JP2012216697A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012216697A5 JP2012216697A5 JP2011081467A JP2011081467A JP2012216697A5 JP 2012216697 A5 JP2012216697 A5 JP 2012216697A5 JP 2011081467 A JP2011081467 A JP 2011081467A JP 2011081467 A JP2011081467 A JP 2011081467A JP 2012216697 A5 JP2012216697 A5 JP 2012216697A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement data
- item
- value
- data
- lower limit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Claims (5)
- 基板を処理する基板処理装置から送信される測定データを蓄積する測定データ蓄積手段と、
予め定められた測定範囲において、前記測定データ蓄積手段に蓄積された測定データのうち判定対象である前記測定データの項目、前記項目に対応する測定データの判定基準となる基準データ、及び該基準データについて上下限値を設定する設定手段と、
前記設定手段により設定された項目に対応する測定データの値が、前記設定手段により設定された前記基準データについての上下限値から外れた回数を計数する計数手段と、
前記計数手段により計数された計数値が、予め定められた値を超えた場合に前記判定対象とした測定データについて異常と判定する判定手段と
を有する管理装置。 - 前記設定手段で設定された項目に対応する測定データ、該測定データの判定基準である基準データ、及び該基準データについての上下限値と、前記計数手段により計数された計数値とを関連付けて蓄積する関連蓄積手段と、
前記関連蓄積手段により蓄積された計数値について、前記基板処理装置による処理毎の計数値を表示する表示手段と
を有する請求項1記載の管理装置。 - 前記表示手段は、さらに、表示した前記基板処理装置による処理毎の計数値のうち指定された少なくとも1つの計数値について、前記関連蓄積手段により該計数値に関連付けられている少なくとも測定データを表示する
請求項2記載の管理装置。 - 基板を処理する基板処理装置から送信される測定データを蓄積し、予め定められた測定範囲における前記測定データの項目、前記測定データの項目に対応する測定データの判定基準である基準データ、及び前記基準データについての上下限値をそれぞれ設定し、蓄積された測定データのうち前記項目の測定データの値が、前記基準データの上下限値から外れた回数を計数し、計数された計数値が、予め定められた値を超えた場合に計数対象とした前記測定データについて異常と判定するデータ解析方法。
- 基板を処理する基板処理装置から送信される測定データを蓄積する蓄積手段を備えた管理装置で実行されるプログラムを記録した記録媒体であって、
予め定められた測定範囲における前記測定データの項目、前記測定データの項目に対応する測定データの判定基準である基準データ、及び前記基準データについて上下限値を設定する工程と、
前記測定データのうち前記項目の測定データの値が、前記基準データの上下限値から外れた回数を計数する工程と、
計数された計数値が、予め定められた値を超えた場合に、計数対象とした測定データについて異常と判定する工程と、
を有するプログラムをコンピュータに読み取り可能に記録した記録媒体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011081467A JP5855841B2 (ja) | 2011-04-01 | 2011-04-01 | 管理装置 |
US13/433,713 US9581996B2 (en) | 2011-04-01 | 2012-03-29 | Apparatus, method, and computer-readable medium for managing abnormality data measured in the substrate manufacturing process |
TW101111352A TWI511075B (zh) | 2011-04-01 | 2012-03-30 | 管理裝置、基板處理系統、資料分析方法以及電腦可讀取記錄媒體 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011081467A JP5855841B2 (ja) | 2011-04-01 | 2011-04-01 | 管理装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012216697A JP2012216697A (ja) | 2012-11-08 |
JP2012216697A5 true JP2012216697A5 (ja) | 2014-04-24 |
JP5855841B2 JP5855841B2 (ja) | 2016-02-09 |
Family
ID=46928368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011081467A Active JP5855841B2 (ja) | 2011-04-01 | 2011-04-01 | 管理装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9581996B2 (ja) |
JP (1) | JP5855841B2 (ja) |
TW (1) | TWI511075B (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8620939B2 (en) * | 2010-01-25 | 2013-12-31 | Sepaton, Inc. | System and method for summarizing data |
US20150253762A1 (en) * | 2012-09-26 | 2015-09-10 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Integrated management system, management device, method of displaying information for substrate processing apparatus, and recording medium |
DE102015211941A1 (de) * | 2015-06-26 | 2016-12-29 | Zf Friedrichshafen Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Reduzierung eines Energiebedarfs einer Werkzeugmaschine und Werkzeugmaschinensystem |
CN112652557A (zh) * | 2016-03-29 | 2021-04-13 | 株式会社国际电气 | 处理装置、装置管理控制器、计算机可读的记录介质、半导体器件的制造方法以及显示方法 |
JP6645993B2 (ja) * | 2016-03-29 | 2020-02-14 | 株式会社Kokusai Electric | 処理装置、装置管理コントローラ、及びプログラム並びに半導体装置の製造方法 |
SG11201808283RA (en) | 2016-03-31 | 2018-10-30 | Kokusai Electric Corp | Substrate processing apparatus, device management controller and recording medium |
JP6476370B2 (ja) | 2016-09-26 | 2019-03-06 | 株式会社Kokusai Electric | 記録媒体、プログラム、半導体装置の製造方法および基板処理装置。 |
WO2018061842A1 (ja) * | 2016-09-27 | 2018-04-05 | 東京エレクトロン株式会社 | 異常検知プログラム、異常検知方法および異常検知装置 |
JP6594931B2 (ja) * | 2016-10-31 | 2019-10-23 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、監視プログラム及び半導体装置の製造方法 |
US10860005B2 (en) | 2016-10-31 | 2020-12-08 | Kokusai Electric Corporation | Substrate processing apparatus and non-transitory computer-readable recording medium |
CN106548035B (zh) * | 2016-11-24 | 2019-08-06 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 一种数据异常的诊断方法及装置 |
JP2018206847A (ja) * | 2017-05-31 | 2018-12-27 | 株式会社Kokusai Electric | 半導体装置の製造方法、プログラムおよび基板処理装置 |
JP6625098B2 (ja) | 2017-07-20 | 2019-12-25 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理システム、半導体装置の製造方法およびプログラム |
JP6833048B2 (ja) * | 2017-09-04 | 2021-02-24 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、基板処理装置の異常監視方法、及びプログラム |
JP6613276B2 (ja) * | 2017-09-22 | 2019-11-27 | 株式会社Kokusai Electric | 半導体装置の製造方法、プログラム、記録媒体および基板処理装置 |
JP7074490B2 (ja) * | 2018-02-08 | 2022-05-24 | 株式会社Screenホールディングス | データ処理方法、データ処理装置、データ処理システム、およびデータ処理プログラム |
JP7080065B2 (ja) | 2018-02-08 | 2022-06-03 | 株式会社Screenホールディングス | データ処理方法、データ処理装置、データ処理システム、およびデータ処理プログラム |
JP7075771B2 (ja) * | 2018-02-08 | 2022-05-26 | 株式会社Screenホールディングス | データ処理方法、データ処理装置、データ処理システム、およびデータ処理プログラム |
US11488848B2 (en) | 2018-07-31 | 2022-11-01 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Integrated semiconductor die vessel processing workstations |
WO2020059070A1 (ja) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム |
JP7188950B2 (ja) * | 2018-09-20 | 2022-12-13 | 株式会社Screenホールディングス | データ処理方法およびデータ処理プログラム |
CN113574606B (zh) * | 2019-03-20 | 2024-05-31 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种医疗设备及其数据管理方法 |
JP7229116B2 (ja) | 2019-07-09 | 2023-02-27 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム及びプロセスデータ監視方法 |
JP2021019137A (ja) * | 2019-07-22 | 2021-02-15 | 株式会社ディスコ | 保持装置及び加工装置 |
JP6766235B2 (ja) * | 2019-08-06 | 2020-10-07 | 株式会社Kokusai Electric | 半導体装置の製造方法、基板処理装置およびプログラム |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3578886B2 (ja) | 1997-05-02 | 2004-10-20 | 東京エレクトロン株式会社 | プロセス制御システムとそのプロセスデータ転送制御方法 |
JP2000243678A (ja) * | 1998-12-24 | 2000-09-08 | Toshiba Corp | モニタリング装置とその方法 |
JP2002100547A (ja) | 2000-09-21 | 2002-04-05 | Toshiba Corp | 半導体製造装置の信号データ解析装置及び解析方法 |
US7080294B1 (en) * | 2002-05-10 | 2006-07-18 | Sprint Spectrum L.P. | Threshold crossing alarm system |
US6999836B2 (en) | 2002-08-01 | 2006-02-14 | Applied Materials, Inc. | Method, system, and medium for handling misrepresentative metrology data within an advanced process control system |
US7349746B2 (en) * | 2004-09-10 | 2008-03-25 | Exxonmobil Research And Engineering Company | System and method for abnormal event detection in the operation of continuous industrial processes |
JP2006277298A (ja) | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置、履歴情報記録方法、履歴情報記録プログラム及び履歴情報記録システム |
JP4693464B2 (ja) | 2005-04-05 | 2011-06-01 | 株式会社東芝 | 品質管理システム、品質管理方法及びロット単位のウェハ処理方法 |
WO2007037161A1 (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-05 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | データ記録方法 |
JP2007250748A (ja) | 2006-03-15 | 2007-09-27 | Omron Corp | プロセス異常分析装置および方法並びにプログラム |
-
2011
- 2011-04-01 JP JP2011081467A patent/JP5855841B2/ja active Active
-
2012
- 2012-03-29 US US13/433,713 patent/US9581996B2/en active Active
- 2012-03-30 TW TW101111352A patent/TWI511075B/zh active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2012216697A5 (ja) | ||
JP2011123885A5 (ja) | ||
JP2013114356A5 (ja) | ||
JP2010088576A5 (ja) | ||
JP2013103020A5 (ja) | ||
JP2015057706A5 (ja) | ||
JP2011082246A5 (ja) | ||
JP2018106653A5 (ja) | ||
JP2012168815A5 (ja) | ||
JP2016517565A5 (ja) | ||
JP2013050905A5 (ja) | ||
JP2013179051A5 (ja) | 蓄電池システム、蓄電池システムの状態通知方法およびプログラム | |
JP2011239155A5 (ja) | ||
JP2013041491A5 (ja) | ||
JP2013074301A5 (ja) | ||
JP2016042955A5 (ja) | ||
JP2016007491A5 (ja) | ||
JP2014160414A5 (ja) | ||
JP2011239965A5 (ja) | ||
JP2014232353A5 (ja) | ||
JP2013191032A5 (ja) | 操作解析システム、コンピュータ装置及び管理センタ | |
JP2013135446A5 (ja) | ||
EP2597644A3 (en) | Information processing apparatus, information processing method, and program | |
JP2017117068A5 (ja) | ||
JP2010268355A5 (ja) | 画像形成装置、その制御方法及びプログラム |