JP2012242161A - 光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置 - Google Patents

光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置 Download PDF

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Abstract

【課題】軸ズレ現象を確実に検出することができる光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置を提供する。
【解決手段】光ファイバの測定方法は、V溝ブロック14の複数のV溝30に複数の被測定用ファイバF1を1心ずつ挿入し、一端側がOTDR測定器11に接続されたダミーファイバF0の他端をV溝30に順次挿入し、被測定用ファイバF1と突き合わせて伝送特定を測定する。この測定方法では、N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定して再測定する。これにより、N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定して再測定するので、テープ両端心の内側のV溝位置に、ダミーファイバF0が誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出する。
【選択図】図6

Description

本発明は、光ケーブルにおける伝送特性検査を行う光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置に関する。
従来、光ケーブルに収納されている光ファイバの伝送特性検査は、OTDR測定器(Optical Time Domain Reflectmeter)で行っているが、多心の光ファイバの場合は、測定補助装置(MAS:Multiple Alignment System)を使用して効率良く測定している。
具体的には、測定用のダミーファイバと接続するために、MAS上に並列状に位置決め固定されている複数の各V溝内に、被測定用ファイバである複数のテープ心線の端末を挿入する。次に、OTDR測定器に接続されたダミーファイバの逆端側をMAS上の可動ヘッドに挿入する。次に、可動ヘッドを位置制御して、被測定用ファイバがセットされている適切な各V溝内にダミーファイバを順次挿入する。これにより、被測定用ファイバの端部とダミーファイバの端部が突き合わさる。
次に、検査ソフトをインストールしたパソコンによりOTDR測定器の動作を制御して、複数の各テープ心線における伝送特性の良否を自動判定する(特許文献1参照)。なお、検査ソフトは、OTDR測定器やMASの動作制御およびOTDR測定器より取得した測定データの解析による良否判定を行う。
特開2006− 90787号公報
しかしながら、上記光ファイバ測定装置による光ファイバの測定方法では、可動ヘッドにセットされたダミーファイバをV溝内に挿入する際に、ダミーファイバが適正なV溝位置に挿入されず、例えば、隣接する隣のV溝内に誤挿入される場合がある。この場合、正規の被測定用ファイバとのV溝接続が行われず、測定漏れとなる「軸ズレ」現象となり、正しい判定ができない。
例えば、4心テープ心線測定を一例に軸ズレの発生パターンを説明する。
発生パターンAは、テープ両端心の外側のV溝位置に、ダミーファイバが誤挿入される場合である。この場合は、従来の検査ソフトでは、接続ロス異常と自動判定されるため、軸ズレの発生を検出できる可能性がある。
しかしながら、接続ロス異常の本来の検出対象としては、ファイバ端面の異常(欠け、傾斜)、異物混入や異種ファイバの混入検出に対してであり、軸ズレ現象は想定していない。従って、従来システムでは接続ロス異常と自動判定された場合でも、軸ズレなのか他の要因なのかの判断がつかない。
発生パターンBは、テープ両端心の内側のV溝位置に、ダミーファイバが誤挿入される場合である。この場合は、同一心が連続して測定されことになる。従って、被測定用ファイバとの突き合わせ接続は確立されているので、従来の検査ソフトでは接続ロス異常にはならなく、軸ズレを全く検出できない。
上記軸ズレの主な発生要因としては、下記1〜3が想定される。
発生要因1は、MASの老朽化に伴う可動ヘッドの移動精度不足。即ち、V溝の谷中心からのズレや移動ピッチの精度低下に因る。
発生要因2は、ダミーファイバの曲がりによる先端部の大きなぶれ量に因る。
発生要因3は、可動ヘッドへのダミーファイバのセット不備に因る。
本発明の目的は、上記課題に鑑みてなされたものであり、軸ズレ現象を確実に検出することができる光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置を提供することにある。
上記目的は、本発明に係る下記構成の光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置により達成される。
(1)V溝ブロックの複数のV溝に複数の被測定用ファイバを1心ずつ挿入し、一端側が測定器に接続された測定用光ファイバの他端を前記V溝に順次挿入し、前記被測定用ファイバと突き合わせて伝送特定を測定する光ファイバの測定方法であって、
N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定し、再測定することを特徴としている。
例えば、被測定用ファイバの両端心が挿入されている両V溝のいずれかの内側にダミーファイバが誤挿入された場合は、同一心が連続測定される可能性があり、誤測定であるにもかかわらずダミーファイバと被測定用ファイバのN心目との接続は確立されている。このため、接続ロス異常とは判定されず、N心目とその直前のN−1心目の測定結果は、一致或いは類似している可能性が極めて高い特異パターンとなる。
従って、上記構成の光ファイバの測定方法によれば、N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定して再測定するので、テープ両端心の内側のV溝位置に、ダミーファイバが誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出することができる。
(2)上記(1)に記載の光ファイバの測定方法であって、前記測定器は、OTDR測定器であり、N心目とN−1心目のOTDRの波形から測定される測定値の差が所定の範囲内である場合に同等と認め、再測定要と判定することが好ましい。
前記構成の光ファイバの測定方法によれば、N心目とN−1心目との測定値差が所定範囲内であれば同等と判定するので、疑惑軸ズレも確実に検出することができる。
(3)上記(2)に記載の光ファイバの測定方法であって、前記再測定要の判定は、前記OTDRの波形から測定される複数の測定項目で同等と認めて判定することが好ましい。
前記構成の光ファイバの測定方法によれば、段差量や傾き異常値等の測定項目を複数設定することで、予め設定された各判定指標の基準値と比較・照合させることができ、軸ズレ発生を自動検出することができる。また、適切な判定指標をできるだけ多く設定することにより、軸ズレの検出精度の向上と過剰判定率の低減を図ることができる。
(4)上記(2)又は(3)に記載の光ファイバの測定方法であって、前記V溝ブロックの最も外側のV溝において、前記OTDRの波形から測定される接続損失の測定結果が所定の値以上の場合は、当該心を再測定要と判定し、再測定することが好ましい。
前記構成の光ファイバの測定方法によれば、テープ両端心の外側のV溝位置にダミーファイバが誤挿入された場合は、ダミーファイバと被測定用ファイバが全く接続されていないので、他ケースと比較して極端に接続ロス値が高くなる特異パターンとなる。従って、新たに軸ズレ検出専用の基準値を追加することで、測定結果が所定の基準値以上の場合は、当該心を再測定要と判定して、確実に軸ズレを検出することができる。
(5)上記(1)〜(4)のいずれか一項に記載の光ファイバの測定方法によって光ファイバを測定する光ファイバ測定装置であって、前記再測定要と判定をする機能を有していることを特徴としている。
前記構成の光ファイバ測定装置によれば、N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定して再測定するので、テープ両端心の内側のV溝位置にダミーファイバが誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出することができる。
また、N心目の測定結果が所定の基準値以上の場合は、新たに軸ズレ検出専用の基準値を追加することで当該心を再測定要と判定して、確実に軸ズレを検出することができる。
本発明に係る光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置によれば、N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定して再測定するので、軸ズレ現象を確実に検出することができる。
本発明に係る光ファイバ測定装置の構成を示すブロック図である。 図1のMASの要部を示す拡大図である。 図2のMASのV溝ブロック上での光ファイバの接続端部を示す概略図である。 図3の軸ズレ発生の説明図である。 本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャート1である。 本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャート2である。 本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャート3である。 本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャート4である。
以下、本発明の光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置の一実施形態を図1〜図8に基づいて説明する。本実施形態は、被測定用ファイバが4心テープ心線の場合を一例に説明する。
図1に示すように、本実施形態の光ファイバ測定装置10は、主にダミーファイバF0の一端側が接続されたOTDR測定器11と、V溝ブロック14上でダミーファイバF0と被測定用ファイバF1とを突き合わせる測定補助装置(MAS)12と、OTDR測定器11およびMAS12を動作制御する制御装置13とを備えている。
被測定用ファイバF1は、4本のファイバ心線が平面上に接触した状態で並列状に配置されており、その外周がテープ心線樹脂によって一体的に被覆されている。1本のファイバ心線は、中心にコアとクラッドから成るガラスファイバが配置され、その外周が着色層を含むファイバ樹脂で被覆されている。
OTDR測定器11は、被測定用ファイバF1に光パルスを入射し、各部位からの後方散乱光の戻り時間と光量を測定することで、被測定用ファイバF1上の損失分布や損失値(ロス値)、欠陥位置等を算出する。被測定用ファイバF1自体に局所的にロスが高い箇所があると、OTDR波形上では傾きの変化(段差量、区間ロス値)として現れ、このような傾きの変化を段差異常や区間ロス異常として認識する。
制御装置13は、伝送特性検査用の検査ソフトがインストールされており、OTDR測定器11へ制御信号15を発信して、測定器自体の動作制御を行うとともに、OTDR測定器11から取得した測定データ16を受信して、測定データ16を解析して良否判定を行う。同時に、MAS12へ制御信号17を発信して、後述する可動ヘッド20の動作制御を行って、V溝ブロック14上の接続部Pに位置決めされている各被測定用ファイバF1に、ダミーファイバF0の他端側を突き合わせる。
図2に示すように、MAS12は、ガイドレール22上を移動する可動ヘッド20と、4心の被測定用ファイバF1を保持するテープホルダ23と、該テープホルダ23毎に被測定用ファイバF1を配置する複数列のステージ24とを備えている。各ステージ24の前方には、複数のV溝30(図3参照)を有するV溝ブロック14が設けられている。ステージ24は、V溝ブロック14に向かって所定角度だけ傾斜している。
可動ヘッド20は、ガイドレール22によって矢印25方向に所定距離ずつ移動可能なように設定されている。この所定距離は、V溝ブロック14上の隣接するV溝30のピッチに相当する長さである。可動ヘッド20上には、ダミーファイバF0を保持するダミーホルダ21を備えている。このダミーホルダ21は、ガイドレール22に沿った可動ヘッド20の移動方向25に対して直角な矢印26方向に所定距離だけ移動可能なように設定されている。
図3に示すように、V溝ブロック14のV溝30は、谷部31と山部32が交互に形成されることで、第1溝部30a、第2溝部30b、第3溝部30cおよび第4溝部30dを含む8又は12の溝部が形成されている。このV溝30のピッチXは、4心の被測定用ファイバF1を構成する被測定用ファイバ心線F1’の着色層を含む所定長さのファイバ樹脂を剥くことで露出した被測定ガラスファイバG1〜G4の隣接するガラスファイバ間隔、例えば、第1ガラスファイバG1と第2ガラスファイバG2の中心軸間の間隔Wに一致する。従って、可動ヘッド20の矢印25方向への最小移動距離は、V溝30のピッチXに一致するように設定される。
ダミーファイバF0は、ダミーホルダ21への取付け前にダミーファイバ心線F0’の先端部分のファイバ樹脂を剥いで所定長さのダミーガラスファイバG0を露出させる。このダミーファイバF0は可動ヘッド20上のダミーホルダ21の所定位置に取付けられる。従って、ダミーホルダ21の矢印26方向への移動距離は、ダミーガラスファイバG0の先端部と、突き合わせ相手の例えば、V溝ブロック14上に配置された第1ガラスファイバG1の先端部との間隔Yに一致するように設定される。
軸ズレ発生の原因を図4に基づいて説明する。
なお、ダミーガラスファイバG0のガラス径D0(例えば、125μm)、可動ヘッド20の最小移動距離に一致するV溝ブロック14のV溝30のピッチX(例えば、250μm、)との関係が、X=2D0である場合を一例に説明する。
図4に示すように、ダミーガラスファイバG0は、例えば、第1溝部30a内での1心目の検査測定終了後、次の2心目の検査測定を行うために第2溝部30b内に動作制御される。この場合、ダミーガラスファイバG0は、250μmピッチの可動ヘッド20によってV溝ブロック14の第2溝部30b内の谷部31中央に位置制御される。
第2溝部30b内に位置制御させるための許容範囲は、谷部31の中心位置前後の±125μmとなる。この許容範囲(±125μm)をオーバすると、ダミーガラスファイバG0は、第1溝部30aまたは第3溝部30c内に入ってしまい「軸ズレ」発生となる。例えば、ダミーガラスファイバG0が図中左側に125μm以上ずれると第1溝部30a内に誤挿入される。また、ダミーガラスファイバG0が図中右側に125μm以上ずれると第3溝部30c内に誤挿入される。
次に、本実施形態の光ファイバの測定方法について説明する。
軸ズレ発生時の特異パターンを把握して、検査ソフトへ判定ロジックを組み込むことにより、自動検出が可能となる。以下、組み込む判定ロジックを説明する。なお、本実施形態は、被測定用ファイバが4心テープ心線の場合を一例に説明し、第1心目、第2または第3心目、第4心目(最終心)の場合の3段階に分けて説明する。
(第1心目)
被測定用ファイバF1の両端心である第1ガラスファイバG1が挿入されている第1溝部30aの外側の溝部にダミーガラスファイバG0が誤挿入される場合(発生パターンA)が想定される。この場合、ダミーガラスファイバG0と接続相手のガラスファイバが全く接続されていないので、他ケースと比較して極端に接続ロス値が高くなるのが特異パターンとなる。
ファイバ端面への異物付着やカッティング状態による接続ロス異常の実績値や未接続状態での接続ロス値(約31dB)に基づいて、「完全軸ズレ」の判定基準値を30dB以上とする。従って、新たに軸ズレ検出専用のこの判定基準値(30dB以上)を追加することで、確実に軸ズレを検出することができる。なお、ここで云う完全軸ズレとは、軸ズレの可能性が略100%であることを意味する。また、使用するOTDR測定器によっては、判定基準値を20dB以上とする場合もある。
図5に示すように、第1心目の測定手順としては、先ず、仮突き合わせ状態で接続ロスを測定して、一時的に接続ロス値を保持する事前測定処理(ステップS1)を行う。
次に、判定基準値(30dB以上)に基づいて第1の接続ロス判定(ステップS2)を行う。接続ロス値が30dB以上の場合は、軸ズレ対応処理(ステップS3)として、「完全軸ズレ」であることを表示する。
接続ロス値が30dB未満の場合は、第2の接続ロス判定(ステップS4)を行う。接続ロス値が基準値の上限を超え且つ30dB未満の場合は、再接続処理(ステップS5)として、登録された再接続回数だけ再接続を行い、基準値に満たない場合に「接続ロス異常」を表示する。なお、再接続を行って基準値を満たした場合は、次述の通常測定を行う。
接続ロス値が基準値を満たす場合は、通常測定(ステップS6)にて、全長ロス、接続ロス、区間ロス、異常点情報、終端反射量を取得し、データベースへ格納するDB登録(ステップS7)を行う。
次に、第2心目の事前測定処理に移行する。
(第2心目、第3心目)
被測定用ファイバF1の両端心である第1ガラスファイバG1または第4ガラスファイバG4が挿入されている第1溝部30aまたは第4溝部30dのいずれかの内側の溝部にダミーガラスファイバG0が誤挿入される場合(発生パターンB)が想定される。この場合、同一心が連続測定される可能性が大きいので、誤測定であるにもかかわらずダミーガラスファイバG0と接続相手のガラスファイバとの接続は確立されている。
そのため、接続ロス異常とは判定されず、誤挿入を検出できない。このパターンでは、同一心が連続測定されるため、測定心(N心目)とその直前の測定心(N−1心目)の測定結果は、一致或いは類似している可能性が極めて高く、これが特異パターンとなる。従って、例えば、下記のような新たな判定指標を設ける。
判定指標1:異常点情報1(段差量、段差位置)
判定指標2:異常点情報2(傾き異常値、傾き異常位置)
判定指標3:全長ロス値
判定指標4:終端側の数百メートルの区間ロス値
判定指標5:終端反射量(被測定用ファイバの終端がガラスの屈折率と大きく異なる空気と接するため、フレネル反射が発生する)
判定指標6:ダミーファイバと被測定用ファイバとの接続ロス値
なお、上記判定指標例において、段差量(dB)とは、後方散乱光レベル(dB)を縦軸、距離(km)を横軸に採ったOTDR波形上の被測定用ファイバで、被測定用ファイバ上の特定区間(段差異常区間)の2点間(始点、終点)の後方散乱光レベルの変化量(差)である。
全長ロス値(dB/km)とは、被測定用ファイバ全長に対する後方散乱光レベルのkm当たりの変化傾きである。
区間ロス値(dB/km)とは、被測定用ファイバ上の特定区間(ロス異常区間)における後方散乱光レベルのkm当たりの変化傾きである。
終端反射量(dB)とは、被測定用ファイバの終端部分で急増する後方散乱光レベルの変化量である。
接続ロス値(dB)とは、ダミーファイバと突き合わさる被測定用ファイバの始端部分で発生する後方散乱光レベルの変化量である。
上記判定指標1〜6を設けることにより、測定心(N心目)とその直前の測定心(N−1心目)の判定指標に該当する測定データの差異を、予め設定された各判定指標の基準値と比較・照合させることで、軸ズレ発生を自動検出することができる。なお、適切な判定指標をできるだけ多く設定することにより、軸ズレの検出精度の向上と過剰判定率の低減を図ることができる。
図6に示すように、第2心目及び第3心目の測定手順としては、第1心目と同様に仮突き合わせ状態で接続ロスを測定して、一時的に接続ロス値を保持する事前測定処理(ステップS11)を行う。
次に、接続ロスの基準値に基づいて接続ロス判定(ステップS12)を行う。接続ロス値が基準値を満足しない場合は、再接続処理(ステップS13)として、登録された再接続回数だけ再接続を行い、基準値に満たない場合に「接続ロス異常」を表示する。なお、再接続を行って基準値を満たした場合は、次述の通常測定を行う。
接続ロス値が基準値を満足する場合は、通常測定(ステップS14)にて、全長ロス、接続ロス、区間ロス、異常点情報、終端反射量を取得し、データベースへ格納するDB登録(ステップS15)を行う。
次に、直前心(N−1心目)のデータとの差異を判定基準に基づいて比較する比較処理(ステップS16)を行う。このときの判定基準は、例えば、上記判定指標1〜6に基づいて以下の優先順位で比較処理する。
第1優先:段差量と段差位置
第2優先:傾き異常値と傾き異常区間の中心位置
第3優先:全長ロス値
第4優先:終端側Lmの区間ロス
第5優先:終端反射量
第6優先:接続ロス値
なお、第1優先から第6優先の各判定指標の判定値は、テーブル内で距離レンジ毎に個別に設定可能である。また、第1優先と第2優先は、それぞれ異常値と異常位置をセットで判定する。また、第4優先のLmとしては、例えば終端から300メートルが用いられる。具体的な判定基準値テーブルの一例を表1に示す。
Figure 2012242161
次に、前記比較処理に基づいて判定基準を満たしているかどうかを判定する判定処理(ステップS17)を行う。第1・第2優先のいずれか又は第3〜第6優先の全ての判定基準を満たしている場合は、「疑惑軸ズレ」を表示する疑惑軸ズレ処理(ステップS18)を行う。なお、ここで云う疑惑軸ズレとは、軸ズレの可能性が高いことを意味する。
その後、測定心が第3心目であるかを確認する確認処理(ステップS19)を行い、第2心目の場合には第3心目の事前測定処理に移行して、同様なフローを実行する。
(第4心目)
被測定用ファイバF1の最終心である第4ガラスファイバG4が挿入されている第4溝部30dの外側又は内側の溝部にダミーガラスファイバG0が誤挿入される場合(発生パターンA又は発生パターンB)が想定される。なお、発生パターンA、Bに関しては、上記第1〜第3心目で説明しているので、ここでの説明は省略する。
図7に示すように、最終心である第4心目の測定手順としては、第1〜第3心目と同様に仮突き合わせ状態で接続ロスを測定して、一時的に接続ロス値を保持する事前測定処理(ステップS21)を行う。
次に、判定基準値(30dB以上)に基づいて第1の接続ロス判定(ステップS22)を行う。接続ロス値が30dB以上の場合は、軸ズレ対応処理(ステップS23)として、「完全軸ズレ」であることを表示する。
接続ロス値が30dB未満の場合は、第2の接続ロス判定(ステップS24)を行う。接続ロス値が基準値の上限を超え且つ30dB未満の場合は、再接続処理(ステップS25)として、登録された再接続回数だけ再接続を行い、基準値に満たない場合に「接続ロス異常」を表示する。なお、再接続を行って基準値を満たした場合は、次述の通常測定を行う。
接続ロス値が基準値を満たす場合は、通常測定(ステップS26)にて、全長ロス、接続ロス、区間ロス、異常点情報、終端反射量を取得し、データベースへ格納するDB登録(ステップS27)を行う。
次に、直前心(N−1心目)のデータとの差異を判定基準に基づいて比較する比較処理(ステップS28)を行う。このときの判定基準は、例えば、上記判定指標1〜6に基づいて上記優先順位で比較処理する。
次に、前記比較処理に基づいて判定基準を満たしているかどうかを判定する判定処理(ステップS29)を行う。判定基準を全て満たしている場合は、「疑惑軸ズレ」を表示する疑惑軸ズレ処理(ステップS30)を行う。
判定基準を満たしていない場合は、測定心がステージ上の最終心であることを確認する確認処理(ステップS31)を行い、最終心でない場合には、次テープホルダの第1心目の事前測定処理へ移行する。
(再測定の確認処理)
次に、図8に示すように、ステージ上の各テープホルダの第1心目から第4心目の判定結果に基づいて、再測定の確認処理(ステップS32)を行う。ここでの基本的な処理ステップは、第1ステップ、第2ステップ及び第3ステップを順次段階的に行っていく。
<第1ステップ>
第1ステップは、完全軸ズレを再測定して、良好、接続ロス異常、疑惑軸ズレのいずれかにする。図8に示すように、完全軸ズレが存在している場合であり、完全軸ズレ確認及び再測定処理(ステップS33)を行う。先ず、ダミーファイバF0の断心の有無を確認する。なお、ここで云う断心とは、測圧や曲げ等の影響を受けて、ダミーファイバF0のガラス部分が完全に折れた状態である。
ダミーファイバF0の断心でない場合は、完全軸ズレと判断して、完全軸ズレのボタンを押すことで、自動運転されていた測定心の良好、接続ロス異常、疑惑軸ズレを完全軸ズレに変更する。その後、全心の再測定処理を行う。
ダミーファイバF0の断心である場合は、完全軸ズレではないと判断して、ダミー断心のボタンを押すことで、ダミー断心の表示に変更し、ダミー断心を修復後に、手動モード或いは自動モードにて全心の再測定を行う。
<第2ステップ>
第2ステップは、接続ロス異常を再測定して、全て良好にする。再測定前の段階で接続ロス異常の表示心とその前後心に対して、比較処理を実施し、新たに疑惑軸ズレが発生した場合には、次の第3ステップでまとめて再測定する。
完全軸ズレは存在しないが、接続ロス異常が存在している場合であり、接続ロス異常の再測定処理(ステップS34)を行う。
以下の手順に従って処理を進める。
1)接続ロス異常の全心に対して、手動モード或いは自動モードにて再測定を行う。
2)再測定により全心を良好心とする。
3)再測定前の接続ロス異常の表示心とその前後心に対して比較処理を実施する。再測定作業時に軸ズレが発生していなくても、疑惑軸ズレ判定心は、全て再測定対象とする。数心を手動測定して、軸ズレが認められない場合は、自動測定へ移行する。
4)疑惑軸ズレが発生した場合は、第3ステップの疑惑軸ズレの処理ルールに従う。
<第3ステップ>
第3ステップは、疑惑軸ズレを再測定して、全て良好になれば再測定は終了する。完全軸ズレは存在しないが、疑惑軸ズレが存在している場合であり、疑惑軸ズレの確認及び再測定処理(ステップS35)を行う。上記第2ステップで新たに疑惑軸ズレが発生した場合、疑惑軸ズレの数心を手動再測モードにてV溝接続状況を目視確認する。
軸ズレが確認できない場合は、疑惑軸ズレを誤判定と判断して、疑惑軸ズレ誤判定のボタンを押して、疑惑軸ズレが表示されている全心を良好心に変更し、再測定は不要にする。
軸ズレが確認された場合は、疑惑軸ズレの表示は全て正しいと判断して、疑惑軸ズレ正判定のボタンを押す。疑惑軸ズレが表示されている全心を、手動再測モードにてV溝接続状況を目視確認しながら再測する。なお、ダミー調整等により軸ズレが完全に解消された場合は、自動再測モードへ切り替える。
最後に、再測最終心の測定完了後に、再測定心の確認処理(ステップS36)を行い、検査作業を終了する。この確認処理によって軸ズレまたは接続ロス異常が確認された場合は、再度、完全軸ズレ確認及び再測定処理(ステップS33)、接続ロス異常の再測定処理(ステップS34)または疑惑軸ズレ確認及び再測定処理(ステップS35)へフィードバックして、再測定を行う。
上述したように本実施形態の光ファイバの測定方法によれば、V溝ブロック14の複数のV溝30に複数の被測定用ファイバF1を1心ずつ挿入し、一端側がOTDR測定器11に接続されたダミーファイバF0の他端をV溝30に順次挿入し、被測定用ファイバF1と突き合わせて伝送特定を測定する光ファイバの測定方法であって、N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定して再測定する。これにより、テープ両端心の内側のV溝30位置に、ダミーファイバF0が誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出することができる。
また、本実施形態の光ファイバ測定方法によれば、前記OTDR測定器は、N心目とN−1心目のOTDRの波形から測定される測定値の差が所定の範囲内である場合に同等と認めて、再測定要と判定する。これにより、疑惑軸ズレも確実に検出することができる。
また、本実施形態の光ファイバ測定方法によれば、前記再測定要の判定は、OTDRの波形から測定される複数の測定項目で同等と認めて判定する。これにより、段差量や傾き異常値等の測定項目を複数設定することで、予め設定された各判定指標の基準値と比較・照合させることができ、軸ズレ発生を自動検出することができる。また、適切な判定指標をできるだけ多く設定することで、軸ズレの検出精度の向上と過剰判定率の低減を図ることができる。
また、本実施形態の光ファイバ測定方法によれば、前記V溝ブロック14の最も外側のV溝30において、OTDRの波形から測定される接続損失の測定結果が所定の値以上の場合は、当該心を再測定要と判定して再測定する。これにより、テープ両端心の外側のV溝位置にダミーファイバF0が誤挿入された場合は、ダミーファイバF0と被測定用ファイバF1が全く接続されていないので、他ケースと比較して極端に接続ロス値が高くなる特異パターンとなる。従って、新たに軸ズレ検出専用の基準値を追加することで、測定結果が所定の基準値以上の場合は、当該心を再測定要と判定して、確実に軸ズレを検出することができる。
また、本実施形態の光ファイバ測定装置によれば、N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定して再測定するので、テープ両端心の内側のV溝位置にダミーファイバF0が誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出することができる。
なお、本発明の光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良等が自在である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数値、形態、数、配置場所等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
10…光ファイバ測定装置、11…OTDR測定器、12…MAS(測定補助装置)、13…制御装置、14…V溝ブロック、20…可動ヘッド、21…ダミーホルダ、22…ガイドレール、23…テープホルダ、24…ステージ、30…V溝、31…谷部、32…山部、D0…ガラス径、F0…ダミーファイバ(測定用ファイバ)、F1…被測定用ファイバ、G0…ダミーガラスファイバ、G1…被測定ガラスファイバ、X…V溝ピッチ

Claims (5)

  1. V溝ブロックの複数のV溝に複数の被測定用光ファイバを1心ずつ挿入し、一端側が測定器に接続された測定用光ファイバの他端を前記V溝に順次挿入し、前記被測定用光ファイバと突き合わせて伝送特定を測定する光ファイバの測定方法であって、
    N心目の測定結果がN−1心目の測定結果と同等と認められる場合は、N心目とN−1心目を再測定要と判定し、再測定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
  2. 請求項1に記載の光ファイバの測定方法であって、
    前記測定器は、OTDR測定器であり、N心目とN−1心目のOTDRの波形から測定される測定値の差が所定の範囲内である場合に同等と認め、再測定要と判定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
  3. 請求項2に記載の光ファイバの測定方法であって、
    前記再測定要の判定は、前記OTDRの波形から測定される複数の測定項目で同等と認めて判定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
  4. 請求項2または3に記載の光ファイバの測定方法であって、
    前記V溝ブロックの最も外側のV溝において、前記OTDRの波形から測定される接続損失の測定結果が所定の値以上の場合は、当該心を再測定要と判定し、再測定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
  5. 請求項1〜4のいずれか一項に記載の光ファイバの測定方法によって光ファイバを測定する光ファイバ測定装置であって、
    前記再測定要と判定をする機能を有していることを特徴とする光ファイバ測定装置。
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