JP2013104684A - 測定器 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 60
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 claims description 15
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 24
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 23
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 8
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000003094 microcapsule Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01—MEASURING; TESTING
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
【解決手段】測定結果を表示する表示部50を有する測定器において、表示部50は、有機EL素子の集合体からなる有機ELパネルまたは電子ペーパにより構成され、表示部に、複数の目盛セグメント画像を等間隔で表示するとともに、これら目盛セグメント画像によって表示される表示領域のうち測定結果に対応する位置に指針画像Sを表示する表示制御手段と、表示領域のうち少なくとも一部の領域E1,E2を指定するとともに、この指定領域E1,E2の目盛セグメント画像M1,M2の目盛間隔情報を入力する目盛情報入力部とを備える。表示制御手段は、目盛情報入力部によって指令された指定領域E1,E2の目盛セグメント画像M1,M2を目盛間隔情報に基づいて表示する目盛間隔変更手段を有する。
【選択図】図3
Description
ダイヤルゲージは、本体ケースにスピンドルを軸方向へ移動可能に設け、このスピンドルの移動変位量を拡大機構を介して指針の回転運動に変換し、この指針の回転角位置を目盛板に設けられた目盛から読み取って被測定物の寸法等を測定する構造である。
そのため、従来のダイヤルゲージでは、測定範囲をある程度確保しつつ、読み取りやすさを考慮した最適な目盛の間隔を設定し、この目盛を測定範囲全域に設定するようにしている。
例えば、複数の部品の寸法検査をする際、寸法のばらつきが大きい場合でも、測定範囲を比較的大きく確保できるため、寸法のばらつきが大きい部品でも測定できる。しかし、寸法のばらつきが小さく、かつ、測定値が基準値に対して予め設定した公差内に入っているか否かを測定したい場合、目盛の間隔が測定範囲全域で同じ間隔に設定されているため、公差内において目盛が読み取りづらい場合がある。
また、測定器とは、長さ、距離、角度などの物理量を測定する測定器、例えば、ノギス、マイクロメータ、インジケータ(ダイヤルゲージ)などである。
従って、比較的広い測定領域を表示しつつ、指定領域の目盛セグメント画像の間隔を任意の間隔に変更することができるから、測定範囲の確保と目盛の読み取りやすさを同時に達成できる。
このような構成によれば、目盛情報入力手段からは、基準値に対する公差寸法、目盛間隔情報が入力されると、目盛間隔変更手段は、基準値に対する公差寸法の範囲を指定領域として、その指定領域の目盛セグメント画像を入力された目盛間隔情報に基づく間隔で表示するから、測定結果が公差内に入っているか否かを容易に確認できる。
このような構成によれば、判定手段によって、測定結果が基準値に対する公差寸法の範囲内であるか否かが判定されると、表示制御手段は、判定手段によって判定された判定結果画像を表示部に表示するから、この表示部に表示された表示内容から、測定結果の良否を把握できる。
このような構成によれば、基準値および公差寸法、測定結果、基準値に対する測定結果の差が表示部に表示されるから、表示部に表示された表示内容から、それぞれの数値情報を正確に確認できる。
このような構成によれば、指針画像が移動すると、その移動状態の変化から、指針の残像が表示されるから、この指針の残像から指針の動き、つまり、測定結果の変動方向や大まかな位置を把握できる。
図1は、実施形態の測定器を示している。
同測定器は、変位検出センサ10と、変位演算部20と、目盛情報入力手段としての目盛情報入力部31と、記憶部32と、表示制御手段としての表示制御部40と、表示部50とを備えている。
ここで、測定器とは、本体に対して可動部材が移動し、この可動部材の移動量から被測定物の寸法を測定する測定器、例えば、ノギス、マイクロメータ、インジケータ(ダイヤルゲージ)などをいう。
なお、これらの変位検出センサ10は、例えば、ノギスの場合、本尺の長手方向に沿って所定のピッチで形成されたメインスケールと、このメインスケールに対向してスライダに設けられた検出ヘッドとからなる静電容量式エンコーダによって構成することができる。
目盛情報入力部31からは、表示部50に表示される表示領域のうち少なくとも一部の領域を指定するデータが入力されるとともに、この指定領域の目盛セグメント画像の間隔を指定する目盛間隔情報が入力される。具体的には、基準値(設計上の仕上げ寸法値)、この基準値に対する公差寸法が指定領域として入力されるとともに、この公差寸法(指定領域)内の目盛の目盛間隔情報などが入力される。
画像データとしては、複数の目盛セグメント画像を円環状にかつ等間隔で表示するための目盛セグメント画像データ、所定位置の目盛セグメント画像データに対して数値情報を表す数値画像データ、指針画像データなどが格納されている。また、記憶部32には、前記画像データを格納するエリアのほかに、変位検出センサ10によって検出され変位演算部20で求められた測定結果を記憶する測定結果記憶エリア、目盛情報入力部31から入力された基準値、公差寸法、目盛間隔情報を記憶する基準値記憶エリア、公差寸法記憶エリア、目盛間隔情報記憶エリアが設けられている。更に、基準値に対する測定結果の差を記憶する差記憶エリアや、差が公差寸法内にあるか否かを判定した合否判定結果を記憶する合否判定結果記憶エリアなどが設けられている。
具体的には、複数の目盛セグメント画像を等間隔で表示するとともに、これらの表示領域のうち測定結果に対応する位置に指針画像を表示する。また、表示制御部40は、目盛情報入力部31によって指令された指定領域の目盛セグメント画像の間隔を目盛間隔情報に基づいた間隔で表示する目盛間隔変更手段、測定結果が公差寸法の範囲内であるか否かを判定する判定手段、指針画像の移動状態の変化に応じて、指針の残像画像を表示する残像画像表示手段を兼ねている。
有機EL表示装置は、有機ELパネル51と、コラムドライバ52と、ロウドライバ53とから構成されている。有機ELパネル51は、例えば、モノクロ画面から構成され、マトリックス状に配置された複数本ずつの信号線と走査線との各交点に、画素としての有機EL素子がそれぞれ配置されて構成されている。コラムドライバ52が信号線に、また、ロウドライバ53が走査線に電圧を同時に印加すると、その交点に配置された有機EL素子が発光される。発光した部分が白色に、発光していない部分が黒色となる白黒の2色で画像情報が表示される。つまり、表示制御部40が画像データに基づいて、有機ELパネル51に文字や図形などを表示させる。
ちなみに、このような有機ELパネルの駆動方式は、「単純マトリックス方式」あるいは「パッシブマトリックス方式」と称されている。なお、有機ELパネルとしては、ドットマトリックス型に限られない。他の型であってもよく、また、モノクロ画像に限らず、カラー画像で表示するものであってもよい。
本体に対して可動部材が移動すると、変位検出センサ10によって本体に対する可動部材の変位量が電気信号として検出されたのち、変位演算部20へ与えられる。変位演算部20では、変位検出センサ10からの検出信号を基に本体に対する可動部材の変位量を演算し、その結果を表示制御部40へ与える。
表示制御部40では、記憶部32に記憶された画像データに従って表示部50に画像を表示するとともに、変位演算部20によって求められた測定結果を画像として表示部50に表示する。
すると、表示制御部40によって、記憶部32の各記憶エリアに記憶された情報に基づいて、表示部50に目盛セグメント画像、測定結果に基づく指針画像などが表示される。
つまり、表示部50に表示される目盛セグメント画像Mのうち、公差寸法範囲(−0.01〜+0.01)の領域E1内の目盛セグメント画像M1の間隔は、通常の目盛セグメント画像M3の間隔に対してn1倍の間隔に表示されるとともに、公差寸法範囲に隣接した領域E2(+0.01〜+0.1、−0.01〜−0.1)の目盛セグメント画像M2の間隔は、通常の目盛セグメント画像M3の間隔に対してn2倍に表示される。また、これらの表示領域のうち、測定結果に対応する位置に指針画像Sが表示される。更に、これらの下部分に、基準値に対する測定結果(9.555mm)の差61や、測定結果が公差寸法内にあるか否かの合否判定結果62が表示される。
また、測定結果が基準値に対する公差寸法の範囲内であるか否かを判定する判定手段を備えるとともに、表示制御部40は、判定手段によって判定された判定結果画像を表示部50に表示するから、この表示部50に表示された表示内容から、測定結果の良否を把握できる。
さらに、本実施形態では、表示部50が有機EL素子の集合体からなる有機ELパネル51により構成されているから、視認性の向上が可能である。つまり、有機ELパネル51では、視野角が広く(180°近い視野角)、しかも、自発光であるから、視認性の向上が期待できる。
また、有機ELパネル51は、有機EL素子がマトリックス状に配置されたドットマトリックス型であるから、測定結果を数値表示させるだけでなく、多用なデザイン表示を行うことができる。
本発明は、前述の実施形態に限定されるものでなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本発明に含まれる。
前記実施形態において、表示部50の表示内容を切り替える表示切替部を設け、この表示切替部の切り替え操作によって、記憶部32の各記憶エリアの内容を表示部50にデジタル表示するようにしてもよい。
例えば、図4に示すように、測定結果(原点からの絶対寸法)60、基準値63およびこれに対する公差寸法64、基準値63に対する測定結果の差61、合否判定結果62などを、表示部50に表示するようにしてもよい。
このようにすれば、基準値および公差寸法、測定結果、基準値に対する測定結果の差が表示部に表示されるから、表示部に表示された表示内容から、それぞれの数値情報を正確に確認できる。
このようにすれば、図5に示すように、指針画像Sが移動すると、その移動状態の変化から、指針画像Sの残像画像S’が表示されるから、この指針画像Sの残像画像S’から指針の動き、つまり、測定結果の変動方向や大まかな位置を把握できる。
また、目盛セグメント画像の間隔を変更する領域についても、公差寸法範囲の領域に限らず、他の領域であってもよく、あるいは、表示領域全域の目盛セグメント画像の間隔を変更するようにしてもよい。
例えば、図7に示すように、電気泳動表示パネル70は、表面基材71、共通電極72、電気泳動層73、画素電極78、TFT回路層79、背面基材80が順に積層されて構成されている。表面基材71および背面基材80は、透明な樹脂シートによって構成されている。TFT回路層79には、走査線駆動回路によって駆動されるTFT回路、具体的にはスイッチングトランジスタなどが設けられている。各トランジスタは、画素毎に設けられた画素電極78に接続されている。共通電極72は、ITO(Indium Tin Oxid)などの透明な電極材によって構成され、電気泳動表示パネル70の略全域にわたって設けられている。画素電極78は、表示パネル70の画素毎に設けられている。
いま、画素電極78がローレベル、共通電極72がハイレベルの場合、その間の電位差によって共通電極72から画素電極78に向かう電界が発生する。すると、正に帯電した白色粒子77が画素電極78側に移動され、負に帯電した黒色粒子76が共通電極72側に移動されるため、共通電極72の電位に比べて画素電極78の電位が低い部分は、表面基材71側から視認した場合、黒色に表示される。
これとは逆に、画素電極78をハイレベル、共通電極72をローレベルに切り換えると、電界の向きが逆転するので、表示は白色に表示される。
また、黒色表示や白色表示の状態において、電界印加が停止されると、黒色粒子76や白色粒子77の移動も止まり、そのままの表示色が保持される。
40…表示制御部(表示制御手段、目盛間隔変更手段、判定手段、残像画像表示手段)、
50…表示部、
51…有機ELパネル、
60…測定結果、
61…差、
62…合否判定結果、
63…基準値、
64…公差寸法、
70…電気泳動表示パネル(電子ペーパ)、
E1,E2,E3…領域
M,M1,M2,M3…目盛セグメント画像、
S…指針画像、
S’…残像画像。
Claims (5)
- 測定結果を表示する表示部を有する測定器において、
前記表示部は、有機EL素子の集合体からなる有機ELパネルまたは電子ペーパにより構成され、
前記表示部に、複数の目盛セグメント画像を等間隔で表示するとともに、これら目盛セグメント画像によって表示される表示領域のうち前記測定結果に対応する位置に指針画像を表示する表示制御手段と、
前記表示領域のうち少なくとも一部の領域を指定するとともに、この指定領域の前記目盛セグメント画像の目盛間隔情報を入力する目盛情報入力手段とを備え、
前記表示制御手段は、前記目盛情報入力手段によって指令された前記指定領域の前記目盛セグメント画像を前記目盛間隔情報に基づいて表示する目盛間隔変更手段を有する、
ことを特徴とする測定器。 - 請求項1に記載の測定器において、
前記目盛情報入力手段からは、基準値に対する公差寸法が前記指定領域として入力され、
前記目盛間隔変更手段は、前記基準値に対する公差寸法の範囲を指定領域として、その指定領域の目盛セグメント画像の間隔を前記目盛間隔情報に基づいて表示する、
ことを特徴とする測定器。 - 請求項2に記載の測定器において、
前記測定結果が前記基準値に対する公差寸法範囲内であるか否かを判定する判定手段と備え、
前記表示制御手段は、前記判定手段によって判定された判定結果画像を前記表示部に表示する、
ことを特徴とする測定器。 - 請求項3に記載の測定器において、
前記表示制御手段は、前記基準値および前記公差寸法、測定結果、基準値に対する測定結果の差、合否判定結果を前記表示部に表示する、
ことを特徴とする測定器。 - 請求項1〜請求項4のいずれかに記載の測定器において、
前記表示制御手段は、前記指針画像の移動状態の変化に応じて、指針の残像画像を表示する残像画像表示手段を有する、
ことを特徴とする測定器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011246629A JP5918978B2 (ja) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 測定器 |
US13/666,519 US9151642B2 (en) | 2011-11-10 | 2012-11-01 | Measuring instrument |
CN201210441183.1A CN103105109B (zh) | 2011-11-10 | 2012-11-07 | 测量器 |
EP12007600.5A EP2592377B1 (en) | 2011-11-10 | 2012-11-08 | Measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011246629A JP5918978B2 (ja) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 測定器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013104684A true JP2013104684A (ja) | 2013-05-30 |
JP5918978B2 JP5918978B2 (ja) | 2016-05-18 |
Family
ID=47435676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011246629A Active JP5918978B2 (ja) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 測定器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9151642B2 (ja) |
EP (1) | EP2592377B1 (ja) |
JP (1) | JP5918978B2 (ja) |
CN (1) | CN103105109B (ja) |
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- 2011-11-10 JP JP2011246629A patent/JP5918978B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP5918978B2 (ja) | 2016-05-18 |
US9151642B2 (en) | 2015-10-06 |
CN103105109A (zh) | 2013-05-15 |
EP2592377B1 (en) | 2017-10-04 |
CN103105109B (zh) | 2017-09-22 |
EP2592377A1 (en) | 2013-05-15 |
US20130118279A1 (en) | 2013-05-16 |
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