JP2018048939A - 光ファイバ測定装置、光ファイバ測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】測定用ダミーファイバの軸ズレが発生し、未測定の光ファイバが流出するのを防ぐことができる光ファイバ測定装置、光ファイバ測定方法を提供する。【解決手段】複数心の光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ１２を並べたテープ心線の被測定用光ファイバＯＦの伝送特性を測定する測定器と、テープ心線の被測定用光ファイバの心数よりも少ない心数で構成され、測定器に接続されるとともに、被測定用光ファイバの光ファイバ心線に１心毎に突き合わされる測定用ダミーファイバとを備えた光ファイバ測定装置である。被測定用光ファイバのうち、測定対象となる光ファイバ心線群ＯＦ５〜ＯＦ８の少なくとも隣りに位置する光ファイバ心線ＯＦ４，ＯＦ９に対してロスを発生させるロス発生機構３０を有した。【選択図】図４

Description

本発明は、光ファイバ測定装置、光ファイバ測定方法に関し、詳細には、複数心のテープ心線の被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、テープ心線の被測定用光ファイバの心数よりも少ない心数で構成され、測定器に接続されるとともに、被測定用光ファイバに１心毎に突き合わされる測定用ダミーファイバとを備えた光ファイバ測定装置、光ファイバ測定方法に関する。

光通信で使用される光ケーブルには、多くの光ファイバが収納される。これら光ファイバの伝送特性は、例えばＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｍｅｔｅｒ）測定器で測定される。ＯＴＤＲ測定器には測定用ダミーファイバが接続されており、測定用ダミーファイバの端部と被測定用光ファイバの端部とを突き合わせ、ＯＴＤＲ測定器が測定光パルスを被測定用光ファイバに向けて出力することにより、被測定用光ファイバの伝送ロスを検出する。

ここで、測定用ダミーファイバと被測定用光ファイバとの突き合わせ位置のずれ（測定用ダミーファイバの軸ズレともいう）が発生した場合、正しい伝送ロスを測定できない場合がある。そのため、例えば、特許文献１には、測定用ダミーファイバの軸ズレが発生した場合に、再測定要と判定する機能を有した光ファイバ測定装置の技術が開示されている。

特開２０１３−１６４３９８号公報

測定用ダミーファイバが１心の場合、同一ファイバを２回測定したことや、１回も測定しなかったことを検知することは、例えば測定用ダミーファイバと被測定用光ファイバとの接続ロスや被測定用光ファイバのロスを解析することにより可能である。しかしながら、近年、光ケーブルの多心化が進んでおり、短時間で測定するために、測定用ダミーファイバを複数本にして測定することがある。この場合、例えば３番心を測定する設定において誤って４番心を測定するような、測定用ダミーファイバの軸ズレが発生しても、測定用ダミーファイバは違う番手の被測定用光ファイバに突き合わされているため、作業者はこの軸ズレの発生を気づかずに測定してしまう場合がある。上記の例で言えば３番心は測定されないことになるが、この３番心がそのまま製品として流通しない工夫が望まれる。

本発明は、上述のような実情に鑑みてなされたもので、測定用ダミーファイバの軸ズレが発生し、未測定の光ファイバが流出するのを防ぐことができる光ファイバ測定装置、光ファイバ測定方法を提供することを目的とする。

本発明の一態様に係る光ファイバ測定装置は、複数心の光ファイバ心線を並べたテープ心線の被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、前記テープ心線の被測定用光ファイバの心数よりも少ない心数で構成され、前記測定器に接続されるとともに、前記被測定用光ファイバの前記光ファイバ心線に１心毎に突き合わされる測定用ダミーファイバとを備えた光ファイバ測定装置であって、前記被測定用光ファイバのうち、測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する光ファイバ心線に対してロスを発生させるロス発生機構を有した。

本発明の一態様に係る光ファイバ測定方法は、複数心の光ファイバ心線を並べたテープ心線の被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、前記テープ心線の被測定用光ファイバの心数よりも少ない心数で構成され、前記測定器に接続されるとともに、前記被測定用光ファイバの前記光ファイバ心線に１心毎に突き合わされる測定用ダミーファイバとを用いた光ファイバ測定方法であって、前記被測定用光ファイバのうち、測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する光ファイバ心線に対してロスを発生させるステップと、前記被測定用光ファイバの伝送特性を測定するステップとを含む。

上記によれば、測定用ダミーファイバの軸ズレが発生し、未測定の光ファイバが流出するのを防ぐことができる。

本発明の一実施形態に係る光ファイバ測定装置の構成図である。 図１の測定補助装置の要部拡大図である。 図２のＶ溝ブロックを説明するための図である。 実施例１のロス発生機構によるロスの発生を説明するための図である。 実施例２のロス発生機構によるロスの発生を説明するための図である。 実施例３のロス発生機構によるロスの発生を説明するための図である。 実施例４のロス発生機構によるロスの発生を説明するための図である。

［本発明の実施形態の説明］
最初に本発明の実施形態の内容を列記して説明する。
本発明の一態様に係る光ファイバ測定装置は、（１）複数心の光ファイバ心線を並べたテープ心線の被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、前記テープ心線の被測定用光ファイバの心数よりも少ない心数で構成され、前記測定器に接続されるとともに、前記被測定用光ファイバの前記光ファイバ心線に１心毎に突き合わされる測定用ダミーファイバとを備えた光ファイバ測定装置であって、前記被測定用光ファイバのうち、測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する光ファイバ心線に対してロスを発生させるロス発生機構を有する。測定用ダミーファイバが違う番手の光ファイバ心線を測定しても、測定器では、この違う番手の光ファイバ心線に対して発生させたロスを検出することができる。このように、測定用ダミーファイバの軸ズレの発生した場合にはロスが発生し、不良と判定されるため、未測定の光ファイバが流出するのを防ぐことができる。

（２）前記ロス発生機構が、前記測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する前記光ファイバ心線を押さえつける押圧部である。押圧部による押さえつけによってファイバのロスは大きくなるので、測定用ダミーファイバの軸ズレの発生を認識できる。
（３）前記ロス発生機構が、前記測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する前記光ファイバ心線を位置ズレさせる心ズレ付与部である。心ズレ付与部による位置ズレによって接続ロスが生じるため、測定用ダミーファイバの軸ズレの発生を認識できる。

本発明の一態様に係る光ファイバ測定方法は、（４）複数心の光ファイバ心線を並べたテープ心線の被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、前記テープ心線の被測定用光ファイバの心数よりも少ない心数で構成され、前記測定器に接続されるとともに、前記被測定用光ファイバの前記光ファイバ心線に１心毎に突き合わされる測定用ダミーファイバとを用いた光ファイバ測定方法であって、前記被測定用光ファイバのうち、測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する光ファイバ心線に対してロスを発生させるステップと、前記被測定用光ファイバの伝送特性を測定するステップとを含む。測定用ダミーファイバが違う番手の光ファイバ心線を測定しても、測定器では、この違う番手の光ファイバ心線に対して発生させたロスを検出することができる。このように、測定用ダミーファイバの軸ズレの発生した場合にはロスが発生し、不良と判定されるため、未測定の光ファイバが流出するのを防ぐことができる。

［本発明の実施形態の詳細］
以下、本発明の実施形態に係る光ファイバ測定装置、光ファイバ測定方法の具体例を、図面を参照しつつ説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る光ファイバ測定装置の構成図である。また、図２は、図１の測定補助装置の要部拡大図であり、図３は、図２のＶ溝ブロックを説明するための図である。

光ファイバ測定装置１は、例えば４台のＯＴＤＲ測定器１１を有している。各ＯＴＤＲ測定器１１は、例えば１２心の被測定用光ファイバ（以下、被測定ファイバと称する）ＯＦの伝送特性を、例えば４心の測定用ダミーファイバ（入射ファイバともいう）ＤＦを用いて測定する。なお、ＯＴＤＲ測定器１１が本発明の測定器に相当する。
被測定ファイバＯＦは、例えば図２に示すような、１２本の光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ１２を平行に並べてテープ心線樹脂で一体化したテープ心線である。各光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ１２は、いずれもコアとクラッドからなるガラスファイバを中心に有し、その外周が着色層を含む被覆層で覆われている。

測定用ダミーファイバＤＦは、被測定ファイバＯＦの心数よりも少ない心数で構成されている。測定用ダミーファイバＤＦは、例えば図２に示すような、４本のダミーファイバ心線ＤＦ１〜ＤＦ４を平行に並べてテープ心線樹脂で一体化したテープ心線である。各ダミーファイバ心線ＤＦ１〜ＤＦ４は、いずれもコアとクラッドからなるガラスファイバを中心に有し、その外周が着色層を含む被覆層で覆われている。

なお、本実施形態では、測定作業の高効率化を図るための一例として、多心のテープ心線を一括測定可能な光ファイバ測定装置について説明する。また、被測定ファイバＯＦや測定用ダミーファイバＤＦの心数は一つの例示であり、測定用ダミーファイバＤＦを例えば単心で構成してもよい。

測定用ダミーファイバＤＦの一端側がＯＴＤＲ測定器１１に接続され、測定用ダミーファイバＤＦの他端側は被測定ファイバＯＦに対向して配置される。
多心を一括測定する場合、被測定ファイバＯＦの伝送特性を効率よく測定するために、光ファイバ測定装置１は、測定補助装置（Ｍｕｌｔｉｐｌｅ Ａｌｉｇｎｍｅｎｔ Ｓｙｓｔｅｍ、以下、ＭＡＳと称する）を有する。

ＯＴＤＲ測定器１１やＭＡＳ１２の動作は、制御装置１３からの信号に基づいて制御される。制御装置１３は、例えば複数個のＣＰＵ等からなり、例えばＲＯＭに格納されている各種のプログラムやデータをＲＡＭにロードし、このロードしたＲＡＭ内のプログラムを実行する。これにより、ＭＡＳ１２を作動するとともに、ＯＴＤＲ測定器１１で被測定ファイバＯＦの伝送特性を測定し、被測定ファイバＯＦの良否を判定できる。

詳しくは、制御装置１３には、伝送特性を測定するためのソフトウェアがインストールされており、制御装置１３がＯＴＤＲ測定器１１に制御信号１５を送信すると、ＯＴＤＲ測定器１１は測定光パルスを被測定ファイバＯＦに出力する。ＯＴＤＲ測定器１１は、被測定ファイバＯＦの光パワーなどを測定することにより、被測定ファイバＯＦの損失分布やロス値、欠陥位置等を求めることができる。制御装置１３は、ＯＴＤＲ測定器１１の測定データ１６を受信し、その測定データ１６を解析して被測定ファイバＯＦの良否を判定する。

また、制御装置１３がＭＡＳ１２に制御信号１７を送信すると、図２で説明するＭＡＳ１２の可動ヘッド２０が作動し、測定用ダミーファイバＤＦのダミーファイバ心線ＤＦ１〜ＤＦ４が、被測定ファイバＯＦの光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ１２のうち今回の測定される４本の光ファイバ心線に接続部Ｐで突き合わされる。

図２に示すように、ＭＡＳ１２は可動ヘッド２０やステージ２４を備えている。可動ヘッド２０はダミーホルダ２１やガイドレール２２を有し、ガイドレール２２は、被測定ファイバＯＦの光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ１２の配置方向（図示の幅方向）に沿って延びている。ダミーホルダ２１は、測定用ダミーファイバＤＦを保持することができ、また、ガイドレール２２に対してスライド自在に支持されている。このため、ダミーホルダ２１は、図１で説明した制御装置１３からの信号に基づいてガイドレール２２に沿って図示の幅方向に移動できる。

また、ダミーホルダ２１は、ガイドレール２２に対して直交する方向（図示の長手方向）にも移動可能に構成されており、制御装置１３からの信号に基づいてダミーファイバＤＦを被測定ファイバＯＦに近づける、あるいは被測定ファイバＯＦから遠ざけることができる。
ステージ２４は、ガイドレール２２に対向して設置され、被測定テープホルダ２３を搭載している。被測定テープホルダ２３は被測定ファイバＯＦを保持することができる。また、ステージ２４の前方には、Ｖ溝ブロック１４が設置されている。

Ｖ溝ブロック１４は、図３に示すように、例えば１２本のＶ溝Ｖ１〜Ｖ１２を有している。Ｖ溝Ｖ１〜Ｖ１２は、いずれも同じ形状であり、図示の長手方向に沿って延び、図示の幅方向に沿って略等間隔に形成されている。また、Ｖ溝Ｖ１〜Ｖ１２は略同じ高さに設けられている。

ここで、１２心の被測定ファイバＯＦの伝送特性が、光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、光ファイバ心線ＯＦ５〜ＯＦ８、光ファイバ心線ＯＦ９〜ＯＦ１２の順に測定される場合を想定する。また、今回の測定対象が、中央に位置した光ファイバ心線ＯＦ５〜ＯＦ８である場合を想定すると、図２で説明したダミーホルダ２１は、まずＶ溝ブロック１４から後退し、測定用ダミーファイバＤＦのダミーファイバ心線ＤＦ１〜ＤＦ４をＶ溝Ｖ１〜Ｖ４から抜く。次に、ダミーホルダ２１はＶ溝Ｖ１〜Ｖ４の前からＶ溝Ｖ５〜Ｖ８の前にスライドする。

続いて、ダミーホルダ２１がＶ溝ブロック１４に向けて前進すると、図３に示すように、ダミーファイバ心線ＤＦ１がＶ溝Ｖ５〜Ｖ８に入る。これにより、ダミーファイバ心線ＤＦ１の端部が、Ｖ溝Ｖ５で被測定ファイバＯＦの光ファイバ心線ＯＦ５の端部に、ダミーファイバ心線ＤＦ２の端部が、Ｖ溝Ｖ６で光ファイバ心線ＯＦ６の端部に、ダミーファイバ心線ＤＦ３の端部が、Ｖ溝Ｖ７で光ファイバ心線ＯＦ７の端部に、ダミーファイバ心線ＤＦ４の端部が、Ｖ溝Ｖ８で光ファイバ心線ＯＦ８の端部にそれぞれ突き合わされる。

図４は、実施例１のロス発生機構によるロスの発生を説明するための図である。なお、図４では、ロス発生機構を明確に示すために、図３で説明したＶ溝ブロック１４やダミーファイバ心線ＤＦの図示を省略している。
本実施形態の光ファイバ測定装置は、例えば板状の押圧部３１を有したロス発生機構３０を備えている。図３で説明した例のように今回の測定対象が光ファイバ心線ＯＦ５〜ＯＦ８である場合、押圧部３１は、今回の測定対象以外の光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２を押圧している。

より具体的には、図４に示すように、板状の押圧部３１を傾斜するように立たせ、押圧部３１の角部分で光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２を下方に押さえつけている。
このように、押圧部３１の角部分で光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２の長手方向の一箇所を押さえつけて局所的な曲げ力を与えれば、これら光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２にはファイバのロス（マクロベンドロス）が発生する。そして、図１に示したＯＴＤＲ測定器１１が、今回の測定対象である光ファイバ心線ＯＦ５〜ＯＦ８ではなく、光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２に発生したマクロベンドロスを検出した場合、作業者は測定用ダミーファイバＤＦの軸ズレの発生を容易に気づくことができ、未測定の光ファイバが流出するのを防ぐことができる。

なお、図４の例では、今回の測定対象となる光ファイバ心線ＯＦ５〜ＯＦ８以外の総ての光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２を押圧する例を挙げて説明した。しかし、通常は２本以上位置ズレすることは無いので、本発明は、今回の測定対象となる光ファイバ心線ＯＦ５〜ＯＦ８の光ファイバ群の少なくとも隣りに位置する光ファイバ心線ＯＦ４，ＯＦ９を押圧するだけでも足りる。

より詳しく軸ズレした場合について説明すると、今回の測定対象が光ファイバ心線ＯＦ５〜ＯＦ８である場合に、測定用ダミーファイバＤＦのダミーファイバ心線ＤＦ１〜ＤＦ４が、今回の測定対象以外の光ファイバ心線ＯＦ６〜ＯＦ８を含む、光ファイバ心線ＯＦ６〜ＯＦ９にそれぞれ突き合わされることがある。この原因には、図２で説明したダミーホルダ２１のスライド位置のずれや、ダミーファイバ心線の撓み等が考えられる。

この場合、ダミーファイバ心線ＤＦ４に接続されたＯＴＤＲ測定器１１では、光ファイバ心線ＯＦ８とは違う番手の光ファイバ心線ＯＦ９の伝送特性を測定することになるが、その場合、この光ファイバ心線ＯＦ９に発生させたロスを検出することになる。よって、作業者は、今回の測定には測定用ダミーファイバＤＦの軸ズレが発生していることを容易に気づくことができる。この例で言えば光ファイバ心線ＯＦ５は測定されないことになるものの、この軸ズレを気づいた場合には今回の測定をやり直せば、この光ファイバ心線ＯＦ５がそのまま製品として流出するのを防ぐことができる。

図５は、実施例２のロス発生機構によるロスの発生を説明するための図である。なお、図５でも図３で説明したＶ溝ブロック１４やダミーファイバ心線ＤＦの図示を省略する。
本実施形態のロス発生機構３０は、実施例１と同様に、板状の押圧部３１を有しているが、板状の押圧部３１を横に寝かせ、この押圧部３１の平面部分で今回の測定対象以外の光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２を下方に押さえつけている。

このように、押圧部３１の平面部分で光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２の複数箇所を押さえつけ、各光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２に広範囲に亘る曲げ力（側圧ともいう）を与えれば、これら光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２にはファイバのロス（マイクロベンドロス）が発生する。よって、図１に示したＯＴＤＲ測定器１１が、光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２に発生させたマイクロベンドロスを検出すれば、作業者は測定用ダミーファイバＤＦの軸ズレの発生を容易に気づくことができる。

図６は、実施例３のロス発生機構によるロスの発生を説明するための図である。なお、図６でもロス発生機構を明確に示すために、図３で説明したＶ溝ブロック１４やダミーファイバ心線ＤＦの図示を省略している。
本実施形態のロス発生機構３０は心ズレ付与部３２を有している。心ズレ付与部３２は、例えば櫛型に形成され、櫛歯部分を下方に向けてＶ溝ブロックの上方に配置される。そして、心ズレ付与部３２は、今回の測定対象以外の光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２を下方、つまり、Ｖ溝の底に向けて押し下げている。なお、図６では、４本の櫛歯部分を一体化した例を示しているが、一体化せずに別々に構成してもよい。

このように、光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２を押し下げて測定用ダミーファイバＤＦとの位置ズレを生じさせれば、これら光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２には接続ロスが発生する。よって、図１に示したＯＴＤＲ測定器１１が、光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２と測定用ダミーファイバＤＦとの間に生じた接続ロスを検出した場合、作業者は測定用ダミーファイバＤＦの軸ズレの発生を容易に気づくことができる。

図７は、実施例４のロス発生機構によるロスの発生を説明するための図である。なお、図７でも図３で説明したＶ溝ブロック１４やダミーファイバ心線ＤＦの図示を省略する。
本実施形態のロス発生機構３０は、実施例３と同様に、櫛型の心ズレ付与部３２を有しているが、心ズレ付与部３２は、櫛歯部分を上方に向けてＶ溝ブロックの下方に配置される。Ｖ溝ブロックには、例えば、櫛歯部分を挿入可能な貫通孔（図示省略）が形成されており、心ズレ付与部３２は、今回の測定対象以外の光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２を上方、つまり、Ｖ溝の開口に向けて押し上げている。

このように、光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２を押し上げて測定用ダミーファイバＤＦとの位置ズレを生じさせれば、これら光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２には接続ロスが発生する。よって、図１に示したＯＴＤＲ測定器１１が、光ファイバ心線ＯＦ１〜ＯＦ４、ＯＦ９〜ＯＦ１２と測定用ダミーファイバＤＦとの間に生じた接続ロスを検出した場合、作業者は測定用ダミーファイバＤＦの軸ズレの発生を容易に気づくことができる。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した意味ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

１…光ファイバ測定装置、１１…ＯＴＤＲ測定器、１２…測定補助装置、１３…制御装置、１４…Ｖ溝ブロック、１５，１７…制御信号、１６…測定データ、２０…可動ヘッド、２１…ダミーホルダ、２２…ガイドレール、２３…被測定テープホルダ、２４…ステージ、３０…ロス発生機構、３１…押圧部、３２…心ズレ付与部、ＯＦ…被測定用光ファイバ、ＯＦ１〜ＯＦ１２…光ファイバ心線、ＤＦ…測定用ダミーファイバ、ＤＦ１〜ＤＦ４…ダミーファイバ心線、Ｐ…接続部、Ｖ１〜Ｖ１２…Ｖ溝。

Claims (4)

1. 複数心の光ファイバ心線を並べたテープ心線の被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、前記テープ心線の被測定用光ファイバの心数よりも少ない心数で構成され、前記測定器に接続されるとともに、前記被測定用光ファイバの前記光ファイバ心線に１心毎に突き合わされる測定用ダミーファイバとを備えた光ファイバ測定装置であって、
   前記被測定用光ファイバのうち、測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する光ファイバ心線に対してロスを発生させるロス発生機構を有した、光ファイバ測定装置。
2. 前記ロス発生機構が、前記測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する前記光ファイバ心線を押さえつける押圧部である、請求項１に記載の光ファイバ測定装置。
3. 前記ロス発生機構が、前記測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する前記光ファイバ心線を位置ズレさせる心ズレ付与部である、請求項１に記載の光ファイバ測定装置。
4. 複数心の光ファイバ心線を並べたテープ心線の被測定用光ファイバの伝送特性を測定する測定器と、前記テープ心線の被測定用光ファイバの心数よりも少ない心数で構成され、前記測定器に接続されるとともに、前記被測定用光ファイバの前記光ファイバ心線に１心毎に突き合わされる測定用ダミーファイバとを用いた光ファイバ測定方法であって、
   前記被測定用光ファイバのうち、測定対象となる光ファイバ心線群の少なくとも隣りに位置する光ファイバ心線に対してロスを発生させるステップと、前記被測定用光ファイバの伝送特性を測定するステップとを含む、光ファイバ測定方法。
   

Images