JP2012502277A - ローブブロックアセンブリ - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
Claims (20)
- ブロックと、
該ブロック中に挿入された複数のプローブと電気的に導通するよう構成された同軸コネクタを末端とするケーブルと、を含むプローブブロックアセンブリであって、前記同軸コネクタが
前記ブロックの開口部に挿入可能でありかつ前記ブロックから絶縁された第1プローブに、分離可能に接続するよう構成された、コネクタ信号接触部と、
前記ブロックに挿入された1本以上の第2プローブを共通接地するよう構成された弾力性接地ビームと、を含む、プローブブロックアセンブリ。 - 前記弾力性接地ビームが、前記ブロックに接触し、かつ、前記ブロック内に挿入される1本以上の第2プローブを共通接地するよう構成されている、請求項1に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記第2プローブがそれぞれ、前記ブロック内に押し嵌められたレセプタクル内に受容される接地プローブを含み、前記弾力性接地ビームが、前記レセプタクルに接触し、各レセプタクル内の各接地プローブを共通接地するよう構成されている、請求項1に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記第2プローブがそれぞれ1本の接地プローブを含み、前記弾力性接地ビームが、前記接地プローブの少なくとも1本に接触して前記ブロックに挿入された前記接地プローブを共通接地するよう構成されている、請求項1に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記ブロックが、電気的に絶縁されたハウジングに嵌め合わされる導電性接地プレートを含む、請求項1に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記同軸コネクタが、ラッチを含みかつ前記弾力性接地ビームを画定するシールド体を含み、前記弾力性接地ビームが、前記接地プレートと弾力的に接触するよう構成され、前記ラッチが、前記ブロックに対して前記同軸コネクタを固定することにおいて前記絶縁されたハウジングと取り外し可能に連結されるよう構成される、請求項5に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記電気的に絶縁されたハウジングが、前記ラッチを押し下げて前記ブロックから前記同軸コネクタを取り外すことを可能にするよう構成されたツールを受容する寸法にされたツールスロットを画定している、請求項6に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記第2プローブが、レセプタクルに挿入される接地プローブを含み、前記レセプタクルがそれぞれ、前記接地プレート及び前記電気的に絶縁されたハウジングを貫通して延在する孔に押し嵌められ、前記電気的に絶縁されたハウジングに対して前記接地プレートを固定するよう構成された、請求項5に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記第2プローブが接地プローブを含み、各接地プローブが、前記接地プレート内に形成されたプレート孔に押し嵌められ、前記プレート孔内に揃えられた、前記電気的に絶縁されたハウジング内に形成されたハウジング孔に締まり嵌められる、請求項5に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記第1プローブが、前記ブロックの前記開口部内に配置された電気絶縁体内に挿入可能な信号プローブを含み、前記ブロックの前記開口部、前記信号プローブの直径、及び前記電気絶縁体の有効誘電率を選択的に調整することによってもたらされるインピーダンス制御を備えた、請求項1に記載のプローブブロックアセンブリ。
- ブロックのプローブ側とケーブル側との間に延在する開口部を画定するブロックと、
前記開口部に挿入され、前記ブロックから電気的に絶縁されており、少なくとも一本の接地プローブが前記ブロックの前記プローブ側から延在する、第1プローブと、
前記第1プローブとの電気的接続のために前記開口部内にある程度まで挿入可能であるコネクタを末端とする同軸ケーブルを含む同軸ケーブルアセンブリと、を含むプローブブロックアセンブリであって、前記コネクタが、前記ブロックと取り外し可能に連結したシールド体と、前記接地プローブを共通接地するよう構成された弾力性接地ビームと、前記第1プローブに接続するよう構成された信号接触部とを含む、プローブブロックアセンブリ。 - 前記ブロックが導電性ブロックを含み、前記開口部に挿入された絶縁体によって前記導電性ブロックから電気的に絶縁された前記第1プローブによって画定される、インピーダンス制御されたブロック部分を更に含み、前記コネクタが、前記導電性ブロックの前記ケーブル側から前記開口部内にある程度まで挿入される、インピーダンス制御されたコネクタを含み、
前記インピーダンス制御されたコネクタのインピーダンスは、前記インピーダンス制御されたブロック部分のインピーダンスに実質的に一致している、請求項11に記載のプローブブロックアセンブリ。 - 前記第1プローブが、信号プローブ、電源プローブ、及びユーティリティプローブのうち1つを含む、請求項11に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記ブロックが、電気的に絶縁されたブロック部分に嵌め合わされる導電性ブロック部分と、前記絶縁されたブロック部分に取り外し可能に連結可能なシールド体の外表面から延在するラッチを含んだ前記シールド体と、前記シールド体の外表面から延在して前記導電性ブロック部分に接触するよう構成された前記弾力性接地ビームとを含む、請求項11に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 開口部、該開口部に挿入される絶縁体、該絶縁体内に挿入されて前記開口部内に保持される第1プローブ、及び、導電性ブロック部分に連結される接地プローブを画定する、その導電性ブロック部分と、
前記導電性ブロック部分に連結されて、絶縁性ブロック部分を通過して延びるチャネルが、前記開口部、及び該開口部に挿入される前記絶縁体と揃っている、その絶縁性ブロック部分と、
前記チャネルに挿入可能であって、前記絶縁性ブロック部分と取り外し可能に連結しかつ前記第1プローブと電気的に接続するよう構成されており、前記接地プローブを共通接地するよう構成されている弾力性接地ビームを含む、シールドされた同軸コネクタと、を含む、プローブブロックアセンブリ。 - 前記第1プローブが、信号プローブ、電源プローブ、及びユーティリティプローブのうち1つを含む、請求項15に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記導電性ブロック部分が、インピーダンス制御されたブロック部分を含み、前記シールドされた同軸コネクタが、前記インピーダンス制御されたブロック部分のインピーダンスに実質的に一致するインピーダンスを有する、インピーダンス制御されたコネクタを含む、請求項15に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 前記弾力性接地ビームが、前記導電性ブロック部分の1つ、前記接地プローブの1つ、及び前記導電性ブロックに押し嵌められ前記接地プローブの1つを受容する寸法にされたレセプタクルに接触することによって、前記接地プローブを共通接地する、請求項15に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 複数のシールドされた同軸コネクタを含み、かつ、前記導電性ブロック部分の嵌め合い側が、間隔をあけて配置された複数の金属製プレートを有し、これにより前記シールドされた同軸コネクタそれぞれの前記弾力性接地ビームが、前記間隔をあけて配置された金属製プレートのうち少なくとも1枚に接触することによって、前記接地プローブを共通接地する、請求項15に記載のプローブブロックアセンブリ。
- 各シールド体が、該シールド体の外表面から外へ延びる一対の相対する弾力性接地ビームを含み、前記相対する弾力性接地ビームが、前記間隔をあけて配置された金属製プレート2枚の間の橋渡しをして接触させるよう構成されている、請求項19に記載のプローブブロックアセンブリ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/206,565 US7740508B2 (en) | 2008-09-08 | 2008-09-08 | Probe block assembly |
US12/206,565 | 2008-09-08 | ||
PCT/US2009/055872 WO2010028136A2 (en) | 2008-09-08 | 2009-09-03 | Probe block assembly |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012502277A true JP2012502277A (ja) | 2012-01-26 |
JP2012502277A5 JP2012502277A5 (ja) | 2012-09-27 |
Family
ID=41797849
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011526195A Pending JP2012502277A (ja) | 2008-09-08 | 2009-09-03 | ローブブロックアセンブリ |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7740508B2 (ja) |
EP (1) | EP2340555A4 (ja) |
JP (1) | JP2012502277A (ja) |
KR (1) | KR20110060922A (ja) |
CN (1) | CN102197469A (ja) |
WO (1) | WO2010028136A2 (ja) |
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- 2008-09-08 US US12/206,565 patent/US7740508B2/en not_active Expired - Fee Related
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2009
- 2009-09-03 WO PCT/US2009/055872 patent/WO2010028136A2/en active Application Filing
- 2009-09-03 JP JP2011526195A patent/JP2012502277A/ja active Pending
- 2009-09-03 EP EP09812211A patent/EP2340555A4/en not_active Withdrawn
- 2009-09-03 CN CN2009801432688A patent/CN102197469A/zh active Pending
- 2009-09-03 KR KR1020117007747A patent/KR20110060922A/ko not_active Application Discontinuation
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Publication number | Publication date |
---|---|
US20100062629A1 (en) | 2010-03-11 |
WO2010028136A8 (en) | 2010-07-22 |
EP2340555A4 (en) | 2012-08-22 |
EP2340555A2 (en) | 2011-07-06 |
CN102197469A (zh) | 2011-09-21 |
WO2010028136A3 (en) | 2010-06-03 |
WO2010028136A2 (en) | 2010-03-11 |
US7740508B2 (en) | 2010-06-22 |
KR20110060922A (ko) | 2011-06-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
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A621 | Written request for application examination |
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