JP2013015485A - Ms/ms型質量分析装置及び同装置用プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プリカーサイオンを選別する第1質量分離部3と、イオン開裂部4と、プロダクトイオンを選別する第2質量分離部6と、検出器7とを有するMS/MS型質量分析装置であって、目的成分のMS分析を行うMS分析実行部110と、MS分析の結果に基づき1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部120と、全プリカーサイオン候補のMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部130と、MS/MS分析結果に基づき目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部140を備える。
【選択図】図1
Description
まず、検出しようとする成分(以下、「目的成分」という)をイオン化してMS分析を行い、最も高い信号強度が得られる一つの正イオン又は負イオンをプリカーサイオンとして選択する。あるいは、データベース等から、予め目的成分から生成されるイオンに関する情報が得られる場合には、その情報を参照して一つの正イオン又は負イオンをプリカーサイオンとして選択する。
続いて、選択したプリカーサイオンを開裂させてプロダクトイオンを生成させるMS/MS分析を行い、最も高い信号強度が得られるプロダクトイオンを選択して、目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する。
しかし、選択するプリカーサイオンによって、MS/MS分析を行う際に各四重極に印加する電圧値等の条件が異なる。特に、プリカーサイオンの極性が異なると、印加する電圧値等の条件が大きく異なり、MS/MS分析において検出されるプロダクトイオンの種類や信号強度も大きく異なる。従って、目的成分をイオン化して行うMS分析で最も高い信号強度が得られるプリカーサイオンを選択したとしても、そのプリカーサイオンを開裂させて生成したプロダクトイオンが必ずしも高い信号強度を有するとは限らず、目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として最適ではないものを選択してしまう場合がある。
a) 前記第1質量分離部及び前記検出器を制御して前記目的成分のMS分析を行うMS分析実行部と、
b) 前記MS分析の結果に基づき、所定の基準により1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部と、
c) 前記第1質量分離部、前記イオン開裂部、前記第2質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部と、
d) 前記MS/MS分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とする。
前記組合せ選択部における所定の基準としては、例えば、全てのプリカーサイオン候補について行ったMS/MS分析により取得した全MS/MSスペクトルの中で、最大強度を有するピークに対応するプロダクトイオン、及び、それに対応するプリカーサイオンの組を選択するものとすることができる。これは、後述するMS/MS型質量分析装置の第二の態様や、MS/MS型質量分析装置用のプログラムの第一及び第二の態様においても同様である。
a) 前記目的成分に関するプリカーサイオン候補として、1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをユーザーに設定させるプリカーサイオン候補設定部と、
b) 前記第1質量分離部、前記イオン開裂部、前記第2質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部と、
c) 前記MS/MS分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とする。
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第2質量分離部のうち少なくとも一方について稼働条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び/又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行するイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たMS/MSスペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することが望ましい。
a) 前記第1質量分離部及び前記検出器を制御して前記目的成分のMS分析を行うMS分析実行部と、
b) 前記MS分析の結果に基づき、所定の基準により1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部と、
c) 前記第1質量分離部、前記イオン開裂部、前記第2質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部と、
d) 前記MS/MS分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とする。
a) 前記目的成分に関するプリカーサイオン候補として、1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをユーザーに設定させるプリカーサイオン候補設定部と、
b) 前記第1質量分離部、前記イオン開裂部、前記第2質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部と、
c) 前記MS/MS分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とする。
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第2質量分離部のうち少なくとも一方について稼働条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び/又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行してMS/MS分析を行うイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たMS/MSスペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することが望ましい。
本実施例のMS/MS型質量分析装置では、第1段四重極3と第3段四重極6との間に、プリカーサイオンを開裂させて各種プロダクトイオンを生成するためにコリジョンセル4が配置され、その内部には質量分離の機能を持たない第2段四重極5が配設されている。第1段四重極3及び第3段四重極6は四重極マスフィルタであり、第2段四重極5は単なる四重極(又は多重極)のイオンガイドである。
全MS/MSスペクトルの中で、最も高強度で出現するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を最適な組として選択する方法もあるが、その場合、突発的なノイズなどにより生じた高強度のピークを誤って選択してしまう可能性がある。しかし、このようなピークが高い頻度で生ずることは殆どないため、ピークの出現頻度を基準としてプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択することにより、より高い確率で目的成分に対する最適なプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択することができる。
また、単純加算/単純平均ではなく、全てのプリカーサイオン候補について所定数のプロダクトスキャンイベントを行って得たMS/MSスペクトルに対して重み付けを行い、その重み付けを考慮したm/z毎のピーク強度の加算値/平均値(加重加算値/加重平均値)の中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、目的成分に対する最適なプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択してもよい。
例えば、上記実施例では、MS分析実行部110が目的成分のMSスペクトルを取得し、これに基づいてプリカーサイオン候補選択部120がプリカーサイオン候補を選択する構成とした。しかし、例えば、データベース等から、予め目的成分から生成されるイオンに関する情報が得られる場合には、目的成分に関するプリカーサイオン候補として、1又は複数の正イオン、及び1又は複数の負イオンをユーザーに設定させるプリカーサイオン候補設定部を備えるように構成してもよい。
2…イオン化室
3…第1段四重極
4…コリジョンセル
5…第2段四重極
6…第3段四重極
7…検出器
8…データ処理部
10…制御部
11…第1電源部
12…第2電源部
13…第3電源部
20…直流電源部
30…操作部
31…表示部
41…筒状体
42…入口側レンズ電極
43…出口側レンズ電極
110…MS分析実行部
120…プリカーサイオン候補選択部
130…MS/MS分析実行部
131…イベント準備部
132…イベント実行部
140…組合せ選択部
Claims (10)
- 目的成分から生成した各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第1質量分離部と、該プリカーサイオンを開裂させるイオン開裂部と、開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第2質量分離部と、該第2質量分離部で選別されたプロダクトイオンを検出する検出器と、を有するMS/MS型質量分析装置であって、
a) 前記第1質量分離部及び前記検出器を制御して前記目的成分のMS分析を行うMS分析実行部と、
b) 前記MS分析の結果に基づき、所定の基準により1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部と、
c) 前記第1質量分離部、前記イオン開裂部、前記第2質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部と、
d) 前記MS/MS分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とするMS/MS型質量分析装置。 - 目的成分から生成した各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第1質量分離部と、該プリカーサイオンを開裂させるイオン開裂部と、開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第2質量分離部と、該第2質量分離部で選別されたプロダクトイオンを検出する検出器と、を有するMS/MS型質量分析装置であって、
a) 前記目的成分に関するプリカーサイオン候補として、1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをユーザーに設定させるプリカーサイオン候補設定部と、
b) 前記第1質量分離部、前記イオン開裂部、前記第2質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部と、
c) 前記MS/MS分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とするMS/MS型質量分析装置。 - 前記MS/MS分析実行部が、
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第2質量分離部のうち少なくとも一方についてMS/MS測定の条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び/又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行するイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たMS/MSスペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項1又は2に記載のMS/MS型質量分析装置。 - 前記MS/MS分析実行部が、
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第2質量分離部のうち少なくとも一方についてMS/MS測定の条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び/又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行するイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たMS/MSスペクトルのマスピークの強度の値を加算又は平均し、その中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項1又は2に記載のMS/MS型質量分析装置。 - 前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たMS/MSスペクトルに重み付けを行い、その重み付けを考慮してマスピークの強度の値を加算又は平均し、その中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項4に記載のMS/MS型質量分析装置。
- 目的成分から生成した各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第1質量分離部と、該プリカーサイオンを開裂させるイオン開裂部と、開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第2質量分離部と、該第2質量分離部で選別されたプロダクトイオンを検出する検出器と、を備えるMS/MS型質量分析装置用のプログラムであって、
a) 前記第1質量分離部及び前記検出器を制御して前記目的成分のMS分析を行うMS分析実行部と、
b) 前記MS分析の結果に基づき、所定の基準により1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部と、
c) 前記第1質量分離部、前記イオン開裂部、前記第2質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部と、
d) 前記MS/MS分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とするMS/MS型質量分析装置用プログラム。 - 目的成分から生成した各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第1質量分離部と、該プリカーサイオンを開裂させるイオン開裂部と、開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第2質量分離部と、該第2質量分離部で選別されたプロダクトイオンを検出する検出器と、を備えるMS/MS型質量分析装置用のプログラムであって、
a) 前記目的成分に関するプリカーサイオン候補として、1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをユーザーに設定させるプリカーサイオン候補設定部と、
b) 前記第1質量分離部、前記イオン開裂部、前記第2質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部と、
c) 前記MS/MS分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とするMS/MS型質量分析装置用プログラム。 - 前記MS/MS分析実行部が、
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第2質量分離部のうち少なくとも一方についてMS/MS測定の条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び/又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行してMS/MS分析を行うイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たMS/MSスペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択する請求項6又は7に記載のMS/MS型質量分析装置用プログラム。 - 前記MS/MS分析実行部が、
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第2質量分離部のうち少なくとも一方についてMS/MS測定の条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び/又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行するイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たMS/MSスペクトルのマスピークの強度の値を加算又は平均し、その中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項6又は7に記載のMS/MS型質量分析装置用プログラム。 - 前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たMS/MSスペクトルに重み付けを行い、その重み付けを考慮してマスピークの強度の値を加算又は平均し、その中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項9に記載のMS/MS型質量分析装置用プログラム。
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