JP2013213839A - 簡易テレセントリックレンズ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】照明部12により試料30のほぼ全面に平行光を照射する。試料30を透過した平行光をアフォーカルレンズ14により収束させる。アフォーカルレンズ14と撮像用の小型テレセントリックレンズ15及びCCDカメラ16とを、光軸19上で空間的に分離して配置する。小型テレセントリックレンズ15及びCCDカメラ16を光軸19上で移動して、試料30の被検査面30aをフォーカスおよびデフォーカスして撮像する。デフォーカス撮影時の表示画面に微小欠陥が顕在化して表示されるため、熟練を要することなく微小欠陥を検出することができる。アフォーカルレンズ14で縮小平行光にして小型テレセントリックレンズ15で撮像するため、テレセントリックレンズが大型化することがない。
【選択図】図1
Description
要になる。このような大口径テレセントリックレンズは非常に高価で、かつ重く、フォーカス、デフォーカスのために光軸上で移動することも容易ではない。また、これら特許文献1,2の方法では、テレセントリックレンズを用いるものの、本発明のようにデフォーカスにより欠陥を顕在化するという技術的思想の開示はない。
ている。また、CCDカメラ16の出力は、液晶パネルからなる表示部18に送られて、試料台13にセットされた試料30の撮影画像が表示部18の表示面18aに表示される。なお、CCDカメラの撮像デバイスは、CCDの他にCMOSやその他のものを用いてよい。
リックレンズ15及びCCDカメラ16の位置を光軸19上で変えると、図3に示すように、被検査面30aがデフォーカスして撮像される。これによって、図3に示す表示部18の表示画像53において、被検査面30aの中央部に対し左側の微小凸欠陥51は明るくなり、また右側の微小凹欠陥52は暗くなり、且つその部分の面積が拡大されることにより顕在化される。したがって、被検査面30aがデフォーカスして撮像された表示画像53では、微小な凸欠陥51及び凹欠陥52が実線で表示したように目視可能になる。
の凹レンズ36および撮像用の小型テレセントリックレンズ15を交換すること無しに、視野を試料30のサイズに簡単に合わせることができ、安価で汎用性の高い検査装置を提供することができる。ただし、照明部12が同じであれば受光画像の明るさは視野の大きさによって当然に変わるので、補正が必要になる場合がある。この場合には、カメラ側や液晶表示パネル側で周知の補正方法によって簡単且つ容易に補正が可能であるが、光源21の発光輝度を変化させることで補正してもよい。
移動のみで行ってもよい。
とり、各欠陥の輝度及び面積をフォーカス時とデフォーカス時とに分けて示したものである。このグラフからも明らかなように、フォーカス時には微小凹凸欠陥51,52は、ほとんど見えなくなるので、判定閾値を越える欠陥面積はゼロに近いが、デフォーカス時には欠陥部面積は顕著に拡大していることが判る。また、凹欠陥と凸欠陥では輝度変化の方向が逆になっていることも判る。
11 フレーム
12 照明部
13 試料台
14 アフォーカルレンズ
15 小型テレセントリックレンズ
16 CCDカメラ
17 レンズ移動部
18 表示部
18a 表示面
19 光軸
21 高輝度拡散LED光源
22 ピンホールプレート
23 コリメート用凸レンズ
24 鏡筒
30 試料
30a 被検査面
32 台移動部
33 操作ダイヤル
35 集光用凸レンズ
36 凹レンズ
38 レンズ鏡筒
41 シフト機構
42 取り付け台
44 操作ダイヤル
50,53,55,56 表示画像
51 微小凸欠陥
52 微小凹欠陥
57 微小異物欠陥
71,72,73 凸レンズ
74 レンズターレット
Claims (2)
- 被検査物からの平行光を集光する凸レンズ、及び前記凸レンズにより集光された光束を縮小平行光にする凹レンズを有するアフォーカルレンズと、
前記アフォーカルレンズにより縮小平行光とされた平行光束が入射される縮小平行光用テレセントリックレンズと、
前記縮小平行光用テレセントリックレンズを前記平行光束の光軸方向に移動自在に保持するレンズ保持部と
を有することを特徴とする簡易テレセントリックレンズ装置。 - 前記アフォーカルレンズの前記凸レンズの直径が75mm以上200mm以下であり、前記凹レンズの直径及び前記テレセントリックレンズの対角視野の直径が70mm以下であることを特徴とする請求項1記載の簡易テレセントリックレンズ装置。
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JP2020051759A (ja) * | 2018-09-21 | 2020-04-02 | キヤノン株式会社 | 異物検査装置、露光装置、および物品製造方法 |
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- 2013-07-24 JP JP2013153215A patent/JP5647716B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP7292842B2 (ja) | 2018-09-21 | 2023-06-19 | キヤノン株式会社 | 異物検査装置、露光装置、および物品製造方法 |
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