JP2013134139A - 自動分析装置および測定値異常検出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】測定値異常チェックが開始し、対の複数検知器からの光量データによる濃度演算結果が定量範囲内かをチェックする(ステップa、b)。濃度演算結果が定量範囲内なら、対象検出器での濃度演算結果の平均値を算出し、濃度演算結果が定量範囲外であった場合はフラグを付与し対象検出器での濃度演算結果の平均値を算出する(ステップc、d)。濃度演算結果の平均値における変動幅既定値を呼び出し対象の複数検出器における濃度演算結果の変動幅を算出し、既定範囲内に収まっているかを判断する(ステップe、f、g)。変動幅が既定範囲内なら濃度演算結果をディスプレイに出力し既定範囲外であれば再検査の依頼を表示させ測定値異状アラームを付加する(ステップh、i、j)。
【選択図】図9
Description
Claims (12)
- 試料を分析する自動分析装置において、
試薬容器を保持する試薬容器保持機構と、
反応容器を保持する反応容器保持機構と、
上記試薬容器に収容された試薬を上記反応容器に分注する試薬分注機構と、
試料を上記反応容器に分注する試料分注機構と、
上記反応容器内の試料を分析する複数の光度検知器と、
上記試料の分析結果を表示する表示部と、
上記試薬容器保持機構、上記反応容器保持機構、上記試薬分注機構、上記試料分注機構、上記複数の光度検知器、及び上記表示部を制御するとともに、上記複数の光度検知器の各光度検知器について、各光度検知器の同一試料に対する複数の検出値から上記試料の濃度を演算し、演算した濃度の変動幅を算出し、算出した変動幅が予め定めた許容変動幅以内か否かを判断し、上記複数の光度検知器のうちのいずれかの光度計の検出値から算出した濃度の変動幅が許容変動幅以内でなければ、反応過程異常であることを上記表示部に表示させる制御部と、
を備えることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
上記複数の光度検知器のそれぞれに対して、対象物質の定量のための検量線を記憶するメモリを備え、上記制御部は、上記メモリに記憶された検量線に基づいて、試料の濃度を演算することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2に記載の自動分析装置において、
上記複数の光度検知器は、測定対象物質からの透過光を検知する光度検知器と、測定対象物質からの散乱光を検知する光度検知器とを有することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3に記載の自動分析装置において、
上記許容変動幅は、上記試料の濃度範囲別に設定され、上記制御部は、上記各光度検出器の出力値から算出した試料濃度の平均値を算出し、算出した上記平均値に従って、上記設定された許容変動幅を決定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3に記載の自動分析装置において、
上記許容変動幅は、上記試料の濃度範囲別に設定され、上記制御部は、上記各光度検出器の出力値から算出した試料濃度の最小値に従って、上記設定された許容変動幅を決定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3に記載の自動分析装置において、
上記許容変動幅は、上記試料の濃度範囲別に設定され、上記制御部は、上記各光度検出器の出力値から算出した試料濃度の最大値に従って、上記設定された許容変動幅を決定することを特徴とする自動分析装置。 - 試料を反応容器に分注する試料分注機構と、上記反応容器内の試料を分析する複数の光度検知器と、上記試料の分析結果を表示する表示部とを有し試料を分析する自動分析装置の測定値異常検出方法において、
上記複数の光度検知器の各光度検知器について、各光度検知器の同一試料に対する複数の検出値から上記試料の濃度を演算し、演算した濃度の変動幅を算出し、算出した変動幅が予め定めた許容変動幅以内か否かを判断し、上記複数の光度検知器のうちのいずれかの光度計の検出値から算出した濃度の変動幅が許容変動幅以内でなければ、反応過程異常であることを上記表示部に表示させることを特徴とする測定値異常検出方法。 - 請求項7に記載の測定値異常検出方法において、
上記複数の光度検知器のそれぞれに対して、対象物質の定量のための検量線をメモリに記憶し、記憶した検量線に基づいて、試料の濃度を演算することを特徴とする測定値異常検出方法。 - 請求項8に記載の測定値異常検出方法において、
上記複数の光度検知器は、測定対象物質からの透過光を検知する光度検知器と、測定対象物質からの散乱光を検知する光度検知器とを有することを特徴とする測定値異常検出方法。 - 請求項9に記載の測定値異常検出方法において、
上記許容変動幅は、上記試料の濃度範囲別に設定され、上記各光度検出器の出力値から算出した試料濃度の平均値を算出し、算出した上記平均値に従って、上記設定された許容変動幅を決定することを特徴とする測定値異常検出方法。 - 請求項9に記載の測定値異常検出方法において、
上記許容変動幅は、上記試料の濃度範囲別に設定され、上記各光度検出器の出力値から算出した試料濃度の最小値に従って、上記設定された許容変動幅を決定することを特徴とする測定値異常検出方法。 - 請求項9に記載の測定値異常検出方法において、
上記許容変動幅は、上記試料の濃度範囲別に設定され、上記各光度検出器の出力値から算出した試料濃度の最大値に従って、上記設定された許容変動幅を決定することを特徴とする測定値異常検出方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011284467A JP5897323B2 (ja) | 2011-12-26 | 2011-12-26 | 自動分析装置および測定値異常検出方法 |
EP12861407.0A EP2799882B1 (en) | 2011-12-26 | 2012-11-22 | Automatic analysis device and detection method for measurement value abnormalities |
CN201280064619.8A CN104011547B (zh) | 2011-12-26 | 2012-11-22 | 自动分析装置及测定值异常检测方法 |
US14/367,066 US9506942B2 (en) | 2011-12-26 | 2012-11-22 | Automatic analyzer and method for detecting measurement value abnormalities |
PCT/JP2012/080377 WO2013099486A1 (ja) | 2011-12-26 | 2012-11-22 | 自動分析装置および測定値異常検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011284467A JP5897323B2 (ja) | 2011-12-26 | 2011-12-26 | 自動分析装置および測定値異常検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013134139A true JP2013134139A (ja) | 2013-07-08 |
JP5897323B2 JP5897323B2 (ja) | 2016-03-30 |
Family
ID=48696985
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011284467A Active JP5897323B2 (ja) | 2011-12-26 | 2011-12-26 | 自動分析装置および測定値異常検出方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9506942B2 (ja) |
EP (1) | EP2799882B1 (ja) |
JP (1) | JP5897323B2 (ja) |
CN (1) | CN104011547B (ja) |
WO (1) | WO2013099486A1 (ja) |
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JP7187528B2 (ja) | 2020-12-28 | 2022-12-12 | 本田技研工業株式会社 | 車両用認識装置、車両制御システム、車両用認識方法、およびプログラム |
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---|---|
EP2799882A4 (en) | 2015-08-19 |
US9506942B2 (en) | 2016-11-29 |
CN104011547B (zh) | 2016-07-06 |
US20140356964A1 (en) | 2014-12-04 |
EP2799882B1 (en) | 2019-07-17 |
JP5897323B2 (ja) | 2016-03-30 |
CN104011547A (zh) | 2014-08-27 |
EP2799882A1 (en) | 2014-11-05 |
WO2013099486A1 (ja) | 2013-07-04 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
S533 | Written request for registration of change of name |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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