JP2013174535A - 対象面検査装置および方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】検査対象面の様相を観察することと、検査対象面における高低差を求めることを、同時に行えるようにする。
【解決手段】断面形状が2次元的な広がりを有する光L0を、光射出部9により射出する。射出された光の断面形状の2次元的な広がりを保ちつつ、この断面形状のエッジを、線分形状の高低差計測用エッジに整形する。整形された光L1を検査対象面1に照射する。検査対象面1における光L1の照射範囲を含む領域を、撮像装置5により撮像して画像を生成する。生成した画像において2次元的に広がる光の照射範囲から検査対象面1の様相を観察する。生成した画像において、光L1の高低差計測用エッジが、線分形状から変形している量を求め、この量に基づいて検査対象面1の高低差を求める。
【選択図】図1

Description

本発明は、2次元的な範囲にわたって検査対象面の様相を観察し、かつ、検査対象面の高低差を計測するための対象面検査装置および方法に関する。
従来において、下記の特許文献1、2では、高温となる炉の内壁面を検査対象面として、その損傷を検査するために、次のようにしている。
特許文献1、2では、熱によって輻射光を発している内壁面に、レーザ光を照射する。レーザ光で照らされた照射範囲を、撮像装置により撮像する。これにより、照射範囲の画像を得る。この画像から内壁面の様相を観察している。なお、得られた画像では、レーザ光を内壁面に照射した範囲においては、レーザ光を照射しない範囲と比べて、内壁面の様相がより詳細に表される。
特許文献2では、線状のレーザビームを炉の内壁面に照射する。線状のレーザビームは、その伝播方向と垂直な断面が線状になっている。内壁面における線状ビームの変形量に基づいて、内壁面の高低差を求めている。
特開2005−146164号公報 特開2004−77019号公報
しかし、検査対象面(例えば炉の内壁面)の様相を、光で照らして観察することと、検査対象面の高低差を求めることとは、同時に行われていなかった。これらを行うためには、次の(1)〜(6)の処理を行う必要がある。
(1)その伝播方向と直交する断面が2次元的な広がりを有する光を、検査対象面に照射する。
(2)この照射範囲を含む領域を撮像する。
(3)これにより得た画像を見て、この領域の様相を観察する。
(4)その伝播方向と直交する断面が線状の光を、検査対象面に照射する。
(5)この照射範囲を含む領域を撮像する。
(6)これにより得た画像における線状光の変形量に基づいて、検査対象面の高低差を求める。
このように、検査対象面の様相を観察し、かつ、検査対象面の高低差を求めるには、上述の(1)〜(6)を行うので、手間がかかる。
そこで、本発明の目的は、検査対象面の様相を観察することと、検査対象面における高低差を求めることとを、同時に行えるようにする装置および方法を提供することにある。
上述の目的を達成するため、本発明によると、2次元的な範囲にわたって検査対象面の様相を観察し、かつ、検査対象面の高低差を計測するための対象面検査装置であって、
検査対象面に、光を照射する光照射装置と、
検査対象面において、光が照射された範囲を含む領域を撮像する撮像装置と、を備え、
光照射装置は、その伝播方向と垂直な平面による断面形状が2次元的な広がりを有する光を射出する光射出部と、
射出された光の前記断面形状の2次元的な広がりを保ちつつ、この断面形状の光のエッジを、線分形状の高低差計測用エッジに整形する光整形部と、を有する、ことを特徴とする対象面検査装置が提供される。
本発明の好ましい実施形態によると、光整形部は、光射出部により射出された光の一部の伝播方向を変える伝播方向変更部材、又は、光射出部により射出された光の一部を吸収する光吸収部材であり、
伝播方向変更部材、又は、光吸収部材は、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光の通過範囲の内部に位置する線分状外縁を有する。
本発明の好ましい実施形態によると、光整形部は、光射出部により射出された光の一部の伝播方向を変える伝播方向変更部材であり、
伝播方向変更部材は、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光の通過範囲の内部に位置する線分状外縁を有し、
前記通過範囲において伝播方向変更部材が存在する部分の光を非照射光とし、前記通過範囲において伝播方向変更部材が存在しない部分の光を検査対象面への照射光として、
伝播方向変更部材は、非照射光の伝播方向を、照射光の伝播方向と異なる方向に変えることにより、その線分状外縁が、照射光の断面形状における高低差計測用エッジを形成する。
代わりに、光整形部は、光射出部により射出された光の一部の伝播方向を変える伝播方向変更部材であり、
伝播方向変更部材は、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光の通過範囲の内部に位置する線分状外縁を有し、
前記通過範囲において伝播方向変更部材が存在する部分の光を検査対象面への照射光とし、前記通過範囲において伝播方向変更部材が存在しない部分の光を非照射光として、
伝播方向変更部材は、照射光の伝播方向を、非照射光の伝播方向と異なる方向に変えることにより、その線分状外縁が、照射光の断面形状における高低差計測用エッジを形成する。
本発明の好ましい実施形態によると、光整形部が伝播方向変更部材である場合において、光照射装置は、熱で輻射光を発している検査対象面に、前記光としてレーザ光を照射する。
他の構成例では、光整形部は、光射出部により射出された光の一部を吸収する光吸収部材であり、
光吸収部材は、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光の通過範囲の内部に位置する線分状外縁を有し、
前記通過範囲において光吸収部材が存在する部分の光を非照射光とし、前記通過範囲において光吸収部材が存在しない部分の光を照射光として、
光吸収部材は、非照射光を吸収することにより、その線分状外縁が、照射光の断面形状における高低差計測用エッジを形成する。
本発明の好ましい実施形態によると、撮像装置により得た画像に基づいて、検査対象面における高低差を算出する画像処理装置を備え、
画像処理装置は、前記断面形状の高低差計測用エッジが、画像において、線分形状から変形している量に基づいて、高低差を算出する。
また、本発明の好ましい実施形態によると、検査対象面は、炉内の内壁面であり、
光照射装置は、熱で輻射光を発している前記内壁面に、前記光としてレーザ光を照射する。
上述の目的を達成するため、本発明によると、2次元的な範囲にわたって検査対象面の様相を観察し、かつ、検査対象面の高低差を計測する対象面検査方法であって、
その伝播方向と垂直な平面による断面形状が2次元的な広がりを有する光を、光射出部により射出し、
射出された光の前記断面形状の2次元的な広がりを保ちつつ、この断面形状の光のエッジを、線分形状の高低差計測用エッジに整形し、
整形された光を検査対象面に照射し、
検査対象面における光の照射範囲を含む領域を、撮像装置により撮像して画像を生成し、
生成した画像において2次元的に広がる光の照射範囲から検査対象面の様相を観察し、
生成した画像において、前記断面形状の高低差計測用エッジが、線分形状から変形している量を求め、この量に基づいて高低差を求める、ことを特徴する対象面検査方法が提供される。
上述した本発明によると、光整形部に整形された光の断面形状は、2次元的な広がりを有することにより、検査対象面における光の照射範囲が、2次元的な広がりを有するようにできる。したがって、光に照らされた検査対象面の様相を、2次元的な範囲で観察することができる。
また、上述した本発明によると、光の断面形状のエッジを、光整形部により、線分形状の高低差計測用エッジにする。したがって、検査対象面において、高低差計測用エッジが線分形状から変形している量を求め、この量に基づいて、検査対象面の高低差を求めることができる。
よって、検査対象面の様相を観察することと、検査対象面における高低差を求めることとを、同時に行える。
本発明の実施形態による対象面検査装置の構成を示す。 (A)は、図1のIIA−IIA断面図であり、(B)は、図1のIIB−IIB断面図であり、(C)は、図1のIIC−IIC断面図であり、(D)は、(C)において光の照射範囲(斜線部分)を省略した図である。 光整形部を示す。 本発明の実施形態による対象面検査方法を示すフローチャートである。 検査対象面における高低差の算出を説明する図である。 図1の対象面検査装置が炉の内壁面を検査する場合の構成を示す。 図6の部分拡大図である。 (A)は、本発明の実施形態による対象面検査方法で撮像した画像であり、(B)は、(A)の画像を微分した画像である。 (A)は、図8(A)の画像にノイズ処理を行った画像であり、(B)は、(A)の画像においてエッジをトレースした画像である。 光整形部の変更例を示す。
本発明の好ましい実施形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において共通する部分には同一の符号を付し、重複した説明を省略する。
図1は、本発明の実施形態による対象面検査装置10の構成を示す。対象面検査装置10は、2次元的な範囲にわたって検査対象面1の様相を観察し、かつ、検査対象面1の高低差を計測するための装置である。
対象面検査装置10は、光照射装置3と、撮像装置5と、画像処理装置7とを備える。
光照射装置3は、検査対象面1に光L1を照射する。光照射装置3は、光射出部9と光整形部11とを有する。
光射出部9からの光の断面形状を図2(A)(B)に示す。図2(A)は、図1におけるIIA−IIA線断面図であり、図2(B)は、図1におけるIIB−IIB線断面図である。
光射出部9は、図2(A)に示すように、その伝播方向と直交する平面による断面形状(この図の斜線部分)が2次元的な広がりを有する光L0を射出する。光射出部9は、撮像装置5に感知される波長の光L0を射出する。光射出部9により射出される光L0は、例えば、可視光線、赤外線、紫外線またはミリ波である。図2(A)の例では、光L0の前記断面形状は、円形であるが、他の形状(例えば矩形)であってもよい。
光整形部11は、光射出部9から射出された光の前記断面形状の2次元的な広がりを保ちつつ、この断面形状のエッジE0を、線分形状の高低差計測用エッジE1に整形する。例えば、図2(A)に示す光L0の断面形状を、図2(B)に示す光L1の断面形状(この図の斜線部分)に整形する。また、2次元的な広がりは、光L1が検査対象面1に照射された際に、撮像装置5にて検査対象面1の様相を観察できる程度に確保できればよく、適宜設定すればよい。光L1がスリット光では当該様相の観察は難しい。
撮像装置5は、検査対象面1において、光照射装置3により光L1が照射された範囲を含む領域を撮像する。図1において、符号27は、光照射装置3が備える投光ミラーを示し、符号29は、撮像装置5が備える受光ミラーを示し、符号33は、撮像装置5の撮像素子を示す。
図2(C)は、図1のIIC−IIC線矢視図である。図2(D)は、図2(C)において、光L1の図示を省略している。図2(C)(D)において、撮像装置5による検査対象面1の撮像範囲(破線で囲んだ範囲)Rと、この撮像範囲R内にある窪み1aとを示している。窪み1aは、図2(C)(D)において、多数の点が打たれており実線Sで囲まれた範囲である。図2(C)において光L1の照射範囲を斜線部分で示している。
なお、図2(C)は、検査対象面1を示すが、この図において窪み1aとレーザ光L1以外の図示を省略している。図2(D)は検査対象面1を示すが、この図において窪み1a以外の図示を省略している。
また、図2(C)はレーザ光L1が検査対象面1に照射された時点での状態を示している。
撮像装置5は、レーザ光L1が検査対象面1に照射された時点で、光照射装置3が検査対象面1に光L1を照射する方向と異なる方向から、検査対象面1を撮像する。これにより、図2(C)に示すように、検査対象面1の高低差により線分状から変形した高低差計測用エッジE1を、撮像装置5により撮像できるようになる。
本実施形態によると、光整形部11は、光射出部9により射出された光L0の一部の伝播方向を変える伝播方向変更部材11である。伝播方向変更部材11は、光L0の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光L0の通過範囲の内部に位置する線分状外縁11aを有する。
ここで、光射出部9からの光L0のうち、前記通過範囲において伝播方向変更部材11が存在する部分に入射する光を、非照射光L2とし、前記通過範囲において伝播方向変更部材11が存在しない部分に入射する光を、照射光L1とする。
伝播方向変更部材11は、非照射光L2の伝播方向を、照射光L1の伝播方向と異なる方向に変更することにより、その線分状外縁11aが、照射光L1の断面形状における高低差計測用エッジE1を形成する。
このような光整形部11の構成例を、図3(A)と図3(B)に基づいて説明する。
図3(A)の構成例では、伝播方向変更部材11は、くさび形に形成された光学部材である。この伝播方向変更部材11は、入射した非照射光L2を、照射光L1と異なる方向に全反射させる反射面11bを有する。なお、図3(C)は、図3(A)のC−C線矢視図であり、照射光L1と伝播方向変更部材11のみを図示している。
図3(B)の構成例では、伝播方向変更部材11は、くさび形に形成された光学部材である。この伝播方向変更部材11は、入射した非照射光L2を、照射光L1と異なる方向に屈折させる。なお、図3(D)は、図3(B)のD−D線矢視図であり、照射光L1と伝播方向変更部材11のみを図示している。
図3(A)または図3(B)に示す伝播方向変更部材11の材質は、例えば、石英、耐熱ガラス、または、YAG(イットリウムとアルミニウムの複合酸化物:YAl12)であってよい。好ましくは、伝播方向変更部材11の材質をYAGする。YAGは、石英材に比べ脆くないため加工時の割れや欠けがおきにくいので、凹凸がない線分状外縁11aを形成できる。これにより、その線分状外縁11aの加工精度が石英の場合よりも高くなる。また、YAGにより、伝播方向変更部材11の耐熱性も高くなる。
図3(A)または図3(B)の例では、伝播方向変更部材11の線分状外縁11aは、光L0の前記断面形状を2等分する線分に一致する。
好ましくは、反射防止部12が設けられる。反射防止部12は、図3(A)または図3(B)に示す伝播方向変更部材11により伝播方向が変更された非照射光L2を吸収する。これにより、非照射光L2の反射光が飛び散って撮像装置5による撮像画像に悪影響を与えることが避けられる。反射防止部12は、例えば、非照射光L2が入射する構造物の表面に形成された黒いアルマイト被膜であってよい。
反射防止部12を設けるときにおいて、後述する図6や変更例3の場合のように、光L0がエネルギー密度の高いレーザ光である場合には、次の(A)(B)の一方または両方を採用するのがよい。
(A)反射防止部12が設けられる構造物18を耐熱材で形成する。
(B)反射防止部12と、反射防止部12が設けられた構造物18との一方または両方に、図3に示すように、冷却用空気を噴出するエア噴出部14を設ける。図3の例では、エア噴出部14は、冷却用の圧縮空気が内部に供給されるチューブにより構成され、このチューブ14に設けた孔16から、内部の圧縮空気を、反射防止部12と構造物18の一方または両方に噴出する。
画像処理装置7は、撮像装置5により得た画像に基づいて、検査対象面1における高低差を算出する。すなわち、画像処理装置7は、線分形状に整形された高低差計測用エッジE1が、画像において、線分形状から変形している量に基づいて、高低差を算出する。なお、検査対象面1が平面である場合には、検査対象面1(すなわち、撮像装置5で得た画像)において、高低差計測用エッジE1の形状は、線分状に保たれる。また、高低差とは、例えば、検査対象面1における窪み1aの深さ、または、凹凸量である。
図4は、上述した対象面検査装置10を用いた対象面検査方法を示すフローチャートである。
ステップS1において、その伝播方向と垂直な平面による断面形状が2次元的な広がりを有する光L0を、光射出部9により射出する。
ステップS2において、光射出部9により射出された光L0の前記断面形状の2次元的な広がりを保ちつつ、光整形部11により、この断面形状のエッジE0における少なくとも一部を、線分形状の高低差計測用エッジE1に整形する。
ステップS3において、整形された光L1を検査対象面1に照射させる。
ステップS4において、検査対象面1における光L1の照射範囲を含む領域を、撮像装置5により撮像して画像を生成する。
ステップS5において、ステップS4で生成した画像において2次元的に広がる光L1の照射範囲から検査対象面1の様相を観察する。この画像を表示装置の画面に表示させ、人が、表示されたこの画像を見ることにより、検査対象面1の様相を観察する。
ステップS6において、ステップS4で生成した画像において、光L1の高低差計測用エッジE1が、線分形状から変形している量を求め、この量に基づいて、画像処理装置7により高低差を求める。
ステップS6は、好ましくは、ステップS61〜S63を有する。
ステップS61において、画像処理装置7により、撮像装置5が取得した画像に基づいて、検査対象面1において、光L1が照射されている範囲のエッジを示す画像(エッジ画像という)を生成する。このエッジ画像は、高低差計測用エッジE1を識別可能な画像である。具体的には、撮像装置5が得た画像を構成する各画素に対して、輝度に関して微分することにより、エッジ画像として微分画像を生成する。この微分の方向は、高低差計測用エッジE1と交差する方向である。微分画像においては、高低差計測用エッジE1に相当する画素が強調されている。図2(C)に対応する図5(A)は、この微分画像を模式的に表している。なお、ステップS61において、微分処理に加えて、撮像装置5により得た画像に対して他の処理(例えばノイズ除去処理)も行ってよい。
ステップS62では、画像処理装置7により、ステップS61で得た微分画像において、図5(B)に示されるずれ寸法ΔPを特定する。図5(B)は、図1の部分拡大図であり、窪み1aの近傍を示す。ずれ寸法ΔPは、検査対象面1が平面であると仮定した場合に、検査対象面1において高低差計測用エッジE1が延びる方向(基準方向という)の各位置において、高低差計測用エッジE1が、線分形状から実際に変形している量である。この変形量は、微分画像において、検査対象面1が平面であると仮定した場合における高低差計測用エッジE1から、実際の高低差計測用エッジE1が変位している量である。この変位の方向は、検査対象面1に沿った方向であり、基準方向と直交する方向である。
ステップS63において、寸法ΔPに基づいて、検査対象面1における実際の高低差D(図5(B)を参照)を算出する。この算出は、次の式(1)により行われる。

D=ΔP×(1/M)×(cosα/sinθ) ・・・(1)

式(1)において、Mは、撮像装置5の撮像倍率であり、この撮像倍率は、一般に次のように表される。

M=g(f,X)

ここで、gは、fとXを変数とする関数である。fは、撮像装置5の撮像レンズの焦点距離であり、Xは、受光レンズ31(後述の図6を参照)から検査対象面1までの既知の距離である。
また、式(1)において、θは、図5(B)に示す角度である。すなわち、θは、光照射装置3により光L1を検査対象面1に照射する方向と、撮像装置5により検査対象面1を撮像する方向(図5(B)の破線の方向)とのなす角度である。
式(1)において、αは、図5(B)に示す角度である。すなわち、αは、検査対象面1に対する照射光L1の入射角である。
なお、ステップS6における高低差の算出は、画像処理装置7ではなく、人が行ってもよい。この場合、次のように、ステップS6を行ってよい。まず、ステップS4で生成した画像、または、ステップS61で画像処理装置7が生成した微分画像に基づいて、人が、上述のΔPを特定する。次いで、人が、例えば、図示しない演算装置を用いて、このΔPと上述の式(1)により高低差Dを求める。
また、広範囲にわたって、検査対象面1の様相と検査対象面1の高低差とを得るために、次のように光L1をスキャンしてもよい。
検査対象面1における光L1の照射範囲を変えながら、変えられた複数の照射範囲をそれぞれ含む複数の領域を、それぞれ複数の時点で撮像装置5により撮像してよい。
これにより複数の画像を得ることができる。このように得た複数の画像から、検査対象面1の様相を示す広範囲な画像を得ることができる。
また、得られた複数の画像から、上述のように高低差Dを求めることができる。したがって、検査対象面1における高低差Dの分布を得ることができる。この場合、好ましくは、検査対象面1における光1のエッジE1の位置を微小量だけ変えるように検査対象面1に対する光1の照射範囲を変えながら、上述のように、変えられた複数の照射範囲をそれぞれ含む複数の領域を、それぞれ複数の時点で撮像装置5により撮像してよい。
上述のスキャンをする場合に、検査対象面1に対する光1の照射範囲と撮像装置5による撮像範囲の変更は、例えば次のように行ってよい。投光ミラー27と受光ミラー20を回転させる。または、光照射装置3と撮像装置5を(例えば検査対象面1に沿って)移動させる。
以下において、対象面検査装置10が、検査対象面1として炉2の内壁面を検査する場合を説明する。以下で説明しない点は、上述と同じである。
図6は、炉2の内壁面1を検査する対象面検査装置10を示す。
炉2の内部は、1100℃以上の高温になっており、炉2の内壁面1は、熱による輻射光で発光している。このような炉2は、例えば、製鉄用高炉に高温の熱風を供給する熱風炉である。1100℃以上の高温では、輻射光による発光エネルギが強いため、照射光が弱いと検査対象面1の検査及び観察が困難となることから、当該輻射光よりも単位面積当たりの強度が高い光を照射することが好ましく、以下の実施形態では、この条件を満たすレーザ光を用いている。
対象面検査装置10は、光照射装置3の少なくとも一部と撮像装置5を内部に収容する箱体13を備える。なお、画像処理装置7は、図6に示さないが、箱体13の外部であって炉2の外部に設けられるのがよい。
箱体13の壁13aには、投光窓15と受光窓17が形成されている。投光窓15と受光窓17は、例えば、石英板により構成されている。箱体13は、炉2の壁に形成された開口部19から炉2内に挿入され、投光窓15と受光窓17が内壁面1に対向するように配置される。
箱体13は、図6の例では、その壁13aの内部に、冷却液が流れる流路(図示せず)が形成されている。また、箱体13は、好ましくは筒状であり、この筒の側面に投光窓15と受光窓17が設けられている。
光照射装置3の光射出部9は、図6の例では、レーザ発振装置21と光ファイバ23と投光レンズ25とにより構成される。
レーザ発振装置21は、前記光L0としてレーザ光を射出する。レーザ光L0は、炉2内の内壁面1を照らすための照明光としてレーザ発振装置21から射出される。高炉用の熱風炉2では、輻射光は赤外域の2〜3μmにピーク波長を有する光である。このピーク波長と異なる波長のレーザ光L0を、レーザ発振装置21により射出するのがよい。この場合、レーザ発振装置21として、例えば、1.06μmまたは0.53μm(第2高調波)の波長のNd:YAGレーザ装置が採用される。
なお、図6の例では、レーザ発振装置21は、箱体13の外部であって炉2の外部に配置されている。
光ファイバ23は、レーザ発振装置21から射出されたレーザ光L0を投光レンズ25に案内する。
投光レンズ25には、レーザ光L0が入射し、内壁面1におけるレーザ光L1の照射範囲が投光レンズ25により調整される。内壁面1におけるレーザ光L1の照射範囲は、内壁面1の輻射光に抗して内壁面1を照らし出せる大きさになっている。例えば、投光レンズ25は、光ファイバ23からの極細(例えば、直径1mm程度)のレーザ光L0を、内壁面1(例えば約5m先の炉2の内壁面1)において、直径が約140cmの半円の範囲に照射させる。なお、レーザ光L0の直進性から広がり角が十分に小さく、レーザ発振装置21のみで照射範囲を調整することができる場合や所望の照射範囲を確保できる場合には、投光レンズ25を省略してもよい。好ましくは、図6のように、内壁面1に、シャープな高低差計測用エッジE1を投影するために、複数の投光レンズ25が設けられる。
光整形部11は、図6の例では、複数の投光レンズ25の間に設けられている。
光照射装置3は、図6の例では、投光ミラー27を備えている。投光ミラー27は、光整形部11により断面形状が整形されたレーザ光L1を、内壁面1に向けて反射させる。好ましくは、投光ミラー27は、揺動軸C1回りに回転可能になっており、図示しないアクチュエータにより揺動軸C1回りにその回転角が調節可能になっている。この揺動軸C1は、図6の紙面と垂直な方向を向いている。
エア噴出部14は、図6の例では、箱体13の外部であって炉2の外部から、箱体13内へ延びて、反射防止部12の近傍に至るチューブである。チューブ14について、図7も参照して説明する。図7は、図6の部分拡大図であり、光整形部11近傍の構成のみを示している。
箱体13の外部において、チューブ14の内部に冷却用の圧縮空気が供給される。チューブ14は、反射防止部12の近傍において孔16を有する。孔16は、反射防止部12と、反射防止部12が設けられた構造物18との一方または両方へ内部の圧縮空気を噴出する。図6と図7の例では、チューブ14は、第1チューブ部14aと第2チューブ部14bとを有する。第1チューブ14a部は、変形自在な材質(例えばゴム)で形成されており、箱体13の外部に位置する。第2チューブ部14bは、第1チューブ14aに接続されて箱体13の内部に位置する。第2チューブ部14bは、箱体13に対して固定され、変形しない材質(例えば金属)により形成されている。
撮像装置5は、受光ミラー29と、受光レンズ31と、撮像素子33と、光学フィルタ35とコールドフィルタ37とを有する。
受光ミラー29は、受光窓17を透過した反射レーザ光を、受光レンズ31と撮像素子33に向けて反射させる。反射レーザ光は、レーザ発振装置21から射出され、内壁面1で反射されたものである。好ましくは、受光ミラー29は、揺動軸C2回りに回転可能になっており、図示しないアクチュエータにより揺動軸C2回りにその回転角が調節可能になっている。揺動軸C2は、図6の紙面と垂直な方向を向いている。
受光レンズ31は、受光ミラー29からの反射レーザ光を撮像素子33に結像させる。
撮像素子33は、受けた反射レーザ光に基づいて画像データを生成する。撮像素子33は、CCDやCMOSなどの固体撮像素子であってよい。
光学フィルタ35は、箱体13内に設けられ、撮像素子33の上流側に位置する。光学フィルタ35は、一例では、レーザ発振装置21が射出するレーザ光L0と同じ波長の光のみを透過させるものである。代わりに、光学フィルタ35は、前記レーザ光L0の波長を有する光だけでなく、所望の他の波長を有する光も透過させるものであってもよい
コールドフィルタ37は、箱体13内に設けられ、炉2内からの熱線をカットする。
上述した構成の対象面検査装置10により、レーザ光L1をスキャンして検査対象面1を検査してもよい。
このスキャンを、光照射装置3と撮像装置5を検査対象面1に沿って移動させることにより行う場合を説明する。
(1)図6のように、炉2の壁の上部に形成された開口部19から箱体13を鉛直方向に炉2の内部へ挿入する。
(2)次いで、光照射装置3により、レーザ光L1を検査対象面1に照射し、このレーザ光L1の照射範囲を含む領域を、撮像装置5により撮像して、この領域の画像を取得する。
(3)その後、箱体13(すなわち光照射装置3と撮像装置5)を、鉛直方向に設定量だけずらして、前記(2)を再び行う。ここで、光照射装置3をずらすとは、箱体13と一体に移動することになる光照射装置3の部分(例えば投光レンズ25や投光ミラー27)をずらすこと意味し、光照射装置3のレーザ発振装置21は静止していてよい。
以降は、前記(3)を繰り返すことにより、複数の画像を得る。得られた各画像に基づいて、内壁面1の様相を観察する。また、得られた各画像に基づいて、上述のように、検査対象面1の高低差を求める。これにより、検査対象面1の高低差の分布が得られる。
上述した本発明の実施形態によると、以下の効果が得られる。
光整形部11に整形された光L1の断面形状は、2次元的な広がりを有することにより、検査対象面1における光L1の照射範囲が、2次元的な広がりを有するようにできる。すなわち、撮像装置5により得た画像において、光L1の照射範囲内で、複数の画素の間での輝度変化が、2次元的に表現されるようにすることができる。したがって、この画像に基づいて、光L1に照らされた検査対象面1の様相を、2次元的な範囲で観察することができる。
また、光L0の断面形状のエッジE0を、光整形部11により、線分形状の高低差計測用エッジE1にする。検査対象面1において、高低差計測用エッジE1が線分形状から変形している量を求め、この量に基づいて、検査対象面1の高低差を求めることができる。
また、光整形部11は、伝播方向変更部材であることにより、光整形部11が、光L0のエネルギにより熱で損傷することを防止できる。例えば、光整形部11の位置で、レーザ光L0のエネルギー密度が高い場合であっても、レーザ光L0のエネルギで光整形部11が損傷することを防止できる。
これに対し、光整形部11が光L0を吸収するものである場合には、光L0がエネルギ密度が高いレーザ光L0であると、光整形部11は、吸収したレーザ光L0により熱損傷を受けやすい。この点を考慮して、本実施形態では、光整形部11は、レーザ光L0を吸収しない伝播方向変更部材として構成されている。
また、検査対象面1が円筒状や球状の炉内壁面1などの場合は、図6の装置(箱体13)が回転できることが好ましく、更に、上下移動(軸方向での移動、図では上下)できることがより好ましい。装置(箱体13)が回転することで、検査対象面1を円周方向に連続的に観察及び検査することができる。その際、内壁面1における線分形状の高低差計測用エッジE1を回転方向と平行になるように配置すれば、ある断面での円周全周に亘って凹凸の状況を、容易に連続的且つ定量的に測定できる。また、更に装置(箱体13)が上下移動できる場合は、これを併用することで、投光ミラー27及び受光ミラー29の角度を固定したまま容易に、内壁面1を広範囲に、円周全周に亘って凹凸の状況を連続的且つ定量的に測定できる。なお、このように箱体13を回転させる場合や、箱体13を上下移動させる場合には、箱体13の中心軸(図6の上下に延びる軸)が、炉内壁面1の前記円筒状の中心軸と一致し、または、炉内壁の前記球状の中心を通る直線と一致するようにすることが好ましい。
[実施例]
図8と図9は、上述した対象面検査方法により得た熱風炉2の内壁面1の画像を示す。
次の条件の下で実施例を行って、図8と図9の画像を得た。この実施例では、レーザ光L0としてパルスレーザ光を用いた。また、図8と図9は、撮像範囲内のレーザ光L1で照射された範囲の一部を高低差計測用エッジE1を含めて、画像処理により矩形状に切り出した画像である。

炉内温度:約1200℃
投影角度:18.4度
撮像角度:17.0度
撮像素子距離:約5.5m
分解能:約4.5cm
レーザ光L0の波長:0.53μm
パルスレーザ光L0のパルス幅:15ns
レーザ光L1のエネルギー密度:投光窓15において約200mW/cm、内壁面1において約0.01mW/cm

なお、投影角度は、レーザ光L1(レーザ光L1の中心)の内壁面1への入射角であり、撮像角度は、撮像装置5の視線の内壁面1への入射角である。投影角度が18.4度であり、撮像角度:17.0度であるので、レーザ光L1(レーザ光L1の中心)の内壁面1への入射方向と、撮像装置5の視線の内壁面1への入射方向とのなす角度は1.4度である。
撮像素子距離とは、レーザ光L1が内壁面1で反射した時点から撮像素子33に至るまでに、この反射レーザ光L1が進行する距離である。
分解能は、この実施例により求められた内壁面1の高低差の分解能である。
図8(A)は、ステップS4で生成された画像である。
図8(B)は、ステップS4で得た画像に基づいて、ステップS61において生成した微分画像である。
図9(A)は、図8(B)の画像に対してノイズ除去処理を行うことにより得た画像である。
図9(B)は、図9(A)の画像において、エッジをトレースすることにより得た画像である。
図9(B)から判るように、本発明により、高低差計測用エッジE1の変形量ΔPを認識することができた。このΔPから、高低差Dを上述した(1)式から求めることができ、本画像の範囲内における最大の高低差Dは、180mmであることが判った。
本発明は上述した実施の形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更を加え得ることは勿論である。例えば、以下の変更例1〜3のいずれかを採用してもよいし、変更例1〜3を任意に組み合わせて採用してもよい。
(変更例1)
光射出部9からの光L0のうち、光L0の通過範囲(光L0の伝播方向から見た通過範囲)において伝播方向変更部材11が存在する部分に入射する光を、検査対象面1への照射光とし、当該通過範囲において伝播方向変更部材11が存在しない部分に入射する光を、非照射光としてもよい。この場合、伝播方向変更部材11は、次のように図3(A)または図3(B)に示すものと同じ構成を有していてよい。
伝播方向変更部材11が、図3(A)のように、光射出部9から入射した光L0(照射光)を、非照射光と異なる方向に全反射させる反射面11bを有する場合には、反射面11bで反射された照射光が、検査対象面1に照射される。この場合、反射面11bで反射された照射光を、検査対象面1に入射させる光学系を設けてもよい。
伝播方向変更部材11が、図3(B)のように、光射出部9から入射した光L0(照射光)を、非照射光と異なる方向に屈折させる場合には、屈折された照射光が、検査対象面1に照射される。この場合、屈折された照射光を、検査対象面1に入射させる光学系を設けてもよい。
この変更例1において、他の点は、上述した内容と同じである。例えば、この変更例1において、好ましくは、非照射光を、上述のように反射防止部12に入射させる。
(変更例2)
光整形部11は、光射出部9により射出された光の一部を吸収する光吸収部材であってもよい。この場合における光整形部11を図10に示す。図10(B)は、図10(A)のB−B線断面図である。光吸収部材11は、図10に示すように、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光L0の通過範囲の内部に位置する線分状外縁11aを有する。また、光吸収部材11は、非照射光L2を吸収することにより、その線分状外縁11aが、照射光L1の断面形状における高低差計測用エッジE1を形成する。光吸収部材11は、例えば、黒色アルマイト処理を施した部材(一例ではアルミ材)である。特に、光L0がエネルギー密度の高いレーザ光ではない場合に、光整形部11を光吸収部材として構成するのがよい。
この変更例2において、他の点は、上述した内容と同じである。
(変更例3)
図6では、検査対象面1は炉2の内壁面であったが、検査対象面1は、熱間圧延されたスラブの表面であってよい。このスラブの表面は熱で輻射光を発している。また、このスラブは、連続鋳造機から搬送されて圧延された直後のものであってよい。このスラブは、例えば1100℃以上の高温になっているので、検査対象面1に照射する光L1は、炉2の内壁面1に照射した上述のレーザ光と同じであるのがよい。
この変更例3において、他の点は、図1〜図5を参照して上述した内容と同じである。
1 検査対象面(内壁面)、2 炉、3 光照射装置、5 撮像装置、7 画像処理装置、9 光射出部、10 対象面検査装置、11 光整形部(伝播方向変更部材、光吸収部材)、11a 線分状外縁 11b 反射面、12 反射防止部、13 箱体、13a 箱体の壁、14 エア噴出部(チューブ)、14a 第1チューブ部、14b 第2チューブ部、15 投光窓、16 孔 17 受光窓、18 構造物、19 開口部、21 レーザ発振装置、23 光ファイバ、25 投光レンズ、27 投光ミラー、29 受光ミラー、31 受光レンズ、33 撮像素子、35 光学フィルタ、37 コールドフィルタ

Claims (9)

  1. 2次元的な範囲にわたって検査対象面の様相を観察し、かつ、検査対象面の高低差を計測するための対象面検査装置であって、
    検査対象面に、光を照射する光照射装置と、
    検査対象面において、光が照射された範囲を含む領域を撮像する撮像装置と、を備え、
    光照射装置は、その伝播方向と垂直な平面による断面形状が2次元的な広がりを有する光を射出する光射出部と、
    射出された光の前記断面形状の2次元的な広がりを保ちつつ、この断面形状の光のエッジを、線分形状の高低差計測用エッジに整形する光整形部と、を有する、ことを特徴とする対象面検査装置。
  2. 光整形部は、光射出部により射出された光の一部の伝播方向を変える伝播方向変更部材、又は、光射出部により射出された光の一部を吸収する光吸収部材であり、
    伝播方向変更部材、又は、光吸収部材は、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光の通過範囲の内部に位置する線分状外縁を有する、ことを特徴とする請求項1に記載の対象面検査装置。
  3. 光整形部は、光射出部により射出された光の一部の伝播方向を変える伝播方向変更部材であり、
    伝播方向変更部材は、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光の通過範囲の内部に位置する線分状外縁を有し、
    前記通過範囲において伝播方向変更部材が存在する部分の光を非照射光とし、前記通過範囲において伝播方向変更部材が存在しない部分の光を検査対象面への照射光として、
    伝播方向変更部材は、非照射光の伝播方向を、照射光の伝播方向と異なる方向に変えることにより、その線分状外縁が、照射光の断面形状における高低差計測用エッジを形成する、ことを特徴とする請求項2に記載の対象面検査装置。
  4. 光整形部は、光射出部により射出された光の一部の伝播方向を変える伝播方向変更部材であり、
    伝播方向変更部材は、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光の通過範囲の内部に位置する線分状外縁を有し、
    前記通過範囲において伝播方向変更部材が存在する部分の光を検査対象面への照射光とし、前記通過範囲において伝播方向変更部材が存在しない部分の光を非照射光として、
    伝播方向変更部材は、照射光の伝播方向を、非照射光の伝播方向と異なる方向に変えることにより、その線分状外縁が、照射光の断面形状における高低差計測用エッジを形成する、ことを特徴とする請求項2に記載の対象面検査装置。
  5. 光照射装置は、熱で輻射光を発している検査対象面に、前記光としてレーザ光を照射する、ことを特徴とする請求項3または4に記載の対象面検査装置。
  6. 光整形部は、光射出部により射出された光の一部を吸収する光吸収部材であり、
    光吸収部材は、光の伝播方向から見た場合に、線分形状となっており、光の通過範囲の内部に位置する線分状外縁を有し、
    前記通過範囲において光吸収部材が存在する部分の光を非照射光とし、前記通過範囲において光吸収部材が存在しない部分の光を照射光として、
    光吸収部材は、非照射光を吸収することにより、その線分状外縁が、照射光の断面形状における高低差計測用エッジを形成する、ことを特徴とする請求項2に記載の対象面検査装置。
  7. 撮像装置により得た画像に基づいて、検査対象面における高低差を算出する画像処理装置を備え、
    画像処理装置は、前記断面形状の高低差計測用エッジが、画像において、線分形状から変形している量に基づいて、高低差を算出する、ことを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の対象面検査装置。
  8. 検査対象面は、炉内の内壁面であり、
    光照射装置は、熱で輻射光を発している前記内壁面に、前記光としてレーザ光を照射する、ことを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の対象面検査装置。
  9. 2次元的な範囲にわたって検査対象面の様相を観察し、かつ、検査対象面の高低差を計測する対象面検査方法であって、
    その伝播方向と垂直な平面による断面形状が2次元的な広がりを有する光を、光射出部により射出し、
    射出された光の前記断面形状の2次元的な広がりを保ちつつ、この断面形状の光のエッジを、線分形状の高低差計測用エッジに整形し、
    整形された光を検査対象面に照射し、
    検査対象面における光の照射範囲を含む領域を、撮像装置により撮像して画像を生成し、
    生成した画像において2次元的に広がる光の照射範囲から検査対象面の様相を観察し、
    生成した画像において、前記断面形状の高低差計測用エッジが、線分形状から変形している量を求め、この量に基づいて高低差を求める、ことを特徴する対象面検査方法。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57108705A (en) * 1980-12-26 1982-07-06 Kawasaki Steel Corp Method and device for monitor of bead cut form at welded part on inner surface of welded tube
JPH09159966A (ja) * 1995-12-06 1997-06-20 Nec Corp レーザ光学装置
JP2004077019A (ja) * 2002-08-19 2004-03-11 Nippon Steel Corp 炉壁形状測定装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57108705A (en) * 1980-12-26 1982-07-06 Kawasaki Steel Corp Method and device for monitor of bead cut form at welded part on inner surface of welded tube
JPH09159966A (ja) * 1995-12-06 1997-06-20 Nec Corp レーザ光学装置
JP2004077019A (ja) * 2002-08-19 2004-03-11 Nippon Steel Corp 炉壁形状測定装置

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