JP2013170945A - 試験装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】少ない工数で異なる種類の製品の試験に対応できる試験装置を提供する。
【解決手段】PLC10に制御され、試験結果を判定するための情報をアクチュエータW11およびセンサW12から取得して、取得した情報に基づいて試験結果の判定処理を行う演算装置20、を具備し、演算装置20は、PLC10との入出力を確立するためのパラメータに基づいて、PLC10との入出力を確立し、アクチュエータW11およびセンサW12から出力される測定値の内容を規定するパラメータに基づいて、試験結果を判定するための情報をアクチュエータW11およびセンサW12から取得し、演算処理の内容を規定するパラメータに基づいて、取得した情報に対して演算処理を行い、判定処理の内容を規定するパラメータに基づいて、演算処理の結果に対して試験結果の判定処理を行う。
【選択図】図5

Description

本発明は、製品の試験を行う試験装置に関する。
従来から、エンジン等の製品を試験する試験装置は、製品を動作させたときに所定の測定値を取得して、当該取得した測定値に基づいて製品の良否判定等を行っている。
特許文献1に開示される技術では、トルクメータによって、エンジンの回転数を増加させたときのトルクを測定するとともに、エンジンの回転数を減少させたときのトルクを測定する。そして、特許文献1に開示される技術では、信号処理部によって、各測定値を取得するとともに各測定値の平均値を算出することで、定常試験で測定したトルクと同等のトルクの測定値を取得する。
特許文献1に開示される信号処理部は、過渡試験のトルクの測定値から、定常試験で測定したトルクに相当するトルクの測定値を取得することを主な目的としている。すなわち、特許文献1に開示される信号処理部では、各測定値を取得する処理、各測定値の平均値を算出する演算処理、および定常試験に関するエンジンの判定処理等を行うプログラムが実行可能に構成されている。
特開2011−145081号公報
例えば、特許文献1に開示される信号処理部を用いて、異なる内容の試験を行う場合等においては、試験の内容に応じてプログラムを全体的に修正する必要がある。このような場合としては、例えば、異なる種類のエンジンの試験を行う場合等がある。
従って、特許文献1に開示される技術では、異なる種類のエンジンの試験を行うときに、多くのデバッグ工数が必要となってしまう。
また、プログラム全体を把握している作業者(例えば、プログラムの初版を作成した作成者)でなければ、プログラムの修正が必要な箇所を選択的に判断することが難しい。このため、プログラム全体を把握している作業者以外の作業者がプログラムを修正する場合には、プログラム全体を確認し、プログラム修正による影響等を確認する必要がある。
つまり、特許文献1に開示される技術では、プログラム全体を把握している作業者以外の作業者がプログラムを修正する場合、さらに多くのデバッグ工数が必要となってしまう。
このように、従来技術においては、特定の一種類の製品の試験に対応させる形でプログラムを作成しているため、エンジンの種類を変更するときに多くの工数が必要となってしまう。
これは、エンジン以外の製品、例えば、ドライブトレーン、ターボ(ターボチャージャー)、およびバルブマチックの試験を行う試験装置においても同様である。
本発明は、以上の如き状況を鑑みてなされたものであり、少ない工数で異なる種類の製品の試験に対応できる試験装置を提供するものである。
本実施形態では、製品のテスタを制御するPLCによって前記製品を動作させ、前記製品の試験を行う試験装置であって、前記PLCに制御され、前記試験結果を判定するための情報を測定手段から取得して、前記取得した情報に基づいて前記試験結果の判定処理を行う演算手段、を具備し、前記演算手段は、前記PLCとの入出力を確立するためのパラメータに基づいて、前記PLCとの入出力を確立し、前記測定手段から出力される測定値の内容を規定するパラメータに基づいて、前記試験結果を判定するための情報を前記測定手段から取得し、演算処理の内容を規定するパラメータに基づいて、前記取得した情報に対して演算処理を行い、前記判定処理の内容を規定するパラメータに基づいて、前記演算処理の結果に対して前記試験結果の判定処理を行う、ものである。
また、前記PLCとの入出力を確立するためのパラメータは、前記PLCと接続するためのインターフェースボード、および前記演算装置のアドレスに対する入出力の内容であり、前記測定手段から出力される測定値の内容を規定するパラメータは、前記測定手段と接続するためのインターフェースボード、使用するチャネル、サンプリング間隔、およびデータ取得タイミングであり、前記演算処理の内容を規定するパラメータは、前記測定値の平均値を算出する処理、前記測定値に対して四則演算を行う処理、前記測定値に対して微積分を行う処理、および任意の関数に前記測定値を代入する処理の中から、前記製品の種類および前記試験の内容に基づいて決定され、前記判定処理の内容を規定するパラメータは、前記演算処理の結果と比較する閾値、および前記比較結果に対応する情報の内容であり、前記比較結果に対応する情報の内容には、前記試験結果の判定内容、および前記判定処理の内容を規定するパラメータが含まれる、ものである。
さらに、前記製品は、複数種類のエンジン、複数種類のドライブトレーン、複数種類のバルブマチック、および複数種類のターボである、ものである。
本発明は、少ない工数で異なる種類の製品の試験に対応できる、という効果を奏する。
試験装置および演算装置の構成を示す図。 エンジンの試験を行う試験装置の構成およびパラメータを示す図。 演算設定部の設定内容を説明する図。 判定設定部の設定内容を説明する図。 試験の流れを示す図。 ドライブトレーンの試験を行う試験装置の構成およびパラメータを示す図。 ターボの試験を行う試験装置の構成およびパラメータを示す図。 バルブマチックの試験を行う試験装置の構成およびパラメータを示す図。
以下では、本実施形態の試験装置1について説明する。
図1に示すように、試験装置1は、製品Wを動作させたときに所定の情報を取得して、当該取得した情報に基づいて製品Wの良否判定を行う等の試験を行うものである。
本実施形態の試験装置は、製品Wとして複数種類のエンジンW1、複数種類のドライブトレーンW2、複数種類のターボW3(ターボチャージャー)、および複数種類のバルブマチックW4を対象としている(図1および図6〜図8に示す試験装置1・101・201・301参照)。
以下では、製品WとしてエンジンW1の試験を行う試験装置1の構成を、図1〜図4を用いて説明する。
図1に示すように、試験装置1は、PLC10および演算装置20等を具備する。
PLC(プログラマブルロジックコントローラ)10は、試験においてエンジンW1および演算装置20の動作を制御するものである。PLC10は、インターフェースボード21(図1ではPIOボード)を介して演算装置20と接続される。
試験装置1は、PLC10によって、エンジンW1を制御するテスタおよび演算装置20と、予め決められた順序で信号の入出力を行うことで、エンジンW1および演算装置20を動作させ、エンジンW1の試験を行う。
本実施形態の演算装置20は、市販のパーソナルコンピュータによって構成される。演算装置20の拡張スロットには、PLC10、試験結果を判定するための情報を測定するアクチュエータW11、およびセンサW12等と接続可能となるように、インターフェースボード21が選択的に挿着される。
演算装置20は、パーソナルコンピュータに標準で備わっているUSB等のインターフェース(以下、「標準インターフェース」と表記する)を介して、プリンタ等のヒューマンインターフェースと接続される。
演算装置20は、拡張スロットにPIOボードおよびADボードが挿着され、PIOボードを介してPLC10およびアクチュエータW11と接続されるとともに、ADボードを介してエンジンW1内に設けられるセンサW12に接続される。
本実施形態のアクチュエータW11およびセンサW12は、試験結果を判定するための情報を測定する測定手段である。
本実施形態の演算装置20は、測定プログラム22を実行することによって、試験結果を判定するための情報をアクチュエータW11およびセンサW12から取得して、取得した情報に基づいて試験結果の判定処理を行う演算手段である。
本実施形態の測定プログラム22は、実態的には、C言語によってコーディングされたソースコードをコンパイラによってコンパイルすることで生成される、パーソナルコンピュータ上で実行可能な実行ファイルであり、演算装置20に記憶される。
なお、測定プログラム22は、必ずしもC言語によってコーディングする必要はない。
本実施形態の演算装置20は、製品Wの種類によらず、全て同じ測定プログラム22を実行する。つまり、図1に示すエンジンW1の試験を行う試験装置1や図6に示すドライブトレーンW2の試験を行う試験装置101で実行される測定プログラム22は、ともに同じプログラムである。
本実施形態の試験装置1は、試験に際して測定プログラム22で使用するパラメータを設定する。測定プログラム22は、このようなパラメータの設定を行うための機能として、IO設定部23、サンプリング設定部24、演算設定部25、および判定設定部26を備える(図1に示す二点鎖線参照)。
IO設定部23は、PLC10との入出力を確立するための情報を設定するものである。
IO設定部23で設定する内容としては、PLC10と接続するためのインターフェースボード21(あるいは標準インターフェース)、および演算装置20のアドレスに対する入出力の内容等がある。
測定プログラム22は、IO設定部23で設定される内容を、PLC10にとの入出力を確立するためのパラメータとして試験時に取得する。
図1および図2に示すように、試験装置1では、PLC10と接続するためのインターフェースボード21としてPIOボードを設定している(図2に示すIO使用ボード参照)。
また、演算装置20のアドレスに対する入出力の内容として、例えば、所定のアドレスに入力される所定の信号が、運転準備であること等を設定する(図2に示すIO選択参照)。
サンプリング設定部24は、試験中にアクチュエータW11およびセンサW12からどのようにして情報を取得するかを設定するものである。
サンプリング設定部24で設定する内容としては、アクチュエータW11およびセンサW12と接続するためのインターフェースボード21(あるいは標準インターフェース)、情報の伝送に使用するチャネル、アクチュエータW11およびセンサW12のサンプリング間隔、および情報を取得するタイミング(随時取得する、あるいは測定後に一括で取得する)等がある。
測定プログラム22は、サンプリング設定部24で設定される内容を、アクチュエータW11およびセンサW12から出力される測定値の内容を規定するパラメータとして試験時に取得する。
試験装置1では、アクチュエータW11と接続するためのインターフェースボード21としてPIOボードを設定し、センサW12と接続するためのインターフェースボード21としてADボードを設定している(図2に示す測定ボード参照)。
また、アクチュエータW11およびセンサW12毎に、使用するチャネル、サンプリング間隔、およびデータ取得タイミングを設定する。具体的には、1chを使用してセンサW12の測定値を、4μsecのサンプリング間隔で随時取得するといった具合に設定している(図2に示すサンプリング間隔参照)。
演算設定部25は、サンプリング設定部24で設定した情報に基づいて取得したアクチュエータW11の電流値およびセンサW12の測定値に対して、どのような演算処理を行うかを設定するものである。
演算設定部25で設定する内容としては、例えば、測定値の平均値を算出する、測定値を時系列で示すグラフにおいて、所定の時間帯の傾きを演算する(図3参照)等がある。
本実施形態の演算設定部25は、測定値の平均値を算出する処理、測定値に対して四則演算を行う処理、測定値に対して微積分を行う処理、および任意の関数に測定値を代入する処理を設定可能に構成される。また、演算設定部25では、作業者等が任意の関数を作成可能に構成される。
前述した所定の時間帯の傾きを演算する処理等は、このような任意の関数に測定値を代入する処理を設定することで行われる。
測定プログラム22は、演算設定部25で設定される内容を、演算処理の内容を規定するパラメータとして試験時に取得する。
試験装置1では、センサW12の測定値の平均値を算出すること等を演算処理の内容として設定している(図2に示す使用演算参照)。
判定設定部26は、試験結果をどのようにして判定するかを設定するものである。
判定設定部26で設定する内容としては、センサW12の測定値の平均値が所定の範囲内であるか、前記所定の範囲内であった場合試験結果をOKとするか等を試験結果の判定条件として設定する。図4に示すように、判定設定部26は、複数の判定条件を設定可能に構成される。
図1および図2に示すように、測定プログラム22は、試験時に判定設定部26で設定される内容を、判定処理の内容を規定するパラメータとして取得する。
試験装置1では、演算設定部25での演算結果が所定の範囲内であるかを試験結果の判定条件として設定している(図2に示す判定方法参照)。
演算装置20は、このように判定設定部26で設定された判定条件の結果を、つまり、試験の判定結果を共通部27によってヒューマンインターフェースに出力する。
本実施形態の各設定部23〜26は、ディスプレイにパラメータを設定可能な画面を表示させる。測定プログラム22は、キーボード等を介して作業者等が前記画面に入力した内容を取得することで、各設定部23〜26のパラメータを設定する。
なお、本実施形態では、画面に表示させる都合上、PLC10との入出力バイト数(入出力で使用可能な最大バイト数)およびアクチュエータW11等と情報を伝送可能な合計チャネル数をパラメータとして設定している。
また、各設定部で設定するための手段は、本実施形態のような画面に限定されるものでなく、例えば、決まった形式のファイル(例えば、CSVファイル等)を参照することで、パラメータを設定する構成であっても構わない。
次に、試験装置1の動作について説明する。
以下では、エンジンW1の試験を行う場合の試験装置1の動作について説明する。
図2に示すように、作業者等は、試験前に各設定部23〜26によってエンジンW1の試験に対応するパラメータを設定する。
図5に示すように、試験装置1は、PLC10によってテスタに指示を入力してエンジンW1を動作させるとともに、PLC10によって演算装置20に指示を入力して測定を開始させる(S10)。
ここで、測定プログラム22は、予めIO設定部23で設定されるパラメータに基づいてPLC10との入出力を確立している。
すなわち、測定プログラム22は、PLC10と接続するためのインターフェースボード21、および演算装置20のアドレスに対する入出力の内容に基づいて、PLC10からの指示の内容を判断する。
そして、測定プログラム22は、IO設定部23で設定されるパラメータに基づいて、指示に対する応答(例えば、測定中であること等)をPLC10に出力する。
このように、本実施形態において、PLC10との入出力を確立するためのパラメータは、PLC10と接続するためのインターフェースボード21、および演算装置20のアドレスに対する入出力の内容である。
ここで、PLC10と接続するためのインターフェースボード21には、標準インターフェースも含まれるものとする。
PLC10から指示が入力された後で、図2および図5に示すように、測定プログラム22は、サンプリング設定部24で設定されるパラメータに基づいて、試験結果を判定するための情報をアクチュエータW11およびセンサW12から取得する(S20)。
すなわち、測定プログラム22は、アクチュエータW11およびセンサW12と接続するためのインターフェースボード21、使用するチャネル、サンプリング間隔、およびデータ取得タイミングに基づいて、アクチュエータW11の電流値およびセンサW12の測定値を取得する。
このように、本実施形態において、アクチュエータW11およびセンサW12から出力される測定値の内容を規定するパラメータは、アクチュエータW11およびセンサW12と接続するためのインターフェースボード21、使用するチャネル、サンプリング間隔、およびデータ取得タイミングである。
ここで、アクチュエータW11およびセンサW12と接続するためのインターフェースボード21には、標準インターフェースも含まれるものとする。
アクチュエータW11およびセンサW12から測定値を取得した後で、測定プログラム22は、演算設定部25で設定されるパラメータ、つまり、演算処理の内容を規定するパラメータに基づいて、取得した情報に対して演算処理を行う(S30)。
すなわち、測定プログラム22は、取得したセンサW12の測定値の平均値等を算出する。このとき、測定プログラム22は、サンプリング設定部24で設定されるパラメータに基づいて、演算装置20に入力される信号の中から、どの信号がアクチュエータW11およびセンサW12から出力される測定値であるかを判断している。
測定データに対して演算処理を行った後で、測定プログラム22は、判定設定部26で設定されるパラメータ、つまり、判定処理の内容を規定するパラメータに基づいて、演算処理の結果に対して試験結果の判定処理を行う(S40)。
すなわち、測定プログラム22は、取得したセンサW12の測定値の平均値が所定の範囲内であるか等を判定する。そして、例えば、前記所定の範囲内である場合には、試験結果がOKであると判断する。
仮に、複数の判定条件が設定されている場合、最初に行う判定処理(図4に示す条件1参照)の結果に応じて、二回目の判定処理(図4に示す判定条件1および判定条件2参照)を行い、二回目の判定処理の結果に応じて試験結果がOKであること等を判定する。
このように、本実施形態において、判定処理の内容を規定するパラメータは、演算処理の結果と比較する閾値、および前記比較結果に対応する情報の内容である。
また、比較結果に対応する情報の内容には、試験結果の判定内容、および判定処理の内容を規定するパラメータが含まれる。
演算処理の結果に対して判定処理を行った後で、測定プログラム22は、共通部27によってユーザインターフェースに判定処理の結果を出力する(S50)。
このようにして試験装置1は、エンジンW1の試験を行う。
次に、製品WとしてドライブトレーンW2の試験を行う場合の試験装置101の動作について説明する。
図6に示すように、ドライブトレーンW2の試験を行う場合、演算装置120は、デバイスネットボードを介してPLC10と接続される。
すなわち、本実施形態において、演算装置120は、エンジンW1の試験を行う場合と比較して、異なるインターフェースボード121を介してPLC10と接続される(図2および図6に示すIO使用ボード参照)。
また、製品Wの種類が異なることに伴って試験の内容も変わるため、PLC10と演算装置120との間で行う入出力の内容は、互いに異なるものとなる(図2および図6に示す入出力バイト数およびIO選択参照)。
これは、図7および図8に示すように、ターボW3およびバルブマチックW4の試験を行う試験装置201・301のインターフェースボード221・321、およびPLC10との入出力においても同様である(図7および図8に示すIO使用ボード、入出力バイト数、およびIO選択参照)。
また、異なる種類のエンジンW1の試験を行う場合においても同様である。
さらに、同一種類のエンジンW1で異なる内容の試験を行う場合においても同様である。
そこで、測定プログラム22は、試験前にIO設定部23でPLC10との入出力を確立するためのパラメータを設定する。そして、測定プログラム22は、試験時に設定したパラメータに基づいてPLC10との入出力を確立するのである。
これによれば、試験装置101は、IO設定部23で設定するパラメータを変更するだけで、つまり、測定プログラム22を修正することなく、PLC10との入出力を製品Wに応じたものに変更できる。
図6に示すように、ドライブトレーンW2の試験を行う試験装置101は、PIOボードを介してアクチュエータW21と接続され、ADボードを介して圧力センサW22およびトルクセンサW23と接続され、カウンタボードを介してエンコーダW24と接続される。
すなわち、本実施形態において、演算装置120は、エンジンW1の試験を行う場合と比較して、異なるインターフェースボード121を介して異なる測定手段(アクチュエータW21、各センサW22・W23、およびエンコーダW24)と接続される。
また、試験で使用するチャネル、サンプリング間隔、およびデータ取得タイミングも異なるものとなる。
これは、図7および図8に示すように、ターボW3およびバルブマチックW4の試験を行う試験装置201・301においても同様である(図7に示す圧力センサW31およびFFTW32、図8に示すコントローラW41およびセンサW42参照)。
また、異なる種類のエンジンW1の試験を行う場合においても同様である。
さらに、同一種類のエンジンW1で異なる内容の試験を行う場合においても同様である。
そこで、測定プログラム22は、試験前にサンプリング設定部24でアクチュエータW21、各センサW22・W23、およびエンコーダW24から出力される測定値の内容を規定するパラメータを設定する。そして、測定プログラム22は、試験時に設定したパラメータに基づいてアクチュエータW21の電流値、各センサW22・W23の測定値、およびエンコーダW24のパルス信号を取得するのである。
これによれば、試験装置101は、サンプリング設定部24で設定するパラメータを変更するだけで、つまり、測定プログラム22を修正することなく、その動作を製品Wの試験内容に応じたものに変更できる。
なお、図7に示す演算装置220は、標準インターフェース(本実施形態においてはLAN)を介してFFTW32と接続されている。また、図7に示す演算装置220は、FFTW32から決まったサンプリング間隔で情報を取得する都合上、FFTW32の測定に関してのパラメータにサンプリング間隔を設定していない(図7に示すサンプリング間隔参照)。
図3および図6に示すように、ドライブトレーンW2の試験では、トルクセンサW23から取得する測定値を時系列で示すグラフの傾きを一定間隔毎に取得して、その中で最も大きな傾きを算出する(図6に示すピークサーチ参照)。
すなわち、本実施形態において、演算装置120は、エンジンW1の試験を行う場合と比較して、異なる演算処理を行う。
これは、図7および図8に示すように、ターボW3およびバルブマチックW4の試験を行う試験装置201・301の演算装置220・320においても同様である(図7および図8に示す使用演算参照)。
また、異なる種類のエンジンW1の試験を行う場合においても同様である。
さらに、同一種類のエンジンW1で異なる内容の試験を行う場合においても同様である。
そこで、測定プログラム22は、試験前に演算設定部25で演算処理の内容を規定するパラメータを設定する。そして、測定プログラム22は、試験時に設定したパラメータに基づいて演算処理を行うのである。
これによれば、試験装置101は、演算設定部25で設定するパラメータを変更するだけで、つまり、測定プログラム22を修正することなく、演算処理の内容を製品Wに応じたものに変更できる。
このように、本実施形態において、演算処理の内容を規定するパラメータは、測定値の平均値を算出する処理、測定値に対して四則演算を行う処理、測定値に対して微積分を行う処理、および任意の関数に測定値を代入する処理の中から、製品Wの種類および試験の内容に基づいて決定される。
図4および図6に示すように、ドライブトレーンW2の試験では、演算処理の結果に対して複数の判定条件で判定処理を行う(図6に示す判定方法参照)。また、このような反転処理において、判定対象となる演算処理の結果も異なるものである。
すなわち、本実施形態において、演算装置120は、エンジンW1の試験を行う場合と比較して、異なる判定処理を行う。
これは、図7および図8に示すように、ターボW3およびバルブマチックW4の試験を行う試験装置201・301の演算装置220・320においても同様である(図7および図8に示す判定方法参照)。
また、異なる種類のエンジンW1の試験を行う場合においても同様である。
さらに、同一種類のエンジンW1で異なる内容の試験を行う場合においても同様である。
そこで、測定プログラム22は、試験前に判定設定部26で判定処理の内容を規定するパラメータを設定する。そして、測定プログラム22は、試験時に取得したパラメータに基づいて判定処理を行うのである。
これによれば、試験装置101は、判定設定部26で設定するパラメータを変更するだけで、つまり、測定プログラム22を修正することなく、判定処理の内容を製品Wに応じたものに変更できる。
つまり、測定プログラム22は、異なる製品Wの試験を行うことができるように構成されるとともに、製品Wの種類毎に異なる処理となる部分をパラメータで選択的に設定可能となるように、ソースコードがコーディングされている。
このように構成することで、試験装置101は、試験を行う前に各設定部23〜26で設定するパラメータを製品Wに応じたものに変更するだけで、異なる種類の製品Wの試験を行うことができる。
つまり、製品Wの種類に応じて測定プログラム22を修正する必要がないため、少ない工数で異なる種類の製品Wの試験に対応できる。
また、プログラム全体を把握している作業者以外の作業者でも、少ない工数で異なる種類の製品Wの試験に対応できる。
これは、同一種類の製品Wで異なる内容の試験を行う場合でも、同様である。
なお、本実施形態において、試験対象となる製品は、エンジン、ドライブトレーン、ターボ、およびバルブマチックであったが、各設定部23〜26で設定するパラメータによって試験を行うことができるものであれば、これに限定されるものでない。
1 試験装置
10 PLC
20 演算装置(演算手段)
W 製品
W11 アクチュエータ(測定手段)
W12 センサ(測定手段)

Claims (3)

  1. 製品のテスタを制御するPLCによって前記製品を動作させ、前記製品の試験を行う試験装置であって、
    前記PLCに制御され、前記試験結果を判定するための情報を測定手段から取得して、前記取得した情報に基づいて前記試験結果の判定処理を行う演算手段、
    を具備し、
    前記演算手段は、
    前記PLCとの入出力を確立するためのパラメータに基づいて、前記PLCとの入出力を確立し、
    前記測定手段から出力される測定値の内容を規定するパラメータに基づいて、前記試験結果を判定するための情報を前記測定手段から取得し、
    演算処理の内容を規定するパラメータに基づいて、前記取得した情報に対して演算処理を行い、
    前記判定処理の内容を規定するパラメータに基づいて、前記演算処理の結果に対して前記試験結果の判定処理を行う、
    試験装置。
  2. 前記PLCとの入出力を確立するためのパラメータは、
    前記PLCと接続するためのインターフェースボード、および前記演算装置のアドレスに対する入出力の内容であり、
    前記測定手段から出力される測定値の内容を規定するパラメータは、前記測定手段と接続するためのインターフェースボード、使用するチャネル、サンプリング間隔、およびデータ取得タイミングであり、
    前記演算処理の内容を規定するパラメータは、
    前記測定値の平均値を算出する処理、前記測定値に対して四則演算を行う処理、前記測定値に対して微積分を行う処理、および任意の関数に前記測定値を代入する処理の中から、前記製品の種類および前記試験の内容に基づいて決定され、
    前記判定処理の内容を規定するパラメータは、
    前記演算処理の結果と比較する閾値、および前記比較結果に対応する情報の内容であり、
    前記比較結果に対応する情報の内容には、
    前記試験結果の判定内容、および前記判定処理の内容を規定するパラメータが含まれる、
    請求項1に記載の試験装置。
  3. 前記製品は、
    複数種類のエンジン、複数種類のドライブトレーン、複数種類のバルブマチック、および複数種類のターボである、
    請求項1または請求項2に記載の試験装置。
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