JP2013504250A - リーク電流を検出及び補正するマルチプレクサ - Google Patents

Abstract

【解決手段】多重入出力（Ｉ／Ｏ）システムは、選択された入力チャネルにおけるリーク電流を検出する。当該システムは、複数の入力チャネルのうちの１つから選択された出力を供給するために接続されたリーク電流検出マルチプレクサを含んでいる。また、リーク検出マルチプレクサは、選択された入力チャネルに関し測定されたリーク電流を当該出力の一部として供給する。検出されたリーク電流に基づき、検出されたリーク電流がマルチプレクサの出力のインテグリティを喪失させたか否かに関する測定を行うことが可能である。更に、当該検出されたリーク電流は、マルチプレクサによって供給される出力を補正するために使用され、選択されたチャネルにおけるリーク電流の存在を補償することが可能である。
【選択図】図２Ａ

Description

本発明は、マルチプレクサに関し、特に、入力チャネル間のリーク電流を検出するためのマルチプレクサの構成に関する。

マルチプレクサは、複数の入力から選択された出力を提供する装置である。マルチプレクサは、複数の装置によるひときわ高価な資材（例えば、アナログ−デジタル変換器）の共有化を許容する点において有益である。このように、装置ごとに独立したアナログ−デジタル変換器を使用するよりも、複数の装置に単一のアナログ−デジタル変換器を使用したほうがよい。

マルチプレクサによって使用される複数のスイッチ（例えば、金属酸化物半導体装置、光カプラ等）は、所望の入力（すなわち、チャネル）を選択し、マルチプレクサの出力に信号を供給するために、制御（すなわち、開閉）される。開状態のスイッチは、複数のチャネルの相互間を完全に絶縁するのが理想的である。実際には、開状態であっても、スイッチは、少量の電流をチャネル間にリークさせてしまう。このような好ましくない電流は、「リーク電流」と称され、結果として、マルチプレクサの出力に提供される信号のインテグリティに悪影響がもたらされる。

多くの用途において、リーク電流は微量であり、マルチプレクサの出力のインテグリティに重大な影響を与えない。しかしながら、温度及び装置間の電位（すなわち、マルチプレクサの入力装置が、意図的又は意図せずに、著しく異なる電位で保持されている状態）の少なくとも一方を含むような要因は、マルチプレクサによって使用されるスイッチに関連するリーク電流を増加させる。

多くの用途（例えば、プロセス制御用途）においては、マルチプレクサによって供給される信号のインテグリティの小さな変化であっても、著しいアプリケーションエラーを引き起こす可能性がある。従って、リーク電流の存在の検出、及び／又はマルチプレクサによって供給される出力信号をリーク電流の検出に応じて補正することが重要となるであろう。

多重入出力（Ｉ／Ｏ）システムは、選択された入力チャネルにおけるリーク電流を検出する。当該システムは、複数の入力チャネルの１つから選択された出力、及び選択された入力チャネルに関するリーク電流を示すリーク出力を供給するために接続されたリーク検出マルチプレクサを含んでいる。閾値を超えるリーク出力に応じて、制御装置は、選択した入力チャネルに関するインテグリティの喪失を告知する。

本発明の一実施形態に係るリーク電流の検出／補正を提供する入出力（Ｉ／Ｏ）システムのブロック図である。 本発明に係るリーク電流検出マルチプレクサのより詳細な実施形態を示す回路図である。 本発明に係るリーク電流検出マルチプレクサのより詳細な実施形態を示す回路図である。 リーク電流とマルチプレクサによって提供される測定結果のインテグリティとの関係、及び過大なリーク電流を示すために用いられる限界を説明するグラフである。 リーク電流とマルチプレクサによって提供される測定結果のインテグリティとの関係、及び過大なリーク電流を示すために用いられる限界を説明するグラフである。 本発明の一実施形態に係るリーク電流検出マルチプレクサのより詳細な回路図である。 本発明の一実施形態に係るリーク電流検出マルチプレクサのより詳細な回路図である。

全般に、本発明は、マルチプレクサに関するリーク電流の検出及び／又は補正を提供する多重入出力システムである。特に、本発明で使用されるマルチプレクサは、各入力チャネルに対して、少なくとも１つのリーク電流検出抵抗を含むとともに、リーク電流検出抵抗の両端の電圧を測定するために必要な追加のバスライン及びスイッチも含んでいる。リーク電流検出抵抗の両端の測定電圧に基づいて、特定のチャネルに関するリーク電流を推定することができ、そして、マルチプレクサによって供給される出力のインテグリティが、検出されたリーク電流によって低下しているかどうかを決定するために、特定のチャネルに関するリーク電流を使用することができる。特定のチャネル及び／又は特定の複数のチャネルに関するインテグリティの潜在的な喪失を示す応答として、警告信号を提供することができる。

リーク電流の存在の検出に加えて、本発明は、マルチプレクサによって供給される出力信号に検出したリーク電流に基づいて補正を加えてもよい。当該補正は、リーク電流によって出力信号内にもたらされた誤りを訂正する。この手法の利点は、一般的なマルチプレクサが動作不能になりうる状態（例えば、高温、大きな装置間電位、）であっても信号のインテグリティが維持されることにある。

図１は、本発明の一実施形態に係る入出力（Ｉ／Ｏ）システム１０のブロック図である。システム１０は、リーク電流検出マルチプレクサ１２（以下、マルチプレクサ１２と称する）、アナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）変換器１４、及び制御装置１６を有している。マルチプレクサ１２は、複数の入力チャネルＣｈ＿１、Ｃｈ＿２・・・Ｃｈ＿３（“入力チャネル”と総称する）に接続され、各入力チャネルは、複数のセンサ素子１８ａ、１８ｂ、１８ｃ（“センサ素子１８”と総称する）のそれぞれ１つずつに対応して接続している。各入力チャネルは、１つ又は複数の入力ライン（すなわち、端子）から構成されてもよい。例えば、センサ素子１８ａは、２線式の熱電対素子であってもよい。このような場合、マルチプレクサ１２は、センサ素子１８ａに対して、２つの入力端子を含むことになる。他の種類のセンサ素子には、様々なリード構造が用いられる。このような場合、マルチプレクサは、センサの種類の多様性に適合して一般的に設計され、各チャネルに対して４つの入力端子を一般的に有している。

マルチプレクサ１２は、複数のスイッチ（より詳細な形態は、図２Ａ、図２Ｂ、図４、及び図５に基づき説明する）を含む。当該複数のスイッチは、制御装置１６によって選択的に制御（すなわち、開閉）され、当該複数の入力チャネルのいずれかを特定してマルチプレクサ１２の共通の出力に所定の信号を供給する。特定の入力チャネル（例えば、入力チャネルＣｈ＿１）を選択するため、選択されるチャネルに対応するスイッチが閉じ、選択される入力チャネルに供給される入力が、マルチプレクサ１２の共通出力に供給される。選択されなかった残りの入力チャネル（例えば、入力チャネルＣｈ＿２、Ｃｈ＿３）に接続されたスイッチは、選択されたチャネルから選択されなかったチャネルを絶縁するために、開いたままである。

隣接したセンサ間（例えば、センサ素子１８ａとセンサ素子１８ｂとの間）における電位差（「Ｖ_S-S」を付す）の存在は、それぞれの入力チャネル間のクロストーク又はリーク電流の発生の原因となり得る。リーク電流は、選択された入力チャネルに供給される入力信号を歪め、当該歪みが著しい場合、対応するセンサによって測定されるプロセス変数の間違った解釈が生じる恐れがある。以下において詳細に説明するように、本発明の実施形態に係るマルチプレクサ１２の構成は、複数の入力チャネルの１つ又は複数に関するリーク電流を検出することができる。検出されたリーク電流（「ｌｅａｋ＿ｄｅｔ」を付す）は、選択された入力チャネル（「Ｓｅｌ＿Ｃｈ」を付す）によって供給されるセンサ入力とともに、マルチプレクサ１２の出力としてＡ／Ｄ変換器１４に供給される。検出されたリーク電流のデジタル表現は制御装置１６に供給されて、選択された入力チャネルに関するインテグリティの喪失を示す警告又は通知を送信すべきか否かが決定され及び／又は検出されたリーク電流に基づいて、選択された入力チャネルによって供給される信号の補正を制御装置１６が行うことが許容される。

図２Ａ及び図２Ｂは、本発明に係るリーク電流検出マルチプレクサ（それぞれにマルチプレクサ２２ａ及びマルチプレクサ２２ｂを付す）のより詳細な実施形態を示す回路図である。図２Ａに示す実施形態においては、マルチプレクサ２２ａが、複数の入力チャネルからセンサデータを受信するために接続されており、そのうちの２つの入力チャネル（すなわち、入力チャネルＣｈ＿１及びＣｈ＿２）が図示されている。マルチプレクサ２２ａは、複数の入力チャネルＣｈ＿１ａ、Ｃｈ＿１ｃ、Ｃｈ＿２ａ及びＣｈ＿２ｃ、複数のスイッチＳ＿１ａ、Ｓ＿１ｂ、Ｓ＿１ｃ、Ｓ＿２ａ、Ｓ＿２ｂ及びＳ＿２ｃ、複数のリーク電流検出抵抗Ｒ＿１ｂ及びＲ＿２ｂ、並びにマルチプレクサ２２ａの共通出力チャネルを構成する複数の出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃを含んでいる。

マルチプレクサ２２ａで使用される部品には、当該部品に対応する入力チャネル及び出力端子の両方を示すための符号が付されている。例えば、入力チャネルＣｈ＿１に関連付けられる入力端子であって、（スイッチＳ＿１ａを経由して）出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａに出力を供給するために接続された入力端子は、Ｃｈ＿１ａが付されている。チャネルＣｈ＿１に関連付けられる入力端子であって、（スイッチＳ＿１ｃを経由して）出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに出力を供給するために接続された別の入力端子は、Ｃｈ＿１ｃが付されている。入力チャネルＣｈ＿１に関連付けられるリーク検出抵抗は、一端がスイッチＳ＿１ｂに、他端が出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂに接続されているので、当該リーク検出抵抗Ｒ＿１ｂにはＲ＿１ｂが付されている。入力チャネルＣｈ＿２に関連付けられる部品には、同様に、入力端子Ｃｈ＿２ａ及びＣｈ＿２ｃ、スイッチＳ＿２ａ、Ｓ＿２ｂ、及びＳ＿２ｃ、並びにリーク検出抵抗（リーク電流抵抗）Ｒ＿２ｂのように符号が付されている。入力端子Ｃｈ＿２ａは、スイッチＳ＿２ａを経由し、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａに接続され、入力端子Ｃｈ＿２ｃは、スイッチＳ＿２ｃを経由し、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに接続されている。リーク検出抵抗Ｒ＿２ｂは、一端がスイッチＳ＿２ｂに、他端が出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂに接続されている。

マルチプレクサ２２ａの説明を容易にするために、本実施形態において、センサ素子１８は、単純な２端子型の熱電対素子として記載されている。当該熱電対素子のそれぞれは、高リード抵抗Ｒｈ及び低リード抵抗Ｒｌを含み、対応する入力端子に接続されている（例えば、センサ素子１８ａは、入力端子Ｃｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｃに接続されている）。一般的な熱電対素子は、機器における入力接続部の温度を測定するために、サーミスタ又はダイオードのような他の感熱素子を用いた人工的な冷接点を更に含むであろうが、本発明を説明する目的のためには、上述された単純な構造であっても十分であろう。

特定の入力チャネルを選択して、マルチプレクサ２２ａの共通の出力チャネルに入力を供給するために、選択する入力チャネルに関連付けられる各スイッチが閉ざされる。図２Ａに示すように、スイッチＳ＿１ａ、Ｓ＿１ｂ及びＳ＿１ｃが閉ざされて入力チャネルＣｈ＿１が選択される。反対に、選択されていないチャネルに関連付けられるスイッチは開放され、選択されていないチャネルから選択されたチャネルを絶縁する。開状態のスイッチは、選択されていないチャネルから流れ出すいかなる電流の流出も、効果的に防ぐ無限抵抗してとして機能するのが理想的である。しかしながら、現実には、開状態のスイッチは、スイッチの個々の特性に基づくだけではなく、当該スイッチに対する温度のような外部要因に基づいて変化する有限抵抗を有している。センサ間の電位差（Ｖ_S-Sによって示す）の存在に相まって、図２Ａに示すような開状態のスイッチを通じてリーク電流が誘導され、開状態のスイッチＳ２＿ａ、Ｓ２＿ｂ及びＳ２＿ｃのそれぞれを通じてリーク電流１ａ、１ｂ及び１ｃが流れる可能性がある。当該チャネルのそれぞれは、共通出力（出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ、及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃ）に接続されているため、リーク電流ｉａは開状態のスイッチＳ＿２ａを通じて閉状態のスイッチＳ＿１ａに供給され、リーク電流ｉｂは開状態のスイッチＳ＿２ｂを通じて閉状態のスイッチＳ＿１ｂに供給され、リーク電流ｉｃは開状態のスイッチＳ＿２ｃを通じて閉状態のスイッチＳ＿１ｃに供給される。

リーク電流ｉａ、ｉｂ、ｉｃが熱電対素子のリード線抵抗Ｒｈ＿１及びＲｌ＿１を通じて流れる結果、入力端子Ｃｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｃに熱電対素子によって提供される電位差を変化させてしまうような電圧降下が生じる（リード線抵抗Ｒｈ＿１及びＲｌ＿１が等しくないものと仮定している）。結果として、検出温度を示してマルチプレクサ２２ａによって（出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに）供給される出力は、リーク電流に起因するある程度の歪みを含む。

マルチプレクサ２２ａによるリーク電流の検出は、追加のリーク検出抵抗（例えば、リーク検出抵抗Ｒ＿１ｂは、入力チャネルＣｈ＿１に対して設けられる）、並びに、リーク検出抵抗Ｒ＿１ｂの両端の電圧降下を測定するための追加のバスライン及び出力端子（例えば、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ）によって行われる。特定のチャネルにおけるリーク電流を測定するために、リーク検出抵抗に関連付けられるスイッチを含む、選択されたチャネルに関連付けられる複数のスイッチを閉じ、そして、バスラインのそれぞれに関する電圧を、マルチプレクサ２２ａの出力端子のそれぞれに供給する。

例えば、入力チャネルＣｈ＿１に関するリーク電流の測定のために、スイッチＳ＿１ａ、Ｓ＿１ｂ及びＳ＿１ｃが閉ざされ（マルチプレクサ２２内に含まれる残りの全てのスイッチは、開いたままである。）、リーク検出抵抗（電流検出抵抗）Ｒ＿１ｂの両端の電圧が、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに供給される電圧差として測定される。リーク検出抵抗（電流検出抵抗）Ｒ＿１ｂの両端の電圧差を、予め把握している抵抗Ｒ＿１ｂの抵抗値と共に用いることにより、リーク電流ｉｂを測定することができる。本実施形態において、端子Ｃｈ＿１ａに流入する電流は測定されることなく、また、端子Ｃｈ＿１ｃに流入する電流は、リーク電流ｉｂがリーク電流ｉｃに起因し得る範囲のみでわかっている。ここで、リーク電流ｉｂ及びｉｃの合計が端子Ｃｈ＿１ｃにおける実際のリーク電流を決定する。しかしながら、センサインテグリティの喪失（すなわち、選択された入力チャネルによって共通出力チャネルに供給されるセンサデータに関するインテグリティの喪失、この場合には、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃにおけるインテグリティの喪失）の検出を目的とする場合、バスラインの１つを流れるリーク電流の大きさを知ることができれば、一般的に十分である。

出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに供給される電圧値は、アナログ電圧値をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器１４に供給される。Ａ／Ｄ変換器１４は、デジタル値を制御装置１６に供給し、当該制御装置１６が供給された値を読み取る。例えば、２端子型の熱電対素子は、測定された温度を示す電圧差を端子に供給する。制御装置１６は、（それぞれが入力端子Ｃｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｃに接続されている）出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに供給される電圧を読み取り、センサ素子１８ａの計測値から温度を検知する。更に、制御装置１６は、検出したリーク電流（出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃ間に供給される電圧差によって表される）に基づいて、検出したリーク電流がマルチプレクサ２２ａによって供給される出力のインテグリティを低下させているか否かを決定する。この処理には、測定したリーク電流と閾値との比較、又は使用者若しくは制御室への検出したリーク電流の報告を含んでいてもよい。別の実施形態において、制御装置１６は、センサから供給される信号を補正してリーク電流を補償してもよいが、（図４及び図５に関して説明するように、）正確な補正は、選択されたチャネルの入力端子のそれぞれを流れるリーク電流の情報によって改善される。

同様の作動は、各入力チャネルに対して実施してもよい。用途に応じ、作動がいずれも比較的高コストとなるＡ／Ｄ変換器１４及び制御装置１６は、複数の入力のそれぞれに関するリーク電流を周期的に検査するだけでもよい。このような方法は、大きなリーク電流を発生させる要因（例えば、温度及びセンサ間の電位差）が通常はゆっくり変化していくので一般的に許容できる。しかしながら、別の用途においては、リーク電流の存在を連続的に監視することが有効的なこともある。

図２Ｂは、リーク電流検出マルチプレクサ（図２Ａに基づき説明したマルチプレクサ２２ａと差別化するためにマルチプレクサ２２ｂを付している）の別な実施形態をより詳細に記載した回路図である。マルチプレクサ２２ｂは、図２Ａに示すマルチプレクサ２２ａについて説明した部品と同一の部品を含んでいる。具体的には、マルチプレクサ２２ｂは、複数の入力チャネルＣｈ＿１ａ、Ｃｈ＿１ｃ、Ｃｈ＿２ａ及びＣｈ＿２ｃ、複数のスイッチＳ＿１ａ、Ｓ＿１ｂ、Ｓ＿１ｃ’、Ｓ＿２ａ、Ｓ＿２ｂ及びＳ＿２ｃ’、複数のリーク電流検出抵抗Ｒ＿１ｂ及びＲ＿２ｂ、並びに複数の出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｃを含んでいる。

本実施形態と図２Ａに示した実施形態との差違は、スイッチＳ＿１ｃ’及びＳ＿２ｃ’の接続である。なお、ダッシュを付記することにより、実施形態間の回路図の違いを示している。図２Ａにおいて、スイッチＳ＿１ｃの第１端は入力端子Ｃｈ＿１ｃに接続され、第２端は出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに接続されていた。本実施形態において、スイッチＳ＿１ｃ’の第１端は、スイッチＳ＿１ｂとリーク検出抵抗（電流リーク抵抗）Ｒ＿１ｂとの間に接続されている。スイッチＳ＿１ｃ’の第２端は、図２Ａと同様に、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに接続されている。同様に、スイッチＳ＿２ｃ’の第１端は、スイッチＳ＿２ｂとリーク検出抵抗（電流リーク抵抗）Ｒ＿２ｂとの間に接続されている。

この手法の利点は、端子Ｃｈ＿１ｃに流入するリーク電流の大半が（リーク電流ｉｂ及びｉｃの合成ではなく）リーク電流ｉｂによるものである点にあり、リーク電流ｉｂは、リーク検出抵抗（電流リーク抵抗）Ｒ＿１ｂの両端で測定された電圧降下に基づいて測定することができる。リーク電流が、主として大きなセンサ間の大きな電位差Ｖ_S-Sの存在に起因するものであるとすれば、スイッチＳ＿２ｃ’の第１端をスイッチＳ＿２ｂの反対側に接続することにより、電位差の大部分は、（開状態のスイッチにおける無限ではないが比較的高い抵抗により）開状態のスイッチＳ＿２ｂの両端で低下することになろう。このため、スイッチＳ＿２ｃ’の第１端は、（図２Ａに示すような）スイッチＳ＿２ｃの第１端よりも著しく低い電位の節点に接続され、開状態のスイッチＳ＿２ｃ’を流れるリーク電流ｉｃの大きさは、開状態のスイッチＳ＿２ｂを流れるリーク電流ｉｂよりも著しく小さくなる。

結果として、リーク検出抵抗Ｒ＿１ｂの両端で測定される電圧差に基づいて推定されるリーク電流は、入力端子Ｃｈ＿１ｃを流れるリーク電流をより正確に表す。本実施形態において、入力端子Ｃｈ＿１ａに供給されるリーク電流は不明のままであるが、入力端子Ｃｈ＿１ｃに関して測定されたリーク電流に基づき、入力端子Ｃｈ＿１ａに供給されるリーク電流を再度推定してもよい。

図３Ａ及び図３Ｂは、センサ間電圧と温度との関係を、リーク電流の大きさと共に示すだけでなくセンサインテグリティの喪失を判定するために、リーク電流閾値が用いられる手法の一例を示すグラフである。図３Ａ及び図３Ｂは、図２Ａに基づき説明した回路図に基づく試作品から得たものであるが、その原理は、図２Ｂに基づき説明した実施形態に対しても依然として有効である。

図３Ａは、センサ間の電位及び温度がどのようにリーク電流に影響を及ぼすかを説明している。ｙ軸は電流の大きさ（例えば、ナノアンペア（ｎＡ）単位）を表し、ｘ軸はマルチプレクサの周辺温度（例えば、摂氏単位）を表している。すなわち、当該温度は、センサによって検出された温度の値を必ずしも表す必要はなく、マルチプレクサに関する単純な周辺温度を表しさえすればよい。各折れ線は、センサ間の電位Ｖ_S-Sの大きさを変化させて測定されたリーク電流を表し、電位Ｖ_S-Sのそれぞれには、「−６００Ｖ」、「−１００Ｖ」、「０Ｖ」、「５０Ｖ」、「１００Ｖ」、及び「６００Ｖ」が付されている。検出されたプロセス変数（ｐｖ）のインテグリティの喪失が生じる際のリーク電流の大きさを特定する閾値は、３０ｎＡ及び−３０ｎＡ（「リーク限界」が付されている）で例示されている。これらの閾値は、検出されたプロセス変数が、規定された仕様限界（１５μＶ及び−１５μＶと規定）を超えるポイント（図３Ｂに示す）に基づいて決定される。

図３Ａに示すように、リーク電流は、温度上昇及びセンサ間の電位Ｖ_S-Sの増加にともなって増加する。特に、センサ間の電位Ｖ_S-Sが６００Ｖである場合（「６００Ｖ」が付された折れ線で表されている）、周辺温度が７５℃に到達すると、リーク電流はリーク限界と一致し、周辺温度が８５℃に到達するとリーク限界を超えることになる。リーク限界を超えることは、検出されたプロセス変数に関する誤差が仕様限界（図３Ｂに示す）を超えること、すなわち、センサ信号のインテグリティが喪失することを示す。

図３Ｂは、センサ間の電位Ｖ_S-Sの増加及び温度上昇によって生じるリーク電流が、検出されたプロセス電圧、及び検出されたプロセス変数のインテグリティにどのようにして悪影響を与えるかを例示する。ｙ軸は、検出されるプロセス変数に生じた誤差値（マイクロボルト（μＶ）単位）を示す。ｘ軸は、マルチプレクサの周辺温度（摂氏）を示し、図３Ａについて用いられたスケールと同様である。各折れ線は、センサ間の電位の大きさの変動に対応させて測定されたプロセス変数誤差を表し、図３Ａと同様に、電位Ｖ_S-Sのそれぞれには、「−６００Ｖ」、「−１００Ｖ」、「−５０Ｖ」、「０Ｖ」、「５０Ｖ」、「１００Ｖ」、及び「６００Ｖ」が付されている。「ｐｖ限界」が付されている仕様限界は、検出されたプロセス変動のインテグリティが喪失したポイント（例えば、１５μＶから−１５μＶ）を示すものとして定義されている。このシミュレーションにおいて、温度が７５℃であってセンサ間の電圧の絶対値が６００Ｖ（すなわち、６００Ｖ及び−６００Ｖ）である場合、検出されるプロセス変数における誤差が仕様限界を超える。図３Ａに示すように、この温度及びセンサ間の電位で生じるリーク電流は、リーク電流閾値（図３Ａにおいて示す）に到達する。このようにして、定義された閾値を超えるリーク電流は、検出されたプロセス電圧によって定義され、インテグリティの喪失を示す。

リーク限界は、リーク電流がセンサインテグリティにどのように影響を与えるかに関する情報に基づき、個々のセンサに対して決定される。使用されるセンサの種類についての既知の情報であって、センサの抵抗及び各リード線に関する抵抗差を含む情報に基づき、リーク電流限界を推定することができるが、既知の電流を当該センサに流し、（電流を２線式の抵抗温度素子（ＲＴＤ：resistive temperature device）に流す方法とほぼ同様にして）発生する電圧を測定して個々のセンサの抵抗を測定することにより、リーク電流限界を決定してもよい。センサ抵抗を知ることにより（例えば、熱電対素子においては、熱電対素子の各リード線に関する抵抗率を知ること）、リーク電流が信号のインテグリティに及ぼす影響が判定される。例えば、熱電対素子においては、端子間の抵抗率が大きくなるにつれて、リーク電流がセンサインテグリティに与える影響がより顕著となる。

図４は、本発明に係るリーク電流検出マルチプレクサ（ここではマルチプレクサ２４を付す）の別な実施形態の回路図を示している。

図４に示す実施形態において、マルチプレクサ２４は、上述した実施形態と同様に、複数の入力チャネルからセンサデータを受信するために接続がなされており、そのうちの２つ（入力チャネルＣｈ＿１及びＣｈ＿２）が示されている。上述した実施形態と同様に、各入力チャネルに接続された２端子型素子を前提とすることにより、マルチプレクサ２４の説明を容易にしている。マルチプレクサ２４は、複数の入力端子Ｃｈ＿１ａ、Ｃｈ＿１ｄ、Ｃｈ＿２ａ、及びＣｈ＿２ｄ、複数のスイッチＳ＿１ａ、Ｓ＿１ｂ、Ｓ＿１ｃ、Ｓ＿１ｄ、Ｓ＿２ａ、Ｓ＿２ｂ、Ｓ＿２ｃ、及びＳ＿２ｄ、複数のリーク検出抵抗Ｒ＿１ｂ、Ｒ＿１ｃ、Ｒ＿２ｂ、及びＲ＿２ｃ、並びにマルチプレクサ２４の共通出力チャネルを形成する複数の出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃ、及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｄを含む。

マルチプレクサ２４で使用される部品には、上述した実施形態と同様に、当該部品に対応する入力チャネル及び出力チャネルの両方を示すために符号が付される。例えば、入力チャネルＣｈ＿１に関連付けられる入力端子であって、（スイッチＳ＿１ａを介して）出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａに出力を供給するために接続された入力端子には、Ｃｈ＿１ａが付されている。入力チャネルＣｈ＿１に関連付けられる他の入力端子であって、（スイッチＳ＿１ｄを介して）出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｄに出力を供給するために接続された入力端子には、Ｃｈ＿１ｄが付されている。入力チャネルＣｈ＿１に関連付けられるリーク検出抵抗であって、一端がスイッチＳ＿１ｂに接続され、他端が出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂに接続されたリーク検出抵抗にはＲ＿１ｂが付され、一端がスイッチＳ＿１ｃに接続され、他端が出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃに接続されたリーク検出抵抗にはＲ＿１ｃが付されている。

図２Ａ及び２Ｂに関して説明した実施形態とは異なり、本実施形態は、複数の入力端子のそれぞれに対して接続されるリーク検出抵抗を含んでいる。本実施形態においては、マルチプレクサ２４が複雑になってしまうが、追加のバスライン及びリーク検出抵抗に関する利点は、各入力端子におけるリーク電流を知ることを可能にすることにある。各入力端子を流れるリーク電流の情報は、選択された入力チャネルに供給されるセンサ信号を補正するために使用することができる。

例えば、図４に示す例において、スイッチＳ＿１ａ、Ｓ＿１ｂ、Ｓ＿１ｃ、及びＳ＿１ｄは、入力チャネルＣｈ＿１を選択するために閉じている。選択されなかったチャネルに関連付けられるスイッチについては、開いたままである。センサ素子１８ａによって供給されるセンサ入力は、電圧差として出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｄのそれぞれに供給される。入力端子Ｃｈ＿１ａを流れるリーク電流ｉｂは、リーク検出抵抗Ｒ＿１ｂの両端の電圧降下に基づいて測定され、且つ出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａとＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｂとの間の電圧差として計測される。入力端子Ｃｈ＿１ｄに流れるリーク電流ｉｃは、リーク検出抵抗Ｒ＿１ｃの両端の電圧降下に基づいて測定され、且つ出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃとＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｄとの間の電圧差として計測される。このようにして、図４に示された実施形態は、特定のチャネルに関連付けられる２つの入力端子（例えば、入力チャネルＣｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｄ）に供給されるリーク電流に関する情報を提供する。

本実施形態においては、リーク電流ｉａ及びｉｄを測定しないため、入力端子Ｃｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｄに供給される実際のリーク電流は、残りのバスラインに起因し得る測定されたリーク電流ｉｂ及びｉｃの範囲内のみで把握される。特定の入力チャネルに３つ又は４つの端子のセンサ素子が接続されるような場合には、（図５に示すような）追加のバスラインを流れるリーク電流の情報が必要となるかもしれない。しかしながら、入力端子Ｃｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｄを流れるリーク電流のそれぞれの大部分は、リーク電流ｉａ及びｉｂの合成、並びにリーク電流ｉｃ及びｉｄの合成ではなく、リーク電流ｉｂ及びｉｃに起因する。リーク電流ｉｂ及びｉｃのそれぞれは、リーク検出抵抗Ｒ＿１ｂ及びＲ＿１ｃのそれぞれの両端の電圧降下の測定に基づいて把握される。これは、上述した実施形態と同様に、スイッチＳ＿２ｂ及びＳ＿２ｃの両端の電位が大きくて、スイッチＳ＿２ａ及びＳ＿２ｄの両端の電位が比較的に小さくなるために、リーク電流ｉａ及びｉｄが相対的に小さくなるからである。

結果として、リーク検出抵抗Ｒ＿１ｂ及びＲ＿１ｃの両端において測定された電圧差に基づいて推定されるリーク電流は、入力端子Ｃｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｄを流れるリーク電流を的確に表すことになる。入力端子Ｃｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｄの間の電圧に対するリーク電流の影響を演算するためには、ハイサイド抵抗（リード線抵抗（Ｒｈ＿１））及びロウサイド抵抗（リード線抵抗（Ｒｌ＿１））の情報が要求される。一実施形態において、熱電対素子に関する抵抗の合計を測定することであって、熱電対素子の両端における標準的な２線式抵抗で素子の総抵抗を計測し、ハイサイド抵抗とロウサイド抵抗との比率を定める素子についての情報を併せて用いることにより、ハイサイド抵抗及びロウサイド抵抗を個別に測定することができる。既知のハイサイド抵抗及びロウサイド抵抗を有する熱電対素子に加えられる補正は、以下の例示的な式によって定義される。

Ｖ_comp＝−ｉｂ×Ｒｈ＿１＋ｉｃ×Ｒ１＿１ 式１

式１を用いて演算された電圧補正では、リード線抵抗（ハイサイド抵抗）Ｒｈ＿１を流れるリーク電流ｉｂに起因する電圧降下、及びリード線抵抗（ロウサイド抵抗）Ｒｌ＿１を流れるリーク電流ｉｃに起因する電圧降下が考慮されている。

リーク電流の存在に起因したセンサインテグリティの喪失を検出する目的においては、入力端子の１つにおけるリーク電流に関する情報を取得できれば、一般的に十分である。入力チャネルの各端子におけるリーク電流の流れに関する情報を、リード線抵抗（ハイサイド抵抗）Ｒｈ＿１及びリード線抵抗（ロウサイド抵抗）Ｒｌ＿１に関する情報と共に用いることにより、入力端子Ｃｈ＿１ａ及びＣｈ＿１ｂに供給される電圧におけるリーク電流の影響を補正することができる。

センサ信号を示す出力（例えば、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａと出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｄとの間の電圧差）、及び各リーク検出抵抗の両端の電圧降下を示す出力（例えば、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａと出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂとの間の電圧差、及び出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃと出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｄとの間の電圧差）を含み、マルチプレクサ２４によって供給される出力は、Ａ／Ｄ変換器１４によってデジタル値に変換されて制御装置１６に供給される。供給される出力に基づき、制御装置１６は、選択されたチャネルに接続されたセンサによって測定されるプロセス変数（この場合、熱電対素子によって測定される温度）を演算し、そして、算出されるリーク電流に基づいて、測定されたセンサ信号を、（例えば、式１に示すように）補正する。この手法の利点は、センサ信号のインテグリティをさもなければ喪失させる可能性のあるリーク電流の存在にもかかわらず、本発明が、検出されたリーク電流の存在を修正する補正を行うことができる点にある。

同様の作動は、各入力チャネルに対して実施することができる。用途に応じ、作動がいずれも比較的高コストとなるＡ／Ｄ変換器１４及び制御装置１６は、複数の入力のそれぞれに関するリーク電流を周期的に検査するだけとし、事前に演算された補正信号をセンサ信号に適用してもよい。このような方法は、大きなリーク電流を発生させる要因（例えば、温度及びセンサ間の電位差）が通常はゆっくりと変化していくので一般的に許容できる。しかしながら、別の用途においては、選択されたチャネルのそれぞれに関するリーク電流を監視することが有効的なこともある。この場合、センサ信号に加えられる補正を連続的に更新することにより、信号の正確性が向上する。

図５は、リーク電流検出マルチプレクサ（ここでは、マルチプレクサ２６として符号を付す）の別な実施形態をより詳細に例示する回路図である。図４に基づき説明したマルチプレクサと比較すると、マルチプレクサ２６は、各チャネルに対応する追加のバスライン、及びマルチプレクサ２６の入力端子におけるリーク電流を測定する追加のリーク検出抵抗を含んでいる。マルチプレクサ２６は、複数の入力端子Ｃｈ＿１ｂ、Ｃｈ＿１ｆ、Ｃｈ＿２ｂ及びＣｈ＿２ｆ、複数のスイッチＳ＿１ａ、Ｓ＿１ｂ、Ｓ＿１ｃ、Ｓ＿１ｄ、Ｓ＿１ｅ、Ｓ＿１ｆ、Ｓ＿２ａ、Ｓ＿２ｂ、Ｓ＿２ｃ、Ｓ＿２ｄ、Ｓ＿２ｅ及びＳ＿２ｆ、複数のリーク検出抵抗Ｒ＿１ａ、Ｒ＿１ｃ、Ｒ＿１ｄ、Ｒ＿１ｅ、Ｒ＿２ａ、Ｒ＿２ｃ、Ｒ＿２ｄ及びＲ＿２ｅ、並びに共通する出力チャネルを構成する複数の出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｄ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｅ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｆを含んでいる。上述した実施形態と同様に、部品には、当該部品に対応する入力チャネル及び出力チャネルの両方を示すために符号が付される。

追加のバスラインにより、マルチプレクサ２６は、各端子に４つの端子が用いられたセンサに関するリーク電流の検出を行うことができる。例えば、ここでは、センサ素子１８ａが熱電対素子として説明されているが、温度にともなって変化する抵抗を有する抵抗温度素子に代えてもよい。抵抗温度素子は、３端子素子であってもよく、４端子素子であってもよい。４端子素子の場合、２つの端子を介して抵抗温度素子に電流が供給される。他の２つの端子は、供給された電流に応じて抵抗温度素子の両端に生じる電圧を測定するための高インピーダンス経路である。既知電流を用い、測定された電圧は、抵抗温度素子の抵抗、すなわち対応する素子の温度決定のために使用される。

この実施形態においては、リーク電流が各バスラインに関連している上述した実施形態とは異なり、各入力端子に供給されるリーク電流のみに符号が付されている。従って、リーク電流ｉ１及びｉ２は、端子Ｃｈ＿２ｂと端子Ｃｈ＿ｉｂとの間に供給され、リーク電流ｉ３及びｉ４は、端子Ｃｈ＿２ｆと端子Ｃｈ＿１ｆとの間に供給される。

特定の入力チャネルを選択して、マルチプレクサ２６の共通の出力チャネルに出力を供給するために、選択される入力チャネルに関連付けられるスイッチのそれぞれが閉ざされる。図５に示す例においては、スイッチＳ＿１ａ、Ｓ＿１ｂ、Ｓ＿１ｃ、Ｓ＿１ｄ、Ｓ＿１ｅ、及びＳ＿１ｆが閉ざされ、チャネルＣｈ＿１が選択されている。反対に、選択されないチャネルに関連付けられるスイッチは、選択されないチャネルから選択されるチャネルを絶縁するために開かれる（又は開いたままである）。上述したように、リーク電流は、選択されたチャネルと選択されなかったチャネルとの間において発生する可能性がある。本実施形態において、リーク電流は、複数のバスライン間のそれぞれにおいて発生する可能性があるが、スイッチＳ＿１ｂ及びＳ＿１ｆに関するバスラインにおけるリーク電流は、一般的に微小である。例えば、スイッチＳ＿２ｆは、スイッチＳ＿２ｅと抵抗Ｒ＿２ｅとの間に接続されている。スイッチＳ＿２ｅが開いている（すなわち、高インピーダンス）場合、センサ間の電圧Ｖ_S-Sの大部分は、スイッチＳ＿２ｅの両端に供給され、これにより、スイッチＳ＿２ｆにおける電圧降下は最小となる。結果として、最小のリーク電流が、スイッチＳ＿２ｆを介してスイッチＳ＿１ｆに供給される。スイッチＳ＿２ｂに関しても同様であり、スイッチＳ＿１ｂには、微小のリーク電流が供給されるか、又はリーク電流は供給されない。

この点を考慮に入れると、リーク検出抵抗Ｒ＿１ａ、Ｒ＿１ｃ、Ｒ＿１ｄ及びＲ＿１ｅのそれぞれの両端の電圧を測定することにより、リーク電流ｉ１、ｉ２、ｉ３及びｉ４を正確に測定することができる。リーク電流ｉ１は、外部端子Ｃｈ＿Ｓｅｌ＿ａ及びＣｈ＿Ｓｅｌ＿ｂを介し、リーク検出抵抗（電流検出抵抗）Ｒ＿１ａの両側の電圧を計測することによって測定される。リーク検出抵抗Ｒ＿１ａの両端において測定された電圧を、抵抗Ｒ＿１ａの抵抗値の情報と共に用いることにより、リーク電流ｉｌを測定することができる。同様に、リーク電流ｉ２は、外部端子Ｃｈ＿Ｓｅｌ＿ｂ及びＣｈ＿Ｓｅｌ＿ｃを介し、リーク検出抵抗（電流検出抵抗）Ｒ＿１ｃの両側の電圧を計測することによって測定される。抵抗Ｒ＿１ｄ及びＲ＿１ｅは、入力端子Ｃｈ＿１ｆを流れるリーク電流ｉ３及びｉ４を測定するために同様に用いられている。リーク電流ｉ１及びｉ２は、入力端子Ｃｈ＿１ｂにおけるリーク電流を測定するために合成され、リーク電流ｉ３及びｉ４は、入力端子Ｃｈ＿１ｆにおけるリーク電流を測定するために合成される。

上述したように、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｃ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｄ、Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｅ、及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｆに供給される電圧値は、Ａ／Ｄ変換器１４に供給され、デジタル値に変換され、分析のために制御装置（例えば、図１に示す制御装置１６）に供給される。例えば、センサ値は、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ｂ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｆの間に供給される電圧差に基づいている。リーク電流ｉ１は、出力端子Ｓｅｌ＿Ｃｈ＿ａ及びＳｅｌ＿Ｃｈ＿ｂの間に供給される電圧差に基づいており、リーク電流ｉ２、ｉ３、ｉ４は、リーク検出抵抗Ｒ＿１ｃ、Ｒ＿１ｄ及びＲ＿１ｅのそれぞれの両端で検出される電圧差のそれぞれに基づいている。

供給された出力に基づき、制御装置１６は、選択されたチャネルに接続されたセンサによって測定されたプロセス変数（例えば、センサ素子１８ａによって検出される温度）を演算し、リーク電流の大きさがマルチプレクサの出力のインテグリティを喪失させたか否かを判定する。各端子におけるリーク電流の大きさの把握は、検出されたプロセス変動に対してリーク電流が与える影響を、制御装置１６がいっそう適切に判定することができるので有利である。

加えて、入力端子の両方に流れるリーク電流の情報を把握することにより、制御装置は、センサ素子１８ａの各配線に供給されるリーク電流の影響を補正するべく、選択されたセンサによって供給される出力に加える補正信号（例えば、電圧）を演算することができる。追加のバスラインにより、多数の端子を有した入力チャネル（例えば、抵抗温度素子に接続された入力チャネル）に関するリーク電流を測定することが可能になる。この手法の利点は、センサ信号のインテグリティをさもなければ喪失させる可能性のあるリーク電流の存在にもかかわらず、本発明が、検出されたリーク電流の存在を修正する補正を行うことができることにある。具体的な実施形態において、制御装置１６は、以下の数式を使用し、リード線抵抗Ｒｈ＿１及びＲｌ＿１を有する熱電対素子によって供給されるセンサ出力に適用される補正値を演算する。上述した式１に関して説明したように、熱電対素子の場合は、リード線抵抗（ハイサイド抵抗）Ｒｈ＿１の値及びリード線抵抗（ロウサイド抵抗）Ｒｌ＿１の値の情報が必要である。

Ｖ_comp＝−（（ｉ１＋ｉ２）×Ｒｈ＿１＋ｉ２×Ｒ＿１ｃ）
＋（（ｉ３＋ｉ４）×Ｒｌ＿１＋ｉ３×Ｒ＿１ｄ） 式２

式２に示すように演算された電圧補正値により、リーク電流ｉ１及びｉ２に起因するハイサイド抵抗の両端の電圧降下、及びリーク電流ｉ２に起因するリーク検出抵抗Ｒ＿１ｃの両端の電圧降下だけでなく、リーク電流ｉ３及びｉ４に起因するロウサイド抵抗の両端における電圧降下、並びにリーク電流ｉ３に起因するリーク検出抵抗Ｒ＿１ｄの両端における電圧降下に対するリーク電流の影響が考慮される。

同様の作動は、各入力チャネルに対して実施してもよい。用途に応じ、作動がいずれも比較的高コストとなるＡ／Ｄ変換器１４及び制御装置１６は、複数の入力のそれぞれに関するリーク電流を周期的に検査するだけとし、事前に演算された補正信号をセンサ信号に適用してもよい。このような方法は、大きなリーク電流を発生させる要因が比較的ゆっくりと変化していくので一般的に許容できる。別の用途においては、選択されたチャネルのそれぞれに関するリーク電流を監視することが有効的なこともある。この場合、センサ信号に加えられる補正を連続的に更新することにより、信号の正確性が向上する。

具体的な実施形態に基づいて本発明を説明したが、当業者は、特許請求の範囲に記載された発明の範囲から逸脱せずに、形状や詳細構成について変形が可能であることを認識するであろう。例えば、本発明のマルチプレクサは、図２Ａ、図２Ｂ、図４及び図５に関して説明された単なる２端子型の熱電対素子以外の素子と情報伝達するように構成されてもよい。ある素子は、各入力チャネルに対して、追加の入力端子を必要とする。結果として、マルチプレクサは、各入力端子に接続された追加のバスライン、及び特定のチャネルに関連付けられる入力のそれぞれと情報伝達する追加の出力端子を含んでいてもよい。１又は複数の端子に関するリーク電流の測定のために、１又は複数の入力端子に対して追加のリーク検出抵抗が必要となることもある。また、設けられた各リーク検出抵抗の両端における電圧降下を測定するために、追加のバスラインが必要となることもあろう。

更に、各実施形態においては、マルチプレクサ、Ａ／Ｄ変換器及び制御装置を個別の部品として説明したが、当業者は、これらの部品が単一部品として、組み合わされうることを認識できるであろう。例えば、これらの部品のそれぞれによって実行される機能は、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ：Application Specific Integrated Circuit）又は同様の装置の使用によって実現されてもよい。

Claims (21)

1. リーク電流を検出するように構成されたマルチプレクサであって、
   複数の入力装置のうちの１つに対して、それぞれが接続可能である複数の入力チャネルと、
   前記複数の入力チャネルのそれぞれと関連付けられる複数のスイッチと、
   前記複数の入力チャネルのそれぞれに接続される共通出力チャネルと、
   前記複数の入力チャネルのそれぞれを前記共通出力チャネルに接続し、それぞれが前記複数のスイッチのうちの１つを含む複数のバスラインと、
   前記複数のバスラインの１つに接続された少なくとも１つのリーク検出抵抗と、を有し、
   前記複数のスイッチの選択的制御により、前記複数の入力チャネルのなかから前記共通出力チャネルに接続される入力チャネルを決定し、
   前記複数のバスライン及び前記複数のスイッチは、選択された入力チャネルに組合わされた入力装置からの検出データと、前記選択された入力チャネルに関するリーク電流を示し、前記リーク検出抵抗の両端において測定された電圧と、を前記共通出力チャネルに供給するように構成されていることを特徴とするマルチプレクサ。
2. 前記複数の入力チャネルのそれぞれは、第１入力端子及び第２入力端子を含み、
   前記共通出力チャネルは、第１出力端子、第２出力端子、及び第３出力端子を含むことを特徴とする請求項１に記載のマルチプレクサ。
3. 前記複数の入力チャネルのそれぞれと関連付けられる前記複数のスイッチは、
   前記第１入力端子と前記第１出力端子とを選択的に接続する第１スイッチと、
   前記第２入力端子と前記第３出力端子とを選択的に接続する第２スイッチと、
   前記第２入力端子と前記第２出力端子との間に前記リーク検出抵抗を選択的に接続する第３スイッチと、を更に有し、
   前記リーク検出抵抗の両端の電圧は、前記第２出力端子と前記第３出力端子との間の電圧差として供給されることを特徴とする請求項２に記載のマルチプレクサ。
4. 前記第２スイッチは、前記第２入力端子と前記第３スイッチとの間に接続された第１端、及び前記第３出力端子に接続された第２端を有することを特徴とする請求項３に記載のマルチプレクサ。
5. 前記第２スイッチは、前記第３スイッチと前記リーク検出抵抗との間に接続された第１端を有することを特徴とする請求項３に記載のマルチプレクサ。
6. 前記複数の入力チャネルのそれぞれは、複数の入力端子を含み、
   前記共通出力チャネルは、複数の出力端子を含み、
   前記複数のリーク検出抵抗の少なくとも１つは、前記入力チャネルに関連付けられる前記複数の入力端子のそれぞれと、前記複数の出力端子の１つとの間に接続され、
   前記複数の出力端子は、選択された入力チャネルに関連付けられる前記リーク検出抵抗のそれぞれの両端で測定され、前記複数の入力端子のそれぞれに関するリーク電流を示す電圧を供給することを特徴とする請求項１に記載のマルチプレクサ。
7. 前記複数の入力端子は、第１入力端子及び第２入力端子を含み、
   前記複数の出力端子は、第１出力端子、第２出力端子、第３出力端子、及び第４出力端子を含むことを特徴とする請求項６に記載のマルチプレクサ。
8. 前記入力チャネルのそれぞれに関連付けられる前記複数のスイッチは、
   前記第１入力端子と前記第１出力端子とを選択的に接続する第１スイッチと、
   前記第１入力端子と前記第２出力端子との間に第１リーク検出抵抗を選択的に接続する第２スイッチと、
   前記第２入力端子と前記第３出力端子とを選択的に接続する第３スイッチと、
   前記第２入力端子と前記第４出力端子との間に第２リーク検出抵抗を選択的に接続する第４スイッチと、を含み、
   前記第１入力端子を流れる第１リーク電流が、前記第１出力端子と前記第２出力端子の間の電圧差に基づいて測定され、
   前記第２入力端子を流れる第２リーク電流が、前記第３出力端子と前記第４出力端子の間の電圧差に基づいて測定されることを特徴とする請求項７に記載のマルチプレクサ。
9. 前記複数の入力端子は、第１入力端子及び第２入力端子を含み、
   前記複数の出力端子は、第１出力端子、第２出力端子、第３出力端子、第４出力端子、第５出力端子、及び第６出力端子を含むことを特徴とする請求項６に記載のマルチプレクサ。
10. 前記入力チャネルのそれぞれに関連付けられる前記複数のスイッチは、
    第１入力端子と前記第１出力端子とを選択的に接続する第１スイッチと、
    前記第１入力端子と前記第２出力端子との間に第１リーク検出抵抗を選択的に接続する第２スイッチと、
    前記前記第１入力端子と前記第３出力端子との間に第２リーク検出抵抗を選択的に接続する第３スイッチと、
    前記第２入力端子と前記第４出力端子とを選択的に接続する第４スイッチと、
    前記第２入力端子と前記第５出力端子との間に第３リーク検出抵抗を選択的に接続する第５スイッチと、
    前記第２入力端子と前記第６出力端子との間に第４リーク検出抵抗を選択的に接続する第６スイッチと、を含み、
    前記第１入力端子を流れる第１リーク電流が、前記第１出力端子と前記第２出力端子の間の電圧差に基づいて測定され、
    前記第１入力端子を流れる第２リーク電流が、前記第２出力端子と前記第３出力端子の間の電圧差に基づいて測定され、
    前記第２入力端子を流れる第３リーク電流が、前記第４出力端子と前記第５出力端子の間の電圧差に基づいて測定され、
    前記第２入力端子を流れる第４リーク電流が、前記第４出力端子と前記第６出力端子の間の電圧差に基づいて測定されることを特徴とする請求項９に記載のマルチプレクサ。
11. 複数の入力チャネルのいずれかから選択されたセンサ出力、及び選択された入力チャネルに関するリーク電流を示すリーク出力を供給するリーク検出マルチプレクサと、
    前記リーク出力が、前記選択された入力チャネルに関するインテグリティの喪失を示す閾値を超えるリーク電流を示すときに、通知を生成する制御装置と、を有することを特徴とする多重入出力（Ｉ／Ｏ）システム。
12. 前記リーク検出マルチプレクサは、前記複数の入力チャネルのそれぞれに関連付けられる複数の入力端子を含み、
    前記リーク出力は、前記複数の入力端子の少なくとも１つに関するリーク電流を示すことを特徴とする請求項１１に記載の多重入出力システム。
13. 前記リーク検出マルチプレクサは、前記複数の入力チャネルのそれぞれに関連付けられる複数の入力端子を含み、
    前記リーク出力は、特定の入力チャネルに関連付けられる前記複数の入力端子のそれぞれに関するリーク電流を示すことを特徴とする請求項１１に記載の多重入出力システム。
14. 前記制御装置は、前記複数の入力端子のそれぞれに関して供給されるリーク出力に基づいて補正信号を演算し、前記補正信号を前記センサ出力に追加し、前記リーク電流の存在を補償した補正センサ出力を生成することを特徴とする請求項１３に記載の多重入出力システム。
15. 前記制御装置は、前記選択された入力チャネルに接続されたセンサの種別についての情報、及び前記選択された入力チャネルに接続された前記センサに関する抵抗値に更に基づき前記補正信号を演算し、前記マルチプレクサによって供給される前記センサ出力に対する、測定したリーク電流の影響を判定することを特徴とする請求項１４に記載の多重入出力システム。
16. 前記リーク検出マルチプレクサは、前記複数の入力チャネルのそれぞれに接続された少なくとも１つのリーク検出抵抗を含み、
    前記リーク出力は、前記選択された入力チャネルに関連付けられる前記リーク検出抵抗の両端の電圧を示すことを特徴とする請求項１１に記載の多重入出力システム。
17. リーク電流を検出するマルチプレクサであって、
    複数の入力装置に対して接続可能であって、それぞれが前記入力装置の１つに接続するための複数の入力端子を含む複数の入力チャネルと、
    前記複数の入力チャネルのそれぞれに接続され、複数の出力端子を備える共通出力チャネルと、
    前記複数の入力チャネルのそれぞれに関連付けられる複数のスイッチと、
    前記複数のスイッチの１つを含み、前記複数の入力チャネルのそれぞれと前記共通出力チャネルの前記出力端子とを接続する複数のバスラインと、
    前記複数の入力チャネルのそれぞれに関連付けられ、前記複数の入力チャネルのそれぞれに関連付けられる前記複数の入力端子のそれぞれと、前記複数の出力端子の１つとの間に接続された複数のリーク検出抵抗と、を有し、
    前記複数のスイッチの選択的制御により、前記複数の入力チャネルのなかから前記共通出力チャネルに接続される入力チャネルを決定し、
    前記複数の出力端子は、選択された入力チャネルの前記入力端子で受信される信号と、前記選択された入力チャネルに関連付けられる前記リーク検出抵抗のそれぞれの両端において測定され且つ前記複数の入力端子のそれぞれに関するリーク電流を示す電圧とを供給することを特徴とするマルチプレクサ。
18. 前記出力端子に供給される出力を変換するアナログ・デジタル変換器と、
    前記アナログ・デジタル変換器によって供給される前記出力を受信する制御装置と、を有し、
    前記出力は、前記選択された入力チャネルに関連付けられる前記複数の入力端子のそれぞれにおけるリーク電流を示す測定電圧を含み、
    前記制御装置は、前記測定電圧に基づいて、前記複数の入力端子のそれぞれに関する前記リーク電流を検出することを特徴とする請求項１７に記載のマルチプレクサ。
19. 前記制御装置は、前記選択された入力チャネルに関するインテグリティの喪失を示す通知を行うか否かを、前記複数の入力端子のそれぞれに関する検出されたリーク電流に基づいて判定することを特徴とする請求項１８に記載のマルチプレクサ。
20. 前記制御装置は、前記複数の入力端子のそれぞれに関する検出されたリーク電流に基づき補正信号を演算し、前記補正信号を前記センサ出力に加えて前記選択された入力チャネルに供給されるセンサ出力に対する、前記リーク電流の影響を補償することを特徴とする請求項１８に記載のマルチプレクサ。
21. 前記制御装置は、前記選択された入力チャネルに接続されたセンサの種別、及び前記選択された入力チャネルに接続された前記センサに関する抵抗値に基づき、前記選択された入力チャネルに供給される前記センサ出力に対する、前記複数の入力端子のそれぞれにおいて検出される前記リーク電流の影響を演算することを特徴とする請求項２０に記載のマルチプレクサ。

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