JP2013247314A - 突き上げ高さ計測システム - Google Patents

突き上げ高さ計測システム Download PDF

Info

Publication number
JP2013247314A
JP2013247314A JP2012121554A JP2012121554A JP2013247314A JP 2013247314 A JP2013247314 A JP 2013247314A JP 2012121554 A JP2012121554 A JP 2012121554A JP 2012121554 A JP2012121554 A JP 2012121554A JP 2013247314 A JP2013247314 A JP 2013247314A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
push
height position
pot
die
height
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012121554A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6103745B2 (ja
Inventor
Toshihiko Yamazaki
敏彦 山▲崎▼
Toshinori Shimizu
利律 清水
Hiroyasu Ohashi
広康 大橋
Masaki Murai
正樹 村井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Corp
Original Assignee
Fuji Machine Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Machine Manufacturing Co Ltd filed Critical Fuji Machine Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2012121554A priority Critical patent/JP6103745B2/ja
Publication of JP2013247314A publication Critical patent/JP2013247314A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6103745B2 publication Critical patent/JP6103745B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

【課題】ダイを供給するダイ供給装置を部品実装機にセットしたものにおいて、突き上げ動作時の突き上げピンの上端の高さ位置を自動的に計測できるようにする。
【解決手段】ダイ供給装置12の吸着ヘッド23に計測治具41を上下動可能に設ける。ダイ供給装置12にウエハパレット33がセットされていない状態で、突き上げピン39の上方に計測治具41を位置させると共に、該計測治具41の上方に部品実装機11に設けられた高さ計測センサ21を位置させる。この状態で、突き上げピン39を突き上げ動作させて、該突き上げピン39の上端で該計測治具41を押し上げた状態で、高さ計測センサ21により計測治具41の上端面の高さ位置を計測した後、該計測治具41の上端面の高さ位置の計測値から該計測治具41の高さ寸法分を差し引いて、該突き上げピン39の上端の高さ位置の計測値を求める。
【選択図】図2

Description

本発明は、複数のダイに分割するようにダイシングされたウエハが貼着された伸縮可能なダイシングシートを突き上げポットの突き上げピンで突き上げて該ダイシングシートからダイをピックアップする際の突き上げ高さを計測する突き上げ高さ計測システムに関する発明である。
近年、特許文献1(特開2010−129949号公報)に記載されているように、ダイを供給するダイ供給装置を部品実装機にセットして、部品実装機でダイを回路基板に実装するようにしたものがある。ダイ供給装置は、ダイシングされたウエハが貼着された伸縮可能なダイシングシートを装着したウエハパレットと、前記ダイシングシートの下方に配置された突き上げポットとを備え、ダイ供給装置の吸着ノズル又は部品実装機の吸着ノズルを下降させて前記ダイシングシート上のダイを吸着してピックアップする際に、突き上げポットをダイシングシートの下面に接触又は近接する所定のシート吸着位置まで上昇させて該ダイシングシートを該突き上げポットの上面に吸着した状態で、該突き上げポット内の突き上げピンを該突き上げポットの上面から上方に突出させる突き上げ動作を行うことで、該ダイシングシートのうちの吸着しようとするダイの貼着部分を該突き上げピンで突き上げて該ダイの貼着部分を該ダイシングシートから部分的に剥離させながら、該吸着ノズルで該ダイを吸着して該ダイシングシートからピックアップするようにしている。
特開2010−129949号公報
ところで、吸着ノズルを下降させてダイシングシート上のダイを吸着する際に、突き上げポットの突き上げピンの突き上げ高さ位置(上端の高さ位置)が高くなり過ぎると、吸着ノズルの下端がダイシングシート上のダイに強く当たり過ぎてダイが傷付いたり、割れてしまう可能性があり、反対に、突き上げポット(突き上げピン)の突き上げ高さ位置が低くなり過ぎると、吸着ノズルにダイを安定して吸着できない。従って、吸着ノズルにダイを傷付けずに安定して吸着するためには、突き上げポット(突き上げピン)の突き上げ高さ位置を厳重に管理する必要がある。
しかし、突き上げピンの突き上げ高さ位置は、突き上げユニットの各部品の組付精度や突き上げピンの取り付け具合に影響され、要求される突き上げ高さ位置の精度を確保することが難しい。そのため、生産開始前に、突き上げピンの突き上げ高さ位置を計測して、その位置ずれ量が許容範囲を越えていることが判明すれば、部品を組み付け直すなどして再び計測するという作業が必要となるが、その際、作業者が突き上げポットの突き上げピンの突き上げ高さ位置を手作業で計測するようにしていたため、多くの時間を費やすことがあった。
そこで、本発明者らは、突き上げピンの突き上げ高さ位置を計測する作業を自動化するために、突き上げ動作時の突き上げピンの上端の高さ位置をその上方からレーザーセンサ等の非接触式の高さセンサで計測するシステムを研究開発しているが、突き上げピンの上端は非常に細く、丸くなっているため、突き上げピンの上端の高さ位置を非接触式の高さセンサで直接計測することは困難である。
また、突き上げ動作時の突き上げポットの上面の高さ位置をその上方からレーザーセンサ等の非接触式の高さ計測センサで計測することも考えられるが、この場合でも、突き上げポットの上面の全域にダイシングシートを吸着するための多数の吸引孔が形成されているため、突き上げポットの上面の高さ位置を多数の吸引孔の影響を受けずに安定して自動計測することは困難である。
そこで、本発明が解決しようとする課題は、突き上げ動作時の突き上げポットや突き上げピンの突き上げ高さ位置(上端の高さ位置)を安定して精度良く自動計測することができる突き上げ高さ計測システムを提供することである。
上記課題を解決するために、請求項1に係る発明は、ダイを供給するダイ供給装置を部品実装機にセットしたものにおいて、計測対象物の上端面の高さ位置を計測する高さ位置計測手段と、上下両端面が水平な平坦面に形成された上下動可能な計測治具とを備え、突き上げポットの上方にウエハパレットがセットされていない状態で突き上げピンの上方に前記計測治具を位置させて、該突き上げピンを突き上げ動作させて該突き上げピンの上端で前記計測治具を押し上げた状態で、前記高さ位置計測手段により該計測治具の上端面の高さ位置を計測し、該計測治具の上端面の高さ位置の計測値に基づいて該突き上げピンの上端の高さ位置を求めるようにしたものである。
突き上げピンの上端が非常に細く、丸くなっていても、該突き上げピンを突き上げ動作させて該突き上げピンの上端で計測治具を押し上げた状態で、高さ位置計測手段により該計測治具の平坦な上端面の高さ位置を計測するようにしているため、計測治具の上端面の高さ位置を精度良く計測でき、該計測治具の上端面の高さ位置の計測値から該計測治具の高さ寸法分を差し引く等して、突き上げピンの上端の高さ位置(突き上げ高さ位置)を安定して精度良く自動計測することができる。
上記請求項1に係る発明では、突き上げ動作時の突き上げピンの上端の高さ位置を計測するようにしたが、請求項2に係る発明では、突き上げポットの上方にウエハパレットがセットされていない状態で突き上げポットの上方に計測治具を位置させて、該突き上げポットを突き上げ動作させて該突き上げポットの上面で計測治具を押し上げた状態で、高さ位置計測手段により該計測治具の上端面の高さ位置を計測し、該計測治具の上端面の高さ位置の計測値に基づいて該突き上げポットの上端の高さ位置を求めるようにしても良い。このようにすれば、突き上げポットの上面の全域にダイシングシートを吸着するための多数の吸引孔が形成されていても、突き上げポットの上面の高さ位置を安定して精度良く自動計測することができる。
また、請求項3のように、計測治具を移動させる手段として、ダイ供給装置の吸着ノズルを移動させる移動機構を用いるようにすると良い。このようにすれば、ダイ供給装置の吸着ノズルを移動させる移動機構を利用して計測治具を突き上げポット(突き上げピン)の上方に移動させることができ、計測治具専用の移動機構を設ける必要がない。
また、請求項4のように、計測治具を下方に付勢する付勢手段を設けるようにすると良い。このようにすれば、突き上げ高さ位置の計測時に計測治具の下端面を突き上げポット(突き上げピン)の上端に確実に当接させることができ、突き上げポット(突き上げピン)から計測治具が浮き上がった状態で突き上げ高さ位置を計測することを防止できる。
また、請求項5のように、高さ位置計測手段を移動させる手段として、部品実装機の吸着ノズルを移動させる移動機構を用いるようにすると良い。このようにすれば、部品実装機の吸着ノズルを移動させる移動機構を利用して高さ位置計測手段を計測治具の上方に移動させることができ、高さ位置計測手段専用の移動機構を設ける必要がない。
この場合、請求項6のように、高さ位置計測手段として、ダイを実装する回路基板の上面の高さ位置を計測するレーザセンサを用いるようにしても良い。このようにすれば、回路基板の上面の高さ位置を検出するレーザセンサを利用して突き上げ高さ位置を計測することができ、計測治具専用の高さ計測センサを設ける必要がない。
図1は本発明の一実施例におけるダイ供給装置を部品実装機にセットした状態を示す外観斜視図である。 図2は突き上げ高さ計測システムの構成を示す側面図である。 図3はウエハパレットの外観斜視図である。 図4は突き上げ動作時に突き上げポットをシート吸着位置まで上昇させた状態を示す一部破断拡大図である。 図4は突き上げ動作時に突き上げポットから突き上げピンを突出させた状態を示す一部破断拡大図である。
以下、本発明を実施するための形態を具体化した一実施例を説明する。
まず、図1及び図2に基づいて全体の構成を説明する。
部品実装機11にダイ供給装置12が着脱可能にセットされている。
部品実装機11には、装着ヘッド13をXY方向(左右前後方向)に移動させるXY移動機構14(XYロボット)が設けられている。このXY移動機構14は、Y方向(回路基板の搬送方向と直角な方向)にスライド移動するYスライド16と、該Yスライド16にX方向(回路基板の搬送方向)にスライド可能に支持されたXスライド17とを備え、該Xスライド17にZ移動機構18を介して装着ヘッド13が支持され、該Z移動機構18によって該装着ヘッド13がZ方向(上下方向)に移動するように構成されている。
部品実装機11の装着ヘッド13には、回路基板に実装するダイ等の電子部品を吸着する吸着ノズル(図示せず)と、回路基板の基準マークや実装部品等の撮像対象物を上方から撮像する撮像装置(図示せず)と、回路基板の上面の高さ位置を計測するレーザセンサ等の非接触式の高さ計測センサ21(高さ位置計測手段)等が設けられている。
一方、ダイ供給装置12には、吸着ヘッド23をXY方向(左右前後方向)に移動させるXY移動機構24(XYロボット)が設けられている。このXY移動機構24は、Y方向にスライド移動するYスライド26と、該Yスライド26にX方向にスライド可能に支持されたXスライド27とを備え、該Xスライド27に吸着ヘッド23が上下反転可能に支持され、該吸着ヘッド23に1本又は複数本の吸着ノズル28が昇降可能に支持されている。このダイ供給装置12の吸着ヘッド23は、吸着ノズル28にダイ34(図4及び図5参照)を吸着した後、上下反転機構29により上下反転してダイ34を上向きにして、部品実装機11の吸着ノズルに受け渡すように構成されている。
ダイ供給装置12には、突き上げポット31を上下動させる突き上げユニット32が設けられている。この突き上げユニット32は、ダイ供給装置12にセットしたウエハパレット33(図3参照)の下方の空間領域をXY方向に移動可能に構成されている。ウエハパレット33は、多数のダイ34に分割するようにダイシングされたウエハを貼着した伸縮可能なダイシングシート35を、円形の開口部を有するダイシングフレーム36にエキスパンドした状態で装着し、該ダイシングフレーム36をパレット本体37にねじ止め等により取り付けた構成となっている。
図4及び図5に示すように、突き上げポット31の上面部には、ダイシングシート35を吸着するための多数の吸引孔38が形成され、該突き上げポット31の内部に突き上げピン39が上方に突出可能に設けられている。突き上げピン39は、上端部がテーパ状に形成されて非常に細く、丸くなっている。突き上げ動作時には、突き上げポット31の上面にダイシングシート35を吸着した状態で、該突き上げポット31内の突き上げピン39を該突き上げポット31の上面から上方に突出させる突き上げ動作を行うことで、該ダイシングシート35のうちの吸着しようとするダイ34の貼着部分を該突き上げピン39で突き上げて該ダイ34の貼着部分を該ダイシングシート35から部分的に剥離させながら、ダイ供給装置12の吸着ノズル28で該ダイ34を吸着して該ダイシングシート35からピックアップするようにしている。
突き上げユニット32は、サーボモータ(図示せず)を駆動源として突き上げユニット32全体が上下動するように構成されている。ダイピックアップ動作時には、突き上げユニット32が上昇して突き上げポット31の上面がウエハパレット33のダイシングシート35に接触又は近接する所定のシート吸着位置まで上昇すると、ストッパ機構(図示せず)によって突き上げユニット32の上昇が止まり、更に上昇動作を続けると、突き上げポット31の上面から突き上げピン39が上方に突出して、ダイシングシート35のうちのピックアップしようとするダイ34の貼着部分を突き上げるように構成されている。この場合、駆動源となるサーボモータの回転量を調整することで、突き上げピン39の突き上げ高さ位置(突き上げ量)を調整できるようになっている。
図2に示すように、ダイ供給装置12の吸着ヘッド23には、上下方向に延びる軸状の計測治具41が支持部材42,43を介して上下方向に摺動自在に組み付けられ、該計測治具41がスプリング等の付勢手段(図示せず)により軽い力で下方に付勢されている。計測治具41は、その上下両端面が水平な平坦面に形成されていると共に、下端面のサイズが突き上げポット31の上面の吸引孔38のサイズより大きく形成され、該計測治具41の上部側と下部側に、該計測治具41の上下ストロークの限界位置を決めるストッパ44,45が設けられている。
次に、突き上げ動作時の突き上げピン39の上端の高さ位置(突き上げ高さ位置)を自動計測する動作を説明する。
ダイ供給装置12にウエハパレット33がセットされていない状態で、ダイ供給装置12の吸着ヘッド23及び/又は突き上げユニット32を適宜移動させて、突き上げピン39の上方に計測治具41を位置させると共に、部品実装機11の装着ヘッド13を移動させて、計測治具41の上方に高さ計測センサ21を位置させた状態とする。
この状態で、突き上げポット31をシート吸着位置まで上昇させて、該突き上げポット31内の突き上げピン39を該突き上げポット31の上面から上方に突出させる突き上げ動作を行う。この突き上げ動作の途中で、突き上げピン39の上端が計測治具41の下端面に当接して、該突き上げピン39の上端で該計測治具41が押し上げられる。この突き上げ動作の終了後に、高さ計測センサ21により計測治具41の上端面の高さ位置を計測し、該計測治具41の上端面の高さ位置の計測値Z1 から該計測治具41の高さ寸法Z2 を差し引いて、該突き上げピン39の上端の高さ位置の計測値Z3 を求める。
Z3 =Z1 −Z2
以上のようにして計測した突き上げ動作時の突き上げピン39の上端の高さ位置の計測値Z3 を用いて、突き上げピン39の突き上げ量を調整したり、ダイ吸着動作時の吸着ノズル28の下降量を調整する。これにより、吸着ノズル28でダイシングシート35上のダイ34を安定して吸着できるようになる。
また、突き上げ動作時の突き上げピン39の上端の高さ位置を定期的に計測して、その計測値の履歴から突き上げピン39の上端の状態(摩耗、曲り、折れ等)を検査するようにしても良い。これにより、突き上げピン39の破損や経年変化を検知することが可能となり、作業効率を向上できると共に、不良品の生産を最小限にとどめる等の効果も期待できる。
尚、突き上げポット31内に複数本の突き上げピン39が設けられている場合は、各突き上げピン39毎に上述した高さ計測動作を行えば良い。各突き上げピン39の上端の高さ位置の計測値から、各突き上げピン39の上端の高さ位置のばらつきを検査したり、各突き上げピン39の有無を検査するようにしても良い。
一方、突き上げ動作時の突き上げポット31の上面の高さ位置を自動計測する場合は、予め、計測治具41の下端の下降限界位置が突き上げ動作時の突き上げポット31の上面の高さ位置よりも低くなるように設定しておく。そして、ダイ供給装置12にウエハパレット33がセットされていない状態で、突き上げポット31の上面のうちの突き上げピン39から外れた位置の上方に計測治具41を位置させると共に、計測治具41の上方に高さ計測センサ21を位置させた状態とする。
この状態で、突き上げポット31を突き上げ動作させる。この突き上げ動作の途中で、突き上げポット31の上面が計測治具41の下端面に当接して、該突き上げポット31の上面で該計測治具41が押し上げられる。この突き上げ動作の終了後に、高さ計測センサ21により計測治具41の上端面の高さ位置を計測し、該計測治具41の上端面の高さ位置の計測値Z4 から該計測治具41の高さ寸法Z5 を差し引いて、該突き上げポット31の上面の高さ位置の計測値Z6 を求める。
Z4 =Z5 −Z6
以上説明した本実施例によれば、突き上げピン39を突き上げ動作させて該突き上げピン39の上端で計測治具41を押し上げた状態で、高さ計測センサ21により該計測治具41の上端面の高さ位置を計測し、該計測治具41の上端面の高さ位置の計測値から該計測治具41の高さ寸法分を差し引いて該突き上げピン39の上端の高さ位置の計測値を求めるようにしたので、突き上げピン39の上端が非常に細く、丸くなっていても、計測治具41の上端面の高さ位置の計測値から、突き上げピン39の上端の高さ位置(突き上げ高さ位置)を安定して精度良く自動計測することができる。
また、突き上げポット31を突き上げ動作させて該突き上げポット31の上面で計測治具41を押し上げた状態で、高さ計測センサ21により該計測治具41の上端面の高さ位置を計測するようにすれば、突き上げポット31の上面の全域にダイシングシート35を吸着するための多数の吸引孔38が形成されていても、計測治具41の上端面の高さ位置の計測値から、突き上げポット31の上面の高さ位置を安定して精度良く自動計測することができる。
また、本実施例では、計測治具41を移動させる手段として、ダイ供給装置12の吸着ヘッド23を移動させるXY移動機構24を用いるようにしたので、ダイ供給装置12のXY移動機構24を利用して計測治具41を突き上げポット31(突き上げピン39)の上方に移動させることができ、計測治具41専用の移動機構を設ける必要がない。但し、本発明は、計測治具41専用の移動機構を設けるようにしても良い。また、計測治具41を部品実装機11側に設けるようにしても良い。
また、本実施例では、計測治具41を下方に付勢する付勢手段を設けるようにしたので、突き上げ高さ位置の計測時に計測治具41の下端面を突き上げポット31(突き上げピン39)の上端に確実に当接させることができ、突き上げポット31(突き上げピン39)から計測治具41が浮き上がった状態で計測することを防止できる。
また、本実施例では、回路基板の上面の高さ位置を計測するために部品実装機11に設けられた高さ計測センサ21を、計測治具41の上端面の高さ位置を計測する高さ位置計測手段として用いるようにしたので、部品実装機11の回路基板高さ計測用の高さ計測センサ21を利用して突き上げ高さ位置を計測することができ、計測治具41専用の高さ計測センサを設ける必要がない。但し、本発明は、計測治具41専用の高さ計測センサを設けるようにしても良い。
尚、計測治具41の上端面の高さ位置を計測する高さ計測センサ21(高さ位置計測手段)は、レーザセンサに限定されず、超音波式高さ計測センサ、LED式高さ計測センサ等の非接触式の高さ計測センサを用いても良い。或は、タッチセンサ等の接触式の高さ計測センサを部品実装機11の装着ヘッド13に取り付けて、計測治具41の上端面に接触式の高さ計測センサが接触するまで装着ヘッド13を下降させて、その下降量をZ移動機構18の駆動モータのエンコーダのカウント値によって計測するようにしても良い。
また、本実施例では、ダイピックアップ動作時にダイ供給装置12の吸着ヘッド23が上下反転してダイ34を上向きにして、部品実装機11の吸着ノズルに受け渡すように構成したが、この構成に限定されず、例えば、ダイシングシート35上のダイ34を部品実装機11の吸着ノズルで直接吸着するようにしたり、或は、ダイ供給装置12の吸着ノズル28で吸着したダイ34をシャトル機構で受け取って所定のダイ吸着位置まで移送し、このダイ吸着位置で、部品実装機11の吸着ノズルに受け渡すようにしても良い。
また、本実施例では、計測治具41の上端面の高さ位置の計測値から該計測治具41の高さ寸法を差し引いて、突き上げピン39の上端の高さ位置又は突き上げポット31の上面の高さ位置を求めるようにしたが、高さ計測センサ21から出力する計測値の信号を計測治具41の高さ寸法相当分だけオフセット(引き算)した信号を出力して、高さ計測センサ21の出力信号から突き上げピン39の上端の高さ位置又は突き上げポット31の上面の高さ位置を直接検出するようにしても良い。或は、予め、高さ計測センサ21の計測値(測治具41の上端面の高さ位置)と突き上げピン39の上端の高さ位置又は突き上げポット31の上面の高さ位置との関係を規定したテーブルを作成しておき、このテーブルを参照して高さ計測センサ21の計測値に対応する突き上げピン39の上端の高さ位置又は突き上げポット31の上面の高さ位置を求めるようにしても良い。
その他、本発明は、計測治具41の形状や支持構造を変更したり、部品実装機11の構成を変更しても良い等、要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施できることは言うまでもない。
11…部品実装機、12…ダイ供給装置、13…装着ヘッド、14…XY移動機構、18…Z移動機構、21…高さ計測センサ(高さ位置計測手段)、23…吸着ヘッド、24…XY移動機構、28…吸着ノズル、31…突き上げポット、32…突き上げユニット、33…ウエハパレット、34…ダイ、35…ダイシングシート、36…ダイシングフレーム、39…突き上げピン、41…計測治具

Claims (6)

  1. 複数のダイに分割するようにダイシングされたウエハが貼着された伸縮可能なダイシングシートを装着したウエハパレットと、前記ウエハパレットの下方に配置された突き上げポットとを備えたダイ供給装置を部品実装機にセットし、前記ダイ供給装置の吸着ノズル又は前記部品実装機の吸着ノズルを下降させて前記ダイシングシート上のダイを吸着する際に、前記ダイ供給装置の前記突き上げポットを前記ダイシングシートの下面に接触又は近接する所定のシート吸着位置まで上昇させて該ダイシングシートを該突き上げポットの上面に吸着した状態で、該突き上げポット内の突き上げピンを該突き上げポットの上面から上方に突出させる突き上げ動作を行うことで、該ダイシングシートのうちの吸着しようとするダイの貼着部分を該突き上げピンで突き上げて該ダイの貼着部分を該ダイシングシートから剥離させ、該吸着ノズルで該ダイを吸着して該ダイシングシートからピックアップするものにおいて、
    計測対象物の上端面の高さ位置を計測する高さ位置計測手段と、
    上下両端面が水平な平坦面に形成された上下動可能な計測治具とを備え、
    前記突き上げポットの上方に前記ウエハパレットがセットされていない状態で前記突き上げピンの上方に前記計測治具を位置させて、該突き上げピンを突き上げ動作させて該突き上げピンの上端で前記計測治具を押し上げた状態で、前記高さ位置計測手段により該計測治具の上端面の高さ位置を計測し、該計測治具の上端面の高さ位置の計測値に基づいて該突き上げピンの上端の高さ位置を求めることを特徴とする突き上げ高さ計測システム。
  2. 複数のダイに分割するようにダイシングされたウエハが貼着された伸縮可能なダイシングシートを装着したウエハパレットと、前記ウエハパレットの下方に配置された突き上げポットとを備えたダイ供給装置を部品実装機にセットし、前記ダイ供給装置の吸着ノズル又は前記部品実装機の吸着ノズルを下降させて前記ダイシングシート上のダイを吸着する際に、前記ダイ供給装置の前記突き上げポットを前記ダイシングシートの下面に接触又は近接する所定のシート吸着位置まで上昇させて該ダイシングシートを該突き上げポットの上面に吸着した状態で、該突き上げポット内の突き上げピンを該突き上げポットの上面から上方に突出させる突き上げ動作を行うことで、該ダイシングシートのうちの吸着しようとするダイの貼着部分を該突き上げピンで突き上げて該ダイの貼着部分を該ダイシングシートから剥離させ、該吸着ノズルで該ダイを吸着して該ダイシングシートからピックアップするものにおいて、
    計測対象物の上端面の高さ位置を計測する高さ位置計測手段と、
    上下両端面が水平な平坦面に形成された上下動可能な計測治具とを備え、
    前記突き上げポットの上方に前記ウエハパレットがセットされていない状態で前記突き上げポットの上方に前記計測治具を位置させて、該突き上げポットを突き上げ動作させて該突き上げポットの上面で前記計測治具を押し上げた状態で、前記高さ位置計測手段により該計測治具の上端面の高さ位置を計測し、該計測治具の上端面の高さ位置の計測値に基づいて該突き上げポットの上端の高さ位置を求めることを特徴とする突き上げ高さ計測システム。
  3. 前記計測治具を移動させる手段は、前記ダイ供給装置の吸着ノズルを移動させる移動機構であることを特徴とする請求項1又は2に記載の突き上げ高さ計測システム。
  4. 前記計測治具を下方に付勢する付勢手段が設けられていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の突き上げ高さ計測システム。
  5. 前記高さ位置計測手段を移動させる手段は、前記部品実装機の吸着ノズルを移動させる移動機構であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の突き上げ高さ計測システム。
  6. 前記高さ位置計測手段は、ダイを実装する回路基板の上面の高さ位置を検出するレーザセンサが用いられることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の突き上げ高さ計測システム。
JP2012121554A 2012-05-29 2012-05-29 突き上げ高さ計測システム Active JP6103745B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012121554A JP6103745B2 (ja) 2012-05-29 2012-05-29 突き上げ高さ計測システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012121554A JP6103745B2 (ja) 2012-05-29 2012-05-29 突き上げ高さ計測システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013247314A true JP2013247314A (ja) 2013-12-09
JP6103745B2 JP6103745B2 (ja) 2017-03-29

Family

ID=49846843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012121554A Active JP6103745B2 (ja) 2012-05-29 2012-05-29 突き上げ高さ計測システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6103745B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017098287A (ja) * 2015-11-18 2017-06-01 富士機械製造株式会社 部品実装機、および部品実装機のウエハ部品吸着高さ調整方法
CN108419429A (zh) * 2017-07-26 2018-08-17 珠海智新自动化科技有限公司 一种自动分布pcb顶针异型插件机
EP3416185A4 (en) * 2016-02-10 2019-02-20 Fuji Corporation HOLDING PLATE, DETECTION METHOD AND CHIP FEEDING DEVICE
EP3522207A4 (en) * 2016-09-28 2019-10-02 Fuji Corporation WAFER SUPPLY APPARATUS AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS
WO2023209950A1 (ja) * 2022-04-28 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 部品突上げ装置及び部品実装装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0493144U (ja) * 1990-12-25 1992-08-13
JPH065690A (ja) * 1992-06-22 1994-01-14 Toshiba Seiki Kk ペレット突き上げ針設定方法
JPH10335270A (ja) * 1997-06-02 1998-12-18 Nec Corp ペレットのピックアップ装置
JP2007201011A (ja) * 2006-01-24 2007-08-09 Juki Corp ウェハ供給装置の突上げピン速度計測装置及び表面実装装置
JP2009044044A (ja) * 2007-08-10 2009-02-26 Juki Corp 電子部品実装方法及び装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0493144U (ja) * 1990-12-25 1992-08-13
JPH065690A (ja) * 1992-06-22 1994-01-14 Toshiba Seiki Kk ペレット突き上げ針設定方法
JPH10335270A (ja) * 1997-06-02 1998-12-18 Nec Corp ペレットのピックアップ装置
JP2007201011A (ja) * 2006-01-24 2007-08-09 Juki Corp ウェハ供給装置の突上げピン速度計測装置及び表面実装装置
JP2009044044A (ja) * 2007-08-10 2009-02-26 Juki Corp 電子部品実装方法及び装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017098287A (ja) * 2015-11-18 2017-06-01 富士機械製造株式会社 部品実装機、および部品実装機のウエハ部品吸着高さ調整方法
EP3416185A4 (en) * 2016-02-10 2019-02-20 Fuji Corporation HOLDING PLATE, DETECTION METHOD AND CHIP FEEDING DEVICE
EP3522207A4 (en) * 2016-09-28 2019-10-02 Fuji Corporation WAFER SUPPLY APPARATUS AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS
CN108419429A (zh) * 2017-07-26 2018-08-17 珠海智新自动化科技有限公司 一种自动分布pcb顶针异型插件机
WO2023209950A1 (ja) * 2022-04-28 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 部品突上げ装置及び部品実装装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP6103745B2 (ja) 2017-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5800383B2 (ja) 部品実装機
JP6744316B2 (ja) 部品実装装置
JP6103745B2 (ja) 突き上げ高さ計測システム
JP6280817B2 (ja) 部品装着装置
JP6293866B2 (ja) 実装ずれ修正装置および部品実装システム
JP2014123624A (ja) 電子部品実装装置
JPWO2017017718A1 (ja) 部品実装機および部品実装システム
JP6840158B2 (ja) ダイ実装装置
WO2013069507A1 (ja) ダイ突き上げ動作管理システム
JP2012138612A (ja) ハンドラのティーチング方法及びハンドラ
TWI423354B (zh) 導電球安裝裝置
JP4683129B2 (ja) ハンドラのティーチング方法及びハンドラ
JP5919493B2 (ja) パレット、トレイフィーダ及び部品実装装置
JP6684833B2 (ja) 保持プレート、検出方法、およびダイ供給装置
CN109691257B (zh) 元件安装机
JP6112688B2 (ja) ダイ供給装置調整システム及び調整用治具
JP5849187B2 (ja) 部品実装装置及び部品実装方法
JP6891281B2 (ja) 部品実装装置
JP7410826B2 (ja) ピンの位置ずれ測定装置およびダイ供給装置
WO2018061151A1 (ja) 部品実装装置
JP6378054B2 (ja) 部品実装機のツール保持装置および部品実装機のノズルツール
JP2018037464A (ja) 実装装置、キャリブレーション方法及びキャリブレーションプログラム
JP2007266514A (ja) 作業装置におけるワーク受け渡し装置
JP2014160181A (ja) 光学系組立装置
JP6546801B2 (ja) 部品厚み測定方法および部品実装装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150414

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160204

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160219

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160407

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160822

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160921

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170224

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170227

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6103745

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250