JP2013004717A - テラヘルツ検出器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】テラヘルツ波を検出するテラヘルツ検出素子10は、基板11と、基板11上に形成され、テラヘルツ帯における周波数を共振周波数として有する複数のボウタイアンテナ13A,13Bで構成したアンテナ部13と、基板11上に形成され、アンテナ部13の中心に配置されたSTJ(超伝導トンネル接合)素子15と、を備える。
【選択図】図1
Description
ここで、STJ素子を用いたテラヘルツ検出器(テラヘルツ検出素子)の検出原理として、基板吸収型テラヘルツ検出器の場合、STJ素子を設けた基板面と反対側の基板面にテラヘルツ帯のフォトンを照射し、基板で非平衡フォノンに変換し、この非平衡フォノンがSTJ素子に入射してSTJ素子の電極内のクーパー対を破壊して準粒子を生成し、この準粒子の生成に伴って発生するトンネル電流を検出信号としている。また、特許文献1に記載のようなアンテナ部をSTJ素子に接合したアンテナ結合型テラヘルツ検出器の場合、アンテナ部を設けた基板面にテラヘルツ帯のフォトンを照射すると、アンテナの共振効果でアンテナ中心に電界の集中が起こり、集中した電磁波でSTJ素子の電極内のクーパー対を破壊して準粒子を生成し、この準粒子の生成に伴って発生するトンネル電流を検出信号としている。
図1及び図2は、本発明の一実施形態によるテラヘルツ検出器に使用されるテラヘルツ検出素子の概略構成を示している。図1はテラヘルツ検出素子の平面図、図2は図1のA−A断面図である。
本実施形態におけるテラヘルツ検出素子10は、図1に示すように、基板11と、基板11上に形成されたアンテナ部13と、基板11上に形成された超伝導トンネル接合素子(STJ素子)15と、を備え、前記アンテナ部13は、複数(本実施形態では2つ)のアンテナ13A,13Bを有する。
図3(a)に示す第1工程では、スパッタリングによって、超伝導体で薄い絶縁体を挟んだSIS(Superconducting-Insulator-Superconducting)構造の薄膜、ここではNb/Al−AlOx−Al/Nb構造の薄膜71を基板11上に堆積させる。尚、トンネルバリア層(AlOx)は、Al膜を酸素雰囲気中に長時間放置して酸化させることで得られる。ここで、薄膜71の上層側のNb/AlがSTJ素子15の上部電極層となり、中間層のAlOxがSTJ素子15のトンネルバリア層となり、下層のAl/NbがSTJ素子15の下部電極層となる。
以上の第1〜第11工程によってテラヘルツ検出素子10が作製される。
尚、以上ではスパッタリングによって各層を堆積させているが、これに限るものではなく、他の方法(例えば蒸着)によって各層を堆積させるようにしてもよい。
上述したように、基板11上には、ボウタイアンテナからなる2つのアンテナ13A,13Bがアンテナ部13として形成されており、アンテナ部13はテラヘルツ帯における周波数をその共振周波数として有している。そして、STJ素子15はアンテナ部13の中心に配置されている。
基板11上に、テラヘルツ帯域における周波数を共振周波数として有するアンテナ部13として複数のアンテナ13A,13Bを設け、STJ素子15が複数のアンテナ13A,13Bに接続されているので、テラヘルツ光の照射されるアンテナ面積の増大により、STJ素子15の接合部分の面積を増大せずにSTJ素子15の電磁波吸収量を増大できる。これにより、STJ素子15の雑音の原因となるリーク電流の増大させずにSTJ素子内で生成される準粒子の数を増加でき、テラヘルツ検出器(テラヘルツ検出素子)によるテラヘルツ波の検出効率を高めることができる。
11 基板
13 アンテナ部
13A、13B アンテナ(ボウタイアンテナ)
13′A、13′B アンテナ(ダイポールアンテナ)
15 超伝導トンネル接合素子(STJ素子)
51 下部電極
53 トンネルバリア
55 上部電極
Claims (3)
- テラヘルツ帯における周波数を共振周波数として有するアンテナ部と、
該アンテナ部に対応して設けられた超伝導トンネル接合素子と、
を備え、
前記アンテナ部を、複数のアンテナで構成したことを特徴とするテラヘルツ検出器。 - 前記アンテナ部及び前記超伝導トンネル接合素子は、一つの基板上に形成されている請求項1に記載のテラヘルツ検出器。
- 前記アンテナ部は、複数のボウタイアンテナで構成され、
前記複数のボウタイアンテナの中心に前記超伝導トンネル接合素子が配置されている請求項1又は2に記載のテラヘルツ検出器。
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