JP2013216933A - 膜厚方向に組成比が連続的に変化した薄膜の製造方法 - Google Patents

膜厚方向に組成比が連続的に変化した薄膜の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2013216933A
JP2013216933A JP2012087038A JP2012087038A JP2013216933A JP 2013216933 A JP2013216933 A JP 2013216933A JP 2012087038 A JP2012087038 A JP 2012087038A JP 2012087038 A JP2012087038 A JP 2012087038A JP 2013216933 A JP2013216933 A JP 2013216933A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic flux
target
targets
thin film
sputtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012087038A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5688664B2 (ja
Inventor
Shinichi Morohashi
信一 諸橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaguchi University NUC
Original Assignee
Yamaguchi University NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamaguchi University NUC filed Critical Yamaguchi University NUC
Priority to JP2012087038A priority Critical patent/JP5688664B2/ja
Publication of JP2013216933A publication Critical patent/JP2013216933A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5688664B2 publication Critical patent/JP5688664B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Optical Filters (AREA)

Abstract

【課題】厚さ方向に組成の変化する薄膜、例えばルゲートフィルタ等を容易に作製し得る薄膜の製造方法を提供する。
【解決手段】一対のターゲットホルダーが対向して設けられ、各ターゲットホルダーには、それぞれ異なる材料よりなるTiターゲットとSiターゲットが配置され、各ターゲット上には、それぞれ磁束線のループを形成可能であり、且つ両ターゲット間にも磁束線形成可能である磁束分布可変型対向スパッタ装置を用い、各対向するターゲット上に形成されるループ状の磁束線及び両ターゲット間に形成される磁束線の強度割合を連続的に変化させつつスパッタリングすることを特徴とする、基板上において厚さ方向に組成が連続的に変化した傾斜型組成薄膜の製造方法である。
【選択図】図2

Description

本発明は、スパッタ法により、膜厚方向に連続的に組成比が変化した薄膜(これを傾斜型組成薄膜という)の製造方法に関する。
従来、膜厚方向に組成の異なる薄膜は波長分割多重通信用や光学フィルターとして用いられている。これらは光通信容量の飛躍的な増大に対応する波長分割多重通信の用途や、蛍光分析装置の光学フィルターとして遺伝子解析等に用いられている。
従来、かかる目的で高屈析率層と低屈析率層の2種類の層を重ね合わせて構成するのが一般的であったが、誘電体多層フィルターは、波長多重数の増大を実現するために、より狭いバンド幅や温度変化に対する安定性などに難があった。また、光学フィルターとしても、阻止帯或以外で分光特性に不要な振動(リップル)が発生するので、これを低減するため、ローパスまたはハイパスフィルターを光学フィルターに重ねて用いる必要があった。特に、遺伝子解析等の重要な分析手段である蛍光分析装置の性能は、特定の波長の光のみを反射させ、それ以外の波長の光を透過させる光学フィルターの性能に依存し、これまでの光学フィルターでは遺伝子解析には不十分であった。
これらの欠点を解消する方式として、傾斜型組成薄膜よりなるフィルター、すなわちルゲートフィルターが提案されている。ルゲートフィルターは、薄膜の膜厚方向に連続的に且つ周期的に組成を変化させることにより、屈析率や電気抵抗が連続的に変化した薄膜層よりなるフィルターで、従来型のフィルターでは得られなかった特性を有する光分波能を有する。
ルゲートフィルターの製造方法としては、屈析率の異なる2種類の材料を連続的に組成を変化させながら、混合し薄膜状に基板等に堆積させることにより、両材料の中間の屈析率や電気抵抗が連続的に変化した薄膜とすることができる。
かかるルゲートフィルターとしては従来型の薄膜製造技術を改良したCVD法やスパッタ法が提案されているが、いずれも設計値に従って屈析率を連続的に、且つ高精度で制御することが困難であり、且つ装置も複雑となり高価であった。
たとえばスパッタ法において、スパッタリング中に2種の反応ガス例えば酸素と窒素などを用いて、その組成を変化させる方法(特許文献1)等は、ターゲットとなる金属成分は変えられず、ただ化合物が酸化物や窒化物となるに止まる。また、複数のターゲットを用いる方法もあり、基板を移動(回転)させて、それぞれの材料を所定時間堆積させる方法(特許文献2)は、材料の十分な混合が得られない。また、2種類の材料を同時に放電している2種類のスパッタリングターゲットへの投入パワーを変更し、混合比を変える方法(非特許文献1、非特許文献2)等では、低パワーとなるターゲットの放電維持が困難となる。また改良手段として両ターゲットに投入するパワーは一定に保って、各ターゲットに遮蔽マスクを設け、その開口部を変化させるという技術の提案もなされている(非特許文献2)。これらは、すでに述べた通り、制御に難性があるばかりでなく、マグネトロンスパッタを用いるためにγ電子や反跳アルゴンガス等により、薄膜がダメージを受け、層間の界面の乱れが大きくなり光学フィルターとしての性能が大きく損なわれる惧れがある。
そこで、より安価で、しかもダメージなく容易に精度よく傾斜型組成薄膜を製造する手段が求められていた。
特開2005−330571 特開2004−250784
ULVAC TECHNICAL No.42(1995)26−30 光学36巻No.6(2007)339−344
本発明は、極めて容易な手段で、低ダメージ性を保って精度よく傾斜型組成薄膜を製造する方法を提供することを目的とする。
本願の請求項1に記載の発明は、一対のターゲットホルダーが対向して設けられ、各ターゲットホルダーには、それぞれ異なる材料よりなるターゲットが配置され、各ターゲット上にはそれぞれ磁束線のループを形成可能であり、且つ両ターゲット間にも磁束線形成可能である磁束分布可変型対向スパッタ装置を用い、各ターゲット上の磁束線及び両ターゲット間の磁束線について、その強度割合を連続的に変化させつつスパッタリングすることを特徴とする、基板上において厚さ方向に組成が連続的に変化した傾斜型組成薄膜の製造方法である。
また、本願の請求項2に記載の発明は、各対向するターゲット上に形成されるループ状の磁束線及び両ターゲット間の磁束線の強度割合の変化を複数回周期的に行うことを特徴とする請求項1記載の傾斜型組成薄膜の製造方法である。
また、本願の請求項3に記載の発明は、一対のターゲットのうち、一方がチタン又はチタン酸化物であり他方がシリコン又はシリコン酸化物である請求項1又は2記載の傾斜型組成薄膜の製造方法である。
更に、本願の請求項4に記載の発明は、ターゲットが配置されたターゲットホルダーの一対が、前記ターゲット同士が対向するように配置され、各々の前記ターゲットホルダーの前記ターゲットの配置とは反対の裏面側には、隣り合う磁極要素同士の磁極方向が交互に異なるように複数の永久磁石、電磁石のいずれか又は組合せである磁極要素が配置された磁束分布可変型対向スパッタ装置を用い、前記磁極要素の少なくとも一部を移動、または電磁石の電力量を変化させ磁束線強度を連続的に変化させることにより、各対向するターゲット上に形成されるループ状の磁束線及び両ターゲット間に形成される磁束線について、両ターゲット間の磁束線強度割合を変化させつつスパッタリングを行うことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の傾斜型組成薄膜の製造方法である。
更にまた本願の請求項5に記載の発明は、磁束線強度の変化をそれぞれのターゲットホルダーに印加する電力を異なる割合で変化させることを合せ行うことを特徴とする請求項4記載の傾斜型組成薄膜の製造方法である。
本発明によれば、対向する一対のターゲットに、それぞれ異なる材料を用いて、各ターゲット上にそれぞれループ状の磁束線を形成すると共に、両ターゲット間にも磁束線が形成されるスパッタ装置、すなわち2種類の磁束線パターンを同時に形成し得るスパッタ装置(以下、磁束分布可変型対向スパッタ装置と云う。)を用い、それぞれのターゲットを構成する材料を各対向するターゲット上に形成されるループ状の磁束線及び両ターゲット間に形成される磁束線の強度割合をそれぞれ別個に変化させることにより、それぞれのターゲットからスパッタされる量を変化させ、それらが堆積する基板上での堆積割合を変化させることにより、該堆積物の組成を連続的に変化させ、容易に傾斜型組成薄膜を形成することができる。
更に、本発明の特徴は、各ターゲット上にそれぞれループ状の磁束線を形成しており、且つ両ターゲット間にも磁束線が形成しているため、磁束線はターゲット間の磁束線に拘束され対向空間外に発散することを相当に抑えることが可能となり、プラズマイオンの捕捉性が増し、薄膜形成における低ダメージ性が向上する効果を有する。
本発明において棒状永久磁石を用いた場合の磁束分布可変型対向スパッタの複合磁束分布を説明するための略図である。 本発明方法に用いる磁束分布可変型対向スパッタ装置の概念を説明する略図である。本図では対向するターゲットの左がチタンであり、右がシリコンとして示し、2つのターゲットに印加する電力は1つの電源で接続されて左右ターゲットは同じ印加電力でスパッタリングを行う。 電源が左右ターゲット別々に設けられ独立に電力を印加する場合の、本発明方法に用いる磁束分布可変型対向スパッタ装置の概念を説明する略図である。図2と同じく対向するターゲットの左がチタンであり、右がシリコンとして示し、2つのターゲットに印加する電力は2つの電源で独立に接続されて左右ターゲットは独立に制御した印加電力でスパッタリングを行う。 可動棒磁石を電磁石で置き換えた磁束分布可変型対向スパッタ装置の概念を説明する略図である。磁束の極性及び強度は電磁石に流す電流の正負及び大きさで制御する。 1基の磁束分布可変型対向スパッタ装置を用いた場合の本発明の実施態様の一例であり、対向するターゲット前面にそれぞれ開閉可能なシャッターを設けてある。 3基の磁束分布可変型対向スパッタ装置を用いた場合の本発明の実施態様の一例である。 磁束分布可変機構が設置された回転型対向4元スパッタ装置を用いた場合の本発明の実施態様の一例である。 磁束分布可変型対向スパッタ装置で表1に示した磁石配置タイプ(A)から(E)の対向ターゲット間の各点での磁束密度の大きさ(単位:mT)を示す。 表1に示した本実施例で作製した傾斜型組成薄膜の屈折率のSi/Ti組成比依存性を示す。
本発明は、基板上に傾斜型組成薄膜を形成させる方法を提供するものであり、その原理は、ターゲット対向型のスパッタ装置において対向するターゲットに、それぞれ異なる材料、例えば一方のターゲットにチタン又はチタン酸化物を用い、他方のターゲットにシリコン又はシリコン酸化物を用いた磁束分布可変型対向型スパッタ装置を用い、各対向するターゲット上に形成されるループ状の磁束線及び両ターゲット間に形成される磁束線分布を連続的に変化させることにより、それぞれのターゲットから飛散し基板上へ堆積する各材料の堆積速度を変化させることにより、両ターゲットからの材料の堆積割合を連続的に変化させることにより、傾斜型組成薄膜が得られるのである。
本発明の最大の特徴は、磁束分布可変型対向スパッタ装置を用い、スパッタリング中に磁束線強度を変化させること及び対向するターゲットは、それぞれ異なる材料である点にある。
両ターゲットに用いられる材料は、所望とする傾斜型組成とする薄膜とする組成に応じて選択すればよい。例えば、分光フィルター等ではチタンとシリコンを用い、反応ガスとして酸素を供給するとか、ターゲットをチタン酸化物及びシリコン酸化物とする等である。
またスパッタリング中に磁束強度を変化させる方法は、ターゲットホルダーの裏側の磁石を一部移動させ、ホルダーから遠ざけたり又は近づけたりする方法或いは両ターゲット裏面に設けた電磁石の電流量の割合を連続的に変化させることにより達成される。すなわち、本発明にあっては、対向する両ターゲットについてそれぞれ存在する磁束分布が連続的に変化するよう磁束線を変化させることが重要である。そのためには、両ターゲット間において一方のターゲットホルダーの裏側の磁石を一定速度で移動させるとか、電磁石であれば、電流を減少させるなどにより達成される。勿論対向するターゲットについて両方共磁束線を変化させることもできるが、その場合は両方の変化速度に差を付ける必要がある。かくしてターゲット上に形成される磁束線強度割合を変化させることができるのである。
以下に図面を用いて詳細に説明する。
図1は、各ターゲットホルダー裏面の磁石配置が固定円筒磁石と可動棒磁石からなる磁束分布可変型対向スパッタ装置においては、a)各ターゲットホルダー直下の固定円筒磁石と可動棒磁石で極性が逆向き,b)対向する固定円筒磁石で極性が逆向き、c)対向する可動棒磁石で極性が逆向き、の磁石配置をとることにより、(1)対向する固定円筒磁石による対向状の磁束線分布、(2)対向する可動棒磁石による、固定円筒磁石とは逆向きの対向状の磁束線分布、(3)各ターゲットホルダー裏面の固定円筒磁石と可動棒磁石によるループ状の磁束線分布、からなる複合磁束線分布を形成する。この3つからなる複合磁束線分布の形成が重要な技術要素である。
図2は、本発明方法に用いる磁束分布可変型対向スパッタ装置の概念を説明する略図である。本図では対向するターゲットの左がチタンであり、右がシリコンとして示し、2つのターゲットに印加する電力は1つの電源で接続されて左右ターゲットは同じ印加電力でスパッタリングを行う。図2(a)図では右のシリコンターゲット側の可動棒磁石はターゲットホルダーから離間し、左のチタンターゲット側の可動棒磁石はターゲットホルダーに当接している。図2(b)では右のシリコンターゲット側の可動棒磁石はターゲットホルダーに当接し、左のチタンターゲット側の可動棒磁石はターゲットホルダーから離間している。左右の可動棒磁石の位置を任意の位置に変えながらスパッタを行うことで、所望の組成比が変化した傾斜型組成薄膜の作製ができる。
図3は電源が左右ターゲット別々に設けられ独立に電力を印加する場合の、本発明方法に用いる磁束分布可変型対向スパッタ装置の概念を説明する略図である。図2と同じく対向するターゲットの左がチタンであり、右がシリコンとして示し、2つのターゲットに印加する電力は2つの電源で独立に接続されて左右ターゲットは独立に制御した印加電力でスパッタリングを行う。図3(a)図では右のシリコンターゲット側の可動棒磁石はターゲットホルダーから離間し、左のチタンターゲット側の可動棒磁石はターゲットホルダーに当接している。図3(b)では右のシリコンターゲット側の可動棒磁石はターゲットホルダーに当接し、左のチタンターゲット側の可動棒磁石はターゲットホルダーから離間している。左右の可動棒磁石の位置を任意の位置に変えることと併用して左右のターゲットに印可する電力を制御してスパッタを行うことで、所望の組成比が変化した傾斜型組成薄膜の作製ができる。
図4では可動棒磁石を電磁石で置き換えた配置を示している。磁束の極性及び強度は電磁石に流す電流の正負及び大きさで制御する。この場合は磁石自身を移動させる必要はなく、任意の電磁石に供給する電流量を変化することで磁力を変化させることができ、ターゲット上に形成する磁束分布を変えることができる。勿論対向するターゲットホルダー裏の電磁石への供給電流量の割合を変化させつつ(一方のみの変化を含む)スパッタリングすることで、傾斜型組成薄膜を得ることができる。図4では、中央の棒磁石だけを電磁石として示したが、勿論全磁石を電磁石とすることもできる。
図5は、本発明の実施態様の一例であり、対向するターゲット前面にそれぞれ開閉可能なシャッターを設け、まず、一方(例えばシリコン側)のシャッターを閉じてスパッタリングを行い、基板上に他方の材料(例えばチタン成分)のみを堆積し、所定の厚さになったとき、該シャッターを開き、本発明の両ターゲット間での磁束線強度割合の変化をつけて傾斜型組成膜を形成させ、最後に他方のターゲットのシャッターを閉じて他方の成分(例えばシリコン成分)のみを堆積させることもできる。
図6は3基の磁束分布可変型対向スパッタ装置を用いた場合の例であり、図中左、右の2基は、それぞれ対向するターゲットに同じ材料を用いており、中央の1基に本発明の方法を用いるスパッタ装置を設置した例であり、まず基板上に均一な材料を所定の厚さに堆積させ、次いで基板を中央のスパッタ装置へ移動し、本発明の傾斜型組成薄膜を形成させ、次いで最初のスパッタ装置のターゲットとは異なる材料のターゲットを用いて、該材料による均一な薄膜と形成させる態様である。図3に示すように、電源が左右ターゲット別々に設けられ独立に電力を印加してもよい。
図7は、磁束分布可変機構が設置された回転型対向4元スパッタによる傾斜肩組成薄膜作製方法である。本図では、まず例えばチタン成分同士でスパッタリングを行い、次いでターゲットホルダーを90度回転させ、例えば一方をチタン成分、他方をシリコン成分のターゲットを対向させ、磁束線強度割合を変化させつつスパッタリングを行い、傾斜型組成薄膜を形成させ、所定の厚さになったとき、再度ターゲットホルダーを90度回転させ、対向するターゲットの材料を同じ(例えばシリコン成分)としてスパッタリングを行う例である。この例では4元として示したが、勿論、複数元でよく、またターゲット材料も2種とは限られず、多種材料の堆積層を得ることもできる。
なお、図2,3,5,6においてターゲットに印加する電力を直流として示したが、勿論、本発明は交流であってもまた直流と交流を重ねたものであってもよい。
以下に実施例を示す。
図2に示す如き、磁束分布可変型対向スパッタ装置を用い、対向する一対のターゲットには、一方がシリコン(Si)、他方がチタン(Ti)を用い、共に4Aの電流を印加した。左右のターゲットホルダー裏側の可動棒磁石の位置を変えてスパッタを行った。このときの磁石配置タイプを(A)から(E)として表1に示す。スパッタ圧力は、0.24 Pa、Arを16 sccm、Oを0.5 sccm流し、ターゲット中心から基板までの距離を10 cmとした。両ターゲットホルダー裏側の可動棒磁石の移動距離とそのときの磁石配置タイプ、形成した薄膜の堆積速度、EPMA分析で調べた組成比、エリプソメーターで求めた屈折率の値を表1に示す。尚、TiO2の屈折率は2.53、SiO2の屈折率は1.45である。
図8に,磁束分布可変型対向スパッタ装置で表1に示した磁石配置タイプ(A)から(E)の,対向ターゲット間の各点での磁束密度の大きさ(単位:mT)を示す。図中(AA)の図は磁束密度測定点の場所を示している。図1に示した(1)対向する固定円筒磁石による対向状の磁束線分布、(2)対向する可動棒磁石による、固定円筒磁石とは逆向きの対向状の磁束線分布、(3)各ターゲットホルダー直下の固定円筒磁石と可動棒磁石によるループ状の磁束線分布、の3つからなる複合磁束線分布の形成で、磁束密度の大きさが可動棒磁石位置によって変化している。
図9に表1に示した本実施例で作製した傾斜型組成薄膜の屈折率のSi/Ti組成比依存性を示す。本実施例より、両ターゲットの可動棒磁石を非対称にL=0mmからL=99mmまで動かすことによって、他のスパッタ条件一定であるにも関わらず、Si/Tiの組成比を約90倍変化させ、所望の屈折率を得ることが出来る。

Claims (5)

  1. 一対のターゲットホルダーが対向して設けられ、各ターゲットホルダーには、それぞれ異なる材料よりなるターゲットが配置され、各ターゲット上には、それぞれ磁束線のループを形成可能であり、且つ両ターゲット間にも磁束線形成可能である磁束分布可変型対向スパッタ装置を用い、各対向するターゲット上に形成されるループ状の磁束線及び両ターゲット間に形成される磁束線の強度割合を連続的に変化させつつスパッタリングすることを特徴とする、基板上において厚さ方向に組成が連続的に変化した傾斜型組成薄膜の製造方法。
  2. 各対向するターゲット上に形成されるループ状の磁束線及び両ターゲット間に形成される磁束線の強度割合の変化を複数回周期的に行うことを特徴とする請求項1記載の傾斜型組成薄膜の製造方法。
  3. 一対のターゲットのうち、一方がチタン又はチタン酸化物であり他方がシリコン又はシリコン酸化物である請求項1又は2記載の傾斜型組成薄膜の製造方法。
  4. ターゲットが配置されたターゲットホルダーの一対が、前記ターゲット同士が対向するように配置され、各々の前記ターゲットホルダーの前記ターゲットの配置とは反対の裏面側には、隣り合う磁極要素同士の磁極方向が交互に異なるように複数の永久磁石、ヨーク、電磁石のいずれか又は組合せである磁極要素が配置された磁束分布可変型対向スパッタ装置を用い、前記磁極要素の少なくとも一部を移動、または磁束線強度を連続的に変化させることにより、各対向するターゲット上に形成されるループ状の磁束線及び両ターゲット間に形成される磁束線強度割合を変化させつつスパッタリングを行うことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の傾斜型組成薄膜の製造方法。
  5. 磁束線強度の変化をそれぞれのターゲットホルダーに印加する電力を異なる割合で変化させることを合せ行うことを特徴とする請求項4記載の傾斜型組成薄膜の製造方法。
JP2012087038A 2012-04-06 2012-04-06 膜厚方向に組成比が連続的に変化した薄膜の製造方法 Expired - Fee Related JP5688664B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012087038A JP5688664B2 (ja) 2012-04-06 2012-04-06 膜厚方向に組成比が連続的に変化した薄膜の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012087038A JP5688664B2 (ja) 2012-04-06 2012-04-06 膜厚方向に組成比が連続的に変化した薄膜の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013216933A true JP2013216933A (ja) 2013-10-24
JP5688664B2 JP5688664B2 (ja) 2015-03-25

Family

ID=49589389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012087038A Expired - Fee Related JP5688664B2 (ja) 2012-04-06 2012-04-06 膜厚方向に組成比が連続的に変化した薄膜の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5688664B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10692708B2 (en) 2016-03-30 2020-06-23 Keihin Ramtech Co., Ltd. Sputtering cathode, sputtering device, and method for producing film-formed body

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02179871A (ja) * 1988-12-28 1990-07-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜形成方法およびマグネトロンスパッタ装置
JP2002004033A (ja) * 2000-06-19 2002-01-09 Sony Corp 成膜装置および成膜方法
JP2002266071A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Nippon Sheet Glass Co Ltd 薄膜形成方法及び薄膜形成装置
JP2005179716A (ja) * 2003-12-17 2005-07-07 Sony Corp スパッタリング装置
JP2007154242A (ja) * 2005-12-02 2007-06-21 National Institute For Materials Science 酸化物の混合膜の製造方法
JP2008184625A (ja) * 2007-01-26 2008-08-14 Osaka Vacuum Ltd スパッタ方法及びスパッタ装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02179871A (ja) * 1988-12-28 1990-07-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜形成方法およびマグネトロンスパッタ装置
JP2002004033A (ja) * 2000-06-19 2002-01-09 Sony Corp 成膜装置および成膜方法
JP2002266071A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Nippon Sheet Glass Co Ltd 薄膜形成方法及び薄膜形成装置
JP2005179716A (ja) * 2003-12-17 2005-07-07 Sony Corp スパッタリング装置
JP2007154242A (ja) * 2005-12-02 2007-06-21 National Institute For Materials Science 酸化物の混合膜の製造方法
JP2008184625A (ja) * 2007-01-26 2008-08-14 Osaka Vacuum Ltd スパッタ方法及びスパッタ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10692708B2 (en) 2016-03-30 2020-06-23 Keihin Ramtech Co., Ltd. Sputtering cathode, sputtering device, and method for producing film-formed body

Also Published As

Publication number Publication date
JP5688664B2 (ja) 2015-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3334682B1 (en) Fabrication of nanostructured substrates comprising a plurality of nanostructure gradients on a single substrate
CN110737040B (zh) 3d识别滤光片
Alami et al. Enhanced ionization sputtering: A concept for superior industrial coatings
WO1997000458A1 (en) Optical multiplexing device and method
US9347131B2 (en) Coating substrates with an alloy by means of cathode sputtering
EP1543176B1 (en) A method for depositing multilayer coatings
US10363537B2 (en) Deposition tool for combinatorial thin film material libraries
US11466362B2 (en) Apparatus and methods for depositing durable optical coatings
Li et al. Modeling and validation of uniform large-area optical coating deposition on a rotating drum using microwave plasma reactive sputtering
JP2010245510A (ja) 磁気光学効果特性測定用の組成傾斜フェライト材料およびフェライトの特性評価方法
CN105154843A (zh) 高通量组合材料芯片前驱体沉积设备及其沉积方法
JP5688664B2 (ja) 膜厚方向に組成比が連続的に変化した薄膜の製造方法
JP2004176081A (ja) 原子層堆積法による光学多層膜の製造方法
Ghosh et al. Magnetohydrodynamic convective flow in a rotating channel
Guenther Optical thin films deposited by energetic particle processes
Li et al. Fabrication of multilayer Fresnel zone plate for hard X-ray microscopy by atomic layer deposition and focused ion beam milling
JP4163151B2 (ja) 薄膜系のコーティング装置および方法
US20180002810A1 (en) Thin film deposition system capable of physical vapor deposition and chemical vapor deposition simultaneously
Zhang et al. Experimental demonstration of narrow-band rugate minus filters using rapidly alternating deposition technology
JP5783613B2 (ja) マグネトロンコーティングモジュール及びマグネトロンコーティング方法
JP2004068109A (ja) 反応性スパッタリング用ターゲットおよびそれを用いて成膜した光学薄膜
Spitz et al. Microstructure and hardness of reactively rf magnetron sputtered Cr-VO thin films in dependence on composition and substrate bias
EP3775313A1 (en) A filter for a deposition process, related methods, and products thereof
Rademacher et al. Recent results of optical coatings deposited on the EOSS coater
WO2024056313A1 (en) Process to deposit quantized nano layers by magnetron sputtering

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140206

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20140206

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20140326

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140408

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140602

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20140602

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140812

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141008

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150113

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150116

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5688664

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees