JP2003207394A - 分光測定装置 - Google Patents

分光測定装置

Info

Publication number
JP2003207394A
JP2003207394A JP2002002991A JP2002002991A JP2003207394A JP 2003207394 A JP2003207394 A JP 2003207394A JP 2002002991 A JP2002002991 A JP 2002002991A JP 2002002991 A JP2002002991 A JP 2002002991A JP 2003207394 A JP2003207394 A JP 2003207394A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
measured
measurement device
optical
wavelength
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002002991A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Sanpei
義広 三瓶
Makoto Komiyama
誠 小宮山
Kenji Ogino
賢治 荻野
Yasuyuki Suzuki
泰幸 鈴木
Yoriki Okada
頼樹 岡田
Shuhei Okada
修平 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP2002002991A priority Critical patent/JP2003207394A/ja
Priority to US10/327,872 priority patent/US6999169B2/en
Publication of JP2003207394A publication Critical patent/JP2003207394A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 フォトダイオードアレイのピッチに影響され
ることなく、波長分解能の向上を図った分光測定装置を
実現することを目的にする。 【解決手段】 本発明は、被測定光を分光する波長分散
素子と、この波長分散素子によって分光された光を受光
し、光電流を出力する複数のフォトダイオードからなる
フォトダイオードアレイとを有し、フォトダイオードア
レイの出力により、測定を行う分光測定装置において、
被測定光を偏向させ、フォトダイオードアレイで受光さ
れる位置を変える偏向手段を設け、異なる偏向量におけ
る測定結果により、被測定光の特性を測定することを特
徴とするものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フォトダイオード
アレイのピッチに影響されることなく、波長分解能の向
上を図った分光測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ファイバによって光信号を伝送する光
通信方式の一種に、WDM(Wavelength Division Mult
iplexing:波長分割多重)通信がある。このWDM通信
とは、波長の異なる複数の光信号を1本の光ファイバに
よって伝送する通信方式である。また、波長の異なる複
数の光信号のことをWDM信号とも呼ぶ。そして、WD
M信号のそれぞれの光信号は、例えば短波側から1チャ
ネル、2チャネルと数えられることが多い。
【0003】分光測定装置とは、波長分散素子を用いて
被測定光を波長ごとに分光し、任意の波長幅に存在する
光パワーを求め、この求めた光パワーから被測定光の特
性を測定する測定装置である。この分光測定装置は、W
DM信号の測定によく用いられ、入力されたWDM信号
を波長ごとに分光し、求めた光パワーから各チャネルご
との光信号レベルや波長等を求めている。
【0004】図6は、このようなWDM信号を測定する
分光測定装置の一実施例を示す構成図である。図6にお
いて、分光器10はポリクロメータ方式と呼ばれるもの
であり、被測定光であるWDM信号が入力され、任意の
波長幅に存在する光パワーに対応した出力を測定信号と
して出力する。
【0005】分光器10は、光ファイバ11、コリメー
ティングレンズ12、波長分散素子である回折格子1
3、フォーカシングレンズ14、ミラー15、フォトダ
イオードアレイモジュール16(以下PDMと略す)か
ら構成される。
【0006】光ファイバ11は、被測定光100を分光
器10に入射する伝送路である。コリメーティングレン
ズ12は、光ファイバ11の出射口に対向して設置さ
れ、光ファイバ11から出射された被測定光100を平
行光にして出射する。
【0007】回折格子13は、コリメーティングレンズ
12からの出射光を所望の角度に回折するため、コリメ
ーティングレンズ12に対して傾けて設置してある。ま
た、回折格子13は被測定光100を波長ごと異なる角
度に分光して出射する。フォーカシングレンズ14は、
回折格子13からの出射光の光路上に設置され、出射光
を収束させる。ミラー15は、フォーカシングレンズ1
4からの出射光を所望の方向に反射するように設置して
ある。
【0008】PDM16は、ミラー15で反射された被
測定光100が収束する位置に設置される。PDM16
は、短冊状または点状のフォトダイオード(以下PDと
略す)が複数個配列されたPDアレイが設けられてい
る。このPDは、入射した被測定光100の光パワーに
応じた電流(光電流)を発生し、この光電流を分光器1
0の測定信号として出力する。
【0009】また、各PDには、あらかじめ波長が割り
付けられている。波長の割り付けは、被測定光100が
回折格子13によって波長ごとに分光されて、PDアレ
イにて収束する位置と対応している。
【0010】制御部20は、駆動手段21、記憶手段2
2、演算手段23が設けられる。駆動手段21は、PD
M16の各PDとの接続を順番に切り換え、各PDの測
定信号を、例えば短波長側から順番に読み出し、測定信
号を所望の信号に変換して出力する。記憶手段22は、
駆動手段21から出力された信号を順次格納する。演算
手段23は、記憶手段22に格納された信号を読み出
し、この信号に基づき被測定光100の光信号レベルや
波長等を求め、演算結果を出力する。
【0011】図6に示す装置の動作を説明する。被測定
光100は、波長λAと波長λBの異なる波長が多重さ
れているとする。光ファイバ11から出射された被測定
光100は、コリメーティングレンズ12で平行光とな
る。コリメーティングレンズ12を透過した被測定光1
00は、回折格子13に入射し、この回折格子13によ
って、波長λA、λBごとに被測定光100A、100
Bに分光される。回折格子13によって分光された被測
定光100A、100Bは、フォーカシングレンズ1
4、ミラー15によってPDM16のPDアレイに収束
するが、収束する光スポットの位置は被測定光100
A、100Bの波長λA、λBに対応してずれる。ま
た、各PDからは光電流が出力される。このように、分
光器10には機械的な可動部分がなく長期安定性を保ち
動作を行うことができる。
【0012】そして、駆動手段21は、PDM16の各
PDとの接続を順番に切り換え、各PDで生じた光電流
を短波長側のPDから順に読み出し、この読み出した光
電流を電圧に変換する。また、この電圧に変換された信
号はアナログ信号なので、駆動手段21はこのアナログ
信号をデジタル信号に変換し、このデジタル信号を記憶
手段22に各PDから読み出した順に格納する。演算手
段23は、記憶手段22に格納されたデジタル信号と各
PDに割り付けられた波長から、各チャネルの光信号レ
ベル、ピーク波長を求め、これらの演算結果を出力す
る。図示しない出力部は、演算手段23から出力された
演算結果を、例えば表示部の画面に表示したり、図示し
ない外部装置に出力する。
【0013】続いて、演算手段23が各チャネルの光信
号レベル、ピーク波長を求める動作を詳細に説明する。
図7は、図6に示すPDM16のPDが短冊状の場合を
例に取り、PDアレイの一部に、被測定光100Aが照
射されているのを模式的に示した図である。図7におい
て、PD16a〜16eは、回折格子13によって被測
定光100が波長λA、λBごとに分光される方向に沿
って配列される。また各PD16a〜16eには、それ
ぞれ波長λ〜λ(λ<λ<・・・<λ )が割
り付けられている。
【0014】また、PDアレイは、光電流が生ずるPD
16a〜16eが隙間無く配列方向に並んでいるのでは
なく、配列方向には、幅ΔpのPD16a、幅Δqの不
感帯、幅ΔpのPD16b…というように形成されてい
て、1ピッチの幅は、PD16a〜16eごとの幅Δp
と不感帯の幅Δqを加算したものとなる。また、PD1
6a〜16eはそれぞれ幅Δpを有しているが、一般的
にPD16a〜16eの配列方向に対して中心の位置
を、割り付けられた波長λ〜λとそれぞれ対応させ
る。
【0015】またPD16a〜16eの片側または両側
からは図示しない信号線によって光電流が出力される。
【0016】被測定光100Aがレーザ光のような線ス
ペクトルの場合、PDアレイ上に形成される被測定光1
00Aの光スポットは、光パワーがガウシアン分布とな
る楕円状または円形状になる。ここで被測定光100A
の中心はPD16c近傍にあるとする。図8は、記憶手
段22に格納されるPD16a〜16eごとの出力を表
した図である。横軸は、各PD16a〜16eに割り付
けられた波長λ〜λ であり、縦軸はPD16a〜1
6eの出力を相対的に表している。ここで各PD16a
〜16eそれぞれの出力をP〜Pとする。被測定光
100Aの中心はPD16c近傍にあるので、PD16
cの出力Pが他の出力P、P、P 、Pよりも
大きいのは明らかである。また、Δλは、PDアレイの
1ピッチの幅を波長に換算したものである。
【0017】分光器10に入力された線スペクトルに対
する分光器10の応答はガウス分布で近似され、被測定
光100Aのピーク波長λpeakは、式(1)によっ
て表すことができる。 λpeak=λ+δλ (1) ここで、λは光ピークパワーに最も近いPD16cに
割り付けられた波長λであり、δλはピーク波長λ
peakと光ピークパワーに最も近いPD16cに割り
付けられた波長λとの波長差を表している。またδλ
は、図7においてPD16cの中心と被測定光100A
の光スポットの中心との距離δx、被測定光100Aの
光スポットの中心に最も近いPD16cと両隣のPD1
6b、16dとの出力比から式(2)によって表すこと
ができる。
【数1】 ここで、Pは、光ピークパワーに最も近いPD16c
の出力Pに対応し、P −1、P+1は、それぞれ
、Pに対応する。
【0018】そして、被測定光100Aの光信号レベル
sigは、PDアレイ上に広がったスペクトルの積分
あるいは光ピークパワー近傍、例えばピーク近傍3個の
PD16b〜16dの出力値P〜P和から式(3)
に示すように求められる。 Psig=α(δx)・(P−1+P+P+1) (3) ここで、α(δx)は、光スポットの中心とPD16c
の中心との距離を変数とする関数であり、これは、同一
の光信号レベルであっても、光スポットの中心とPD1
6cの中心との距離によって加算値が異なるためであ
り、光スポットの径とPDアレイの1ピッチの幅から求
まる関数である。
【0019】また、演算手段23が、他のチャネルであ
る被測定光100Bの光信号レベル、ピーク波長を求め
る動作も同様なので説明を省略する。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】分光器10の波長分解
能は、PDアレイ上に形成される光スポットの大きさに
依存する。波長分解能をあげるためには、光スポットを
小さく(応答スペクトルをシャープにする)し、PDア
レイの1ピッチ幅、あるいはそれ以下に集中させればよ
い。
【0021】図9は、光スポットをPD16a〜16e
の約1ピッチ幅にし、波長分解能を向上させた場合を例
にとり、PD16a〜16eの出力P〜Pを示した
図である。波長分解能とは、各チャネルを近づけた場合
に、チャネルを識別できる性能を表すものである。図8
と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。
【0022】図9(a)は、被測定光100Aの光ピー
クパワーがPD16cの中心付近にある場合である、図
9(a)において、ピークに最も近いPD16cの両隣
のPD16b、16dで検出できる出力P、Pは極
端に小さくなる。そのため、ノイズの影響を受け易く、
光信号レベル、ピーク波長を精度良く求めることが難し
い。
【0023】また、図9(b)は、被測定光100Aの
光ピークパワーがPD16c、16dの間付近(不感
帯)にある場合である。図9(b)において、光パワー
の大部分が不感帯上、PD16c、16dに集中してし
まうため、PD16bで検出できる出力Pは極端に小
さくなる。そのため、ノイズの影響を受け易く、光信号
レベル、ピーク波長を精度良く求めることが難しい。
【0024】このように、光スポットを小さくし波長分
解能を向上すると、演算に使用するPDの出力が小さく
なり、ノイズの影響を受け易くなる。そのため光信号レ
ベル、ピーク波長を正確に測定することが難しくなる。
ノイズの影響を減少させるには、PDアレイのピッチを
小さくすればよい。しかし、一般的に入手できるPDア
レイは限られており、またPDアレイのピッチを変更す
る等の形状変更は容易ではない。
【0025】そこで本発明の目的は、フォトダイオード
アレイのピッチに影響されることなく、波長分解能の向
上を図った分光測定装置を実現することにある。
【0026】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
被測定光を分光する波長分散素子と、この波長分散素子
によって分光された光を受光し、光電流を出力する複数
のフォトダイオードからなるフォトダイオードアレイと
を有し、フォトダイオードアレイの出力により、測定を
行う分光測定装置において、前記被測定光を偏向させ、
前記フォトダイオードアレイで受光される位置を変える
偏向手段を設け、異なる偏向量における測定結果によ
り、前記被測定光の特性を測定することを特徴とするも
のである。
【0027】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、偏向手段は、フォトダイオードアレイのフ
ォトダイオードの幅と不感帯の幅の1ピッチ以内に偏向
することを特徴とするものである。
【0028】請求項3記載の発明は、請求項1または2
記載の発明において、波長分散素子は、反射型回折格子
またはプリズムの少なくとも一方を有することを特徴と
するものである。
【0029】請求項4記載の発明は、請求項1または2
記載の発明において、波長分散素子は、光ファイバのコ
アの長手方向に設けられた回折格子であることを特徴と
するものである。
【0030】請求項5記載の発明は、請求項1または2
記載の発明において、波長分散素子は、光導波路上に設
けられた回折格子であることを特徴とするものである。
【0031】請求項6記載の発明は、請求項1〜5のい
ずかれに記載の発明において、偏向手段は、電気光学効
果を用いる電気光学偏向器であることを特徴とするもの
である。
【0032】請求項7記載の発明は、請求項4記載の発
明において、偏向手段は、回折格子が設けられている光
ファイバの長手方向に沿って取りつけられ、この光ファ
イバを伸縮させるピエゾ素子であることを特徴とするも
のである。
【0033】請求項8記載の発明は、請求項5記載の発
明において、偏向手段は、回折格子が設けられている光
導波路を挟むように、対向して一対設置され、電気光学
効果を用いて被測定光を偏向させる電極であることを特
徴とするものである。
【0034】請求項9記載の発明は、請求項1または2
記載の発明において、偏向手段は、波長分散素子によっ
て分光された光を所望の方向に反射させ、フォトダイオ
ードアレイに出力するミラーであることを特徴とするも
のである。
【0035】請求項10記載の発明は、請求項1〜9の
いずれかに記載の発明において、偏向手段に信号を出力
し、被測定光の偏向量を制御するドライバと、フォトダ
イオードから光電流を順番に読み出し、この読み出した
光電流を電圧に変換し、変換したアナログ信号をデジタ
ル信号に変換して出力する駆動手段と、この駆動手段か
ら出力された前記デジタル信号を格納する記憶手段と、
この記憶手段に格納されたデジタル信号を読み出し、こ
のデジタル信号に基づき被測定光の光信号レベル、ピー
ク波長を求める演算手段とを有することをを特徴とする
ものである。
【0036】請求項11記載の発明は、被測定光を分光
する波長分散素子と、この波長分散素子によって分光さ
れた光を受光し、光電流を出力する複数のフォトダイオ
ードからなるフォトダイオードアレイとを有し、フォト
ダイオードアレイの出力により、測定を行う分光測定装
置において、前記フォトダイオードアレイを前記被測定
光が分光される方向に移動させ、前記フォトダイオード
アレイで受光される位置を変える移動手段を設け、異な
る移動量における測定結果により、前記被測定光の特性
を測定することを特徴とするものである。
【0037】請求項12記載の発明は、請求項11記載
の発明において、移動手段は、フォトダイオードアレイ
のフォトダイオードの幅と不感帯の幅の1ピッチ以内に
移動することを特徴とするものである。
【0038】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明の実施の
形態を説明する。図1は本発明の第1の実施例を示す構
成図である。ここで、図6と同一のものは同一符号を付
し、説明を省略する。図1において、分光器30は、分
光器10の代わりに設けられ、ミラー15とPDM16
の間に、被測定光100A、100Bを偏向させる偏向
手段の一種である電気光学偏向器31が新たに設置され
る。
【0039】電気光学偏向器31は、外部から電流また
は電圧が入力され、直流または光周波数に比べて十分周
波数の低い電界が印加されることによって、媒質の屈折
率が変化する効果(電気光学効果)を用いる光偏向器の
ことである。例えば、電気光学効果によってプリズムの
屈折率を変化させて出射方向を変えたり、または、電気
光学効果によって媒質中に生じる屈折率変化で光波の伝
搬方向に垂直な断面内で直線的位相分布を形成して、偏
向を行うことができる。
【0040】制御部40は、制御部20の代わりに設け
られ、同期手段41、ドライバ42、駆動手段43、記
憶手段44、演算手段45から構成される。同期手段4
1は、同期信号を出力する。ドライバ42は、同期手段
41の同期信号に従って電気光学偏光器31に所望の電
圧を印加する。駆動手段43は、同期手段41の同期信
号に従ってPDM16の各PDとの接続を順番に切り換
え、各PDの測定信号を、例えば短波長側から順番に読
み出し、測定信号を所望の信号に変換して出力する。記
憶手段44は、駆動手段43から出力された信号を順次
格納していくが、駆動手段43が出力した信号を複数回
分保持することができる。演算手段45は、記憶手段4
4に格納された信号を複数回分読み出し、この信号に基
づき被測定光100の光信号レベルや波長等を求め、演
算結果を出力する。
【0041】図1に示す装置の動作を説明する。同期手
段41は、ドライバ42および駆動手段43に1回目の
同期信号を出力する。ドライバ42は、同期信号に基づ
き電気光学偏向器31に電圧Vaを印加することによ
り、ミラー15で反射された被測定光100A、100
BをPDM16のPDアレイの配列方向に所望量偏向さ
せる。ここでは、被測定光100A、100Bの光スポ
ットの中心が、図6に示す装置のPDアレイ上の同じ位
置に照射されるものとする。偏向された被測定光100
A、100BはそれぞれPDアレイに収束し、各PDか
らは光電流が測定信号として出力される。
【0042】駆動手段43は、同期信号に基づきPDM
16の各PDの接続を順番に切り換えて、各PDで生じ
た光電流を短波長側のPDから順に読み出す。そして、
この光電流を電圧に変換し、さらに電圧に変換されたア
ナログ信号をデジタル信号に変換して、記憶手段44に
格納する。1回目の同期信号によって記憶手段44に格
納されたデジタル信号を系列1のデータとする。
【0043】続いて同期手段41は、再びドライバ42
および駆動手段43に2回目の同期信号を出力する。ド
ライバ42は、同期信号に基づき電気光学偏向器31に
電圧Vbを印加し、ミラー15で反射された被測定光1
00A、100BをPDアレイの配列方向に所望量偏向
させる。ただし、1回目の同期信号において被測定光1
00A、100BがPDアレイ上に照射されている位置
から、長波長側に1/2ピッチ分だけずれた位置に照射
されるように、被測定光100A、100Bを偏向させ
る。偏向された被測定光100A、100Bはそれぞれ
PDアレイに収束し、各PDからは光電流が測定信号と
して出力される。
【0044】駆動手段43は、同期信号に基づきPDM
16の各PDの接続を順番に切り換えて、各PDで生じ
た光電流を短波長側のPDから順に読み出す。そして、
この光電流を電圧に変換し、さらに電圧に変換されたア
ナログ信号をデジタル信号に変換して、記憶手段44に
格納する。このとき、1回目の同期信号に基づき記憶手
段44に格納した系列1のデータとは別の領域に格納す
る。2回目の同期信号によって記憶手段44に格納され
たデジタル信号を系列2のデータとする。
【0045】演算手段45は、記憶手段44から系列
1、2のデータを読み出し、系列1、2のデータを波長
で並べ替える。これにより系列1、2のデータはお互い
を補間するデータとなり、あたかもPDM16の1/2
のピッチのPDアレイで測定した場合と同様の測定信号
を得られる。
【0046】図2は、図1に示す装置において系列1、
2のデータの出力および補間したデータの出力を表した
図である。図8と同一のものは同一符号を付すと共に説
明も省略する。但し、図2においては、ピーク近傍のP
D16b〜16dのみを表している。系列2のデータ
は、被測定光100Aの照射位置が1/2ピッチ長波長
側に偏向されているので、各PD16b〜16dそれぞ
れの割り付け波長は1/2ピッチ分短波長側にずれてい
る。図2において、系列1のデータにおいて、PD16
b〜16dのそれぞに対応する出力はP1〜P1
し、●点で表している。系列2のデータおいて、PD1
6b〜16dのそれぞに対応する出力はP2〜P2
とし、×点で表している。
【0047】演算手段45は、補間されたデータに基づ
き被測定光100Aのそれぞれに対応するピーク近傍の
波長λ−Δλ/2、λ、λ−Δλ/2と、それに
対応する出力P2、P1、P2から、式(1)〜
(3)により被測定光100Aの光信号レベル、ピーク
波長を求める。但し、式(2)の2行目の第1項は、被
測定光100Aが1/2ピッチ偏向させられ、PDアレ
イのピッチが半分になっているので、Δλ/4となる。
【0048】被測定光100Bの光信号レベル、ピーク
波長を求める動作も同様なので省略する。また、図1に
示す装置における、この他の動作は、図6に示す装置と
同様なので説明を省略する。
【0049】このように、被測定光100A、100B
がPDM16のPDアレイの配列方向に電気光学偏向器
31によって偏向されると共に、駆動手段43によって
測定信号が取得される一連の動作を複数回行い、これら
の信号を波長で並べ替えて被測定光100A、100B
の測定を行う。これにより、並び替えた信号は1ピッチ
よりも細かいピッチで測定したのと同様の測定信号が得
られ、ノイズの影響を受け易い検出出力が小さいものを
使用しないので、被測定光100A、100Bの光スポ
ットを小さくして測定を行える。従って、波長分解能を
向上させて、光信号レベル、ピーク波長の測定を行うこ
とができる。
【0050】また、電気光学偏向器31は電気光学効果
を用いており、機械的な可動部分がないので、分光器3
0は長期安定性を保ち動作を行うことができる。
【0051】図3は、本発明の第2の実施例を示す構成
図である。図1と同一のものは同一符号を付し、説明を
省略すると共に図示も省略する。図3において、分光器
50は、分光器30の代わりに設けられ、ミラー15の
代わりにミラー51が設けられる。また、偏向手段であ
る電気光学偏向器31の代わりに、ピエゾ素子52がミ
ラー51を機械的に変動するように取り付けられ、これ
らミラー51、ピエゾ素子52によって偏向手段が構成
されている。そして、ピエゾ素子52は、ドライバ42
から電圧が印加される。ピエゾ素子52は、電圧が印加
されると、機械的応力、例えば伸縮を生じるものであ
る。
【0052】図3に示す装置の動作を説明する。ドライ
バ42は、1回目の同期信号に基づきピエゾ素子52に
電圧Vcを印加し、ピエゾ素子52を所望量変化させ、
ミラー51で反射される被測定光100A、100Bを
PDM16のPDアレイの配列方向に偏向させる。ここ
では、被測定光100A、100Bの光スポットの中心
が、図1に示す装置のPDアレイ上の同じ位置に照射さ
れるものとする。また、ドライバ42は、2回目の同期
信号に基づきピエゾ素子52に電圧Vdを印加し、ピエ
ゾ素子52を所望量変化させ、ミラー51で反射される
被測定光100A、100BをPDアレイの配列方向に
偏向させる。ただし、1回目の同期信号にて、被測定光
100A、100BがPDアレイにて照射されている位
置から、長波長側に1/2ピッチ分だけずれるように偏
向させる。
【0053】ここで、ドライバ42が同期信号に基づ
き、ピエゾ素子52に電圧Vc、Vdを印加し、ミラー
51からの反射光を所望量偏向させる以外の動作は、図
1に示す装置と同様なので説明を省略する。
【0054】このように、被測定光100A、100B
がPDM16のPDアレイの配列方向にミラー51およ
びピエゾ素子52によって偏向されると共に、駆動手段
43によって測定信号が取得される一連の動作を複数回
行い、これらの信号を波長で並べ替えて被測定光100
A、100Bの測定を行う。これにより、並び替えた信
号は1ピッチよりも細かいピッチで測定したのと同様の
測定信号が得られ、ノイズの影響を受け易い検出出力が
小さいものを使用しないので、被測定光100A、10
0Bの光スポットを小さくして測定を行える。従って、
波長分解能を向上させて、光信号レベル、ピーク波長の
測定を行うことができる。
【0055】図4は、本発明の第3の実施例を示す構成
図である。図1と同一のものは同一符号を付し、説明を
省略すると共に図示も省略する。図4において、分光器
60は分光器30の代わりに設けられる。また分光器6
0は、光ファイバ11、波長分散素子としてファイバー
グレーティング61、レンズ62、PDM16、駆動手
段としてピエゾ素子63を有する。ファイバーグレーテ
ィング61は、光ファイバのコアの長手方向に周期的な
屈折率変化を与えることで形成される回折格子を有す
る。
【0056】ファイバーグレーティング61は、光ファ
イバ11の出射端と、例えば融着接続によって接続さ
れ、被測定光100が入射される。また、ファイバーグ
レーティング61は、回折格子が形成された回折格子部
61aで、波長λA、λBごとに被測定光100A、1
00Bに分光し、ファイバーグレーティング61から空
間に波長λA、λBごと異なる角度に分光して出射す
る。レンズ62は、ファイバーグレーティング61から
の出射光の光路上に設置され、出射光を収束させる。P
DM16は、レンズ62によって被測定光100A、1
00Bが収束する位置となるように設置され、各PDで
生じた光電流を出力する。ピエゾ素子63は、ピエゾ素
子63の伸縮する方向を、回折格子部61aの長手方向
と合わせて取りつけられる。また、ピエゾ素子63は、
ドライバ42から電圧が印加される。
【0057】図4に示す装置の動作を説明する。ドライ
バ42は、1回目の同期信号に基づきピエゾ素子63に
電圧Veを印加し、ピエゾ素子63を所望量変化させ
る。これにより、ピエゾ素子63が取りつけられている
回折格子部61aも長手方向に伸縮する。そのため、回
折格子部61aに周期的に設けられている屈折率の周期
が変化し、回折格子部61aから出射される被測定光1
00A、100BがPDM16のPDアレイの配列方向
に偏向される。ここでは、被測定光100A、100B
の光スポットの中心が、図1に示す装置のPDアレイ上
の同じ位置に照射されるものとする。また、ドライバ4
2は、2回目の同期信号に基づきピエゾ素子63に電圧
Vfを印加し、ピエゾ素子63を所望量変化させ、同様
にして被測定光100A、100BをPDアレイの配列
方向に偏向させる。ただし、1回目の同期信号にて、被
測定光100A、100BがPDアレイにて照射されて
いる位置から、長波長側に1/2ピッチ分だけずれるよ
うに偏向させる。
【0058】ここで、ドライバ42が同期信号に基づ
き、ピエゾ素子53に電圧Ve、Vfを印加し、回折格
子部61aからの出射される被測定光100A、100
Bを偏向させる以外の動作は、図1に示す装置と同様な
ので説明を省略する。
【0059】このように、被測定光100A、100B
がPDM16のPDアレイの配列方向にピエゾ素子63
によって偏向されると共に、駆動手段43によって測定
信号が取得される一連の動作を複数回行い、これらの信
号を波長で並べ替えて被測定光100A、100Bの測
定を行う。これにより、並び替えた信号は1ピッチより
も細かいピッチで測定したのと同様の測定信号が得ら
れ、ノイズの影響を受け易い検出出力が小さいものを使
用しないので、被測定光100A、100Bの光スポッ
トを小さくして測定を行える。従って、波長分解能を向
上させて、光信号レベル、ピーク波長の測定を行うこと
ができる。
【0060】図5は、本発明の第4の実施例を示す構成
図である。図1と同一のものは同一符号を付し、説明を
省略すると共に図示も省略する。図5において、分光器
70は分光器30の代わりに設けられる。また分光器7
0は、光ファイバ11、波長分散素子である光導波路型
グレーティング71、レンズ72、PDM16、偏向手
段である電極73a、73bを有する。光導波路型グレ
ーティング71は、光導波路上の長手方向に周期的な格
子を機械的に形成した回折格子を有する。また光導波路
は電気光学効果を有する媒質、例えばニオブ酸リチウム
等で構成される。
【0061】光ファイバ11は、被測定光100を分光
器70に入射する伝送路である。光導波路型グレーティ
ング71は、光ファイバ11の出射端から出射された被
測定光100が入射される。このとき、光ファイバ11
と光導波路型グレーティング71の間に、例えばレンズ
やマッチングオイル等を設け、効率よく被測定光100
を光導波路型グレーティング71に入射させるようにし
てもよい。
【0062】光導波路型グレーティング71は、回折格
子が形成された回折格子部71aで、波長λA、λBご
とに被測定光100A、100Bに分光し、光導波路型
グレーティング71から空間に波長λA、λBごと異な
る角度に分光して出射する。レンズ72は、光導波路型
グレーティング71からの出射光の光路上に設置され、
出射光を収束させる。PDM16は、レンズ72によっ
て被測定光100A、100Bが収束する位置となるよ
うに設置され、各PDで生じた光電流を出力する。電極
73a、73bは、回折格子部71aを挟んで、対向し
て設けられる。この電極73a、73bの形状は櫛型が
望ましい。この電極73a、73bは、それぞれドライ
バ42から電圧が印加される。
【0063】図5に示す装置の動作を説明する。ドライ
バ42は、1回目の同期信号に基づき電極73a、73
bに電圧Vgを印加し、電気光学効果を用いて回折格子
部71aの屈折率を変化させ、回折格子部71aから出
射される被測定光100A、100BをPDM16のP
Dアレイの配列方向に所望量偏向させる。ここでは、被
測定光100A、100Bの光スポットの中心が、図1
に示す装置のPDアレイ上の同じ位置に照射されるもの
とする。また、ドライバ42は、2回目の同期信号に基
づき電極73a、73bに電圧Vhを印加し、電気光学
効果を用いて回折格子部71aの屈折率を変化させ、回
折格子部71aから出射される被測定光100A、10
0BをPDアレイの配列方向に所望量偏向させる。ただ
し、1回目の同期信号にて、被測定光100A、100
BがPDアレイにて照射されている位置から、長波長側
に1/2ピッチ分だけずれるように偏向させる。
【0064】ここで、ドライバ42が同期信号に基づ
き、電極73a、73bに電圧Vg、Vhを印加し、回
折格子部71aからの出射される被測定光100A、1
00Bを偏向させる以外の動作は、図1に示す装置と同
様なので説明を省略する。
【0065】このように、被測定光100A、100B
がPDM16のPDアレイの配列方向に電極73a、7
3bに印加される電圧Vg、Vhによって偏向されると
共に、駆動手段43によって測定信号が取得される一連
の動作を複数回行い、これらの信号を波長で並べ替えて
被測定光100A、100Bの測定を行う。これによ
り、並び替えた信号は1ピッチよりも細かいピッチで測
定したのと同様の測定信号が得られ、ノイズの影響を受
け易い検出出力が小さいものを使用しないので、被測定
光100A、100Bの光スポットを小さくして測定を
行える。従って、波長分解能を向上させて、光信号レベ
ル、ピーク波長の測定を行うことができる。
【0066】また、被測定光100a、100bの偏向
は、光導波路型グレーティング71の電極に電圧を印加
することによる電気光学効果を用いている。そのため機
械的な可動部分がないので、分光器70は長期安定性を
保ち動作を行うことができる。
【0067】なお、本発明はこれに限定されるものでは
なく、以下のようなものでもよい。被測定光100は、
波長λA、λBの2チャネルが多重化される例を示した
が、多重化は何チャネルでもよい。
【0068】また、図1において、電気光学偏向器31
をミラー15とPDM16の間に設けたが、光ファイバ
11とレンズ12の間や、レンズ12と回折格子13の
間等、PDM16に被測定光100が入射される前なら
ばどこに設けてもよい。
【0069】また、図1において、レンズ14からの出
射光をミラー15にて反射してPDM16で受光する構
成を示したが、ミラー15を設けずレンズ14からの出
射光が収束する位置にPDM16を設置する構成として
もよい。また、電気光学偏向器31は、PDM16に被
測定光100が入射される前ならばどこに設けてもよ
い。
【0070】また、図1、2に示す装置においての波長
分散素子に回折格子13を用いる構成を示したが、波長
分散素子としてプリズムを用いる構成か、または回折格
子13とプリズムの両方を用いる構成としてもよい。プ
リズムと回折格子13を両方用いることにより、プリズ
ムと回折格子13の波長分散角を整合させることができ
る。
【0071】また、図1、2に示す装置において、回折
格子13は平面型を用いたが、凹型の回折格子を用いて
もよい。そして、凹型の回折格子を用いることにより、
レンズ12、14を用いない構成としてもよい。これに
より被測定光100がレンズ12、14で減衰すること
がなく効率よくPDM16で受光することができる。
【0072】また、図1、図3〜5に示す装置におい
て、レンズ12、14、62、72を用いる透過型光学
系を示したが、放物面鏡等を用いた反射型光学系として
もよい。
【0073】また、図1、図3〜図5に示す装置におい
て、偏向手段によって被測定光100A、100Bの偏
向量は、長波長側に1/2ピッチで行われる構成を示し
たが、偏向量は1ピッチ以内ならいくらでもよく、短波
長側に偏向させてもよい。
【0074】また、分光器の例として図1、図3〜図5
に示す装置をあげたが、本発明は、PDアレイを用いる
方式の分光器全てに適用することが可能である。
【0075】また、図1、図3〜図5に示す装置におい
て、同期手段41の同期信号に基づき、ドライバ42が
偏向手段に電圧を印加し、駆動手段43がPDM16か
ら測定信号の読み出しを行う構成を示したが、同期手段
41を設けない構成としてもよい。同期手段41を設け
ない構成においては、ドライバ42と駆動手段43とで
相互に信号の授受を行うようにする。例えば、ドライバ
42が偏向手段へ電圧を印加し、被測定光100A、1
00Bを所望量偏向させ、その後、駆動手段43に信号
を出力する。駆動手段43は、ドライバ42から出力さ
れた信号に基づき、PDM16から測定信号の読み出し
を開始する。
【0076】また、図3の装置において、ピエゾ素子5
2がミラー51を機械的に変動するように取りつけら
れ、ミラー51、ピエゾ素子52によって偏向手段が構
成される例を示したが、ピエゾ素子52を移動手段とし
て、PDM16に取り付け、PDM16をPDの配列方
向に所望量移動させる構成としてもよい。このような構
成において、移動手段は、ドライバ42から電圧が印加
されることによりPDM16を移動させ、被測定光10
0A、100BがPDM16で受光される位置を変え
る。
【0077】また、図4の装置において、偏向手段とし
てピエゾ素子63を用いる構成を示し、図5の装置にお
いて、偏向手段として電極73a、73bを用いる構成
を示したが、それぞれ回折格子部61a、71aから出
射された光がPDM16に入射されるまでの間に、ミラ
ー51とピエゾ素子52からなる偏向手段を設け、この
偏向手段によって被測定光100a、100bを偏向さ
せてもよい。
【0078】さらに、図4の装置において、偏向手段と
してピエゾ素子63を用いる構成を示し、図5の装置に
おいて、偏向手段として電極73a、73bを用いる構
成を示したが、それぞれ回折格子部61a、71aから
出射された光がPDM16に入射されるまでの間に、電
気光学偏向器31を設け、この電気光学偏向器31によ
って被測定光100a、100bを偏向させてもよい。
これにより、特に図4に示す装置においては、機械的な
可動部分がなくなるので、分光器60の長期安定性を保
ち動作を行うことができる。
【0079】
【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。請求項1〜10によれば、偏向手段により、被測定
光を偏向させ、フォトダイオードアレイで受光される位
置を変えるので、フォトダイオードのピッチを細かくす
ることなく、細かいピッチで測定したのと同等の測定信
号が得られる。これにより、ノイズの影響を受け易い検
出出力が小さいものを使用しないで、被測定光の光スポ
ットを小さくでき、フォトダイオードのピッチに影響さ
れることなく、波長分解能を向上させて測定を行うこと
ができる。
【0080】請求項6、8によれば、偏向手段は電気光
学効果を用いるので、分光器は機械的な可動部分を含ま
ない構成とすることができる。これにより、長期安定性
を保ち動作を行うことができる。
【0081】請求項11、12によれば、移動手段によ
り、フォトダイオードアレイを被測定光が分光される方
向に移動させ、フォトダイオードアレイで受光される位
置を変えるので、フォトダイオードのピッチを細かくす
ることなく、細かいピッチで測定したのと同等の測定信
号が得られる。これにより、ノイズの影響を受け易い検
出出力が小さいものを使用しないで、被測定光の光スポ
ットを小さくでき、フォトダイオードのピッチに影響さ
れることなく、波長分解能を向上させて測定を行うこと
ができる。
【0082】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示した構成図である。
【図2】図1に示す装置における、演算手段45がフォ
トダイオードアレイとフォトダイオードの出力の関係を
波長で並び替えた一例を示す図である。
【図3】本発明の第2の実施例を示した構成図である。
【図4】本発明の第3の実施例を示した構成図である。
【図5】本発明の第4の実施例を示した構成図である。
【図6】従来の分光測定装置の実施例を示す構成図であ
る。
【図7】フォトダイオードアレイの一部を示す模式図で
ある。
【図8】フォトダイオードアレイとフォトダイオードの
出力の関係の一例を示す図である。
【図9】被測定光100Aの光スポットが小さい場合に
おける、フォトダイオードアレイとフォトダイオードの
出力の関係の一例を示す図である。
【符号の説明】
13 回折格子 16 フォトダイオードアレイモジュール 30、50、60、70 分光器 31 電気光学偏向器 42 ドライバ 43 駆動手段 44 記憶手段 45 演算手段 51 ミラー 52、63 ピエゾ素子 61 ファイバーグレーティング 61a、71a 回折格子部 71 光導波路型グレーティング 73a、73b 電極 100、100A、100B 被測定光
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 泰幸 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 岡田 頼樹 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 岡田 修平 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 Fターム(参考) 2G020 CB04 CC02 CC07 CC13 CC30 CC56 CC63 CD03 CD24 CD34 CD36 CD37 CD51

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定光を分光する波長分散素子と、 この波長分散素子によって分光された光を受光し、光電
    流を出力する複数のフォトダイオードからなるフォトダ
    イオードアレイとを有し、フォトダイオードアレイの出
    力により、測定を行う分光測定装置において、 前記被測定光を偏向させ、前記フォトダイオードアレイ
    で受光される位置を変える偏向手段を設け、異なる偏向
    量における測定結果により、前記被測定光の特性を測定
    することを特徴とする分光測定装置。
  2. 【請求項2】 偏向手段は、フォトダイオードアレイの
    フォトダイオードの幅と不感帯の幅の1ピッチ以内に偏
    向することを特徴とする請求項1記載の分光測定装置。
  3. 【請求項3】 波長分散素子は、反射型回折格子または
    プリズムの少なくとも一方を有することを特徴とする請
    求項1または2記載の分光測定装置。
  4. 【請求項4】 波長分散素子は、光ファイバのコアの長
    手方向に設けられた回折格子であることを特徴とする請
    求項1または2記載の分光測定装置。
  5. 【請求項5】 波長分散素子は、光導波路上に設けられ
    た回折格子であることを特徴とする請求項1または2記
    載の分光測定装置。
  6. 【請求項6】 偏向手段は、電気光学効果を用いる電気
    光学偏向器であることを特徴とする請求項1〜5のいず
    れかに記載の分光測定装置。
  7. 【請求項7】 偏向手段は、回折格子が設けられている
    光ファイバの長手方向に沿って取りつけられ、この光フ
    ァイバを伸縮させるピエゾ素子であることを特徴とする
    請求項4記載の分光測定装置。
  8. 【請求項8】 偏向手段は、回折格子が設けられている
    光導波路を挟むように、対向して一対設置され、電気光
    学効果を用いて被測定光を偏向させる電極であることを
    特徴とする請求項5記載の分光測定装置。
  9. 【請求項9】 偏向手段は、波長分散素子によって分光
    された光を所望の方向に反射させ、フォトダイオードア
    レイに出力するミラーであることを特徴とする請求項1
    または2記載の分光測定装置。
  10. 【請求項10】 偏向手段に信号を出力し、被測定光の
    偏向量を制御するドライバと、 フォトダイオードから光電流を順番に読み出し、この読
    み出した光電流を電圧に変換し、変換したアナログ信号
    をデジタル信号に変換して出力する駆動手段と、 この駆動手段から出力された前記デジタル信号を格納す
    る記憶手段と、 この記憶手段に格納されたデジタル信号を読み出し、こ
    のデジタル信号に基づき被測定光の光信号レベル、ピー
    ク波長を求める演算手段とを有することを特徴とする請
    求項1〜9のいずれかに記載の分光測定装置。
  11. 【請求項11】 被測定光を分光する波長分散素子と、 この波長分散素子によって分光された光を受光し、光電
    流を出力する複数のフォトダイオードからなるフォトダ
    イオードアレイとを有し、フォトダイオードアレイの出
    力により、測定を行う分光測定装置において、 前記フォトダイオードアレイを前記被測定光が分光され
    る方向に移動させ、前記フォトダイオードアレイで受光
    される位置を変える移動手段を設け、異なる移動量にお
    ける測定結果により、前記被測定光の特性を測定するこ
    とを特徴とする分光測定装置。
  12. 【請求項12】 移動手段は、フォトダイオードアレイ
    のフォトダイオードの幅と不感帯の幅の1ピッチ以内に
    移動することを特徴とする請求項11記載の分光測定装
    置。
JP2002002991A 2002-01-10 2002-01-10 分光測定装置 Pending JP2003207394A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002002991A JP2003207394A (ja) 2002-01-10 2002-01-10 分光測定装置
US10/327,872 US6999169B2 (en) 2002-01-10 2002-12-26 Spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002002991A JP2003207394A (ja) 2002-01-10 2002-01-10 分光測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003207394A true JP2003207394A (ja) 2003-07-25

Family

ID=19190813

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002002991A Pending JP2003207394A (ja) 2002-01-10 2002-01-10 分光測定装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6999169B2 (ja)
JP (1) JP2003207394A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009532672A (ja) * 2006-03-31 2009-09-10 サイマー インコーポレイテッド 高パルス繰返し数パルスレーザのための帯域幅測定装置
JP2012159353A (ja) * 2011-01-31 2012-08-23 Yokogawa Electric Corp 分光装置
KR101249240B1 (ko) * 2011-08-04 2013-04-01 한국기초과학지원연구원 Kstara 장치의 플라즈마 진단에 이용되는 스펙트로미터
JP2019036577A (ja) * 2017-08-10 2019-03-07 浜松ホトニクス株式会社 外部共振型レーザモジュール、分析装置、外部共振型レーザモジュールの駆動方法、プログラム
WO2022013963A1 (ja) * 2020-07-15 2022-01-20 日本電信電話株式会社 分光装置、分光測定装置および分光方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7221452B2 (en) * 2002-08-07 2007-05-22 Coherent, Inc. Tunable optical filter, optical apparatus for use therewith and method utilizing same
US7251028B2 (en) * 2005-02-28 2007-07-31 Princeton Lightwave, Inc Scanning spectrum analyzer
CN101688808B (zh) * 2007-07-31 2012-01-25 日本电信电话株式会社 分光计
JP2012208050A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Tokyo Electron Ltd 測定装置及びプラズマ処理装置
TWI573457B (zh) * 2015-11-30 2017-03-01 財團法人工業技術研究院 相機陣列裝置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2742605A (en) * 1949-12-27 1956-04-17 Phillips Petroleum Co Coupling circuit
US3565567A (en) * 1968-06-25 1971-02-23 Bausch & Lomb Method of and apparatus for measuring the presence and/or concentration of an element in an atomic vapor
JPS61270736A (ja) 1985-05-27 1986-12-01 Kunihiro Nagata 光偏向素子
EP0320530B1 (en) * 1987-12-18 1992-03-04 Hewlett-Packard GmbH Photodiode array spectrometer
JPH03102229A (ja) 1989-09-16 1991-04-26 Hitachi Ltd 多波長分光法及び多波長分光器
US5956355A (en) * 1991-04-29 1999-09-21 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for performing optical measurements using a rapidly frequency-tuned laser
JPH05134275A (ja) 1991-11-12 1993-05-28 Hitachi Koki Co Ltd 光制御素子
US5933235A (en) * 1995-03-15 1999-08-03 Yokogawa Electric Corporation Optical spectrum analyzer and spectrometer
US5646401A (en) * 1995-12-22 1997-07-08 Udd; Eric Fiber optic grating and etalon sensor systems
HUP9700348A1 (hu) * 1997-02-04 1998-12-28 Holografika E.C. Eljárás és berendezés háromdimenziós kép megjelenítésére
US5815277A (en) * 1997-06-20 1998-09-29 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior Univesity Deflecting light into resonant cavities for spectroscopy
JPH11194280A (ja) 1997-12-26 1999-07-21 Furukawa Electric Co Ltd:The 光素子および光フィルタ
US6429968B1 (en) * 2000-03-09 2002-08-06 Agere Systems Guardian Corp Apparatus for photoluminescence microscopy and spectroscopy
US6687001B2 (en) * 2001-03-16 2004-02-03 Fujitsu Limited Optical spectrum analyzer and optical spectrum detecting method

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009532672A (ja) * 2006-03-31 2009-09-10 サイマー インコーポレイテッド 高パルス繰返し数パルスレーザのための帯域幅測定装置
JP2012159353A (ja) * 2011-01-31 2012-08-23 Yokogawa Electric Corp 分光装置
KR101249240B1 (ko) * 2011-08-04 2013-04-01 한국기초과학지원연구원 Kstara 장치의 플라즈마 진단에 이용되는 스펙트로미터
JP2019036577A (ja) * 2017-08-10 2019-03-07 浜松ホトニクス株式会社 外部共振型レーザモジュール、分析装置、外部共振型レーザモジュールの駆動方法、プログラム
WO2022013963A1 (ja) * 2020-07-15 2022-01-20 日本電信電話株式会社 分光装置、分光測定装置および分光方法
JPWO2022013963A1 (ja) * 2020-07-15 2022-01-20
JP7435784B2 (ja) 2020-07-15 2024-02-21 日本電信電話株式会社 分光装置、分光測定装置および分光方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20030128359A1 (en) 2003-07-10
US6999169B2 (en) 2006-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8699024B2 (en) Tunable optical filter and spectrometer
US8351789B2 (en) High resolution digital optical encoder/decoder
US5666195A (en) Efficient fiber coupling of light to interferometric instrumentation
US20090046288A1 (en) Scanning Spectrometer With Multiple Photodetectors
US6683895B2 (en) Wavelength agile external cavity diode laser
US7499182B2 (en) Optical signal measurement system
US8274653B2 (en) Spectroscope
EP1693657B1 (en) Optical spectrum analyzer
WO1996035973A1 (fr) Module optique adaptatif
EP2520957A2 (en) Optical Channel Monitor
US20070177145A1 (en) Optical spectrum analyzer
JP2003207394A (ja) 分光測定装置
KR20010083171A (ko) 광 스펙트럼 분석기에서 보정 신호 및 시험 신호를 동시에검출하는 광 시스템
JP2022521459A (ja) スペックル感度が低減されたlidarシステム
US20210231778A1 (en) Apparatus and method for scanning ascertainment of the distance to an object
CN105806374A (zh) 一种光纤光栅波长的解调方法
US6791685B2 (en) Optical signal performance monitoring apparatus and method in multi-channel optical transmission system
US5933235A (en) Optical spectrum analyzer and spectrometer
JPH11211571A (ja) 波長測定装置
JP2023542082A (ja) 移相器を備えた外部共振型レーザー
US20040114644A1 (en) Tunable wavelength semiconductor laser diode
CN101371470A (zh) 光信号测量系统
KR20200103440A (ko) 광 편향기 및 이를 포함하는 광 출력 장치
Riesenberg et al. Optical MEMS for high-end microspectrometers
EP0760469B1 (en) Optical spectrum analyser and spectroscope

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040722

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040809

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041008

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050105