JP2012225701A - 形状測定装置 - Google Patents
形状測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012225701A JP2012225701A JP2011091736A JP2011091736A JP2012225701A JP 2012225701 A JP2012225701 A JP 2012225701A JP 2011091736 A JP2011091736 A JP 2011091736A JP 2011091736 A JP2011091736 A JP 2011091736A JP 2012225701 A JP2012225701 A JP 2012225701A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- imaging
- lens
- workpiece
- unit
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 135
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 34
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 48
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 30
- 230000006870 function Effects 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/03—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring coordinates of points
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
Abstract
【課題】測定範囲および測定精度を調整・変更可能なプローブを備えた形状測定装置を提供する。
【解決手段】ワークに直線状の光を照射する光照射部と、光照射部から照射された光のワークからの反射光を撮像する撮像部30と、を備えたプローブによりワークの表面を非接触に走査して、ワークの表面形状を測定する形状測定装置において、撮像部30は、ワークの画像を撮像する撮像素子31と、ワークからの反射光を撮像素子31の撮像面に結像させる結像レンズ32と、結像レンズ32を交換可能とするマウント部33と、を備える。
【選択図】図4
【解決手段】ワークに直線状の光を照射する光照射部と、光照射部から照射された光のワークからの反射光を撮像する撮像部30と、を備えたプローブによりワークの表面を非接触に走査して、ワークの表面形状を測定する形状測定装置において、撮像部30は、ワークの画像を撮像する撮像素子31と、ワークからの反射光を撮像素子31の撮像面に結像させる結像レンズ32と、結像レンズ32を交換可能とするマウント部33と、を備える。
【選択図】図4
Description
本発明は、形状測定装置に関する。
従来、プローブによってワークの表面を非接触に走査して、ワークの表面形状を測定する形状測定装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
プローブは、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などの撮像素子、結像レンズ、ラインレーザ等を備えて構成されたものであって、シャインプルーフの原理を利用して測定を行っている。
シャインプルーフの原理とは、図10に示すように、撮像素子の撮像面、結像レンズの主点を含む主平面、及びワークに照射されるラインレーザの照射面をそれぞれ延長した面が、一点で交わるように配置されている場合、撮像素子の撮像面上全体が合焦状態となるというものである。
プローブは、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などの撮像素子、結像レンズ、ラインレーザ等を備えて構成されたものであって、シャインプルーフの原理を利用して測定を行っている。
シャインプルーフの原理とは、図10に示すように、撮像素子の撮像面、結像レンズの主点を含む主平面、及びワークに照射されるラインレーザの照射面をそれぞれ延長した面が、一点で交わるように配置されている場合、撮像素子の撮像面上全体が合焦状態となるというものである。
こうしたシャインプルーフの原理を利用したプローブでは、測定精度(分解能)と測定範囲とがトレードオフの関係にある。即ち、ラインレーザの照射面上にあるワークを撮像素子で測定する場合、使用する結像レンズの光学倍率によりその撮像範囲が決定される。
このため、図11に示すように、広い範囲を測定する場合には、低倍率の結像レンズが用いられ、狭い範囲を高精度で測定する場合には、高倍率の結像レンズが用いられる。
このため、図11に示すように、広い範囲を測定する場合には、低倍率の結像レンズが用いられ、狭い範囲を高精度で測定する場合には、高倍率の結像レンズが用いられる。
ところで、従来、上記したようなプローブにおいては、ラインレーザや結像レンズは製造過程で当該プローブに固定され、一旦固定されると変更することはできない構成であった。このため、プローブの測定精度と測定範囲とは、固定された結像レンズの光学倍率と撮像素子の大きさにより、一義的に決定されることとなっていた。
そのため、測定を行いたいワークのサイズに合せて、適切な測定範囲(あるいは測定精度)を有するプローブに取り替える必要が生じ、測定範囲(測定精度)の仕様が異なるプローブを複数種類用意する必要があった。
このように、所望の測定範囲(測定精度)が異なるだけで複数種類のプローブを用意することは、膨大なコストが発生すると共に付け替えを行うたびにアライメント作業等を行う必要があり、設置工数の増大につながっていた。
そのため、測定を行いたいワークのサイズに合せて、適切な測定範囲(あるいは測定精度)を有するプローブに取り替える必要が生じ、測定範囲(測定精度)の仕様が異なるプローブを複数種類用意する必要があった。
このように、所望の測定範囲(測定精度)が異なるだけで複数種類のプローブを用意することは、膨大なコストが発生すると共に付け替えを行うたびにアライメント作業等を行う必要があり、設置工数の増大につながっていた。
本発明の課題は、測定範囲および測定精度を調整・変更可能なプローブを備えた形状測定装置を提供することである。
上記課題を解決するために、
請求項1に記載の発明は、
ワークに直線状の光を照射する光照射部と、前記光照射部から照射された光のワークからの反射光を撮像する撮像部と、を備えたプローブによりワークの表面を非接触に走査して、ワークの表面形状を測定する形状測定装置において、
前記撮像部は、
ワークの画像を撮像する撮像素子と、
ワークからの反射光を前記撮像素子の撮像面に結像させる結像レンズと、
前記結像レンズを交換可能とするレンズ交換手段と、
を備えることを特徴とする。
請求項1に記載の発明は、
ワークに直線状の光を照射する光照射部と、前記光照射部から照射された光のワークからの反射光を撮像する撮像部と、を備えたプローブによりワークの表面を非接触に走査して、ワークの表面形状を測定する形状測定装置において、
前記撮像部は、
ワークの画像を撮像する撮像素子と、
ワークからの反射光を前記撮像素子の撮像面に結像させる結像レンズと、
前記結像レンズを交換可能とするレンズ交換手段と、
を備えることを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の形状測定装置において、
前記レンズ交換手段は、
前記結像レンズを着脱可能に支持するマウント部を備えることを特徴とする。
前記レンズ交換手段は、
前記結像レンズを着脱可能に支持するマウント部を備えることを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の形状測定装置において、
前記レンズ交換手段は、
中心部を軸として回転可能で、且つ、前記中心部から等距離の位置にレンズ中心を有する複数種類の前記結像レンズが配された円形状レンズユニットを備えることを特徴とする。
前記レンズ交換手段は、
中心部を軸として回転可能で、且つ、前記中心部から等距離の位置にレンズ中心を有する複数種類の前記結像レンズが配された円形状レンズユニットを備えることを特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項1に記載の形状測定装置において、
前記レンズ交換手段は、
前記撮像素子に対してスライド可能で、且つ、複数種類の前記結像レンズが直線状に配された直線状レンズユニットを備えることを特徴とする。
前記レンズ交換手段は、
前記撮像素子に対してスライド可能で、且つ、複数種類の前記結像レンズが直線状に配された直線状レンズユニットを備えることを特徴とする。
本発明によれば、結像レンズを交換可能とするレンズ交換手段が備えられるため、測定範囲や測定精度を調整・変更したい場合、容易に所望の光学倍率の結像レンズに交換することができる。
このため、測定範囲や測定精度の仕様が異なるプローブを複数種類用意する必要がなく、コストが低減される。また、プローブの付け替え作業等を行う必要がないため、設置工数の低減を図ることができる。また、従来までの高速スキャンを維持できる。
よって、使い勝手を向上させることができる。
このため、測定範囲や測定精度の仕様が異なるプローブを複数種類用意する必要がなく、コストが低減される。また、プローブの付け替え作業等を行う必要がないため、設置工数の低減を図ることができる。また、従来までの高速スキャンを維持できる。
よって、使い勝手を向上させることができる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。ただし、発明の範囲は、図示例に限定されない。
[第1実施形態]
先ず、構成について説明する。
本実施形態の形状測定装置100は、図1に示すように、制御装置101と、操作部102と、ホストシステム103と、装置本体部104と、を備えて構成されている。
先ず、構成について説明する。
本実施形態の形状測定装置100は、図1に示すように、制御装置101と、操作部102と、ホストシステム103と、装置本体部104と、を備えて構成されている。
制御装置101は、装置本体部104を駆動制御すると共に、装置本体部104から必要な測定座標値等を取り込む。
操作部102は、ユーザが、制御装置101を介して装置本体部104を手動操作するのに使用される。
ホストシステム103は、各種画面を表示する表示部103aと、ユーザからの操作指令の入力とを行う操作部103bと、用紙に印刷を行うためのプリンタ部と等を備えて構成される。
表示部103aは、例えば、LCD(Liquid Crystal Display)により構成され、操作部103bからの操作信号に従って、画面上に各種設定画面や、各機能の動作状況等の表示を行う。操作部103bは、例えば、各種キーを有するキーボードにより構成され、手指等による操作に応じて操作信号を制御装置101に出力する。
また、ホストシステム103は、制御装置101での測定手順を指示するパートプログラムを編集・実行すると共に、制御装置101を介して取り込まれた測定座標値等に幾何形状を当てはめるための計算を行ったり、パートプログラムを記録・送信する機能を備えている。
表示部103aは、例えば、LCD(Liquid Crystal Display)により構成され、操作部103bからの操作信号に従って、画面上に各種設定画面や、各機能の動作状況等の表示を行う。操作部103bは、例えば、各種キーを有するキーボードにより構成され、手指等による操作に応じて操作信号を制御装置101に出力する。
また、ホストシステム103は、制御装置101での測定手順を指示するパートプログラムを編集・実行すると共に、制御装置101を介して取り込まれた測定座標値等に幾何形状を当てはめるための計算を行ったり、パートプログラムを記録・送信する機能を備えている。
装置本体部104は、除振台上に載置された定盤を有し、当該定盤上をXYZ方向に駆動する光学プローブP等を備えている。
光学プローブPは、ワークの表面を非接触に走査してワークの表面形状を測定する。
光学プローブPは、シャインプルーフの原理を利用して測定を行うものであり、撮像部30の撮像素子31(後述)の撮像面上全体が合焦状態となっている。
光学プローブPは、図2に示すように、筐体1内に、制御部10と、光照射部20と、撮像部30と、等を備えて構成されている。
光学プローブPは、シャインプルーフの原理を利用して測定を行うものであり、撮像部30の撮像素子31(後述)の撮像面上全体が合焦状態となっている。
光学プローブPは、図2に示すように、筐体1内に、制御部10と、光照射部20と、撮像部30と、等を備えて構成されている。
制御部10は、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)(何れも図示省略)等を備えて構成され、光照射部20及び撮像部30の動作の統括制御を行っている。例えば、制御部10は、光照射部20からの照射光の光量を調整したり、撮像部30からの出力信号を用いてワークの形状を算出する等の制御を行っている。
光照射部20は、光源、コリメータレンズ、ロッドレンズ(何れも図示省略)等を備えて構成され、ワークに対して直線状の光を照射する。
具体的に、光源から出射された所定波長のレーザ光は、コリメータレンズにより平行光となり、ロッドレンズにより直線状の光に変換された後、ワークに直線状の光として照射される。なお、ロッドレンズの代わりにシリンドリカルレンズを用いることも可能である。
そして、光照射部20からワークに直線状のレーザ光を照射すると、ワークの表面の凹凸形状に沿ってレーザ光の反射光が変形し、ワークをある平面で切断したときの輪郭が照らし出されることとなる。
具体的に、光源から出射された所定波長のレーザ光は、コリメータレンズにより平行光となり、ロッドレンズにより直線状の光に変換された後、ワークに直線状の光として照射される。なお、ロッドレンズの代わりにシリンドリカルレンズを用いることも可能である。
そして、光照射部20からワークに直線状のレーザ光を照射すると、ワークの表面の凹凸形状に沿ってレーザ光の反射光が変形し、ワークをある平面で切断したときの輪郭が照らし出されることとなる。
撮像部30は、光照射部20からワークに対して照射された光の照射方向に対して、所定の角度を成す方向に配置され、ワーク表面の形状に沿って反射された光を当該所定の角度から受光する。
撮像部30は、図3(a)に示すように、所定の角度でワークを撮像するので、図3(b)に示すように、ワークの表面形状に沿ったレーザ光の反射光の画像が撮像されることとなる。
撮像部30は、図3(a)に示すように、所定の角度でワークを撮像するので、図3(b)に示すように、ワークの表面形状に沿ったレーザ光の反射光の画像が撮像されることとなる。
具体的に、撮像部30は、図4に示すように、撮像素子31と、結像レンズ32と、マウント部33と、等を備えて構成されている。
なお、図4は、撮像素子31と結像レンズ32との光学的な位置関係を示したものであって、図4における破線が撮像素子31の撮像面を示し、一点鎖線が結像レンズ32の主点を含む主平面を示している。また、二点鎖線は、ワークに照射される光照射部20の照射面を示している。
なお、図4は、撮像素子31と結像レンズ32との光学的な位置関係を示したものであって、図4における破線が撮像素子31の撮像面を示し、一点鎖線が結像レンズ32の主点を含む主平面を示している。また、二点鎖線は、ワークに照射される光照射部20の照射面を示している。
撮像素子31は、結像レンズ32を介してワークの画像を撮像するイメージセンサ(図示省略)を備えている。
イメージセンサは、例えば、直交する2方向にそれぞれ1024個、1280個の行列状のCMOS受光素子を有して構成されている。
イメージセンサは、1つ乃至複数の行(または列)に配置されている受光素子のみを同時に受光させ、この行単位(または列単位)の受光を列方向(または行方向)に順次行う、いわゆるローリングシャッター機能を有している。
イメージセンサは、例えば、直交する2方向にそれぞれ1024個、1280個の行列状のCMOS受光素子を有して構成されている。
イメージセンサは、1つ乃至複数の行(または列)に配置されている受光素子のみを同時に受光させ、この行単位(または列単位)の受光を列方向(または行方向)に順次行う、いわゆるローリングシャッター機能を有している。
結像レンズ32は、ワークからの反射光を撮像素子31の撮像面に結像させる。
結像レンズ32としては、例えば、標準レンズ、広角レンズ、マクロレンズ等を用いることができる。光学プローブPにおいては、低倍率の結像レンズ32を用いるほど広い範囲が測定され、高倍率の結像レンズ32を用いるほど狭い範囲が測定される。
この結像レンズ32は、マウント部33に着脱可能に支持されている。
結像レンズ32としては、例えば、標準レンズ、広角レンズ、マクロレンズ等を用いることができる。光学プローブPにおいては、低倍率の結像レンズ32を用いるほど広い範囲が測定され、高倍率の結像レンズ32を用いるほど狭い範囲が測定される。
この結像レンズ32は、マウント部33に着脱可能に支持されている。
マウント部33は、光学プローブPの所定箇所に設置され、結像レンズ32を着脱可能に支持している。
具体的に、マウント部33と結像レンズ32の縁部との何れか一方には溝が形成され、他方には当該溝に嵌合する突部が形成され、上記溝に上記突部を嵌合させることで結像レンズ32をマウント部33に装着し、上記突部を上記溝から離脱させることで結像レンズ32をマウント部33から取り外すことができるようになっている。
このため、図5に示すように、撮像部30に搭載されている結像レンズ32を、他の光学倍率を有する結像レンズ32Aや結像レンズ32Bに交換することが可能であって、これにより光学プローブPの測定範囲や測定精度が調整・変更できるようになっている。
このように、マウント部33は、結像レンズ32を交換可能とするレンズ交換手段として機能している。
具体的に、マウント部33と結像レンズ32の縁部との何れか一方には溝が形成され、他方には当該溝に嵌合する突部が形成され、上記溝に上記突部を嵌合させることで結像レンズ32をマウント部33に装着し、上記突部を上記溝から離脱させることで結像レンズ32をマウント部33から取り外すことができるようになっている。
このため、図5に示すように、撮像部30に搭載されている結像レンズ32を、他の光学倍率を有する結像レンズ32Aや結像レンズ32Bに交換することが可能であって、これにより光学プローブPの測定範囲や測定精度が調整・変更できるようになっている。
このように、マウント部33は、結像レンズ32を交換可能とするレンズ交換手段として機能している。
なお、マウント部33は、結像レンズ32を光学プローブPから着脱可能に支持するものであれば良く、その構成は上記に限定されない。
また、マウント部33ごと光学プローブPから取り外し可能な構成としても良い。即ち、マウント部33と結像レンズ32とが固着されており、結像レンズ32を交換する場合には、マウント部33ごと光学プローブPから取り外し、異なる光学倍率を有する結像レンズ32Aや結像レンズ32Bを備えたマウント部33を光学プローブPに取り付ける。
また、マウント部33ごと光学プローブPから取り外し可能な構成としても良い。即ち、マウント部33と結像レンズ32とが固着されており、結像レンズ32を交換する場合には、マウント部33ごと光学プローブPから取り外し、異なる光学倍率を有する結像レンズ32Aや結像レンズ32Bを備えたマウント部33を光学プローブPに取り付ける。
次に、作用について説明する。
本実施形態では、結像レンズ32は、マウント部33に着脱可能に支持されている。
結像レンズ32がマウント部33から着脱可能であるため、光学プローブPの測定範囲や測定精度を調整・変更したい場合には、光学プローブPから取り外し、他の光学倍率を有する結像レンズ32Aや32Bを当該光学プローブPに取り付けることができる。
即ち、所望の測定範囲や測定精度に応じて、結像レンズ32を付け替えることができる。
本実施形態では、結像レンズ32は、マウント部33に着脱可能に支持されている。
結像レンズ32がマウント部33から着脱可能であるため、光学プローブPの測定範囲や測定精度を調整・変更したい場合には、光学プローブPから取り外し、他の光学倍率を有する結像レンズ32Aや32Bを当該光学プローブPに取り付けることができる。
即ち、所望の測定範囲や測定精度に応じて、結像レンズ32を付け替えることができる。
以上のように、本実施形態によれば、結像レンズ32を交換可能とするレンズ交換手段として、結像レンズ32を着脱可能に支持するマウント部33を備えるため、測定範囲や測定精度を調整・変更したい場合、容易に所望の光学倍率の結像レンズ32に交換することができる。
このため、測定範囲や測定精度の仕様が異なる光学プローブPを複数種類用意する必要がなく、コストが低減される。また、光学プローブPの付け替え作業等を行う必要がないため、設置工数の低減を図ることができる。また、従来までの高速スキャンを維持できる。
よって、使い勝手を向上させることができる。
このため、測定範囲や測定精度の仕様が異なる光学プローブPを複数種類用意する必要がなく、コストが低減される。また、光学プローブPの付け替え作業等を行う必要がないため、設置工数の低減を図ることができる。また、従来までの高速スキャンを維持できる。
よって、使い勝手を向上させることができる。
[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態について、第1実施形態と異なる点を中心に説明する。
なお、上記第1実施形態と同様の構成については、同一の符号を付してその説明を省略する。
次に、本発明の第2実施形態について、第1実施形態と異なる点を中心に説明する。
なお、上記第1実施形態と同様の構成については、同一の符号を付してその説明を省略する。
本実施形態における撮像部40は、図6に示すように、撮像素子41と、円形状レンズユニット42と、等を備えている。
撮像素子41は、上記第1実施形態の撮像素子31と同様の構成である。
円形状レンズユニット42は、図6、7に示すように、円形状の保持部材421と、保持部材421に搭載された4つの結像レンズ422a〜422dと、を備えている。
保持部材421は、その中央に中心部423を備えている。中心部423の周囲には、中心部423を中心として4つの開口(図示省略)が形成され、かかる開口に4つの結像レンズ422a〜422dが嵌め込まれている。
結像レンズ422a〜422dは、互いに光学倍率の異なる結像レンズである。
結像レンズ422a〜422dは、そのレンズ中心P1〜P4が、保持部材421の中心部423から等距離の位置となるように配されている。
結像レンズ422a〜422dは、そのレンズ中心P1〜P4が、保持部材421の中心部423から等距離の位置となるように配されている。
このような円形状レンズユニット42は、その一領域Sが撮像素子41に対向するよう配置されており、結像レンズ422a〜422dのうち、領域Sに位置する結像レンズにより測定が行われる。
そして、円形状レンズユニット42は、中心部423を軸として回転可能となっており、円形状レンズユニット42を回転させることで領域Sに位置する結像レンズを交換することができるようになっている。
従って、領域Sに低倍率の結像レンズが位置するほど広い範囲が測定され、領域Sに高倍率の結像レンズが位置するほど狭い範囲が測定されることとなる。
このように、本実施形態の撮像部40は、円形状レンズユニット42を備えることにより、必要に応じて結像レンズの光学倍率(測定領域)を変更することができるようになっている。
なお、円形状レンズユニット42の回転は、ユーザが手動で行っても良いし、ホストシステム103の操作部103bを用いてユーザが測定精度を指示した場合に、これに応じて行われることとしても良い。
円形状レンズユニット42は、結像レンズ422a〜422dを交換可能とするレンズ交換手段として機能している。
そして、円形状レンズユニット42は、中心部423を軸として回転可能となっており、円形状レンズユニット42を回転させることで領域Sに位置する結像レンズを交換することができるようになっている。
従って、領域Sに低倍率の結像レンズが位置するほど広い範囲が測定され、領域Sに高倍率の結像レンズが位置するほど狭い範囲が測定されることとなる。
このように、本実施形態の撮像部40は、円形状レンズユニット42を備えることにより、必要に応じて結像レンズの光学倍率(測定領域)を変更することができるようになっている。
なお、円形状レンズユニット42の回転は、ユーザが手動で行っても良いし、ホストシステム103の操作部103bを用いてユーザが測定精度を指示した場合に、これに応じて行われることとしても良い。
円形状レンズユニット42は、結像レンズ422a〜422dを交換可能とするレンズ交換手段として機能している。
以上のように、本実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果を得られるのは勿論のこと、レンズ交換手段として、中心部423を軸として回転可能で、且つ、中心部423から等距離の位置にレンズ中心P1〜P4を有する複数種類の結像レンズ422a〜422dが配された円形状レンズユニット42を備えるため、複数の結像レンズ422a〜422dを一体に搭載した装置構成とすることができ、より使い勝手が良い。
なお、本実施形態においては、4つの結像レンズ422a〜422dが搭載された円形状レンズユニット42を例示して説明したが、結像レンズの数に制限はない。
また、必ずしも4つの結像レンズ全てが異なる倍率でなくとも良く、例えば、4つの結像レンズのうち、2つが同一倍率の結像レンズで、他の2つが異なる倍率の結像レンズとしても良い。
また、必ずしも4つの結像レンズ全てが異なる倍率でなくとも良く、例えば、4つの結像レンズのうち、2つが同一倍率の結像レンズで、他の2つが異なる倍率の結像レンズとしても良い。
また、ワーク形状に応じて、何れの結像レンズ422a〜422dを用いるかを(即ち、測定精度及び測定範囲)を自動決定する機能を搭載することとしても良い。この場合、例えば、予め読み込まれたCADデータによりワークの起伏等を認識し、測定精度及び測定範囲が決定される。
[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態について、第1実施形態と異なる点を中心に説明する。
なお、上記第1実施形態と同様の構成については、同一の符号を付してその説明を省略する。
次に、本発明の第3実施形態について、第1実施形態と異なる点を中心に説明する。
なお、上記第1実施形態と同様の構成については、同一の符号を付してその説明を省略する。
本実施形態における撮像部50は、図8に示すように、撮像素子51と、直線状レンズユニット52と、等を備えている。
撮像素子51は、上記第1実施形態の撮像素子31と同様の構成である。
直線状レンズユニット52は、図8、9に示すように、長尺な保持部材511と、保持部材511に搭載された3つの結像レンズ522a〜522cと、を備えている。
保持部材511には、3つの開口(図示省略)が形成され、かかる開口に3つの結像レンズ522a〜522cが嵌め込まれている。
結像レンズ522a〜522cは、互いに光学倍率の異なる結像レンズであって、保持部材511に直線状に配されている。
直線状レンズユニット52は、その一領域S1が撮像素子51に対向するよう配置され、結像レンズ522a〜522cのうち、領域S1に位置する結像レンズにより測定が行われる。
そして、直線状レンズユニット52は、撮像素子51に対してスライド可能となっており、直線状レンズユニット52をスライドさせることで領域S1に位置する結像レンズを交換することができるようになっている。
従って、領域S1に低倍率の結像レンズが位置するほど広い範囲が測定され、領域Sに高倍率の結像レンズが位置するほど狭い範囲が測定されることとなる。
このように、撮像部50は、直線状レンズユニット52を備えることにより、必要に応じて結像レンズの光学倍率(測定領域)を変更することができるようになっている。
直線状レンズユニット52は、結像レンズ522a〜522cを交換可能とするレンズ交換手段として機能している。
そして、直線状レンズユニット52は、撮像素子51に対してスライド可能となっており、直線状レンズユニット52をスライドさせることで領域S1に位置する結像レンズを交換することができるようになっている。
従って、領域S1に低倍率の結像レンズが位置するほど広い範囲が測定され、領域Sに高倍率の結像レンズが位置するほど狭い範囲が測定されることとなる。
このように、撮像部50は、直線状レンズユニット52を備えることにより、必要に応じて結像レンズの光学倍率(測定領域)を変更することができるようになっている。
直線状レンズユニット52は、結像レンズ522a〜522cを交換可能とするレンズ交換手段として機能している。
以上のように、本実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果を得られるのは勿論のこと、レンズ交換手段として、撮像素子51に対してスライド可能で、且つ、複数種類の結像レンズ522a〜522cが直線状に配された直線状レンズユニット52を備えるため、複数の結像レンズ522a〜522cを一体に搭載した装置構成とすることができ、より使い勝手が良い。
なお、本実施形態においては、3つの結像レンズ522a〜522cが搭載された直線状レンズユニット52を例示して説明したが、結像レンズの数に制限はない。
また、必ずしも3つの結像レンズ全てが異なる倍率でなくとも良く、例えば、3つの結像レンズのうち、2つを同一倍率の結像レンズとしても良い。
また、必ずしも3つの結像レンズ全てが異なる倍率でなくとも良く、例えば、3つの結像レンズのうち、2つを同一倍率の結像レンズとしても良い。
また、ワーク形状に応じて、何れの結像レンズ522a〜522cを用いるかを(即ち、測定精度及び測定範囲)を自動決定する機能を搭載することとしても良い。この場合、例えば、予め読み込まれたCADデータによりワークの起伏等を認識し、測定精度及び測定範囲が決定される。
100 形状測定装置
101 制御装置
102 操作部
103 ホストシステム
103a 表示部
103b 操作部
104 装置本体部
P 光学プローブ
1 筐体
10 制御部
20 光照射部
30 撮像部
31 撮像素子
32、32A、32B 結像レンズ
33 マウント部(レンズ交換手段)
40 撮像部
41 撮像素子
42 円形状レンズユニット(レンズ交換手段)
421 保持部材
423 中心部
422a〜422d 結像レンズ
P1〜P4 レンズ中心
50 撮像部
51 撮像素子
52 直線状レンズユニット(レンズ交換手段)
511 保持部材
522a〜522c 結像レンズ
101 制御装置
102 操作部
103 ホストシステム
103a 表示部
103b 操作部
104 装置本体部
P 光学プローブ
1 筐体
10 制御部
20 光照射部
30 撮像部
31 撮像素子
32、32A、32B 結像レンズ
33 マウント部(レンズ交換手段)
40 撮像部
41 撮像素子
42 円形状レンズユニット(レンズ交換手段)
421 保持部材
423 中心部
422a〜422d 結像レンズ
P1〜P4 レンズ中心
50 撮像部
51 撮像素子
52 直線状レンズユニット(レンズ交換手段)
511 保持部材
522a〜522c 結像レンズ
Claims (4)
- ワークに直線状の光を照射する光照射部と、前記光照射部から照射された光のワークからの反射光を撮像する撮像部と、を備えたプローブによりワークの表面を非接触に走査して、ワークの表面形状を測定する形状測定装置において、
前記撮像部は、
ワークの画像を撮像する撮像素子と、
ワークからの反射光を前記撮像素子の撮像面に結像させる結像レンズと、
前記結像レンズを交換可能とするレンズ交換手段と、
を備えることを特徴とする形状測定装置。 - 前記レンズ交換手段は、
前記結像レンズを着脱可能に支持するマウント部を備えることを特徴とする請求項1に記載の形状測定装置。 - 前記レンズ交換手段は、
中心部を軸として回転可能で、且つ、前記中心部から等距離の位置にレンズ中心を有する複数種類の前記結像レンズが配された円形状レンズユニットを備えることを特徴とする請求項1に記載の形状測定装置。 - 前記レンズ交換手段は、
前記撮像素子に対してスライド可能で、且つ、複数種類の前記結像レンズが直線状に配された直線状レンズユニットを備えることを特徴とする請求項1に記載の形状測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011091736A JP2012225701A (ja) | 2011-04-18 | 2011-04-18 | 形状測定装置 |
US13/425,762 US20120262724A1 (en) | 2011-04-18 | 2012-03-21 | Shape measurement device |
EP12002236A EP2515070A1 (en) | 2011-04-18 | 2012-03-28 | Shape measurement device |
CN2012101130060A CN102749040A (zh) | 2011-04-18 | 2012-04-17 | 形状测量设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011091736A JP2012225701A (ja) | 2011-04-18 | 2011-04-18 | 形状測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012225701A true JP2012225701A (ja) | 2012-11-15 |
Family
ID=45939095
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011091736A Pending JP2012225701A (ja) | 2011-04-18 | 2011-04-18 | 形状測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120262724A1 (ja) |
EP (1) | EP2515070A1 (ja) |
JP (1) | JP2012225701A (ja) |
CN (1) | CN102749040A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20140114300A (ko) * | 2013-03-18 | 2014-09-26 | 가부시키가이샤 미쓰토요 | 형상 측정 장치 |
JP2015044212A (ja) * | 2013-08-28 | 2015-03-12 | オムロン株式会社 | レーザ加工装置 |
JP2015148569A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | 株式会社ミツトヨ | 光学式プローブ、取付カバー、および形状測定装置 |
JP2015148570A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | 株式会社ミツトヨ | 光学式プローブ、取付カバー、および形状測定装置 |
WO2019130379A1 (ja) | 2017-12-25 | 2019-07-04 | 株式会社ニコン | 加工システム、測定プローブ、形状測定装置、及びプログラム |
WO2019130381A1 (ja) | 2017-12-25 | 2019-07-04 | 株式会社ニコン | 加工システム、測定プローブ、形状測定装置、及びプログラム |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9726572B2 (en) * | 2012-07-31 | 2017-08-08 | Essilor International (Compagnie Generale D'optique | Method and system for identification of a given geometrical feature of an optical component |
CN103100712A (zh) * | 2013-01-23 | 2013-05-15 | 西安铂力特激光成形技术有限公司 | 多工位平场聚焦透镜更换装置 |
JP6128902B2 (ja) | 2013-03-08 | 2017-05-17 | 株式会社ミツトヨ | 形状測定装置 |
US9584730B2 (en) * | 2014-02-03 | 2017-02-28 | Cognex Corporation | Apparatus, systems, and methods for a multi-position image sensor |
CN105785394A (zh) * | 2016-05-31 | 2016-07-20 | 山东船舶技术研究院 | 一种线激光非扫描汽车防撞雷达 |
CN107422335A (zh) * | 2017-06-26 | 2017-12-01 | 苏州优函信息科技有限公司 | 线光源地形探测沙姆激光雷达 |
CN109186488A (zh) * | 2018-09-12 | 2019-01-11 | 西安米索软件有限公司 | 一种线型轮廓检测软件 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS642466A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Image input device |
JP2002131606A (ja) * | 2000-10-27 | 2002-05-09 | Minolta Co Ltd | レンズの取付け装置 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3302948C2 (de) * | 1983-01-29 | 1985-01-10 | Wolfgang 3400 Göttingen Brunk | Meßgerät zur berührungslosen optischen Abstandsmessung |
US5298989A (en) * | 1990-03-12 | 1994-03-29 | Fujitsu Limited | Method of and apparatus for multi-image inspection of bonding wire |
US5576894A (en) * | 1993-10-21 | 1996-11-19 | Minolta Co., Ltd. | Zoom lens barrel based on the vari-focal optical system |
JP4111592B2 (ja) * | 1998-06-18 | 2008-07-02 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 3次元入力装置 |
SG73563A1 (en) * | 1998-11-30 | 2000-06-20 | Rahmonic Resources Pte Ltd | Apparatus and method to measure three-dimensional data |
JP2005266083A (ja) * | 2004-03-17 | 2005-09-29 | Olympus Corp | 観察装置及び観察方法 |
WO2005096074A1 (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Kabushiki Kaisha Topcon | 治具装着装置 |
JP2006098252A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Brother Ind Ltd | 3次元情報取得方法 |
JP2007121738A (ja) * | 2005-10-28 | 2007-05-17 | Tamron Co Ltd | 位置検出装置およびこれを備えたレンズ鏡筒 |
WO2007125081A1 (en) | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Metris N.V. | Optical scanning probe |
JP2008002995A (ja) * | 2006-06-23 | 2008-01-10 | Konica Minolta Sensing Inc | 三次元形状測定装置 |
JP5072337B2 (ja) * | 2006-12-07 | 2012-11-14 | 株式会社キーエンス | 光学式変位センサ及びその調整方法 |
DE102007000981B4 (de) * | 2007-02-22 | 2020-07-30 | Vistec Semiconductor Systems Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Vermessen von Strukturen auf einer Maske und zur Berechnung der aus den Strukturen resultierenden Strukturen in einem Photoresist |
JP4880756B2 (ja) * | 2007-07-31 | 2012-02-22 | パナソニック株式会社 | カメラシステムおよびカメラ本体 |
CN101802705B (zh) * | 2007-10-15 | 2013-06-26 | 松下电器产业株式会社 | 相机本体和摄影装置 |
ATE494529T1 (de) * | 2008-07-04 | 2011-01-15 | Sick Ivp Ab | Kalibrierung eines profilmesssystems |
JP5337419B2 (ja) * | 2008-07-11 | 2013-11-06 | アンリツ株式会社 | 変位測定装置、それを用いたシール部材形状測定装置及びそれらに用いられる変位検出装置 |
JP5433301B2 (ja) * | 2008-08-28 | 2014-03-05 | パナソニック株式会社 | レンズ鏡筒および撮像装置 |
US8049979B2 (en) * | 2008-09-08 | 2011-11-01 | Panasonic Corporation | Lens barrel and imaging device |
-
2011
- 2011-04-18 JP JP2011091736A patent/JP2012225701A/ja active Pending
-
2012
- 2012-03-21 US US13/425,762 patent/US20120262724A1/en not_active Abandoned
- 2012-03-28 EP EP12002236A patent/EP2515070A1/en not_active Withdrawn
- 2012-04-17 CN CN2012101130060A patent/CN102749040A/zh active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS642466A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Image input device |
JP2002131606A (ja) * | 2000-10-27 | 2002-05-09 | Minolta Co Ltd | レンズの取付け装置 |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20140114300A (ko) * | 2013-03-18 | 2014-09-26 | 가부시키가이샤 미쓰토요 | 형상 측정 장치 |
JP2014181912A (ja) * | 2013-03-18 | 2014-09-29 | Mitsutoyo Corp | 形状測定装置 |
US9702688B2 (en) | 2013-03-18 | 2017-07-11 | Mitutoyo Corporation | Shape measuring apparatus |
KR102106389B1 (ko) * | 2013-03-18 | 2020-05-04 | 가부시키가이샤 미쓰토요 | 형상 측정 장치 |
JP2015044212A (ja) * | 2013-08-28 | 2015-03-12 | オムロン株式会社 | レーザ加工装置 |
JP2015148569A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | 株式会社ミツトヨ | 光学式プローブ、取付カバー、および形状測定装置 |
JP2015148570A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | 株式会社ミツトヨ | 光学式プローブ、取付カバー、および形状測定装置 |
WO2019130379A1 (ja) | 2017-12-25 | 2019-07-04 | 株式会社ニコン | 加工システム、測定プローブ、形状測定装置、及びプログラム |
WO2019130381A1 (ja) | 2017-12-25 | 2019-07-04 | 株式会社ニコン | 加工システム、測定プローブ、形状測定装置、及びプログラム |
CN111629862A (zh) * | 2017-12-25 | 2020-09-04 | 株式会社尼康 | 加工系统、测定探针、形状测定装置及程序 |
US11766757B2 (en) | 2017-12-25 | 2023-09-26 | Nikon Corporation | Processing system, measuring probe, shape measuring device, and program |
US11989887B2 (en) | 2017-12-25 | 2024-05-21 | Nikon Corporation | Processing system, measuring probe, shape measuring device, and program |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102749040A (zh) | 2012-10-24 |
US20120262724A1 (en) | 2012-10-18 |
EP2515070A1 (en) | 2012-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2012225701A (ja) | 形状測定装置 | |
JP2012225700A (ja) | 形状測定装置 | |
JP6128902B2 (ja) | 形状測定装置 | |
CN110044293B (zh) | 一种三维重构系统及三维重构方法 | |
JPH1183438A (ja) | 光学式測定装置の位置校正方法 | |
EP2138803B1 (en) | Jig for measuring an object shape and method for measuring a three-dimensional shape | |
EP2068113A1 (en) | Calibrating method of image measuring instrument | |
KR20160068675A (ko) | 프로브 장치 및 프로브 방법 | |
US20160033753A1 (en) | Image acquiring apparatus | |
JP2014163690A (ja) | 形状測定装置 | |
JP2007305696A (ja) | 位置決め装置の精度測定方法 | |
JP4791568B2 (ja) | 3次元測定装置 | |
JP2007017276A (ja) | 刃先の検査方法および検査装置 | |
JP4191201B2 (ja) | 三次元形状測定装置 | |
EP2693167A2 (en) | Optical device and method for measuring microscopic structures | |
JP5662223B2 (ja) | 形状測定装置 | |
JP6590429B1 (ja) | 共焦点顕微鏡、及びその撮像方法 | |
JP2016001131A (ja) | 計測装置 | |
US20090033894A1 (en) | Method for determining the systematic error in the measurement of positions of edges of structures on a substrate resulting from the substrate topology | |
JP2005172610A (ja) | 3次元測定装置 | |
WO2013051147A1 (ja) | 画像取得装置の調整方法、画像取得装置および画像取得装置の製造方法 | |
JP2014056078A (ja) | 画像取得装置、画像取得システム及び顕微鏡装置 | |
KR101590814B1 (ko) | 미소렌즈 배열의 구성방법 및 이를 이용하여 성능이 향상된 파면측정기 | |
JP3414181B2 (ja) | 光ビーム測定装置 | |
JP2001147720A (ja) | 位置決め装置、および位置決め方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140304 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20141106 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141118 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20150324 |