CN114174800A - 自动分析装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种自动分析装置，其排除气泡的影响来测定测定对象的散射光量并能够提高分析的精度以及可靠性。自动分析装置具备：光检测系统，其具备接受透射了测定对象(132)的透射光的透射光检测器(42)以及接受由测定对象(132)散射的散射光的散射光检测器(43)；波形取得部(49)，其取得来自透射光检测器(42)的第一扫描波形数据以及来自散射光检测器(43)的第二扫描波形数据；以及数据处理部(48)，其使用第一扫描波形数据以及第二扫描波形数据，确定测定对象(132)中的气泡的有无，以及在存在气泡的情况下确定第二扫描波形数据中的受到气泡的影响的区间。
Description
技术领域
本发明涉及一种进行血液、尿等生物样品的定性、定量分析的自动分析装置。
背景技术
自动分析装置向使血液、尿等生物样品与试剂反应而成的反应液照射光，基于测定透射光或散射光而得到的数据，求出目标成分的有无和浓度。容纳反应液的反应容器在可旋转的反应盘的圆周上连续排列，随着反应盘的旋转，一边使应该检测的光的光轴移动一边进行测定。
近年来，对自动分析装置要求以越来越高的精度高速地提供可靠性高的分析结果。在此，例如在用于分析的反应容器中产生气泡的情况下，有可能成为分析结果的误差的主要原因。在以下的现有文献中，公开了检测这样的异常发生的技术。
在专利文献1中公开了如下技术：在从容纳反应液的反应容器的一端到另一端的整个区间进行透射光的测光，基于所得到的测光数据中的光度的减少来检测异物。
专利文献2公开了如下技术：具备测定部，其进行预定时间的1个单元内的反应液的测光，但将其测光范围分割为多个区域，进行与该区域对应的测光量的积分值的运算以及比较，测定部根据比较的结果来检测反应液的异常或者单元的异常。
在专利文献3中公开了如下技术：在具有对反应容器内的试样进行分析的多个光度检测器的自动分析装置中，针对多个光度检测器的各光度检测器，根据各光度检测器的针对同一试样的多个检测值来运算试样的浓度，计算运算出的浓度的变动幅度，判断计算出的变动幅度是否在预先决定的容许变动幅度以内，如果根据多个光度检测器中的任意一个光度计的检测值计算出的浓度的变动幅度不是容许变动幅度以内，则显示反应过程异常。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2007-198739号公报
专利文献2：日本特开2015-102428号公报
专利文献3：日本特开2013-134139号公报
发明内容
发明所要解决的课题
专利文献1能够根据透射光量的减少来决定气泡等异物的位置。然而，在自动分析装置测定散射光的情况下，散射光如后所述具有由于气泡等异物的影响而减少或增加双方的可能性，因此无法以同样的技术检测位置。
在专利文献2中，不能判定在分割后的哪个区间存在气泡等异常，只不过是能够判定气泡的有无。
在专利文献3中，根据同一测定位置处的测定数据的偏差来检测测定对象有无气泡等异常，无法决定气泡的位置。
对测定对象的散射光进行测定的检测器因测定对象中产生的气泡而产生的光量变化的影响成为测定误差的主要原因。如果能够从测定对象的散射光波形数据掌握受到气泡的影响的波形区间，则能够排除包含成为误差的气泡的影响的波形区间，得到实质上没有气泡的状态下的波形数据。由此，能够提高分析的精度和可靠性。并且，如果不需要进行检体的再分析，则还能够缩短分析所需的时间。
用于解决课题的手段
本发明的一实施方式的自动分析装置具有：反应盘，其沿周向配置有多个反应容器，且能够间歇旋转；光检测系统，其包含光源和光度计，配置为使配置于反应盘的反应容器通过光源与光度计之间；以及光度计数据处理部，光检测系统具有：透射光检测器，其从光源向容纳于反应容器的测定对象照射光，接受透射了测定对象的透射光；以及散射光检测器，其从光源向容纳于反应容器的测定对象照射光，接受由测定对象散射的散射光，光度计数据处理部具有：波形取得部，其取得通过反应盘旋转而对测定对象扫描来自光源的光而得到的、来自透射光检测器的第一扫描波形数据以及来自散射光检测器的第二扫描波形数据；以及数据处理部，其使用第一扫描波形数据以及第二扫描波形数据，确定测定对象中的气泡的有无，以及在气泡存在的情况下，确定第二扫描波形数据中受到气泡的影响的区间。
发明效果
能够去除气泡的影响来对测定对象的散射光量进行测定，提高分析的精度及可靠性。
根据本说明书的描述和附图，其他问题和新特征将变得清楚。
附图说明
图1是自动分析装置的整体结构图。
图2是光检测系统和光度计数据处理部的结构例。
图3是在反应容器内存在气泡的情况下的扫描波形(散射光)的例子。
图4是在反应容器内存在气泡的情况下的扫描波形(散射光)的例子。
图5是在反应容器内存在气泡的情况下的扫描波形(散射光及透射光)的例子。
图6是在反应容器内存在气泡的情况下的扫描波形(散射光及透射光)的例子。
图7是用于决定没有气泡的波形区间的流程图。
图8A是用于说明判定存在气泡的波形区间的阈值设定方法的图。
图8B是用于说明判定存在气泡的波形区间的阈值设定方法的图。
图9是针对图5的扫描波形追加了平均值以及阈值的图。
图10是针对图6的扫描波形追加了平均值以及阈值的图。
图11A是用于决定没有气泡的波形区间的流程图。
图11B是用于决定没有气泡的波形区间的流程图。
图11C是用于决定没有气泡的波形区间的流程图。
图12A是用于说明差分阈值设定方法的图。
图12B是用于说明差分阈值设定方法的图。
图13是用于说明通过图11A～图11C的流程图，根据扫描波形(散射光及透射光)来决定没有气泡的波形区间的步骤的图。
图14是用于说明通过图11A～图11C的流程图，根据扫描波形(散射光及透射光)来决定没有气泡的波形区间的步骤的图。
具体实施方式
图1是自动分析装置的整体结构图。自动分析装置1作为主要的结构具备反应盘(反应容器保持机构)30、样品盘10、试剂盘(试剂容器保持机构)20、光源40、光度计41以及计算机54。
反应盘30能够间歇旋转，在该反应盘30上沿周向配置有由透光性材料构成的多个反应容器31。反应容器31通过恒温槽32维持在预定温度(例如37℃)。
在样品盘10上，在图示的例子中双重地沿周向载置有容纳血液、尿等生物体样品的多个检体容器11。另外，在样品盘10的附近配置有样品分注机构(试样分注机构)16。该样品分注机构16具备可动臂15和安装于该可动臂15上的移液管喷嘴17。根据所述结构，样品分注机构16在样品分注时使移液管喷嘴17通过可动臂15移动到分注位置，从位于样品盘10的吸入位置的检体容器11吸入预定量的样品，将该样品排出到位于反应盘30上的排出位置的反应容器31内。
试剂盘20沿周向配置有试剂冷藏库22。在该试剂冷藏库22中，沿着试剂盘20的圆周方向载置有粘贴有显示了条形码那样的试剂识别信息的标签的多个试剂瓶21。试剂瓶21中容纳有与能够由自动分析装置1分析的分析项目对应的试剂液。另外，对各试剂冷藏库22附属有条形码读取装置27，条形码读取装置27在试剂登记时读取显示在各试剂瓶21的外壁的条形码。读取到的试剂信息与试剂盘20上的位置一起被登记在存储器53中。
在试剂盘20的附近配置有具有与样品分注机构16大致相同的机构的试剂分注机构25。在试剂分注时，通过试剂分注机构25所具备的移液管喷嘴，从与位于反应盘30上的试剂接受位置的反应容器31的检查项目对应的试剂瓶21吸入试剂液，向相应的反应容器31内排出。
在被反应盘30、试剂盘20以及试剂分注机构25包围的位置配置有搅拌机构36。容纳在反应容器31内的样品与试剂的混合液被该搅拌机构36搅拌而促进反应。
由散射光检测器43和透射光检测器42构成的光度计41配置在反应盘30的外周侧，光源40配置在反应盘30的中心部附近。结束了搅拌的反应容器31的列旋转移动以便通过由光源40和光度计41夹着的测光位置。由光源40和光度计41构成光检测系统。各反应容器31内的样品与试剂的反应液在反应盘30的旋转动作中每次横穿光度计41之前被进行测光。对每个样品测定的透射光和散射光的模拟信号被输入到光度计数据处理部2。光度计数据处理部2具有波形取得部49、数据处理部48、数据存储部47。测定结束的反应容器31通过配置在反应盘30附近的反应容器清洗机构38，其内部被清洗，从而能够反复使用。
接着，对自动分析装置1的控制系统及信号处理系统进行简单说明。计算机54经由接口50与样品分注控制部19、试剂分注控制部29、光度计数据处理部2连接。计算机54向样品分注控制部19发送指令，控制样品的分注动作。另外，计算机54向试剂分注控制部29发送指令，控制试剂的分注动作。
在接口50上连接有用于打印的打印机56、作为存储装置的存储器53、外部输出介质55、用于输入操作指令等的输入装置52、用于进行画面显示的显示装置51。存储器53例如由硬盘存储器或外部存储器构成。在存储器53中存储各操作者的密码、各画面的显示等级、分析参数、分析项目委托内容、校准结果、分析结果等信息。
接着，说明自动分析装置1中的样品的分析动作。与能够通过自动分析装置1分析的项目相关的分析参数预先经由键盘等输入装置52输入并存储在存储器53中。操作者使用显示装置51的操作功能画面选择委托于各样品的检查项目。此时，患者ID等信息也从输入装置52输入。为了对针对各样品指示的检查项目进行分析，样品分注机构16的移液管喷嘴17按照分析参数，从检体容器11向反应容器31分注预定量的样品。
分注有样品(试样)的反应容器31通过反应盘30的旋转被移送，停止在试剂接受位置。试剂分注机构25的移液管喷嘴根据相应的检查项目的分析参数，向反应容器31分注预定量的试剂液。样品和试剂的分注顺序也可以与该例子相反，试剂在样品之前。之后，通过搅拌机构36进行样品与试剂的搅拌并混合。
在该反应容器31横穿测光位置时，通过光度计41对反应液的透射光和散射光进行测光。测光后的透射光和散射光通过光度计数据处理部2的波形取得部49转换为与光量成比例的数值数据，在数据处理部48中提取测定对象的光量数据后，经由接口50取入到计算机54。由波形取得部49取得的数值数据也能够经由数据处理部48保存在数据存储部47中。数据处理部48和数据存储部47中的处理也可以由计算机54和存储器53进行。
使用该转换后的数值，基于对每个检查项目指定的分析法预先测定的检量线，算出浓度数据。作为各检查项目的分析结果的成分浓度数据被输出到打印机56和显示装置51的画面。
图2是表示自动分析装置1中的光检测系统和光度计数据处理部2的结构例的示意图。来自光源40的照射光照射到容纳于反应容器31的试样与试剂的混合溶液即测定对象132。被照射的透射光被配置在光轴121上的透射光检测器42接受。来自测定对象132的散射光由相对于光轴121以与透射光检测器42不同的角度配置的散射光检测器43接受。透射光检测器42和散射光检测器43以相对于测定对象132的扫描位置相同的方式同步，波形取得部49取得各自的扫描波形。具体而言，如果透射光检测器42配置在散射光检测器43的铅垂线上，或者透射光检测器42相对于散射光检测器43在光轴121的扫描轨道方向上偏移配置，则也可以进行数据处理以补偿该偏移。数据处理部48根据波形取得部49取入的数据(扫描波形)，执行判定存在气泡的区间的数据处理。另外，由波形取得部49取得的数据任意地保存在数据存储部47中，在该情况下，数据处理部48能够从数据存储部47访问过去的波形数据。
另外，在自动分析装置中有时也具有用于进行基于透射光的分析的透射光检测器，但一般而言，基于透射光的分析中使用的光与基于散射光的分析中使用的光不同，光源也通常使用其他光源。本实施例中的透射光检测器42是以接受来自散射光检测器43用的光源40的光的方式设置的透射光检测器。
首先，对在自动分析装置1的光检测系统中由于在反应容器31内存在气泡引起的对扫描波形的影响进行说明。
图3示出在测定对象132中，从检测器观察气泡101存在于反应容器31的右侧且光轴轨道122上的情况的例子。在此，将光源40的光轴121通过反应盘30的旋转而在反应容器31上扫描的轨道称为光轴轨道122。上段是侧视图，中段是主视图，下段是散射光检测器43中取得的扫描波形(散射光)151。在该情况下，如果不存在气泡101则在光轴121上透射的光由于气泡101的存在而向其他方向散射。由此，在散射光检测器43的扫描波形151中，出现受到气泡101引起的散射光的影响而散射光的强度增大的区域。在扫描波形151中，若将表现出气泡101的影响的区域设为区间B，将除此以外的区域设为区间A，则区间B的散射光强度大于区间A。
图4表示在测定对象132中，从检测器观察气泡102存在于反应容器31的左侧且从光轴轨道122向上方偏离的位置的情况的例子。上段是侧视图，中段是主视图，下段是散射光检测器43中取得的扫描波形(散射光)153。如果不存在气泡102则入射到散射光检测器43的光由于气泡102的存在而向其他方向散射。由此，在散射光检测器43的扫描波形153中，出现受到气泡102引起的散射光的影响而散射光的强度减少的区域。在扫描波形153中，若将表现出气泡102的影响的区域设为区间C，将除此以外的区域设为区间D，则区间C的散射光强度小于区间D。
这样，尽管在图3和图4的情况下气泡的位置不同，但在散射光检测器43中取得的扫描波形151和扫描波形153表示相同的光量推移。
图5示出了图3的气泡位置保持不变而将测定对象132变更为浓度X的测定对象132x的情况的例子，图6示出图4的气泡位置保持不变而将测定对象132变更为浓度Y(浓度Y＞浓度X)的测定对象132y的情况的例子。图5的左上段是侧视图，左下段是主视图，右上段是散射光检测器43中取得的扫描波形(散射光)151x，右下段是在透射光检测器42中取得的扫描波形(透射光)161。另外，图6的左上段是侧视图，左下段是主视图，右上段是散射光检测器43中取得的扫描波形(散射光)153y，右下段是透射光检测器42中取得的扫描波形(透射光)163。
通过测定对象的浓度发生变化，扫描波形(散射光)151x、扫描波形(散射光)153y分别产生与浓度变化对应的散射光量的偏移。其结果，扫描波形(散射光)151x和扫描波形(散射光)153y不仅是波形推移，散射光量的大小也为相同程度，其结果是在该例子中两者成为大致同等的波形。这样，仅根据散射光检测器43的扫描波形，无法决定气泡所存在的区间。
另一方面，如图5、图6所示，即使在散射光检测器43的扫描波形大致相同的情况下，透射光检测器42的扫描波形中也出现差异。在图5的情况下，如果不存在气泡101则入射到透射光检测器42的光由于气泡101的存在而向其他方向散射。由此，在透射光检测器42的扫描波形161中，在气泡101所存在的区域(区间B)中，与不存在气泡的区域(区间A)相比，受到气泡101引起的散射的影响而透射光的强度减少。与此相对，在图6的情况下，如果不存在气泡102则入射到散射光检测器43的光由于气泡102的存在而向其他方向散射，其一部分入射到透射光检测器42。但是，沿着光轴121入射到透射光检测器42的光量与由于气泡102的散射而入射到透射光检测器42的光量相比更大，在气泡102所存在的区域(区间C)中的透射光检测器42的受光量与不存在气泡102的区域(区间D)中的透射光检测器42的受光量几乎没有变化。
综上所述，在透射光检测器42的前方存在气泡的情况下，向透射光检测器42的入射光因气泡而散射，从而与没有气泡的区间相比，光量减少，另一方面，向散射光检测器43的入射光受到气泡引起的散射光的影响，与没有气泡的区间相比，光量增加。与此相对，在散射光检测器43的前方存在气泡的情况下，向散射光检测器43的入射光因气泡而散射，从而与没有气泡的区间相比，光量减少，另一方面，向透射光检测器42的入射光的透射光极大，能够忽略气泡引起的散射光的影响。在本实施例中，基于透射光检测器42的扫描波形与散射光检测器43的该扫描波形的波形推移的差异，决定反应容器31内的气泡所存在的区域。
图7表示针对浓度已知的测定对象，根据扫描波形决定没有气泡的影响的波形区间的流程图。为此，使用预先确定的阈值进行气泡引起的光量的增加或减少的判定。数据处理部48预先存储了这些阈值。作为测定对象的浓度已知的情况，可举出校准或对照测定的情况。在校准的情况下，为了生成检量线，进行针对已知浓度的标准物质的测定，在对照测定中，向反应容器31加入纯水来进行测定。以下示出阈值设定的例子。图8A是针对没有气泡的测定对象的散射光检测器43的扫描波形171，图8B是针对没有气泡的测定对象的透射光检测器42的扫描波形173。首先，在各检测器的扫描波形中计算变动幅度V。将由散射光检测器43检测出的散射光量的变动幅度VA的最大值与平均值AA之差的3倍与平均值AA相加而得的值设为上限阈值ThAU，将变动幅度VA的最小值与平均值AA之差的3倍从平均值AA减去而得的值设为下限阈值ThAL。同样地，基于由透射光检测器42检测出的透射光量的变动幅度VB以及平均值AB，决定上限阈值ThBU以及下限阈值ThBL。另外，上述是一个例子，也可以基于实际想要检测的气泡引起的光量的振幅的上限、下限来决定。
以在反应容器31中在图5所示的位置存在气泡的情况为例，说明通过图7的流程图决定气泡所存在的波形区间的步骤。图9是针对图5所示的扫描波形追加了浓度X下的散射光量(透射光量)的平均值AA(AB)、上限阈值ThAU(ThBU)、下限阈值ThAL(ThBL)的图。
首先，当通过波形取得部49通过透射光检测器42和散射光检测器43取得测定对象的扫描波形时，数据处理部48开始没有气泡的波形区间的决定(S100)。
首先，将透射光量的扫描波形161与下限阈值ThBL进行比较(S101)，区间B为下限阈值ThBL以下，因此对区间B赋予透射光量减少标志Flg1(S102)。接着，将散射光量的扫描波形151x与下限阈值ThAL进行比较(S103)，没有下限阈值ThAL以下的区间，因此转移到步骤S105。将扫描波形151x与上限阈值ThAU进行比较，区间B为上限阈值ThAU以上，因此对区间B赋予散射光量增加标志Flg4(S106)。
接着，在步骤S107中，由于区间B是被赋予了透射光量减少标志Flg1和散射光量增加标志Flg4两者的区间，因此提取区间B作为存在气泡的波形区间，从扫描波形的数据去除相应波形区间(在此为区间B)的数据(S108)。另外，在步骤S107中，期待被赋予了透射光量减少标志Flg1的区间和被赋予了散射光量增加标志Flg4的区间大致重叠，但实际上认为在区间的两端会产生偏差。在该情况下，可以说被赋予了透射光量减少标志Flg1或散射光量增加标志Flg4中的任一个的区间表现出气泡的影响，因此，如果被赋予了任意一个标志，则优选成为去除的对象。接着，在步骤S109中没有被赋予散射光量减少标志Flg3的区间，因此转移到步骤S111，将残留的波形区间A决定为没有气泡的波形区间。
与此相对，以在反应容器31中在图6所示的位置存在气泡的情况为例，说明通过图7的流程图决定气泡存在的波形区间的步骤。图10是针对图6所示的扫描波形追加了浓度Y下的散射光量(透射光量)的平均值AA(AB)、上限阈值ThAU(ThBU)、下限阈值ThAL(ThBL)的图。
首先，当通过波形取得部49由透射光检测器42和散射光检测器43取得测定对象的扫描波形时，数据处理部48开始没有气泡的波形区间的决定(S100)。
首先，将透射光量的扫描波形163与下限阈值ThBL进行比较(S101)，没有上限阈值ThBL以下的区间，因此转移到步骤S103。在步骤S103中，将散射光量的扫描波形153y与下限阈值ThAL进行比较，由于区间C为下限阈值ThAL以下，因此对区间C赋予散射光量减少标志Flg3(S104)。接着，将扫描波形153y与上限阈值ThAU进行比较(S105)，没有上限阈值ThAU以上的区间，因此转移到步骤S107。
在步骤S107中，由于没有被赋予透射光量减少标志Flg1和散射光量增加标志Flg4两者的区间，所以转移到步骤S109，区间C是被赋予了散射光量减少标志Flg3的区间，因此提取区间C作为气泡所存在的波形区间，从扫描波形的数据去除相应波形区间(在此为区间C)的数据(S110)，将残留的波形区间D决定为没有气泡的波形区间(S111)。
图11A～图11C表示针对浓度未知的测定对象，根据扫描波形决定无气泡的波形区间的流程图。在该情况下，与图7的流程不同，由于浓度未知，因此无法预先决定阈值。因此，除了图7的流程之外，还包含设定用于判定没有气泡的波形区间的阈值的流程。作为测定对象的浓度未知的情况，可举出针对检体的分析中的测定的情况。
在图12A所示的针对没有气泡的测定对象的散射光检测器43的扫描波形271中，计算前后的采样位置的散射光量的差分d，求出图12B所示的差分波形272。在测定对象中没有气泡的情况下，差分波形272的光量推移与位置、测定对象的浓度无关而大致固定，因此在受光波形的前后位置的数据中差分变得极小。因此，将由散射光检测器43检测出的散射光量的差分的变动幅度DVA的最大值的3倍的值设为差分上限阈值DThAU，将变动幅度DVA的最小值的3倍的值设为差分下限阈值DThAL。
数据处理部48在对检体进行分析之前预先存储这些阈值。散射光量的差分d的主要原因被认为除了背景噪声之外，还因反应容器31的变形或损伤而引起。假设背景噪声大致固定，另一方面，反应容器31的变形或损伤表现为异常值，因此去除这些异常值的影响而求出阈值即可。进而，优选基于对各反应容器31进行了对照测定的结果来计算这些阈值。例如，通过针对每个对照测定计算并更新这些阈值，能够将判定保持为高精度。另外，通过对每个反应容器31存储这些阈值，也能够高精度地保持判定。
以在反应容器31中在图5所示的位置存在气泡的情况(其中，测定对象的浓度未知)为例，说明通过图11A～图11C的流程图决定气泡存在的波形区间的步骤。图13的左上段表示散射光检测器43的扫描波形151，图13的左下段表示透射光检测器42的扫描波形161。分别对其附记了测定对象的浓度下的散射光量(透射光量)的平均值AA(AB)、上限阈值ThAU(ThBU)、下限阈值ThAL(ThBL)。但是，在该情况下，由于测定对象的浓度未知，因此这些值也是未知的。
首先，当通过波形取得部49由透射光检测器42和散射光检测器43取得测定对象的扫描波形时，数据处理部48开始没有气泡的波形区间的决定(S200)。
根据散射光检测器43的扫描波形151计算差分波形152(S201)。将得到的差分波形152示于图13的右上段。将散射光的差分波形与差分上限阈值DThAU及差分下限阈值DThAL进行比较，求出超过此的区间，作为波形数据的去除区间。在图13的右上段的差分波形152中，去除区间以网格表示。另外，针对图13的右中段、右下段的散射光波形、透射光波形也相同。
接着，从透射光的扫描波形中去除超过差分上限阈值/下限的波形区间(去除区间)(S203)。将该状态示于图13的右下段。同样地，从散射光的扫描波形中去除超过差分上限阈值/下限的波形区间(去除区间)(S204)。将去除了去除区间后的散射光的扫描波形示于图13的右中段。
针对去除了去除区间的透射光的扫描波形中连续的波形区间，分别计算平均值(S205)。在该例子中，由于具有2处连续的波形区间，因此计算平均值203、204。将计算出的平均值203、204中的值最大的平均值203作为透射光的扫描波形的平均值AB(S206)。这是因为，如果以遮挡光源与透射光检测器42之间的方式存在气泡，则透射光量降低。
接着，设定透射光量的下限阈值ThBL(S207)。具体而言，与图8B同样地求出计算出设为平均值AB的平均值203的透射光的连续波形区间中的变动幅度V，基于平均值AB以及变动幅度V，能够设定透射光量的下限阈值ThBL。
接着，将透射光的扫描波形161(图13的左下栏)与下限阈值ThBL进行比较(S208)，由于区间B为下限阈值ThBL以下，因此对区间B赋予透射光量减少标志Flg1(S209)。接着，去除散射光的残留的连续区间中的被赋予了透射光量减少标志Flg1的区间(S210)。在该情况下，将区间B所包含的连续区间从以后的处理中排除。
针对去除区间以及被赋予了透射光量减少标志Flg1的区间被去除后的散射光的扫描波形中的连续的波形区间，分别计算平均值(S211)，将计算出的平均值中的值最大的平均值作为散射光的扫描波形的平均值AA(S212)。这是因为，如果以遮挡光源与散射光检测器43之间的方式存在气泡，则散射光量降低。在该例子中，如图13的右中段所示，残留的连续区间为1处，因此该连续区间的平均值201成为散射光的扫描波形的平均值AA。
接着，设定散射光量的上限阈值ThAU和下限阈值ThAL(S213)。具体而言，与图8A同样地求出计算出被设为平均值AA的平均值201的散射光的连续波形区间中的变动幅度V，基于平均值AA以及变动幅度V，能够设定散射光量的上限阈值ThAU以及下限阈值ThAL。
通过以上，计算出测定对象的散射光量(透射光量)的平均值AA(AB)、上限阈值ThAU、下限阈值ThAL(ThBL)。在步骤S214中，将散射光的扫描波形151(图13的左上段)与下限阈值ThAL进行比较，由于没有下限阈值ThAL以下的波形区间，因此转移到步骤S216，区间B为上限阈值ThAU以上，因此对区间B赋予散射光量增加标志Flg4(S217)。
接着，在步骤S218中，由于区间B是被赋予了透射光量减少标志Flg1和散射光量增加标志Flg4两者的区间，因此提取区间B作为存在气泡的波形区间，从扫描波形的数据去除该波形区间(在此为区间B)的数据(S219)。接着，在步骤S220中没有被赋予散射光量减少标志Flg3的区间，因此转移到步骤S222，将残留的波形区间A决定为没有气泡的波形区间。
与此相对，以在反应容器31中在图6所示的位置存在气泡的情况为例，通过图11A～图11C的流程图说明决定气泡存在的波形区间的步骤。图14的左上段表示散射光检测器43的扫描波形153，图14的左下段表示透射光检测器42的扫描波形163。分别对其附记了测定对象的浓度下的散射光量(透射光量)的平均值AA(AB)、上限阈值ThAU(ThBU)、下限阈值ThAL(ThBL)。但是，在该情况下，由于测定对象的浓度未知，因此这些值也是未知的。
首先，当通过波形取得部49由透射光检测器42和散射光检测器43取得测定对象的扫描波形时，数据处理部48开始没有气泡的波形区间的决定(S200)。
根据散射光检测器43的扫描波形153计算差分波形154(S201)。将得到的差分波形154示于图14的右上段。将散射光的差分波形与差分上限阈值DThAU及差分下限阈值DThAL进行比较，求出超过此的区间，作为波形数据的去除区间。在图14的右上段的差分波形154中，去除区间以网格表示。另外，针对图14的右中段、右下段的散射光波形、透射光波形也相同。
接着，从透射光的扫描波形中去除超过差分上限阈值/下限的波形区间(去除区间)(S203)。将该状态示于图14的右下段。同样地，从散射光的扫描波形中去除超过差分上限阈值/下限的波形区间(去除区间)(S204)。图14的右中段示出去除了去除区间的散射光的扫描波形。
针对去除了去除区间后的透射光的扫描波形中的连续的波形区间，分别计算平均值(S205)。在该例子中，由于具有2处连续的波形区间，因此计算平均值207、208。将计算出的平均值207、208中的值最大的平均值207设为透射光的扫描波形的平均值AB(S206)。这是因为，如果以遮挡光源与透射光检测器42之间的方式存在气泡，则透射光量降低。
接着，设定透射光量的下限阈值ThBL(S207)，将透射光的扫描波形163(图14的左下栏)与下限阈值ThBL进行比较(S208)，没有下限阈值ThBL以下的波形区间，因此转移到步骤S211。
针对去除区间以及被赋予透射光量减少标志Flg1的区间被去除后的散射光的扫描波形中的连续的波形区间，分别计算平均值(S211)，将计算出的平均值中的值最大的平均值作为散射光的扫描波形的平均值AA(S212)。这是因为，如果以遮挡光源与散射光检测器43之间的方式存在气泡，则散射光量降低。在该例子中，如图14的右中段所示，残留的连续区间为2处，因此计算平均值205、206，在平均值205、206中值最大的平均值206成为散射光的扫描波形的平均值AA。
接着，设定散射光量的上限阈值ThAU和下限阈值ThAL(S213)。通过以上，计算出测定对象的散射光量(透射光量)的平均值AA(AB)、上限阈值ThAU、下限阈值ThAL(ThBL)。
在步骤S214中，将散射光的扫描波形153(图14的左上方)与下限阈值ThAL进行比较，由于区间C为下限阈值ThAL以下，因此对区间C赋予散射光量减少标志Flg3(S215)。另一方面，由于没有上限阈值ThAU以上的波形区间(S216)，所以转移到步骤S218。
在步骤S218中，由于没有被赋予了透射光量减少标志Flg1和散射光量增加标志Flg4两者的区间，所以转移到步骤S220，由于区间C是被赋予了散射光量减少标志Flg3的区间，所以提取区间C作为气泡存在的波形区间，从扫描波形的数据去除该波形区间(在此为区间C)的数据(S221)。接着，转移到步骤S222，将残留的波形区间D决定为没有气泡的波形区间。
自动分析装置1通过这样从散射光检测器43检测出的散射光的扫描波形中提取未受到气泡的影响的区间，使用提取出的波形数据进行基于散射光量的分析，从而进行没有气泡的影响的分析，由此能够提高分析的精度和可靠性。
附图标记的说明
1:自动分析装置、2：光度计数据处理部、10：样品盘、11：检体容器、15：可动臂、16：样品分注机构、17：移液管喷嘴、19：样品分注控制部、20：试剂盘、21：试剂瓶、22：试剂冷藏库、25：试剂分注机构、27：条形码读取装置、29：试剂分注控制部、30：反应盘、31：反应容器、32：恒温槽、36：搅拌机构、38：反应容器清洗机构、40：光源、41：光度计、42：透射光检测器、43：散射光检测器、47：数据存储部、48：数据处理部、49：波形取得部、50：接口、51：显示装置、52：输入装置、53：存储器、54：计算机、55：外部输出介质、56：打印机、101、102：气泡、121：光轴、122：光轴轨道、132：测定对象、151、153、171、271：散射光扫描波形、161、163、173：透射光扫描波形、152、154、272：差分波形、201、203、204、205、206、207、208：平均值。
Claims (9)
1.一种自动分析装置，其特征在于，
该自动分析装置具备：
反应盘，其沿周向配置多个反应容器且能够间歇旋转；
光检测系统，其包含光源和光度计，以使配置于所述反应盘的所述反应容器通过所述光源与所述光度计之间的方式进行配置；以及
光度计数据处理部，
所述光检测系统具备：透射光检测器，其从所述光源向容纳在所述反应容器中的测定对象照射光，接受透射了所述测定对象的透射光；以及散射光检测器，其从所述光源向容纳在所述反应容器中的所述测定对象照射光，接受由所述测定对象散射的散射光，
所述光度计数据处理部具有：波形取得部，其取得通过所述反应盘旋转而对所述测定对象扫描来自所述光源的光而得到的、来自所述透射光检测器的第一扫描波形数据以及来自所述散射光检测器的第二扫描波形数据；以及数据处理部，其使用所述第一扫描波形数据以及所述第二扫描波形数据，确定所述测定对象中的气泡的有无，以及在存在所述气泡的情况下确定所述第二扫描波形数据中的受到所述气泡的影响的区间。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述透射光检测器和所述散射光检测器以相对于所述测定对象的扫描位置相同的方式进行同步。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
从所述第二扫描波形数据中去除由所述数据处理部确定的所述区间的扫描波形数据，进行基于所述测定对象的散射光量的分析。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述数据处理部存储有所述透射光检测器检测的透射光量的透射光下限阈值、所述散射光检测器检测的散射光量的散射光上限阈值和散射光下限阈值，
确定所述第一扫描波形数据中的透射光量为所述透射光下限阈值以下、或者所述第二扫描波形数据中的散射光量为所述散射光上限阈值以上的第一区间，
确定所述第二扫描波形数据中的散射光量为所述散射光下限阈值以下的第二区间，
将所述第一区间和所述第二区间确定为受到所述气泡的影响的所述区间。
5.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述数据处理部针对根据来自所述散射光检测器的扫描波形数据计算前后的采样位置的散射光量的差分而得到的差分波形，存储有差分上限阈值以及差分下限阈值，
将针对所述第二扫描波形数据而求出的所述差分波形超过所述差分上限阈值或所述差分下限阈值的区间确定为去除区间，
基于所述第一扫描波形数据中的除了所述去除区间以外的区间的透射光量，设定透射光量的透射光下限阈值，
基于所述第二扫描波形数据中的除了所述去除区间以外的区间的散射光量，设定散射光量的散射光上限阈值以及散射光下限阈值。
6.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，
所述数据处理部确定所述第一扫描波形数据中的透射光量为所述透射光下限阈值以下、或者所述第二扫描波形数据中的散射光量为所述散射光上限阈值以上的第一区间，
确定所述第二扫描波形数据中的散射光量为所述散射光下限阈值以下的第二区间，
将所述第一区间和所述第二区间确定为受到所述气泡的影响的所述区间。
7.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，
所述数据处理部按每个所述反应容器存储所述差分上限阈值以及所述差分下限阈值。
8.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，
所述数据处理部根据来自将纯水作为所述测定对象的所述散射光检测器的扫描波形数据求出所述差分波形，并设定所述差分上限阈值以及所述差分下限阈值。
9.根据权利要求8所述的自动分析装置，其特征在于，
所述数据处理部在进行以纯水为所述测定对象的对照测定时，重新设定所述差分上限阈值以及所述差分下限阈值。
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Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010151519A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| US20120315190A1 (en) * | 2010-02-25 | 2012-12-13 | Sakuichiro Adachi | Automatic analysis device |
| JP2013113652A (ja) * | 2011-11-28 | 2013-06-10 | Hitachi Aloka Medical Ltd | 気泡検出装置 |
| JP2013134139A (ja) * | 2011-12-26 | 2013-07-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置および測定値異常検出方法 |
| JP2015102428A (ja) * | 2013-11-26 | 2015-06-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US20150219556A1 (en) * | 2012-07-20 | 2015-08-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device, and automatic analysis method |
| CN105008899A (zh) * | 2013-04-02 | 2015-10-28 | 株式会社日立高新技术 | 分析装置及自动分析装置 |
| CN204988993U (zh) * | 2015-10-13 | 2016-01-20 | 爱威科技股份有限公司 | 一种液体测试仪 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09101312A (ja) * | 1995-10-05 | 1997-04-15 | Hitachi Ltd | 自動分析装置および反応容器 |
| US20040142481A1 (en) | 2003-01-21 | 2004-07-22 | Hartlein Thomas M. | Foam detection/prevention in the context of a purge and trap sample concentrator |
| US8076154B2 (en) | 2007-06-05 | 2011-12-13 | Ecolab Usa Inc. | Method of calibration for nonlinear optical sensor |
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-
2020
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Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010151519A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| US20120315190A1 (en) * | 2010-02-25 | 2012-12-13 | Sakuichiro Adachi | Automatic analysis device |
| JP2013113652A (ja) * | 2011-11-28 | 2013-06-10 | Hitachi Aloka Medical Ltd | 気泡検出装置 |
| JP2013134139A (ja) * | 2011-12-26 | 2013-07-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置および測定値異常検出方法 |
| CN104011547A (zh) * | 2011-12-26 | 2014-08-27 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置及测定值异常检测方法 |
| US20150219556A1 (en) * | 2012-07-20 | 2015-08-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device, and automatic analysis method |
| CN105008899A (zh) * | 2013-04-02 | 2015-10-28 | 株式会社日立高新技术 | 分析装置及自动分析装置 |
| US20160025758A1 (en) * | 2013-04-02 | 2016-01-28 | Hitachi High-Technologies Corporation | Analyzer and automatic analyzer |
| JP2015102428A (ja) * | 2013-11-26 | 2015-06-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| CN204988993U (zh) * | 2015-10-13 | 2016-01-20 | 爱威科技股份有限公司 | 一种液体测试仪 |
Also Published As
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