JP2013021559A - 撮像装置、撮像装置の制御方法、及びコンピュータプログラム - Google Patents
撮像装置、撮像装置の制御方法、及びコンピュータプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013021559A JP2013021559A JP2011154140A JP2011154140A JP2013021559A JP 2013021559 A JP2013021559 A JP 2013021559A JP 2011154140 A JP2011154140 A JP 2011154140A JP 2011154140 A JP2011154140 A JP 2011154140A JP 2013021559 A JP2013021559 A JP 2013021559A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- output
- charge
- pixels
- read
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】 1フレーム内において、通常のライブビュー表示用の画像を得る為の出力動作とは別に、当該画像の画素信号の読み出しを行っていないフレーム調整期間に、画質劣化検出用データを取得する。そして、この画質劣化検出用データを用いて、次に撮像される静止画像の画質の劣化を検出する。
【選択図】 図1
Description
このような撮像装置として、静止画像を記録する静止画撮影モードと、撮像動作を繰り返して表示又は記録する撮影モード(いわゆる動画撮影モード)とを切り替えて、各撮影モードを併用できるものも増えてきている。
動画像の撮影の動作時間が長くなったり、ライブビューの動作時間が長くなったりすると、撮像素子等のカメラ内部のデバイスが発熱し、カメラの内部温度が上昇する。カメラの内部温度の上昇により撮像素子においては、暗電流ノイズ等のノイズ量が増大し、このノイズにより画質の低下を招くという課題がある。
したがって、特許文献1に記載の技術のように温度センサを用いて撮像素子の温度分布を正確に検出するためには、複数の温度センサを撮像素子に近接させて配置する必要がある。このため、部品点数の増加や、温度センサを配置するスペースの確保という課題があった。また、複数の温度センサを用いて、撮像素子の近傍の温度分布を測定した場合であっても、その温度分布は撮像素子自体の温度分布ではない。よって、その温度分布を用いて画質の劣化を予測したとしても、画質の劣化の正確な予測が困難であるという課題がある。
具体的には、例えば、動画像又はライブビュー画像の撮影中に、その直後に撮像される静止画像の画質の劣化を正確に検出することを目的とする。
また、例えば、動画像の撮影の際に、撮像素子全体において動画像の画質の劣化を正確に検出することを目的とする。
(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態を説明する。
図1は、撮像装置の全体構成の一例を示す図である。
図1において、撮影用レンズ110には不図示のモータが備えられている。後述するAF142の処理結果に応じて、当該モータを駆動して、撮影用レンズ110の焦点を合わせる機構が撮像装置に備えられている。
レンズ制御部111は、制御信号発生手段を含んでいる。撮影用レンズ110の焦点を調整する動作等のモータ駆動は、当該制御信号発生手段で得られるパルス信号によって行われる。
シャッター112は、撮像素子114の露光量を制御する。シャッター112は、周知のメカニカルなシャッターでも、電気的に遮光することの出来る液晶シャッター等でもよい。
LPF115は、撮影用レンズ110を透過してきた光の余分な波長(色再現に影響する不要となる波長)をカットするためのローパスフィルタである。LPF115は、撮影用レンズ110と撮像素子114との間に配設されている。
DFE117は、各画素からAFE116を介して出力されたデジタル信号を入力し、当該デジタル信号に対して、補正や並び替え等のデジタル処理を行うデジタル・フロント・エンド回路である。DFE117は、必要に応じて、後述するメモリ152や不揮発性メモリ156に格納されている補正データを取得し、当該補正データを、デジタル信号の補正処理に使用する。
メモリ制御回路122は、AFE116、DFE117、TG118、画像処理回路120、画像表示メモリ124、及びメモリ130を制御する。
DFE117からのデータは、画像処理回路120及びメモリ制御回路122を介して、或いは、メモリ制御回路122を介して、画像表示メモリ124或いはメモリ130に書き込まれる。
また、本実施形態における画像処理回路120は、データ演算部120aを備え、画像から、焦点の検出と明るさの検出とを行うことができる。さらに、画像処理回路120は、データ演算部120aで検出したデータに基づいて、システム制御回路150を介して、レンズ制御部111へ制御信号を送ることができる。この制御信号により撮影用レンズ110の焦点を調節する動作を行うことができる。
メモリ130は、撮影された静止画像や動画像を格納する。メモリ130は、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を有している。
シャッター制御部140は、シャッター112の動作を制御する。
AE146は、AE(自動露出)処理を行うための測光手段であるところの測光制御部である。フラッシュ部148は、暗時の撮影に使用され、閃光を発生させる。AE146は、フラッシュ部148と連携することにより、フラッシュ撮影機能も有する。
システム制御回路150は、画像処理装置全体を制御する。システム制御回路150は、CPU等を内蔵する。
不揮発性メモリ156には、後述するプログラム等が格納される。不揮発性メモリ156は、例えば、電気的に消去・記録が可能なフラッシュメモリ等により実現される。不揮発性メモリ156には、各種パラメータやISO感度等の設定値、設定モード、及び各種補正データ等が格納される。
操作部160は、システム制御回路150への各種動作指示を入力するための各種のユーザインタフェースを備える。例えば、操作部160は、メインスイッチ(起動スイッチ)、シャッタースイッチ、及び撮影モード等の切り替えを行うためのモード設定ダイアル等を含む。操作部160に含まれるレリーズスイッチを押し込むことで2つのスイッチ(SW1、SW2)が段階的にONされる。
記録媒体190は、メモリカードやハードディスク等の着脱可能な記録媒体である。
図2は、撮像素子114の概略構成の一例を示す図である。撮像素子114は、画素が遮光されているHOB領域(水平オプティカルブラック領域)51と、HOB領域51と同様に画素が遮光されているVOB領域(垂直オプティカルブラック領域)52と、通常の遮光されていない画素エリアである有効部53とを有する。本実施形態では、画質の劣化の検出にあたっては、VOB領域52の出力を用いる。
フォトダイオード61は、光電変換素子の一例である。フォトダイオード61は、撮影用レンズ110によって結像された光画像を受けて電荷を発生し(光電変換し)蓄積する。以下の説明では、フォトダイオード61を必要に応じてPD61と称する。転送スイッチ62は、MOSトランジスタで構成されている。以下の説明では、転送スイッチ62を必要に応じてTX62と称する。フローティングディフージョン64は、コンデンサになっている。以下の説明では、フローティングディフージョン64を必要に応じてFD64と称する。PD61で蓄積された電荷は、TX62の動作によりFD64に転送されて電圧に変換され、アンプ65からソースフォロワで画素信号として出力される。行選択スイッチ66は、垂直出力線67に画素信号が出力される際に動作する。リセットスイッチ63は、FD64やPD61の電位をリセットする。リセットスイッチ63、アンプ65、及び行選択スイッチ66は、MOSトランジスタで構成されている。
図4に示す例では、図3に示した単位画素60が、二次元のマトリックス状に配置(画素60(1,1)〜60(n,m))される構成となっている。
各単位画素60の蓄積制御は、垂直選択手段であるところの垂直走査回路77a又は77bからの信号により行われる。本実施形態では、垂直走査回路77a、77bはシフトレジスタで構成されている。
画素の水平1ライン毎に、垂直走査回路77a、77bの何れの信号を制御信号として使用するかを設定するのが各水平ラインの制御線である。制御線は、TX62を制御する電荷転送制御線TX、リセット制御線RES、及び行選択制御線SELを含む。電荷転送制御線TXには、スイッチ群SWt_x_1、SWt_x_2が接続されている。リセット制御線RESには、スイッチ群SWr_x_1、SWr_x_2が接続されている。行選択制御線SELには、スイッチ群SWs_x_1又は、SWs_x_2が接続されている。ここで、xは、1〜nである(nは2以上の整数であり二次元マトリックスの行数である)。
垂直出力線67(y)は、1ライン毎に、S−N回路75a又は75bに接続されている。S−N回路75a、75b(75(1)〜75(m))の出力の選択等の制御は水平走査回路76a、76bにより行われる。S−N回路75a、75bには、不図示の読み出し信号ΦPTN、ΦPTSが供給される。S−N回路75a、75bは、この読み出し信号ΦPTN、ΦPTSに基づいて、各々の画素60の信号成分とノイズ成分とを読み出して、差動動作を行い出力アンプ74a、74bへ出力する。出力アンプ74a、74bは、不図示の電流切り替え回路を用いて、駆動能力を変更することが可能である。
本実施形態では、水平走査回路76a、76bは、垂直走査回路77a、77bと同様にシフトレジスタで構成されている。
出力アンプ74は、4個の出力アンプ74a1、74a2、74b1、74b2を備え、出力経路に応じて、信号が振り分けられて出力される。
ライブビュー動作時には、1行毎の第1の出力(表示用画像出力)を得るための「リセット−蓄積−転送−読み出し」が行われる。これにより、垂直走査回路77a、S−N回路75、及び水平走査回路76を用いて、ライブビュー動作時の表示用データであるライブビュー表示用データの1フレーム分の読み出しが行われる。その後、次のフレームのデータの取得開始までの時間として、撮像装置のシステムとして安定した連続動作をするために事前に定められた「フレームレート(例えば30fps等)で動作するための調整期間」であるフレーム調整期間を設ける。このようにすることによって、所定のフレームレートにてライブビュー動作が行われる。
最初に、時間T0のタイミングで画素部のリセットが開始する。時間T0において、垂直走査回路77aは、リセットスイッチ63を制御するリセット信号ΦRESa(n)と転送スイッチ62を制御する転送信号ΦTXa(n)とをアクティブにする。これにより、PD61及びFD64はリセットされた状態となる。
次に、電荷の読み出し直前の時間T2において、垂直走査回路77aは、リセット信号ΦRESa(n)をアクティブにし、時間T3において、リセット信号ΦRESa(n)をオフする。すなわち、時間T2〜T3の期間において、蓄積動作中にFD64に蓄積された暗電流(電荷)をリセットした状態とする。
続いて、時間T4において、垂直走査回路77aは、行選択スイッチ66を制御する行選択信号ΦSELa(n)をアクティブにして、FD64に蓄積された電荷を垂直出力線67へ転送させる。
次に、時間T7〜T8の期間において、垂直走査回路77aは、転送信号ΦTXa(n)をアクティブにし、PD61に蓄積された電荷をFD64へ転送させる。すなわち、時間T1〜T8の期間が撮像装置としての露光期間(電荷蓄積期間)となる。
次に、時間T10において、垂直走査回路77aは、行選択信号ΦSELa(n)をオフすると同時に、水平走査回路76は、S−N回路75に対して制御信号を送信する。S−N回路75は、光の蓄積電荷から、FD64のリセット状態のノイズ分の出力を差し引いた信号を、出力アンプ74へ出力する読み出す動作を順次開始する。
ここで、ライブビュー表示用の画像出力の取得時の駆動信号は、基準信号TGsig1を基準の信号として出力される。
まず、図5を用いて説明した様に、基準信号TGsig1を基準の信号として用いてライブビュー表示用の画像の出力を得るための「リセット−蓄積−転送−読み出し」が行われる。すなわち、垂直走査回路77a、S−N回路75、及び水平走査回路76を用いて、ライブビュー表示用の画像データの1フレーム分の読み出しが行われる。
2行目についても1行目と同様の動作により、リセット−蓄積−転送−読み出しが行われる。以上により、画質劣化検出用データとして、VOB領域52の2行分のデータが取得される。
以上が、画質劣化検出用データの取得動作の一例である。
ここで、画質の劣化の検出精度を向上させるために、電荷の蓄積時間以外の他の動作条件も通常のライブビュー表示用の画像を得る為の出力動作時の条件と異ならせても良い。例えば、画質の劣化が顕著となる高いISO感度に設定して画質劣化検出用データを取得してもよい。また、画質の劣化は、電荷の蓄積期間中の撮像装置の内部の発熱量に影響される為、出力アンプ74の駆動電流の大きさを、通常のライブビュー表示用の画像を得る為の出力動作時よりも大きな値に変更して、画質劣化検出用データを取得しても良い。
また、不図示の温度センサからの出力を用いて、撮像素子114等の温度情報を取得し、取得した温度が所定温度以上になった場合に前述の画質の劣化の検出を行うようにしても良い。
また、本実施形態では、1フレーム毎に画質劣化検出用データを取得したが、複数フレームに1回、画質劣化検出用データを取得する構成としても良い。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。第1の実施形態では、フレーム調整期間に画質劣化検出用データを取得するようにした。これに対し、本実施形態では、撮像素子114の一部の領域を、ライブビューの表示用に用いずに、画質の劣化の検出用に用いるようにし、ライビュー表示用のデータの取得期間とフレーム調整期間との双方の期間で画質劣化検出用データを取得する。このようにすることにより、ライブビュー画像のフレームレートにはよらずに、画質劣化検出用データを得るための電荷の蓄積期間をより延ばすことが可能となる。このように本実施形態と第1の実施形態とは、画質劣化検出用データを取得する際の撮像装置の動作の一部が主として異なる。したがって、本実施形態の説明において第1の実施形態と同一の部分については図1〜図7に付した符号を付す等して詳細な説明を省略する。
図8を用いて、画質劣化検出用データの取得動作の一例を説明する。図8は、画質劣化検出用データの取得を行う際の撮像素子114の動作の概略の一例を示すタイミングチャートである。
まず、図5を用いて説明した様に、基準信号TGsig1を基準の信号として用いてライブビュー表示用の画像の出力を得るためのリセット−蓄積−転送−読み出しが行われる。すなわち、垂直走査回路77a、S−N回路75、及び水平走査回路76を用いて、ライブビュー表示用の画像データの1フレーム分の読み出しが行われる。
2行目についても1行目と同様の動作により、リセット−蓄積−転送−読み出しが行われる。以上により、画質劣化検出用データとして、VOB領域52の2行分のデータが取得される。
以上が、画質劣化検出用データの取得動作の一例である。
また、不図示の温度センサ出力を用いて、撮像素子114等の温度情報を取得し、取得した温度が所定温度以上になった場合に前述の画質の劣化の検出を行うようにしても良い。
また、本実施形態では、1フレーム毎に画質劣化検出用データを取得したが、複数フレームに1回、画質劣化検出用データを取得する構成としても良い。
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。第1及び第2の実施形態では、ライブビュー画像の表示、又は動画像の撮影を行っているときに、静止画像の撮影を行う場合の当該静止画像の画質の劣化を検出する場合を例に挙げて説明した。これに対し、本実施形態では、動画像の撮影を行っているときに、当該動画像の画質の劣化を検出する。このように、本実施形態と第1及び第2の実施形態とは、画質の劣化を検出する対象が異なることによる処理が主として異なる。したがって、本実施形態の説明において第1及び第2の実施形態と同一の部分については図1〜図8に付した符号を付す等して詳細な説明を省略する。
まず、図9(a)について説明する。
最初に、時間T0のタイミングで画素部のリセットを開始する。時間T0において、垂直走査回路77aは、リセット信号ΦRESa(n)と転送信号ΦTXa(n)とをアクティブにする。これにより、PD61及びFD64はリセットされた状態となる。
次に、電荷の読み出し直前の時間T2において、垂直走査回路77aは、リセット信号ΦRESa(n)をアクティブにし、時間T3において、リセット信号ΦRESa(n)をオフする。すなわち、時間T2〜T3の期間において、蓄積動作中にFD64に蓄積された暗電流(電荷)をリセットした状態とする。
続いて、時間T4において、垂直走査回路77aは、行選択信号ΦSELa(n)をアクティブにして、FD64に蓄積された電荷を垂直出力線67へ転送させる。
次に、時間T7〜T8の期間において、垂直走査回路77aは、転送信号ΦTXa(n)をアクティブにし、PD61に蓄積された電荷をFD64へ転送させる。すなわち、時間T1〜T8の期間が撮像装置としての露光期間(電荷蓄積期間)となる。
次に、時間T10において、垂直走査回路77aは、行選択信号ΦSELa(n)をオフすると同時に、水平走査回路76は、S−N回路75に対して制御信号を送信する。S−N回路75は、光の蓄積電荷から、FD64のリセット状態のノイズ分の出力を差し引いた信号を、出力アンプ74へ出力する読み出す動作を順次開始する。
以上が水平方向の一行分の蓄積−読み出し動作の一例である。以下同様に、次の対象の行について、リセット信号ΦRESa(n+1)、転送信号ΦTXa(n+1)、行選択信号ΦSELa(n+1)、読み出し信号ΦPTNa(n+1)、及び読み出し信号ΦPTSa(n+1)を用いて前述した動作が行われる。
基本的に、転送信号ΦTXb(n)の動作以外は、図9(a)に示したものと同様となる(ΦRESa(n)=ΦRESb(n)、ΦSELa(n)=ΦSELb(n))。図9(a)と異なる部分は、時間T7〜T8の期間で、垂直走査回路77bが、転送信号ΦTXb(n)をアクティブにしない点である。よって、この期間に、PD61に蓄積された電荷はFD64へ転送されない。
すなわち、図9(b)の動作は、PD61の光出力はなされず、回路系のノイズ成分のみが出力される暗出力モードでの動作ある。
以上が画質劣化検出用モードにおける水平方向の一行分の読み出し動作の一例である。以下同様に、次の対象の行について、リセット信号ΦRESb(n+1)、転送信号ΦTXb(n+1)、行選択信号ΦSELb(n+1)、読み出し信号ΦPTNb(n+1)、及び読み出し信号ΦPTSb(n+1)を用いて前述した動作が行われる。本実施形態では、撮像装置の内部の温度上昇によって生じる回路系のノイズを含む暗出力データを用いて画質の劣化を検出する。
動画像撮影時には、1行毎の第1の出力(表示用画像出力)を得るための「リセット−蓄積−転送−読み出し」が行われる。これにより、垂直走査回路77a、S−N回路75、及び水平走査回路76を用いて、動画撮影用の画像データの1フレーム分の読み出しが行われる。その後、次のフレームのデータの取得開始までの時間として、撮像装置のシステムとして安定した連続動作をするために事前に定められたフレームレート(例えば30fps等)で動作するための調整期間であるフレーム調整期間を設ける。このようにすることによって、所定のフレームレートにて動画像の撮影動作が行われる。
本実施形態では、このフレーム調整期間を利用して、このフレーム期間内に収まる様に、画質劣化検出用データ(暗出力データ)を得、この画質劣化検出用データを用いて、画質の劣化を予測する。
まず、基準信号TGsig1を基準の信号として用いて、動画撮影用の画像の出力を得るためのリセット−蓄積−転送−読み出しが行われる。すなわち、垂直走査回路77a、S−N回路75、水平走査回路76を用いて、動画撮影用の画像データの1フレーム分の読み出しが行われる。ここで、基準信号TGsig1を用いて、S−N駆動モードにより、動画撮影用の画像データ(光出力画像)の出力を得る。
撮像素子114全体の画質の劣化を正確に検出する為に、画質劣化検出用データのデータ領域を、撮像素子114の全画素領域とする必要がある。しかしながら、事前に定められたフレームレートを満足する為には、フレームレート調整期間内に撮像素子114の全画素領域の出力を取得することができない。そこで、本実施形態では、撮像素子114の全画素領域のうち、フレームレート調整期間内に収まる画素領域のデータを取得する。すなわち、1フレーム期間内では、撮像素子114の一部分の画素領域を指定して当該指定した画素領域から画像劣化検出用データを取得する。そして、フレーム毎に、画素領域の変更を行い、複数フレームの期間を掛けて、撮像素子114の全画素領域から画質劣化検出用データを取得する(図10の「R1領域データ N−N読出」、「R2領域データ N−N読出」を参照)。
本実施形態では、最初の1フレーム目のフレーム調整期間には、画素領域R1の画質劣化検出用データが取得される。次のフレームのフレーム調整期間には、画素領域R2のデータを取得する。この様に、画質劣化検出用データを取得する画素領域を順次切り替えることにより、30フレームを1周期として、撮像素子114の全画素領域の暗出力データを画質劣化検出用データとして取得することができる。したがって、撮像素子114の温度分布が不均一であり、撮像素子114の場所により画質の劣化の程度が異なる場合においても、正確に画質の劣化を検出することが可能となる。
以上が、画質劣化検出用データの取得動作の一例である。
また、不図示の温度センサ出力を用いて、撮像素子114等の温度情報を取得し、取得した温度が所定温度以上になった場合に前述の画質の劣化の検出を行うようにしても良い。
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。本実施形態では、動画像を電子ズームにより拡大して撮影しているときに、当該動画像の画質の劣化を検出する。このように、第3の実施形態では、拡大されていない動画像の画質の劣化を検出するのに対し、本実施形態では、電子ズームにより拡大された動画像の画質の劣化を検出する点が主として異なる。したがって、本実施形態の説明において第1〜第3の実施形態と同一の部分については図1〜図11に付した符号を付す等して詳細な説明を省略する。
図12は、動画撮影時の電子ズーム領域と(図12(a))、画質劣化検出用データを取得する画素領域(図12(b))の一例を示す図である。
図12(a)に示すように、動画撮影時の電子ズームの操作により、図12(a)の斜線で示す画素領域(画素領域R7〜R10、R12〜R15、R17〜R20、R22〜R25)のみを電子ズーム領域として使用して、動画撮影時の画像データが読み出される。このとき、フレームレート調整期間内に取得する画質劣化検出用データの画素領域を、電子ズーム領域に連動して変更する。すなわち、図12(b)に示すように、図12(b)のグレーで塗りつぶした画素領域(画素領域R7〜R10、R12〜R15、R17〜R20、R22〜R25)に相当する箇所のみ画質劣化検出用データを取得する。すなわち、最初のフレームでは、画素領域R7の画質劣化検出用データを取得し、次のフレームでは、画素領域R8の画質劣化検出用データを取得する。そして、順次、図12(b)の灰色で塗りつぶした画素領域に相当する箇所の全てから画質劣化検出用データの取得を行う。これにより、撮像素子114の全画素領域の画質劣化検出用データを取得する場合と比較して、より少ないフレーム期間で、動画撮影時に使用している画像データに対応する画素領域の画質の劣化を検出することが可能となる。よって、より短い時間で、画質の劣化を正確に検出することが可能となる。
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、まず、以上の実施形態の機能を実現するソフトウェア(コンピュータプログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給する。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)が当該コンピュータプログラムを読み出して実行する。
Claims (23)
- 光電変換素子を有する画素であって、二次元に配置された複数の画素と、
前記光電変換素子で光電変換された電荷を読み出し、読み出した電荷に基づく動画像またはライブビュー画像を出力する出力手段と、
前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の少なくとも一部から読み出し、読み出した電荷に基づく画質劣化検出用データを取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された画質劣化検出用データを用いて、画質の劣化を検出する検出手段と、を有し、
前記取得手段は、前記出力手段により出力される動画像またはライブビュー画像の1フレーム期間のうち、少なくとも、前記動画像またはライブビュー画像を得るための電荷の読み出しを行っていないフレーム調整期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の少なくとも一部から読み出すことを特徴とする撮像装置。 - 前記取得手段は、1フレーム期間内の、前記動画像またはライブビュー画像を得るための電荷の読み出しを行っていない期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素のうち、遮光されている画素から読み出し、
前記検出手段は、前記動画像またはライブビュー画像の出力の後に出力される静止画像の画質の劣化を検出することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記出力手段は、前記複数の画素のうち、前記取得手段により電荷が読み出される画素とは異なる画素から電荷を読み出し、
前記取得手段は、1フレーム期間内の、前記動画像またはライブビュー画像を得るための電荷の読み出しを行っている期間と、行っていない期間との双方の期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素のうち、遮光されている画素から読み出し、
前記検出手段は、前記動画像またはライブビュー画像の出力の後に出力される静止画像の画質の劣化を検出することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記取得手段は、前記出力手段により電荷が読み出されるときとは異なる条件で前記撮像装置が駆動されているときに、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の少なくとも一部から読み出すことを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の撮像装置。
- 前記出力手段により電荷が読み出されるときとは異なる条件は、前記出力手段により電荷が読み出されるときよりも前記撮像装置の駆動電流の大きさが大きいという条件、または、前記出力手段により電荷が読み出されるときよりもISO感度が高いという条件であることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。
- 前記出力手段は、前記光電変換素子で光電変換された電荷を含む電荷を読み出し、読み出した電荷に基づく動画像を出力し、
前記取得手段は、前記出力手段により出力される動画像の1フレーム期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の一部を指定して読み出すことを、複数のフレーム期間のそれぞれで、指定する画素を異ならせて行い、
前記検出手段は、前記動画像の画質の劣化を検出することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記取得手段は、前記複数の画素の全てを指定することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。
- 前記取得手段は、前記複数の画素のうち、画質の劣化を検出する画素として予め設定されている一部の画素を指定することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。
- 前記出力手段は、前記動画像の出力を行っているときにユーザからの指示があると、前記複数の画素のうち、当該指示に対応する一部の画素から読み出した電荷に基づいて当該動画像を拡大して出力し、
前記取得手段は、前記複数の画素のうち、前記指示に対応する一部の画素を指定することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。 - 前記出力手段は、前記検出手段により、画質の劣化が検出されると、前記動画像またはライブビュー画像が表示されている画面に、そのことを示す情報を出力することを特徴とする請求項1〜9の何れか1項に記載の撮像装置。
- 前記出力手段は、前記検出手段により、画質の劣化が検出されると、前記動画像またはライブビュー画像の出力を終了することを特徴とする請求項1〜9の何れか1項に記載の撮像装置。
- 光電変換素子を有する画素であって、二次元に配置された複数の画素を有する撮像装置の制御方法であって、
前記光電変換素子で光電変換された電荷を読み出し、読み出した電荷に基づく動画像またはライブビュー画像を出力する出力工程と、
前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の少なくとも一部から読み出し、読み出した電荷に基づく画質劣化検出用データを取得する取得工程と、
前記取得工程により取得された画質劣化検出用データを用いて、画質の劣化を検出する検出工程と、を有し、
前記取得工程は、前記出力工程により出力される動画像またはライブビュー画像の1フレーム期間のうち、少なくとも、前記動画像またはライブビュー画像を得るための電荷の読み出しを行っていないフレーム調整期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の少なくとも一部から読み出すことを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 前記取得工程は、1フレーム期間内の、前記動画像またはライブビュー画像を得るための電荷の読み出しを行っていない期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素のうち、遮光されている画素から読み出し、
前記検出工程は、前記動画像またはライブビュー画像の出力の後に出力される静止画像の画質の劣化を検出することを特徴とする請求項12に記載の撮像装置の制御方法。 - 前記出力工程は、前記複数の画素のうち、前記取得工程により電荷が読み出される画素とは異なる画素から電荷を読み出し、
前記取得工程は、1フレーム期間内の、前記動画像またはライブビュー画像を得るための電荷の読み出しを行っている期間と、行っていない期間との双方の期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素のうち、遮光されている画素から読み出し、
前記検出工程は、前記動画像またはライブビュー画像の出力の後に出力される静止画像の画質の劣化を検出することを特徴とする請求項12に記載の撮像装置の制御方法。 - 前記取得工程は、前記出力工程により電荷が読み出されるときとは異なる条件で前記撮像装置が駆動されているときに、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の少なくとも一部から読み出すことを特徴とする請求項12〜14の何れか1項に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記出力工程により電荷が読み出されるときとは異なる条件は、前記出力工程により電荷が読み出されるときよりも前記撮像装置の駆動電流の大きさが大きいという条件、または、前記出力工程により電荷が読み出されるときよりもISO感度が高いという条件であることを特徴とする請求項15に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記出力工程は、前記光電変換素子で光電変換された電荷を含む電荷を読み出し、読み出した電荷に基づく動画像を出力し、
前記取得工程は、前記出力工程により出力される動画像の1フレーム期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の一部を指定して読み出すことを、複数のフレーム期間のそれぞれで、指定する画素を異ならせて行い、
前記検出工程は、前記動画像の画質の劣化を検出することを特徴とする請求項12に記載の撮像装置の制御方法。 - 前記取得工程は、前記複数の画素の全てを指定することを特徴とする請求項17に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記取得工程は、前記複数の画素のうち、画質の劣化を検出する画素として予め設定されている一部の画素を指定することを特徴とする請求項17に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記出力工程は、前記動画像の出力を行っているときにユーザからの指示があると、前記複数の画素のうち、当該指示に対応する一部の画素から読み出した電荷に基づいて当該動画像を拡大して出力し、
前記取得工程は、前記複数の画素のうち、前記指示に対応する一部の画素を指定することを特徴とする請求項17に記載の撮像装置の制御方法。 - 前記出力工程は、前記検出工程により、画質の劣化が検出されると、前記動画像またはライブビュー画像が表示されている画面に、そのことを示す情報を出力することを特徴とする請求項12〜20の何れか1項に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記出力工程は、前記検出工程により、画質の劣化が検出されると、前記動画像またはライブビュー画像の出力を終了することを特徴とする請求項12〜20の何れか1項に記載の撮像装置の制御方法。
- 光電変換素子を有する画素であって、二次元に配置された複数の画素を有する撮像装置を制御することをコンピュータに実行させるためのコンピュータプログラムであって、
前記光電変換素子で光電変換された電荷を読み出し、読み出した電荷に基づく動画像またはライブビュー画像を出力する出力工程と、
前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の少なくとも一部から読み出し、読み出した電荷に基づく画質劣化検出用データを取得する取得工程と、
前記取得工程により取得された画質劣化検出用データを用いて、画質の劣化を検出する検出工程と、をコンピュータに実行させ、
前記取得工程は、前記出力工程により出力される動画像またはライブビュー画像の1フレーム期間のうち、少なくとも、前記動画像またはライブビュー画像を得るための電荷の読み出しを行っていないフレーム調整期間に、前記光電変換素子で光電変換された電荷とは異なる電荷を、前記複数の画素の少なくとも一部から読み出すことを特徴とするコンピュータプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011154140A JP5836673B2 (ja) | 2011-07-12 | 2011-07-12 | 撮像装置、撮像装置の制御方法、及びコンピュータプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011154140A JP5836673B2 (ja) | 2011-07-12 | 2011-07-12 | 撮像装置、撮像装置の制御方法、及びコンピュータプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013021559A true JP2013021559A (ja) | 2013-01-31 |
JP5836673B2 JP5836673B2 (ja) | 2015-12-24 |
Family
ID=47692538
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011154140A Expired - Fee Related JP5836673B2 (ja) | 2011-07-12 | 2011-07-12 | 撮像装置、撮像装置の制御方法、及びコンピュータプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5836673B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020174369A (ja) * | 2017-02-16 | 2020-10-22 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置および光検出システム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007201735A (ja) * | 2006-01-25 | 2007-08-09 | Canon Inc | 撮像装置及びその制御方法 |
JP2009033508A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Nikon Corp | 撮像装置 |
JP2009239337A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-15 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2010068325A (ja) * | 2008-09-11 | 2010-03-25 | Canon Inc | 撮像装置、制御方法、及びプログラム |
-
2011
- 2011-07-12 JP JP2011154140A patent/JP5836673B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007201735A (ja) * | 2006-01-25 | 2007-08-09 | Canon Inc | 撮像装置及びその制御方法 |
JP2009033508A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Nikon Corp | 撮像装置 |
JP2009239337A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-15 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2010068325A (ja) * | 2008-09-11 | 2010-03-25 | Canon Inc | 撮像装置、制御方法、及びプログラム |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020174369A (ja) * | 2017-02-16 | 2020-10-22 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置および光検出システム |
JP7078822B2 (ja) | 2017-02-16 | 2022-06-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置および光検出システム |
US11706538B2 (en) | 2017-02-16 | 2023-07-18 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Imaging system and imaging device |
US11902681B2 (en) | 2017-02-16 | 2024-02-13 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Imaging system and imaging device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5836673B2 (ja) | 2015-12-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6263035B2 (ja) | 撮像装置 | |
EP2938062B1 (en) | Image capturing apparatus and method for controlling image capturing apparatus | |
JP5523065B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法 | |
JP5022758B2 (ja) | 撮像装置、撮像システム及び撮像装置の駆動方法 | |
US11290648B2 (en) | Image capture apparatus and control method thereof | |
JP5484617B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP5885431B2 (ja) | 撮像素子及び撮像装置 | |
JP2007214892A (ja) | 撮像装置 | |
JP5279638B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP2008118293A (ja) | 撮像装置及び方法 | |
JP5836673B2 (ja) | 撮像装置、撮像装置の制御方法、及びコンピュータプログラム | |
JP7277284B2 (ja) | 焦点調節装置および焦点調節方法 | |
JP5961058B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法、画像処理装置及びその制御方法 | |
JP5127510B2 (ja) | 撮像装置、及び撮像装置の制御方法 | |
JP5311927B2 (ja) | 撮像装置、撮像方法 | |
JP2020184699A (ja) | 撮像装置およびその制御方法 | |
US20230199342A1 (en) | Imaging device and imaging method | |
JP2015166799A (ja) | 撮像装置、撮像方法、および、そのプログラム | |
WO2021241014A1 (ja) | 撮像装置、撮像方法 | |
JP2010166479A (ja) | 撮像装置及び撮像画像の補正方法 | |
CN107666571B (zh) | 具有焦点检测技术的摄像设备及其控制方法和存储介质 | |
JP6604215B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP2015080114A (ja) | 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体 | |
JP2015126421A (ja) | 撮像装置 | |
JP2012204938A (ja) | 撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140710 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150310 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150507 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151006 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151104 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5836673 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |