JP2013002967A - 質量分析データ表示装置及び質量分析データ表示プログラム - Google Patents

質量分析データ表示装置及び質量分析データ表示プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2013002967A
JP2013002967A JP2011134546A JP2011134546A JP2013002967A JP 2013002967 A JP2013002967 A JP 2013002967A JP 2011134546 A JP2011134546 A JP 2011134546A JP 2011134546 A JP2011134546 A JP 2011134546A JP 2013002967 A JP2013002967 A JP 2013002967A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass
data display
peak
mass spectrum
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011134546A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013002967A5 (ja
JP5708289B2 (ja
Inventor
Yohei Yamada
洋平 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2011134546A priority Critical patent/JP5708289B2/ja
Publication of JP2013002967A publication Critical patent/JP2013002967A/ja
Publication of JP2013002967A5 publication Critical patent/JP2013002967A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5708289B2 publication Critical patent/JP5708289B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

【課題】マススペクトル上に表示可能な情報量を多くすることのできる質量分析データ表示装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る質量分析データ表示装置では、質量軸(m/z軸)40を環状、強度軸41をその径方向とするマススペクトルを作成し、その外周に各ピークに対応させつつピーク情報(図中では化合物名及び構造式候補)を環状に配置し、共に画面上に表示する。ピーク情報の表示は必要に応じて変更する。例えばピークが密集している場合、所定の基準(強度の大きさ等)で選んだ代表的なピークのピーク情報のみを表示する、表示サイズを縮小する、並べ替えて表示する、等の変更を行う。
【選択図】図2

Description

本発明は、マススペクトルと共に、マススペクトルに含まれるピークの情報を表示する質量分析データ表示装置及び質量分析データ表示プログラムに関する。
質量分析では、試料をイオン化し、そのイオンを質量(正確には質量電荷比)毎に分離して、それぞれのイオン数に応じた強度信号を測定する。この測定結果として、横軸に質量、縦軸に信号強度(一般には相対強度)をとったものがマススペクトルである。
なお、試料分子の分子量が大きく、複雑な構造を有する場合、特定の質量のイオンをプリカーサイオン(親イオン)として選別し、その選別したプリカーサイオンをCID(Collision Induced Dissociation:衝突誘起分解)によって開裂することがある。開裂によって生成されたフラグメントイオンは上記と同様に質量毎に分離され、該フラグメントイオンによるマススペクトルが作成される。この開裂操作は複数回なされることもあり、その場合、開裂の各段階においてマススペクトルが取得される。一般に、開裂操作を(n-1)回(nは2以上の整数)繰り返すことにより得られたマススペクトルは「MSnスペクトル」と称される。
マススペクトルを解析するにあたり、マススペクトルライブラリ(データベース)を利用する方法がある。マススペクトルライブラリには、様々な既知化合物についての情報、すなわち、所定のイオン化法を用いて質量分析を行ったときに得られるマススペクトルのデータの他、化合物名、分子量、組成式、構造式等の情報が含まれている。このような既知化合物のマススペクトルと測定により得られた実測マススペクトルとを指定された検索条件の下でパターンマッチングし、実測マススペクトルのピークパターンに類似する既知化合物の情報を取得する。
マススペクトルライブラリ等から取得した情報は、ユーザが理解しやすいように、マススペクトルと共に画面上に表示することが望まれる。この表示方法として簡単なものでは、全ピーク又は代表的なピークの上部に質量を表示する方法がある。また質量分析とは異なるが、特許文献1には、画面上に表示されたグラフにユーザがマウス等のポインティングデバイスのカーソルを合わせると、そのカーソル位置における数値等の詳細情報を表示する方法が記載されている。この特許文献1の方法を適用し、図6のようにユーザがカーソル位置で指定したマススペクトルのピークについて、そのピーク情報(図中では構造式候補)を表示する方法がある。
特開2000−322589号公報
しかしながら、マススペクトルを解析するには、単独のピークの情報にのみ着目するのではなく、複数のピークの情報を総合的に評価する必要がある。そのため、複数のピークの情報を同時にグラフ上に表示することが望まれるが、特許文献1の表示方法ではカーソル位置のピークに関する情報しか示されず、他のピークと比較することができない。カーソル位置以外のピークの情報を同時に表示しようとしても、多くの情報が1つのピークに対応づけられる場合や大きなピークが密集している場合、表示領域が限られるため、ピーク又は他のピーク情報と重ならないように表示することは困難である。
本発明が解決しようとする課題は、マススペクトル上に表示可能な情報量を多くすることのできる質量分析データ表示装置を提供することである。
上記課題を解決するために成された第一発明に係る質量分析データ表示装置は、
一方の軸を質量軸、他方の軸を強度軸としてマススペクトルを画面上に表示する質量分析データ表示装置において、
前記質量軸を環状、前記強度軸をその径方向とするマススペクトルを作成する変形グラフ作成手段と、
前記変形グラフ作成手段により作成されたマススペクトルと共に、該マススペクトルに含まれるピークのピーク情報を、ピークと関連づけて該マススペクトルの外周に表示するデータ表示手段と、
を有することを特徴とする。
なお、本発明における「マススペクトル」とは、開裂操作を伴わないマススペクトルと開裂操作を伴うマススペクトル(MSnスペクトル)の両方を含む。
また、上記課題を解決するために成された第二発明に係る質量分析データ表示装置は、
一方の軸を質量軸、他方の軸を強度軸としてマススペクトルを画面上に表示する質量分析データ表示装置において、
前記質量軸を前記画面の縦方向に、前記強度軸を前記画面の横方向又は斜め方向に、それぞれ向けたマススペクトルを作成する変形グラフ作成手段と、
前記変形グラフ表示手段により作成されたマススペクトルと共に、該マススペクトルに含まれるピークのピーク情報を、ピークと関連づけて該マススペクトルの左及び/又は右に表示するデータ表示手段と、
を有することを特徴とする。
パーソナルコンピュータ等の画面上では、通常、文字情報は左から右に、画像情報は横長に表示される。マススペクトル上にピーク情報を文字情報や構造式候補等の画像情報として表示する場合も同様である。それと共にマススペクトルの各ピークも左から右に並ぶため、複数のピーク情報を同時に画面上に表示する際に、ピークとピーク情報、又はピーク情報同士が重なり合うという問題が生じる。本発明者はこの点を鑑み、上記発明を想到した。
本発明では、上記構成により、マススペクトルのピークが環状若しくは画面縦方向に並
び、ピーク情報もピークの並びに対応して環状若しくは画面縦方向に並ぶ。このため、各々のピーク情報が横長に表示されても、互いに又はピークと重ならずに画面上に同時に表示することが可能となる。
本発明に係る質量分析データ表示装置では、マススペクトル上に表示可能な情報量を増やすことができるため、複数のピークについてそのピーク情報を同時に表示することが可能となる。従って、ユーザは複数のピークの情報を総合的に評価することができ、マススペクトルの解析が容易になる。
本発明に係る質量分析データ表示装置の一実施例の概略構成図。 本実施例の質量分析データ表示装置におけるマススペクトル及びピーク情報の表示例。 本実施例の質量分析データ表示装置におけるマススペクトル及びピーク情報の別の表示例。 本実施例の質量分析データ表示装置におけるマススペクトル及びピーク情報の別の表示例。 本実施例の質量分析データ表示装置におけるマススペクトル及びピーク情報の別の表示例。 従来のマススペクトルにおけるピーク情報の表示例。
本発明に係る質量分析データ表示装置(以下、「表示装置」と略す)10の概略構成を、図1を参照して説明する。本実施例の表示装置10の実態はコンピュータであり、中央演算処理装置であるCPU(Central Processing Unit)11、メモリ12、LCD(Liquid Crystal Display)等から成るモニタ(表示部)13、キーボードやマウス等から成る入力部14、ハードディスク等の大容量記憶装置から成る記憶部15が互いに接続されている。
表示装置10は、質量分析装置20との直接的な接続や、LAN(Local Area Network)などのネットワークを介した接続を司るためのインターフェース(I/F)16を備え、I/F16より通信線17を介して質量分析装置20に接続されている。なお、表示装置10は、I/F16を介して質量分析装置20と接続される形態に限られる必要はなく、質量分析装置20と一体化されていても構わない。
記憶部15には、OS(Operating System)30と、制御/データ処理プログラム31と、質量分析データ表示プログラム(以下、「表示プログラム」と略す)32と、ライブラリ(マススペクトルライブラリ)33と、が記憶されている。制御/データ処理プログラム31は、質量分析装置20の分析動作を制御し、質量分析装置20から出力される分析データのデータ処理を行うためのプログラムである。表示プログラム32は、制御/データ処理プログラム31によってデータ処理された分析データを基に図2〜5に示すようなマススペクトルのグラフを作成し、各ピークのピーク情報と共に表示部13の画面上に表示するためのプログラムである。これらのプログラムはCPU11に実行されることによりソフトウエア的に動作する。また、ライブラリ33には各種の既知化合物のピーク情報が登録されている。
なお、本実施例では制御/データ処理プログラム31と表示プログラム32を別のプログラムとしているが、これらが一体であっても構わない。また、これらのプログラムがOS30に組み込まれていても構わない。
本実施例における表示プログラム32は変形グラフ作成部321、ピーク情報取得部322、データ表示部323、表示設定部324として機能する。変形グラフ作成部321は、図6に示すような従来のマススペクトルを、図2〜5のように変形して作成する。本発明におけるマススペクトルの表示方法には、大別して質量軸を環状にする方法(図2)と、質量軸を画面縦方向に向ける方法(図3〜5)と、の2種類がある。
ピーク情報取得部322は、マススペクトルの各ピークに関連するピーク情報を、各種の計算、ライブラリ33の参照、開裂の各段階における分析データ等から取得する。例えば図2〜5のマススペクトルは、図中のプリカーサイオンを開裂することにより得られたMSnスペクトルであるが、その各ピークのピーク情報は該プリカーサイオンの既知の構造式から計算により求めた各フラグメントイオンの構造式候補、及びマスライブラリを検索することにより取得した各イオンの名称(図中では仮に「化合物A〜E」としている)である。ピーク情報取得部322が取得するピーク情報には、上記した構造式候補や対応する化合物名の他に、例えば精密質量、強度、所定の評価方法で算出した評価値、プリカーサイオンとのニュートラルロス、実測MSn+1スペクトルなどがある。
データ表示部323は、変形グラフ作成部321が作成したマススペクトルと、ピーク情報取得部322が取得したピーク情報と、を表示部13の画面上に並べて表示する。
表示設定部324は、マススペクトルとピーク情報を画面上に表示する際の各種の設定を、ユーザが入力部14を介して行うためのものである。表示設定部324の具体的な説明については後述する。
以下、表示プログラム32によって画面上に表示されるマススペクトルとピーク情報について、図2〜5を参照して説明する。
[表示例1]
図2に、表示プログラム32によって画面上に表示されるマススペクトルとピーク情報の一表示例を示す。この例は質量軸(m/z軸)40を環状、強度軸41をその径方向とするマススペクトルを作成し、各ピークのピーク情報と共に画面上に表示したものである。
本表示例では、環状の質量軸40に沿って各ピークが環状に並べられると共に、各ピークに対応して吹き出しの形で表示されたピーク情報(図中では化合物名及び構造式候補)が、マススペクトルの外周に環状に配置される。このように、ピークの並びとピーク情報の配置を環状にすることで、互いに、そしてピークと重ならないように複数のピークのピーク情報を同時に表示することが可能となる。
データ表示部323は、必要に応じてピーク情報の表示を変更することができる。例えばピークが密集している場合、所定の基準(強度の大きさ等)で選んだ代表的なピークのピーク情報のみを表示する、表示サイズを縮小する、並べ替えて表示する、等の変更を行うことができる。また、必要に応じて改行することもできる。
また、構造式候補のように複数の候補を画面上に表示する場合、所定の評価方法で評価値を算出し、その結果が良い方からピークに近い位置に表示することが望ましい。また、評価値の結果が良い方の表示サイズを大きく、悪い方の表示サイズを小さくするなど、評価値に基づいて表示サイズを変更するようにすることが望ましい。
このように、評価値に基づいて各候補の表示を変更することにより、優位な候補の情報をユーザの目に留まりやすい位置に表示することが可能となる。これにより、ユーザは画面上に表示される各種の情報を効率的に取捨選択することができるようになるため、マススペクトルの評価がより容易になる。
評価方法としては、例えばMSnスペクトルのあるピークに対してMSn+1スペクトルが測定されている場合、そのピークの各構造式候補から求められる予測MSn+1スペクトルと、測定により得られた実測MSn+1スペクトルとの類似度を算出する、各ピークの精密質量とその各構造式候補の精密質量との誤差を算出する、等の方法がある。
また、表示設定部324を介してユーザがピーク情報の表示を変更することもできる。表示設定部324により設定可能な項目として、例えば以下のものが挙げられる。
(a) 画面上に表示する情報項目の設定。
(b) 表示順序の設定。
(c) フィルタリングの設定。
(d) 等強度線(図中の罫線42)の表示・非表示の設定。
(a)は構造式候補、対応する化合物名、精密質量、評価値等の各種の情報項目のうち、いずれを画面上に表示するかに関する設定項目である。(b)は(a)において複数の情報種目を選択した場合の各情報項目の表示順序や、構造式候補など1つの情報項目に複数の候補がある場合の各候補の表示順序に関する設定項目である。(c)は1つの情報項目に多数の候補がある場合に、どのような基準で候補を抽出して表示するかに関する設定項目である。(d)は、画面上のマススペクトルのピーク強度を比較するための等強度線42を表示するか否かの設定を行う項目である。
上記(a)〜(c)によって、ユーザは自分に必要な情報のみを、自らが理解しやすいように表示することができる。これによりスペクトル全体を概観しやすくなり、分析対象の評価が容易となる。また、(d)によって、全体的なピーク強度の比較とピーク情報に絞った比較とを行うことができる。
[表示例2]
図3〜5に、表示プログラム32によって画面上に表示されるマススペクトルとピーク情報の別の表示例を示す。これらの図は質量軸を画面縦方向に向けたマススペクトルの表示例である。
従来のマススペクトルは、図6に示すように質量軸を横軸に、強度軸を縦軸に表示する。これに対し、本表示例のマススペクトルは従来のマススペクトルを90°回転させた(図3)、又は縦軸と横軸を入れ替え、縦軸を質量軸に、横軸を強度軸にした(図4)ものである。各ピークのピーク情報はマススペクトルの左右いずれか又は両方に表示される。
本表示例ではピークが画面縦方向に並ぶため、ピーク情報が横長に表示されても、ピーク及びピーク情報の並ぶ向きは縦方向であるため、これらが重ならない。そのため、互いに、そしてピークと重ならないように複数のピークのピーク情報を同時に表示することが可能となる。
図5は、図3の表示例の変形例であり、マススペクトル及びピーク情報をx軸、y軸、z軸の3次元で表示したものである。図5に示すように、x軸は画面横方向に、y軸は画面縦方向に、z軸は画面斜め方向に、それぞれ向いており、質量軸がy軸方向、強度軸がz軸方向に向いている。これにより、図3と同様の効果が得られると共に、ピーク情報を表示可能な領域をより増やすことができる。
以上、本発明に係る質量分析データ表示装置の一実施例を説明したが、上記は例に過ぎず、本発明の趣旨の範囲内で適宜に変更や修正、又は追加を行っても構わないことは明らかである。
10…質量分析データ表示装置
11…CPU
12…メモリ
13…表示部
14…入力部
15…記憶部
18…I/F
19…通信線
20…質量分析装置
30…OS
31…制御/データ処理プログラム
32…質量分析データ表示プログラム
321…変形グラフ作成部
322…ピーク情報取得部
323…データ表示部
324…表示設定部
33…ライブラリ
40…質量軸
41…強度軸
42…等強度線

Claims (11)

  1. 一方の軸を質量軸、他方の軸を強度軸としてマススペクトルを画面上に表示する質量分析データ表示装置において、
    前記質量軸を環状、前記強度軸をその径方向とするマススペクトルを作成する変形グラフ作成手段と、
    前記変形グラフ作成手段により作成されたマススペクトルと共に、該マススペクトルに含まれるピークのピーク情報を、ピークと関連づけて該マススペクトルの外周に表示するデータ表示手段と、
    を有することを特徴とする質量分析データ表示装置。
  2. 一方の軸を質量軸、他方の軸を強度軸としてマススペクトルを画面上に表示する質量分析データ表示装置において、
    前記質量軸を前記画面の縦方向に、前記強度軸を前記画面の横方向又は斜め方向に、それぞれ向けたマススペクトルを作成する変形グラフ作成手段と、
    前記変形グラフ表示手段により作成されたマススペクトルと共に、該マススペクトルに含まれるピークのピーク情報を、ピークと関連づけて該マススペクトルの左及び/又は右に表示するデータ表示手段と、
    を有することを特徴とする質量分析データ表示装置。
  3. 前記ピーク情報が複数の候補を有する際に、該候補の各々について所定の評価方法に基づいて評価値が算出され、前記データ表示手段が、ピークに近い方から順に評価値の良い候補を表示することを特徴とする請求項1又は2に記載の質量分析データ表示装置。
  4. 前記ピーク情報が複数の候補を有する際に、該候補の各々について所定の評価方法に基づいて評価値が算出され、前記データ表示手段が、評価値の良い候補を大きく、評価値の悪い候補を小さく表示することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の質量分析データ表示装置。
  5. 前記ピーク情報が複数の構造式候補を含み、前記評価方法が各ピークの精密質量とその構造式候補の精密質量との誤差であることを特徴とする請求項3又は4に記載の質量分析データ表示装置。
  6. 前記ピーク情報が複数の構造式候補を含み、前記評価方法が、該ピーク情報に対応するピークを開裂することにより得られる実測マススペクトルと、各構造式候補から得られる予測マススペクトルとの類似度であることを特徴とする請求項3又は4に記載の質量分析データ表示装置。
  7. 前記マススペクトル上に強度の等しい等強度線を表示することを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の質量分析データ表示装置。
  8. ユーザが、前記画面上に表示するピーク情報の項目を設定できることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の質量分析データ表示装置。
  9. ユーザが、前記画面上に表示するピーク情報の表示順序を設定できることを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載の質量分析データ表示装置。
  10. 前記情報が複数の候補を有する際に、前記画面上に表示する候補を抽出するためのフィルタリングの設定をユーザが行うことができることを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の質量分析データ表示装置。
  11. コンピュータを請求項1〜10のいずれかに記載の質量分析データ表示装置として機能させるための質量分析データ表示プログラム。
JP2011134546A 2011-06-16 2011-06-16 質量分析データ表示装置及び質量分析データ表示プログラム Active JP5708289B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011134546A JP5708289B2 (ja) 2011-06-16 2011-06-16 質量分析データ表示装置及び質量分析データ表示プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011134546A JP5708289B2 (ja) 2011-06-16 2011-06-16 質量分析データ表示装置及び質量分析データ表示プログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2013002967A true JP2013002967A (ja) 2013-01-07
JP2013002967A5 JP2013002967A5 (ja) 2013-11-21
JP5708289B2 JP5708289B2 (ja) 2015-04-30

Family

ID=47671684

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011134546A Active JP5708289B2 (ja) 2011-06-16 2011-06-16 質量分析データ表示装置及び質量分析データ表示プログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5708289B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018031681A (ja) * 2016-08-25 2018-03-01 株式会社島津製作所 分析データ表示処理装置
JP2020030177A (ja) * 2018-08-24 2020-02-27 株式会社島津製作所 分析支援装置および分析支援方法
CN112067639A (zh) * 2019-06-11 2020-12-11 株式会社岛津制作所 分析装置以及x射线衍射装置
US11112391B2 (en) 2015-09-25 2021-09-07 Shimadzu Corporation Mass spectrometric data processing device for qualitative analysis

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000322589A (ja) * 1999-05-07 2000-11-24 Nec Corp グラフ表示システム
JP2004012355A (ja) * 2002-06-07 2004-01-15 Nec Corp プロテオーム解析方法およびプロテオーム解析システム
JP2004028782A (ja) * 2002-06-25 2004-01-29 Hitachi Ltd 質量分析データの解析方法および質量分析データの解析装置および質量分析データの解析プログラムならびにソリューション提供システム
JP2005221328A (ja) * 2004-02-04 2005-08-18 Shimadzu Corp 糖鎖構造解析手法
JP2005221250A (ja) * 2004-02-03 2005-08-18 Jeol Ltd 質量スペクトルの解析方法および装置
WO2007145232A1 (ja) * 2006-06-13 2007-12-21 Kyoto University 二次イオン質量分析方法及びイメージング方法
WO2008035419A1 (fr) * 2006-09-21 2008-03-27 Shimadzu Corporation Procédé de spectrométrie de masse
JP2010505225A (ja) * 2006-09-27 2010-02-18 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ カラー選択入力装置及び方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000322589A (ja) * 1999-05-07 2000-11-24 Nec Corp グラフ表示システム
JP2004012355A (ja) * 2002-06-07 2004-01-15 Nec Corp プロテオーム解析方法およびプロテオーム解析システム
JP2004028782A (ja) * 2002-06-25 2004-01-29 Hitachi Ltd 質量分析データの解析方法および質量分析データの解析装置および質量分析データの解析プログラムならびにソリューション提供システム
JP2005221250A (ja) * 2004-02-03 2005-08-18 Jeol Ltd 質量スペクトルの解析方法および装置
JP2005221328A (ja) * 2004-02-04 2005-08-18 Shimadzu Corp 糖鎖構造解析手法
WO2007145232A1 (ja) * 2006-06-13 2007-12-21 Kyoto University 二次イオン質量分析方法及びイメージング方法
WO2008035419A1 (fr) * 2006-09-21 2008-03-27 Shimadzu Corporation Procédé de spectrométrie de masse
JP2010505225A (ja) * 2006-09-27 2010-02-18 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ カラー選択入力装置及び方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11112391B2 (en) 2015-09-25 2021-09-07 Shimadzu Corporation Mass spectrometric data processing device for qualitative analysis
JP2018031681A (ja) * 2016-08-25 2018-03-01 株式会社島津製作所 分析データ表示処理装置
JP2020030177A (ja) * 2018-08-24 2020-02-27 株式会社島津製作所 分析支援装置および分析支援方法
JP6996451B2 (ja) 2018-08-24 2022-01-17 株式会社島津製作所 分析支援装置および分析支援方法
CN112067639A (zh) * 2019-06-11 2020-12-11 株式会社岛津制作所 分析装置以及x射线衍射装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5708289B2 (ja) 2015-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103376301B (zh) 色谱串联四极型质谱仪
CN103389345B (zh) 色谱质谱分析用数据处理系统
JP5293809B2 (ja) 質量分析データ処理方法及び装置
JP2007287531A (ja) 質量分析データ解析方法
JP2011237311A (ja) クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
JP5708289B2 (ja) 質量分析データ表示装置及び質量分析データ表示プログラム
Kuich et al. Maui-VIA: a user-friendly software for visual identification, alignment, correction, and quantification of gas chromatography–mass spectrometry data
JP4984617B2 (ja) 質量分析データ解析方法
JP6221800B2 (ja) クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置
JP6569800B2 (ja) 質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析用プログラム
JP6439878B2 (ja) 分析データ解析装置及び分析データ解析用プログラム
JP5664667B2 (ja) 質量分析データ解析方法、質量分析データ解析装置、及び質量分析データ解析用プログラム
JP6295910B2 (ja) 質量分析データ処理装置
JP6027436B2 (ja) 質量分析データ解析方法
JP2018040655A (ja) 質量分析用データ処理装置
JP2013002967A5 (ja)
JP5860833B2 (ja) 質量分析データ処理方法及び装置
US9666421B2 (en) Mass spectrometry data display device and mass spectrometry data display program
JP6376262B2 (ja) クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置
US20230204607A1 (en) Integrated viewer for multiple measurements, and program
JP2017032470A (ja) 多変量解析結果表示装置
US20220412929A1 (en) Data processing system for chromatograph
WO2022080145A1 (ja) 解析システム、解析方法及びプログラム
JP5707706B2 (ja) データ処理装置及びデータ処理プログラム
WO2021245970A1 (ja) 分析機器管理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131003

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20131003

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140626

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140701

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140901

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150216

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5708289

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151