JP2012215595A - 分光器 - Google Patents
分光器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012215595A JP2012215595A JP2012179850A JP2012179850A JP2012215595A JP 2012215595 A JP2012215595 A JP 2012215595A JP 2012179850 A JP2012179850 A JP 2012179850A JP 2012179850 A JP2012179850 A JP 2012179850A JP 2012215595 A JP2012215595 A JP 2012215595A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- beam deflector
- prism
- wavelength
- incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 112
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 33
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 29
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 34
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 7
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910020215 Pb(Mg1/3Nb2/3)O3PbTiO3 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910007709 ZnTe Inorganic materials 0.000 claims description 3
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052950 sphalerite Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 claims 1
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 91
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 74
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 43
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 28
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 230000023077 detection of light stimulus Effects 0.000 description 5
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000002609 medium Substances 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/14—Generating the spectrum; Monochromators using refracting elements, e.g. prisms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0237—Adjustable, e.g. focussing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/06—Scanning arrangements arrangements for order-selection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
- G01J3/36—Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/06—Scanning arrangements arrangements for order-selection
- G01J2003/064—Use of other elements for scan, e.g. mirror, fixed grating
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】 本発明に係る分光器は、電気光学効果を有する電気光学結晶、および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と、前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と、該分光手段で分光された出射光の中から、任意の波長の光を選択する波長選択手段とを備える。
【選択図】 図4
Description
本発明では、従来に比べて応答速度が速く、さらに小型化を図ることが可能な分光器を実現することを目的としている。このような目的を達成するために、本発明の一実施形態では、電気光学効果を有する電気光学結晶を用いた、入射された光を偏向して出射可能なビーム偏向器を、分光手段としてのプリズムや回折格子の、分光の際の光の進行方向の上流側に配置している。図4は、このような形態を有する分光器の構成を示す図である。
ここで、プリズムの材料について、上述したBK7ガラスと、F2ガラスと、SF10ガラスとを比較しながら説明する。入射光の中心波長550nmのときの最小偏角条件と、波長700nmと波長400nmの間の屈折角の差を求めると表1のようになる。このように、屈折角に差が生じるのは、プリズムの材料により屈折率の波長依存性が異なるからである。波長700nmと波長400nmの間の屈折率の差も合わせて表1に示す。
図8に、本発明の、応答速度を速くし、小型化を実現するための第2の実施形態にかかる分光器を示す。分光器40は、入射光の偏向を制御する偏向板41と、電気光学効果を有する結晶からなるビーム偏向器42と、分光手段としての回折格子43と、波長選択手段としてのスリット板44と、光検出器45とを備えている。分光手段として、上述の第1の実施形態のプリズムに代えて、回折格子を利用した形態である。
本実施形態では、分光手段(分光媒質)としてプリズムを用いた場合に、電気光学効果を有する電気光学結晶を備えるビーム偏向器から出射される光の偏向角を大きくすることなく高分解能を得ることが可能であり、かつ所定の分解能を得るための上記ビーム偏向器への印加電圧の低減が実現可能な分光器について説明する。
θ1<θ2
の条件を満たすように、第1の電圧印加状態と第2の電圧印加状態との出射位置のシフトを制御する。なお、このとき、θ2は、θ1<θ2を満たしながら極力大きいことが望ましい。
θ1<θ2
の条件を満たすように、ビーム偏向器12からの出射位置から、プリズム13の出射位置までの光路長に応じて、第1の電圧印加状態および第2の電圧印加状態を設定する。
本実施例では、プリズム13としてBK7ガラスを用い、プリズムの頂角60°とした。また、ビーム偏向器12に用いるKTN結晶21の長さを5mm、厚さを0.5mm、屈折率を2.2、s11を1.0×10-14m2/V2とした。また、入射位置143から頂角131までの距離を10mm、出射位置140からスリット板14までの距離を130mmとした。本実施例において、検出したい波長帯域を400nm〜700nmとした。
P2=P1+L(Sinθ3−Cosθ3・Tan(θ3−φ))
式(1)
で表される。ここで、θ3は、ビーム偏向器12から出射された光の、入射位置143でのプリズム13への入射角(プリズム13への入射光の光軸方向と入射面142とのなす角)である。
F1=P1Cosβ+P1Tan(β−Sin-1(1/n・Sinθ3))Sinβ
式(2)
であり、同様に、頂角131から出射位置141までの距離をF2とすると、
F2=P2Cosβ+P2Tan(β−Sin-1(1/n・Sin(θ3−φ)))Sinβ
式(3)
で表せる。
本実施形態では、分光手段(分光媒質)として回折格子を用いた場合に、電気光学効果を有する電気光学結晶を備えるビーム偏向器から出射される光の偏向角を大きくすることなく高分解能を得ることが可能であり、かつ所定の分解能を得るための上記ビーム偏向器への印加電圧の低減が実現可能な分光器について説明する。
θ1’<θ2’
の条件を満たすように、ビーム偏向器42からの出射位置から、回折格子43の出射位置までの光路長に応じて、第3の電圧印加状態および第4の電圧印加状態を設定する。なお、このとき、θ2’は、θ1’<θ2’を満たしながら極力大きいことが望ましい。
本実施形態では、応答速度の高速化、および小型化の実現に加えて、高分解能測定および広帯域測定を一回の測定で同時に実現することを目的としている。
本実施形態では、応答速度の高速化、および小型化の実現に加えて、分光器の高感度化を実現することを目的としている。
本実施形態では、応答速度の高速化、および小型化の実現に加えて、簡便で高分解能な分光器を実現することを目的としている。
Claims (10)
- 電気光学効果を有する電気光学結晶、該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対、および断面が楕円形状の光を入射するための手段を含むビーム偏向器と、
前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と、
前記分光手段で分光された出射光の中から、任意の波長の光を選択する波長選択手段と
を備え、
前記断面が楕円形状の光は、該楕円の長軸方向と前記電気光学結晶の幅の方向とが一致するように前記電気光学結晶に入射されることを特徴とする分光器。 - 電気光学効果を有する電気光学結晶、および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と、
入力された光を2つの異なる方向に出力する出力手段と、
前記ビーム偏向器からの出射光を分光する、第1のプリズムと、該第1のプリズムよりも屈折率分散が大きい第2のプリズムとからなる分光手段と、
前記分光手段で分光された出射光の中から、任意の波長の光を選択する波長選択手段と
を備える分光器であって、
前記出力手段によって2つの異なる方向に出力された光はそれぞれ、第1のプリズムおよび第2のプリズムに入射されることを特徴とする分光器。 - 前記出力手段は、前記ビーム偏向器と前記第1および第2のプリズムとの間に配置されており、
前記出力手段は、前記ビーム偏向器から出射された光を前記2つの異なる方向に出力することを特徴とする請求項2に記載の分光器。 - 前記出力手段は、前記ビーム偏向器の前段に配置され、
前記2つの異なる方向に出力された光はそれぞれ、前記ビーム偏向器の異なる領域に入射して、前記第1および第2のプリズムに入射することを特徴とする請求項2に記載の分光器。 - 前記ビーム偏向器は、第1のビーム偏向器と第2のビーム偏向器を含み、
前記出力手段は、前記第1および第2のビーム偏向器の前段に配置され、
前記2つの異なる方向に出力された光はそれぞれ、前記第1のビーム偏向器および第2のビーム偏向器に入射して、前記第1および第2のプリズムに入射することを特徴とする請求項2に記載の分光器。 - 前記波長選択手段は、前記第1のプリズムの後段に配置された第1の波長選択手段と、前記第2のプリズムの後段に配置された第2の波長選択手段とを含み、
前記第2の波長選択手段は移動可能であることを特徴とする請求項2に記載の分光器。 - 電気光学効果を有する電気光学結晶、該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と、
前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と、
前記分光手段で分光された出射光の中から、任意の波長の光を選択する波長選択手段と
を備え
前記ビーム偏向器の入射端および出射端の少なくとも一方は、前記電極対の第1の電極が配置された第1の面から、前記電極対の第2の電極が配置され、前記第1の面と対向する第2の面に向って徐々に厚さが薄くなるようなくさび型の端面であることを特徴とする分光器。 - 電気光学効果を有する電気光学結晶、該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と、
前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と、
前記分光手段で分光された出射光の中から、任意の波長の光を選択する波長選択手段と
を備え、
前記ビーム偏向器と前記分光手段とは同一の電気光学結晶からなり、
前記電気光学結晶の入射端および出射端の少なくとも一方は、前記電極対の第1の電極が配置された第1の面から、前記電極対の第2の電極が配置され、前記第1の面と対向する第2の面に向って徐々に厚さが薄くなるようなくさび型の端面であることを特徴とする分光器。 - 前記波長選択手段は、スリット板であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の分光器。
- 前記電気光学結晶は、KTaO3、KTa1-xNbxO3、K1-yLiyTa1-xNbxO3(0<x<1、0<y<1)、LiNbO3、LiTaO3、LiIO3、KNbO3、KTiOPO4、BaTiO3、SrTiO3、Ba1-xSrxTiO3(0<x<1)、Ba1-xSrxNb2O6(0<x<1)、Sr0.75Ba0.25Nb2O6、Pb1-yLayTi1-xZrxO3(0<x<1、0<y<1)、Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3、KH2PO4、KD2PO4、(NH4)H2PO4、BaB2O4、LiB3O5、CsLiB6O10、GaAs、CdTe、GaP、ZnS、ZnSe、ZnTe、CdS、CdSe、およびZnOのいずれか1つであることを特徴とする請求項1乃至9のいずれかに記載の分光器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012179850A JP2012215595A (ja) | 2007-07-31 | 2012-08-14 | 分光器 |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007199741 | 2007-07-31 | ||
JP2007199741 | 2007-07-31 | ||
JP2008165624 | 2008-06-25 | ||
JP2008165624 | 2008-06-25 | ||
JP2012179850A JP2012215595A (ja) | 2007-07-31 | 2012-08-14 | 分光器 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009525425A Division JPWO2009017142A1 (ja) | 2007-07-31 | 2008-07-30 | 分光器 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013150643A Division JP5649246B2 (ja) | 2007-07-31 | 2013-07-19 | 分光器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012215595A true JP2012215595A (ja) | 2012-11-08 |
Family
ID=40304372
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009525425A Pending JPWO2009017142A1 (ja) | 2007-07-31 | 2008-07-30 | 分光器 |
JP2012179850A Pending JP2012215595A (ja) | 2007-07-31 | 2012-08-14 | 分光器 |
JP2013150643A Active JP5649246B2 (ja) | 2007-07-31 | 2013-07-19 | 分光器 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009525425A Pending JPWO2009017142A1 (ja) | 2007-07-31 | 2008-07-30 | 分光器 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013150643A Active JP5649246B2 (ja) | 2007-07-31 | 2013-07-19 | 分光器 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8274653B2 (ja) |
EP (3) | EP2402726B1 (ja) |
JP (3) | JPWO2009017142A1 (ja) |
CN (1) | CN101688808B (ja) |
WO (1) | WO2009017142A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014134499A (ja) * | 2013-01-11 | 2014-07-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光干渉断層装置 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8284809B2 (en) * | 2009-03-23 | 2012-10-09 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Laser bandwidth interlock capable of single pulse detection and rejection |
CN101887201B (zh) * | 2010-06-29 | 2013-06-05 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 波长选择装置 |
JP2012163395A (ja) * | 2011-02-04 | 2012-08-30 | Ricoh Co Ltd | 分光装置 |
CN102692734B (zh) * | 2012-06-07 | 2014-07-16 | 山东省科学院新材料研究所 | 一种基于ktn晶体二次电光效应的激光偏转调制方法 |
CN103048118A (zh) * | 2012-08-24 | 2013-04-17 | 王艳文 | 一种快速定位三棱镜最小偏向角的方法 |
CN103969719A (zh) * | 2014-04-11 | 2014-08-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种三棱镜板和显示装置 |
CN105466888B (zh) * | 2015-12-31 | 2018-05-18 | 哈尔滨工业大学 | 一种外加电场条件下测量液体折射率的装置 |
CN105572073B (zh) * | 2015-12-31 | 2018-05-18 | 哈尔滨工业大学 | 一种外加电场条件下测量液体折射率的方法 |
KR102539143B1 (ko) | 2016-09-21 | 2023-06-01 | 삼성전자주식회사 | 분광기 및 분광기 모듈 |
CN111007057A (zh) * | 2019-12-23 | 2020-04-14 | 哈尔滨工业大学(威海) | 通用型重金属单元素检测仪及其应用方法 |
JP7246781B2 (ja) | 2020-07-09 | 2023-03-28 | 深▲せん▼市海譜納米光学科技有限公司 | 波長可変光学フィルタのスペクトル応答速度をテストするためのシステム及び方法 |
WO2022013963A1 (ja) * | 2020-07-15 | 2022-01-20 | 日本電信電話株式会社 | 分光装置、分光測定装置および分光方法 |
CN113551779A (zh) * | 2021-08-11 | 2021-10-26 | 电子科技大学 | 一种用于航空发动机涡轮叶片测温的棱镜六通道系统 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08159867A (ja) * | 1994-12-05 | 1996-06-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 光波形測定装置 |
JP2004286582A (ja) * | 2003-03-20 | 2004-10-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電界検出光学装置およびトランシーバ |
JP2005084029A (ja) * | 2003-09-11 | 2005-03-31 | Olympus Corp | 分光光学装置 |
JP2006138734A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Yokogawa Electric Corp | 光スペクトラムアナライザ |
JP2008040089A (ja) * | 2006-08-04 | 2008-02-21 | Seiko Epson Corp | 電気光学素子及び走査型光学装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3462212A (en) * | 1965-10-18 | 1969-08-19 | Bell Telephone Labor Inc | Polychromatic beam deflection |
US3667038A (en) * | 1970-06-17 | 1972-05-30 | Hewlett Packard Co | Acousto-optic rf spectrum analysis method and apparatus |
JPH09145477A (ja) * | 1995-11-20 | 1997-06-06 | Tokyo Instr:Kk | 分光器 |
JP3349353B2 (ja) * | 1996-07-30 | 2002-11-25 | 三菱重工業株式会社 | レーザを用いた固体粒子成分解析装置 |
US7079241B2 (en) * | 2000-04-06 | 2006-07-18 | Invitrogen Corp. | Spatial positioning of spectrally labeled beads |
JP2000205954A (ja) * | 1999-01-08 | 2000-07-28 | Naba:Kk | 分光装置 |
CN2454767Y (zh) * | 2000-12-19 | 2001-10-17 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 机械扫描式高速光谱采集装置 |
JP2003207394A (ja) * | 2002-01-10 | 2003-07-25 | Yokogawa Electric Corp | 分光測定装置 |
-
2008
- 2008-07-30 CN CN2008800235616A patent/CN101688808B/zh active Active
- 2008-07-30 WO PCT/JP2008/063629 patent/WO2009017142A1/ja active Application Filing
- 2008-07-30 EP EP11183117.8A patent/EP2402726B1/en active Active
- 2008-07-30 EP EP08791860.3A patent/EP2175251B1/en active Active
- 2008-07-30 EP EP11183115.2A patent/EP2402725B1/en active Active
- 2008-07-30 US US12/667,753 patent/US8274653B2/en active Active
- 2008-07-30 JP JP2009525425A patent/JPWO2009017142A1/ja active Pending
-
2012
- 2012-08-14 JP JP2012179850A patent/JP2012215595A/ja active Pending
-
2013
- 2013-07-19 JP JP2013150643A patent/JP5649246B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08159867A (ja) * | 1994-12-05 | 1996-06-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 光波形測定装置 |
JP2004286582A (ja) * | 2003-03-20 | 2004-10-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電界検出光学装置およびトランシーバ |
JP2005084029A (ja) * | 2003-09-11 | 2005-03-31 | Olympus Corp | 分光光学装置 |
JP2006138734A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Yokogawa Electric Corp | 光スペクトラムアナライザ |
JP2008040089A (ja) * | 2006-08-04 | 2008-02-21 | Seiko Epson Corp | 電気光学素子及び走査型光学装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014134499A (ja) * | 2013-01-11 | 2014-07-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光干渉断層装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101688808B (zh) | 2012-01-25 |
EP2175251A1 (en) | 2010-04-14 |
EP2175251A4 (en) | 2010-09-22 |
EP2402725B1 (en) | 2017-09-27 |
EP2402726B1 (en) | 2016-09-07 |
EP2402725A1 (en) | 2012-01-04 |
US8274653B2 (en) | 2012-09-25 |
JPWO2009017142A1 (ja) | 2010-10-21 |
EP2402726A1 (en) | 2012-01-04 |
JP5649246B2 (ja) | 2015-01-07 |
JP2013213838A (ja) | 2013-10-17 |
CN101688808A (zh) | 2010-03-31 |
WO2009017142A1 (ja) | 2009-02-05 |
US20110058166A1 (en) | 2011-03-10 |
EP2175251B1 (en) | 2013-05-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5649246B2 (ja) | 分光器 | |
EP3235782B1 (en) | Voltage-tunable optical filters for instrumentation applications | |
US7231110B2 (en) | Wavelength selector switch | |
US7593158B2 (en) | Method and apparatus for the examination of specimens | |
EP2260349B1 (en) | Controllable light angle selector | |
US10591356B2 (en) | Microscope and acousto-optic beam combiner for a microscope | |
DK2929309T3 (en) | Spectrometer for the analysis of a light-spectrum spectrum | |
JP2005077964A (ja) | 分光装置 | |
JP4659791B2 (ja) | 光波長フィルタ | |
US20070103778A1 (en) | Device for dispersing light pulses of which the spectral amplitude is programmable | |
US9933686B2 (en) | Scanning microscope and acousto-optical main beam splitter for a scanning microscope | |
JP2011248196A (ja) | 光可変フィルタアレイ装置 | |
JPH0763609A (ja) | 光シャッターを有する分光装置 | |
DK2929307T3 (en) | SPECTROMETER FOR ANALYZING A SPECTRUM SPECTRUM | |
JP4340833B2 (ja) | 偏光解消板及び偏光解消板を用いた光学装置 | |
JP5558927B2 (ja) | 分光器 | |
US20120200853A1 (en) | Spectroscopic device | |
Yukhnevich et al. | Influence of refractive indices dispersion on parameters of imaging AOTFs operating with non-polarized light | |
EP4145207A1 (en) | Optical filter device for illuminating a sample | |
WO2017033974A1 (ja) | 自己相関測定装置 | |
EP4145218A1 (en) | Optical filter device | |
JP2003075766A (ja) | 光フィルター装置 | |
SU754221A1 (ru) | Интерференционный фильтр с селективной амплитудной модуляцией1 | |
JP2013113604A (ja) | 分光装置 | |
Paulsen et al. | Electronically tunable narrow-bandpass optical filter for spectral imaging |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120814 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20130329 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20130425 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130522 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20131003 |