JP2013106625A - 超音波診断装置 - Google Patents

Abstract

【課題】チャネル毎の送信波形を調整することにより、送信音場プロファイルの悪化等をなくし、Ｓ／Ｎ比劣化を防止することが可能な超音波診断装置を提供する。
【解決手段】実施形態の超音波診断装置は、配列された複数の振動子を有し、各振動子に送信パルスを印加することで超音波を送信させ、送信パルス発生手段と制御手段とを有する。送信パルス発生手段は、振動子毎に設けられ、駆動信号の入力を受けることにより、前記送信パルスを生成する。制御手段は、送信パルスの立ち上がり／立ち下がり時間を制御する。制御手段は、駆動信号の大きさを変化させることにより送信パルスを制御する調整手段を有する。
【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、超音波診断装置に関する。

超音波診断装置は、超音波パルス反射法により体表から生体内の軟組織の断層像を無侵襲に得ることができ、Ｘ線診断装置、Ｘ線ＣＴ装置、ＭＲＩ診断装置、核医学診断装置などの他の診断装置に比べて、小型で安価、リアルタイム表示が可能、Ｘ線などによる被ばくがなく安全性が高い、血流イメージングが可能等の特徴を有している。

超音波診断装置においては、超音波の送受波を行う振動子を有する超音波プローブが、ケーブルにより装置本体内の送受信回路に接続されている。この送受信回路は、この超音波プローブの振動子に印加される送信信号（送信パルスあるいは励振パルスとも称される）を発生すると共に、振動子からの受信信号（受信エコー）の増幅等の処理を行う。超音波プローブから超音波を発生させるためには、プローブ内の振動子（通常セラミックで構成されている）に電気的な送信パルスを印加する必要がある。振動子に送信パルスを印加する送信パルス発生手段（パルサー）は通常振動子毎に設けられている。

図７は従来の送信回路図である。一般的な超音波診断装置では、図７に示すように、送信波形（送信パルスの波形）として矩形波が使用されており、コスト／性能／デバイスサイズの観点から送信パルス発生手段３のスイッチグデバイスとしてＭＯＳＦＥＴ（Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｆｉｅｌｄ Ｅｆｆｅｃｔ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）３１が採用される場合が多い。

図７ではトランス昇圧パルサーを示している。ＭＯＳＦＥＴ３１はトランス３２の１次側コイル３２ａを駆動し、トランス３２によって昇圧された送信パルスが２次側コイル３２ｂに生成され超音波プローブ１内の振動子１ａに印加される。送信ビームフォーマーからの駆動信号（トリガー信号：デジタル波形）が出力バッファ増幅素子４１を介して、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に入力されると、２次側コイル３２ｂに送信パルスが生成される。なお、送信ビームフォーマーからの駆動信号によりＭＯＳＦＥＴ３１を直接的に駆動可能であれば、出力バッファ増幅素子４１は不要である。

特開２０００−１３９９０７号公報

図７のように構成された送信パルス発生手段３は、プローブ１の振動子１ａの数分だけ搭載されている。この送信パルス発生手段３は、ＭＯＳＦＥＴ３１の部品バラツキ、基板のパターン長バラツキ等によりチャネルＣＨ毎に送信波形がばらつく可能性があるが、これを調整する手段は装備されていない。

従って、図７の送信パルス発生手段３の構成の場合、各振動子１ａから送波される超音波が利用とされる波形からずれてしまい、例えば超音波波面が焦点でそろわず、送信音場プロファイルの悪化等が発生し、画像のＳ／Ｎ比劣化が生じるという問題点があった。

この実施形態は、上記の問題を解決するものであり、チャネル毎の送信波形を調整することにより、送信音場プロファイルの悪化等をなくし、Ｓ／Ｎ比劣化を防止することが可能な超音波診断装置を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、実施形態の超音波診断装置は、配列された複数の振動子を有し、各振動子に送信パルスを印加することで超音波を送信させ、送信パルス発生手段と制御手段とを有する。送信パルス発生手段は、振動子毎に設けられ、駆動信号の入力を受けることにより、前記送信パルスを生成する。制御手段は、送信パルスの立ち上がり／立ち下がり時間を制御する。制御手段は、駆動信号の大きさを変化させることにより送信パルスを制御する調整手段を有する。

一実施形態に係る送信回路図。 超音波診断装置の基本構成を示すブロック図。 ＭＯＳＦＥＴのゲート端子に供給される電流を変化させたときの送信波形図。 制御手段の構成例を示す図。 各チャネルＣＨにおける送信パルスの特徴量を表す図。 調整手段の動作の一例を示すフローチャート。 従来の送信回路図。

この超音波診断装置の実施形態について各図を参照して説明する。図１は送信回路図、図２は超音波診断装置の基本的構成を示すブロック図である。

図１及び図２に示すように、超音診断装置は、超音波プローブ１、送受信手段２、制御手段４、信号処理手段６、表示制御手段７、及びディスプレイ８を有する。

超音波プローブ１は、超音波の送受波を行う振動子１ａを有する。超音波プローブ１は、ケーブルにより装置本体内の送受信手段２に接続されている。

送受信手段２は送信パルス発生手段３を有する。送信パルス発生手段３は振動子１ａ毎に設けられている。送信パルス発生手段３は、超音波プローブ１の振動子１ａに印加される送信パルスを発生する。なお、送信パルス発生手段３の詳細については後述する。

送受信手段２は、振動子１ａからの受信信号の増幅等の処理を行う。増幅等の処理がされた受信信号（場合によってはデジタルデータへの変換も実施された）は、信号処理手段６に付与される。

制御手段４は調整手段５を有する。調整手段５は、送信パルス発生手段３に入力される駆動信号を調整することにより送信パルスを制御する。なお、制御手段４及び調整手段５の詳細については後述する。

信号処理手段６は、Ｂモード像、ドプラ像、Ｍモード像の如き超音波画像用の信号データを生成する。

表示制御手段７は、信号データをビデオフォーマットに変換し、ディスプレイ８等の画像表示機器に超音波画像として出力する。

次に、送信パルス発生手段３の詳細について図１を参照して説明する。

図１に示すように、送信パルス発生手段３は、駆動信号の入力を受けて送信パルスを出力するように構成されている。

送信パルス発生手段３は、従来の送信回路図でも説明したように、駆動信号がゲート端子に入力されるＭＯＳＦＥＴ３１と、トランス３２とを有する。ＭＯＳＦＥＴ３１は入力容量（ゲート−ソース間に存在する入力容量を図１にＣｇｓで示す）を有する。ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子には入力容量を充電させるための電流が供給され、入力容量が所定の端子間電圧になったときＭＯＳＦＥＴ３１のソースにパルス電流が流れる。トランス３２は、ＭＯＳＦＥＴ３１に接続された１次側コイル３２ａと、振動子１ａに接続され、昇圧された送信パルスが生成される２次側コイル３２ｂとを有する。

なお、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に供給される電流を「ドライブ電流」という場合がある。

図３は、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に供給されるドライブ電流を変化させたときの送信波形図である。図３では、実施形態のように制御手段４によらず、電源及び純抵抗（インダクタンスやキャパシタンスを含まない負荷）を、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に接続することによりドライブ電流を変化させている。

図３に示すように、ドライブ電流の値を大きくすると、ドライブ電流の値が小さい場合に比べ、送信波形の幅が広がり、かつ送信波高値が高くなり、送信パルスの立ち上がり時間／立ち下がり時間が早くなり、ドライブ電流の大きさと、送信パルスの立ち上がり時間／立ち下がり時間とが対応していることがわかる。

以上の結果からもわかるように、ドライブ電流を制御して、送信波形を制御することにより、送信パルスの立ち上がり時間を制御することが可能となる。

次に、制御手段４の詳細について図４を参照して説明する。図４は制御手段の構成例を示す図である。

制御手段４は、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に供給されるドライブ電流を変化させ、入力容量が所定の端子間電圧に達する時間を調整することにより、送信パルスの立ち上がり／立ち下がり時間を制御する。

図４に示すように、送信ビームフォーマーからのディジタル波形にはプラス電圧成分及びマイナス電圧成分が含まれている。制御手段４は、プラス電圧成分を可変させことにより送信プラスの立ち上がり時間を変化させる手段、マイナス電圧成分を可変させることにより送信パルスの立ち下がり時間を変化させる手段（図４では省略）、及び調整手段５を有する。各手段は同じ構成をしており、以下、プラス電圧成分を変化させる手段について代表して説明する。

各手段は可変バッファ増幅素子４２を有する。可変バッファ増幅素子４２は、４つの出力バッファ増幅素子４３、及び４つのスイッチ４４を有する。なお、出力バッファ増幅素子４３は複数であればよく、またスイッチ４４は、出力バッファ増幅素子４３の数と同数であればよい。以下に、ドライブ電流を段階的に可変させる制御手段４を示す。これに限らず、ドライブ電流を連続的に可変させる制御手段４であってもよい。

各出力バッファ増幅素子４３の入力端子は送信ビームフォーマー（図示省略）に並列に接続されている。

各スイッチ４４は、出力バッファ増幅素子４３に対応してそれぞれ設けられている。各スイッチ４４は、それらに対応する出力バッファ増幅素子４３を選択的にＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に接続させる。

各スイッチ４４の一方の端子は、出力バッファ増幅素子４３の出力端子に直列に接続されている。各スイッチ４４の他方の端子は、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に並列に接続されている。

送信ビームフォーマーからのドライブ電流の値をＤとし、各出力バッファ増幅素子４３の増幅率をａとすると、オンされるスイッチ４４の数が増えるに応じて、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に供給されるドライブ電流の大きさが４段階（Ｄ＊ａ、２Ｄ＊ａ、３Ｄ＊ａ、４Ｄ＊ａ）に可変される。

次に、調整手段５の詳細について図４を参照して説明する。

図４に示すように、調整手段５は、ドライブ電流を複数段階に変化させるように構成され、段階設定手段５１及び調整制御手段５２を有する。

段階設定手段５１は、調整制御手段５２の指示を受けて、ドライブ電流を４段階のいずれか一つの値に設定する。

調整制御手段５２は、収集手段５３、平均値算出手段５４、及び段階算出手段５５を有する。

収集手段５３は、チャネルＣＨ（振動子１ａ）毎に、全段階にわたるドライブ電流に基づく送信パルスの特徴量を収集する。ここで、特徴量とは、例えば、実効値（電圧）［Ｖ］やある帯域でのパワー量［Ｐ］などがある。

送信パルス発生手段３には自己診断回路（図示省略）設けられている。自己診断回路は、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端末に中央値（２Ｄ＊ａ）のドライブ電流を入力したときの送信パルスの特徴量をチャネルＣＨ毎に検出する。具体的には、高電圧の送信パルスを抵抗分圧等の回路でアッテネート（例えば２Ｖｐ−ｐ）する。収集手段５３は自己診断回路により検出された信号をＡ／Ｄ変換しデジタルデータ（特徴量）として収集を行う。図４に示す検出手段９は、自己診断回路を含む。

平均値算出手段５４は、複数段階のドライブ電流の中央値に相当するドライブ電流に基づく前記送信パルスの特徴量の全振動子１ａにおける平均値を算出する。ここで、中央値とは、値を大きさの順に１列に並べたときの真ん中の値をいう。４段階の値をとるドライブ電流において、その大きさがＤ＊ａ、２Ｄ＊ａ、３Ｄ＊ａ、４Ｄ＊ａの順番になるとき、２番目、３番目のドライブ電流の値が中央値となる。ここでは、２番目のドライブ電流の値（Ｄ＊ｂ）を中央値とする。

段階算出手段５５は、振動子１ａ毎に、平均値と収集された特徴量との差が最小となるようなドライブ電流の段階を求める。求められたドライブ電流の段階は段階設定手段５１に出力される。

制御手段４は、求められたドライブ電流の段階を段階設定手段５１から指示信号として受け、スイッチ４４をオンまたはオフすることで、ドライブ電流を４段階のいずれか一つの値に設定する。

次に、収集手段５３、平均値算出手段５４及び段階算出手段５５について一例をあげて説明する。

制御手段４は、チャネルＣＨ毎に、図４において上から１番目〜４番目のスイッチ４４をそれぞれオンさせることで、上から１番目〜４番目の出力バッファ増幅素子４３をそれぞれ選択し、送信ビームフォーマーからのドライブ電流をＤ＊ａ、２Ｄ＊ａ、３Ｄ＊ａ、４Ｄ＊ａにそれぞれ可変させる。

収集手段５３は、全チャネルＣＨ（振動子１ａ）の全段階（Ｄ＊ａ、２Ｄ＊ａ、３Ｄ＊ａ、４Ｄ＊ａ）にわたるドライブ電流に基づく送信波形を収集する。調整制御手段５２は、送信波形からパルスの特徴量（Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃ、Ｖｄ）を算出する。なお、中央値を２Ｄ＊ａとする。

平均値算出手段５４は平均値Ｖ１を次の式から求める。
Ｖ１＝ΣＶｂ／ｎ
ここで、Ｖｂは、中央値（２Ｄ＊ａ）に相当するドライブ電流に基づく送信パルスの特徴量、ｎはチャネルＣＨの全数である。

段階算出手段５５は、チャネルＣＨ毎に、全段階にわたるドライブ電流に基づく送信パルスの特徴量（Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃ、Ｖｄ）と平均値Ｖ１との差｜Ｖ１−Ｖｃ｜、｜Ｖ１−Ｖｂ｜、｜Ｖ１−Ｖａ｜、｜Ｖ１−Ｖｄ｜をそれぞれ求め、それらの差を比較する。

図５は各チャネルＣＨにおける送信パルスの特徴量を表す図である。図５に示すように、第１番目のチャネルＣＨ１において、例えば、それらの差が｜Ｖ１−Ｖｂ｜＜｜Ｖ１−Ｖｃ｜＜｜Ｖ１−Ｖａ｜＜｜Ｖ１−Ｖｄ｜となった場合、段階算出手段５５は、最小の差｜Ｖ１−Ｖｂ｜になるときのドライブ電流の段階を求める。求められたドライブ電流は２Ｄ＊ａとなり、ドライブ電流の段階は２番目となる。段階設定手段５１は、２番目の段階を指示情報として制御手段４に出力する。制御手段４は、指示情報を受けて、図４において上から１番目及び２番目のスイッチをそれぞれオンするように制御することで、ドライブ電流の段階を２番目とする。それにより、平均値Ｖ１に近い特徴量Ｖｂの送信パルスが生成され、他のチャネルＣＨの送信パルスの特徴量とのバラツキが小さくなり、送信パルスの立ち上がり時間のバラツキが小さくなる。なお、１番目及び２番目のスイッチをそれぞれオンすることにより、送信パルスの立ち下がり時間のバラツキも同様に小さくなる。

また、図５に示すように、第２番目のチャネルＣＨ２において、例えば、それらの差が｜Ｖ１−Ｖｃ｜＜｜Ｖ１−Ｖｂ｜＜｜Ｖ１−Ｖａ｜＜｜Ｖ１−Ｖｄ｜となった場合、段階算出手段５５は、最小の差｜Ｖ１−Ｖｃ｜になるときのドライブ電流の段階を求める。求められたドライブ電流は３Ｄ＊ａとなり、ドライブ電流の段階は３番目となる。段階設定手段５１は、３番目の段階を指示情報として制御手段４に出力する。制御手段４は、指示情報を受けて、図４において上から１番目から３番目のスイッチをそれぞれオンするように制御することで、ドライブ電流の段階を３番目とする。それにより、平均値Ｖ１に近い特徴量Ｖｃの送信パルスが生成され、他のチャネルＣＨの送信パルスの特徴量とのバラツキが小さくなる。なお、１番目から３番目のスイッチをそれぞれオンすることにより、送信パルスの立ち下がり時間のバラツキも同様に小さくなる。

さらに、図５に示すように、第３番目のチャネルＣＨ３において、例えば、それらの差が｜Ｖ１−Ｖａ｜＜｜Ｖ１−Ｖｂ｜＜｜Ｖ１−Ｖｃ｜＜｜Ｖ１−Ｖｄ｜となった場合、段階算出手段５５は、最小の差｜Ｖ１−Ｖａ｜になるときのドライブ電流の段階を求める。求められたドライブ電流はＤ＊ａとなり、ドライブ電流の段階は１番目となる。段階設定手段５１は、１番目の段階を指示情報として制御手段４に出力する。制御手段４は、指示情報を受けて、図４において上から１番目のスイッチをオンするように制御することで、ドライブ電流の段階を１番目とする。それにより、平均値Ｖ１に近い特徴量Ｖａの送信パルスが生成され、他のチャネルＣＨの送信パルスの特徴量とのバラツキが小さくなる。なお、１番目のスイッチをオンすることにより、送信パルスの立ち下がり時間のバラツキも同様に小さくなる。

さらに、第４番目のチェネルＣＨ４から第Ｎ番目のチャネルＣＨＮにおいても、第１から第３番目のチャネルと同様に、段階算出手段５５は、チャネルＣＨ毎にそれらの差が最小となるドライブ電流の段階を求め、段階設定手段５１は、求められた段階を指示情報として制御手段４に出力し、制御手段４は、指示情報を受けてスイッチを制御することで、ドライブ電流の段階を設定する。

前述する調整手段５（段階設定手段５１、収集手段５３、平均値算出手段５４、及び段階算出手段５５）は、コンピュータを用いてプログラムを実行することにより実現される。プログラムを実行した結果は、各チャネルＣＨにおけるドライブ電流の段階（設定情報）として、出荷時に超音波診断装置のハードディスク等の記憶装置に記憶される。

次に、調整手段５の一連の動作について図６を参照して説明する。図６は調整手段５の動作の一例を示すフローチャートである。

（Ｓ１０１）
先ず、段階設定手段５１は、各チャネルＣＨのＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に供給されるドライブ電流を可変範囲の中央値に設定する。ここでは、ドライブ電流の中央値は２Ｄ＊ａとする。段階設定手段５１からの指示を受けて、制御手段４は、図４において上から１番目及び２番目のスイッチ４４をオンさせることで、送信ビームフォーマーからのドライブ電流を２Ｄ＊ａに可変させる。

（Ｓ１０２）
次に、チャネルＣＨ毎に送信を実施する。収集手段５３は、チャネルＣＨ毎の送信波形を収集する。

（Ｓ１０３）
次に、調整制御手段５２は、送信波形から送信パルスの特徴量（実効値［Ｖ］やある帯域でのパワー量［Ｐ］など）を算出する。それにより、全チャネルＣＨにわたり、中央値に相当するドライブ電流に基づく送信パルスの特徴量が算出される。

（Ｓ１０４）
チャネルＣＨ毎の送信パルスの特徴量を算出した後、平均値算出手段５４は、これら特徴量の平均値を求める。求められた平均値が調整時の目標となる。

（Ｓ１０５）
次に、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に供給されるドライブ電流を段階的に変化させながら、収集手段５３は、再度チャネル毎の送信波形を収集する。例えば、ドライブ電流が４段階に制御可能な場合、１チャネルＣＨにつき４個の送信波形が収集される。調整制御手段５２は、この４個の送信波形から送信パルスの特徴量を算出する。

（Ｓ１０６）
段階算出手段５５は、チャネルＣＨ毎に、ステップＳ１０５で算出された特徴量とステップ１０４で求められた特徴量の平均値との差を求め、さらに、その差が最小となるドライブ電流値の段階を求める。求められたドライブ電流の段階が、チャネルＣＨ毎の指示情報となる。段階設定手段５１は、指示情報を受けて、制御手段４に出力する。

（Ｓ１０７）
次に、制御手段４は、チャネルＣＨ毎に、その指示情報に応じてスイッチ４４のオン、オフを制御する。それにより、各チャネルＣＨの送信パルスの立ち上がり時間／立ち下がり時間のバラツキが小さくなり、チャネルＣＨ毎の送信波形が調整されることにより、送信音場プロファイルの悪化等をなくし、Ｓ／Ｎ比劣化を防止することが可能となる。

以上説明した実施形態によれば、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に供給されるドライブ電流を制御するものとして、制御手段４（出力バッファ増幅素子４３、スイッチ４４）を設けたが、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲートを直接ＦＰＧＡ（ｆｉｅｌｄ ｐｒｏｇｒａｍａｂｌｅ ｇａｔｅ ａｒｒａｙ）で駆動する回路を用いてもよい。この場合、指示情報に応じたドライブ電流となるようにＦＰＧＡのファームウエア（ｆｉｒｍ ｗａｒｅ）が変更されることになる。ＦＰＧＡの中にはプログラマブルに、外部出力端子の出力電流値を可変できるものがあり、こういったデバイスを使用すれば、サイズコストの面で有利となる。

なお、実施形態では、ＭＯＳＦＥＴ３１のゲート端子に供給されるドライブ電流を大きくすると、ＭＯＳＦＥＴ３１の入力容量の電圧が所定の端子間電圧になる時間が短くなり、送信パルスの立ち上がり時間／立ち下がり時間を早くすることから、チャネルＣＨ毎のドライブ電流を変化させて、チャネルＣＨ間での送信パルスの立ち上がり時間／立ち下がり時間を揃えるようにしたが、チャネルＣＨ毎にゲート端子に入力される電圧を直接的に制御することで、チャネルＣＨ間での送信パルスの立ち上がり時間／立ち下がり時間を制御するようにしてもよい。なお、この場合、チャネルＣＨ毎にゲート端子に入力される電圧が駆動信号となる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、書き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるととともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１ プローブ
１ａ 振動子
２ 送受信手段
３ 送信パルス発生手段
３１ ＭＯＳＦＥＴ
３２ トランス
３２ａ 一次側コイル
３２ｂ 二次側コイル
４ 制御手段
４１ バッファ増幅素子
４２ 可変バッファ増幅素子
４３ 出力バッファ増幅素子
４４ スイッチ
５ 調整手段
５１ 段階設定手段
５２ 調整制御手段
５３ 収集手段
５４ 平均値算出手段
５５ 段階算出手段
６ 信号処理手段
７ 表示制御手段
８ ディスプレイ
９ 検出手段

Claims (4)

1. 配列された複数の振動子を有し、当該各振動子に送信パルスを印加することで超音波を送信させる超音波診断装置において、
   前記振動子毎に設けられ、駆動信号の入力を受けることにより、前記送信パルスを生成する送信パルス発生手段と、
   前記送信パルスの立ち上がり／立ち下がり時間を制御する制御手段と、
   を有し、
   前記制御手段は、前記駆動信号の大きさを変化させることにより前記送信パルスを制御する調整手段を有する
   ことを特徴とする超音波診断装置。
2. 前記送信パルス発生手段は、
   入力容量を備え、該入力容量を充電させるための電流がそのゲートに供給され、前記入力容量の端子間電圧が所定電圧になったときパルス電流がそのドレイン−ソース間に流れるＦＥＴと、
   前記ＦＥＴのソースに接続される１次側コイルと、
   前記振動子に接続され、昇圧された前記送信パルスが生成される２次側コイルと
   を有し、
   前記調整手段は、前記ゲートに供給される電流を変化させる
   ことを特徴とする請求項１に記載の超音波診断装置。
3. 前記調整手段は、前記ゲートに供給される電流を変化させる調整制御手段を有することを特徴とする請求項２に記載の超音波診断装置。
4. 前記調整手段は、前記ゲートに供給される電流を複数段階に変化させる手段を有し、
   前記調整制御手段は、
   前記振動子毎に、前記全段階にわたる前記電流に基づく前記送信パルスの特性を表す特徴量を収集する収集手段と、
   前記複数段階の中央の段階に設定されたときの前記電流に基づく前記送信パルスの特徴量の前記全振動子における平均値を算出する平均値算出手段と、
   前記振動子毎に、前記平均値と前記収集された前記特徴量との差が最小となるような前記電流の段階を求める段階算出手段と、
   を有し、
   前記調整手段の段階を前記求められた前記段階に設定することを特徴とする請求項３に記載の超音波診断装置。

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