JP2012521581A - 副画素間に開口を有するディスプレイデバイス及びその製造方法 - Google Patents

副画素間に開口を有するディスプレイデバイス及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

電気機械システムデバイスは、基板にわたって配置された複数の支持体と、該複数の支持体にわたって配置された変形可能な反射層とを含んでいる。前記変形可能な反射層は、第1の方向に延びている複数の実質的に平行な列を含んでいる。各々の列は、前記第1の方向に一般的に垂直な第2の方向に延びている一つ以上のスロットを有している。前記スロットは、下位部分を電気的に断線することなく部分的に機械的に分離するために、前記列の下位部分の境界縁部に生成されることができる。電気機械デバイスを製造する方法は、基板にわたって導電性の変形可能な反射層を堆積する段階と、複数の電気的に分離された列を形成するために前記変形可能な層の一つ以上の部分を除去する段階と、及び少なくとも一つの前記列内に少なくとも一つの横方向スロットを形成する段階と、を含んでいる。

Description

本願発明は電気機械システムに関連している。より具体的には、本願発明は、干渉モジュレータのような電気機械システムの性能を改善するための方法及び装置に関連している。
電気機械システムは、電気的素子及び機械的素子、アクチュエータ、トランスデューサー、センサー、光学部品、及び電子機器を含んでいる。電気機械システムは、限定されないが、マイクロスケール及びナノスケールを含む様々なスケールで製造されることができる。例えば、微小電気機械システム(MEMS)デバイスは、おおよそ1ミクロンから数百ミクロンまたはそれ以上の範囲のサイズを有する構造を含むことができる。ナノ微小電気機械システム(NEMS)は、例えば、数百ナノメートルより小さいサイズを含む1ミクロンよりより小さいサイズを有する構造を含むことができる。電気機械素子は、電気及び電気機械デバイスを形成するために、堆積、エッチング、リソグラフィー、及び/または基板部分及び/または堆積した材料層から離れてエッチングするか、または層を追加する他の微小機械工程を用いて製造されうる。電気機械システムデバイスの一つの種類は、干渉モジュレータと呼ばれている。ここで用いられるように、干渉モジュレータまたは干渉光モジュレータとの用語は、光学的干渉の原理を用いて選択的に光を吸収及び/または反射するデバイスに関連している。ある実施形態において、干渉モジュレータは一対の導電プレートを備えていてもよく、その一方または両方は、全体的にまたは部分的に透明及び/または反射性であってもよく、適切な電気信号の印加で相対運動することができる。具体的な実施形態において、一つのプレートは基板上に堆積された固定層を備えており、及び別のプレートは、空隙により前記固定層から離された金属薄膜を備えていてもよい。より詳細にここで説明されるように、一つのプレートの位置は、別のものに関して、前記干渉モジュレータ上の入射光の光学的な干渉を変化させることができる。そのようなデバイスは、幅広い応用を有しており、及びこれらの種類のデバイスの特徴を用いること及び/または修正することは技術的に有益であり、これらの特徴は存在する製造物を改良し、及び開発されていない新たな製造物を生成することに利用されることができる。
一つの態様において、電気機械デバイスを製造するための方法が提供される。前記方法は、基板を提供する段階と、前記基板にわたって可動構造を形成する段階と、前記可動構造内に複数の電気的に分離された列を形成する段階と、及び少なくとも一つの前記複数の列内に少なくとも一つのスロットを生成する段階と、を備えている。前記可動構造は、第1の変形可能な層と、該第1の変形可能な層と実質的に連続に接触している反射層とを備えており、導電性であり、及び一つ以上の支持体構造によって前記基板から分離して配置されている。前記列は第1の方向に延びている。前記スロットは、第1の寸法及び該第1の寸法より大きな第2の寸法により画定され、前記第2の寸法は、前記第1の方向に実質的に垂直な第2の方向に延びている。そのような態様の実質的ににおいて、各々の列は、複数の独立した活性可能な下位部分を備えている。別の実施形態において、前記スロットは、列の隣接する二つの下位部分の間に一般的に位置される。別の実施形態において、各々の下位部分は四つの角領域を有しており、各々の角領域は、異なる支持構造体により支持されている。別の実施形態において、前記方法は、少なくとも一つの列において複数のスロットを生成する段階をさらに備えている。別の実施形態において、列内の一対の連続したスロットは、前記列の下位部分を画定している。別の実施形態において、前記第2の寸法は、第1の支持体構造に近い第1の位置から、前記第1の支持体構造に隣接する第2の支持体構造に近い第2の位置まで延びている。別の実施形態において、前記第2の寸法は、二つの隣接する支持体構造の間の距離に実質的に等しい。別の実施形態において、第2の寸法は、二つの隣接する支持体構造の間の距離よりわずかに大きい。別の実施形態において、前記スロットは、複数の相隔たる孔を備えている。別の実施形態において、前記列の少なくとも一つにおける少なくとも一つのスロットを生成する段階は、前記列の中心部分で実施される。別の実施形態において、少なくとも一つのスロットを生成する段階は、前記列の端部と前記列の縁部との間の可動構造の一部を残す段階を備えている。別の実施形態において、前記列は一般的に真っ直ぐな縁部を有している。別の実施形態において、前記方法はさらに、前記第1の変形可能な層にわたって第2の変形可能な層を形成する段階を備えている。別の実施形態において、第1の変形可能な層は、誘電体材料を備えている。別の実施形態において、前記方法は、前記基板にわたって犠牲層を堆積する段階をさらに備えている。別の実施形態において、前記方法は、開口を形成するために犠牲層をパターンニングする段階をさらに備えている。別の実施形態において、前記方法は、前記犠牲層において前記開口内部に少なくとも部分的に支持体構造を形成する段階をさらに備えている。別の実施形態において、前記方法は、前記基板にわたって光学スタックを形成する段階をさらに備えている。別の実施形態において、前記デバイスは、MEMSデバイスを備えている。別の実施形態において、前記デバイスは干渉モジュレータを備えている。
別の態様において、電気機械システムデバイスは、基板と、該基板にわたる複数の変形可能な電極と、を備えている。各々の変形可能な電極は、変形可能な層と、該変形可能な層と実質的に連続して接触する反射層とを備えており、各々の変形可能な層は、第1の方向に延びており、各々の変形可能な電極は、複数の支持体により対向する縁部に沿って支持されており、及び各々の変形可能な電極は少なくとも一つの開口を有している。各々の開口は、第1の寸法と、該第1の寸法より大きな第2の寸法とにより画定され、前記第2の寸法は、前記第1の方向に一般的に垂直な第2の方向に延びている。そのような態様の実施形態において、前記変形可能な電極は、互いに物理的に分離されている。別の実施形態において、前記変形可能な電極は、互いに電気的に分離されている。別の実施形態において、前記開口は、前記変形可能な電極の独立して活性可能な下位部分の間に一般的に配置されている。別の実施形態において、各々の開口は、一対の支持体の間を一般的に延びている。別の実施形態において、各々の開口は、第1及び第2の端部を有しており、前記第1の端部は、第1の支持体の一部にわたって配置されており、前記第2の端部は、第2の支持体の一部にわたって配置されている。別の実施形態において、前記第2の寸法は、一対の前記支持体の間の距離に実質的に等しい。別の実施形態において、前記第2の寸法は、一対の前記支持体の間の距離よりわずかに大きい。別の実施形態において、各々の変形可能な電極は、複数の前記開口を備えている。別の実施形態において、変形可能な電極における一対の連続する開口は、前記変形可能な電極の下位部分を画定する。別の実施形態において、前記第2の寸法は、前記変形可能な電極の隣接する下位部分の間のクロストークを実質的に除去するように選択される。別の実施形態において、前記デバイスは、前記基板にわたって配置された第2の反射層をさらに備えている。別の実施形態において、前記変形可能な反射層及び前記第2の反射層は、光学キャビティを画定している。別の実施形態において、前記デバイスはMEMSデバイスを備えている。別の実施形態において、前記デバイスは干渉モジュレータを備えている。
別の態様において、電気機械システムデバイスは、基板と、光を反射するための手段と、前記基板にわたって前記反射手段を支持するための手段と、前記反射手段を通して電気的導電率を維持すると同時に、前記反射手段の隣接する下位部分の間のクロストークを減少させるための手段と、を備えている。前記反射手段は、導電性であり、及び前記基板に向かって変形可能である。そのような態様の実施形態において、クロストークを減少させるための手段は、前記反射手段において一つ以上の開口を備えている。別の実施形態において、前記反射手段は、変形可能な層を備えている。別の実施形態において、前記反射手段は、誘電体層を備えている。別の実施形態において、前記支持するための手段は、複数の支持体を備えている。別の実施形態において、前記支持するための手段は、前記反射手段の前記下位部分の角領域近くに配置されている。
別の態様において、ディスプレイデバイスは、基板と、該基板にわたる複数の変形可能な電極とを有する電気機械システムデバイスを備えている。各々の変形可能な電極は、変形可能な層と、該変形可能な層と実質的に連続して接触している反射層とを備えており、各々の変形可能な層は、第1の方向に延びており、各々の変形可能な電極は、複数の支持体によって対向する縁部に沿って支持されており、及び各々の変形可能な電極は、少なくとも一つの開口を有している。各々の開口は、第1の寸法と、該第1の寸法より大きな第2の寸法とによって画定されており、前記第2の寸法は、前記第1の方向に実質的に垂直な第2の方向に延びている。そのような態様の実施形態において、前記ディスプレイデバイスは、前記ディスプレイと連結するように構成されているプロセッサであって、画像データを処理するように構成されたプロセッサと、前記プロセッサと連結するように構成されているメモリデバイスと、を備えている。別の実施形態において、前記ディスプレイデバイスは、少なくとも一つの信号を前記ディスプレイに送るために構成されたドライバ回路をさらに備えている。別の実施形態において、前記ディスプレイデバイスは、前記画像データの少なくとも一部を前記ドライバ回路に送るように構成されたコントローラを備えている。別の実施形態において、前記ディスプレイデバイスは、前記画像データを前記プロセッサに送るように構成された画像ソースモジュールをさらに備えている。別の実施形態において、前記画像ソースモジュールは、受信器、トランシーバー、及び送信機の少なくとも一つを備えている。別の実施形態において、前記ディスプレイデバイスは、入力データを受信するように、及び前記入力データを前記プロセッサに伝えるように構成された入力デバイスをさらに備えている。
図面は概要としてのみであり、縮尺して描かれていない。
図1は、第1の干渉モジュレータの可動反射層が弛緩位置にあり、及び第2の干渉モジュレータの可動反射層が活性位置にある干渉モジュレータディスプレイの一つの実施形態の一部を描いた等角図である。 図2は、3×3の干渉モジュレータディスプレイを組み込んだ電気デバイスの一つの実施形態を図示しているシステムブロック図である。 図3は、図1の干渉モジュレータの一つの例としての実施形態について、可動ミラー位置対電圧のダイアグラムである。 図4は、干渉モジュレータディスプレイを駆動するために利用されうる一連の行及び列電圧の図である。 図5Aは、ディスプレイデータのフレームを図2の3×3干渉モジュレータディスプレイに書き込むために利用されうる行及び列信号に対する一つの例となるタイミング図を図示している。 図5Bは、ディスプレイデータのフレームを図2の3×3干渉モジュレータディスプレイに書き込むために利用されうる行及び列信号に対する一つの例となるタイミング図を図示している。 図6Aは、複数の干渉モジュレータを備えている画像表示デバイスの実施形態を図示しているシステムブロック図である。 図6Bは、複数の干渉モジュレータを備えている画像表示デバイスの実施形態を図示しているシステムブロック図である。 図7Aは、図1のデバイスの断面である。 図7Bは、干渉モジュレータの代替となる実施形態の断面である。 図7Cは、干渉モジュレータの別の代替となる実施形態の断面である。 図7Dは、干渉モジュレータのさらに別の代替となる実施形態の断面である。 図7Eは、干渉モジュレータの追加の代替となる実施形態の断面である。 図8は、干渉モジュレータを作成するための方法の実施形態における特定の段階を図示しているフローダイアグラムである。 図9Aは、干渉モジュレータディスプレイの一つの実施形態の一部を描いた図である。 図9Bは、図9Aの9B−9B線に沿った断面である。 図9Cは、図9Aの9C−9C線に沿った断面である。 図10Aは、スロットが副画素の境界で前記列内に提供されている干渉モジュレータディスプレイの別の実施形態の一部を描いた図である。 図10Bは、図10Aの10B−10B線に沿った断面である。 図10Cは、図10Aの10C−10C線に沿った断面である。 図11は、別の実施形態によるディスプレイの一部の透視図である。 図12Aは、干渉モジュレータディスプレイのさらなる実施形態の一部を描いた図である。 図12Bは、干渉モジュレータディスプレイのさらにさらなる実施形態の一部を描いた図である。 図13は、干渉モジュレータを作成する方法の別の実施形態の特定の段階を図示しているフローダイアグラムである。 図14は、干渉モジュレータを作成する方法のさらなる実施形態の特定の段階を図示しているフローダイアグラムである。 図15Aは、干渉モジュレータのヒステリシス特性を図示しているグラフである。 図15Bは、一つの実施形態による可動反射層の境界領域においてスロットを有した干渉モジュレータのヒステリシス特性を図示したグラフである。
以下の詳細な説明は、特定の具体的な実施形態に向けられている。しかしながら、ここでの教示は、多数の異なる方法に応用されることができる。例えば、当業者によって理解されるように、具体的な実施形態がMEMS干渉モジュレータの内容でここで説明されているにも関わらず、本発明の実施形態は、他のMEMSデバイス及びNEMSデバイスに利益をもたらすように利用されることができる。この説明において、同様の構造は同様の番号で通して指定されている図面を参照している。実施形態は、動いているかまたは静止しているかのどちらか、及びテキストであるか絵画であるかのどちらかの画像を表示するために構成されている任意のデバイスにおいて実装されうる。より具体的に、実施形態は、限定されないが、携帯電話、ワイヤレスデバイス、携帯端末(PDAs)、ハンドヘルドまたはポータブルコンピュータ、GPS受信器/ナビゲータ、カメラ、MP3プレイヤー、カムコーダ、ゲームコンソール、腕時計、置き時計、計算機、テレビモニタ、フラットパネルディスプレイ、コンピュータモニター、オートディスプレイ(例えば、オドメータディスプレイなど)、コックピットコントロール及び/またはディスプレイ、カメラ視野のディスプレイ(例えば、車内の背面カメラのディスプレイ)、電子フォトグラフ、電子ビルボードまたは信号、プロジェクター、アーキテクチャ構造、パッケージング、及び美的構造(宝石の一片上の画像のディスプレイ)のような、様々な電子デバイスに実装されるか、または関連されてもよいことが予期される。ここで説明される類似構造の電気機械デバイスは同様に、電子スイッチングデバイスのような非表示な応用に利用されることができる。
ここで説明される実施形態は、改善された性能を有する電気機械システムデバイス及び特に干渉モジュレータデバイス、並びにそれらの製造方法を提供している。特に、隣接する画素間またはディスプレイにおける副画素間のクロストークを減少させるための実施形態が説明されており、ディスプレイ内の画素または副画素の全ての端部の同時に起こる解放を改善するための実施形態である。一つの態様において、干渉モジュレータディスプレイは、実質的に平行なストリップまたは列として配置された導電性の変形可能な層を含んでいる。列電極に関連して、前記列は、ディスプレイの個々に活性化可能な複数の副画素を定義している。前記列は、一般的に各副画素の境界領域に配置された横方向スロットが備わっている。前記横方向スロットは、隣接する副画素またはそれらを接続する材料の(導電率及び電気容量を含む)電気的特性を大きく低下させないように、前記隣接する副画素を接続する十分な材料を維持すると同時に、所与の列の隣接する副画素の間の機械的なクロストークを最小化するために選択された長さを有することができる。他の態様において、電気機械システムデバイスを製造する方法は、前記列内の隣接する副画素間の境界領域で前記列内の一つ以上の横方向のスロットを有して、電気的に分離された複数の列を有する変形可能な層を形成する段階を含んでいる。
干渉MEMSディスプレイ素子を備えている一つの干渉モジュレータディスプレイの実施形態は、図1において図示されている。これらのデバイスにおいて、画素は明か暗かのどちらかの状態である。明(“弛緩”または“開”)状態において、前記ディスプレイ素子は、入射可視光の大部分を利用者に反射させる。暗(“活性”または“閉”)状態におけるとき、前記ディスプレイ素子は、入射可視光のほとんどを利用者に反射させない。実施形態に応じて、「オン」及び「オフ」の前記光反射性能は、反転されていてもよい。MEMS画素は、主に選択された色で反射するように構成されることができ、黒及び白に加えてカラーディスプレイを可能にしている。
図1は、画像表示の一連の画素内で二つの隣接する画素を描画している等角図であり、各画素はMEMS干渉モジュレータを備えている。いくつかの実施形態において、干渉モジュレータディスプレイは、これらの干渉モジュレータの行/列の配列を備えている。各々の干渉モジュレータは、少なくとも一つの可変寸法を有した共鳴光学ギャップを形成するために、互いに可変で制御可能な距離で位置された一対の反射層を含んでいる。一つの実施形態において、反射層の一つは二つの位置の間で移動されうる。弛緩位置としてここで参照される第一の位置において、前記可動反射層は、固定された部分的な反射層から相対的に大きな距離に位置されている。活性位置としてここで参照される第二の位置において、前記可動反射層は、部分的な反射層のより近くに隣接して位置されている。前記二つの層から反射する入射光は、前記可動反射層の位置に依存して構造的に及び破壊的に干渉し、各々の画素に対して、全体反射または非反射状態のどちらかを生み出す。
図1において前記画素アレイが描かれた部分は、二つの隣接する干渉モジュレータ12a及び12bを含んでいる。左側の干渉モジュレータ12aにおいて、可動反射層14aは、部分的な反射層を含む光学スタック16aから所定の距離で弛緩位置の状態で図示されている。右側の干渉モジュレータ12bにおいて、可動反射層14bは、光学スタック16bに隣接した活性位置の状態で図示されている。
ここで参照されるような光学スタック16a及び16b(まとめて光学スタック16として参照される)は、インジウムスズ酸化物(ITO)のような電極層と、クロムのような部分的な反射層、及び透明な誘電体層を一般的に備えている。光学スタック16はこのように、電気的に導電性であり、部分的に透明であり、及び部分的に反射性であり、例えば、透明基板20上に一つ以上の上記層を堆積することによって製造されうる。部分的な反射層は、様々な金属、半導体、及び誘電体のように部分的に反射性の様々な材料から形成されることができる。前記部分的な反射層は、一つ以上の材料層で形成されることができ、前記層の各々は、単一材料または材料の組み合わせで形成されることができる。
いくつかの実施形態において、光学スタック16の層は、平行なストリップでパターン化されており、以下でさらに説明されるようにディスプレイデバイス内に行電極を形成してもよい。可動反射層14a及び14bは、柱18の上部に堆積された列、及び前記柱18の間に堆積された介在する犠牲材料を形成するために、(16a及び16bの行電極に直交する)堆積された一連の金属層の平行なストリップとして形成されうる。前記犠牲材料がエッチングされるとき、前記可動反射層14a、14bは、画定されたギャップ19により前記光学スタック16a、16bから分離される。アルミニウムのような高い導電性及び反射性の材料が、前記反射層14に対して利用されてもよく、これらのストリップは、ディスプレイデバイス内の列電極を形成してもよい。図1はスケールするためのものではないことに注意されたい。いくつかの実施形態において、柱18の間の空間は、10から100μmのオーダにあり、同様に、前記ギャップ19は、<1000オングストロームのオーダにあってもよい。
電圧が印加されない場合、ギャップ19は可動反射層14aと光学スタック16aとの間で維持され、図1内の画素12aによって図示されているように、前記可動反射層14aは機械的に弛緩された状態にある。しかしながら、電位(電圧)差が選択された行及び列に印加されるとき、対応する画素で行及び列電極の交差点に形成されたキャパシタは帯電され、静電力は前記電極を引き付ける。電圧が十分に高い場合、前記可動反射層14は変形され、及び前記光学スタック16に押し付けられる。前記光学スタック16内部の誘電体層(この図には図示されていない)は、短絡を防止し、及び図1内の右側の作動された画素12bにより図示されているように、層14及び16の間の分離距離を制御しうる。その振る舞いは、印加された電位差の極性に関係なく同じである。
図2から5は、ディスプレイ応用における干渉モジュレータの配列の使用のための一つの例としての工程及びシステムを図示している。
図2は、干渉モジュレータを組み込む電気デバイスの一つの実施形態を図示しているシステムブロック図である。電気デバイスは、ARM(登録商標)、ペンティアム(登録商標)、8051、Power PC(登録商標)、またはALPHA(登録商標)のような一般用途のシングルまたはマルチチップマイクロプロセッサか、またはデジタル信号プロセッサ、マイクロコントローラ、またはプログラマブルゲートアレイのような特殊用途のマイクロプロセッサとなりうるプロセッサ21を含んでいる。従来技術のように、前記プロセッサ21は、一つ以上のソフトウェアモジュールを実行するために構成されている。オペレーティングシステムを実行することに加えて、前記プロセッサは、ウェブブラウザ、テレフォンアプリケーション、Eメールプログラム、または任意の他のソフトウェアアプリケーションを含む一つ以上のソフトウェアアプリケーションを実行するために構成されていてもよい。
一つの実施形態において、前記プロセッサ21は、アレイドライバ22に連絡されるように構成されている。一つの実施形態において、前記アレイドライバ22は、デバイスアレイまたはパネル30に信号を提供する行ドライバ回路24と列ドライバ回路26を含んでいる。図1において図示された前記アレイの断面積は、図2における線1−1によって示されている。図2は、明確性のために干渉モジュレータの3×3配列を図示しており、前記ディスプレイアレイ30は、非常に多くの数の干渉モジュレータを含んでいてもよく、列よりも行において異なる数の干渉モジュレータを有していてもよい(例えば、1行あたり300画素で1列あたり190画素)。
図3は、図1の干渉モジュレータの一つの例となる実施形態に対して、電圧に対する可動ミラーの位置の図である。MEMS干渉モジュレータに対して、前記行/列の活性指令は、図3において図示されたようなこれらのデバイスのヒステリシス特性を利用してもよい。干渉モジュレータは、弛緩状態から活性状態まで変形することを可動層に引き起こすために、例えば10ボルトの電位差を必要としうる。しかしながら、前記電圧がその値から減少されるとき、前記可動層は、前記電圧が10ボルトより下に下げられたままで、その状態を維持している。図3の例としての実施形態において、前記可動層は前記電圧が2ボルトより下に下げられるまで完全に弛緩されない。このように、前記デバイスは弛緩または活性状態のどちらかに安定している印加された電圧のウインドウが存在する、図3で図示された例において、約3から7Vの電圧の範囲がある。これは、ここでは「ヒステリシスウインドウ」または「安定ウインドウ」として参照されている。図3のヒステリシス特性を有するディスプレイアレイに対して、前記行/列の活性指令は、行検出の間に、作動されるように検出された行内の画素は約10ボルトの電圧差にさらされ、及び弛緩される画素はゼロボルトに近い電圧差にさらされるように設計されることができる。検出の後で、前記画素は、前記行検出がそれらを配置するどんな状態も維持するように、安定状態または約5ボルトのバイアス電圧差にさらされる。書込みの後で、各々の画素は、この例における3から7ボルトの「安定ウインドウ」の範囲での電位差にあう。この特徴は、同一の印加電圧の条件の下で、図1に図示された画素設計を、活性または弛緩の事前状態のどちらかに安定にさせている。活性または弛緩状態のどちらかにある干渉モジュレータの各々の画素が必然的に、固定及び移動反射層により形成されたキャパシタであり、この安定状態は、出力損失がほとんどなく、ヒステリシスウインドウ範囲の電圧で保持されることができる。印加された電位が固定されている場合、必然的に電流は前記画素へ流れない。
さらに以下で説明されるように、一般的な応用において、画像フレームは、第1の行内で所望の一連の活性化された画素に従って、一連のデータ信号を一連の列電極にわたり送ることにより生成されうる。それから行パルスが第1の行電極に印加され、前記一連のデータ信号に対応する画素を活性化させる。前記一連のデータ信号は、それから、第2行内の所望の一連の活性化された画素に対応するように変化される。パルスはそれから第2の行電極に印加され、前記データ信号に従って、第2の行において適切な画素を活性化させる。第1行の画素は、第2行のパルスにより影響を受けず、及び第1の行パルスの間にそれらがセットされた状態を保っている。これは、前記フレームを製造するために順次的な方法で、全体の一連の行に対して繰り返される。一般的に、1秒あたりのフレームのいくらか所望の数でこのプロセスを連続的に繰り返すことにより、新たな画像データでリフレッシュ及び/または更新されている。画像フレームを製造するために画素配列の行及び列電極を駆動させるための、幅広い種類の指令が利用されうる。
図4及び図5は、図2の3×3配列でのディスプレイフレームを生み出すための一つの可能な活性指令を図示している。図4は、図3のヒステリシスカーブを示している画素に対して利用されうる可能な一連の列及び行電圧レベルを図示している。図4の実施形態において、画素を活性化させることは、適切な列に−Vbiasを、及び適切な行に+ΔVを設定することを含んでおり、それらはそれぞれ−5ボルトと+5ボルトであってもよい。前記画素を弛緩させることは、適切な列に+Vbiasを、及び適切な行に+ΔVを設定することにより達成され、前記画素にわたってゼロボルトの電位差を作り出す。前記行電圧がゼロボルトで保持されるこれらの行において、前記画素は、前記列が+Vbiasまたは−Vbiasであるに関わらず、それらが本来にあった如何なる状態で安定している。図4で図示されているように、上で説明されたものと反対極性の電圧が用いられることができ、例えば、画素を活性化させることは、適切な列に+Vbias及び適切な行に−ΔVを設定することを含むことができる。この実施形態において、前記画素を解放することは、適切な列に−Vbias及び適切な行に−ΔVを設定することにより達成され、前記画素にわたってゼロボルトの電位差を作り出す。
図5Bは、活性化された画素が非反射性であり、図5Aにおいて図示されたディスプレイ配列をもたらす図2の3×3アレイに印加された一連の行及び列信号を示しているタイミング図である。図5Aにおいて図示されたフレームを書き込むことに先立って、前記画素は、如何なる状態となることができ、及びこの例において、全ての行は最初に0ボルトであり、及び全ての列は最初に+5ボルトである。これらの印加された電圧と共に、全ての画素は、それらの存在する活性または弛緩状態において安定している。
図5Aのフレームにおいて、画素(1,1)、(1,2)、(2,2)、(3,2)及び(3,3)が活性化されている。これを達成するために、行1に対する「ラインタイム」の間に、列1及び2が−5ボルトに設定され、及び列3が+5ボルトに設定される。これは、全ての画素が3−7ボルトの安定ウインドウに残っているので如何なる画素の状態も変化させない。行1はそれから、0から最大で5ボルトまでいき、ゼロに戻るパルスでストローブされる。これは、(1,1)及び(1,2)を活性化させ、及び(1,3)画素を弛緩させている。前記アレイ中の他の画素は影響を受けない。要求の通りに行2を設定するため、列2は−5ボルトに設定され、及び列1及び3は+5ボルトに設定される。行2に印加される同一のストローブが、画素(2,2)を作動させ、及び画素(2,1)及び(2,3)を弛緩させる。再び、前記アレイの他の画素は影響を受けない。行3は、列2及び3に−5ボルトを、及び列1に+5ボルトを設定することにより同時に設定される。前記行3のストローブは、図5Aにおいて示されているような行3の画素を設定している。前記フレームの書込みの後で、前記行の電位はゼロに、及び前記列の電位は、+5または−5ボルトのどちらかに残されることができ、及び前記ディスプレイはそれから図5Aの配置において安定している。同一の処理が、数十または数百の行及び列のアレイに対して採用されることができる。タイミング、順序、並びに行及び列の活性を実行するために利用される電圧のレベルは、上で要点が述べられた一般的な原理の範囲内で幅広く変化されることができ、及び上の例は例としてだけであり、及びいかなる活性化電圧の方法が、ここで説明されるシステム及び方法で用いられることができる。
図6A及び6Bはディスプレイデバイス40の実施形態を図示しているシステムブロックダイアグラムである。前記ディスプレイデバイス40は、例えば、携帯電話でありうる。しかしながら、ディスプレイデバイス40の同一の構成要素、またはそれに関するわずかな変更は同様に、テレビ及び携帯メディアプレイヤーのようなディスプレイデバイスの様々な種類の実例となる。
ディスプレイデバイス40は、ハウジング41、ディスプレイ30、アンテナ43、スピーカー45、入力デバイス48、及びマイクロホン46を含んでいる。前記ハウジング41は一般的に、射出成形及び真空形成を含む様々な製造工程から形成される。加えて、前記ハウジング41は、制限されないが、プラスチック、金属、ガラス、ラバー、及びセラミック、またはそれらの組み合わせを含む様々な材料から作られてもよい。一つの実施形態において、ハウジング41は、異なるロゴ、絵、またはシンボルを含む異なる色の異なる取り外し部分で交換されうる交換部分(図示せず)を含んでいる。
例としてのディスプレイデバイス40のディスプレイ30は、ここで説明されるような双安定ディスプレイを含む様々なディスプレイでありうる。他の実施形態において、前記ディスプレイ30は、上で説明されるようなプラズマ、EL、OLED、STN LCD、またはTFT LCDのようなフラットパネルディスプレイ、またはCRTまたは他のチューブデバイスのような非フラットパネルディスプレイを含んでいる。しかしながら、本実施形態を説明する目的のために、前記ディスプレイ30は、ここで説明されるような干渉モジュレータディスプレイを含んでいる。
例となるディスプレイデバイス40の一つの実施形態の構成要素は、図6Bにおいて概略的に図示されている。前記図示された例となるディスプレイデバイス40は、ハウジング41を含んでおり、及び少なくとも部分的にその中に封入された追加の構成要素を含んでいる。例えば、一つの実施形態において、前記例となるディスプレイデバイス40は、トランシーバー47に接続されているアンテナ43を含むネットワークインターフェイス27を含んでいる。前記トランシーバー47は、コンディショニングハードウェア52に接続されたプロセッサ21に接続されている。前記コンディショニングハードウェア52は、信号を調整するように構成されている(例えば信号をフィルタリングする)。前記コンディショニングハードウェア52は、スピーカー45及びマイクロホン46に接続されている。前記プロセッサ21は、同様に、入力デバイス48とドライバコントローラ29に接続されている。前記ドライバコントローラ29は、フレームバッファ28、及びディスプレイアレイ30に順に結合されているアレイドライバ22に結合されている。電源50は、固有の例となるディスプレイデバイス40の設計により要求されるようなすべての構成要素に電力を提供する。
前記ネットワークインターフェイス27は、アンテナ43とトランシーバー47を含んでおり、例となるディスプレイデバイス40が一つ以上のデバイスとネットワークを介して連絡できるようになる。一つの実施形態において、前記ネットワークインターフェイス27は、プロセッサ21の要求を軽減させるためにいくらか処理能力を有していてもよい。前記アンテナ43は、信号を伝送及び受信するための任意のアンテナである。一つの実施形態において、前記アンテナは、IEEE802.11(a)、(b)、または(g)を含むIEEE802.11標準に従うRF信号を伝送及び受信する。別の実施形態において、前記アンテナは、BLUETOOTH標準に従うRF信号を伝送及び受信する。携帯電話の場合、前記アンテナは、CDMA、GSM(登録商標)、AMPS、W−CDMA、または無線携帯電話ネットワーク内で連絡するために利用される他の周知の信号を受信するために設計されている。前記トランシーバー47は、前記アンテナ43から受信した信号を前処理し、それらはプロセッサ21により受信され、及びさらには操作される。前記トランシーバー47は同様に、前記プロセッサ21から受信した信号を処理し、それらはアンテナ43を経て例としてのディスプレイデバイス40から伝送されうる。
代わりの実施形態において、前記トランシーバー47は、受信器により置き換えられることができる。さらに別の代わりの実施形態において、ネットワークインターフェイス27は、プロセッサ21に送られる画像データを保存または生み出すことのできる画像ソースにより置き換えられることができる。例えば、前記画像ソースは、デジタルビデオディスク(DVD)、または画像データを含むハードディスクドライブ、または画像データを生み出すソフトウェアモジュールとすることができる。
プロセッサ21は一般的に、例としてのディスプレイデバイス40の全体の操作を制御する。前記プロセッサ21は、ネットワークインターフェイス27からの圧縮された画像データまたは画像ソースのようなデータを受信し、及び前記データを生の画像データまたは生の画像データに容易に処理される形式に処理する。前記プロセッサ21はそれから、処理されたデータをドライバコントローラ29に、または保存のためのフレームバッファ28に送る。生のデータは一般的に、画像内部の各々の位置での画像特性を特定する情報を参照している。例えば、そのような画像特性は、色、飽和度、及びグレースケールレベルを含むことができる。
一つの実施形態において、前記プロセッサ21は、マイクロコントローラ、CPU、または例としてのディスプレイデバイス40の操作を制御するためのロジックコントローラユニットを含んでいる。コンディショニングハードウェア52は一般的に、信号をスピーカー45に伝送するため、及びマイクロホン46からの信号を受信するための増幅器及びフィルターを含んでいる。コンディショニングハードウェア52は、例としてのディスプレイデバイス40内部の個々の構成要素であってもよく、またはプロセッサ21または他の構成要素内部に組み込まれてもよい。
ドライバコントローラ29は、プロセッサ21により生成された生の画像データを、プロセッサ21から直接、またはフレームバッファ28からのどちらかから取り、前記生の画像データをアレイドライバ22へ高速伝送するために適切に再フォーマットする。具体的に、前記ドライバコントローラ29は、ディスプレイアレイ30にわたってスキャニングするために適したタイムオーダを有するように、前記生の画像データをラスター状の形式を有するデータフローに再フォーマットする。それから、ドライバコントローラ29は、フォーマットされた情報をアレイドライバ22に送る。LCDコントローラのようなドライバコントローラ29がスタンドアローン集積回路(IC)のようなシステムプロセッサ21にしばしば関係があったとしても、そのようなコントローラは多くの方法で実装されうる。それらはハードウェアとしてプロセッサ21内に組み込まれるか、ソフトウェアとしてプロセッサ21内に組み込まれるか、またはアレイドライバ22と共にハードウェア内に完全に統合されうる。
一般的に、アレイドライバ22は、ドライバコントローラ29からフォーマットされた情報を受信し、及びビデオデータを、ディスプレイのx−yマトリクスの画素からくる数百及び時には数千のリードに、毎秒多数回印加される平行な一連の波形に再フォーマットする。
一つの実施形態において、ドライバコントローラ29、アレイドライバ22、及びディスプレイアレイ30は、ここで説明された任意の種類のディスプレイに対して適している。例えば、一つの実施形態において、ドライバコントローラ29は、従来のディスプレイコントローラまたは双安定なディスプレイコントローラ(例えば、干渉モジュレータコントローラ)である。別の実施形態において、アレイドライバ22は、従来のドライバまたは双安定なディスプレイドライバ(例えば、干渉モジュレータディスプレイ)である。一つの実施形態において、ドライバコントローラ29は、アレイドライバ22と統合される。そのような実施形態は、携帯電話、時計、及び他の小面積ディスプレイのような高集積化システムに共通している。さらなる別の実施形態において、ディスプレイアレイ30は、一般的なディスプレイアレイまたは双安定なディスプレイアレイ(例えば、干渉モジュレータのアレイを含むディスプレイ)である。
入力デバイス48は、利用者が例としてのディスプレイデバイス40の操作を制御することを可能にしている。一つの実施形態において、入力デバイス48は、QWERTYキーボードまたはテレフォンキーパッドのようなキーパッド、ボタン、スイッチ、タッチ反応スクリーン、圧力または熱反応薄膜を含んでいる。一つの実施形態において、マイクロホン46は、例としてのディスプレイデバイス40のための入力デバイスである。マイクロホン46が前記デバイスにデータを入力するために利用されるとき、例としてのディスプレイデバイス40の操作を制御するために、ボイスコマンドが利用者によって提供されうる。
電源50は、様々な従来周知のエネルギー貯蔵デバイスを含むことができる。例えば、一つの実施形態において、電源50は、ニッケル−カドミウムバッテリーまたはリチウムイオンバッテリーのような再充電可能なバッテリーである。別の実施形態において、電源50は、再生可能な電源、キャパシタ、またはプラスチック太陽電池及び太陽電池ペイントを含む太陽電池である。別の実施形態において、電源50は、壁コンセントから出力を受けるように構成されている。
いくつかの実装において、制御のプログラム可能性は、上で説明されたように、電子表示システム内のいくつかの場所に位置されることのできるドライバコントローラに存在している。いくつかの場合において、制御のプログラム可能性は、アレイドライバ22に存在している。上で説明した最適化は、様々なハードウェア及び/またはソフトウェアの構成要素において、及び様々な構成において実装されうる。
上で説明した原理に従って操作する干渉モジュレータの詳細な構造は幅広く変化しうる。例えば、図7Aから7Eは可動反射層14及びその支持構造の5つの異なる実施形態を図示している。図7Aは図1の実施形態の断面図であり、金属材料14のストリップが直角に延びる支持体18上に堆積されている。図7Bにおいて、各々の干渉モジュレータの可動反射層14は、正方形または長方形の形状であり、及びテザー32で角だけが支持体に取り付けられている。図7Cにおいて、可動反射層14は、正方形または長方形の形状であり、及び柔軟な金属を備えうる変形可能な層34から懸架されている。前記変形可能な層34は、前記変形可能な層34の周囲の周りで基板20に直接または間接的に接続している。これらの接続は、ここでは支柱として参照される。図7Dにおいて図示された実施形態は、変形可能な層34が置かれた支柱プラグ42を有している。可動反射層14は、図7Aから7Cのように、ギャップにわたって懸架されているが、前記可動反射層14は、変形可能な層34と光学スタック16との間の穴を満たすことによる支柱を形成していない。支柱は、支柱プラグ42を形成するために利用される平坦化材料から形成されている。図7Eで図示された実施形態は、図7Dで示された実施形態に基づいているが、図7Aから7Cにおいて図示された任意の実施形態及び図示されない追加の実施形態と共に作用するように構成されてもよい。図7Eに示された実施形態において、金属または他の導電材料の追加の層は、バス構造44を形成するために利用されている。これは、信号が干渉モジュレータの背面に沿ってルーティングすることを可能にし、基板20上に形成されている多数の電極を除去させる。
図7に示されたもののような実施形態において、干渉モジュレータは、画像が透明基板20の全面側から見られ、その反対側に干渉モジュレータが配置される直視型デバイスとして機能する。これらの実施形態において、反射層14は、変形可能な層34を含んでいる、基板20と反対の反射層の側の干渉モジュレータの一部を光学的に保護している。これは、画質に負の影響を与ええることなく保護された領域が構成され及び操作されることを可能にしている。例えば、そのような保護は、モジュレータの電気機械特性からモジュレータの光学特性を分離する能力を提供している図7Eにおけるバス構造44が、アドレスすること、及びそのようなアドレスがもたらす移動を可能にしている。この分離可能なモジュレータのアーキテクチャは、構造設計、及び電気化学的態様のために利用される材料、及びモジュレータの光学的態様が互いに独立して選択され、及び機能することが可能である。さらに、図7Cから7Eに示された実施形態は、反射層14の光学的特性をその機械的特性から分離することによる、変形可能な層34により実行される追加の利点を有している。これは、構造設計及び反射層14に対して用いられる材料が光学的特性に関して最適化されること、並びに構造設計及び変形可能な層34に対して用いられる材料が所望の機械的特性に関して最適化されることを可能にしている。
図8は、干渉モジュレータのような光学モジュレータの製造工程800の実施形態における特定の段階を図示している。そのような段階は、図8において示されていない他の段階と共に、例えば図1及び図7において図示された一般的な種類の干渉モジュレータを製造するための工程において存在しうる。図1、7、及び8に関して、前記工程800は、段階805で基板20にわたって光学スタック16を形成する。前記基板20は、ガラスまたはプラスチックのような透明な基板であり、及び光学スタック16の効果的な形成を容易にするために、前処理の段階、例えば、洗浄の段階を受けてもよい。上で議論されたように、光学スタック16は、導電性であり、部分的に透明であり、及び部分的に反射性であり、及び例えば透明基板20上に一つ以上の層を堆積することによって製造されうる。いくつかの実施形態において、前記層は平行なストリップにパターン化され、及びディスプレイデバイス内の行電極を形成しうる。ここで用いられるように、当業者に理解されるように、「パターン化され」との用語は、パターンニング及びエッチング工程を参照するようにここで用いられる。いくつかの実施形態において、光学スタック16は、一つ以上の金属層(例えば、反射性及び/または導電性の層)にわたって堆積された絶縁体または誘電体層を含んでいる。
図8において図示された工程800は、光学スタック16にわたって犠牲層を形成する段階810が続く。前記犠牲層は、以下で議論されたようなキャビティ19を形成するために後で除去され(例えば段階825)、及びそのようにして前記犠牲層は、図1において図示された結果物の干渉モジュレータにおいて示されていない。光学スタック16にわたる前記犠牲層の形成は、後続の除去の後で所望のサイズを有するキャビティ19を提供するように選択された厚さで、モリブデンまたはアモルファスシリコンのようなXeF−エッチング材料の堆積を含む。犠牲材料の堆積は、物理気相堆積(PVD、例えばスパッタリング)、プラズマ化学気相堆積(PECVD)、熱化学堆積(熱CVD)またはスピンコーティングのような堆積技術を用いて実行されうる。
図8で図示された工程800は、図1及び7で図示された支持構造、例えば柱18を形成する段階815が続く。前記柱18の形成は、支持構造の開口を形成するために犠牲層をパターンニングし、それからPECVD、熱CVD、またはスピンコーティングのような堆積法を用いて前記柱18を形成するために前記開口内に材料(例えばポリマーまたは酸化ケイ素)を堆積する段階を含んでいてもよい。いくつかの実施形態において、前記犠牲層内に形成された支持体構造の開口は、前記犠牲層及び光学スタック16の両方を通って下部の基板20まで延びており、前記柱18の下端部は図7Aにおいて図示されたような基板20と接触している。他の実施形態において、前記犠牲層内に形成された開口は、前記犠牲層を通るが、前記光学スタック16は通らないで延びている。例えば、図7Dは光学スタック16と接触する支柱プラグ42の下端部を図示している
図8において図示された工程800は、図1及び7で図示された可動反射層14のような可動反射層または薄膜を形成する段階820が続く。前記可動反射層14は、一つ以上のパターンニング、マスキング、及び/またはエッチング段階とともに、例えば反射層(例えばアルミニウム、アルミニウム合金)の一つ以上の堆積段階を採用することにより形成されうる。上で議論されたように、前記可動反射層14は、一般的に導電性であり、及び導電層としてここで参照される。前記犠牲層は、前記工程800の段階820で形成された部分的に製造された干渉モジュレータにおいて存在しているので、前記可動反射層14はこの段階で一般的に移動しない。犠牲層を含む部分的に製造された干渉モジュレータは、ここでは「未解放」の干渉モジュレータとしてここで参照されうる。
図8において図示された工程800は、キャビティ、例えば図1及び7で図示されたようなキャビティ19を形成する段階825を含んでいる。前記キャビティ19は、段階(810で堆積された)前記犠牲層をエッチング液にさらすことによって形成される。例えば、モリブデンまたはアモルファスシリコンのようなエッチング可能な犠牲材料は、例えば、前記犠牲層を材料の所望の量を除去するのに効果的である期間、固体二フッ化キセノン(XeF)から誘導される蒸気のような気体のまたは蒸気のエッチング剤にさらすことによって、前記キャビティ19を取り囲む構造に対して一般的に選択的に除去されうる。例えば、ウェットエッチング及び/またはプラズマエッチングのような他のエッチング法が同様に利用されうる。前記工程800の段階825の間に前記犠牲層が除去されるので、前記可動反射層14は、この段階の後で一般的に可動となる。前記犠牲材料の除去の後で、結果物の完全にまたは部分的に製造された干渉モジュレータは、「解放された」干渉モジュレータとしてここで参照されうる。
一つの実施形態において、MEMSディスプレイは、各々が複数の副画素を備えている一つ以上の画素を備えることができる。各々の副画素は、独立して可動及び/または独立して活性可能な光学モジュレータを備えることができる。そのような構成により、単一の画素は、個々の副画素の特定の構成及び活性化される副画素の選択に依存して、複数の色を反射するように構成されることができる。例えば、一つの実施形態において、MEMSディスプレイは、青色光を反射するように構成された一行内の三つの副画素、緑色光を反射するように構成された隣接する行内の三つの副画素、及び赤色光を反射するように構成された次の行内の三つの副画素を有し、それらが活性化されていない(弛緩された)状態にある九つの副画素に分離された画素で構成されることができる。そのような構成において、所与の画素の前記行内のモジュレータは、異なるサイズの空隙及び/または異なる厚さを有することができる。そのような例において、副画素の異なる組み合わせを個別に活性化させることは、画素に異なる色を反射させることを引き起こす。
図9Aは、三つの平行な行電極902と、該行電極902に垂直に延在する列で配置された、変形可能な(またはそうでなければ可動な)反射層の三つのストリップ904を含む干渉モジュレータディスプレイ900の一つの実施形態の一部を描いた図である。図示された実施形態において、前記行電極902及び列電極904の重なる部分は、九つの副画素906(それぞれが三つの副画素906a、906b、及び906cを備えている)を画定している。支持体908は、行電極の境界領域上または近くで各副画素の角の領域に配置され、及び列電極904の縁部を支持するように構成されている。当業者は、前記行電極が前記光学スタックの導電性部分となることができることが理解できるだろう。例えば、いくつかの実施形態において、このうちの行電極への言及と以下の議論は、図7Aから7Eにおいて図示された光学スタック16のような光学スタックの導電性金属層(例えばITO)への言及として理解されるだろう。前記行電極を描いているいくつかの図は、明確性にために(部分的に反射層及び/または一つ以上の透明な誘電体層のような)光学スタックの他の層を除外しているにも関わらず、当業者は、そのような他の層が、特定の応用のために所望される場合、存在しうることが理解されるだろう。列電極は、光反射性及び導電性となることができ、及び前記光学スタックに向かって可動となることができる一つ以上の層を備えることができる。
図9Bは、行電極902、部分的に反射性の及び部分的に透明な層903、及び誘電体層912a、912bを含む光学スタックの下に横たわっている基板910を示した、図9aにおいて図示されたディスプレイ900の一部の断面図を示している。同様に、図9Bで図示されたものは、前記支持体908の下に横たわる光学的なマスク構造909である。同様に「ブラックマスク」構造として参照される光学マスク構造909は、周囲光または迷光を吸収し、及びコントラスト比を増大させることによりディスプレイデバイスの光学共鳴を改善するように構成されることができる。いくらかの実施形態において、前記光学マスクは、黒よりも他の色として現れるように、所定の波長の光を反射することができる。前記光学マスク構造は、導電性となることもできるので、電気的バス層として機能するように構成されることができる。導電性バス構造は、アレイ内の副画素の応答時間を改善するために、それ自身が行及び/または列電極より低い電気抵抗率で構成されることができる。導電性バス構造は、光学的マスク構造から分離して提供されることができる。導電性マスクまたは他の導電性バス構造は、一つ以上のディスプレイ要素に印加された電圧に対して一つ以上の電気パスを提供するために、前記ディスプレイ上の一つ以上の要素に電気的に結合されることができる。例えば、所望の構成に依存して、一つ以上の行または列電極は、接続された行または列電極の抵抗を減少させるために、導電性バス構造に結合されることができる。いくつかの実施形態において、前記導電性バス構造は、前記支持体908の下、または他の適切な位置において配置されることのできる(図9Bにおいて示されていない)一つ以上のビアを通して前記行電極に接続されることができる。
いくつかの実施形態において、前記列電極904は、複数の層を備えることができる。例えば、図9Bに図示された列電極904は、反射層904a及び柔軟な層904bを備えている。いくつかの実施形態において、前記柔軟な層904bは、前記反射層904aにわたって、及び/または連続的に接続して直接形成されることができる。特定の応用に依存して、前記柔軟な層904bは、誘電体材料、導電性材料、または任意の他の適切な材料を備えることができる。いくつかの実施形態において、前記反射層904aは、アルミニウムを備えている。
加えて、いくつかの実施形態において、所与の画素の列904は異なる厚さ、及び/または同一のまたは異なる厚さの複数の層を有することができる。例えば、図9Cで図示されるように、副画素906aの列電極904は、単一の反射層904a及び単一の柔軟な支持層904bを備えることができる。副画素906bの列電極904は、副画素906aと比べて副画素906bの剛性を増大させるために、追加の支持層904cを備えることができる。副画素906cの列電極904は、副画素906bと比べて副画素906cの剛性を増大させるためにさらなる別の支持層904dを有することができる。様々な支持層904b、904c、及び904dは、同一のまたは異なる材料を備えることができ、及び特定の応用により要求される同一のまたは異なる厚さを有することができる。同様に、いくつかの実施形態において、副画素は、それらの列と光学スタックとの間で異なるサイズの空隙を有して構成されることができる。例えば、図9Cで示されるように、副画素906aは、図示されたディスプレイにおいて相対的に最も大きな空隙を有して構成されており、副画素906bはいくらか小さい空隙を有しており、及び副画素906cは、図示されたディスプレイにおいて相対的に最も小さい空隙を有して構成されている。そのような構成により、ディスプレイ内の副画素は、類似の活性化電圧で様々な所望の色を反射するように構成されることができる。
干渉モジュレータディスプレイ900は、図8の製造方法800を用いて製造されることができる。行電極902は、光学スタックの一部として段階805で形成されることができる。前記行電極902は、任意の適切な手法で形成されることができ、例えば、互いに行電極と分離させ、及び電気的に隔離させるように、パターン化され及びエッチングされる単一層として形成されることができる。支持体908は、変形可能な反射層または薄膜の列904の縁部を支持するために各々の副画素の周囲に沿った領域において、犠牲層において形成される開口内部に形成されることができる。可動反射層の平行なストリップ904は段階820で形成されることができる。犠牲層が段階825で除去されるとき、平行なストリップ904が支持されるように前記犠牲層と前記支持体908にわたって形成されることができる。平行なストリップ904は、互いに列電極904を分離し、及びそれ故物理的に及び電気的に分離するためにパターン化され及びエッチングされる単一層として初期に形成されることができる。
いくつかの実施形態において、図9A、9B、及び9Cにおいて示された一般的な構成を有するMEMSディスプレイは、各々の列内部で隣接する画素間の所望しない機械的なクロストークを示すことができる。すなわち、特定の副画素の状態が、隣接する副画素の状態に影響され、どちらかのまたは両方の副画素において意図されたものでない偏移をもたらし、どちらかのまたは両方の副画素の光学的性能を悪化させる。同様に、いくらかの場合において、図9において示された一般的な構成を有するMEMSディスプレイは、所望しない緩やかな解放の問題を示している。すなわち、個々の副画素の様々な縁部は活性化状態からいっせいに解放されないで、異なる解放電圧で代わりに解放し、より小さな有効なヒステリシスウインドウをもたらす。例えば、副画素が活性化され、及びそれから解放される場合、同一列内の隣接する副画素に最も近い副画素の縁部は、他の二つの端部より低い電圧で解放しうる。クロストーク及び緩やかな解放の問題は、行及び列方向における変形可能な層の剛性の変化に起因するような構成において示された。
副画素境界で、またはその近くで列内の横方向スロットを生成することは、可動反射層の隣接する副画素領域の独立した移動を容易にすることができ、それにより、副画素間の機械的なクロストークを減少させる。加えて、列内に横方向スロットを生成することは、副画素の縁部の周りの応力状態の均一性を改善させ、及びそれ故、副画素の縁部の同時に起こる解放を促進させる。前記横方向スロットは、このようにして、緩やかな解放の問題を減少させ、及びディスプレイの有効なヒステリシスウインドウを増大させることができる。さらに、列内で横方向スロットを生成することは、副画素にわたって反射された色の均一性を増大させることができる。
図10Aは、三つの平行な行電極1002と、前記行電極1002に垂直に延びる列内に配列された変形可能な層の三つのストリップ1004を含む干渉モジュレータ1000の一つの実施形態の一部を描いている図である。図示された実施形態において、前記行電極1002と列電極1004の重なる部分が、九つの副画素1006を画定している。図示されていないが、行電極1002と列電極1004は、アレイ内で複数の画素に接続するために長手方向及び水平方向の両方に延びることができることは理解されるだろう。図示された画素内で、支持体1008は、行電極1002の境界領域上の、またはその近くの各副画素の角領域で配置される。前記支持体1008は、前記列1004の縁部を支持するように構成されている。前記支持体1008は、図に示されているように、一般的な八角形形状の断面を有することができる。あるいは、前記支持体1008は、任意の他の適切な形状の断面、例えば、円形、楕円形、長方形、ダイアモンド形状、または正方形を有することができる。
図10Aで見られるように、開口またはスロット1020が列1004のそれぞれに提供されている。前記横方向スロット1020は、幅(第1)寸法及び長さ(第2)寸法を有することができ、前記長さ寸法は前記幅寸法より大きく、及び長さ寸法が、前記列1004が延びる方向と一般的に垂直な方向に延びることができるように形成される。いくつかの実施形態において、長さ寸法は、列1004が延びえる方向に対して実質的に、または正確に垂直に延在している。前記スロット1020は、所与の列1004の隣接する副画素の間の境界領域内で、一般的に列1004の縁部を支持する各々一対の支持体1008の間に生成されることができる。各々のストリップ内で変形可能な層の隣接する副画素領域の間の境界領域で前記列を不連続に作成することにより、副画素間の機械的なクロストークが成功的に軽減される。
図に示されるように、前記スロット1020は、特定の列1004の二つの縁部の間に伸びる一般的に細長い開口を備えることができる。前記スロット1020は、一般的に長方形であり、一般的に楕円形であり、または意図された目的に対して他の適切な構成を有することができる。前記スロット1020は、(例えば、列1004の導電性または容量性のような)ディスプレイの電気的特徴を低下させないように、隣接する副画素を接続する材料の十分な量を残すと同時に、列1004において隣接する副画素間の機械的なクロストークを実質的に取り除くように選択された長さを有することができる。前記スロット1020は、列1004の間の横空間と実質的に類似の幅を有することができ、または意図された目的に一致した任意の他の幅を有することができる。いくつかの実施形態において、図10Aに図示されたように、前記列1004の平行な縁部の間の中心(または中間)領域において生成され、前記スロット1020の両終端部で、列1004の縁部に沿って延在する変形可能な層の材料を残している。
図10B及び10Cは、図10Aにおいて図示されたディスプレイ1000を通る異なる断面を示している。図10B及び10Cは、行電極1002、部分的に反射性及び部分的に透明な層1003、並びに誘電体層1012a及び1012bを含む光学スタックが横たわっている基板1010を示している。図10Bは、前記スロット1020から離れて、列1004の縁部を通してみたものである。図10Bにおいて見られるように、列1004は、反射層1004a及び柔軟な支持層1004bを含む多層構造を有している。同様に、(層1004a、1004bを含む)列1004を備えている材料は、図示された部分を通して連続的である。図10Cは、一方で、前記列1004の中心部分を通して、及び前記スロット1020を通してみたものである。図10Cにおいて見られるように、(層1004a、1004bを含む)列1004を備えている材料は、前記支持体1008の近くの位置で図示された部分を通して不連続となっている。
図11は、行電極1102及び多数の副画素1106を画定する導電性で、変形可能な列1104を備えている別の実施形態によるディスプレイ1100を図示している図である。支持体1108は、行電極1102及び列1104の間に一般的に配置される。図示された支持体1108は、一般的に長方形形状の断面を有している。複数の横方向スロット1120は、列1104を通して適切な電気接続を維持すると同時に、各々の列1104内の隣接する副画素1106を少なくとも部分的に機械的に分離するために列1104の各々において提供されている。図に示されたように、前記スロット1120は、前記スロット1120のどちらかの端部で隣接する副画素1106を接続する変形可能な層における略等しい量の材料を残しておくように、前記支持体1108の間のおおよそ中心に配置されることができる。これは変形可能な層を通して一貫した電気的特性(例えばインピーダンス)を維持するのを助ける。しかしながら、いくつかの実施形態において、前記スロットは、前記スロットの各々の端部と前記列の各々の縁部との間の変形可能な層における異なる量の材料を残しておくために、中心から離れて位置されることができる。
図12Aは、行電極1202及び多数の副画素1206を画定する導電性で変形可能な列1204を備えている別の実施形態によるディスプレイ1200を図示している上平面図である。支持体1208は、行電極1202と列1204の間に一般的に配置される。複数の横方向スロット1220は、列1204を通して適切な電気接続を維持すると同時に、各々の列1204内の隣接する副画素1206を少なくとも部分的に機械的に分離するために列1204の各々において提供される。図12において図示された実施形態において、前記スロット1220は、第1の支持体1208の縁部1212から、第2の支持体1208の縁部1214まで略延長している長さを有しており、それにより、各々の副画素1206間の変形可能な列を接続するために(前記スロット1220の端部と前記列1204の縁部との間の)各々の支持体1208にわたって変形可能な列1204の接続部を残す。いくつかの実施形態において、前記スロットは、二つの支持体1220の間の距離より僅かに大きな長さを有することができ、すなわち、前記スロットは、スロット1220の縁部が二つの隣接する支持体1208の縁部1212、1214にわたって僅かに延びているように寸法されることができる。前記スロット1220は、非常に狭いストリップ材料が列1204の縁部に沿って残る場合、もたらしうる電位の問題を避けると同時に、各々の列1204における隣接する副画素1206の機械的に分離を最小化するために寸法されることができる。そのような問題は、工程の変化に起因した機械的な層内の完全な不連続性と、列1204の増大した抵抗の可能性を含むことができる。例えば、前記スロットは、前記スロット1220の端部と前記列の縁部との各々の間に約2μmの材料を残すように寸法化されることができる。別の実施形態において、前記スロットは、スロット1220の端部と列1204の縁部との各々の間に約2μmより大きな材料を残すように寸法化されることができる。例えば、前記スロットは、スロット1220の端部と列の縁部との各々の間に約3μmの材料を残すように寸法化されることができる。
いくつかの実施形態において、前記支持体(または支柱)は、列方向と副画素のスロット方向との両方を交差する可動層内に同一の剛性を一般的にもたらすために構成されている。例えば、一つの実施形態において、前記副画素の形状は、列方向とスロット方向の両方において一般的に同一の長さを有している正方形である。そのような実施形態において、前記支柱は、列方向とスロット方向の両方において一般的に対称的な構成を有することができる。そのような形状の例は、正方形、八角形、各々の円形を含んでいる。別の実施形態において、副画素の形状は、一つの方向に沿った長さが別の方向より長い長さを有している長方形である。そのような実施形態において、前記支柱は二つの方向にわたって変化する寸法で構成されることができる。そのような形状の例は、長方形と楕円系を含んでいる。画素配列に依存して、正方形及びひし形の柱が同様に可能である。前記支柱の形状は、工程を考慮して選択されることができる。例えば、いくつかの実施形態において、前記柱は、前記スロットの方向に延びているより長い寸法を有した長方形の形状であることができる。そのような実施形態において、前記スロットの長さは、相対的により小さく、同一の列における隣接する副画素を接続する材料を相対的に多く残す。
いくつかの実施形態において、複数の開口が、隣接する副画素の間の機械的な接続を減少させるために、隣接する副画素間の各々の境界で提供されることができる。例えば、一連(二つ、三つ、またはそれ以上)の穿孔または孔が列のどちらかの縁部を支持する二つの支持体の間の変形可能な層において生成されることができる。前記孔は、いくつかの実施形態において円形または楕円形でありうる。前記一連は、列が延びる方向に一般的に垂直な方向に延びることができる。図12Bは、例えば、実施形態に従ってディスプレイ1201を示している。前記ディスプレイ1201は、行電極1202及び多数の副画素1206を画定する導電性で変形可能な列1204を含む、図12Aのディスプレイ1200と一般的に同一の特性を含んでいる。図12Bにおいて、しかしながら、一連の孔1221は、隣接する副画素1206の間の境界領域に提供される。各々の一連の孔1221は、前記孔1221の幅より大きな長さを有しており、及びそのようにして、前記列1204が延びる方向に一般的に垂直に延びているスロットを形成している。各々の一連の孔1221は、隣接する副画素を部分的に及び機械的に分離し、及びディスプレイ1201の性能を改善するために、隣接する支持体1208の縁部1212、1214の間を一般的に延びることができる。
列内の隣接する副画素間の境界領域に横方向スロットを加えることは、全体の副画素構造をより対照的にさせるように働くことができ、副画素の縦方向及び横方向の両方の縁部の間(すなわち、個々の列を分離する縁部と前記スロット付近の縁部の間)の安定した剛性をもたらす。そのような構成は、副画素の緩やかな解放の問題を減少させ、及び有効なヒステリシスウインドウを顕著に増大させることができる。前記スロットは、副画素の活性の間に変形可能な層を通るより早い空気流を容易にする追加の利点を有しており、それにより、ポテンシャルダンピングクロストークを減少させ、及び早い活性化のための副画素の応答時間を増大させるように作用する。加えて、当業者に理解されるように、ここで述べられたようにスロットを加えることは、追加のマスク、工程段階、または製造コストが無くてもこれらのまたは別の利点を提供することができる。横方向スロットは、例えば列を生成するために、機械的な切断が変形可能な層においてなされる同一の段階の間に、前記ディスプレイの製造の間に容易に実装されることができる。例えば、図8を参照すると、横方向スロットは、工程800のステップ820で変形可能な層内に形成されることができる。
図13を参照すると、MEMSデバイスのための製造工程1300の実施形態における特定の段階が図示されている。そのような段階は、図13内に図示されていない他の段階と共に、例えば図10から12において図示された一般的な種類の干渉モジュレータを製造するための工程において存在しうる。図13を参照すると、前記工程1300は、基板を提供する段階1302で始まる。前記基板は、ガラスまたはプラスチックのような透明基板、またはシリコンのような不透明基板であり、ここで説明されるような光学スタックの効果的な形成を容易にするために、洗浄のような前処理段階を受けていてもよい。
図13において図示された工程1300は、基板にわたる可動構造を形成する段階1304で続けられる。前記可動構造は、図10Bで図示された反射層1004a及び変形可能な層1004bのような反射層及び少なくとも一つの変形可能な層を含むことができる。前記反射層は、前記変形可能な層と実質的に連続的な接続となるように形成されることができる。前記可動構造は、導電性であり、及び図10Bにおいて図示された支持体1008のような一つ以上の支持体構造により前記基板から離れて配置されることができる。前記支持体は、任意の適切な方法で前記基板にわたって形成または配置されることができ、及び意図された目的に一致して適切な構成を有することができる。
図13で図示された工程1300はそれから、電気的に絶縁された列が前記可動構造内に形成される段階1306に移る。段階1308では、一つ以上の横方向スロットが一つ以上の列内に形成される。スロットを形成することは、各々の列内部の隣接する画素を部分的に物理的に分離するために前記列をパターンニング及びエッチングする段階を含むことができる。段階1308で生成された前記スロットは、前記列において一般的に横方向、すなわち、列が延びる方向に一般的に垂直な方向に延びることができる。いくつかの実施形態において、段階1306と1308は例えば、同一のマスクを用いることで同時に実装されることができる。他の実施形態において、段階1306と1308は連続して実装されることができる。
図14を参照すると、MEMSデバイスのための製造工程1400の実施形態におけるある段階が図示されている。そのような工程からもたらされるMEMSデバイスは、干渉モジュレータのような光学モジュレータであることができる。前記工程1400は、基板にわたり光学スタックを形成する段階1402で始まる。前記基板は、ガラスまたはプラスチックのような透明基板であることができ、及び光学スタックを効果的に形成しやすくするために、例えば、洗浄の前処理段階を受けていてもよい。上で議論されるように、前記光学スタックは、導電性であり、部分的に透明であり、及び部分的に反射性であり、及び例えば前記透明な基板上に一つ以上の層を堆積することにより形成されうる。いくつかの実施形態において、前記層は、平行なストリップを形成するためにパターン化され、ディスプレイデバイスにおいて行電極を形成しうる。いくつかの実施形態において、前記光学スタックは、一つ以上の金属層(例えば、反射層及び/または導電層)にわたり堆積される絶縁性または誘電性層を含んでいる。
図14に図示された工程1400は、前記光学スタックにわたり犠牲層が形成される段階1404が続く。前記犠牲層は、ここで議論されたようなキャビティを形成するために後で除去される、そしてそれ故前記犠牲層は、例えば図10及び12において図示された、いくつかの干渉モジュレータにおいて示されていない。前記犠牲層の形成は、連続的な除去の後で、所望の大きさを有するキャビティを提供するために選択された厚さで、モリブデンまたはアモルファスシリコンのようなXeF−エッチング材料の堆積を含んでいる。前記犠牲材料の堆積は、物理気相堆積(PVD、例えばスパッタリング)、プラズマ化学気相堆積(PECVD)、熱化学気相堆積(熱CVD)、またはスピンコーティングのような堆積技術を用いて実行されうる。
図14に図示された工程1400は、図10に図示されたような支持構造、例えば支持体1008を形成する段階1406が続く。前記支持体1008の形成は、支持体構造の開口を形成するために前記犠牲層をパターンニングし、それから、前記支持体を形成するために前記開口内に、PECVD、熱CVD、またはスピンコーティングを用いて、材料(例えば、ポリマーまたは酸化ケイ素)を堆積する段階を含んでいてもよい。いくつかの実施形態において、前記犠牲層内に形成された前記支持体構造の開口は、前記犠牲層及び前記光学スタックの両方を通り、横たわる基板まで伸び、前記柱の下端部は図7Aで図示されているように基板に接している。他の実施形態において、前記犠牲層内に形成された開口は、犠牲層を通るが光学スタックは通らないで延びている。例えば、図7Dは、光学スタック16と接している支柱プラグ42の下端部を図示している。
図14に図示された工程1400は、図1と7Aにおいて図示された導電性の変形可能な層のような可動反射層または薄膜を形成する段階1408が続く。前記可動反射層は、一つ以上のパターンニング、マスキング、及び/またはエッチング段階と共に、一つ以上の堆積段階、例えば反射層の堆積段階を採用することにより形成されうる。前記工程1400の段階1408で形成された、部分的に製造された干渉モジュレータにおいて前記犠牲層がまだ存在しているので、前記可動反射層は変形可能ではなく、またはそうでなければこの段階で可動である。
図14に図示された工程1400は、可動反射層内に列を形成する段階1410が続く。この段階は、段階1402において形成された行電極に一般的に垂直な方向で延びている、図10に図示された列1004のような物理的に及び電気的に分離された列を形成するために、前記可動反射層の一つ以上の部分の除去を含んでいる。ここで説明されたように、前記列及び行の重畳領域は前記デバイスの副画素を形成する。前記工程1400はそれから、横方向スロットが各々の列内部の副画素の境界で各々の列内に形成される段階1412に移動する。前記スロットは、各々の列の両端部に沿って走る連続的な材料のストリップを残すために、各々の列の中心領域に生成されることができる。いくつかの実施形態において、ステップ1410及び1412が、例えば同一マスクを用いることで、同時に実施される。他の実施形態において、前記段階1410及び1412は同様に連続的に実施されることもできる。
図15A及び15Bは、スロットの無い干渉モジュレータ(図15A)及び一つの実施形態(図15B)に従って構成された(例えばスロットを有する)干渉モジュレータのヒステリシス特性を図示しているグラフを示している。当業者に明らかなように、一つの実施形態(図15B)により構成された干渉モジュレータは、より幅広いヒステリシスウインドウを示しており、及びそれ故、スロットの無いモジュレータ(図15A)よりも大きな使用可能な操作電圧ウインドウを所有している。スロットの無いモジュレータ(図15A)は緩やかな解放の問題を示していることが図から明らかである。これに対して、一つの実施形態(図15B)により構成された干渉モジュレータにおいて解放は鋭い。
実施例1
MEMSディスプレイは、平行なストリップまたは列で配列された変形可能な層と共に、光学スタック及び変形可能な層の間の様々な大きさの空隙を有する干渉モジュレータで構成された。各々の列の隣接する副画素の間の境界領域においてスロットは提供されなかった。前記列の変形可能な層は、二つのアルミニウム(Al)層の間に挟まれた酸窒化シリコン(SiON)の層であった。マスク上に描かれたときの前記列はおおよそ36μm幅であり、製造後はおおよそ35μmであった。前記列の変形可能な層の全厚さは、高ギャップ=100nm;中ギャップ=250nm;低ギャップ=350nmであった。前記モジュレータは、以下の特徴を示した。
Figure 2012521581
比較例1A
MEMSディスプレイは、平行なストリップまたは列で配列された変形可能な層と共に、光学スタック及び変形可能な層の間の様々な大きさの空隙を有する干渉モジュレータで構成された。各々の列の隣接する副画素の間の境界領域においてスロットが提供された。前記列の変形可能な層は、二つのアルミニウム層の間に配置された酸窒化シリコンの層であった。マスク上に描かれたときの前記列はおおよそ36μm幅であり、製造後はおおよそ35μmであった。形成されたスロットは、マスク上に描かれたとき、おおよそ29μm長さで2μm幅であり、製造後は、おおよそ30μm長さで3μmであった。前記列の変形可能な層の全厚さは、高ギャップ=100nm;中ギャップ=250nm;低ギャップ=350nmであった。前記モジュレータは、以下の特徴を示した。
Figure 2012521581
この例は、干渉モジュレータデバイスの列における隣接する副画素間の境界領域でスロットを提供することが、前記デバイスのためのヒステリシスウインドウを増大させ、及び前記デバイスの開放特性を改善することができることを図示している。
上記の詳細な説明は、様々な実施形態へ適用される場合の本発明の新規な特徴を示し、説明し、及び指摘してきたと同時に、図示された前記デバイスまたは工程の形成及び詳細において様々な省略、代替、及び変更が、発明の精神から逸脱することなく当業者によってなされうることは理解されるであろう。認識されているように、本願発明は、ここで説明された特性及び利点の全てを提供しない形態の範囲で具体化されてもよく、いくらかの特性が他とは別々に用いられまたは実施されうる。
12a、12b 画素
14a、14b 可動反射層
16a、16b 光学スタック
18 支持体
19 ギャップ
20 基板
21 プロセッサ
22 アレイドライバ
24 行ドライバ回路
26 列ドライバ回路
27 ネットワークインターフェイス
28 フレームバッファ
29 ドライバコントローラ
30 ディスプレイアレイ
32 テザー
34 層
40 ディスプレイデバイス
41 ハウジング
42 支柱プラグ
43 アンテナ
44 バス構造
45 スピーカー
46 マイクロホン
47 トランシーバー
48 入力デバイス
50 電源
52 コンディショニングハードウェア
900 ディスプレイ
902 行電極
903 層
904 列電極
904a 反射層
904b 支持層
904c 支持層
904d 支持層
906 副画素
908 支持体
909 マスク構造
910 基板
912a 誘電体層
1000 ディスプレイ
1000 干渉モジュレータ
1002 行電極
1003 層
1004 列
1004a 反射層
1004b 支持層
1006 副画素
1008 支持体
1010 基板
1012a 誘電体層
1020 スロット
1100 ディスプレイ
1102 行電極
1104 列
1106 副画素
1108 支持体
1120 横方向スロット
1200 ディスプレイ
1202 行電極
1204 列
1206 副画素
1208 支持体
1212 縁部
1214 縁部
1220 横方向スロット
1221 孔

Claims (35)

  1. 電気機械デバイスを製造するための方法であって、
    基板を提供する段階と、
    前記基板にわたって可動構造を形成する段階であって、前記可動構造は、第1の変形可能な層と該第1の変形可能な層に実質的に連続に接触している反射層とを備えており、前記可動構造は、導電性であり、及び一つ以上の支持体構造により前記基板から離れて配置されているところの段階と、
    前記可動構造内に複数の電気的に分離された列を形成する段階であって、前記列は、第1の方向に延びているところの段階と、及び
    少なくとも一つの前記複数の列内に少なくとも一つのスロットを生成する段階であって、前記スロットは、第1の寸法と、該第1の寸法より大きな第2の寸法とによって画定されており、前記第2の寸法は、前記第1の方向に実質的に垂直な第2の方向に延びているところの段階と、
    を備えている方法。
  2. 各々の列は、複数の独立的に活性可能な下位部分を備えている請求項1に記載の方法。
  3. 前記スロットは、列の二つの隣接する下位部分の間に一般的に位置されている請求項2に記載の方法。
  4. 各々の下位部分は、四つの角領域を有しており、各々の角領域は異なる支持体構造により支持されている請求項2に記載の方法。
  5. 少なくとも一つの前記列内に複数のスロットを生成する段階をさらに備えている請求項1に記載の方法。
  6. 前記第2の寸法は、第1の支持体構造に近い第1の位置から前記第1の支持体構造に隣接する第2の支持体構造に近い第2の位置まで延びている請求項1に記載の方法。
  7. 前記第2の寸法は、二つの隣接する支持構造の間の距離よりわずかに大きい請求項1に記載の方法。
  8. 前記スロットは、複数の間隙を介した孔を備えている請求項1に記載の方法。
  9. 前記第1の変形可能な層にわたって第2の変形可能な層を形成する段階をさらに備えている請求項1に記載の方法。
  10. 前記第1の変形可能な層は、誘電体材料を備えている請求項1に記載の方法。
  11. 前記基板にわたって光学スタックを形成する段階をさらに備えている請求項1に記載の方法。
  12. 電気機械システムデバイスであって、
    基板と、
    前記基板にわたる複数の変形可能な電極であって、各々の変形可能な電極は、変形可能な層と、該変形可能な層と実質的に連続して接触している反射層とを備えており、各々の変形可能な層は第1の方向に延びており、各々の変形可能な電極は対向する縁部に沿って複数の支持体によって支持されており、各々の変形可能な電極は少なくとも一つの開口を有しており、各々の開口は、第1の寸法と、該第1の寸法より大きな第2の寸法により画定されており、前記第2の寸法は前記第1の方向に一般的に垂直な第2の方向に延びているところの電極と、
    を備えている電気機械システムデバイス。
  13. 前記変形可能な電極は、互いに電気的に分離されている請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  14. 前記開口は、前記変形可能な電極の独立して活性化可能な下位部分の間に一般的に配置されている請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  15. 各々の開口は、一対の前記支持体の間に一般的に延びている請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  16. 各々の開口は、第1の端部と第2の端部を有しており、前記第1の端部は第1の支持体の一部にわたって配置されており、前記第2の端部は第2の支持体の一部にわたって配置されている請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  17. 前記第2の寸法は、一対の前記支持体の間の距離に実質的に等しい請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  18. 前記第2の寸法は、一対の前記支持体の間の距離よりわずかに大きい請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  19. 変形可能な電極内の一対の連続した開口は、変形可能な電極の下位部分を画定している請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  20. 前記第2の寸法は、前記変形可能な電極の隣接する下位部分の間のクロストークを実質的に除去するために選択されている請求項19に記載の電気機械システムデバイス。
  21. 前記基板にわたって配置された第2の反射層をさらに備えている請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  22. 前記デバイスは、MEMSデバイスを備えている請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  23. 前記デバイスは、干渉モジュレータを備えている請求項12に記載の電気機械システムデバイス。
  24. 電気機械システムデバイスであって、
    基板と、
    光を反射するための手段であって、前記反射手段は、導電性であり、前記基板に向かって変形可能であるところの手段と、
    前記基板にわたって前記反射手段を支持するための手段と、及び
    前記反射手段を通して導電性を維持すると同時に、前記反射手段の隣接する下位部分の間のクロストークを減少させるための手段と、
    を備えている電気機械システムデバイス。
  25. 前記クロストークを減少させるための手段は、前記反射手段内に一つ以上の開口を備えている請求項24に記載の電気機械システムデバイス。
  26. 前記反射手段は、変形可能な層を備えている請求項24に記載の電気機械システムデバイス。
  27. 前記反射手段は、誘電体層を備えている請求項24に記載の電気機械システムデバイス。
  28. 前記支持手段は複数の支持体を備えており、各々の支持体は、前記反射手段の下位部分の角領域の近くに配置されている請求項24に記載の電気機械システムデバイス。
  29. 請求項12に記載の前記電気機械システムデバイスを備えているディスプレイデバイス。
  30. 前記ディスプレイと連絡するために構成されているプロセッサであって、前記プロセッサは、画像データを処理するために構成されているところのプロセッサと、
    前記プロセッサと連絡するために構成されているメモリデバイスと、
    をさらに備えている請求項29に記載のディスプレイデバイス。
  31. 少なくとも一つの信号を前記ディスプレイに送信するために構成されているドライバ回路をさらに備えている請求項30に記載のディスプレイデバイス。
  32. 前記画像データの少なくとも一部を前記ドライバ回路に送信するために構成されているコントローラをさらに備えている請求項31に記載のディスプレイデバイス。
  33. 前記画像データを前記プロセッサに送信するために構成された画像源モジュールをさらに備えている請求項30に記載のディスプレイデバイス。
  34. 前記画像源モジュールは、少なくとも一つの受信器、トランシーバー、及び送信器を備えている請求項33に記載のディスプレイデバイス。
  35. 入力データを受信し、及び前記入力データを前記プロセッサに連絡させるように構成された入力デバイスをさらに備えている請求項30に記載のディスプレイデバイス。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014515836A (ja) * 2011-04-04 2014-07-03 クゥアルコム・メムス・テクノロジーズ・インコーポレイテッド ピクセルビア(pixelvia)およびそれを形成する方法

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7527998B2 (en) 2006-06-30 2009-05-05 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method of manufacturing MEMS devices providing air gap control
EP2067841A1 (en) * 2007-12-06 2009-06-10 Agfa HealthCare NV X-Ray imaging photostimulable phosphor screen or panel.
US8439922B1 (en) 2008-02-06 2013-05-14 NiVasive, Inc. Systems and methods for holding and implanting bone anchors
US8270062B2 (en) 2009-09-17 2012-09-18 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Display device with at least one movable stop element
US8488228B2 (en) 2009-09-28 2013-07-16 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Interferometric display with interferometric reflector
US20110169724A1 (en) * 2010-01-08 2011-07-14 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Interferometric pixel with patterned mechanical layer
EP2556403A1 (en) 2010-04-09 2013-02-13 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Mechanical layer of an electromechanical device and methods of forming the same
JP2013544370A (ja) 2010-08-17 2013-12-12 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 干渉ディスプレイデバイスの電荷中性電極の作動及び較正
US9057872B2 (en) 2010-08-31 2015-06-16 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Dielectric enhanced mirror for IMOD display
US20120188215A1 (en) * 2011-01-24 2012-07-26 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electromechanical devices with variable mechanical layers
US20120194496A1 (en) * 2011-02-01 2012-08-02 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Apparatus and method for supporting a mechanical layer
US9198698B1 (en) 2011-02-10 2015-12-01 Nuvasive, Inc. Minimally invasive spinal fixation system and related methods
US8780104B2 (en) 2011-03-15 2014-07-15 Qualcomm Mems Technologies, Inc. System and method of updating drive scheme voltages
US8988440B2 (en) * 2011-03-15 2015-03-24 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Inactive dummy pixels
US20120242638A1 (en) * 2011-03-24 2012-09-27 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Dielectric spacer for display devices
US9134527B2 (en) 2011-04-04 2015-09-15 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Pixel via and methods of forming the same
US8963159B2 (en) 2011-04-04 2015-02-24 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Pixel via and methods of forming the same
US8659816B2 (en) 2011-04-25 2014-02-25 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Mechanical layer and methods of making the same
US20130016037A1 (en) * 2011-07-11 2013-01-17 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Reducing or eliminating the black mask in an optical stack
US8736939B2 (en) 2011-11-04 2014-05-27 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Matching layer thin-films for an electromechanical systems reflective display device
JP6071285B2 (ja) * 2012-07-06 2017-02-01 キヤノン株式会社 静電容量型トランスデューサ
KR101900914B1 (ko) * 2012-09-18 2018-11-05 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
US9012008B1 (en) * 2013-02-20 2015-04-21 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Impedance matched to vacuum, invisible edge, diffraction suppressed mirror
US9974577B1 (en) 2015-05-21 2018-05-22 Nuvasive, Inc. Methods and instruments for performing leveraged reduction during single position spine surgery
US10305421B1 (en) * 2016-06-28 2019-05-28 U.S. Department Of Energy Adaptive light management in solar cells
US10398481B2 (en) 2016-10-03 2019-09-03 Nuvasive, Inc. Spinal fixation system
DE112017005311T5 (de) * 2016-10-19 2019-08-08 Sony Semiconductor Solutions Corporation Halbleitervorrichtung, Anzeigeeinrichtung und elektronisches Gerät
US11051861B2 (en) 2018-06-13 2021-07-06 Nuvasive, Inc. Rod reduction assemblies and related methods

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002277767A (ja) * 2001-03-16 2002-09-25 Ricoh Co Ltd 光変調装置及びその光変調装置の製造方法並びにその光変調装置を具備する画像形成装置及びその光変調装置を具備する画像投影表示装置
JP2006043778A (ja) * 2003-07-22 2006-02-16 Ngk Insulators Ltd アクチュエータ装置
EP2012169A2 (en) * 2007-07-03 2009-01-07 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS devices having improved uniformity and methods for making them

Family Cites Families (347)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2011A (en) * 1841-03-18 Appabatxts for piling saws
US2590906A (en) 1946-11-22 1952-04-01 Farrand Optical Co Inc Reflection interference filter
US2677714A (en) 1951-09-21 1954-05-04 Alois Vogt Dr Optical-electrical conversion device comprising a light-permeable metal electrode
US3037189A (en) 1958-04-23 1962-05-29 Sylvania Electric Prod Visual display system
US3247392A (en) 1961-05-17 1966-04-19 Optical Coating Laboratory Inc Optical coating and assembly used as a band pass interference filter reflecting in the ultraviolet and infrared
US3210757A (en) 1962-01-29 1965-10-05 Carlyle W Jacob Matrix controlled light valve display apparatus
US3728030A (en) 1970-06-22 1973-04-17 Cary Instruments Polarization interferometer
US3679313A (en) 1970-10-23 1972-07-25 Bell Telephone Labor Inc Dispersive element for optical pulse compression
JPS4946974A (ja) 1972-09-11 1974-05-07
US3886310A (en) 1973-08-22 1975-05-27 Westinghouse Electric Corp Electrostatically deflectable light valve with improved diffraction properties
NL8001281A (nl) 1980-03-04 1981-10-01 Philips Nv Weergeefinrichting.
DE3109653A1 (de) 1980-03-31 1982-01-28 Jenoptik Jena Gmbh, Ddr 6900 Jena "resonanzabsorber"
US4421381A (en) 1980-04-04 1983-12-20 Yokogawa Hokushin Electric Corp. Mechanical vibrating element
US4441791A (en) 1980-09-02 1984-04-10 Texas Instruments Incorporated Deformable mirror light modulator
CH655489B (ja) * 1982-02-15 1986-04-30
US4497974A (en) * 1982-11-22 1985-02-05 Exxon Research & Engineering Co. Realization of a thin film solar cell with a detached reflector
US4498953A (en) * 1983-07-27 1985-02-12 At&T Bell Laboratories Etching techniques
US5096279A (en) * 1984-08-31 1992-03-17 Texas Instruments Incorporated Spatial light modulator and method
US4560435A (en) 1984-10-01 1985-12-24 International Business Machines Corporation Composite back-etch/lift-off stencil for proximity effect minimization
US4655554A (en) 1985-03-06 1987-04-07 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Spatial light modulator having a capacitively coupled photoconductor
US4859060A (en) 1985-11-26 1989-08-22 501 Sharp Kabushiki Kaisha Variable interferometric device and a process for the production of the same
US4705361A (en) 1985-11-27 1987-11-10 Texas Instruments Incorporated Spatial light modulator
GB8621438D0 (en) 1986-09-05 1986-10-15 Secr Defence Electro-optic device
US4786128A (en) 1986-12-02 1988-11-22 Quantum Diagnostics, Ltd. Device for modulating and reflecting electromagnetic radiation employing electro-optic layer having a variable index of refraction
US4822993A (en) 1987-02-17 1989-04-18 Optron Systems, Inc. Low-cost, substantially cross-talk free high spatial resolution 2-D bistable light modulator
DE3776157D1 (de) * 1987-06-04 1992-02-27 Walter Lukosz Optisches modulations- und mess-verfahren.
US4956619A (en) 1988-02-19 1990-09-11 Texas Instruments Incorporated Spatial light modulator
US5028939A (en) 1988-08-23 1991-07-02 Texas Instruments Incorporated Spatial light modulator system
US4925259A (en) 1988-10-20 1990-05-15 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Multilayer optical dielectric coating
JP2700903B2 (ja) 1988-09-30 1998-01-21 シャープ株式会社 液晶表示装置
US4982184A (en) * 1989-01-03 1991-01-01 General Electric Company Electrocrystallochromic display and element
US4973131A (en) 1989-02-03 1990-11-27 Mcdonnell Douglas Corporation Modulator mirror
US5022745A (en) 1989-09-07 1991-06-11 Massachusetts Institute Of Technology Electrostatically deformable single crystal dielectrically coated mirror
US4954789A (en) 1989-09-28 1990-09-04 Texas Instruments Incorporated Spatial light modulator
US5083857A (en) * 1990-06-29 1992-01-28 Texas Instruments Incorporated Multi-level deformable mirror device
US5062689A (en) 1990-08-21 1991-11-05 Koehler Dale R Electrostatically actuatable light modulating device
US5287215A (en) 1991-07-17 1994-02-15 Optron Systems, Inc. Membrane light modulation systems
US5170283A (en) 1991-07-24 1992-12-08 Northrop Corporation Silicon spatial light modulator
US5240818A (en) 1991-07-31 1993-08-31 Texas Instruments Incorporated Method for manufacturing a color filter for deformable mirror device
US5315370A (en) 1991-10-23 1994-05-24 Bulow Jeffrey A Interferometric modulator for optical signal processing
US6381022B1 (en) 1992-01-22 2002-04-30 Northeastern University Light modulating device
TW245772B (ja) * 1992-05-19 1995-04-21 Akzo Nv
US5818095A (en) 1992-08-11 1998-10-06 Texas Instruments Incorporated High-yield spatial light modulator with light blocking layer
FI96450C (fi) 1993-01-13 1996-06-25 Vaisala Oy Yksikanavainen kaasun pitoisuuden mittausmenetelmä ja -laitteisto
US7830587B2 (en) 1993-03-17 2010-11-09 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and device for modulating light with semiconductor substrate
US6674562B1 (en) * 1994-05-05 2004-01-06 Iridigm Display Corporation Interferometric modulation of radiation
US5559358A (en) 1993-05-25 1996-09-24 Honeywell Inc. Opto-electro-mechanical device or filter, process for making, and sensors made therefrom
US5526172A (en) 1993-07-27 1996-06-11 Texas Instruments Incorporated Microminiature, monolithic, variable electrical signal processor and apparatus including same
FI94804C (fi) 1994-02-17 1995-10-25 Vaisala Oy Sähköisesti säädettävä pintamikromekaaninen Fabry-Perot-interferometri käytettäväksi optisessa materiaalianalyysissä
US5665997A (en) 1994-03-31 1997-09-09 Texas Instruments Incorporated Grated landing area to eliminate sticking of micro-mechanical devices
GB9407116D0 (en) 1994-04-11 1994-06-01 Secr Defence Ferroelectric liquid crystal display with greyscale
US7123216B1 (en) 1994-05-05 2006-10-17 Idc, Llc Photonic MEMS and structures
US7852545B2 (en) 1994-05-05 2010-12-14 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and device for modulating light
US7460291B2 (en) 1994-05-05 2008-12-02 Idc, Llc Separable modulator
US8081369B2 (en) 1994-05-05 2011-12-20 Qualcomm Mems Technologies, Inc. System and method for a MEMS device
US20010003487A1 (en) 1996-11-05 2001-06-14 Mark W. Miles Visible spectrum modulator arrays
US6680792B2 (en) * 1994-05-05 2004-01-20 Iridigm Display Corporation Interferometric modulation of radiation
US6040937A (en) 1994-05-05 2000-03-21 Etalon, Inc. Interferometric modulation
US7808694B2 (en) 1994-05-05 2010-10-05 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and device for modulating light
US6710908B2 (en) * 1994-05-05 2004-03-23 Iridigm Display Corporation Controlling micro-electro-mechanical cavities
US7826120B2 (en) * 1994-05-05 2010-11-02 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and device for multi-color interferometric modulation
US7738157B2 (en) 1994-05-05 2010-06-15 Qualcomm Mems Technologies, Inc. System and method for a MEMS device
US7550794B2 (en) * 2002-09-20 2009-06-23 Idc, Llc Micromechanical systems device comprising a displaceable electrode and a charge-trapping layer
US5920418A (en) 1994-06-21 1999-07-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Diffractive optical modulator and method for producing the same, infrared sensor including such a diffractive optical modulator and method for producing the same, and display device including such a diffractive optical modulator
US5485304A (en) 1994-07-29 1996-01-16 Texas Instruments, Inc. Support posts for micro-mechanical devices
US5636052A (en) 1994-07-29 1997-06-03 Lucent Technologies Inc. Direct view display based on a micromechanical modulation
FR2726960B1 (fr) 1994-11-10 1996-12-13 Thomson Csf Procede de realisation de transducteurs magnetoresistifs
JPH08153700A (ja) * 1994-11-25 1996-06-11 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 導電性被膜の異方性エッチング方法
US5550373A (en) 1994-12-30 1996-08-27 Honeywell Inc. Fabry-Perot micro filter-detector
US7898722B2 (en) 1995-05-01 2011-03-01 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Microelectromechanical device with restoring electrode
US5661592A (en) 1995-06-07 1997-08-26 Silicon Light Machines Method of making and an apparatus for a flat diffraction grating light valve
US6849471B2 (en) * 2003-03-28 2005-02-01 Reflectivity, Inc. Barrier layers for microelectromechanical systems
US6046840A (en) * 1995-06-19 2000-04-04 Reflectivity, Inc. Double substrate reflective spatial light modulator with self-limiting micro-mechanical elements
US5686979A (en) 1995-06-26 1997-11-11 Minnesota Mining And Manufacturing Company Optical panel capable of switching between reflective and transmissive states
US6124851A (en) 1995-07-20 2000-09-26 E Ink Corporation Electronic book with multiple page displays
KR100213026B1 (ko) 1995-07-27 1999-08-02 윤종용 디엠디 및 그 제조공정
EP0758080B1 (de) 1995-08-09 1998-09-30 Siemens Aktiengesellschaft Mikromechanisches Bauelement mit perforierter, spannungsfreier Membran
US6324192B1 (en) 1995-09-29 2001-11-27 Coretek, Inc. Electrically tunable fabry-perot structure utilizing a deformable multi-layer mirror and method of making the same
JPH09127551A (ja) * 1995-10-31 1997-05-16 Sharp Corp 半導体装置およびアクティブマトリクス基板
US5999306A (en) 1995-12-01 1999-12-07 Seiko Epson Corporation Method of manufacturing spatial light modulator and electronic device employing it
US5933183A (en) 1995-12-12 1999-08-03 Fuji Photo Film Co., Ltd. Color spatial light modulator and color printer using the same
US5825528A (en) 1995-12-26 1998-10-20 Lucent Technologies Inc. Phase-mismatched fabry-perot cavity micromechanical modulator
US5751469A (en) 1996-02-01 1998-05-12 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for an improved micromechanical modulator
US6114862A (en) 1996-02-14 2000-09-05 Stmicroelectronics, Inc. Capacitive distance sensor
US5815141A (en) 1996-04-12 1998-09-29 Elo Touch Systems, Inc. Resistive touchscreen having multiple selectable regions for pressure discrimination
US5710656A (en) * 1996-07-30 1998-01-20 Lucent Technologies Inc. Micromechanical optical modulator having a reduced-mass composite membrane
US5838484A (en) 1996-08-19 1998-11-17 Lucent Technologies Inc. Micromechanical optical modulator with linear operating characteristic
GB9619781D0 (en) 1996-09-23 1996-11-06 Secr Defence Multi layer interference coatings
US5771116A (en) 1996-10-21 1998-06-23 Texas Instruments Incorporated Multiple bias level reset waveform for enhanced DMD control
US7830588B2 (en) 1996-12-19 2010-11-09 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method of making a light modulating display device and associated transistor circuitry and structures thereof
US6028689A (en) * 1997-01-24 2000-02-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Multi-motion micromirror
US5786927A (en) 1997-03-12 1998-07-28 Lucent Technologies Inc. Gas-damped micromechanical structure
US6384952B1 (en) 1997-03-27 2002-05-07 Mems Optical Inc. Vertical comb drive actuated deformable mirror device and method
EP0879991A3 (en) 1997-05-13 1999-04-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Illuminating system
US5870221A (en) * 1997-07-25 1999-02-09 Lucent Technologies, Inc. Micromechanical modulator having enhanced performance
US5867302A (en) * 1997-08-07 1999-02-02 Sandia Corporation Bistable microelectromechanical actuator
US6031653A (en) * 1997-08-28 2000-02-29 California Institute Of Technology Low-cost thin-metal-film interference filters
US6285424B1 (en) 1997-11-07 2001-09-04 Sumitomo Chemical Company, Limited Black mask, color filter and liquid crystal display
US6028690A (en) * 1997-11-26 2000-02-22 Texas Instruments Incorporated Reduced micromirror mirror gaps for improved contrast ratio
EP0969306B1 (en) 1998-01-20 2005-05-11 Seiko Epson Corporation Optical switching device and image display device
US5914804A (en) 1998-01-28 1999-06-22 Lucent Technologies Inc Double-cavity micromechanical optical modulator with plural multilayer mirrors
US6100861A (en) 1998-02-17 2000-08-08 Rainbow Displays, Inc. Tiled flat panel display with improved color gamut
US6262697B1 (en) 1998-03-20 2001-07-17 Eastman Kodak Company Display having viewable and conductive images
US8928967B2 (en) * 1998-04-08 2015-01-06 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and device for modulating light
US7532377B2 (en) 1998-04-08 2009-05-12 Idc, Llc Movable micro-electromechanical device
WO1999052006A2 (en) 1998-04-08 1999-10-14 Etalon, Inc. Interferometric modulation of radiation
US6046659A (en) 1998-05-15 2000-04-04 Hughes Electronics Corporation Design and fabrication of broadband surface-micromachined micro-electro-mechanical switches for microwave and millimeter-wave applications
US6339417B1 (en) * 1998-05-15 2002-01-15 Inviso, Inc. Display system having multiple memory elements per pixel
GB2341476A (en) 1998-09-03 2000-03-15 Sharp Kk Variable resolution display device
US6242989B1 (en) 1998-09-12 2001-06-05 Agere Systems Guardian Corp. Article comprising a multi-port variable capacitor
US6323834B1 (en) 1998-10-08 2001-11-27 International Business Machines Corporation Micromechanical displays and fabrication method
JP3919954B2 (ja) 1998-10-16 2007-05-30 富士フイルム株式会社 アレイ型光変調素子及び平面ディスプレイの駆動方法
JP2000147262A (ja) 1998-11-11 2000-05-26 Nobuyuki Higuchi 集光装置及びこれを利用した太陽光発電システム
US6465956B1 (en) 1998-12-28 2002-10-15 Pioneer Corporation Plasma display panel
US6188519B1 (en) 1999-01-05 2001-02-13 Kenneth Carlisle Johnson Bigrating light valve
US6242932B1 (en) 1999-02-19 2001-06-05 Micron Technology, Inc. Interposer for semiconductor components having contact balls
US6323987B1 (en) 1999-05-14 2001-11-27 Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp. Controlled multi-wavelength etalon
US6335235B1 (en) * 1999-08-17 2002-01-01 Advanced Micro Devices, Inc. Simplified method of patterning field dielectric regions in a semiconductor device
WO2003007049A1 (en) * 1999-10-05 2003-01-23 Iridigm Display Corporation Photonic mems and structures
US6351329B1 (en) * 1999-10-08 2002-02-26 Lucent Technologies Inc. Optical attenuator
US6960305B2 (en) 1999-10-26 2005-11-01 Reflectivity, Inc Methods for forming and releasing microelectromechanical structures
US6519073B1 (en) * 2000-01-10 2003-02-11 Lucent Technologies Inc. Micromechanical modulator and methods for fabricating the same
KR100837593B1 (ko) 2000-01-21 2008-06-13 플렉스 프로덕츠, 인코포레이티드 가변적 광학 특성의 보안 장치
US6307663B1 (en) 2000-01-26 2001-10-23 Eastman Kodak Company Spatial light modulator with conformal grating device
JP2001221913A (ja) 2000-02-08 2001-08-17 Yokogawa Electric Corp ファブリペローフィルタ及び赤外線ガス分析計
GB2359636B (en) 2000-02-22 2002-05-01 Marconi Comm Ltd Wavelength selective optical filter
KR20010112456A (ko) 2000-02-24 2001-12-20 요트.게.아. 롤페즈 광 가이드를 포함한 디스플레이 디바이스
US6836366B1 (en) 2000-03-03 2004-12-28 Axsun Technologies, Inc. Integrated tunable fabry-perot filter and method of making same
US6747775B2 (en) 2000-03-20 2004-06-08 Np Photonics, Inc. Detunable Fabry-Perot interferometer and an add/drop multiplexer using the same
US6698295B1 (en) * 2000-03-31 2004-03-02 Shipley Company, L.L.C. Microstructures comprising silicon nitride layer and thin conductive polysilicon layer
US6400738B1 (en) 2000-04-14 2002-06-04 Agilent Technologies, Inc. Tunable Fabry-Perot filters and lasers
JP2001356701A (ja) 2000-06-15 2001-12-26 Fuji Photo Film Co Ltd 光学素子、光源ユニットおよび表示装置
FR2811139B1 (fr) 2000-06-29 2003-10-17 Centre Nat Rech Scient Dispositif optoelectronique a filtrage de longueur d'onde integre
DE60142452D1 (de) 2000-07-03 2010-08-05 Sony Corp Optische Mehrschicht-Struktur, optische Schalteinrichtung und Bildanzeigevorrichtung
JP2002062490A (ja) 2000-08-14 2002-02-28 Canon Inc 干渉性変調素子
US6466354B1 (en) 2000-09-19 2002-10-15 Silicon Light Machines Method and apparatus for interferometric modulation of light
US6714565B1 (en) 2000-11-01 2004-03-30 Agilent Technologies, Inc. Optically tunable Fabry Perot microelectromechanical resonator
JP3466148B2 (ja) 2000-11-02 2003-11-10 富士通株式会社 ガルバノミラーの製造方法およびガルバノミラー
US6556338B2 (en) 2000-11-03 2003-04-29 Intpax, Inc. MEMS based variable optical attenuator (MBVOA)
US6433917B1 (en) 2000-11-22 2002-08-13 Ball Semiconductor, Inc. Light modulation device and system
US6906847B2 (en) 2000-12-07 2005-06-14 Reflectivity, Inc Spatial light modulators with light blocking/absorbing areas
US6614576B2 (en) * 2000-12-15 2003-09-02 Texas Instruments Incorporated Surface micro-planarization for enhanced optical efficiency and pixel performance in SLM devices
US20020149834A1 (en) 2000-12-22 2002-10-17 Ball Semiconductor, Inc. Light modulation device and system
DE10064616C2 (de) 2000-12-22 2003-02-06 Ovd Kinegram Ag Zug Dekorfolie und Verfahren zum Beschriften der Dekorfolie
JP2002221678A (ja) 2001-01-25 2002-08-09 Seiko Epson Corp 光スイッチングデバイス、その製造方法および画像表示装置
US6912078B2 (en) 2001-03-16 2005-06-28 Corning Incorporated Electrostatically actuated micro-electro-mechanical devices and method of manufacture
US6661561B2 (en) 2001-03-26 2003-12-09 Creo Inc. High frequency deformable mirror device
US6600587B2 (en) 2001-04-23 2003-07-29 Memx, Inc. Surface micromachined optical system with reinforced mirror microstructure
US6657832B2 (en) 2001-04-26 2003-12-02 Texas Instruments Incorporated Mechanically assisted restoring force support for micromachined membranes
WO2002095800A2 (en) 2001-05-22 2002-11-28 Reflectivity, Inc. A method for making a micromechanical device by removing a sacrificial layer with multiple sequential etchants
US7106307B2 (en) 2001-05-24 2006-09-12 Eastman Kodak Company Touch screen for use with an OLED display
JP3740444B2 (ja) * 2001-07-11 2006-02-01 キヤノン株式会社 光偏向器、それを用いた光学機器、ねじれ揺動体
JP4032216B2 (ja) * 2001-07-12 2008-01-16 ソニー株式会社 光学多層構造体およびその製造方法、並びに光スイッチング素子および画像表示装置
US6594059B2 (en) * 2001-07-16 2003-07-15 Axsun Technologies, Inc. Tilt mirror fabry-perot filter system, fabrication process therefor, and method of operation thereof
US6632698B2 (en) 2001-08-07 2003-10-14 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Microelectromechanical device having a stiffened support beam, and methods of forming stiffened support beams in MEMS
US6661562B2 (en) * 2001-08-17 2003-12-09 Lucent Technologies Inc. Optical modulator and method of manufacture thereof
GB2389150B (en) * 2001-09-07 2004-08-25 Avon Polymer Prod Ltd Noise and vibration suppressors
US7015457B2 (en) 2002-03-18 2006-03-21 Honeywell International Inc. Spectrally tunable detector
US20030053078A1 (en) * 2001-09-17 2003-03-20 Mark Missey Microelectromechanical tunable fabry-perot wavelength monitor with thermal actuators
AU2002363529A1 (en) 2001-11-09 2003-05-19 Coventor, Incorporated Micro-scale interconnect device with internal heat spreader and method for fabricating same
US6761950B2 (en) 2001-12-07 2004-07-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Information recording medium and method for producing the same
JP2003177336A (ja) 2001-12-11 2003-06-27 Fuji Photo Film Co Ltd 光変調素子及び光変調素子アレイ並びにそれを用いた露光装置
US6791735B2 (en) * 2002-01-09 2004-09-14 The Regents Of The University Of California Differentially-driven MEMS spatial light modulator
US6608268B1 (en) 2002-02-05 2003-08-19 Memtronics, A Division Of Cogent Solutions, Inc. Proximity micro-electro-mechanical system
US6794119B2 (en) 2002-02-12 2004-09-21 Iridigm Display Corporation Method for fabricating a structure for a microelectromechanical systems (MEMS) device
US6574033B1 (en) 2002-02-27 2003-06-03 Iridigm Display Corporation Microelectromechanical systems device and method for fabricating same
AU2003211809A1 (en) 2002-03-01 2003-09-16 Sharp Kabushiki Kaisha Light emitting device and display unit using the light emitting device and reading device
EP1485904B1 (en) 2002-03-13 2012-08-29 Dolby Laboratories Licensing Corporation High dynamic range display devices
US7145143B2 (en) 2002-03-18 2006-12-05 Honeywell International Inc. Tunable sensor
US6768555B2 (en) 2002-03-21 2004-07-27 Industrial Technology Research Institute Fabry-Perot filter apparatus with enhanced optical discrimination
US6965468B2 (en) * 2003-07-03 2005-11-15 Reflectivity, Inc Micromirror array having reduced gap between adjacent micromirrors of the micromirror array
CN101840687B (zh) 2002-04-11 2013-09-18 格诺色彩技术有限公司 具有增强的属性的彩色显示装置和方法
JP2003315732A (ja) 2002-04-25 2003-11-06 Fuji Photo Film Co Ltd 画像表示装置
US6972882B2 (en) 2002-04-30 2005-12-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Micro-mirror device with light angle amplification
US7023603B2 (en) * 2002-04-30 2006-04-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Micro-mirror device including dielectrophoretic microemulsion
US6954297B2 (en) 2002-04-30 2005-10-11 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Micro-mirror device including dielectrophoretic liquid
JP2003340795A (ja) 2002-05-20 2003-12-02 Sony Corp 静電駆動型mems素子とその製造方法、光学mems素子、光変調素子、glvデバイス及びレーザディスプレイ
JP3801099B2 (ja) 2002-06-04 2006-07-26 株式会社デンソー チューナブルフィルタ、その製造方法、及びそれを使用した光スイッチング装置
US6813059B2 (en) 2002-06-28 2004-11-02 Silicon Light Machines, Inc. Reduced formation of asperities in contact micro-structures
US6738194B1 (en) 2002-07-22 2004-05-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Resonance tunable optical filter
US6822798B2 (en) * 2002-08-09 2004-11-23 Optron Systems, Inc. Tunable optical filter
AU2003260825A1 (en) 2002-09-19 2004-04-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Switchable optical element
JP4057871B2 (ja) 2002-09-19 2008-03-05 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 液晶表示装置
KR100512960B1 (ko) 2002-09-26 2005-09-07 삼성전자주식회사 플렉서블 mems 트랜스듀서와 그 제조방법 및 이를채용한 플렉서블 mems 무선 마이크로폰
US7085121B2 (en) 2002-10-21 2006-08-01 Hrl Laboratories, Llc Variable capacitance membrane actuator for wide band tuning of microstrip resonators and filters
FR2846318B1 (fr) 2002-10-24 2005-01-07 Commissariat Energie Atomique Microstructure electromecanique integree comportant des moyens de reglage de la pression dans une cavite scellee et procede de reglage de la pression
US7370185B2 (en) * 2003-04-30 2008-05-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Self-packaged optical interference display device having anti-stiction bumps, integral micro-lens, and reflection-absorbing layers
US6844959B2 (en) * 2002-11-26 2005-01-18 Reflectivity, Inc Spatial light modulators with light absorbing areas
US6958846B2 (en) 2002-11-26 2005-10-25 Reflectivity, Inc Spatial light modulators with light absorbing areas
TWI289708B (en) 2002-12-25 2007-11-11 Qualcomm Mems Technologies Inc Optical interference type color display
JP2004212680A (ja) 2002-12-27 2004-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd 光変調素子アレイ及びその製造方法
JP2004212638A (ja) 2002-12-27 2004-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd 光変調素子及び平面表示素子
TW594155B (en) 2002-12-27 2004-06-21 Prime View Int Corp Ltd Optical interference type color display and optical interference modulator
JP2004219843A (ja) 2003-01-16 2004-08-05 Seiko Epson Corp 光変調器、表示装置及びその製造方法
US7079154B2 (en) 2003-01-18 2006-07-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Sub-pixel assembly with dithering
TW557395B (en) 2003-01-29 2003-10-11 Yen Sun Technology Corp Optical interference type reflection panel and the manufacturing method thereof
TW200413810A (en) 2003-01-29 2004-08-01 Prime View Int Co Ltd Light interference display panel and its manufacturing method
US7250930B2 (en) 2003-02-07 2007-07-31 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Transparent active-matrix display
US7459402B2 (en) 2003-02-12 2008-12-02 Texas Instruments Incorporated Protection layers in micromirror array devices
US7436573B2 (en) 2003-02-12 2008-10-14 Texas Instruments Incorporated Electrical connections in microelectromechanical devices
TW200417806A (en) 2003-03-05 2004-09-16 Prime View Int Corp Ltd A structure of a light-incidence electrode of an optical interference display plate
KR100925195B1 (ko) 2003-03-17 2009-11-06 엘지전자 주식회사 대화형 디스크 플레이어의 이미지 데이터 처리장치 및처리방법
US6913942B2 (en) 2003-03-28 2005-07-05 Reflectvity, Inc Sacrificial layers for use in fabrications of microelectromechanical devices
TW594360B (en) 2003-04-21 2004-06-21 Prime View Int Corp Ltd A method for fabricating an interference display cell
TWI224235B (en) 2003-04-21 2004-11-21 Prime View Int Co Ltd A method for fabricating an interference display cell
TWI226504B (en) 2003-04-21 2005-01-11 Prime View Int Co Ltd A structure of an interference display cell
TW567355B (en) 2003-04-21 2003-12-21 Prime View Int Co Ltd An interference display cell and fabrication method thereof
US7447891B2 (en) * 2003-04-30 2008-11-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Light modulator with concentric control-electrode structure
US7072093B2 (en) 2003-04-30 2006-07-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Optical interference pixel display with charge control
WO2004099629A2 (en) 2003-05-01 2004-11-18 University Of Florida Vertical displacement device
JP4075678B2 (ja) 2003-05-06 2008-04-16 ソニー株式会社 固体撮像素子
TW570896B (en) * 2003-05-26 2004-01-11 Prime View Int Co Ltd A method for fabricating an interference display cell
TW591716B (en) * 2003-05-26 2004-06-11 Prime View Int Co Ltd A structure of a structure release and manufacturing the same
TWI223855B (en) * 2003-06-09 2004-11-11 Taiwan Semiconductor Mfg Method for manufacturing reflective spatial light modulator mirror devices
US6822780B1 (en) 2003-06-23 2004-11-23 Northrop Grumman Corporation Vertically stacked spatial light modulator with multi-bit phase resolution
JP2007027150A (ja) 2003-06-23 2007-02-01 Hitachi Chem Co Ltd 集光型光発電システム
US7221495B2 (en) 2003-06-24 2007-05-22 Idc Llc Thin film precursor stack for MEMS manufacturing
WO2005010799A2 (en) * 2003-07-16 2005-02-03 Shrenik Deliwala Optical encoding and reconstruction
US6862127B1 (en) * 2003-11-01 2005-03-01 Fusao Ishii High performance micromirror arrays and methods of manufacturing the same
US7190380B2 (en) * 2003-09-26 2007-03-13 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Generating and displaying spatially offset sub-frames
JP3786106B2 (ja) * 2003-08-11 2006-06-14 セイコーエプソン株式会社 波長可変光フィルタ及びその製造方法
TWI251712B (en) * 2003-08-15 2006-03-21 Prime View Int Corp Ltd Interference display plate
TW200506479A (en) * 2003-08-15 2005-02-16 Prime View Int Co Ltd Color changeable pixel for an interference display
TWI231865B (en) * 2003-08-26 2005-05-01 Prime View Int Co Ltd An interference display cell and fabrication method thereof
TWI230801B (en) 2003-08-29 2005-04-11 Prime View Int Co Ltd Reflective display unit using interferometric modulation and manufacturing method thereof
JP3979982B2 (ja) * 2003-08-29 2007-09-19 シャープ株式会社 干渉性変調器および表示装置
TWI232333B (en) * 2003-09-03 2005-05-11 Prime View Int Co Ltd Display unit using interferometric modulation and manufacturing method thereof
US7027204B2 (en) 2003-09-26 2006-04-11 Silicon Light Machines Corporation High-density spatial light modulator
US6982820B2 (en) * 2003-09-26 2006-01-03 Prime View International Co., Ltd. Color changeable pixel
TW593126B (en) 2003-09-30 2004-06-21 Prime View Int Co Ltd A structure of a micro electro mechanical system and manufacturing the same
JP2005121906A (ja) 2003-10-16 2005-05-12 Fuji Photo Film Co Ltd 反射型光変調アレイ素子及び露光装置
US7782523B2 (en) 2003-11-01 2010-08-24 Fusao Ishii Analog micromirror devices with continuous intermediate states
US7545553B2 (en) 2006-08-30 2009-06-09 Silicon Quest Kabushiki-Kaisha Display control system for spatial light modulators
TW200524236A (en) 2003-12-01 2005-07-16 Nl Nanosemiconductor Gmbh Optoelectronic device incorporating an interference filter
US7161728B2 (en) * 2003-12-09 2007-01-09 Idc, Llc Area array modulation and lead reduction in interferometric modulators
ATE552521T1 (de) 2003-12-19 2012-04-15 Barco Nv Breitbandige reflektive anzeigevorrichtung
WO2005089098A2 (en) 2004-01-14 2005-09-29 The Regents Of The University Of California Ultra broadband mirror using subwavelength grating
TWI235345B (en) 2004-01-20 2005-07-01 Prime View Int Co Ltd A structure of an optical interference display unit
JP2005235403A (ja) 2004-02-17 2005-09-02 Hitachi Displays Ltd 有機・el表示装置
TWI256941B (en) 2004-02-18 2006-06-21 Qualcomm Mems Technologies Inc A micro electro mechanical system display cell and method for fabricating thereof
US7119945B2 (en) 2004-03-03 2006-10-10 Idc, Llc Altering temporal response of microelectromechanical elements
TW200530669A (en) 2004-03-05 2005-09-16 Prime View Int Co Ltd Interference display plate and manufacturing method thereof
TWI261683B (en) 2004-03-10 2006-09-11 Qualcomm Mems Technologies Inc Interference reflective element and repairing method thereof
JP4581453B2 (ja) 2004-03-29 2010-11-17 ソニー株式会社 Mems素子、光学mems素子、回折型光学mems素子、並びにレーザディスプレイ
US7245285B2 (en) 2004-04-28 2007-07-17 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Pixel device
US7476327B2 (en) * 2004-05-04 2009-01-13 Idc, Llc Method of manufacture for microelectromechanical devices
US20050274871A1 (en) * 2004-06-10 2005-12-15 Jin Li Method and apparatus for collecting photons in a solid state imaging sensor
US7787170B2 (en) 2004-06-15 2010-08-31 Texas Instruments Incorporated Micromirror array assembly with in-array pillars
TWI233916B (en) * 2004-07-09 2005-06-11 Prime View Int Co Ltd A structure of a micro electro mechanical system
CA2572952C (en) 2004-07-09 2012-12-04 The University Of Cincinnati Display capable electrowetting light valve
TWI270722B (en) * 2004-07-23 2007-01-11 Au Optronics Corp Dual-side display panel
KR101354520B1 (ko) * 2004-07-29 2014-01-21 퀄컴 엠이엠에스 테크놀로지스, 인크. 간섭 변조기의 미소기전 동작을 위한 시스템 및 방법
US7372348B2 (en) * 2004-08-20 2008-05-13 Palo Alto Research Center Incorporated Stressed material and shape memory material MEMS devices and methods for manufacturing
EP1810068A2 (en) * 2004-09-07 2007-07-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. Beam switch for an optical imaging system
KR100648310B1 (ko) * 2004-09-24 2006-11-23 삼성전자주식회사 영상의 휘도 정보를 이용한 색변환장치 및 이를 구비하는디스플레이 장치
US7554714B2 (en) 2004-09-27 2009-06-30 Idc, Llc Device and method for manipulation of thermal response in a modulator
US8008736B2 (en) * 2004-09-27 2011-08-30 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Analog interferometric modulator device
US7564612B2 (en) 2004-09-27 2009-07-21 Idc, Llc Photonic MEMS and structures
US7420725B2 (en) 2004-09-27 2008-09-02 Idc, Llc Device having a conductive light absorbing mask and method for fabricating same
US7184202B2 (en) * 2004-09-27 2007-02-27 Idc, Llc Method and system for packaging a MEMS device
US7944599B2 (en) * 2004-09-27 2011-05-17 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electromechanical device with optical function separated from mechanical and electrical function
US7630119B2 (en) 2004-09-27 2009-12-08 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Apparatus and method for reducing slippage between structures in an interferometric modulator
US7612932B2 (en) * 2004-09-27 2009-11-03 Idc, Llc Microelectromechanical device with optical function separated from mechanical and electrical function
US7893919B2 (en) * 2004-09-27 2011-02-22 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Display region architectures
US7321456B2 (en) * 2004-09-27 2008-01-22 Idc, Llc Method and device for corner interferometric modulation
US7327510B2 (en) * 2004-09-27 2008-02-05 Idc, Llc Process for modifying offset voltage characteristics of an interferometric modulator
US7719500B2 (en) * 2004-09-27 2010-05-18 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Reflective display pixels arranged in non-rectangular arrays
US7304784B2 (en) 2004-09-27 2007-12-04 Idc, Llc Reflective display device having viewable display on both sides
US7372613B2 (en) * 2004-09-27 2008-05-13 Idc, Llc Method and device for multistate interferometric light modulation
US7936497B2 (en) 2004-09-27 2011-05-03 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS device having deformable membrane characterized by mechanical persistence
US7130104B2 (en) 2004-09-27 2006-10-31 Idc, Llc Methods and devices for inhibiting tilting of a mirror in an interferometric modulator
US8102407B2 (en) * 2004-09-27 2012-01-24 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and device for manipulating color in a display
US7289259B2 (en) 2004-09-27 2007-10-30 Idc, Llc Conductive bus structure for interferometric modulator array
US7684104B2 (en) 2004-09-27 2010-03-23 Idc, Llc MEMS using filler material and method
US7302157B2 (en) 2004-09-27 2007-11-27 Idc, Llc System and method for multi-level brightness in interferometric modulation
US7527995B2 (en) 2004-09-27 2009-05-05 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method of making prestructure for MEMS systems
JP4384005B2 (ja) 2004-10-15 2009-12-16 株式会社東芝 表示装置
US8203402B2 (en) 2004-10-27 2012-06-19 Epcos Ag Electronic device
US20080068697A1 (en) 2004-10-29 2008-03-20 Haluzak Charles C Micro-Displays and Their Manufacture
US20060132927A1 (en) 2004-11-30 2006-06-22 Yoon Frank C Electrowetting chromatophore
US7521666B2 (en) 2005-02-17 2009-04-21 Capella Microsystems Inc. Multi-cavity Fabry-Perot ambient light filter apparatus
US7405852B2 (en) 2005-02-23 2008-07-29 Pixtronix, Inc. Display apparatus and methods for manufacture thereof
US8310442B2 (en) 2005-02-23 2012-11-13 Pixtronix, Inc. Circuits for controlling display apparatus
US20070205969A1 (en) 2005-02-23 2007-09-06 Pixtronix, Incorporated Direct-view MEMS display devices and methods for generating images thereon
US7675665B2 (en) 2005-02-23 2010-03-09 Pixtronix, Incorporated Methods and apparatus for actuating displays
US7884989B2 (en) 2005-05-27 2011-02-08 Qualcomm Mems Technologies, Inc. White interferometric modulators and methods for forming the same
US7460292B2 (en) 2005-06-03 2008-12-02 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Interferometric modulator with internal polarization and drive method
US7184195B2 (en) * 2005-06-15 2007-02-27 Miradia Inc. Method and structure reducing parasitic influences of deflection devices in an integrated spatial light modulator
US7880565B2 (en) * 2005-08-03 2011-02-01 Kolo Technologies, Inc. Micro-electro-mechanical transducer having a surface plate
US8574823B2 (en) 2005-10-05 2013-11-05 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Multi-level layer
US7760197B2 (en) 2005-10-31 2010-07-20 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Fabry-perot interferometric MEMS electromagnetic wave modulator with zero-electric field
JP2007167998A (ja) 2005-12-20 2007-07-05 Toshiba Corp 梁構造を有する装置、および半導体装置
US7417746B2 (en) 2005-12-29 2008-08-26 Xerox Corporation Fabry-perot tunable filter systems and methods
US7652814B2 (en) 2006-01-27 2010-01-26 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS device with integrated optical element
US7550810B2 (en) * 2006-02-23 2009-06-23 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS device having a layer movable at asymmetric rates
JP5051123B2 (ja) 2006-03-28 2012-10-17 富士通株式会社 可動素子
US7477440B1 (en) 2006-04-06 2009-01-13 Miradia Inc. Reflective spatial light modulator having dual layer electrodes and method of fabricating same
US7321457B2 (en) 2006-06-01 2008-01-22 Qualcomm Incorporated Process and structure for fabrication of MEMS device having isolated edge posts
US7649671B2 (en) 2006-06-01 2010-01-19 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Analog interferometric modulator device with electrostatic actuation and release
US7471442B2 (en) 2006-06-15 2008-12-30 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and apparatus for low range bit depth enhancements for MEMS display architectures
US7835061B2 (en) * 2006-06-28 2010-11-16 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Support structures for free-standing electromechanical devices
US7385744B2 (en) 2006-06-28 2008-06-10 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Support structure for free-standing MEMS device and methods for forming the same
US7593189B2 (en) * 2006-06-30 2009-09-22 Seagate Technology Llc Head gimbal assembly to reduce slider distortion due to thermal stress
US7527998B2 (en) 2006-06-30 2009-05-05 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method of manufacturing MEMS devices providing air gap control
US7566664B2 (en) 2006-08-02 2009-07-28 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Selective etching of MEMS using gaseous halides and reactive co-etchants
TWI331231B (en) * 2006-08-04 2010-10-01 Au Optronics Corp Color filter and frbricating method thereof
DE102006039071B4 (de) 2006-08-09 2012-04-19 Universität Kassel Optisches Filter und Verfahren zu seiner Herstellung
US7629197B2 (en) 2006-10-18 2009-12-08 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Spatial light modulator
US20080121270A1 (en) 2006-11-28 2008-05-29 General Electric Company Photovoltaic roof tile system
US8138588B2 (en) 2006-12-21 2012-03-20 Texas Instruments Incorporated Package stiffener and a packaged device using the same
US7535621B2 (en) 2006-12-27 2009-05-19 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Aluminum fluoride films for microelectromechanical system applications
US8115987B2 (en) 2007-02-01 2012-02-14 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Modulating the intensity of light from an interferometric reflector
US7742220B2 (en) 2007-03-28 2010-06-22 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Microelectromechanical device and method utilizing conducting layers separated by stops
US7643202B2 (en) 2007-05-09 2010-01-05 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Microelectromechanical system having a dielectric movable membrane and a mirror
US7715085B2 (en) 2007-05-09 2010-05-11 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electromechanical system having a dielectric movable membrane and a mirror
US7719752B2 (en) 2007-05-11 2010-05-18 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS structures, methods of fabricating MEMS components on separate substrates and assembly of same
US8111262B2 (en) 2007-05-18 2012-02-07 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Interferometric modulator displays with reduced color sensitivity
US7643199B2 (en) 2007-06-19 2010-01-05 Qualcomm Mems Technologies, Inc. High aperture-ratio top-reflective AM-iMod displays
US7782517B2 (en) 2007-06-21 2010-08-24 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Infrared and dual mode displays
US7569488B2 (en) 2007-06-22 2009-08-04 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Methods of making a MEMS device by monitoring a process parameter
US7630121B2 (en) 2007-07-02 2009-12-08 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electromechanical device with optical function separated from mechanical and electrical function
KR20100066452A (ko) 2007-07-31 2010-06-17 퀄컴 엠이엠스 테크놀로지스, 인크. 간섭계 변조기의 색 변이를 증강시키는 장치
US7847999B2 (en) 2007-09-14 2010-12-07 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Interferometric modulator display devices
US7773286B2 (en) 2007-09-14 2010-08-10 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Periodic dimple array
EP2191320A2 (en) 2007-09-17 2010-06-02 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Semi-transparent / transflective lighted interferometric modulator devices
US20090078316A1 (en) 2007-09-24 2009-03-26 Qualcomm Incorporated Interferometric photovoltaic cell
US8058549B2 (en) 2007-10-19 2011-11-15 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Photovoltaic devices with integrated color interferometric film stacks
WO2009055393A1 (en) 2007-10-23 2009-04-30 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Adjustably transmissive mems-based devices
US20090293955A1 (en) 2007-11-07 2009-12-03 Qualcomm Incorporated Photovoltaics with interferometric masks
US7729036B2 (en) 2007-11-12 2010-06-01 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Capacitive MEMS device with programmable offset voltage control
US8941631B2 (en) 2007-11-16 2015-01-27 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Simultaneous light collection and illumination on an active display
US7715079B2 (en) 2007-12-07 2010-05-11 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS devices requiring no mechanical support
CA2710198A1 (en) 2007-12-21 2009-07-09 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Multijunction photovoltaic cells
US8164821B2 (en) 2008-02-22 2012-04-24 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Microelectromechanical device with thermal expansion balancing layer or stiffening layer
US7944604B2 (en) 2008-03-07 2011-05-17 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Interferometric modulator in transmission mode
US7612933B2 (en) 2008-03-27 2009-11-03 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Microelectromechanical device with spacing layer
US7898723B2 (en) 2008-04-02 2011-03-01 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Microelectromechanical systems display element with photovoltaic structure
US7969638B2 (en) 2008-04-10 2011-06-28 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Device having thin black mask and method of fabricating the same
US8023167B2 (en) 2008-06-25 2011-09-20 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Backlight displays
US7746539B2 (en) 2008-06-25 2010-06-29 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method for packing a display device and the device obtained thereof
US7768690B2 (en) 2008-06-25 2010-08-03 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Backlight displays
US7859740B2 (en) 2008-07-11 2010-12-28 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Stiction mitigation with integrated mech micro-cantilevers through vertical stress gradient control
US7855826B2 (en) 2008-08-12 2010-12-21 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and apparatus to reduce or eliminate stiction and image retention in interferometric modulator devices
US8358266B2 (en) 2008-09-02 2013-01-22 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Light turning device with prismatic light turning features
US20100051089A1 (en) 2008-09-02 2010-03-04 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Light collection device with prismatic light turning features
US20100096006A1 (en) 2008-10-16 2010-04-22 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Monolithic imod color enhanced photovoltaic cell
US20100096011A1 (en) 2008-10-16 2010-04-22 Qualcomm Mems Technologies, Inc. High efficiency interferometric color filters for photovoltaic modules

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002277767A (ja) * 2001-03-16 2002-09-25 Ricoh Co Ltd 光変調装置及びその光変調装置の製造方法並びにその光変調装置を具備する画像形成装置及びその光変調装置を具備する画像投影表示装置
JP2006043778A (ja) * 2003-07-22 2006-02-16 Ngk Insulators Ltd アクチュエータ装置
EP2012169A2 (en) * 2007-07-03 2009-01-07 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS devices having improved uniformity and methods for making them

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014515836A (ja) * 2011-04-04 2014-07-03 クゥアルコム・メムス・テクノロジーズ・インコーポレイテッド ピクセルビア(pixelvia)およびそれを形成する方法

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