JP2013238601A - 温度測定装置、かかる温度測定装置を持つ電気器具、及び温度測定のための方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 フライなべのような電気器具のための温度測定装置を提供する。
【解決手段】 この温度測定装置は、電気抵抗器の形の少なくとも一つの温度センサを含み、測定電圧間の周期的切り替えにより温度センサに少なくとも二つの異なる測定電圧が付与されることができる。温度センサは制御器に連結され、制御器はマイクロコントローラーを含み、少なくとも二つの異なる測定電圧を温度センサに付与するために構成されている。
【選択図】図１

Description

本発明は、電気器具、例えばフライなべのような調理器具のための温度測定装置、並びに温度測定装置を持つかかる電気器具、及びかかる装置による温度測定のための方法に関する。

例えば前述の調理器具のような温度測定装置を持つ電気器具では、温度測定は、特に前述のフライなべの場合に、安全の点で非常に重要でありうる。温度センサは、事故の危険を与える過剰な温度を防ぐことを意図されている。その関係で、温度センサは、例えば測定抵抗器の製造誤差のため、経年または他のタイプの損傷のため、機能不全を持ちうる。

ＵＳ５７１３６６８において、温度センサが温度測定装置内で自己診断することが好ましいこと、そしてこの目的のために二つの熱電対及び一つの抵抗センサが設けられることが知られている。

さらなる温度測定装置は、ＤＥ１０２００４０３５０１４Ａ１及びＤＥ２０２００９００３８８９Ｕ１において知られている。

本発明の根底にある目的は、前述の温度測定装置、それを備えた電気器具、並びにかかる温度測定装置を使用する温度測定のための方法を提供することであり、それにより従来技術の問題を防止することができ、特に安全かつ正確な温度測定が簡単な構造並びに容易な評価によって可能である。

この目的は、請求項１の特徴を持つ温度測定装置により、請求項１２の特徴を持つ電気器具により、並びに請求項１３の特徴を持つ方法により達成される。本発明の利点並びに好適な実施態様は、さらなる請求項の主題であり、以下により詳細に説明されるであろう。ここで、以下に示された特徴の幾つかは、温度測定装置、電気器具または方法に関してもっぱら述べられる。しかし、それから独立して、それらは、温度測定装置、電気器具、並びに方法に適用可能であるべきである。請求項の用語は、明白な参照により説明の内容中に組み入れられる。

温度測定装置は電気抵抗体として少なくとも一つの温度センサを含むことが規定される。前記温度センサは、少なくとも二つの異なる測定電圧を印加され、そこではそれは測定電圧間で有利には周期的または定期的な切り換えにより切り換えられる。特に有利な構成では、測定は、同様の時間または同じ時間に対し各場合において両方の測定電圧で達成される。温度センサは、マイクロコントローラーを含みかつ少なくとも二つの異なる測定電圧を温度センサに印加するように構成された制御器に連結される。この場合、温度センサは、マイクロコントローラーの入力に直接連結されることができる。

ここで、マイクロコントローラーは、異なる測定電圧間の差を計算することができ、さらに前記マイクロコントローラーは内部メモリを含む。一方で、予想される望ましい特性差が前記メモリ内に記憶され、マイクロコントローラーが前記特性差を、測定された特性差と比較し、他方で、修正パラメーターが記憶され、それによりマイクロコントローラーが次いで測定電圧の差により実際の温度を計算する。

前記二つの異なる測定電圧の印加により、いわゆる自己加熱の決定がある程度改善されることが達成される。すなわち、温度センサは、印加された測定電圧の結果として自己加熱を受け、この加熱は実際の周囲温度を高める。正確な温度測定のために、前記自己加熱は控除されるべきであり、それはマイクロコントローラー内で有利に実行される。抵抗センサのための二つの異なる測定電圧による操作時に、測定される実際の温度は、印加された測定電圧により変化する自己加熱特性に重ね合わされる。自己加熱の大きさは、測定電流のほかに測定される温度または温度センサの環境に依存する。測定される温度が低いと自己加熱特性の大きさまたは偏向は大きくなり、高温では対応して小さくなる。実際の温度特性Ｔまたは測定される温度と、測定された温度特性Ｔ１及びＴ２の間に、Ｔ＝ｆ（Ｔ１，Ｔ２）またはΔＴ２＝ｆ（ΔＴ１）の関数関係があり、それらのパラメーターはマイクロコントローラーのメモリ内に記憶され、従ってＴは正確に計算されることができる。さらに、温度差ΔＴ１の予想値は測定電圧Ｕ_ｒｅｆ１とＵ_ｒｅｆ２の差から推定されることができ、それは以下に説明されるであろう。温度差特性の予想値はマイクロコントローラー内に記録される。もし測定された温度特性（すなわち自己加熱を含む）が対応して再測定されるなら、一方では与えられた環境内の温度センサが、他方では関連する評価または回路が、それぞれ、正確に実行する推定がなされることができる。

温度センサの各場合に特有の組み立て及び操作状態での加熱特性は、例えば室温の主状態でかついわゆるマスター装置での操作のための最大温度で、すなわち言わば参照として、検出されることができる。前記加熱特性は次いで希望の温度特性としてマイクロコントローラーのメモリに保存され、それは、予想値に対応し、使用時に実際に測定された温度特性を伴う続く妥当性試験のための参照値として役立つ。もし前記予想値または希望の温度間の比較が受け入れ難いなら、またはもし大き過ぎる過剰な偏差があるなら、マイクロコントローラーは安全機能を実行し、加熱装置等はスイッチを切られ、必要ならたぶん電気器具全体さえもスイッチを切られるかもしれない。かかる妥当性試験は、特に小さな温度移動のみが検出されたときに、すなわち温度センサで測定される温度がほぼ落ち着いているときに、実行される。

本発明の有利な実施態様では、余分の設計が設けられることができる。すなわち少なくとも二つの温度センサが各場合において別個の電気抵抗体を与えられる。一方では、これは信頼性を高め、他方では以下に説明されるように高い安全性のために参照測定が実行されることができる。有利な構成では、温度センサは異なるかまたは同一ではない。そのための第一選択肢は、前記センサが同様であるかまたは同じ原理により作動するとしても、異なる製造業者の温度センサを使用することである。第二選択肢は、温度センサまたはそれらの電気抵抗が各場合に異なる抵抗値を持つことである。従って、必須の条件は各センサが異なる特性であるか、または電圧特性のみがそれぞれ異なることである。従って、もし両方が正確に作動されると思われるなら、系統的エラーは防止されることができる。等しい値、同じ製造技術及び同じ製造バッチを持つ二つの同一抵抗センサを使用するとき、劣化及び／またはドリフトのために温度ひずみが検出されないことは不利である。なぜなら両センサは、いわば、同じように「劣化」するからである。かかる問題を防ぐために、もし同じ製造業者から購入したなら、抵抗センサは異なるバッチから選ばれることができる。

さらに別の選択肢によれば、温度センサは、特に抵抗値の温度依存性に関して、異なる特性を持つことができる。それらは温度感度に関して有意に異なることができ、例えば少なくとも２．５倍または１０倍異なることさえありうる。代替例として、二つの温度センサの電気抵抗器の少なくとも一つが非線形抵抗器であり、他の一つが線形抵抗器であり、例えばそれらの一つが負温度係数（ＮＴＣ）抵抗器または正温度係数（ＰＴＣ）抵抗器であり、他の一つが白金薄膜（ＰＴ）抵抗器である。前記の有意に異なる構成により、エラーも防止されることができ、評価精度及び信頼性を高めることができる。好ましくはＮＴＣセンサ及びＰＴセンサ、例えばＰＴ１０００センサが使用される。

二つの温度センサを含む方法では、ある程度正確な温度検出のために、一つの選択肢は、前記センサの一つに前述の交互測定電圧を付与し、他のセンサに単一の一定の測定電圧のみを付与することである。妥当性試験は、両温度特性が比較されかつその差が交互加熱特性であるという条件でマイクロコントローラー内で達成されることができる。

本発明のさらに別の実施態様では、操作上の安全性を高めるために、異なる直列抵抗器が温度センサまたはその抵抗器の上流に設けられることができる。

本発明のさらに別の実施態様では、温度センサのための参照抵抗器が設けられることができ、それはまた有利には電気抵抗器である。例えば、前記抵抗器は、交互測定電圧で操作されない前述の他の温度センサに相当することができる。代替例として、かかる参照抵抗器は温度センサのための参照値として役立つことができる。ここでは、多数の異なる参照抵抗器が設けられること、及び対応する切り替え装置が異なる参照抵抗器間で切り替えるために与えられることがさらに可能である。そのとき、温度が多数の抵抗器で測定されることができるか、または温度センサで測定された温度に対する妥当性が得られることができる。

本発明のさらなる実施態様では、装置の回路は、積分コンデンサー、前述の温度センサとしての電気抵抗器、参照抵抗器または前述の直列抵抗器、及び温度測定回路のための計算回路を含むことができる。これは、以下により詳細に説明されるであろう。

本発明のさらに別の実施態様では、マルチプレクサが温度センサのための制御器内にまたはマイクロコントローラー内にそれぞれ与えられるかまたは一体化される。結果として、多数の温度センサまたは測定抵抗器が評価されることができる。結果として、例えば測定範囲の切り替えも可能である。

従って、測定装置は自立態様で作動することができる。すなわち、それは一体化された温度制御器なしに操作されることができる。そのとき、器具の予め規定された加熱能力についての情報または予想値がそれぞれ失われる。

産業用キッチン及びレストランのための装置の場合では、ＤＣ（診断適用範囲）としての自己診断が安全電子工学のために要求される。安全電気システム及び温度制御器を含む、すなわち二つのチャンネルを含む温度測定装置の電子工学システムの場合では、温度制御器を通して供給された加熱電力により測定された温度値の妥当性に関して結論がなされることができる。もし安全電子工学が自立態様で、すなわち温度制御器からの情報なしにまたはすなわち唯一のチャンネルにより、それぞれ操作されるなら、前記推定は可能でない。従って、本ケースの場合には、温度センサの診断は二つの測定電圧により実行されるべきである。従って、主な焦点は、より簡単な測定回路が構成されることができるという利点にはあまりなくて、むしろ自立態様で、すなわち温度制御器からの情報なしに、操作される安全電子工学の場合の自己診断の実現にある。

有利には、メモリが、例えば制御器内にまたは有利にはマイクロコントローラー内に設けられ、そこではメモリには温度センサのために予想される希望の温度特性が少なくとも記憶され、この特性は電気器具の操作時に適用するであろう。この場合には、温度測定装置またはマイクロコントローラーは、温度センサを用いて測定された実際の温度特性を、記憶された希望の温度特性と比べるように構成される。結果として、現在の温度が決定されることができ、特に過剰な温度が検出されることができ、その場合、器具はスイッチを切られるべきである。

有利には、かかる器具は、上述のように加熱される空間内で有効であることができる電気加熱装置を与えられることができる。この空間は、例えばベーキングオーブンのオーブンマッフルまたは前述のフライなべの油だめであることができる。加熱される空間には、フライなべの場合のフライなべ油のような、加熱される媒体が存在することができる。

本発明のさらに別の実施態様では、自己加熱の大きさが測定される温度に依存して大きいかまたは小さいという前述の状況に基づいて絶対温度に対して推定がなされることができる。この目的のために、前記大きさは計算され、絶対温度は、マイクロコントローラーまたは制御器内に記憶されていることが有利である参照値により決定される。測定された温度値の確認もまた、それに基づくことができる。

これらの特徴及びさらなる特徴は、特許請求項からのみならず明細書及び図面からも発生し、さらに個々の特徴は、各場合において本発明の実施態様でそれら自身でまたはそれらの副組み合わせで及び他の分野で実現されることができ、それ自体で保護可能な有利な実施態様を表わすことができ、ここではその保護に対し請求される。出願の個々の部分への分割並びに中見出しは、ここでなされた文章の一般的有効性を制限しない。

本発明の例示的実施態様は、図面に概略的に示され、かつ以下により詳細に説明されるであろう。

図１は、本発明の第一実施態様による温度測定装置のための回路概念を示す。

図２ａは、ある例での加熱工程時の時間に対してプロットされた温度の特性を示す。 図２ｂは、ある例での加熱工程時の時間に対してプロットされた温度の特性を示す。 図２ｃは、ある例での加熱工程時の時間に対してプロットされた温度の特性を示す。

図３は、図１の回路概念の一実施態様を示す。

図４は、二つの測定電圧の場合の温度センサの時間に対してプロットされた電圧の特性を示す。

図５は、図１と同様の装置内に二つの温度センサとマイクロコントローラーに向けてのマルチプレクサを持つ回路概念の代替実施態様を示す。

図６は、図５の回路概念の一実施態様を示す。

図７は、時間の関数としてプロットされた温度センサの電圧の一例を示す。

図８は、マイクロコントローラー内に一体化されたマルチプレクサを持つ回路概念のさらに別の代替実施態様を示す。

図９は、図８に記載の回路概念での温度に対してプロットされたマイクロコントローラーの入力電圧の特性を示す。

図１０は、図１に記載の温度測定装置を含む加熱装置と加熱装置の監視のための温度センサを持つ本発明による電気器具としてのフライなべを示す。

図１には、本発明の第一の一般的な実施態様における温度測定装置１１のための本発明による一般的な回路概念が示されている。温度測定装置１１は、温度センサ１３（本ケースの場合、温度依存性抵抗器）を含み、それは破線で示された温度検出器を形成することができる。直列抵抗器１５が温度センサ１３の上流に連結され、前記抵抗器の上流にはスイッチ１７が連結されており、スイッチ１７はマイクロコントローラー１９のセレクト出力端子を介して制御される。スイッチ１７は二つの測定電圧Ｕ_ｒｅｆ１とＵ_ｒｅｆ２の間で切り替える。それぞれの測定電圧は直列抵抗器１５の前のマイクロコントローラー１９の入力端子の一つに供給され、かつまた温度センサ１３を介して電圧が供給される。Ｕ_ＲＴは温度依存電圧であり、それは直列抵抗器１５の倍率及び温度センサ１３の抵抗値からもたらされる。同時に、電圧Ｕ_ｒｅfは電圧分割器１５及び１３の操作電圧または供給電圧であり、それにより電流Ｉ_１とＩ_２が予め決められる。温度センサ１３の自己加熱は電流Ｉ_１またはＩ_２の大きさに依存し、それは出力セレクト及びスイッチ１７を介してＵ_ｒｅｆ１とＵ_ｒｅｆ２の切り替えによって予め決められる。スイッチ１７を切り替えるとき、Ｕ_ｒｅｆとＵ_ＲＴの間の電圧比は同じままであり、従ってマイクロコントローラー１９内のアナログからデジタルへの（ＡＤ）変換器のＵ_ＲＴ１の測定結果も同じままである。

マイクロコントローラー１９には、特にメモリ２１が設けられ、そこには予想されるある温度特性または希望の温度特性が温度センサ１３または温度測定装置１１のために記憶される。マイクロコントローラー１９の一つの出力安全温度制限器（ＳＴＢ）がスイッチとしてのトランジスター２４に通じており、それは負荷の切り替えのためのリレー２５を制御する。それにより加熱装置２７が制御されるかまたはスイッチを切り替えられ、それは、この場合、加熱抵抗器として示され、それについて図１０に対してより詳細に与えられるであろう。

図１０には、フライなべ３０が例示的な電気器具として示され、それは温度測定装置１１を含む。加熱装置２７はフライなべ３０の内部に位置しており、この場合、通常の管状加熱素子として例示的に示されている。前記素子は、図１に対応して、リレー２５により制御可能であり、リレー２５は、マイクロコントローラー１９により制御される。

さらに、温度測定装置１１の温度検知器または温度センサ１３はフライなべ３０に配置されている。前記温度センサ１３は、加熱装置２７による過熱を防ぐためにフライなべ３０内の温度またはその中のフライなべ油を検出する。

図２ａには、温度Ｔの特性が時間ｔに対してプロットされている。実線は、温度センサ１３が作動していない場合の温度センサ１３の場所での実際の温度特性を示す。点線は温度センサ１３内の温度を示し、それは異なる測定電圧のために異なる振幅を持つ前述の波状特性を持つ。前記波状曲線は図２ｂに実線として単独で示されている。測定時間１では、温度センサ１３での温度測定は、第一測定電圧Ｕ_ｒｅｆ１により、マイクロコントローラー１９により制御されたスイッチ１７が直列の抵抗器１５を介して前記測定電圧Ｕ_ｒｅｆ１を温度センサ１３に付与することで実行される。次いで、測定時間２では、スイッチ１７が切り替えられ、測定電圧Ｕ_ｒｅｆ２が温度センサ１３に付与される。測定電圧Ｕ_ｒｅｆ１は測定電圧Ｕ_ｒｅｆ２より大きいので、測定時間１と測定時間２の間の温度センサ１３の温度の増加はわずかに目立つ。

次いで、測定時間２より、温度の特性は新しい測定時間１まで測定電圧Ｕ_ｒｅｆ２により検出される。第二測定電圧Ｕ_ｒｅｆ２は今や小さいので、温度は測定時間２から測定時間１まで再びわずかに低下する。従って、各場合の測定時間１では、場合によって前述の正しい値で実際の温度が測定されることができる。測定時間２では、検査測定がなされる。ここでは、温度はその前後の測定時間１より高くなければならず、すなわち、測定がわずかに低い測定電圧Ｕ_ｒｅｆ２で実行されるときにそうでなければならない。これは温度測定装置１１での前述の妥当性試験である。

図２ｃは温度特性を示し、そこでは最下方特性は図２ａの温度特性である。中間の温度特性はＵ_ｒｅｆ２での温度特性であり、最上方の特性はＵ_ｒｅｆ１での温度特性である。二つの上方の曲線間の温度差はΔＴ１であり、二つの下方の曲線間の温度差はΔＴ２である。上述のコメントもまた参照されたい。

図３は実際の図１の回路概念の実施を示す。スイッチ１７はトランジスターＴ_ｕ１とＴ_ｕ２並びにＴ_ｒ１とＴ_ｒ２により置き換えられている。前記四つのトランジスターは各場合にマイクロコントローラー１９の対応する出力端子により切り替えられる。トランジスターＴ_ｒ１とＴ_ｒ２は、抵抗器Ｒ_ｒｅｆ１とＲ_ｒｅｆ２を介してマイクロコントローラー１９の入力端子でのそれぞれの測定電圧を制御する。さらに、コンデンサーＣ_ｉｎｔは変換時間並びにトランジスターＴ_ｃのために設けられる。放電スイッチＴ_ｃを介して、積分コンデンサーＣ_ｉｎｔが時間間隔ｔ_{ｃｌｅａｒ}の間、放電される。次いで、Ｕ_ｒｅｆ１はＴ_ｒ１を介してスイッチを入れられ、Ｃ_ｉｎｔは参照抵抗器Ｒ_ｒｅｆ１を介して予め決められた電圧閾値Ｕ_ｃ（Ｒ_ｅｒｆ１）＝Ｕ_１まで充電される。充電時間ｔ１はマイクロコントローラー１９に記憶される。

放電後、Ｕ_ｒｅｆ１はＴ_ｕ１を介してスイッチを入れられ、Ｃ_ｉｎｔは温度センサ１３を介して電圧閾値Ｕ_ｃ（Ｒ_ＲＴ）＝Ｕ_１に達するまで充電される。充電時間ｔ２もまたマイクロコントローラー１９に記憶される。温度センサ１３の温度依存抵抗は、今やマイクロコントローラー１９内で比Ｒ_ｒｅｆ１ ^＊ｔ２／ｔ１により計算されることができる。同じ手順がブランチＵ_ｒｅｆ２とＲ_ｒｅｆ２に適用される。すなわち第二測定電圧に適用される。

図４には、マイクロコントローラー１９の入力端子での電圧の特性、すなわち二つの電圧Ｕ_１とＵ_２の両方に対しかつそれぞれの測定時間ｔ１とｔ２時の電圧の特性が示されている。

実際、マイクロコントローラー１９の入力端子での一定電圧に対して、温度センサ１３の抵抗値は、測定時間１に対する測定時間２の比を参照抵抗器Ｒ_ｒｅｆ１またはＲ_ｒｅｆ２のそれぞれの抵抗値に掛けた値として挙動する。もしコンデンサーＣ_ｉｎｔが２２μＦで選ばれるなら、そしてもしＲＴ１０００が温度センサ１３として使用されるなら、４００℃で５４ｍｓの切替閾値をもたらす。

図５に示された温度測定装置１１１のための図５の代替的な一般的な回路概念は、第一温度センサ１１３と第二温度センサ１１３′を含む。前記二つの温度センサは、点線で示された単一の温度検知器により合算されることができ、図１０によれば、同じ温度を測定するために、フライなべ内に、有利には互いに空間的に接近して配置されることができる。

図５によれば、一連の抵抗器１１５及びスイッチ１１７は二つの測定電圧Ｕ_ｒｅｆ１とＵ_ｒｅｆ２のために設けられている。再度、スイッチ１１７は、メモリ１２１も含むマイクロコントローラー１１９により切り替えられる。図５によれば、切り替え可能な加熱装置はマイクロコントローラー１１９のＳＴＢ出力の右側に隣接して延びる。但し、この加熱装置は明確化の理由のためここには示されていない。

温度測定装置１１１はさらに別の室温センサ１１４を含み、この室温センサもまた温度依存抵抗値を含む。それは室温の測定による温度センサ１１３の値の再確認のために役立つ。温度センサ１１３及び１１４での電圧はマルチプレクサ１２２を介してマイクロコントローラー１１９のそれぞれの入力端子に供給される。

二つの温度センサ１１３及び１１３′はセンサ対を形成し、それは最初は電気的に非連結態様で温度検知器に一緒に配置される。各温度測定は別個に検知されなければならない。室温センサ１１４は参照抵抗センサとして役立ち、それにより温度センサ１１３及び１１３′の較正及び性能チェックが実行されることができる。その目的のために、前記センサは他の回路要素（例えばマイクロコントローラー１１９）と同じ要素キャリヤーに割り当てられることができる。マルチプレクサ１２２は個々のセンサ１１３，１１３′及び１１４を切り替えるために役立ち、マイクロコントローラー１１９の一部であることもできる。

図３に対応して、図６は実際の温度測定装置１１１の回路概念の実施を示す。この場合、図３に対応して、さらに二つのさらなるトランジスターＴ_ｕ３及びＴ_ｕ４が第二温度センサ１１３′のために設けられる。温度センサ１１３′に対して、各場合にトランジスターＴ_ｕ３及びＴ_ｕ４を持つ一つの追加のトランジスタブランチが必要であるにすぎない。

図７には、二つの測定時間ｔ１及びｔ２時のマイクロコントローラー１１９の入力端子での電圧の対応する時間特性が図４に従って示されている。

温度測定装置２１１のための図８によるさらに別の実施態様では、図６と同様に、二つの温度センサ２１３及び２１３′が設けられる。それらはトランジスターＴ_ｒ１及びＴ_ｒ２を介して測定電圧（すなわち９Ｖ及び３．３Ｖ）を供給される。マイクロコントローラー２１９には、メモリ２２１のほかに、マルチプレクサ２２２並びに内部操作（ＯＰ）増幅器を含むさらなるトランジスター２３２が一体化されている。再度、図１によるスイッチを含む連結された加熱装置は示されていない。センサ電圧Ｕ_ｒｅｆ１とＵ_ｒｅｆ２を切り替えるためのマルチプレクサ２２２及び放電スイッチ２３２の両方がマイクロコントローラー２１９に一体化されることができる。

図９には、マイクロコントローラー２１９での入力電圧の特性（すなわち二つの測定時間ｔ１及びｔ２のための両電圧Ｕ_２及びＵ_１）がこの場合のために示されている。

一方では図５／６の及び他方では図８の二つの温度センサは上述の基準に従って選ばれることができる。すなわちそれらは互いに異なる方法で異なるべきである。さらに、マイクロコントローラーにおいて各場合に加熱装置のために唯一の制御器が連結されることが考えられるべきであり、その目的のために特に図１を参照されたい。

測定電圧Ｕ_ｒｅｆ１とＵ_ｒｅｆ２の間で図２による周期的切り替えは、実際に常に同じ時間間隔で、すなわち測定時間１及び２で、有利に達成される。しかし、これはまた変動可能であることができる。

Claims (17)

1. 電気器具のための温度測定装置であって、それが電気抵抗器の形の少なくとも一つの温度センサを含み、測定電圧間の周期的な切り替えにより温度センサに少なくとも二つの異なる測定電圧が付与されることができるものにおいて、温度センサが制御器に連結され、制御器が、マイクロコントローラーを含み、かつ少なくとも二つの異なる測定電圧を温度センサに付与するために構成されていることを特徴とする装置。
2. 少なくとも二つの温度センサがそれぞれ少なくとも一つの電気抵抗器を備えていることを特徴とする請求項１に記載の装置。
3. 温度センサまたはその電気抵抗器がそれぞれ異なる抵抗値を持つことを特徴とする請求項２に記載の装置。
4. 温度センサが抵抗値の温度依存性に関して異なる特性を持つことを特徴とする請求項２に記載の装置。
5. 非線形抵抗器及び線形抵抗器が設けられ、二つの温度センサの電気抵抗器の一つが非線形抵抗器としてのＮＴＣまたはＰＴＣ抵抗器であることを特徴とする請求項４に記載の装置。
6. 一つ以上の温度センサの上流に少なくとも二つの異なる直列抵抗器が設けられていることを特徴とする請求項１に記載の装置。
7. 電気抵抗器としての参照抵抗器が温度センサのために設けられ、この参照抵抗器が温度センサのための参照値であり、複数の異なる参照抵抗器が設けられ、参照抵抗器間で切り替えるための切り替え装置が設けられていることを特徴とする請求項１に記載の装置。
8. 積分コンデンサー、温度センサとしての電気抵抗器、参照抵抗器、及び温度測定装置の回路のための計算回路が設けられていることを特徴とする請求項１に記載の装置。
9. 一体化されたマルチプレクサが制御器にまたはマイクロコントローラーに設けられていることを特徴とする請求項１に記載の装置。
10. 制御器またはマイクロコントローラーがメモリを含み、このメモリ内に電気器具の作動時に温度センサのための予想される希望の温度特性が少なくとも記憶され、装置またはマイクロコントローラーが温度センサで測定された実際の温度特性を制御器またはマイクロコントローラー内に記憶された希望の温度特性と比較するために構成されていることを特徴とする請求項１に記載の装置。
11. 自立態様で作動される安全電子工学の場合の自己診断の実現が提供され、自己診断のための情報は温度制御器からのものであることを特徴とする請求項１に記載の装置。
12. 請求項１に記載の温度測定装置を持つ電気器具であって、それが加熱される空間のための電気加熱器を含み、加熱される空間内の温度が、必要に応じて加熱される空間内の流体のような媒体とともに温度センサにより測定または監視されることを特徴とする電気器具。
13. 請求項１に記載の装置を持つ温度測定のための方法であって、少なくとも二つの異なる測定電圧が測定電圧間の周期的切り替えにより温度センサに付与され、温度センサが制御器に連結され、制御器が、マイクロコントローラーを含み、かつ少なくとも二つの異なる測定電圧を温度センサに付与するために構成されていることを特徴とする方法。
14. 温度測定が少なくとも一つの温度センサにより並びに少なくとも一つの参照抵抗器により実行され、参照抵抗器が温度センサの電気抵抗のための参照値として使用され、この場合に温度センサまたは参照抵抗器が測定電圧間の周期的切り替えで作動され、他のものが直接温度測定のための一定の測定電圧で作動されることを特徴とする請求項１３に記載の方法。
15. 二つの測定された実際の温度特性の比較がマイクロコントローラーで達成されることを特徴とする請求項１４に記載の方法。
16. 温度センサで測定された実際の温度特性が累積値としてマイクロコントローラー内に記録された希望の温度特性に対して比較されることを特徴とする請求項１３に記載の方法。
17. 累積値の大きさが、絶対温度を推定するために評価されることを特徴とする請求項１６に記載の方法。

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