JP2013152135A - フェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置 - Google Patents

フェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置 Download PDF

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Abstract

【課題】校正経路の誤差を検出する機能を備えたフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置を得る。
【解決手段】アンテナモジュール1、2内で、校正信号入力用の方向性結合器12、22の終端端子を終端状態と全反射状態を切替える信号切替えスイッチを備える。校正経路の測定時に信号切替スイッチ12、22を全反射状態に切替えて、校正信号の反射信号をサーキュレータ42により分離し、校正信号と反射信号との位相差および振幅比を測定し、各測定値に1/2を乗算した結果をアンテナモジュール1、2の校正時に測定結果から差し引くことにより、校正経路を単体で測定または調整することなく、校正経路の誤差を補正する。
【選択図】図1

Description

この発明はフェーズドアレーアンテナ(APAA:Active Phased Array Antenna)に関し、特にアンテナモジュール間の校正経路測定装置に関するものである。
従来から、複数のアンテナモジュールを同期させることにより、1つの高性能アンテナとして動作するフェーズドアレーアンテナは、よく知られている。
また、この種のフェーズドアレーアンテナにおいて、各アンテナモジュール間の通過位相および利得の誤差は、アンテナ放射特性の誤差として検出されることも知られている。
そこで、従来から、隣接する各アンテナモジュール間の誤差を補正して校正するための位相補正装置が提案されている(たとえば、特許文献1参照)。
一方、試験用の基準送信機から各アンテナモジュールにテスト信号を送信し、各アンテナモジュールの受信特性の平均からのずれを補正することにより校正を行う技術も提案されている(たとえば、特許文献2参照)。
ただし、上記特許文献、特許文献2に記載のフェーズドアレーアンテナの校正装置は、いずれも各校正経路の誤差を検出する手段を備えていない。
特開2004−294223号公報 特開2000−162303号公報
従来のフェーズドアレーアンテナの校正装置は、各校正経路の誤差を検出する手段を備えていないことから、アンテナを組み立てる段階で、各校正経路の誤差の測定を行いながら補正する必要があるので、組み立て工数が増大するという課題があった。
また、アンテナモジュールが故障した際の交換時には、再度誤差の測定を行う必要があるという課題があった。さらに、校正経路が何らかの理由で特性が劣化していても、劣化検知手段を備えていないことから、アンテナモジュール自体の劣化なのか、または校正経路の劣化なのかを知るために、再度の分解測定を行う必要があるので、整備のために多大な労力および時間を要するという課題があった。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、校正経路の誤差を検出する機能を備えたフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置を得ることを目的とする。
この発明に係るフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置は、複数のアンテナモジュールが同期して1つのアンテナとして動作するフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置であって、誤差校正用の校正信号を生成する基準送信機と、校正信号を複数のアンテナモジュールの各々に切替えて配信するためのアンテナ切替スイッチと、複数のアンテナモジュールの各アンテナ素子の経路に設置されて、校正信号を取り込むための方向性結合器と、方向性結合器の終端端子を終端状態と全反射状態とに切替えることにより、複数のアンテナモジュールの各々に校正信号を入力する状態と複数のアンテナモジュールの各々から校正信号を反射する状態とを切替える信号切替スイッチと、校正信号を反射する状態で複数のアンテナモジュールの各々から受信される反射信号の校正信号に対する誤差を演算する校正演算処理部と、を備えたものである。
この発明によれば、校正信号を入力するための方向性結合器の終端端子を終端状態と全反射状態を切替える信号切替スイッチを設け、アンテナモジュールに送られる校正信号とアンテナモジュールからの反射信号の位相差および減衰量を測定し、各測定値を1/2に除算することにより、校正経路(校正信号分配系)の誤差を表す通過位相および減衰量を測定することができるので、組み立て工数を軽減させることが可能となる。
この発明の実施の形態1が適用されるフェーズドアレーアンテナの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態1に係る校正経路測定装置の特性を示すブロック図である。 この発明の実施の形態1による校正経路測定回路の具体的構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態2による校正経路測定回路の具体的構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態3による校正経路測定回路の具体的構成を示すブロック図である。
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1の構成を示すブロック図である。
図1において、この発明の実施の形態1が適用されるフェーズドアレーアンテナは、アンテナおよび無線信号の処理を行うアンテナモジュール1、2と、校正信号を各アンテナモジュール1、2に配信する基準送信機20と、基準送信機20からの校正信号を復調してアンテナモジュール1、2の相互間の誤差補正演算を行う校正演算処理部30と、基準送信機20から各アンテナモジュール1、2までの校正信号の通過位相および減衰量を測定する校正経路測定回路40と、を備えている。
各アンテナモジュール1、2は、同一の回路構成からなり、アンテナモジュール1内の回路要素11〜16は、アンテナモジュール2内の回路要素21〜26に、それぞれ対応している。したがって、以下、代表的に、アンテナモジュール1に注目して説明する。
アンテナモジュール1は、無線信号の送受信を行うアンテナ素子11と、アンテナ素子11の経路に配置された校正信号入力用の方向性結合器12と、方向性結合器12の終端端子に接続された信号切替スイッチ13と、信号切替スイッチ13の一方の出力端に接続された終端器14と、信号切替スイッチ13の他方の出力端に接続された反射器15と、方向性結合器12と校正演算処理部30との間に挿入されてアンテナ素子11に対し無線信号の送受信を行う送受信部16と、を備えている。
校正経路測定回路40による校正信号経路の測定時において、アンテナモジュール1内の信号切替スイッチ13は、反射器15側を短絡することにより、方向性結合器12を介して校正信号を全反射させる。
また、アンテナモジュール1の校正時において、信号切替スイッチ13は、終端器14側を短絡することにより、方向性結合器12を介して校正信号が送受信部16に入力されるようにする。
校正経路測定回路40は、基準送信機20に接続された分配器41と、分配器41に接続されたサーキュレータ42と、サーキュレータ42と各アンテナモジュール1、2との間に挿入されたアンテナ切替スイッチ43と、分配器41およびサーキュレータ42の反射側端子に接続された位相差・振幅比測定器50と、位相差・振幅比測定器50に接続された1/2演算回路44と、を備えている。
基準送信機20から生成された校正信号は、分配器41で2つの校正信号に分配され、2つの校正信号のうちの一方は、サーキュレータ42およびアンテナ切替スイッチ43を介して、各アンテナモジュール1、2に配信される。
分配器41で分配された校正信号の他方は、位相差・振幅比測定器50に入力される。また、サーキュレータ42の反射側端子からの出力信号(校正信号の反射信号)も、位相差・振幅比測定器50に入力される。
位相差・振幅比測定器50は、分配器41からの校正信号と、サーキュレータ42からの反射信号と、の位相差および振幅比を測定する。
位相差・振幅比測定器50の測定結果(位相差、振幅比)は、1/2演算回路44において1/2が乗算されて、校正経路測定回路40の測定値(通過位相、減衰量)となり、校正演算処理部30に与えられる。
次に、図2を参照しながら、図1に示した2つのアンテナモジュール1、2を例にとって、補正動作について説明する。
図2はこの発明の校正経路(点線矢印参照)の特性を示すブロック図であり、2つのアンテナモジュール1、2の場合の校正信号の通過位相φおよび減衰量Aを示している。
図2において、基準送信機20から分配器41までの間の通過位相をφ[°]、減衰量をA[dB]とする。
同様に、分配器41からサーキュレータ42を介してアンテナ切替スイッチ43に至る経路の通過位相および減衰量をφ2、とし、アンテナ切替スイッチ43からアンテナモジュール1までの通過位相および減衰量をφ3、とし、アンテナ切替スイッチ43からアンテナモジュール2までの通過位相および減衰量をφ’3、A’とする。
また、アンテナ切替スイッチ43からサーキュレータ42を介して位相差・振幅比測定器50に至るまでの通過位相および減衰量をφ4、とし、分配器41から位相差・振幅比測定器50までの通過位相および減衰量をφ5、とする。
ここで、アンテナモジュール1の校正経路測定時に得られた測定結果をφm、とし、アンテナモジュール2の校正経路測定時に得られた測定結果をφ’m、A’とすると、以下の式(1)〜式(4)が得られる。
φ=φ+φ+φ+φ−φ ・・・(1)
=A+A+A+A−A ・・・(2)
φ’=φ+φ’+φ’+φ−φ ・・・(3)
A’=A+A’+A’+A−A ・・・(4)
上記式(1)〜式(4)から、アンテナモジュール1とアンテナモジュール2との間の伝送特性差「φ−φ’」、「A−A’」を求めると、それぞれ、以下の式(5)、式(6)で表される。
φ−φ’=(φ−φ’)/2 ・・・(5)
−A’=(A−A’)/2 ・・・(6)
上記式(5)、式(6)から明らかなように、位相差・振幅比測定器50からの測定結果に「1/2」を乗算した結果は、各アンテナモジュール1、2の校正経路での固有の通過特性を表すことが分かる。
したがって、式(5)、式(6)の各値(各校正経路の通過特性)の差分は、各アンテナモジュール1、2の校正経路の誤差を表すことになるので、各アンテナモジュール1、2の校正時に、これらの測定結果をあらかじめ差し引くことにより、簡単に校正経路の誤差を除去した校正結果を得ることができる。
なお、位相差・振幅比測定器50としては、たとえば、大型で高価ではあるが、ベクトルネットワークアナライザなどを用いることができる。
次に、図3を参照しながら、位相差・振幅比測定器50の具体的な機能構成について説明する。
図3は校正経路測定回路40内の位相差・振幅比測定器50の具体的構成を示すブロック図であり、比較的小型で安価な回路構成例を示している。図3において、前述と同様のものについては、前述と同一符号を付して詳述を省略する。また、図3に示されないフェーズドアレーアンテナの構成は、図1に示した通りである。
図3において、位相差・振幅比測定器50は、サーキュレータ42の反射側端子に接続されたミキサ51と、分配器41に接続されたミキサ51aと、ミキサ51に接続された低域通過フィルタ52と、ミキサ51aに接続された低域通過フィルタ52aと、ミキサ51、51aに接続された周波数floの局部発振器54と、低域通過フィルタ52に接続されたAD変換器53と、低域通過フィルタ52aに接続されたAD変換器53aと、AD変換器53、53aに接続された位相差・振幅比演算回路55と、を備えている。
位相差・振幅比演算回路55の出力端子は、1/2演算回路44a、44bに接続されており、1/2演算回路44aは、通過位相を算出し、1/2演算回路44bは、減衰量を算出する。
ここで、基準送信機20(図1参照)から分配器41を介して配信される校正信号の周波数をfcとすると、校正信号および反射信号の各周波数fcは、ミキサ51、51aにおいて、周波数floの局部発振器54により、同じ中間周波数に周波数変換され、ともに周波数「fc−flo」となる
続いて、周波数「fc+flo」に発生するイメージ成分は、低域通過フィルタ52、52aにより除去される。
イメージ成分が除去された周波数「fc−flo」の校正信号および反射信号は、AD変換器53、53aによりデジタル信号に変換されて、位相差・振幅比演算回路55に入力される。
位相差・振幅比演算回路55は、校正信号および反射信号をダウンコンバージョンした信号に対し、それぞれFFTに代表されるデジタル信号処理を施すことにより、各信号の位相および振幅を求め、校正信号と反射信号との間の位相差φ’および振幅比A’を求める。
このように、校正信号の経路測定時において、アンテナモジュール1、2内の信号切替スイッチ12、22を全反射状態に切替えて、校正信号の反射信号をサーキュレータ42により分離し、校正信号と反射信号との位相差および振幅比を測定し、各測定値に1/2を乗算した結果を校正演算処理部30に入力する。
これにより、校正演算処理部30は、アンテナモジュール1、2の校正時に、校正経路測定回路40で演算された通過位相および減衰量を、測定結果から差し引くことにより、校正経路を単体で測定または調整することなく、校正経路の誤差を補正することが可能となる。
一般に、前述のベクトルネットワークアナライザは、大型で高価な測定器となり、システムに組み込むのに適していないが、図3の校正経路測定回路40は、比較的小型で安価な部品で構成されている。
また、図3内のAD変換器53、53aに代えてオシロスコープを用い、位相差・振幅比演算回路55をPC内の処理とすれば、システム組み込みに適した小型で安価な校正経路測定回路40を実現することができる。
以上のように、この発明の実施の形態1(図1〜図3)に係るフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置は、複数のアンテナモジュール1、2が同期して1つのアンテナとして動作するフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置であって、誤差校正用の校正信号を生成する基準送信機20と、校正信号をアンテナモジュール1、2の各々に切替えて配信するためのアンテナ切替スイッチ43と、アンテナモジュール1、2の各アンテナ素子11、21の経路に設置されて、校正信号を取り込むための方向性結合器12、22と、方向性結合器12、22の終端端子を終端状態と全反射状態とに切替えることにより、アンテナモジュール1、2の各々に校正信号を入力する状態とアンテナモジュール1、2の各々から校正信号を反射する状態とを切替える信号切替スイッチ13、23と、校正信号を反射する状態でアンテナモジュール1、2の各々から受信される反射信号の校正信号に対する誤差を演算する校正演算処理部30と、を備えている。
また、この発明の実施の形態1に係るフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置は、基準送信機20からの校正信号を第1および第2の出力端子から分配出力する分配器41と、分配器41の第1の出力端子とアンテナ切替スイッチ43の共通端子との間に挿入され、第1端子、第2端子および反射側端子を有するサーキュレータ42と、分配器41の第2の出力端子およびサーキュレータ42の反射側端子に接続された位相差・振幅比測定器50と、位相差・振幅比測定器50により測定された位相差および振幅比の1/2を、位相差・振幅比測定器50の校正経路の誤差として校正演算処理部30に入力する1/2演算回路44(44a、44b)と、を備えている。
サーキュレータ42は、分配器41の第1の出力端子からサーキュレータ42の第1端子に入力される校正信号を、サーキュレータ42の第2端子およびアンテナ切替スイッチ43を介してアンテナモジュール1、2の各々に配信するとともに、アンテナ切替スイッチを介してサーキュレータ42の第2端子に受信される反射信号を、サーキュレータ42の反射側端子を介して位相差・振幅比測定器50に入力する。
さらに、この発明の実施の形態1(図3)による位相差・振幅比測定器50は、分配器41の第2の出力端子から受信される校正信号と、サーキュレータ42の反射側端子から受信される反射信号とを、同じ中間周波数に変換するミキサ51、51aおよび局部発振器54を備えており、中間周波数において、校正信号と反射信号との位相差および振幅比を測定する。
このように、校正信号入力用の方向性結合器12、22の終端端子を終端状態と全反射状態とに切替える信号切替スイッチ13、23を設け、アンテナモジュール1、2に送られる校正信号とアンテナモジュール1、2からの反射信号との位相差および減衰量を測定し、各測定値を1/2に除算することにより、校正経路(校正信号分配系)の誤差を表す通過位相および減衰量を測定することができるので、組み立て工数を軽減させることが可能となる。
実施の形態2.
なお、上記実施の形態1(図3)では、位相差・振幅比測定器50の受信側において、ミキサ51、51aおよび局部発振器54を用いたが、図4のように、直交ミキサ56を用いてもよい。
図4はこの発明の実施の形態2による位相差・振幅比測定器50Aの具体的な機能構成を示すブロック図であり、前述と同様のものについては、前述と同一符号を付して、または符号の後に「A」を付して詳述を省略する。また、図4に示されないフェーズドアレーアンテナの構成は、図1に示した通りである。
図4において、校正経路測定回路40A内の位相差・振幅比測定器50Aは、前述と同様の低域通過フィルタ52、52a、AD変換器53、53aおよび位相差・振幅比演算回路55に加えて、受信側に直交ミキサ56を備えている。
直交ミキサ56は、サーキュレータ42の反射側端子に入力端が接続された並列のミキサ57、57aと、分配器41に接続された移相器58と、を備えている。
移相器58は、局部発振器の代用として機能し、分配器41からの校正信号に基づき、同相のI(0°)成分と直交のQ(90°)成分とからなる局発信号を生成する。
移相器58からの局発信号のうち、I信号(0°)はミキサ57に入力され、Q信号(90°)はミキサ57aに入力される。
直交ミキサ56において、移相器58は、基準送信機20から分配器41を介して配信される校正信号を局発信号とし、各ミキサ57、57aは、サーキュレータ42から受信される反射信号を、直流の同相成分Vおよび直交成分Vに変換して低域通過フィルタ52、52aに入力する。
同相成分Vおよび直交成分Vからなる信号成分ベクトル(V、V)は、局発信号として入力された校正信号に対する誤差ベクトルになるので、アンテナモジュール1の校正経路測定時に得られた測定結果φm、との間の関係は、以下の式(7)、式(8)のように表される。
φ=tan−1(V/V) ・・・(7)
=20・log√(V +V ) ・・・(8)
したがって、以下、前述の実施の形態1と同様に、校正経路の誤差を測定することができる。
以上のように、この発明の実施の形態2(図4)に係る校正経路測定回路40Aによれば、位相差・振幅比測定器50Aは、分配器41の第2の出力端子から受信される校正信号を局発信号として用い、サーキュレータ42の反射側端子から受信される反射信号を入力信号とする直交ミキサ56を備えており、直交ミキサ56の同相信号および直交信号から得られる直流信号に基づき、校正信号と反射信号との位相差および振幅比を測定するように構成されているので、前述と同様の作用効果を奏することができる。
また、特性の良好な直交ミキサ56を用いることにより、前述の実施の形態1(図3)の校正経路測定回路40と比較して、局部発振器54を不要とすることができ、また、測定値が直流信号として得られるので、AD変換器53、53aの選択自由度が増すとともに、位相差・振幅比演算回路55での演算が容易になり、さらに小型の回路構成を実現することができる。
実施の形態3.
なお、上記実施の形態1、2(図3、図4)では、位相差・振幅比測定器50の演算部として、位相差・振幅比演算回路55を用いたが、図5のように、第1および第2の積算器66、66a(以下、単に「積算器66、66a」という)を用いてもよい。
図5はこの発明の実施の形態3による位相差・振幅比測定器50Bの具体的な機能構成を示すブロック図であり、前述と同様のものについては、前述と同一符号を付して、または符号の後に「B」を付して詳述を省略する。また、図5に示されないフェーズドアレーアンテナの構成は、図1に示した通りである。
図5において、位相差・振幅比測定器50Bは、サーキュレータ42の反射側端子に接続された可変減衰器61と、可変減衰器61に接続された可変移相器62と、可変移相器62および分配器41に接続された位相比較器63と、可変減衰器61に接続された第1の振幅検波器64(以下、単に「振幅検波器64」という)と、分配器41に接続された第2の振幅検波器64a(以下、単に「振幅検波器64a」という)と、位相比較器63および基準値(0レベルまたはオフセットレベルからなる所定の収束値)に接続された第1のコンパレータ65(以下、単に「コンパレータ65」という)と、振幅検波器64、64aに接続された第2のコンパレータ65a(以下、単に「コンパレータ65a」という)と、コンパレータ65の出力端子に接続された積算器66と、コンパレータ65aの出力端子に接続された積算器66aと、を備えている。
積算器66の算出結果は、通過位相を算出する1/2演算回路44aに入力され、積算器66aの算出結果は、減衰量を算出する1/2演算回路44bに入力される。
また、可変減衰器61は、積算器66aの算出結果によりフィードバック調整され、可変移相器62は、積算器66の算出結果によりフィードバック調整される。
サーキュレータ42の反射側端子から位相差・振幅比測定器50Bに入力される反射信号は、可変減衰器61により振幅レベルが可変調整された後、振幅検波器64を介してコンパレータ65aの比較端子に入力される。
また、可変減衰器61により振幅レベルが可変調整された反射信号は、さらに可変移相器62により位相が可変調整された後、位相比較器63の比較端子に入力される。
一方、基準送信機20から分配器41を介して配信される校正信号は、位相比較器63の基準端子に入力され、位相比較器63の出力信号は、コンパレータ65の比較端子に入力される。なお、コンパレータ65の基準端子には基準値が入力される。
また、分配器41からの校正信号は、振幅検波器64aを介してコンパレータ65aの基準端子に入力される。
これにより、コンパレータ65は、反射信号の位相を、校正信号の位相と比較し、比較結果をハイ(High)信号またはロー(Low)信号として積算器66に入力する。
同様に、コンパレータ65aは、反射信号の振幅を、校正信号の振幅と比較し、比較結果をハイ(High)信号またはロー(Low)信号として積算器66aに入力する。
積算器66、66aは、コンパレータ65、65aの出力信号が、たとえばハイ(High)の場合には一定値を加算し、ロー(Low)の場合には減算する演算動作を行う。
積算器66、66aの演算結果は、それぞれ可変移相器62および可変減衰器61に与えられ、以下、同様の比較演算処理を繰り返し実行する。
上記比較演算処理が何回か繰り返し実行され後、位相比較器63の比較結果(位相差)が所定の収束値まで収束し、振幅検波器64aからの校正信号の振幅と、振幅検波器64からの反射信号の振幅とが一致すると、積算器66、66aの出力値は、それぞれ可変移相器62および可変減衰器61の最終設定値に収束する。
積算器66、66aの出力値がそれぞれ収束した時点において、可変移相器62の設定値は、校正信号と反射信号との位相差φを表し、可変減衰器61の設定値は、校正信号と反射信号との振幅比Aを表すことになる。
したがって、前述の実施の形態1、2と同様に校正経路の測定を行うことができる。
また、この発明の実施の形態3は、実施の形態1、2と比較すると、AD変換器が不要で、演算処理が積算のみとなっている。
また、可変減衰器61、可変移相器62、位相比較器63、振幅検波器64、64a、コンパレータ65、65aや積算器66、66aは、いずれも一般に高周波で動作し、半導体基板上にモノリシックで実装が容易な特徴を有するので、非常に小型で高速に動作する校正経路測定回路40Bを実現することができる。
なお、図5においては、位相差・振幅比測定器50B内の反射信号の経路中に、可変減衰器61、可変移相器62、位相比較器63およびコンパレータ65を挿入し、校正信号の経路中に、振幅検波器64、64aおよびコンパレータ65aを挿入したが、逆に、校正信号の経路中に、可変減衰器61、可変移相器62、位相比較器63およびコンパレータ65を挿入し、反射信号の経路中に、振幅検波器64、64aおよびコンパレータ65aを挿入してもよい。
以上のように、この発明の実施の形態3(図5)に係る校正経路測定回路40Bによれば、位相差・振幅比測定器50Bは、分配器41の第2の出力端子から入力される校正信号、またはサーキュレータ42の反射側端子から受信される反射信号、のいずれか一方の信号の移相および振幅を制御する可変移相器62および可変減衰器61と、可変移相器62または可変減衰器61を介した一方の信号と、可変移相器62および可変減衰器61を介していない他方の信号との位相差および振幅比を個別に比較するコンパレータ65、65aと、コンパレータ65、65aの各比較結果に応じて可変移相器および可変減衰器の設定値を個別に増減させる積算器66、66aと、を備えている。
上記構成により、コンパレータ65および積算器66を含む第1の比較ループと、コンパレータ65aおよび積算器66aを含む第2の比較ループとを用いて、可変移相器62および可変減衰器61の各設定値を収束させ、収束完了時の可変移相器62および可変減衰器61の各設定値に対応した積算器66、66aの値から、校正信号と反射信号との位相差および振幅比を測定する。
また、この発明の実施の形態3(図5)による位相差・振幅比測定器50Bは、可変移相器62および可変減衰器61とコンパレータ65との間に挿入された位相比較器63と、可変減衰器61とコンパレータ65aとの間に挿入された振幅検波器64と、他方の信号の受信端子とコンパレータ65aとの間に挿入された振幅検波器64aと、を備えている。
位相比較器63は、可変移相器62および可変減衰器61を介した一方の信号と他方の信号との位相差を比較結果として生成し、コンパレータ65は、位相比較器63の比較結果が所定の収束値(0レベルまたはオフセットレベル)に収束するまでハイレベルの出力信号を積算器66に入力する。
また、振幅検波器64は、可変減衰器61を介した一方の信号をコンパレータ65aの比較端子に入力し、振幅検波器64aは、他方の信号をコンパレータ65aの基準端子に入力し、コンパレータ65aは、振幅検波器64からの一方の信号の振幅が振幅検波器64aからの他方の信号の振幅に収束するまでハイレベルの出力信号を積算器66aに入力する。
これにより、前述と同様の作用効果を奏することができる。
1、2 アンテナモジュール、11、21 アンテナ素子、12、22 方向性結合器、13、23 信号切替スイッチ、14、24 終端器、15、25 反射器、16、26 送受信部、20 基準送信機、30 校正演算処理部、40、40A、40B 校正経路測定回路、41 分配器、42 サーキュレータ、43 アンテナ切替スイッチ、44、44a、44b 1/2演算回路、50、50A、50B 位相差・振幅比測定器、51、51a ミキサ、52、52a 低域通過フィルタ、53、53a AD変換器、54 局部発振器、55 位相差・振幅比演算回路、56 直交ミキサ、61 可変減衰器、62 可変移相器、63 位相比較器、64、64a 振幅検波器、65、65a コンパレータ、66、66a 積算器。

Claims (6)

  1. 複数のアンテナモジュールが同期して1つのアンテナとして動作するフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置であって、
    誤差校正用の校正信号を生成する基準送信機と、
    前記校正信号を前記複数のアンテナモジュールの各々に切替えて配信するためのアンテナ切替スイッチと、
    前記複数のアンテナモジュールの各アンテナ素子の経路に設置されて、前記校正信号を取り込むための方向性結合器と、
    前記方向性結合器の終端端子を終端状態と全反射状態とに切替えることにより、前記複数のアンテナモジュールの各々に前記校正信号を入力する状態と前記複数のアンテナモジュールの各々から前記校正信号を反射する状態とを切替える信号切替スイッチと、
    前記校正信号を反射する状態で前記複数のアンテナモジュールの各々から受信される反射信号の前記校正信号に対する誤差を演算する校正演算処理部と、
    を備えたことを特徴とするフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置。
  2. 前記基準送信機からの校正信号を第1および第2の出力端子から分配出力する分配器と、
    前記分配器の第1の出力端子と前記アンテナ切替スイッチの共通端子との間に挿入され、第1端子、第2端子および反射側端子を有するサーキュレータと、
    前記分配器の第2の出力端子および前記サーキュレータの反射側端子に接続された位相差・振幅比測定器と、
    前記位相差・振幅比測定器により測定された位相差および振幅比の1/2を、前記位相差・振幅比測定器の校正経路の誤差として前記校正演算処理部に入力する1/2演算回路と、を備え、
    前記サーキュレータは、前記分配器の第1の出力端子から前記サーキュレータの第1端子に入力される校正信号を、前記サーキュレータの第2端子および前記アンテナ切替スイッチを介して前記複数のアンテナモジュールの各々に配信するとともに、前記アンテナ切替スイッチを介して前記第2端子に受信される反射信号を、前記反射側端子を介して前記位相差・振幅比測定器に入力することを特徴とする請求項1に記載のフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置。
  3. 前記位相差・振幅比測定器は、
    前記分配器の第2の出力端子から受信される校正信号と、前記サーキュレータの反射側端子から受信される反射信号とを、同じ中間周波数に変換するミキサおよび局部発振器を備え、
    前記中間周波数において、前記校正信号と前記反射信号との位相差および振幅比を測定することを特徴とする請求項2に記載のフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置。
  4. 前記位相差・振幅比測定器は、
    前記分配器の第2の出力端子から受信される校正信号を局発信号として用い、前記サーキュレータの反射側端子から受信される反射信号を入力信号とする直交ミキサを備え、
    前記直交ミキサの同相信号および直交信号から得られる直流信号に基づき、前記校正信号と前記反射信号との位相差および振幅比を測定することを特徴とする請求項2に記載のフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置。
  5. 前記位相差・振幅比測定器は、
    前記分配器の第2の出力端子から入力される校正信号、または前記サーキュレータの反射側端子から受信される反射信号、のいずれか一方の信号の移相および振幅を制御する可変移相器および可変減衰器と、
    前記可変移相器または前記可変減衰器を介した前記一方の信号と、前記可変移相器および前記可変減衰器を介していない他方の信号との位相差および振幅比を個別に比較する第1および第2のコンパレータと、
    前記第1および第2のコンパレータの各比較結果に応じて前記可変移相器および前記可変減衰器の設定値を個別に増減させる第1および第2の積算器と、を備え、
    前記第1のコンパレータおよび前記第1の積算器を含む第1の比較ループと、前記第2のコンパレータおよび前記第2の積算器を含む第2の比較ループとにより、前記可変移相器および前記可変減衰器の各設定値を収束させ、
    収束完了時の前記可変移相器および前記可変減衰器の各設定値に対応した前記第1および第2の積算器の値により、前記校正信号と前記反射信号との位相差および振幅比を測定することを特徴とする請求項2に記載のフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置。
  6. 前記位相差・振幅比測定器は、
    前記可変移相器および前記可変減衰器と前記第1のコンパレータとの間に挿入された位相比較器と、
    前記可変減衰器と前記第2のコンパレータとの間に挿入された第1の振幅検波器と、
    前記他方の信号の受信端子と前記第2のコンパレータとの間に挿入された第2の振幅検波器と、を備え、
    前記位相比較器は、前記可変移相器および前記可変減衰器を介した前記一方の信号と前記他方の信号との位相差を比較結果として生成し、
    前記第1のコンパレータは、前記位相比較器の比較結果が所定の収束値に収束するまでハイレベルの出力信号を前記第1の積算器に入力し、
    前記第1の振幅検波器は、前記可変減衰器を介した前記一方の信号を前記第2のコンパレータの比較端子に入力し、
    前記第2の振幅検波器は、前記他方の信号を前記第2のコンパレータの基準端子に入力し、
    前記第2のコンパレータは、前記第1の振幅検波器からの前記一方の信号の振幅が前記第2の振幅検波器からの前記他方の信号の振幅に収束するまでハイレベルの出力信号を前記第2の積算器に入力することを特徴とする請求項5に記載のフェーズドアレーアンテナの校正経路測定装置。
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