JP2013058733A - 両面冷却パワー半導体パッケージ - Google Patents

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Abstract

【課題】パワーデバイスを備えるパワーモジュールを十分に冷却する手段を提供する。
【解決手段】パワー半導体パッケージ300は複数のパワーデバイスを有するパワーモジュール322を備える。複数のパワーデバイスのそれぞれはパワースイッチであってもよい。パワー半導体パッケージは、上部324が複数のパワーデバイス上面に接触し、下部326がパワーモジュールの下面に接触する両面ヒートシンク320をさらに備える。パワー半導体パッケージは、両面ヒートシンクの上部および下部をパワーモジュールに押し付ける少なくとも1つの固定用クランプ330を備えることができる。
【選択図】図3A

Description

本発明は、概して半導体の分野に属する。より詳しくは、本発明は半導体のパッケージングの分野に属する。
パワーデバイスを有するパワーモジュールは高電圧および大電流の用途に用いることができる。例えば、パワーモジュールはパワーデバイスがパワースイッチであるモータ駆動用インバータモジュールであってもよい。パワーデバイスが適正に動作するためには、その温度を適切な温度範囲に保たなければならない。しかし、パワーデバイスは通常大量の熱を発生させるため、パワーデバイスから十分に熱が放散されなければ、その温度が適切な温度範囲を超えて上昇してしまう場合がある。そのため、パワーモジュールおよびパワーモジュールを含みうるパッケージは、パワーデバイスを効果的に冷却するよう構成する必要がある。
パワーデバイスを冷却する手法として、パワーデバイスに熱的に結合されたヒートシンクを用いてパワーデバイスからの放熱を補助することが挙げられる。例として、各パワーデバイスをパワーモジュール内に1つ以上のダイとして内蔵することができる。パワーモジュールは通常、パワーモジュールの基板上の導電配線にダイを接続するボンドワイヤを含む。ヒートシンクは基板に装着させることができ、基板を介してパワーデバイスに熱的に結合させることができる。しかしながら、この手法を用いてもヒートシンクによりパワーデバイスから十分に熱を放散させることは困難である。さらに、パワーデバイスを十分に冷却するためにヒートシンクが大型かつ高価になりがちであり、このためパワーモジュールのパッケージの製造コストが高くなり、設計の自由度が低くなってしまう。
このため当該技術においては、その技術の欠点および欠陥を克服し、パワーデバイスを備えるパワーモジュールを十分に冷却することが求められている。
本発明は、添付した図面のうち少なくとも一図に実質的に示され、または図に関連して説明され、特許請求の範囲において、両面冷却の半導体パッケージがより完全に規定される。
本発明の一実施形態によるパワーモジュールの斜視図である。 本発明の一実施形態による、両面ヒートシンクを備えるパワー半導体パッケージの斜視図である。 本発明の一実施形態による、両面ヒートシンクおよび固定用クランプを備えるパワー半導体パッケージの斜視図である。 本発明の一実施形態による、両面ヒートシンクおよび固定用クランプを備えるパワー半導体パッケージの斜視図である。 本発明の一実施形態による、両面ヒートシンクおよび固定用クランプを備えるパワー半導体パッケージの斜視図である。 本発明の一実施形態による、両面ヒートシンクおよび固定用クランプを備えるパワー半導体パッケージの斜視図である。 本発明の一実施形態による、両面ヒートシンクおよび水冷素子を備えるパワー半導体パッケージの斜視図である。 本発明の一実施形態による、両面ヒートシンクを備えるパワー半導体パッケージの断面図である。
本発明は両面冷却のパワー半導体パッケージを得ることを目的とする。以下の説明は、本発明の実施に関する詳細な情報を含む。当業者は、本出願において特に説明するものとは異なる態様で本発明を実施してもよいことを認識するだろう。また、本発明が不明瞭にならないよう、本発明の詳細についての説明は一部省略することとする。本出願において説明されない詳細は、当業者の知識の範囲内にある。
本出願の図面およびこれに付随する詳細な説明は、本発明の例示的な実施形態を示すためのものにすぎない。簡潔に保つため、本発明の原理を用いる本発明の他の実施形態は、本出願においては特に記載せず、図面にも特に示さない。
図1は、本発明の一実施形態によるパワーモジュール100(本明細書において「三相インバータモジュール」または「モータ駆動用インバータモジュール」等とも呼ぶ)の斜視図を示す。この実施形態において、パワーモジュール100は多相インバータモジュールであり、より具体的には三相インバータモジュールである。
パワーモジュール100は、高電位側デバイス102a、102b、102c(本明細書において「パワーデバイス102」、「複数のパワーデバイス102」、または「高電位側デバイス102」とも呼ぶ)および低電位側デバイス102d、102e、102f(本明細書において「パワーデバイス102」、「複数のパワーデバイス102」、または「低電位側デバイス102」とも呼ぶ)、高電位側導電性クリップ104a、104b、104c(本明細書において「導電性クリップ104」または「高電位側導電性クリップ104」とも呼ぶ)および低電位側導電性クリップ104d、104e、104f(本明細書において「導電性クリップ104」または「低電位側導電性クリップ104」とも呼ぶ)、高電位側ゲートパッドGH1、GH2、GH3(本明細書において「ゲートパッドG」または「高電位側ゲートパッドG」とも呼ぶ)および低電位側ゲートパッドGL1、GL2、GL3(本明細書において「ゲートパッドG」または「低電位側ゲートパッドG」とも呼ぶ)、高電位側電源パッドVH1、VH2、VH3、VH4(本明細書において「電源パッドV」または「高電位側電源パッドV」とも呼ぶ)および低電位側電源パッドVL1、VL2、VL3、andVL4(本明細書において「電源パッドV」または「低電位側電源パッドV」とも呼ぶ)、ならびに出力電流パッドUout、Vout、Woutを備える
図1は、基板106上のパワーデバイス102を示す。基板106は、例えばセラミック、または他の基板材料からなる。電源パッドV、ゲートパッドG、ならびに共通出力パッドUout、Vout、およびWoutは、それぞれ銅などの導電性材料からなる。この実施形態において、電源パッドV、ゲートパッドG、ならびに共通出力パッドUout、Vout、およびWoutは、直接接合銅(DBC)基板であってもよい基板106のDBCからなる。
上記のように、この実施形態において、パワーモジュール100は三相インバータモジュールであり、これは例えばモータ(図1に図示せず)の制御に使用することができる。パワーモジュール100のU相はパワーデバイス102aおよび102dを含み、これらは出力端子Uoutがパワーデバイス102aと102dの間に接続された状態でハーフブリッジ接続されている。同様に、パワーモジュール100のV相はパワーデバイス102bおよび102eを含み、これらは出力端子Voutがパワーデバイス102bと102eの間に接続された状態でハーフブリッジ接続される。また、パワーモジュール100のW相はパワーデバイス102cおよび102fを含み、これらは出力端子Woutがパワーデバイス102cと102fの間に接続された状態でハーフブリッジ接続される。こうして、出力電流パッドUout、Vout、およびWoutはパワーモジュール100の相出力部として機能することができる。なお、この実施形態において、出力電流パッドUout、Vout、およびWoutは連続する個別のパッドである。
この実施形態において、パワーデバイス102はパワーモジュール100のパワースイッチである。各パワーデバイス102は、各絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)に並列に接続する環流ダイオード(図1には示さない)をそれぞれ備える。ある実施形態においては、パワーデバイス102が環流ダイオードを含まなくてもよく、あるいは環流ダイオード以外の電気的要素を含んでもよい。実施形態により、各パワーデバイス102はIGBTに並列の環流ダイオードに代えて金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)を備えてもよい。また、この実施形態においてパワーデバイス102はパワースイッチであるが、他の実施形態においては、パワーデバイス102は他種のパワーデバイスである。
図1は複数のパワーデバイス102を示し、これらは対応する複数のパワーデバイス上面を有する。この実施形態において、対応する複数のパワーデバイス上面のそれぞれは、1つの導電性クリップ104(図1に示す)の上面を含み、電流が流れるよう構成される。導電性クリップ104は、銅などの金属、金属合金、または他の導電性材料からなり、ゲートパッドG、電源パッドV、ならびに出力電流パッドUout、Vout、およびWoutのそれぞれの上方に設けられる導電性クリップ104は上面(図1に示す)および上面に連結された対向脚部(図1には示さず)を含む。一方の対向脚部は、上面が電源パッドVの1つに電気的に接続され、他方の対向脚部は、上面が他の電源パッドVに電気的に接続される。例えば、導電性クリップ104aの対向脚部はそれぞれ、導電性クリップ104aが図1の高電位側電源パッドVH1およびVH2を覆う領域において電源パッドVH1およびVH2に電気的に接続される。いくつかの実施形態において、キャップ層(図1には図示せず)をパワーデバイス102の導電性クリップ104の少なくとも1つの上方に設けることができる。キャップ層は基板106に類似する基板材料を含んでもよい。
なお、この実施形態の導電性クリップ104は、出力電流パッドUout、Vout、およびWoutならびにゲートパッドGには電気的に接続されていない。むしろ、例えば高電位側導電性クリップ104および高電位側電源パッドVは高電位側電源パッドVH1とVH4の間に電流経路を形成し、これにより高電位側導電性クリップ104を介して電流が出力電流パッドUout、Vout、およびWoutならびに高電位側ゲートパッドGの上方を流れることができる。こうして、電源パッドVH1とVH4の間に高電位側電源バスが形成され、正の、負の、または接地の電圧のいずれかがパワーモジュール100への入力として電源パッドVH1およびVH4に伝えられる。同様に、低電位側導電性クリップ104および低電位側電源パッドVは低電位側電源パッドVL1とVL4の間に電流経路を形成し、これにより低電位側導電性クリップ104を介して電流が出力電流パッドUout、Vout、およびWoutならびに低電位側ゲートパッドGの上方を流れることができる。こうして、電源パッドVL1とVL4の間に低電位側電源バスが形成され、正の、負の、または接地の電圧のいずれかがパワーモジュール100への入力部として電源パッドVL1およびVL4に接続される。
パワーモジュール100において、ゲートパッドGは制御入力部であり、各パワーデバイス102を選択的にイネーブル(enable)およびディセーブル(disable)するのに用いることができる。より詳しくは、ゲートパッドGH1、GH2、GH3、GL1、GL2、およびGL3は高電位側デバイス102a、102b、および102cならびに低電位側デバイス102d、102e、および102fをそれぞれ選択的にイネーブルおよびディセーブルするのに用いることができる。この実施形態において、各ゲートパッドGは対応する導電性クリップ104の下で1つのパワーデバイス102の、対応するIGBTのゲートに電気的に接続し、これにより対応するIGBTを選択的にイネーブルまたはディセーブルする。
従って、上述したとおり、パワーモジュール100は、電源パッドVおよびゲートパッドGを入力部として、また出力電流パッドUout、Vout、およびWoutを出力部として備える。このように、パワーモジュール100は電源パッドV、ゲートパッドG、ならびに出力電流パッドUout、Vout、およびWoutのいずれかに接続するコンタクトを備えることができ、これによりパワーモジュール100を外部回路(図1に図示せず)に接続することができる。図1はこの実施形態の圧嵌クランプであるコンタクト108a、108b、および108c(本明細書において「コンタクト108」とも呼ぶ)を示す。コンタクト108はパワーモジュール100を外部回路に接続するためのコンタクトを設ける例示的な手法を示している。本発明の様々な実施形態につき、他の多くの手法を採用可能であることは理解されるだろう。
コンタクト108は、プロング(ピン)(図1には示さない)により基板106の下面116に係合する。いくつかの実施形態では、基板106の下面116は誘電材料からなってもよく、他の実施形態では、下面116は導電性材料からなってもよい。コンタクト108はさらに各出力電流パッドUout、Vout、およびWoutの上面に2つのプロング(ピン)で係合し、これによりパワーモジュール100から出力電流を供給することができる。例えば、コンタクト108aは出力電流パッドUoutの上面114に係合し、コンタクト108aで受けた大電流である出力電流112をパワーモジュール100から供給することができる。図1はコンタクト108を示し、ゲートパッドG、電源パッドV、ならびに出力電流パッドUout、Vout、およびWoutのいずれの組合せもコンタクト108と同様の、または相違する1つ以上のコンタクトからなりうる。
このように、この実施形態において、パワーモジュール100は三相インバータを構成し、三相インバータモジュール100のパワースイッチを構成するパワーデバイス102を備える。三相インバータモジュール100は高電圧および大電流の用途に用いることができる。例えば一実施形態において、三相インバータモジュール100はハイブリッド車両のモータを駆動することができる。パワーデバイス102が適正に動作するためには、その温度を適切な温度範囲に保たなければならない。しかし、パワーデバイス102は大量の熱を発生させるため、そこから十分に熱が放散されなければ、その温度が適切な温度範囲を超えて上昇してしまう場合がある。
パワーデバイス102を冷却する手法として、基板106の下面116のみを介してパワーデバイス102に熱的に結合されたヒートシンクを用いてパワーデバイス102からの放熱を補助することが挙げられる。しかしながら、この手法を用いてもヒートシンクによりパワーデバイス102から十分に熱を放散させることは困難である。さらに、パワーデバイス102を十分に冷却するためにはヒートシンクが大型かつ高価になり、このためパワーモジュール100のパッケージの製造コストが高くなり、設計の自由度が低くなってしまう。
様々な実施形態において、本発明はパワーデバイス102を効果的に冷却し、さらに前述の問題を克服することを可能とした両面ヒートシンクを備えるパワー半導体パッケージを提供する。ある実施形態において、ヒートシンクは水冷素子を含み、他の実施形態においては、ヒートシンクは気流冷却に依存しうる。本発明の実施形態はパワー半導体パッケージの設計に高い自由度をもたらす。このため、パワーモジュール100の設計は特定用途の要求に基づいてヒートシンクを改良しつつある程度規格化することができ、これにより設計および製造のコストを低減することができる。
図2を参照すると、図2は本発明の一実施形態による、両面ヒートシンク220(本明細書において「ヒートシンク220」とも呼ぶ)を備えるパワー半導体パッケージ200の斜視図を示す。図2はまた、図1のパワーモジュール100に対応するパワーモジュール222ならびに図1のコンタクト108に対応するコンタクト208a、208b、および208c(「コンタクト208」とも呼ぶ)を示す。
ヒートシンク220は上部224、下部226、ならびに接続部218aおよび218bを有する。上部224はパワーモジュール222の上方に位置し、下部226はパワーモジュール222の下に位置する。接続部218aおよび218bはヒートシンク220の上部224と下部226を連結している。このように、この実施形態において、ヒートシンク220はパワーモジュール222を内包し、包囲する。ヒートシンク220は金属、金属合金、金属酸化物、金属窒化物、セラミック、有機材料、およびこれらの組合せの適切なヒートシンク材料からなってもよい。
両面ヒートシンク220は、パワーモジュール222の複数のパワーデバイス上面228に接触する上部224を有し、複数のパワーデバイス上面228は、図1に関して上述したパワーデバイス102の複数のパワーデバイス上面に対応する。両面ヒートシンク220はまたパワーモジュール222の下面216に接触する下部226を有し、パワーモジュール222の下面216は、図1の基板106の下面116に対応しうる。ヒートシンク220の上部224は複数のパワーデバイス上面228に熱的に結合されている。また、この実施形態において、下部226は下面216に熱的に結合されている。そのため、ヒートシンク220は複数のパワーデバイス上面228および下面216の両方を介してパワーモジュール222から熱を放散させることができ有利である。さらに、ヒートシンク220がパワーモジュール222を内包し、包囲することによりパワー半導体パッケージ200の占有面積を低減させることができる。このため、ヒートシンク220はパワーモジュール222のパワーデバイスを効果的に冷却することを可能とし、他のヒートシンクよりも小型で安価とすることができる。さらに、ヒートシンク220の特定の設計は自由度が高くなる。例えば、様々な実施形態において、ヒートシンク220は両面ヒートシンク220の上部224および下部226をパワーモジュール222に押し付ける固定用クランプ、水冷素子、およびヒートシンクフィンのいずれかの組合せからなりうる。
この実施形態において、パワー半導体パッケージ200は複数のパワーデバイス上面228と上部224の間および下面216と下部226の間に熱結合材料230を含む。熱結合材料230は、複数のパワーデバイス上面228と上部224および下面216と下部226を熱的に結合している。熱結合材料230は、例えば1つ以上の熱伝導性のパッドおよび/または熱ペーストからなってもよい。いくつかの実施形態においては、熱結合材料230を用いずにヒートシンク220の上部224を複数のパワーデバイス上面228に熱的に結合させ、ヒートシンク220の下部226は下面216に熱的に結合させてもよい。
また、この実施形態において、コンタクト208は両面ヒートシンク220の下部226から外部に延びる。コンタクト208は両面ヒートシンク220から外部に延び、1つ以上の外部回路(図2に示さない)によりパワーモジュール222に電気的接触をもたらす。パワーモジュール222と1つ以上の外部回路に電気的接触をもたらすために、コンタクト208に代えて、またはこれに加えて多くの手段を用いることができることを理解されたい。
実施形態によっては、ヒートシンク220はパワーモジュール222にクランプ力をかける。より詳しくは、上部224および下部226はパワーモジュール222の複数のパワーデバイス上面228にクランプ力をかけることが望ましい。上述のように、いくつかの実施形態において、パワー半導体パッケージ200は両面ヒートシンク220の上部224および下部226をパワーモジュール222に押し付けてクランプ力をかける少なくとも1つの固定用クランプを備える。実施形態によっては、少なくとも1つの固定用クランプは少なくとも1つのヒートシンクねじであってもよい。
次に図3Aおよび3Bについては、図3Aおよび3Bは本発明の一実施形態による、両面ヒートシンク320および固定用クランプ330を備えるパワー半導体パッケージ300の斜視図を示す。図3Aおよび3Bにおいて、パワー半導体パッケージ300は図2のパワー半導体パッケージ200に対応する。パワー半導体パッケージ300は図2のヒートシンク220に対応するヒートシンク320を備える。例えば、ヒートシンク320は図2の上部224および下部226にそれぞれ対応する上部324および下部326を備える。パワーモジュール322は図2のパワーモジュール222に対応する。例えば、パワーモジュール322は図2の複数のパワーデバイス上面228および下面216にそれぞれ対応する複数のパワーデバイス上面328および下面316を含む。パワー半導体パッケージ300は、コンタクト208および熱結合材料230などの、特に図3に示されず、図に関して説明もされないパワー半導体パッケージ200の要素に対応する他の要素をさらに含みうる。なお、図3Aおよび3Bは例示的なものであり、固定用クランプ330の、上部324および下部326内の部分は明確にするために図3Aおよび3Bに示されている。
固定用クランプ330は両面ヒートシンク320の上部324および下部326をパワーモジュール322、より具体的にはパワーモジュール322の複数のパワーデバイス上面328および下面316に押し付けるよう構成する。この実施形態において、固定用クランプ330は両面ヒートシンク320の上部324および下部326をパワーモジュール322に押し付けるよう構成されたヒートシンクねじを備える。他の実施形態において、固定用クランプ330はヒートシンクねじ以外の要素であってもよい。固定用クランプ330は上部324を通って延び、下部326内に収まる。図3Aは、両面ヒートシンク320の上部324および下部326をパワーモジュール322に押し付ける前の固定用クランプ330を示す。図3Bは固定用クランプ330を示し、両面ヒートシンク320の上部324および下部326をパワーモジュール322に押し付けているが、これは固定用クランプ330をヒートシンク320に固定することにより達成される。
このように、上述したとおり、パワー半導体パッケージ300は両面ヒートシンク320の上部324および下部326をパワーモジュール322に押し付けるよう構成した固定用クランプ330を備える。こうして、ヒートシンク320はパワーモジュール322にさらなる機械的安定性および耐久性をもたらすことができ、例えばパワーモジュール322の、温度サイクルに耐える能力を高めることができる。いくつかの実施形態において、上部324は下部326から分離していてもよい。さらに、分離した上部324および下部326は固定用クランプ330のような少なくとも1つの固定用クランプによって互いに固定することができる。
図4Aおよび4Bを参照すると、図4Aおよび4Bは本発明の一実施形態による、両面ヒートシンク420ならびに固定用クランプ430および432を備えるパワー半導体パッケージ400の斜視図を示す。図4Aおよび4Bにおいて、パワー半導体パッケージ400は図3Aおよび3Bのパワー半導体パッケージ300に対応する。パワー半導体パッケージ400は図3Aおよび3Bのヒートシンク320に対応するヒートシンク420を備える。例えば、ヒートシンク420は図3Aおよび3Bの上部324および下部326にそれぞれ対応する上部424および下部426を備える。パワーモジュール422は図3Aおよび3Bのパワーモジュール322に対応する。例えば、パワーモジュール422は図3Aおよび3Bの複数のパワーデバイス上面328および下面316にそれぞれ対応する複数のパワーデバイス上面428および下面416を含む。なお、図4Aおよび4Bは例示的なものであり、固定用クランプ430および432の、上部424および下部426内の部分は明確にするために図4Aおよび4Bに示されている。
固定用クランプ430および432は両面ヒートシンク420の上部424および下部426をパワーモジュール422、より具体的にはパワーモジュール422の複数のパワーデバイス上面428および下面416に押し付けるよう構成する。この実施形態において、固定用クランプ430および432は両面ヒートシンク420の上部424および下部426をパワーモジュール422に押し付けるよう構成されたヒートシンクねじを備える。他の実施形態において、固定用クランプ430および432はヒートシンクねじ以外の要素であってもよい。固定用クランプ430および432は上部424を通って延び、下部426内に収まる。図4Aは、両面ヒートシンク420の上部424および下部426をパワーモジュール422に押し付ける前の固定用クランプ430および432を示す。図4Bは固定用クランプ430および432を示し、両面ヒートシンク420の上部424および下部426をパワーモジュール422に押し付けているが、これは固定用クランプ430および432をヒートシンク420に固定することにより達成される。
また、図4Aおよび4Bに示すように、上部424は下部426から分離している。ヒートシンク420の上部424および下部426は固定用クランプ430および432のような少なくとも1つの固定用クランプによって互いに固定することができる。図4Aは、固定用クランプ430および432により互いに固定される前のヒートシンク420の上部424および下部426を示す。図4Bは、固定用クランプ430および432により互いに固定されているヒートシンク420の上部424および下部426を示す。図4Aおよび4Bに示す実施形態によりパワー半導体パッケージ400の設計および組み立てにさらなる自由度をもたらす。本発明の実施形態によるパワー半導体パッケージは、パワー半導体パッケージの冷却能力の獲得を補助すべく、上述した要素に加えて少なくとも1つの水冷素子を含みうる。
図5を参照すると、図5は本発明の一実施形態による、両面ヒートシンク520および水冷素子536を備えるパワー半導体パッケージ500の斜視図を示す。図5において、パワー半導体パッケージ500は図2のパワー半導体パッケージ200に対応する。パワー半導体パッケージ500は図2のヒートシンク220に対応するヒートシンク520を備える。例えば、ヒートシンク520は図2の上部224および下部226にそれぞれ対応する上部524および下部526を備える。パワーモジュール522は図2のパワーモジュール222に対応する。例えば、パワーモジュール522は図2の複数のパワーデバイス上面228および下面216にそれぞれ対応するパワーデバイス上面528および下面516を含む。パワー半導体パッケージ500は、コンタクト208および熱結合材料230などの、特に図5に示されず、図に関して説明もされないパワー半導体パッケージ200の要素に対応する他の要素をさらに含みうる。
水冷素子536は、水を用いてパワーモジュール522、より詳しくはパワーモジュール522のパワーデバイスから熱を放散させることによりパワー半導体パッケージ500の冷却能力の向上を補助することができる。例えば、様々な実施形態において、水は両面ヒートシンク520の任意の部分を循環してパワーモジュール522から熱を放散させることができる。この実施形態において、両面ヒートシンク520は両面ヒートシンク520の上部524および下部526を結合する水冷素子536を含む。水冷素子536はヒートシンク520の側部538上に示されるが、水冷素子536は側部540のような側部538上に加え、あるいはこれに代えて他の場所に配置してもよい。水冷素子536はまたパワーモジュール522の上方または下方に配置してもよい。水冷素子536はパワーモジュール522の設計に大幅な変更を必要とせず、さらなるパワーモジュール522の冷却を要する用途においてパワーモジュール522の冷却能力を向上させることができ、有利である。図2、3A、3B、4A、4B、および5に関し説明してきた様々な要素は組み合わせることができ、上述の特定の実施形態に限定されるものではないことを理解されたい。例として、パワー半導体パッケージ500は、図4Aおよび4Bの固定用クランプ430および432に類似する固定用クランプを備えてもよい。
図6は本発明の一実施形態による、両面ヒートシンク620を備えるパワー半導体パッケージ600の断面図を示す。より詳しくは、図6は、図2の断面6―6に対応する断面図を示す。図2において、断面6―6はヒートシンク220の上部224の点6-aおよび6-bからパワー半導体パッケージ200を通り、ヒートシンク220の下部226を介してパワー半導体パッケージ200から抜ける。図6はパワー半導体パッケージ300、400、および500のいずれかの同様の断面図に相当しうる。
図6において、パワー半導体パッケージ600は図2のパワー半導体パッケージ200に対応する。パワー半導体パッケージ600は図2のヒートシンク220に対応するヒートシンク620を備える。例えば、ヒートシンク620は図2の上部224および下部226にそれぞれ対応する上部624および下部626を備える。パワーモジュール622は図2のパワーモジュール222に対応する。例えば、パワーモジュール622は図2の複数のパワーデバイスのうちの1つの上面228および下面216にそれぞれ対応するパワーデバイス上面628aおよび下面616を有する。パワー半導体パッケージ600は、コンタクト208および熱結合材料230などの、特に図6に示されず、図に関して説明もされないパワー半導体パッケージ200に対応する他の要素をさらに含みうる。
また図6において、パワーモジュール622は図1のパワーモジュール100に対応する。例えば図6は、図1の高電位側デバイス102a、高電位側導電性クリップ104a、高電位側電源パッドVH1およびVH2、高電位側ゲートパッドGH1、ならびに出力電流パッドUoutにそれぞれ対応する高電位側デバイス602a、高電位側導電性クリップ604a、高電位側電源パッドVH1およびVH2、高電位側ゲートパッドGH1、ならびに出力電流パッドUoutを示す。パワー半導体パッケージ600はさらに、合わせて図1の基板106に対応する基板材料606aおよび606b(本明細書においては、まとめて基板606とも呼ぶ)を含む。この実施形態において、高電位側電源パッドVH1およびVH2、高電位側ゲートパッドGH1、ならびに共通出力パッドUoutは基板606の銅直接接合(DBC)からなる。
高電位側パワーデバイス602aはパワーモジュール622のU相の高電位側パワースイッチであり、この実施形態においては三相インバータモジュールである。高電位側パワーデバイス602aはIGBTダイ644に並列に接続された環流ダイオードであるダイオードダイ646を含む。IGBTダイ644のゲート656はIGBTダイ644の下面を介してゲートパッドGH1に電気的に接続される。導電性クリップ604aは、高電位側デバイス602aのコレクタ648を高電位側デバイス602aのカソード652に接続している。この実施形態において、導電性クリップ604aはIGBTダイ644の上面を介してコレクタ648に電気的に接続され、ダイオードダイ646の上面を介してカソード652に電気的に接続される。共通出力パッドUoutは高電位側デバイス602aのエミッタ650と高電位側デバイス602aのアノード654とを電気的に接続している。この実施形態において、共通出力パッドUoutは、IGBTダイ644の下面を介してエミッタ650に電気的に接続され、ダイオードダイ646の下面を介してアノード654に電気的に接続される。
こうして、上述のように、導電性クリップ604aは高電位側デバイス602aのコレクタ/カソードノードを接続し、共通出力パッドUoutは高電位側デバイス602aのエミッタ/アノードノードを接続している。パワー半導体パッケージ600に実装される図1の高電位側デバイス102bおよび102cは、高電位側デバイス602aと同様の構成をもつ。また、パワー半導体パッケージ600に実装される図1の低電位側デバイス102d、102e、および102fは高電位側デバイス602aと同様の構成をもつが、各低電位側導電性クリップ104は各低電位側デバイス102の対応するエミッタ/アノードノードを接続し、共通出力パッドUout、Vout、およびWoutは各低電位側デバイス102の対応するコレクタ/カソードノードをそれぞれ接続している。こうして、図6には示されないが、共通出力パッドUoutは、高電位側素子602aのエミッタ/アノードノードを図1における低電位側デバイス102dに対応しうる低電位側素子のコレクタ/カソードノードに結合する。
導電性クリップ604aはパワーデバイス上面628aに接続する対向脚部642aおよび642bを備える。脚部642aはパワーデバイス上面628aを電源パッドVH1に電気的に接続し、脚部642bはパワーデバイス上面628aを電源パッドVH2に電気的に接続している。こうして、電流経路658で示されるように、電流は導電性クリップ604aを介して出力電流パッドUoutおよびゲートパッドGH1の上方を流れることができる。このため、上述したように、導電性クリップ604aおよび特にパワーデバイス上面628aが高電位側電源バスの一部となればよく、大量の熱に曝される可能性がある。
この実施形態において、基板606は基板材料606b上の基板材料606aを含む。基板材料606aは誘電材料からなり、基板材料606bは導電性材料からなる。したがって、パワーモジュール622下面616は導電性材料を含む。実施形態によっては、パワーモジュール622の下面616は誘電材料を含む。例えば、基板材料606aは下面616上の誘電材料であってもよい。基板606はDBCからなってもよい。例えば、基板材料606aはセラミックであってもよく、基板材料606bは基板材料606aに接合した銅であってもよい。さらに、高電位側電源パッドVH1およびVH2、高電位側ゲートパッドGH1、ならびに共通出力パッドUoutは基板材料606aに接合する銅であってもよい。
パワー半導体パッケージ600は、パワーデバイス602aの上方にキャップ材料640aおよび640b(本明細書においてはまとめてキャップ層640とも呼ぶ)をさらに備える。図1には示さないが、図1のパワーデバイス102の各それぞれの上方にキャップ層640と同様の各キャップ層を任意で設けることができる。他の実施形態において、キャップ層640と同様の単独のキャップ層が2つ以上のパワーデバイス102の上方に任意で延在させてもよい。また、実施形態によっては、キャップ層640と同様の要素を含まなくてもよい。
図6に示すように、キャップ層640は高電位側デバイス602aの上方に位置する。キャップ層640は任意の適切な基板材料からなればよい。この実施形態において、キャップ材料640aは誘電材料からなり、キャップ材料640bは導電性材料からなる。したがって、パワーモジュール622の上面660は導電性材料を含む。実施形態によっては、パワーモジュール622の上面660は誘電材料を含む。例えば、キャップ層640は上面660上のキャップ材料640aを含んでもよい。他の実施形態において、パワーモジュール622はキャップ層640を備えなくてもよい。例えば、高電位側導電性クリップ604aはパワーモジュール622の上面660上に設けてもよい。キャップ層640はDBCからなってもよい。例えば、キャップ材料640aはセラミックであってもよく、キャップ材料640bはキャップ材料640aに接合する銅であってもよい。さらに、実施形態によっては、高電位側導電性クリップ604aは、キャップ材料640aに接合する銅からなってもよい。
こうして、上述したとおり、パワーモジュール622は、基板606および高電位側デバイス602aに接触するキャップ層640からなる。さらに、キャップ層640は両面ヒートシンク620の上部624に接触し、基板606は両面ヒートシンク620の下部626に接触している。高電位側デバイス602aは基板606を介してヒートシンク620の下部626に熱的に結合させることができ、高電位側デバイス602aはキャップ層640を介してヒートシンク620の上部624に熱的に結合させることができる。こうして、ヒートシンク620はパワーデバイス上面628aおよびパワーデバイス下面662の両方から熱を放散させることができる。さらに、パワーデバイス上面628aおよびパワーデバイス下面662の両方に電流が流れるため、高電位側デバイス602aから熱が効率的に放散される。そのため、ヒートシンク620の寸法はパワーモジュール622に大きく左右されることがなく、高電位側デバイス602aを十分に冷却しつつ、必要に応じて両面ヒートシンク620を小型化することができる。
こうして、上述のとおり、図1〜6の実施形態において、本発明は対応する複数のパワーデバイス上面をもつ複数のパワーデバイスを有するパワーモジュールを備えるパワー半導体パッケージを提供する。上部が複数のパワーデバイス上面に接触する両面ヒートシンクを備えることにより、本発明の様々な実施形態はパワー半導体パッケージの設計に特定用途の要求を適える高い自由度をもたらしつつ、十分にパワーデバイスを冷却することを可能とする。例えば、ヒートシンクを従来のヒートシンクより小型で安価とすることができる。こうして、パワー半導体パッケージの設計および製造のコストを大幅に低減することができる。
本発明の上記の説明から、さまざまな手法を用いて、本発明の範囲を逸脱することなく本発明の概念を実施することができることは明らかである。また、特定の実施形態を特に取り上げて本発明を説明したが、当業者であれば、本発明の趣旨および範囲を逸脱することなく形態および細部を変更することができることを理解するであろう。すなわち、上記の実施形態は、あらゆる点において例示的なものに過ぎず、限定的なものではないと考えるべきである。また、本発明は、本明細書において記載した特定の実施形態に限定されず、本発明の範囲から逸脱することなく、多くの再構成、変更、および代替が可能であることも理解されるべきである。

Claims (20)

  1. パワー半導体パッケージであって、
    複数のパワーデバイスを備えるパワーモジュールであって、前記複数のパワーデバイスが、対応する複数のパワーデバイス上面を有するパワーモジュールと、
    上部が前記複数のパワーデバイス上面に接触し、下部が前記パワーモジュールの下面に接触する両面ヒートシンクとを備えることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  2. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記両面ヒートシンクの前記上部および前記下部を前記パワーモジュールに押し付ける少なくとも1つの固定用クランプを備えることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  3. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記両面ヒートシンクの前記上部および前記下部を前記パワーモジュールに押し付ける少なくとも1つのヒートシンクねじを備えることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  4. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、少なくとも1つの固定用クランプによって前記両面ヒートシンクの前記上部および前記下部が互いに固定されるパワー半導体パッケージ。
  5. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、少なくとも1つのヒートシンクねじによって前記両面ヒートシンクの前記上部および前記下部が互いに固定されることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  6. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記両面ヒートシンクが前記パワーモジュールを包囲することを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  7. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記両面ヒートシンクが水冷素子を含むことを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  8. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記両面ヒートシンクが、前記両面ヒートシンクの前記上部と前記下部を結合させる水冷素子を含むことを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  9. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記対応する複数のパワーデバイス上面のそれぞれに電流が流れるよう構成されることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  10. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記対応する複数のパワーデバイス上面のそれぞれに電流が流れるよう構成された導電性クリップを備えることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  11. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記複数のパワーデバイス上面が銅からなることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  12. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記パワーモジュールの前記下面が前記パワーモジュールの基板の下面であることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  13. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記パワーモジュールの前記下面が導電性材料からなることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  14. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記複数のパワーデバイスが前記パワーモジュールの基板上に位置し、キャップ層が前記複数のパワーデバイスの少なくとも1つの上方に位置することを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  15. 請求項14に記載のパワー半導体パッケージであって、前記基板および前記キャップ層がそれぞれ銅直接接合(DBC)からなることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  16. 請求項14に記載のパワー半導体パッケージであって、前記複数のパワーデバイスのうちの前記少なくとも1つが前記基板を介して前記両面ヒートシンクの前記下部に熱的に結合され、前記キャップ層を介して前記両面ヒートシンクの前記上部に熱的に結合されることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  17. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記パワーモジュールに接続するよう前記両面ヒートシンクから外部に延びる複数のコンタクトを備えることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  18. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記複数のパワーデバイスのそれぞれがパワースイッチであることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  19. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記複数のパワーデバイスのそれぞれがダイオードに並列の絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)を備えることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
  20. 請求項1に記載のパワー半導体パッケージであって、前記パワーモジュールがモータ駆動用インバータモジュールを備えることを特徴とするパワー半導体パッケージ。
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KR20180023365A (ko) * 2016-08-25 2018-03-07 현대오트론 주식회사 파워 모듈

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101459857B1 (ko) * 2012-12-27 2014-11-07 현대자동차주식회사 히트싱크 일체형 양면 냉각 파워모듈
US20140291832A1 (en) * 2013-03-28 2014-10-02 Infineon Technologies Ag Integrated cooling modules of power semiconductor device
US20160005675A1 (en) 2014-07-07 2016-01-07 Infineon Technologies Ag Double sided cooling chip package and method of manufacturing the same
US10099574B2 (en) 2015-04-15 2018-10-16 Ford Global Technologies, Llc Vehicle power module assemblies
US10373890B1 (en) 2018-04-09 2019-08-06 Infineon Technologies Ag Cooling techniques for semiconductor package
KR102645198B1 (ko) 2018-10-24 2024-03-06 현대자동차주식회사 양면 냉각형 파워모듈
CN111246706B (zh) * 2018-11-29 2024-04-26 湖南中车时代电动汽车股份有限公司 一种双面散热装置
CN111799238B (zh) * 2020-07-10 2022-11-01 东风汽车集团有限公司 一种双面水冷igbt散热器及其散热安装结构
GB2613794A (en) 2021-12-14 2023-06-21 Zhuzhou Crrc Times Electric Co Ltd Power semiconductor module

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001308263A (ja) * 2000-04-19 2001-11-02 Denso Corp 半導体スイッチングモジュ−ル及びそれを用いた半導体装置
JP2003031765A (ja) * 2001-07-17 2003-01-31 Hitachi Ltd パワーモジュールおよびインバータ

Family Cites Families (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6072240A (en) * 1998-10-16 2000-06-06 Denso Corporation Semiconductor chip package
US6442033B1 (en) * 1999-09-24 2002-08-27 Virginia Tech Intellectual Properties, Inc. Low-cost 3D flip-chip packaging technology for integrated power electronics modules
US6232151B1 (en) * 1999-11-01 2001-05-15 General Electric Company Power electronic module packaging
US6693350B2 (en) * 1999-11-24 2004-02-17 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure and method for manufacturing semiconductor device having radiation structure
US6703707B1 (en) * 1999-11-24 2004-03-09 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
EP1148547B8 (en) * 2000-04-19 2016-01-06 Denso Corporation Coolant cooled type semiconductor device
DE10062108B4 (de) * 2000-12-13 2010-04-15 Infineon Technologies Ag Leistungsmodul mit verbessertem transienten Wärmewiderstand
JP4479121B2 (ja) * 2001-04-25 2010-06-09 株式会社デンソー 半導体装置の製造方法
US6677669B2 (en) * 2002-01-18 2004-01-13 International Rectifier Corporation Semiconductor package including two semiconductor die disposed within a common clip
DE10221082A1 (de) * 2002-05-11 2003-11-20 Bosch Gmbh Robert Halbleiterbauelement
FR2853808B1 (fr) * 2003-04-09 2006-09-15 Alstom Module de commutation de puissance et ondulateur equipe de ce module
US7508668B2 (en) * 2003-08-21 2009-03-24 Denso Corporation Electric power converter and mounting structure of semiconductor device
DE102004018477B4 (de) * 2004-04-16 2008-08-21 Infineon Technologies Ag Halbleitermodul
US8232635B2 (en) * 2004-08-25 2012-07-31 International Rectifier Corporation Hermetic semiconductor package
JP4338620B2 (ja) * 2004-11-01 2009-10-07 三菱電機株式会社 半導体装置及びその製造方法
US7696532B2 (en) * 2004-12-16 2010-04-13 Abb Research Ltd Power semiconductor module
JP2006229180A (ja) * 2005-01-24 2006-08-31 Toyota Motor Corp 半導体モジュールおよび半導体装置
US7236368B2 (en) * 2005-01-26 2007-06-26 Power-One, Inc. Integral molded heat sinks on DC-DC converters and power supplies
JP4979909B2 (ja) * 2005-08-19 2012-07-18 株式会社日立製作所 電力変換装置
US8018056B2 (en) 2005-12-21 2011-09-13 International Rectifier Corporation Package for high power density devices
JP4450230B2 (ja) * 2005-12-26 2010-04-14 株式会社デンソー 半導体装置
JP2007251076A (ja) * 2006-03-20 2007-09-27 Hitachi Ltd パワー半導体モジュール
US7554188B2 (en) 2006-04-13 2009-06-30 International Rectifier Corporation Low inductance bond-wireless co-package for high power density devices, especially for IGBTs and diodes
US7619302B2 (en) 2006-05-23 2009-11-17 International Rectifier Corporation Highly efficient both-side-cooled discrete power package, especially basic element for innovative power modules
US8680666B2 (en) 2006-05-24 2014-03-25 International Rectifier Corporation Bond wireless power module with double-sided single device cooling and immersion bath cooling
JP2007335663A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Toyota Motor Corp 半導体モジュール
DE102006028675B4 (de) * 2006-06-22 2008-08-21 Siemens Ag Kühlanordnung für auf einer Trägerplatte angeordnete elektrische Bauelemente
JP5232367B2 (ja) 2006-07-12 2013-07-10 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2008124430A (ja) * 2006-10-18 2008-05-29 Hitachi Ltd パワー半導体モジュール
US7965508B2 (en) * 2007-03-27 2011-06-21 Denso Corporation Cooling device for electronic component and power converter equipped with the same
US7492594B2 (en) * 2007-05-03 2009-02-17 Hamilton Sundstrand Corporation Electronic circuit modules cooling
JP4958735B2 (ja) * 2007-11-01 2012-06-20 株式会社日立製作所 パワー半導体モジュールの製造方法、パワー半導体モジュールの製造装置、パワー半導体モジュール、及び接合方法
US8642394B2 (en) * 2008-01-28 2014-02-04 Infineon Technologies Ag Method of manufacturing electronic device on leadframe
JP4506848B2 (ja) * 2008-02-08 2010-07-21 株式会社デンソー 半導体モジュール
WO2009125779A1 (ja) * 2008-04-09 2009-10-15 富士電機デバイステクノロジー株式会社 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP5434914B2 (ja) * 2008-06-12 2014-03-05 株式会社安川電機 パワーモジュールおよびその制御方法
US7759778B2 (en) * 2008-09-15 2010-07-20 Delphi Technologies, Inc. Leaded semiconductor power module with direct bonding and double sided cooling
EP2178117A1 (en) * 2008-10-17 2010-04-21 Abb Research Ltd. Power semiconductor module with double side cooling
US8358000B2 (en) * 2009-03-13 2013-01-22 General Electric Company Double side cooled power module with power overlay
JP2010225720A (ja) * 2009-03-23 2010-10-07 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
JP5481148B2 (ja) * 2009-10-02 2014-04-23 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体装置、およびパワー半導体モジュール、およびパワー半導体モジュールを備えた電力変換装置
JP2011086889A (ja) * 2009-10-19 2011-04-28 Renesas Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
JP5473733B2 (ja) * 2010-04-02 2014-04-16 株式会社日立製作所 パワー半導体モジュール

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001308263A (ja) * 2000-04-19 2001-11-02 Denso Corp 半導体スイッチングモジュ−ル及びそれを用いた半導体装置
JP2003031765A (ja) * 2001-07-17 2003-01-31 Hitachi Ltd パワーモジュールおよびインバータ

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016084180A1 (ja) * 2014-11-27 2016-06-02 三菱電機株式会社 半導体モジュールおよび半導体駆動装置
US9978670B2 (en) 2014-11-27 2018-05-22 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor module and semiconductor driving device
KR20180023365A (ko) * 2016-08-25 2018-03-07 현대오트론 주식회사 파워 모듈
KR101897639B1 (ko) * 2016-08-25 2018-09-12 현대오트론 주식회사 파워 모듈

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