, the substrate holding unit 101, the wafer ring holding unit 102, the wafer supply unit 103, and the like are arranged in a planar manner without being overlapped. For this reason, the arrangement space of the whole apparatus has become large.

また、ウエハリング保持部102におけるウエハリング107のウエハシート106のチップ108が無くなれば、新たなウエハリング107をウエハ供給部103に供給する必要がある。このため、前記移送アーム111を備えた移送手段がウエハリング交換手段を構成することになる。このような交換手段としては、使用済みのウエハリング107をウエハリング保持部102から取り出して、マガジン110に戻し、また、新たなウエハリング107をマガジン110から取り出してウエハリング保持部102に供給する必要がある。このため、ウエハリング交換のために、マガジン110を特許文献2等に示すようエレベータ手段にて昇降させる必要があった。   Further, when the chip 108 of the wafer sheet 106 of the wafer ring 107 in the wafer ring holding unit 102 is lost, it is necessary to supply a new wafer ring 107 to the wafer supply unit 103. For this reason, the transfer means provided with the transfer arm 111 constitutes a wafer ring exchanging means. As such replacement means, the used wafer ring 107 is taken out from the wafer ring holding unit 102 and returned to the magazine 110, and a new wafer ring 107 is taken out from the magazine 110 and supplied to the wafer ring holding unit 102. There is a need. For this reason, in order to replace the wafer ring, it is necessary to lift and lower the magazine 110 by elevator means as shown in Patent Document 2 and the like.

特開2008−258524号公報JP 2008-258524 A 特開2003−309165号公報JP 2003-309165 A

ウエハリング交換のために、マガジン110をエレベータ手段にて昇降させるものでは、マガジン110の重量が大であるので、エレベータ手段の昇降力を大きなものとする必要があり、大型化するとともに、コスト高となっていた。   When the magazine 110 is moved up and down by the elevator means for exchanging the wafer ring, since the weight of the magazine 110 is large, it is necessary to increase the lifting force of the elevator means. It was.

また、図13に示す装置では、ウエハリング保持部102において、ピックアップするものであるため、エジェクタピンと、エキスパンドリング等を配置することになる。すなわち、ピックアップ動作中に、エキスパンドリングにてウエハシート106に張力を付与し、この状態で、エジェクタピンでピックアップすべきチップを押し上げるようにする。   In the apparatus shown in FIG. 13, since the wafer ring holding unit 102 picks up an ejector pin, an expand ring, and the like. That is, during the pickup operation, tension is applied to the wafer sheet 106 by an expand ring, and in this state, the chip to be picked up is pushed up by the ejector pin.

このため、図13に示すように、ウエハリング交換位置とピックアップ位置とを同一位置とすれば、ウエハリング交換動作時にはピックアップ動作を行うことができず、ピックアップ動作時には、ウエハリング交換動作を行うことができない。従って、全体としての作業時間が大となっていた。   For this reason, as shown in FIG. 13, if the wafer ring replacement position and the pickup position are the same position, the pickup operation cannot be performed during the wafer ring replacement operation, and the wafer ring replacement operation is performed during the pickup operation. I can't. Therefore, the work time as a whole is long.

そこで、図14に示すように、ウエハリング交換位置とピックアップ位置とを相違させることを提案できる。すなわち、図14に示すチップ実装装置では、ウエハリング交換ステージ120と、ウエハリング121を複数段に保持するマガジン122の昇降用のリングエレベータ123と、ウエハリング交換手段124とを備える。ウエハリング交換手段124としては、前記図13に示す移送アーム111を用いることができる。   Therefore, as shown in FIG. 14, it can be proposed to make the wafer ring replacement position different from the pickup position. That is, the chip mounting apparatus shown in FIG. 14 includes a wafer ring exchange stage 120, a ring elevator 123 for raising and lowering a magazine 122 that holds the wafer ring 121 in a plurality of stages, and a wafer ring exchange means 124. As the wafer ring exchanging means 124, the transfer arm 111 shown in FIG. 13 can be used.

この場合、ウエハリング交換位置に関してエレベータ123とウエハリング交換手段124とが180度反対位置に配設される。エレベータ123にてマガジン122を昇降させて、ピックアップすべきチップを有するウエハリング121(使用前ウエハリング)を移送アーム111にてチャックして、マガジン122から引き出してウエハリング交換ステージ120上に配置する。また、チップのピックアップが完了したウエハリング121(使用後ウエハリング)をウエハリング交換ステージ120に戻し、この交換ステージ120上で移送アーム111にてチャックして、矢印Aのように移動してマガジン122に収容する。   In this case, the elevator 123 and the wafer ring exchanging means 124 are disposed at 180 ° opposite positions with respect to the wafer ring exchanging position. The magazine 122 is moved up and down by the elevator 123, and the wafer ring 121 (wafer ring before use) having the chip to be picked up is chucked by the transfer arm 111, pulled out from the magazine 122 and placed on the wafer ring exchange stage 120. . Also, the wafer ring 121 (wafer ring after use) that has been picked up is returned to the wafer ring exchange stage 120, chucked by the transfer arm 111 on the exchange stage 120, moved as indicated by the arrow A, and magazine. 122.

なお、この装置では、ウエハリング121がピックアップ位置と交換ステージ120との間を矢印Cのように往復動する。また、ウエハリング121は、エレベータ123と交換ステージ120との間を矢印Bのように往復動する。   In this apparatus, the wafer ring 121 reciprocates between the pickup position and the exchange stage 120 as indicated by an arrow C. Further, the wafer ring 121 reciprocates between the elevator 123 and the exchange stage 120 as indicated by an arrow B.

また、ピックアップ位置はウエハリング交換位置の斜め後方に配置される。すなわち、ピックアップ位置とウエハリング交換位置との間を往復動するエキスパンダ機構125を有し、エキスパンダ機構125がウエハリング交換位置に位置した際に、ウエハリング121の交換作業が行われ、エキスパンダ機構125がピックアップ位置に位置した際に、エキスパンダ機構125にて、ウエハシートに張力を付与し、この状態で、エジェクタピンでピックアップすべきチップを押し上げるようにする。   The pickup position is disposed obliquely behind the wafer ring replacement position. That is, the expander mechanism 125 reciprocates between the pickup position and the wafer ring replacement position. When the expander mechanism 125 is located at the wafer ring replacement position, the wafer ring 121 is replaced, and the expander mechanism 125 is expanded. When the panda mechanism 125 is located at the pickup position, the expander mechanism 125 applies tension to the wafer sheet, and in this state, the chip to be picked up is pushed up by the ejector pins.

しかしながら、図14に示すような実装装置では、マガジン122と、リング交換位置と、ウエハリング交換手段待機位置とが、直線上に配置されることになり、装置全体の幅寸法が大となる。   However, in the mounting apparatus as shown in FIG. 14, the magazine 122, the ring replacement position, and the wafer ring replacement means standby position are arranged on a straight line, and the overall width of the apparatus becomes large.

各部材の構成を考慮すれば、ピックアップ位置での中心位置POが、リング交換位置での中心位置COよりも装置外方に配置する必要があった。そのため、装置全体の幅寸法が大となっていた。   Considering the configuration of each member, the center position PO at the pickup position needs to be arranged outside the apparatus with respect to the center position CO at the ring replacement position. For this reason, the overall width of the apparatus is large.

ところで、このような実施装置には、基板のアイランドに接着剤を塗布するプリフォーム手段と、基板のアイランドにチップを実装するボンディング手段とが設けられる。このため、プリフォーム手段によるプリフォーム動作の調整、ボンディング手段によるボンディング動作の調整等を必要とする。ボンディング動作は、ウエハシートからチップをピックアップするピックアップ動作と、ピックアップしたチップを基板のアイランドにボンディングするボンディング動作とがあり、各動作の調整を必要とする。   By the way, such an implementation apparatus is provided with preform means for applying an adhesive to the island of the substrate and bonding means for mounting the chip on the island of the substrate. For this reason, adjustment of the preform operation by the preform means, adjustment of the bonding operation by the bonding means, and the like are required. The bonding operation includes a pickup operation for picking up a chip from the wafer sheet and a bonding operation for bonding the picked-up chip to the island of the substrate, and each operation needs to be adjusted.

従って、全体のコンパクト化を図ることができない図14に示す装置では、各種の調整作業を行う部位が作業し難い位置に配置されることになって、各種の作業を行い難い欠点がある。また、マガジンを載置する載置台が比較的高位に配置される。このため、重量物であるマガジンを高位の載置台に載置する作業が作業者にとって重労働になっていた。   Therefore, in the apparatus shown in FIG. 14 that cannot be made compact as a whole, there are drawbacks in that various parts of the adjustment work are arranged at positions where it is difficult to work, and thus various kinds of work are difficult to perform. Further, the mounting table on which the magazine is mounted is disposed at a relatively high level. For this reason, the operation | work which mounts the magazine which is a heavy article on a high level mounting stand has become heavy labor for the operator.

そこで、本発明は斯かる実情に鑑み、装置全体のコンパクト化を図って、各種の調整作業性の向上を図ることでき、しかも作業者の重労働を回避できるチップ実装装置を提供する。   Therefore, in view of such a situation, the present invention provides a chip mounting apparatus that can reduce the overall size of the apparatus, improve various adjustment workability, and can avoid the labor of workers.

本発明のチップ実装装置は、ウエハシートを保持しているウエハリングをピックアップ位置まで搬送して、ウエハシートが個片化されてなるチップを基板に実装するチップ実装装置であって、使用前ウエハリングと使用後ウエハリングとの交換を行う交換ステージと、交換ステージとピックアップ位置との間のウエハリングの往復動を行う往復動機構と、複数段にウエハリングを収納するリングマガジンが載置されて、リングマガジンの交換ステージの下方位置の収納および前方への引き出しを可能とする引き出しステージとを備えたものである。   A chip mounting apparatus according to the present invention is a chip mounting apparatus that transports a wafer ring holding a wafer sheet to a pickup position and mounts a chip on which the wafer sheet is separated into a substrate, and is a wafer before use. An exchange stage for exchanging the ring with the wafer ring after use, a reciprocating mechanism for reciprocating the wafer ring between the exchange stage and the pickup position, and a ring magazine for storing the wafer ring in multiple stages are mounted. And a drawer stage that enables storage at a lower position of the exchange stage of the ring magazine and pulling it forward.

本発明のチップ実装装置によれば、引き出しステージを前方への引き出しが可能であり、しかも、引き出しステージを交換ステージの下方位置に収納することによって、マガジンを交換ステージの下方位置に位置させることができる。このため、引き出しステージを前方へ引き出した状態では、引き出しステージは低位置に位置していることになる。しかも、この引き出し状態では、引き出しステージの上方に他の部材が無い状態である。   According to the chip mounting apparatus of the present invention, the drawer stage can be pulled forward, and the magazine can be positioned at the lower position of the replacement stage by storing the drawer stage at the lower position of the replacement stage. it can. For this reason, when the drawer stage is pulled forward, the drawer stage is positioned at a low position. Moreover, in this pulled out state, there is no other member above the pulling stage.

交換ステージにて交換した使用前ウエハリングを往復動機構によってピックアップ位置に搬送できる。このピックアップ位置で、チップをピックアップすることができる。また、ピックアップ位置でチップのピックアップが完了したウエハリング(使用済ウエハリング)を往復動機構によって交換ステージに戻すことができる。そして、交換ステージの使用済ウエハリングを使用前ウエハリングに交換できる。このため、使用前ウエハリングを順次ピックアップに搬送して、チップ実装作業を行うことができる。   The wafer ring before use exchanged at the exchange stage can be conveyed to the pickup position by the reciprocating mechanism. The chip can be picked up at this pickup position. Further, the wafer ring (used wafer ring) for which the chip has been picked up at the pickup position can be returned to the exchange stage by the reciprocating mechanism. Then, the used wafer ring on the replacement stage can be replaced with the pre-use wafer ring. For this reason, it is possible to carry the chip mounting work by sequentially transporting the pre-use wafer ring to the pickup.

ピックアップ位置でのウエハリングの中心位置は、交換ステージ上のウエハリングの中心位置よりも装置内側に配置されるのが好ましい。   The center position of the wafer ring at the pick-up position is preferably arranged inside the apparatus with respect to the center position of the wafer ring on the exchange stage.

前記リングマガジンの使用前ウエハリングを交換ステージに供給するとともに、交換ステージの使用後ウエハリングをリングマガジンに戻すリングチェンジャとを備えたチップ実装装置であって、リングチェンジャは、上下2段にウエハリングを保持するリング保持体と、このリング保持体を上下動させる上下動機構と、リング保持体のウエハリングをチャックして交換ステージに供給するとともに、交換ステージのウエハリングをチャックしてリング保持体に戻すチャック機構と、前記チャック機構におけるリング保持体の上段のウエハリングに対応する上チャック位置とリング保持体の下段のウエハリングに対応する下チャック位置との切換を行う切換機構とを備えたものとできる。   A chip mounting apparatus including a ring changer for supplying a wafer ring before use of the ring magazine to an exchange stage and returning a wafer ring to the ring magazine after use of the exchange stage. A ring holder for holding the ring, a vertical movement mechanism for moving the ring holder up and down, chucking the wafer ring of the ring holder and supplying it to the exchange stage, and chucking the wafer ring of the exchange stage to hold the ring A chuck mechanism for returning to the body, and a switching mechanism for switching between an upper chuck position corresponding to the upper wafer ring of the ring holder in the chuck mechanism and a lower chuck position corresponding to the lower wafer ring of the ring holder. You can do it.

リングチェンジャを備えたものでは、上下動機構による昇降動作によって、上下2段にウエハリングを昇降させることができる。また、チャック機構を上段のウエハリングに対応させれば、上段のウエハリングをこのチャック機構にてチャックして、交換ステージへのウエハリング供給動作と交換ステージからのウエハリングの取り出しが可能となる。チャック機構を下段のウエハリングに対応させれば、下段のウエハリングをこのチャック機構にてチャックして、交換ステージへのウエハリング供給動作と交換ステージからのウエハリングの取り出しが可能となる。このように、各段のウエハリングの交換動作を安定して行うことができる。また、上下動機構を備えているので、ウエハリング交換作業時以外において、リング保持体を下降させておくことができる。   In the apparatus provided with the ring changer, the wafer ring can be moved up and down in two stages by the lifting operation by the vertical movement mechanism. If the chuck mechanism is adapted to the upper wafer ring, the upper wafer ring can be chucked by the chuck mechanism, and the wafer ring supply operation to the exchange stage and the removal of the wafer ring from the exchange stage can be performed. . If the chuck mechanism corresponds to the lower wafer ring, the lower wafer ring can be chucked by the chuck mechanism, and the wafer ring supply operation to the replacement stage and the removal of the wafer ring from the replacement stage can be performed. In this way, the wafer ring replacement operation at each stage can be performed stably. In addition, since the vertical movement mechanism is provided, the ring holder can be lowered except during wafer ring replacement work.

チャック機構は、下チャック位置で交換ステージの使用後ウエハリングをチャックしてリング保持体に戻し、上チャック位置でリング保持体の使用前ウエハリングをチャックして交換ステージに供給するようにできる。   The chuck mechanism can chuck the wafer ring after use of the exchange stage at the lower chuck position and return it to the ring holder, and chuck the wafer ring before use of the ring holder at the upper chuck position and supply it to the exchange stage.

チャック機構は、ウエハリングのチャックを可能とする開閉機能付きチャック部と、チャック部にてチャックしているウエハリングを水平方向に沿って搬送する搬送機構とを備えたもので構成できる。   The chuck mechanism can include a chuck portion with an opening / closing function that enables chucking of the wafer ring, and a transport mechanism that transports the wafer ring chucked by the chuck portion along the horizontal direction.

チャック機構は、交換ステージの下方位置に収納されたリングマガジンのウエハリングをチャックしてリング保持体への供給を行うとともに、リング保持体のウエハリングをチャックしてリングマガジンに戻すものであってもよい。   The chuck mechanism chucks the wafer ring of the ring magazine housed at the lower position of the exchange stage and supplies it to the ring holder, and chucks the wafer ring of the ring holder and returns it to the ring magazine. Also good.

リングチェンジャは、交換ステージと交換ステージの下方位置に収納されたリングマガジンとの側方に配置されるのが好ましい。   The ring changer is preferably arranged on the side of the exchange stage and the ring magazine housed at a position below the exchange stage.

前記交換ステージの後方側に配置されるボンディング装置を備えたチップ実装装置であって、前記ボンディング装置は、基板をその搬送方向に沿って上流側から下流側に向かってピッチ送りする搬送手段と、接着剤を塗布すべき基板のアイランドがプリフォーム位置に搬送された際に、このアイランドに接着剤を塗布するプリフォーム手段と、接着剤が塗布されたアイランドがボンディング位置に搬送された際に、このアイランドにチップをボンディングするボンディング手段とを備えるように設定できる。   A chip mounting apparatus provided with a bonding apparatus disposed on the rear side of the exchange stage, the bonding apparatus including a conveyance means for pitch-feeding the substrate from the upstream side to the downstream side along the conveyance direction; When the island of the substrate to which the adhesive is to be applied is conveyed to the preform position, the preform means for applying the adhesive to the island, and when the island to which the adhesive is applied is conveyed to the bonding position, It can be set to include a bonding means for bonding a chip to this island.

プリフォーム手段とボンディング手段とを備えたものでは、接着剤を塗布すべき基板のアイランドがプリフォーム位置に搬送された状態でこのアイランドに接着剤を塗布することができる。また、接着剤が塗布されたアイランドがボンディング位置に搬送された状態でこのアイランドにチップをボンディングできる。   In the case where the preform means and the bonding means are provided, the adhesive can be applied to the island in a state where the island of the substrate to which the adhesive is to be applied is conveyed to the preform position. Further, it is possible to bond the chip to the island in a state where the island to which the adhesive is applied is conveyed to the bonding position.

本発明では、引き出しステージを前方へ引き出した状態で、このステージが低位置に位置することになって、このステージへのマガジン載置作業の軽減を図ることができる。しかも、引き出しステージを収納すれば、マガジンが交換ステージの下方に収納された状態となり、コンパクト化を達成できる。このため、装置に対する各種の調整やメンテナンス性の向上を図ることが可能である。また、引き出しステージの引き出し状態では、引き出しステージの上方に他の部材が無い状態であるので、マガジンの載置作業及び取り出し作業の容易化を図ることができる。   In the present invention, in a state where the drawer stage is pulled forward, the stage is positioned at a low position, so that the work for placing the magazine on the stage can be reduced. In addition, if the drawer stage is stored, the magazine is stored below the replacement stage, and compactness can be achieved. For this reason, it is possible to improve various adjustments and maintainability of the apparatus. Further, in the pulled-out state of the drawer stage, there is no other member above the drawer stage, so that it is possible to facilitate the magazine placing operation and the removing operation.

ピックアップ位置でのウエハリングの中心位置を、交換ステージ上のウエハリングの中心位置よりも装置内側に配置することによって、装置全体のコンパクト化を図ることができる。   By disposing the center position of the wafer ring at the pickup position inside the apparatus relative to the center position of the wafer ring on the exchange stage, the entire apparatus can be made compact.

リングチェンジャの上下動機構による昇降動作では、上下2段にウエハリングのみを昇降させればよいので、上下動機構の小型化を図ることができる。リングチェンジャを備えたものでは、各段のウエハリングの交換動作を安定して行うことができる。しかも、ウエハリング交換作業時以外において、リング保持体を下降させておくことができ、装置に対する各種の調整やメンテナンス性の一層の向上を図ることができる。   In the raising / lowering operation by the vertical movement mechanism of the ring changer, it is only necessary to raise / lower the wafer ring in two stages, so that the vertical movement mechanism can be downsized. In the apparatus provided with the ring changer, the exchange operation of the wafer ring at each stage can be stably performed. Moreover, the ring holder can be lowered except during wafer ring replacement work, and various adjustments to the apparatus and further improvement in maintainability can be achieved.

チャック機構として、開閉機能付きチャック部と搬送機構とを備えたものでは、ウエハリングの交換作業を確実に行うことができる。ウエハリングのリングマガジンからのリング保持体への供給と、ウエハリングのリング保持体からのリングマガジンへの戻しが可能であれば、リングマガジンと交換ステージとの間で、ウエハリングの交換作業を行うことができ、作業性の向上および装置のコンパクト化に一層寄与する。   If the chuck mechanism includes a chuck portion with an opening / closing function and a transport mechanism, the wafer ring can be exchanged reliably. If it is possible to supply the wafer ring from the ring magazine to the ring holder and return the wafer ring from the ring holder to the ring magazine, the wafer ring can be exchanged between the ring magazine and the exchange stage. This contributes to improvement in workability and downsizing of the apparatus.

リングチェンジャを、交換ステージと交換ステージの下方位置に収納されたリングマガジンとの側方に配置するようにすれば、装置全体のコンパクト化及び交換作業時間の短縮化を図ることができる。   If the ring changer is arranged on the side of the exchange stage and the ring magazine housed below the exchange stage, the entire apparatus can be made compact and the exchange time can be shortened.

プリフォーム手段とボンディング手段とを備えたものでは、プリフォーム動作とボンディング動作とを行うことができ、ウエハリングに収容されたマガジンを、引き出しステージにセットすれば、マガジンに収容されたウエハリングのチップを順次基板に実装することができ、作業性に優れる。   The apparatus having the preform means and the bonding means can perform the preforming operation and the bonding operation. If the magazine accommodated in the wafer ring is set on the drawer stage, the wafer ring accommodated in the magazine is Chips can be sequentially mounted on a substrate, and workability is excellent.

本発明の実施形態のチップ実装装置の簡略平面図である。It is a simplified top view of the chip mounting apparatus of the embodiment of the present invention. 前記図1に示すチップ実装装置の簡略全体平面図である。FIG. 2 is a simplified overall plan view of the chip mounting apparatus shown in FIG. 1. 前記図1のチップ実装装置のリングチェンジャの動作を示す簡略図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the operation of the ring changer of the chip mounting apparatus of FIG. 1. 前記図1のチップ実装装置のリングチェンジャの動作を示す簡略図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the operation of the ring changer of the chip mounting apparatus of FIG. 1. 前記図1のチップ実装装置のリングチェンジャの動作を示す簡略図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the operation of the ring changer of the chip mounting apparatus of FIG. 1. 前記図1のチップ実装装置のリングチェンジャの動作を示す簡略図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the operation of the ring changer of the chip mounting apparatus of FIG. 1. 前記図1のチップ実装装置のリングチェンジャの動作を示す簡略図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the operation of the ring changer of the chip mounting apparatus of FIG. 1. 前記図1のチップ実装装置のリングチェンジャの動作を示す簡略図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the operation of the ring changer of the chip mounting apparatus of FIG. 1. 前記図1のチップ実装装置のリングチェンジャの動作を示す簡略図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the operation of the ring changer of the chip mounting apparatus of FIG. 1. プリフォーム手段を示す簡略図である。It is a simplified diagram showing preform means. ボンディング手段を示す簡略図である。It is a simplified diagram showing a bonding means. 前記図11のボンディング手段にてボンディングされるチップの斜視図である。FIG. 12 is a perspective view of a chip bonded by the bonding means of FIG. 11. 従来のチップ実装装置の簡略平面図である。It is a simplified top view of the conventional chip mounting apparatus. 従来の他のチップ実装装置の簡略平面図である。It is a simplified top view of the other conventional chip mounting apparatus.

以下、本発明の実施の形態を図1〜図12に基づいて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS.

図1は本発明のチップ実装装置の簡略平面図を示す。このチップ実装装置は、リードフレームなどの基板1(図10参照)に半導体チップなどのチップ(ダイ)3をボンディングするためのものである。リードフレームとは、半導体パッケージの内部配線として使われる薄板の金属である。このため、本発明においては、基板1には、一般的にリードフレームと呼ばれるもの、及び種々の電子部品等が配置される基板(例えば、プリント基板等)を含むものとする。   FIG. 1 is a simplified plan view of a chip mounting apparatus according to the present invention. This chip mounting apparatus is for bonding a chip (die) 3 such as a semiconductor chip to a substrate 1 such as a lead frame (see FIG. 10). A lead frame is a thin metal plate used as an internal wiring of a semiconductor package. For this reason, in the present invention, the board 1 includes a board generally called a lead frame and a board (for example, a printed board) on which various electronic components are arranged.

このチップ実装装置は、長手方向に沿って所定ピッチで複数個のアイランドが形成された基板1(図10参照)を、その長手方向に沿って複数枚を順次図2に示す基板搬送手段14を介して搬送して、上流側のプリフォーム位置で、基板1のアイランドに接着剤4(図11参照)を塗布した後、下流側のボンディング位置で前記基板1のアイランドにチップ3をボンディングするものである。   In this chip mounting apparatus, the substrate 1 (see FIG. 10) on which a plurality of islands are formed at a predetermined pitch along the longitudinal direction is sequentially transferred to the substrate transport means 14 shown in FIG. 2 along the longitudinal direction. The adhesive 4 (see FIG. 11) is applied to the island of the substrate 1 at the upstream preform position, and then the chip 3 is bonded to the island of the substrate 1 at the downstream bonding position. It is.

チップ実装装置の全体構成は、図2に示すように、基板1のアイランドに接着剤4を塗布するプリフォーム手段12と、プリフォーム手段12にて接着剤4が塗布されたアイランドにチップ3をボンディングするボンディング手段13と、基板1を搬送する基板搬送手段14と、後述する図12に示すウエハシート27を保持しているウエハリング28を交換するリングチェンジャ15と、ウエハリング28を図1に示す交換ステージ30からピックアップ位置に搬送する往復動手段16とを備える。   As shown in FIG. 2, the entire configuration of the chip mounting apparatus includes a preform unit 12 for applying the adhesive 4 to the island of the substrate 1, and the chip 3 on the island to which the adhesive 4 has been applied by the preform unit 12. The bonding means 13 for bonding, the substrate conveying means 14 for conveying the substrate 1, the ring changer 15 for exchanging the wafer ring 28 holding the wafer sheet 27 shown in FIG. 12 to be described later, and the wafer ring 28 in FIG. And a reciprocating means 16 for conveying from the exchange stage 30 shown to the pickup position.

プリフォーム手段12、ボンディング手段13、基板搬送手段14、リングチェンジャ15、及び往復動手段16は、制御手段17にて制御される。制御手段17は、例えば、CPU(Central Processing Unit)を中心としてROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)等がバスを介して相互に接続されたマイクロコンピューターである。制御手段17には、記憶手段としての記憶装置が付設される。記憶装置は、HDD(Hard Disc Drive)やDVD(Digital Versatile Disk)ドライブ、CD−R(Compact Disc-Recordable)ドライブ、EEPROM(Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory)等からなる。なお、ROMには、CPUが実行するプログラムやデータが格納されている。   The preform unit 12, the bonding unit 13, the substrate transport unit 14, the ring changer 15, and the reciprocating unit 16 are controlled by the control unit 17. The control means 17 is, for example, a microcomputer in which a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), and the like are connected to each other via a bus with a central processing unit (CPU) as a center. The control means 17 is provided with a storage device as storage means. The storage device includes an HDD (Hard Disc Drive), a DVD (Digital Versatile Disk) drive, a CD-R (Compact Disc-Recordable) drive, an EEPROM (Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory), and the like. The ROM stores programs executed by the CPU and data.

搬送手段14は、例えば、基板1をクランプするクランプ機構と、このクランプ機構のクランプ部を上流側から下流側に向かって移動させる駆動機構とを備える。駆動機構には、例えば、サーボモータ等を使用することができ、制御手段17の制御によって、基板1を任意のピッチ(設定したピッチ)で下流側へ送ることができる。すなわち、基板1のアイランドをプリフォーム位置とボンディング位置とに、順次、送ることができる。   The transport unit 14 includes, for example, a clamp mechanism that clamps the substrate 1 and a drive mechanism that moves the clamp portion of the clamp mechanism from the upstream side toward the downstream side. For example, a servo motor or the like can be used as the drive mechanism, and the substrate 1 can be sent to the downstream side at an arbitrary pitch (set pitch) under the control of the control means 17. That is, the island of the substrate 1 can be sequentially sent to the preform position and the bonding position.

搬送手段14として、駆動輪と、従動輪と、これらに掛け回されるベルトとを備えたベルトフィーダ等のフィーダと、このフィーダを駆動するための駆動機構とを備えたものであってもよい。この場合、基板1がフィーダに供給されれば、位置決め手段(例えば、基板の形成される貫孔に嵌合するピン等)によって位置決めされた状態でフィーダ上に配置される。駆動機構としては、例えばサーボモータ等を使用することができ、制御手段17の制御によって、設定した任意の回転角度にフィーダの駆動輪を駆動させて、基板1を任意のピッチ(設定したピッチ)で下流側へ送ることができる。   The conveying means 14 may be provided with a feeder such as a belt feeder including a driving wheel, a driven wheel, and a belt wound around these, and a driving mechanism for driving the feeder. . In this case, if the board | substrate 1 is supplied to a feeder, it will be arrange | positioned on a feeder in the state positioned by the positioning means (For example, the pin etc. which fit in the through-hole in which a board | substrate is formed). As the drive mechanism, for example, a servo motor or the like can be used. Under the control of the control means 17, the drive wheel of the feeder is driven to the set arbitrary rotation angle, and the substrate 1 is set to any pitch (set pitch). Can be sent downstream.

プリフォーム位置では、基板1のアイランドに接着剤4を塗布するプリフォーム工程(ディスペンス工程)が行われる。このため、プリフォーム手段12は、図10に示すように、例えば接着剤4(図11参照)を吐出するノズル20を有する接着剤塗布用シリンジ21と、このシリンジ21をX軸方向(図1に示す矢印X1、X2方向)とY軸方向(図1に示すY1、Y2方向)とZ軸方向(上下方向)とに駆動させてXYZステージ22とを備える。すなわち、XYZステージ22は、X軸方向に駆動するXステージ22aと、Y軸方向に駆動するYステージ22bと、Z軸方向に駆動するXステージ22cとを備える。   At the preform position, a preform process (dispensing process) for applying the adhesive 4 to the island of the substrate 1 is performed. For this reason, as shown in FIG. 10, the preform means 12 includes an adhesive application syringe 21 having a nozzle 20 for discharging the adhesive 4 (see FIG. 11) and the syringe 21 in the X-axis direction (FIG. 1). And an XYZ stage 22 that is driven in the Y-axis direction (Y1, Y2 direction shown in FIG. 1) and the Z-axis direction (vertical direction). That is, the XYZ stage 22 includes an X stage 22a that is driven in the X axis direction, a Y stage 22b that is driven in the Y axis direction, and an X stage 22c that is driven in the Z axis direction.

このため、シリンジ21は、X軸方向に沿った移動と、Y軸方向に沿った移動と、Z軸方向に沿った移動とが可能である。これによって、プリフォーム時にアイランドの位置にこのノズル20が対応して、このノズル20から吐出量(塗布量)が制御された状態で、接着剤4がアイランドに吐出されることになる。なお、XYZステージ22には、アイランドの検出用のカメラ23が付設されている。   For this reason, the syringe 21 can move along the X-axis direction, move along the Y-axis direction, and move along the Z-axis direction. Thus, the adhesive 4 is discharged onto the island in a state where the nozzle 20 corresponds to the position of the island during preforming and the discharge amount (application amount) is controlled from the nozzle 20. Note that an island detection camera 23 is attached to the XYZ stage 22.

また、ボンディング位置では、接着剤4が塗布されたアイランドにチップ(ダイ)3を搬送して、この接着剤4上に配置するボンディングが行われることになる。このため、ボンディング手段13は、ピックアップ位置25に配置されるウエハリング28のチップ3を吸着するコレット26を有するボンディングアーム(図示省略)と、ウエハリング28のチップ3を観察する確認用カメラ(図示省略)と、ボンディング位置でリードフレーム(基板)1のアイランドを観察する確認用カメラ(図示省略)とを備える。   At the bonding position, bonding is performed in which the chip (die) 3 is transported to the island to which the adhesive 4 has been applied and placed on the adhesive 4. For this reason, the bonding means 13 includes a bonding arm (not shown) having a collet 26 that attracts the chip 3 of the wafer ring 28 disposed at the pickup position 25, and a confirmation camera (not shown) that observes the chip 3 of the wafer ring 28. And a confirmation camera (not shown) for observing the island of the lead frame (substrate) 1 at the bonding position.

ウエハシート27は多数のチップ3に分割されている。すなわち、ウエハシート27は粘着シート(ダイシングシート)に貼り付けられ、このダイシングシートが環状のフレームに保持される。そして、このダイシングシート上のウエハシート27に対して、円形刃(ダイシング・ソー)等を用いて、個片化してチップ3を形成する。また、コレット26を保持しているボンディングアームは搬送手段(図示省略)を介して、ピックアップ位置とボンディング位置との間の移動が可能となっている。   The wafer sheet 27 is divided into a large number of chips 3. That is, the wafer sheet 27 is attached to an adhesive sheet (dicing sheet), and this dicing sheet is held by an annular frame. The wafer sheet 27 on the dicing sheet is separated into pieces using a circular blade (dicing saw) or the like to form the chips 3. Further, the bonding arm holding the collet 26 can be moved between the pickup position and the bonding position via a conveying means (not shown).

また、このコレット26は、その下端面に開口した吸着孔を介してチップ3が真空吸引され、このコレット26の下端面にチップ3が吸着する。なお、この真空吸引(真空引き)が解除されれば、コレット26からチップ3が外れる。   Further, the chip 3 is vacuum-sucked through the suction hole opened in the lower end surface of the collet 26, and the chip 3 is adsorbed on the lower end surface of the collet 26. If this vacuum suction (evacuation) is released, the chip 3 is detached from the collet 26.

次にこのボンディング手段を使用したボンディング方法を説明する。まず、供給部25の上方に配置される確認用カメラにてピックアップすべきチップ3を観察して、コレット26をこのピックアップすべきチップ3の上方に位置させた後、矢印Z1のようにコレット26を下降させてこのチップ3をピックアップする。その後、矢印Z2のようにコレット26を上昇させる。   Next, a bonding method using this bonding means will be described. First, the chip 3 to be picked up is observed with a confirmation camera arranged above the supply unit 25, the collet 26 is positioned above the chip 3 to be picked up, and then the collet 26 as indicated by an arrow Z1. Is lowered to pick up the chip 3. Thereafter, the collet 26 is raised as indicated by the arrow Z2.

次に、ボンディング位置の上方に配置された確認用カメラにて、ボンディングすべきリードフレーム1のアイランドを観察して、コレット26を矢印Y3方向へ移動させて、このアイランドの上方に位置させた後、コレット26を矢印Z3のように下降移動させて、このアイランドにチップ3を供給する。また、アイランドにチップ3を供給した後は、コレット26を矢印Z4のように上昇させた後、矢印Y4のように、ピップアップ位置の上方の待機位置に戻す。   Next, the island of the lead frame 1 to be bonded is observed with a confirmation camera disposed above the bonding position, and the collet 26 is moved in the direction of the arrow Y3 to be positioned above the island. The collet 26 is moved downward as indicated by an arrow Z3 to supply the chip 3 to this island. After supplying the chip 3 to the island, the collet 26 is raised as indicated by the arrow Z4 and then returned to the standby position above the pip-up position as indicated by the arrow Y4.

すなわち、コレット26を、順次、矢印Z1、Z2、Y3、Z3、Z4、Y4のように移動させることによって、ピックアップ確認用カメラの観察に基づいて位置決めされたチップ3をコレット26でピックアップし、このチップ3をアイランドに実装することになる。   That is, by moving the collet 26 sequentially as indicated by arrows Z1, Z2, Y3, Z3, Z4, and Y4, the chip 3 positioned based on the observation of the pickup confirmation camera is picked up by the collet 26. The chip 3 is mounted on the island.

ところで、ウエハリング28は、往復動手段16にて、交換ステージ30とピップアップ位置との間を矢印Cのように往復動することになる。往復動手段16として例えば、XYテーブル等で構成することができる。また、XYテーブル上には、加圧リング18を有するエキスパンダ19(図3参照)が配設される。   By the way, the wafer ring 28 reciprocates between the exchange stage 30 and the pip-up position as indicated by an arrow C by the reciprocating means 16. For example, the reciprocating means 16 can be constituted by an XY table or the like. An expander 19 (see FIG. 3) having a pressure ring 18 is disposed on the XY table.

交換ステージ30の下方には、ウエハリング28が複数段に収容されるリングマガジン31(図3等参照)が載置される引き出しステージ32が配置される。引き出しステージ32は、リングマガジン31が載置固定される基板台33と、この基板台33の引き出し・収納をガイドするガイド機構とを備える。   Below the exchange stage 30, a drawer stage 32 on which a ring magazine 31 (see FIG. 3 and the like) in which the wafer rings 28 are accommodated in a plurality of stages is placed. The drawer stage 32 includes a substrate table 33 on which the ring magazine 31 is placed and fixed, and a guide mechanism for guiding the extraction and storage of the substrate table 33.

ガイド機構は、例えば、基板台33の側面に設けられる左右一対のガイド用長凹部と、この装置の枠体側に設けられて相対面する一対のガイドローラとを備えたもので構成できる。この場合、各ガイド用長凹部は基板台33の前後方向に延び、各ガイド用長凹部に各ガイドローラが嵌合する。なお、ガイド機構として、ガイドレールを備えたものであってもよい。   For example, the guide mechanism can include a pair of left and right guide long recesses provided on the side surface of the substrate base 33 and a pair of guide rollers provided on the frame side of the apparatus and facing each other. In this case, each guide long recess extends in the front-rear direction of the substrate base 33, and each guide roller is fitted in each guide long recess. The guide mechanism may include a guide rail.

このため、基板台33を、図1の実線で示すように、交換ステージ30の下方位置に収納される収納状態から、基板台33を手前に引き出せば、図1の仮想線で示すように、交換ステージ30よりも前方に引き出すことができる。また、この引き出した状態から、基板台33を後方へ押し込めば、図1の実線で示すように、基板台33が交換ステージ30の下方位置に収納される収納状態となる。   For this reason, as shown by the phantom line in FIG. 1, if the substrate stage 33 is pulled out from the storage state in which the substrate stage 33 is stored in the lower position of the exchange stage 30, as shown by the solid line in FIG. It can be pulled forward from the exchange stage 30. Further, when the substrate stage 33 is pushed backward from this pulled out state, the substrate stage 33 is stored in a lower position of the exchange stage 30 as shown by a solid line in FIG.

交換ステージ30の側方にはリングチェンジャ15を備えたリング交換装置が配設されている。図3に示すように、リングチェンジャ15は、上下2段にウエハリング28を保持するリング保持体41と、このリング保持体41を上下動させる上下動機構42と、リング保持体41のウエハリング28をチャックして交換ステージ30に供給するとともに、交換ステージ30のウエハリング28をチャックしてリング保持体に戻すチャック機構43と、チャック機構におけるリング保持体41の上段のウエハリング28に対応する上チャック位置とリング保持体41の下段のウエハリング28に対応する下チャック位置との切換を行う切換機構44とを備える。   A ring exchanging device having a ring changer 15 is disposed on the side of the exchanging stage 30. As shown in FIG. 3, the ring changer 15 includes a ring holder 41 that holds the wafer ring 28 in two upper and lower stages, a vertical movement mechanism 42 that moves the ring holder 41 up and down, and a wafer ring of the ring holder 41. 28 is chucked and supplied to the replacement stage 30, and the chucking mechanism 43 for chucking the wafer ring 28 of the replacement stage 30 and returning it to the ring holder, and the upper wafer ring 28 of the ring holder 41 in the chuck mechanism. A switching mechanism 44 that switches between the upper chuck position and the lower chuck position corresponding to the lower wafer ring 28 of the ring holder 41 is provided.

リング保持体41は、上方に配置される第1受け台41aと、下方に配置される第2受け台41bとを有し、上下一対の受け台41a、41bが前記切換機構44にて上下動する。このため、切換機構44としては、シリンダ機構、ボール・ナット機構、リニアガイド機構等の既存の往復動機構にて構成できる。   The ring holding body 41 includes a first cradle 41 a disposed above and a second cradle 41 b disposed below. The pair of upper and lower cradles 41 a and 41 b are moved up and down by the switching mechanism 44. To do. Therefore, the switching mechanism 44 can be configured by an existing reciprocating mechanism such as a cylinder mechanism, a ball / nut mechanism, or a linear guide mechanism.

この場合、切換機構44としての往復動機構が前記上下動機構42に付設され、上下動機構42の駆動によって切換機構44とリング保持体41とが上下動(昇降)する。なお、上下動機構42としても、シリンダ機構、ボール・ナット機構、リニアガイド機構等の既存の往復動機構にて構成できる。   In this case, a reciprocating mechanism as the switching mechanism 44 is attached to the vertical movement mechanism 42, and the switching mechanism 44 and the ring holding body 41 are moved up and down (lifted) by driving the vertical movement mechanism 42. The vertical movement mechanism 42 can also be constituted by an existing reciprocating mechanism such as a cylinder mechanism, a ball / nut mechanism, or a linear guide mechanism.

チャック機構43は、ウエハリング28のチャックを可能とする開閉機能付きチャック部43aと、チャック部43aにてチャックしているウエハリング28を水平方向に沿って矢印B(図1参照)のように搬送する搬送機構43bとで構成できる。チャック部43aは、その基部側を中心に揺動する一対の揺動片45、45と、この揺動片45,45を揺動させる揺動機構(図示省略)とを有する。揺動機構としては、歯車機構、リンク機構、トグル機構等の各種の既存の機構を用いることができる。そして、図示省略の駆動源(モータ)の駆動によって、揺動機構を介して、揺動片45、45が揺動して開閉動作を行う。   The chuck mechanism 43 has a chuck part 43a with an opening / closing function that enables chucking of the wafer ring 28, and the wafer ring 28 chucked by the chuck part 43a along the horizontal direction as indicated by an arrow B (see FIG. 1). It can comprise with the conveyance mechanism 43b to convey. The chuck portion 43a has a pair of swinging pieces 45 and 45 that swing about the base side, and a swinging mechanism (not shown) that swings the swinging pieces 45 and 45. As the swing mechanism, various existing mechanisms such as a gear mechanism, a link mechanism, and a toggle mechanism can be used. Then, by driving a drive source (motor) (not shown), the swinging pieces 45 and 45 are swung through the swinging mechanism to perform an opening / closing operation.

搬送機構43bは、チャック部43aに連結される往復動機構によって構成できる。この場合も、シリンダ機構、ボール・ナット機構、リニアガイド機構等の既存の往復動機構にて構成できる。   The transport mechanism 43b can be configured by a reciprocating mechanism connected to the chuck portion 43a. Also in this case, it can be configured by an existing reciprocating mechanism such as a cylinder mechanism, a ball / nut mechanism, or a linear guide mechanism.

ところで、この装置においては、図1に示すように、ピックアップ位置でのウエハリング28の中心位置POは、交換ステージ30上のウエハリング28の中心位置COよりも装置内側に配置される。すなわち、ピックアップ位置での中心位置POが、交換ステージ30の中心位置COよりもリングチェンジャ15側に位置するように設定している。   By the way, in this apparatus, as shown in FIG. 1, the center position PO of the wafer ring 28 at the pickup position is arranged inside the apparatus with respect to the center position CO of the wafer ring 28 on the exchange stage 30. That is, the center position PO at the pickup position is set to be located closer to the ring changer 15 than the center position CO of the exchange stage 30.

これに対して、図14に示す従来の装置では、各部材の構成を考慮すれば、ピックアップ位置での中心位置POが、リング交換位置での中心位置COよりも装置外方に配置する必要があった。そのため、装置全体の幅寸法が大となっていた。   On the other hand, in the conventional apparatus shown in FIG. 14, if the configuration of each member is taken into consideration, the center position PO at the pickup position needs to be arranged outside the apparatus from the center position CO at the ring replacement position. there were. For this reason, the overall width of the apparatus is large.

次に前記のように構成されたリングチェンジャ15を用いて、交換ステージ30上でのウエハリング28の交換動作を図3〜図9を用いて説明する。図3(a)に示す状態は、マガジン31の最上段のウエハリング28(28a)が、ピックアップ位置に位置した状態で、マガジン31の上から2段目のウエハリング28(28b)が、リングチェンジャ15のリング保持体41の第1受け台41aに載置されている状態である。この状態では、リング保持体41の第1受け台41bにはウエハリング28が載置されていない状態である。   Next, using the ring changer 15 configured as described above, the exchange operation of the wafer ring 28 on the exchange stage 30 will be described with reference to FIGS. In the state shown in FIG. 3A, the uppermost wafer ring 28 (28a) of the magazine 31 is located at the pickup position, and the second wafer ring 28 (28b) from the top of the magazine 31 is This is a state in which the ring holder 41 of the changer 15 is placed on the first cradle 41a. In this state, the wafer ring 28 is not placed on the first cradle 41 b of the ring holder 41.

この図3(a)に示す状態から図3(b)に示すように、ピックアップ位置に位置しているウエハリング28aを、往復動手段16、つまりXYテーブルを駆動させることによって、交換ステージ30上に位置させる。この状態で、図3(c)に示すように、XYテーブル上の加圧リング18を矢印E1方向に上昇させるとともに、リング保持体41を上下動機構42にて矢印D1のように上昇させる。   As shown in FIG. 3B from the state shown in FIG. 3A, the wafer ring 28a located at the pickup position is driven on the exchange stage 30 by driving the reciprocating means 16, that is, the XY table. To be located. In this state, as shown in FIG. 3C, the pressure ring 18 on the XY table is raised in the direction of the arrow E1, and the ring holding body 41 is raised by the vertical movement mechanism 42 as shown by the arrow D1.

その後は、図4(a)に示すように、第1受け台41aに受けられているウエハリング28bからチャック機構43にチャックを解除するとともに、このチャック機構43のチャック部43aを矢印A2のように後退させる。この後退は、チャック機構43をリミット位置(最大後退位置)まで退避させる。次に図4(b)に示すように、切換機構44によって、保持体41を矢印D2のように上昇させて、第1受け台41aと第2受け台41bとの間にチャック機構43が介在される状態とする。その後、図4(c)に示すように、チャック機構43を矢印A1のように前進させてリミット位置から脱出させる。   Thereafter, as shown in FIG. 4A, the chuck is released from the wafer ring 28b received by the first receiving base 41a to the chuck mechanism 43, and the chuck portion 43a of the chuck mechanism 43 is moved as indicated by an arrow A2. Retreat to. This backward movement retracts the chuck mechanism 43 to the limit position (maximum backward position). Next, as shown in FIG. 4B, the holding mechanism 41 is raised as shown by the arrow D2 by the switching mechanism 44, and the chuck mechanism 43 is interposed between the first receiving table 41a and the second receiving table 41b. State Thereafter, as shown in FIG. 4C, the chuck mechanism 43 is advanced as indicated by an arrow A1 to escape from the limit position.

次に、図5(a)の矢印B1に示すように、チャック機構43のチャック部43aを交換ステージ30上に位置させる。そして、このチャック部43aにて、交換ステージ30上のウエハリング28aをチャックする。その後、チャックしたままチャック部43aを後退させて、図5(b)の矢印B2に示すように、リングチェンジャ15側に戻して、切換機構44を調整して、第2受け台41b上のウエハリング28aを、図5(c)の矢印D3に示すように、交換ステージ30の交換可能高さ位置に調整する。   Next, as shown by an arrow B <b> 1 in FIG. 5A, the chuck portion 43 a of the chuck mechanism 43 is positioned on the replacement stage 30. Then, the wafer ring 28a on the exchange stage 30 is chucked by the chuck portion 43a. Thereafter, the chuck portion 43a is retracted while being chucked, and is returned to the ring changer 15 side as indicated by an arrow B2 in FIG. 5B, and the switching mechanism 44 is adjusted to adjust the wafer on the second cradle 41b. The ring 28a is adjusted to the replaceable height position of the replacement stage 30 as indicated by an arrow D3 in FIG.

その後、図6(a)に示すように、チャック機構43のチャック部43aを開状態として矢印A2方向にリミット位置まで退避させる。その後、リング保持体41を矢印D4のように下降させて、図6(b)に示すように、第1受け台41a上のウエハリング28bの高さ位置を交換ステージ30の交換可能高さ位置に調整する。その後、図6(c)の矢印A1に示すように、チャック部43aを前進させて原点に復帰させる。   Thereafter, as shown in FIG. 6A, the chuck portion 43a of the chuck mechanism 43 is opened and retracted to the limit position in the arrow A2 direction. Thereafter, the ring holder 41 is lowered as indicated by an arrow D4, and the height position of the wafer ring 28b on the first cradle 41a is changed to the replaceable height position of the exchange stage 30 as shown in FIG. 6B. Adjust to. Thereafter, as indicated by an arrow A1 in FIG. 6C, the chuck portion 43a is advanced to return to the origin.

次に、図7(a)の矢印A1に示すように、チャック部43aを前進させて、第1受け台41a上のウエハリング28bをチャックする。その後、図7(b)の矢印B1に示すように、チャック部43aを前進させて、このウエハリング28bをXYステージ上に搬送した後、チャック部43aを開状態として、図7(c)の矢印B2に示すように、後退させる。   Next, as indicated by an arrow A1 in FIG. 7A, the chuck portion 43a is advanced to chuck the wafer ring 28b on the first cradle 41a. Thereafter, as indicated by an arrow B1 in FIG. 7B, the chuck portion 43a is advanced, and the wafer ring 28b is transferred onto the XY stage. Then, the chuck portion 43a is opened, and the chuck portion 43a shown in FIG. Retract as shown by arrow B2.

その後、図8(a)に示すように、チャック部43aを矢印A2方向にリミット位置まで退避させるとともに、加圧リング18を矢印E2のように下降させて、図8(b)に示す状態として、リング保持体41を矢印D5に示すように上昇させる。次に、図8(c)の矢印A1に示すように、チャック部43aを前進させて原点に復帰させる。   Thereafter, as shown in FIG. 8A, the chuck portion 43a is retracted to the limit position in the direction of arrow A2, and the pressure ring 18 is lowered as shown by arrow E2 to obtain the state shown in FIG. 8B. Then, the ring holder 41 is raised as shown by the arrow D5. Next, as indicated by an arrow A1 in FIG. 8C, the chuck portion 43a is advanced to return to the origin.

その後、図9(a)の矢印A1に示すように、チャック部43aを前進させて、リング保持体41の第2受け台41b上のウエハリング28aをチャックした後、図9(b)の矢印D6に示すように、リング保持体41を下降させる。そして、図9(c)に示すように、XYテーブルにてこのXYテーブル上のウエハリング28bを矢印C2方向に移送させてピックアップ位置まで搬送する。   Thereafter, as indicated by an arrow A1 in FIG. 9A, the chuck portion 43a is advanced to chuck the wafer ring 28a on the second receiving base 41b of the ring holder 41, and then the arrow in FIG. 9B. As shown in D6, the ring holder 41 is lowered. Then, as shown in FIG. 9C, the wafer ring 28b on the XY table is transferred in the direction of the arrow C2 by the XY table and is conveyed to the pickup position.

このように、交換ステージ30上で、ピップアップが完了したウエハリング28(使用後ウエハリング28a)と、ピップアップが完了していないウエハリング28(使用前ウエハリング28b)との交換作業が終了する。   In this manner, on the exchange stage 30, the exchange operation between the wafer ring 28 (pipe wafer 28a after use) for which pip-up has been completed and the wafer ring 28 (peg wafer ring 28b before use) that has not been pip-up is completed. To do.

本発明では、引き出しステージ32を前方へ引き出した状態で、このステージ32が低位置に位置することになって、このステージ32へのマガジン載置作業の軽減を図ることができる。しかも、引き出しステージ32を収納すれば、マガジン31が交換ステージ30の下方に収納された状態となり、コンパクト化を達成できる。このため、装置に対する各種の調整やメンテナンス性の向上を図ることが可能である。また、引き出しステージの引き出し状態では、引き出しステージの上方に他の部材が無い状態であるので、マガジンの載置作業及び取り出し作業の容易化を図ることができる。   In the present invention, the stage 32 is positioned at a low position in a state where the drawer stage 32 is pulled forward, so that the work of placing the magazine on the stage 32 can be reduced. In addition, if the drawer stage 32 is stored, the magazine 31 is stored below the replacement stage 30 and compactness can be achieved. For this reason, it is possible to improve various adjustments and maintainability of the apparatus. Further, in the pulled-out state of the drawer stage, there is no other member above the drawer stage, so that it is possible to facilitate the magazine placing operation and the removing operation.

ピックアップ位置でのウエハリング28の中心位置POを、交換ステージ30上のウエハリング28の中心位置COよりも装置内側に配置することによって、装置全体のコンパクト化を図ることができる。   By disposing the center position PO of the wafer ring 28 at the pickup position inside the apparatus relative to the center position CO of the wafer ring 28 on the exchange stage 30, the entire apparatus can be made compact.

リングチェンジャ15の上下動機構42による昇降動作では、上下2段にウエハリング28,28のみを昇降させればよいので、上下動機構42の小型化を図ることができる。リングチェンジャ15を備えたものでは、各段のウエハリング28,28の交換動作を安定して行うことができる。しかも、ウエハリング交換作業時以外において、リング保持体41を下降させておくことができ、装置に対する各種の調整やメンテナンス性の一層の向上を図ることができる。   In the raising / lowering operation by the vertical movement mechanism 42 of the ring changer 15, it is only necessary to raise / lower the wafer rings 28, 28 in two stages, so that the vertical movement mechanism 42 can be downsized. In the case where the ring changer 15 is provided, the exchange operation of the wafer rings 28 and 28 at each stage can be stably performed. In addition, the ring holder 41 can be lowered except during wafer ring replacement work, and various adjustments to the apparatus and further improved maintainability can be achieved.

チャック機構43として、開閉機能付きチャック部43aと搬送機構43bとを備えているので、ウエハリング28の交換作業を確実に行うことができる。ウエハリング28のリングマガジン31からのリング保持体41への供給と、ウエハリング28のリング保持体41からのリングマガジン31への戻しが可能であるので、リングマガジン31と交換ステージ30との間で、ウエハリング28の交換作業を行うことができ、作業性の向上および装置のコンパクト化に一層寄与する。   Since the chuck mechanism 43 includes the chuck portion 43a with an opening / closing function and the transport mechanism 43b, the wafer ring 28 can be reliably replaced. Since the supply of the wafer ring 28 from the ring magazine 31 to the ring holder 41 and the return of the wafer ring 28 from the ring holder 41 to the ring magazine 31 are possible, the space between the ring magazine 31 and the exchange stage 30 is possible. Thus, the wafer ring 28 can be replaced, which contributes to the improvement of workability and the compactness of the apparatus.

リングチェンジャ15を、交換ステージ30と交換ステージ30の下方位置に収納されたリングマガジン31との側方に配置するようにすれば、装置全体のコンパクト化及び交換作業時間の短縮化を図ることができる。   If the ring changer 15 is arranged on the side of the exchange stage 30 and the ring magazine 31 stored below the exchange stage 30, the entire apparatus can be made compact and the exchange work time can be shortened. it can.

プリフォーム手段12とボンディング手段13とを備えているので、プリフォーム動作とボンディング動作とを行うことができ、ウエハリング28に収容されたマガジン31を、引き出しステージ32にセットすれば、マガジン31に収容されたウエハリング28のチップ3を順次基板に実装することができ、作業性に優れる。   Since the preform means 12 and the bonding means 13 are provided, the preform operation and the bonding operation can be performed. If the magazine 31 accommodated in the wafer ring 28 is set on the drawer stage 32, the magazine 31 The chips 3 of the accommodated wafer ring 28 can be sequentially mounted on the substrate, and the workability is excellent.

以上、本発明の実施形態につき説明したが、本発明は前記実施形態に限定されることなく種々の変形が可能であって、例えば、前記実施形態では、使用後のウエハリング28を第2受け台41bに戻し、第1受け台41aのウエハリング28を交換ステージ上に搬送するようにしていたが、逆に、使用後のウエハリング28を第1受け台41aに戻し、第2受け台41bのウエハリング28を交換ステージ上に搬送するようにしてもよい。また、前記実施形態では、リングチェンジャ15を正面から見て左側に配置していたが、リングチェンジャ15を正面から見て右側に配置するものであってもよい。   As described above, the embodiment of the present invention has been described. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made. The wafer ring 28 of the first receiving table 41a is transferred to the exchange stage by returning to the table 41b. Conversely, the used wafer ring 28 is returned to the first receiving table 41a and the second receiving table 41b. The wafer ring 28 may be transferred onto an exchange stage. Moreover, in the said embodiment, although the ring changer 15 was arrange | positioned on the left side seeing from the front, the ring changer 15 may be arrange | positioned on the right side seeing from the front.

1 基板(リードフレーム)
3 チップ
12 プリフォーム手段
13 ボンディング手段
14 基板搬送手段
15 リングチェンジャ
16 往復動手段
27 ウエハシート
28 ウエハリング
30 交換ステージ
31 リングマガジン
32 引き出しステージ
41 リング保持体
42 上下動機構
43 チャック機構
43a チャック部
43b 搬送機構
44 切換機構
1 Board (lead frame)
3 Chip 12 Preform means 13 Bonding means 14 Substrate transport means 15 Ring changer 16 Reciprocating means 27 Wafer sheet 28 Wafer ring 30 Exchange stage 31 Ring magazine 32 Draw stage 41 Ring holder 42 Vertical movement mechanism 43 Chuck mechanism 43a Chuck part 43b Transport mechanism 44 switching mechanism

Claims (8)

ウエハシートを保持しているウエハリングをピックアップ位置まで搬送して、ウエハシートが個片化されてなるチップを基板に実装するチップ実装装置であって、
使用前ウエハリングと使用後ウエハリングとの交換を行う交換ステージと、交換ステージとピックアップ位置との間のウエハリングの往復動を行う往復動手段と、複数段にウエハリングを収納するリングマガジンが載置されて、リングマガジンの交換ステージの下方位置の収納および前方への引き出しを可能とする引き出しステージとを備えたことを特徴とするチップ実装装置。
A chip mounting apparatus for transporting a wafer ring holding a wafer sheet to a pickup position and mounting a chip obtained by dividing the wafer sheet on a substrate,
An exchange stage for exchanging the wafer ring before use and the wafer ring after use, reciprocating means for reciprocating the wafer ring between the exchange stage and the pickup position, and a ring magazine for storing the wafer rings in a plurality of stages A chip mounting apparatus comprising a drawer stage that is placed and allows the lower position of the exchange stage of the ring magazine to be stored and pulled forward.
ピックアップ位置でのウエハリングの中心位置は、交換ステージ上のウエハリングの中心位置よりも装置内側に配置されることを特徴とする請求項1に記載のチップ実装装置。   2. The chip mounting apparatus according to claim 1, wherein the center position of the wafer ring at the pickup position is disposed inside the apparatus with respect to the center position of the wafer ring on the exchange stage. 前記リングマガジンの使用前ウエハリングを交換ステージに供給するとともに、交換ステージの使用後ウエハリングをリングマガジンに戻すリングチェンジャとを備えたチップ実装装置であって、
リングチェンジャは、上下2段にウエハリングを保持するリング保持体と、このリング保持体を上下動させる上下動機構と、リング保持体のウエハリングをチャックして交換ステージに供給するとともに、交換ステージのウエハリングをチャックしてリング保持体に戻すチャック機構と、前記チャック機構におけるリング保持体の上段のウエハリングに対応する上チャック位置とリング保持体の下段のウエハリングに対応する下チャック位置との切換を行う切換機構とを備えたことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のチップ実装装置。
A chip mounting apparatus comprising a ring changer for supplying a wafer ring before use of the ring magazine to an exchange stage and returning the wafer ring to the ring magazine after use of the exchange stage,
The ring changer includes a ring holder that holds the wafer ring in two upper and lower stages, a vertical movement mechanism that moves the ring holder up and down, chucks the wafer ring of the ring holder, and supplies it to the exchange stage. A chuck mechanism for chucking the wafer ring back to the ring holder, an upper chuck position corresponding to the upper wafer ring of the ring holder in the chuck mechanism, and a lower chuck position corresponding to the lower wafer ring of the ring holder The chip mounting apparatus according to claim 1, further comprising: a switching mechanism that performs switching of
チャック機構は、下チャック位置で交換ステージの使用後ウエハリングをチャックしてリング保持体に戻し、上チャック位置でリング保持体の使用前ウエハリングをチャックして交換ステージに供給することを特徴とする請求項3に記載のチップ実装装置。   The chuck mechanism is characterized by chucking the wafer ring after use of the exchange stage at the lower chuck position and returning it to the ring holder, and chucking the wafer ring before use of the ring holder at the upper chuck position and supplying it to the exchange stage. The chip mounting apparatus according to claim 3. チャック機構は、ウエハリングのチャックを可能とする開閉機能付きチャック部と、チャック部にてチャックしているウエハリングを水平方向に沿って搬送する搬送機構とを備えたことを特徴とする請求項3又は請求項4に記載のチップ実装装置。   The chuck mechanism includes: a chuck portion with an opening / closing function that enables chucking of the wafer ring; and a transport mechanism that transports the wafer ring chucked by the chuck portion along a horizontal direction. The chip mounting apparatus of Claim 3 or Claim 4. チャック機構は、交換ステージの下方位置に収納されたリングマガジンのウエハリングをチャックしてリング保持体への供給を行うとともに、リング保持体のウエハリングをチャックしてリングマガジンに戻すことを特徴とする請求項3〜請求項5のいずれか1項に記載のチップ実装装置。   The chuck mechanism is characterized in that the wafer ring of the ring magazine housed in the lower position of the exchange stage is chucked and supplied to the ring holder, and the wafer ring of the ring holder is chucked and returned to the ring magazine. The chip mounting apparatus according to any one of claims 3 to 5. リングチェンジャは、交換ステージと交換ステージの下方位置に収納されたリングマガジンとの側方に配置されることを特徴とする請求項3〜請求項6のいずれか1項に記載のチップ実装装置。   7. The chip mounting apparatus according to claim 3, wherein the ring changer is disposed on a side of the exchange stage and a ring magazine housed at a position below the exchange stage. 8. 前記交換ステージの後方側に配置されるボンディング装置を備えたチップ実装装置であって、
前記ボンディング装置は、基板をその搬送方向に沿って上流側から下流側に向かってピッチ送りする搬送手段と、接着剤を塗布すべき基板のアイランドがプリフォーム位置に搬送された際に、このアイランドに接着剤を塗布するプリフォーム手段と、接着剤が塗布されたアイランドがボンディング位置に搬送された際に、このアイランドにチップをボンディングするボンディング手段とを備えることを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のチップ実装装置。
A chip mounting apparatus provided with a bonding apparatus disposed on the rear side of the exchange stage,
The bonding apparatus includes a conveyance means for pitch-feeding the substrate from the upstream side to the downstream side in the conveyance direction, and the island of the substrate to which the adhesive is to be applied when the island is conveyed to the preform position. And a bonding means for bonding a chip to the island when the island to which the adhesive is applied is conveyed to a bonding position. Item 8. The chip mounting apparatus according to any one of Items 7 above.
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