JP2013041402A - 半導体集積回路及び回路状態監視回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体集積回路10は、プロセッサ部11と回路部12と回路状態監視回路13を有する。回路部12は、自身の回路状態を示す状態情報を記憶する記憶部12aを有しており、回路状態監視回路13は、その状態情報を監視し、状態情報の所定の変化を検出すると、プロセッサ部11に対する割り込みを発生することで、プロセッサ部11が回路部12に対するポーリングを行わなくて済むようになる。これによって、プロセッサ部11の負荷を低減できる。
【選択図】図1
Description
2つ目は、プロセッサが、ステータスビットの変更を検出するために、IPマクロに対してポーリングを行うものである。すなわち、2つ目の方法では、IPマクロのステータスビットが変更されていないか調べるために、プロセッサが、IPマクロのレジスタの内容を繰り返し読み出すことが行われる。
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態の半導体集積回路の一例を示す図である。
プロセッサ部11は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro Processing Unit)であり、半導体集積回路10の動作を制御する。
図2は、第2の実施の形態の半導体集積回路の一例を示す図である。
半導体集積回路20は、CPU21、IPマクロ22、回路状態監視回路23を有しており、CPU21と回路状態監視回路23は、バス24に接続されている。IPマクロ22は回路状態監視回路23に接続されている。すなわち、本実施の形態では、第1の実施の形態の半導体集積回路10と異なり、回路状態監視回路23が、IPマクロ22とバス24の間に接続されている。なお、バス24には、CPU21や回路状態監視回路23の他に、種々の回路(たとえば、入出力回路や記憶回路など)が接続されていてもよい。
IPマクロ22は、自身の回路状態を示すステータスビットや、制御ビットなどを格納するレジスタ22aを有している。
回路状態監視回路23は、アドレス情報保持部30、位置情報保持部31、読み出し部32、監視部33、割り込み発生部34、スタートビット設定部35、選択部36を有している。
位置情報保持部31は、アドレス情報で指定されたデータのどの位置(ビット)にステータスビットがあるかを示す位置情報を保持する。
監視部33は、位置情報をもとに、読み出されたデータからステータスビットを特定して、所定の変化が発生したか否かを監視する。
スタートビット設定部35には、読み出し部32と監視部33の動作を開始するためのスタートビットが設定される。スタートビット設定部35は、たとえば、レジスタであり、CPU21からバス24を介して、スタートビットがセット(たとえば、“1”が設定)された場合に、読み出し部32と監視部33の動作を開始させる。
図4では、ステータスビットが“1”に変化したときに“1”が出力され、割り込み発生部34に割り込みを発生させる監視部33の例が示されている。
AND回路33aは、位置情報保持部31に保持された位置情報と、読み出し部32で読み出されたレジスタ22aのデータ(ステータスビットを含む)とのAND論理を出力する。
比較器33bは、位置情報保持部31に保持された位置情報と、AND回路33aの出力とを比較し、両者が一致している場合には“1”を出力し、割り込み発生部34に割り込み信号をアサートさせる。両者が一致していない場合には、比較器33bは“0”を出力する。
なお、以下の例では、選択部36は、マクロアクセス信号が“0”のときは、読み出し部32とIPマクロ22を接続して、両者の間の信号経路を確立する。そして、マクロアクセス信号が“1”のときは、選択部36は、バス24とIPマクロ22を接続して、両者の間の信号経路を確立するものとする。
また、図6は、半導体集積回路の各部の信号の動きの一例を示すタイミングチャートである。図6では、上から、スタートビット、アドレス情報、位置情報、マクロアクセス信号、信号線38,37,40の信号、監視部33の出力、割り込み信号の様子が示されている。
ステップS3:選択部36は、マクロアクセス信号がデアサート(“0”)か否かを判定する。マクロアクセス信号がデアサートである場合、読み出し部32とIPマクロ22を接続し、ステップS4の処理が行われる。マクロアクセス信号がアサートの場合には、選択部36は、バス24とIPマクロ22を接続させる。そして、マクロアクセス信号がデアサートになるまで、ステップS3の処理が繰り返される。
また、時刻t3では、マクロアクセス信号が“1”であるため、選択部36は、バス24とIPマクロ22を接続する。これにより、信号線38と信号線40の信号が同じもの(データD1)となる。
ステップS4:読み出し部32は、アドレス情報で指定されたIPマクロ22のレジスタ22aのステータスビットを含むデータを読み出す。
図6に示す例では、時刻t5において、ステータスビットの所定の変化を検出して、監視部33の出力が“1”となり、割り込み発生部34から出力される割り込み信号が“1”となりアサートされている。
たとえば、上記の説明では、ステータスビットが1つの場合について説明したが、これに限定されず、複数の回路状態を示す複数のステータスビットの変化を回路状態監視回路23が監視するようにしてもよい。たとえば、同じアドレスで指定されるデータ中に、監視したい複数のステータスビットがある場合には、位置情報保持部31には、各ステータスビットのビット位置を示す位置情報が格納される。
11 プロセッサ部
12 回路部
12a 記憶部
13 回路状態監視回路
14 バス
15 割り込み信号線
Claims (5)
- プロセッサ部と、
回路状態を示す状態情報を記憶する記憶部を有する回路部と、
前記状態情報を監視し、前記状態情報の所定の変化を検出すると、前記プロセッサ部に対する割り込みを発生する回路状態監視回路と、
を有する半導体集積回路。 - 前記回路状態監視回路は、前記回路部とバスとの間に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記回路状態監視回路は、前記バスを経由した前記回路部に対するアクセスがあるときに、前記状態情報の監視を中断させ、前記バスと前記回路部との間の信号経路を確立する選択部を有していることを特徴とする請求項2に記載の半導体集積回路。
- 前記回路状態監視回路は、
前記状態情報を読み出す読み出し部と、
前記状態情報を監視する監視部と、
前記状態情報の所定の変化が前記監視部にて検出されると、前記プロセッサ部に対する割り込みを発生する割り込み発生部と、
を有することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の半導体集積回路。 - 外部の回路部から回路状態を示す状態情報を読み出す読み出し部と、
前記状態情報を監視する監視部と、
前記状態情報の所定の変化が前記監視部にて検出されると、プロセッサ部に対する割り込みを発生する割り込み発生部と、
を有することを特徴とする回路状態監視回路。
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JP2011177622A JP2013041402A (ja) | 2011-08-15 | 2011-08-15 | 半導体集積回路及び回路状態監視回路 |
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