JP2012513040A5

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Publication number: JP2012513040A5
Application number: JP2011542131A
Authority: JP
Filing date: 2009-12-16
Publication date: 2012-11-29
Anticipated expiration: 2029-12-16

Claims

エレクトロルミネッセント（ＥＬ）サブピクセルにおけるＥＬエミッターの特徴の変動を補償する方法であって、
（ａ）駆動トランジスタ、前記ＥＬエミッター及び読出しトランジスタを有するＥＬサブピクセルを提供することであって、前記駆動トランジスタと前記読出しトランジスタの各々は、第１の電極、第２の電極及びゲート電極を有すること、
（ｂ）第１の電圧源と、該第１の電圧源を前記駆動トランジスタの前記第１の電極に選択的に接続する第１のスイッチとを提供すること、
（ｃ）前記ＥＬエミッターを前記駆動トランジスタの前記第２の電極に接続すること、
（ｄ）前記ＥＬエミッターに接続された第２の電圧源を提供すること、
（ｅ）前記読出しトランジスタの前記第１の電極を前記駆動トランジスタの前記第２の電極に接続すること、
（ｆ）電流源と、該電流源を前記読出しトランジスタの前記第２の電極に選択的に接続する第３のスイッチとを提供することであって、前記電流源は、選択された試験電流を前記ＥＬエミッターに提供すること、
（ｇ）前記読出しトランジスタの前記第２の電極に接続された電圧測定回路を提供すること、
（ｈ）前記第１のスイッチを開放し、前記第３のスイッチを閉鎖し、少なくとも２回前記電圧測定回路により前記読出しトランジスタの前記第２の電極における前記電圧を測定し、少なくとも２つの測定値に応じて第１のエミッター電圧信号を提供すること、
（ｉ）前記第１のエミッター電圧信号を用いることであって、前記ＥＬエミッターの特徴を表す経年変化信号を提供すること、
（ｊ）入力信号を受け取ること、
（ｋ）前記経年変化信号及び前記入力信号を用いることであって、補償された駆動信号を生成すること、及び
（ｌ）前記補償された駆動信号に対応する選択されたオン時間、選択された駆動電圧を前記駆動トランジスタの前記ゲート電極に提供することであって、前記選択された駆動電圧により、前記駆動トランジスタが前記選択されたオン時間の間に線形領域で動作し、前記ＥＬエミッターの特徴の変動が補償されること、
を含む、方法。
前記ＥＬエミッターの特徴の前記変動は、前記ＥＬエミッターの経年変化によってもたらされる、請求項１に記載の方法。
前記ＥＬエミッターの特徴の前記変動は、前記ＥＬエミッターの温度の変動によってもたらされる、請求項１に記載の方法。
前記ＥＬエミッターを前記第２の電圧源に選択的に接続する第２のスイッチを提供することをさらに含み、前記ステップｈは前記第２のスイッチを閉鎖することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
前記ステップ（ｈ）は、
（ｉ）第１の時点に前記読出しトランジスタの前記第２の電極における電圧を測定することであって、前記第１のエミッター電圧信号を提供すること、
（ｉｉ）前記第１のエミッター電圧信号を格納すること、
（ｉｉｉ）第２の時点に前記読出しトランジスタの前記第２の電極における電圧を測定することであって、第２のエミッター電圧信号を提供し、前記第２の時点は前記第１の時点とは異なること、及び
（ｉｖ）前記第２のエミッター電圧信号を格納すること
をさらに含み、
前記ステップ（ｉ）は、前記第２のエミッター電圧信号をさらに用いることであって、前記経年変化信号を提供することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
前記電圧測定回路はアナログ／デジタルコンバーターを含む、請求項１に記載の方法。
複数のＥＬサブピクセルを提供することをさらに含み、前記ステップ（ｈ）及び（ｉ）は、各前記ＥＬサブピクセルに対して、複数の対応する経年変化信号を生成するように実行され、前記ステップ（ｊ）〜（ｌ）は、前記対応する経年変化信号を用いて前記複数のサブピクセルの各々に対して実行される、請求項１に記載の方法。
ステップ（ｈ）は、複数のこうしたＥＬサブピクセルに対して実行され、その間、前記電流源は、前記複数のＥＬサブピクセルの各々の前記それぞれのＥＬエミッターに前記選択された試験電流を同時に提供する、請求項７に記載の方法。
前記ＥＬサブピクセルは行及び列で配列され、各ＥＬサブピクセルは、対応する選択トランジスタを有し、前記方法は、前記対応する選択トランジスタの前記ゲート電極に接続された複数の行選択線と、対応する読出しトランジスタの前記第２の電極に接続された複数の読出し線とを提供することをさらに含む、請求項７に記載の方法。
前記対応する選択トランジスタのそれぞれの第１の電極に接続された複数のデータ線を提供することをさらに含み、前記ステップ（ｌ）は、前記駆動トランジスタの前記ゲート電極に前記選択された駆動電圧を提供するように、前記行選択線に接続されたゲートドライバーを有するドライバー回路と、前記データ線に接続されたソースドライバーとを提供することを含む、請求項７に記載の方法。
前記複数のＥＬサブピクセルの各々を逐次測定するように前記複数の読出し線に接続されたマルチプレクサを用いることをさらに含むことであって、対応する第１のエミッター電圧信号を提供する、請求項７に記載の方法。
前記駆動トランジスタの前記ゲート電極に接続された選択トランジスタを提供することをさらに含み、前記選択トランジスタは、前記読出しトランジスタの前記ゲート電極に接続されたゲート電極を含む、請求項１に記載の方法。
各ＥＬエミッターはＯＬＥＤエミッターであり、各ＥＬサブピクセルはＯＬＥＤサブピクセルである、請求項１に記載の方法。
前記選択されたオン時間は、それぞれのサブフレーム持続時間を有する複数のアクティブ化サブフレームに分割され、前記それぞれのサブフレーム持続時間の合計は前記選択されたオン時間に等しい、請求項１に記載の方法。
各駆動トランジスタはｐチャネルの低温ポリシリコン駆動トランジスタである、請求項１に記載の方法。
トランジスタの特徴付けによって駆動トランジスタの負荷線を決めることをさらに含み、前記ステップ（ｉ）は、前記駆動トランジスタの負荷線をさらに用いることであって、前記経年変化信号を提供する、請求項１に記載の方法。
（ｍ）前記ＥＬエミッターを前記第２の電圧源に選択的に接続する第２のスイッチを提供すること、
（ｎ）電流シンクと、該電流シンクを前記読出しトランジスタの前記第２の電極に接続する第４のスイッチとを提供すること、
（ｏ）前記第１のスイッチを閉鎖し、前記第２のスイッチを開放し、前記第３のスイッチを開放し、前記第４のスイッチを閉鎖し、選択された試験電圧を前記駆動トランジスタの前記ゲート電極に提供することと、
（ｐ）前記電流シンクを用いることであって、選択された第１の電流が前記駆動トランジスタの前記第１の電極及び前記第２の電極を通過するようにすること、及び前記読出しトランジスタの前記第２の電極における電圧を測定することであって、第１のトランジスタ電圧信号を提供すること、並びに
（ｑ）前記電流シンクを用いることであって、選択された第２の電流が前記駆動トランジスタの前記第１の電極及び前記第２の電極を通過するようにすること、及び前記読出しトランジスタの前記第２の電極における電圧を測定することであって、第２のトランジスタ電圧信号を提供し、前記第２の電流は前記第１の電流と等しくないこと、
をさらに含み、
前記ステップ（ｈ）は、前記第２のスイッチを閉鎖し、前記第４のスイッチを開放することをさらに含み、前記ステップ（ｉ）は、前記第１のトランジスタ電圧信号及び前記第２のトランジスタ電圧信号をさらに用いることをさらに含むことであって、前記経年変化信号を提供する、請求項５に記載の方法。
前記選択された試験電圧は前記選択された駆動電圧に等しい、請求項１７に記載の方法。
前記第１のトランジスタ電圧信号及び前記第２のトランジスタ電圧信号と前記第１の電流及び前記第２の電流とを用いることであって、駆動トランジスタの負荷線を提供する、用いることをさらに含み、前記ステップ（ｉ）は、前記駆動トランジスタの負荷線をさらに用いることをさらに含むことであって、前記経年変化信号を提供する、請求項１７に記載の方法。