JP2012504348A - 補償素子を有するstram - Google Patents
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Abstract
Description
広がるコンピュータおよび携帯/通信産業の急速な成長は、高容量の不揮発性ソリッドステートデータ記憶素子に対する爆発的な需要を生み出している。不揮発性メモリ、特にフラッシュメモリは、DRAMに代わりメモリ市場の最大のシェアを占めると考えられている。しかしながらフラッシュメモリは、遅いアクセス速度(〜msの書込および〜50−100nsの読出)、制限された耐久性(〜103−104のプログラミング回数)、およびシステムオンチップ(SoC)に集積化することの難しさといったような、いくつかの欠点を有する。フラッシュメモリ(NANDまたはNOR)は、また、32nmノード、および、それより先での重要なスケーリング問題に直面する。
本開示は、補償素子を含むスピン転移トルクメモリユニットに関する。
以下の説明において、説明の一部を形成する添付の図面の組が参照され、図面においては、図示によって、いくつかの特定の実施形態が示される。他の実施形態が意図されるとともに、本開示の範囲または精神から逸脱することなくなされ得るということが理解されるべきである。したがって、以下の詳細な説明は限定する意味で解釈されるべきではない。本明細書で与えられる定義は、本明細書で頻繁に用いられる特定の用語の理解を容易にするためのものであり、本開示の範囲を制限することを意味するものではない。
Claims (20)
- スピン転移トルクメモリユニットであって、
合成反強磁性リファレンス素子と、
合成反強磁性補償素子と、
前記合成反強磁性リファレンス素子と前記合成反強磁性補償素子との間の自由磁化層とを備え、前記自由磁化層は、1100emu/ccよりも大きい飽和モーメント値を有し、
前記自由磁化層を前記合成反強磁性リファレンス素子から分離する電気的絶縁および非磁性トンネリングバリア層と、
前記合成反強磁性補償素子を前記自由磁化層から分離する電気的絶縁層とをさらに備える、スピン転移トルクメモリユニット。 - 前記自由磁化素子は、1500emu/ccよりも大きい飽和モーメント値を有する、請求項1に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記自由磁化素子は、Co100-X-YFeXBYを備え、Xは30より大きな値であり、Yは15より大きな値である、請求項1に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記電気的絶縁層は、3オングストロームから15オングストロームまでの範囲内の厚みを有する、請求項1に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記電気的絶縁層は、電気的絶縁および電子的反射層である、請求項4に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記合成反強磁性補償素子と前記電気的絶縁層との間に配置された導電性および非強磁性スペーサ層をさらに備える、請求項4に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記合成反強磁性補償素子は、Ru,PdまたはCrのスペーサ層を備え、前記非強磁性スペーサ層は、Ta,Cu,Al,MgまたはAuを備える、請求項6に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記電気的絶縁および電子的反射層は、TaO,AlO,MgO,SiO,TiO,NiO,TaNまたはAlNを備えるとともに、1〜50オームμm2の範囲内にある面積抵抗値を有する、請求項5に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- スピン転移トルクメモリユニットであって、
合成反強磁性リファレンス素子と、
合成反強磁性補償素子と、
前記合成反強磁性リファレンス素子と前記合成反強磁性補償素子との間の自由磁化層と、
前記自由磁化層を前記合成反強磁性リファレンス素子から分離する電気的絶縁および非磁性トンネリングバリア層と、
3オングストロームから15オングストロームまでの範囲内の厚みを有し、前記合成反強磁性補償素子と前記自由磁化層との間にある電気的絶縁および電子的反射層とを備える、スピン転移トルクメモリユニット。 - 前記電気的絶縁および電子的反射層は、TaO,AlO,MgO,SiO,TiO,NiO,TaNまたはAlNを備えるとともに、1〜50オームμm2の範囲内にある面積抵抗値を有する、請求項9に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記合成反強磁性補償素子と前記電気的絶縁および電子的反射層との間に配置された導電性および非強磁性スペーサ層をさらに備える、請求項9に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記合成反強磁性補償素子は、Ru,PdまたはCrのスペーサ層を備え、前記非強磁性スペーサ層は、Ta,Cu,Al,MgまたはAuを備える、請求項11に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記自由磁化素子は、1100emu/ccよりも大きい飽和モーメント値を有する、請求項9に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記自由磁化素子は、Co100-X-YFeXBYを備え、Xは30より大きな値であり、Yは15より大きな値である、請求項1に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記合成反強磁性リファレンス素子は、互いに反強磁性結合された、第1の強磁性層と、第2の強磁性層と、第3の強磁性層とを備え、第1のスペーサ層は、前記第1および第2の強磁性層を分離し、第2のスペーサ層は、前記第2および第3の強磁性層を分離し、第1の反強磁性層は前記第1の強磁性層に隣接し、前記第1、第2および第3の強磁性層は、0.5よりも大きいスピン偏極を有する強磁性材料を備える、請求項9に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記合成反強磁性補償素子は、互いに反強磁性結合された第4の強磁性層と第5の強磁性層とを備え、第3のスペーサ層は前記第4および第5の強磁性層を分離し、第2の反強磁性層は、前記第5の強磁性層に隣接し、前記第4および第5の強磁性層は、0.2から0.9までの範囲内にあるスピン偏極を有する強磁性材料を備え、前記自由磁化層/電気的絶縁および電子的反射層/合成反強磁性補償素子からのスピン偏極は0.4未満である、請求項15に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- スピン転移トルクメモリユニットであって、
合成反強磁性リファレンス素子と、
合成反強磁性補償素子と、
前記合成反強磁性リファレンス素子と前記合成反強磁性補償素子との間の自由磁化層とを備え、前記自由磁化素子は、1100emu/ccよりも大きい飽和モーメント値を有し、
前記自由磁化層を前記合成反強磁性リファレンス素子から分離する電気的絶縁および非磁性トンネリングバリア層と、
3オングストロームから15オングストロームまでの範囲内の厚みを有し、前記合成反強磁性補償素子と前記自由磁化層との間にある電気的絶縁および電子的反射層と、
前記合成反強磁性補償素子と前記電気的絶縁および電子的反射層との間に配置された導電性および非強磁性スペーサ層とを備える、スピン転移トルクメモリユニット。 - 前記合成反強磁性補償素子は、Ru,PdまたはCrのスペーサ層を備え、前記非強磁性スペーサ層は、Ta,Cu,Al,MgまたはAuを備える、請求項17に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記自由磁化素子は、1500emu/ccよりも大きい飽和モーメント値を有する、請求項17に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
- 前記合成反強磁性リファレンス素子は、0.5よりも大きいスピン偏極を有し、前記自由磁化層/電気的絶縁および電子的反射層/合成反強磁性補償素子からのスピン偏極は0.4未満である、請求項17に記載のスピン転移トルクメモリユニット。
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