JP2012212666A

JP2012212666A - 電磁開閉装置

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Publication number: JP2012212666A
Application number: JP2012061106A
Authority: JP
Inventors: Kazuhiro Kodama; 和広小玉
Original assignee: Panasonic Corp
Current assignee: Panasonic Corp
Priority date: 2011-03-22
Filing date: 2012-03-16
Publication date: 2012-11-01
Also published as: US20140002946A1; WO2012128039A1; US9048049B2; CN103443896A

Abstract

【課題】接点に異常が生じていることが検出可能とする。
【解決手段】異常判断部７は、記憶部８に記憶されている第１計数と第２計数との差の絶対値を所定のしきい値と比較し、絶対値が所定の上限値未満であれば接点部１の異常なしと判断する。一方、絶対値が上限値以上であれば、異常判断部７は接点部１に異常有りと判断し、その判断結果を制御部３に出力する。制御部３は、異常判断部７から異常有りの判断結果を受け取ると、出力部10から異常検出信号を出力させる。
【選択図】図１

Description

本発明は、電磁リレーなどの電磁開閉装置に関する。

従来の電磁開閉装置として、例えば、特許文献１に記載されているものがある。特許文献１記載の電磁開閉装置は、合成樹脂製のケース内にリレーユニット(電磁リレー)が収納され、リレーユニットの接点に接続される一対の主端子と、リレーユニットの電磁石用コイルに接続される一対のコイル端子とがケースに突設されている。そして、一対の主端子が電源から負荷への給電路に接続され、一対のコイル端子間に励磁電流が流れているときにリレーユニット(電磁開閉装置)がオンし、コイル端子間に励磁電流が流れていないときにリレーユニット(電磁開閉装置)がオフする。すなわち、電磁開閉装置がオンすることで電源から負荷への給電路が閉成され、電磁開閉装置がオフすることで当該給電路が開成される。

特開２００９−２３０９２１号公報

ところで、上述のような電磁開閉装置では、経年的な劣化や使用回数(開閉回数)などにより、接点(固定接点及び可動接点)の消耗や溶着などの異常が生じることがある。

本発明は、上記課題に鑑みて為されたものであり、接点に異常が生じていることを検出可能とすることを目的とする。

本発明は、（少なくとも１つの）固定接点(1A)及び可動接点(1B)を備え、前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)を開閉するための外部指令に応じて前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)を開閉するように構成される電磁開閉装置(Ａ)である。電磁開閉装置(Ａ)は、第１計測部(５)、第２計測部(６)、判断部(７)及び出力部(１０)を備える。第１計測部(５)は、前記外部指令が入力された回数を基に第１計数を取得するように構成される。第２計測部(６)は、前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開閉された回数を基に第２計数を取得するように構成される。前記判断部(７)は、前記第１計数と前記第２計数の差に基づいて前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)の状態を判断するように構成される。出力部(１０)は、判断部(７)の判断結果を外部に出力するように構成される。

一実施形態において、前記判断部(７)は、前記差の絶対値が所定の上限値以上である場合に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)に異常があると判断するように構成される。

一実施形態において、前記判断部(７)は、前記外部指令が入力されてから所定時間(Tth)の間における前記差の絶対値が所定の上限値以上である場合に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)に異常があると判断するように構成される。

一実施形態において、第１計測部(５)は、前記外部指令が前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)を閉成するための閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を基に前記第１計数を変更するように構成される。第２計測部(６)は、前記閉制御信号が入力されてから第１所定時間(Tth1)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に閉成された回数を所定値に変更し、前記第１所定時間(Tth1)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開閉された回数に関係なくその所定値で前記第２計数を変更し、前記第１所定時間(Tth1)の経過後に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開成されて閉成される毎に前記所定値で前記第２計数を変更するように構成される。

一実施形態において、前記第１計測部(５)は、前記外部指令が前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)を閉成するための閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を前記第１計数に加算するように構成される。前記第２計測部(６)は、前記閉制御信号が入力されてから第１所定時間(Tth1)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に閉成された回数を所定値に変更し、前記第１所定時間(Tth1)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開閉された回数に関係なくその所定値を前記第２計数に加算し、前記第１所定時間(Tth1)の経過後に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開成されて閉成される毎に前記所定値を前記第２計数に加算するように構成される。

一実施形態において、前記判断部(７)は、前記差の絶対値が第１上限値以上であれば、予め決められた第１判断結果を出力するように構成される。

一実施形態において、前記第１計測部(５)は、前記外部指令が前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)を開成するための開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を基に前記第１計数を変更するように構成される。前記第２計測部(６)は、前記開制御信号が入力されてから第２所定時間(Tth2)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開成されれば、第２所定値で前記第２計数を変更するように構成される。

一実施形態において、前記第１計測部(５)は、前記外部指令が前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)を開成するための開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を前記第１計数から減じるように構成される。前記第２計測部(６)は、前記開制御信号が入力されてから第２所定時間(Tth2)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開成されれば、第２所定値を前記第２計数から減算するように構成される。

一実施形態において、前記判断部(７)は、前記差の絶対値が第２上限値以上であれば、予め決められた第２判断結果を出力するように構成される。

一実施形態において、前記第１計数は、前記外部指令が前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)を閉成するための閉制御信号用の第１計数を含む。前記第１計測部(５)は、前記外部指令が前記閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を基に前記閉制御信号用の第１計数を変更するように構成される。前記第２計数は、前記閉制御信号用の第２計数を含む。前記第２計測部(６)は、前記閉制御信号が入力されてから第１所定時間(Tth1)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に閉成された回数を所定値に変更し、前記第１所定時間(Tth1)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開閉された回数に関係なくその所定値で前記閉制御信号用の第２計数を変更し、前記第１所定時間(Tth1)の経過後に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開成されて閉成される毎に前記所定値で前記閉制御信号用の第２計数を変更するように構成される。

一実施形態において、前記判断部(７)は、前記閉制御信号用の第１計数と前記閉制御信号用の第２計数の差の絶対値が前記閉制御信号用の第１上限値以上であれば、予め決められた第１判断結果を出力するように構成される。

一実施形態において、前記第１計数は、前記外部指令が前記固定接点及び可動接点を開成するための開制御信号用の第１計数を含む。前記第１計測部(５)は、前記外部指令が前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)を開成するための開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を基に前記開制御信号用の第１計数を変更するように構成される。前記第２計数は、前記開制御信号用の第２計数を含む。前記第２計測部(６)は、前記開制御信号が入力されてから第２所定時間(Tth2)の間に前記固定接点(1A)及び可動接点(1B)が実際に開成されれば、第２所定値で前記開制御信号用の第２計数を変更するように構成される。

一実施形態において、前記判断部(７)は、前記開制御信号用の第１計数と前記開制御信号用の第２計数の差の絶対値が前記開制御信号用の第１上限値以上であれば、予め決められた第２判断結果を出力するように構成される。

本発明の電磁開閉装置は、接点に異常が生じていることが検出可能になるという効果がある。

本発明の実施形態を示すブロック図である。異常判断部の判断処理を説明するためのタイムチャートである。異常判断部の判断処理を説明するためのタイムチャートである。異常判断部の判断処理を説明するためのタイムチャートである。

図１は本発明の一実施形態による電磁開閉装置Ａを示す。電磁開閉装置Ａは、少なくとも１つの固定接点及び可動接点を備え、固定接点及び可動接点を開閉するための外部指令に応じて固定接点及び可動接点を開閉するように構成される。図１の例では、電磁開閉装置Ａは、接点部１、駆動部２、制御部３、入力部４、第１計測部５、第２計測部６、異常判断部７、記憶部８、タイマ９及び出力部１０などを備える。接点部１は、電路100の途中に挿入される２つの固定接点1Aと、固定接点1Aに接離するように構成される可動接点(可動子)11とを有する。すなわち、２つの固定接点1Aと可動接点1Bが接触しているときに接点部１が閉極して電路100が導通する。２つの固定接点1Aと可動接点1Bが接触していないときに接点部１が開極して電路100が非導通となる。

駆動部２は、可動接点1Bを移動して固定接点1Aに接離させるものであって、励磁コイル20に励磁電流を流して生じる電磁力によって可動接点1Bを移動させる。制御部３は、外部から入力部４に入力される制御信号（外部指令）に応じて駆動部２を制御するように構成される。すなわち、固定接点1A及び可動接点1Bを閉成するための閉制御信号が入力部４に入力されれば、制御部３は駆動部２を制御して接点部１を閉極させる。また、固定接点1A及び可動接点1Bを開成するための開制御信号が入力部４に入力されれば、制御部３は駆動部２を制御して接点部１を開極させる。なお、制御信号（閉制御信号及び開制御信号）はハイレベルとローレベルに切り換わる直流電圧信号であり、閉制御信号（接点オン）はハイレベルであり、開制御信号（接点オフ）はローレベルである。

第１計測部５は、制御信号（外部指令）が入力部４に入力された回数を基に第１計数を取得するように構成される。具体的には、第１計測部５は、外部指令が固定接点1A及び可動接点1Bを閉成するための閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を基に第１計数を変更する（例えばその回数を第１計数に加算する）ように構成される。また、第１計測部５は、外部指令が固定接点1A及び可動接点1Bを開成するための開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を基に第１計数を変更する（例えばその回数を第１計数から減じる）ように構成される。本実施形態では、第１計測部５は、入力部４に入力される制御信号がローレベルからハイレベルに切り換わる閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数（“１”）をローレベルからハイレベルに切り換わった時点で第１計数に加算するように構成される。第１計数の初期値は、例えば“０”である。また、第１計測部５は、入力部４に入力される制御信号がハイレベルからローレベルに切り換わる開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数（“１”）をハイレベルからローレベルに切り換わった時点で第１計数から減算するように構成される。第１計測部５で取得された第１計数は制御部３を通じて記憶部８に記憶される。

第２計測部６は、固定接点1A及び可動接点1Bが実際に開閉された回数を基に第２計数を取得するように構成される。具体的には、第２計測部６は、閉制御信号が入力されてから第１所定時間の間に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に閉成された回数を所定値（例えば“１”）に変更し、第１所定時間の間に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に開閉された回数に関係なくその所定値で第２計数を変更し（例えばその所定値を第２計数に加算し）、第１所定時間の経過後に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に開成されて閉成される毎にその所定値で第２計数を変更する（例えば所定値を第２計数に加算する）ように構成される。第２計数は、制御部３を通じて記憶部８に記憶に記憶される。

本実施形態では、第２計測部６は、可動接点1Bの変位に基づいて接点部１が開閉される回数を仮計数として計測し、仮計数を制御部３を通じて記憶部８に記憶するように構成される。例えば、接点部１に連動して開閉する補助接点が設けられている場合、第２計測部６は、補助接点のオン・オフ状態から接点部１が開閉された回数を仮計数として計測することができる。あるいは、可動接点1Bの変位若しくは位置を検出することでも接点部１が開閉される回数を仮計数として計測可能である。また、固定接点1A及び可動接点1Bに印加される電圧に基づいて接点部１の開閉を検出することができる。更に、固定接点1A間の電流を検出することによって、接点部１が開閉を検出することができる。なお、可動接点1Bの変位若しくは位置の検出方法については、例えば、近接スイッチやマイクロスイッチなどを用いる検出方法などがある。

ここで、接点部１が開閉される時には接点バウンス(あるいはチャタリング)と呼ばれる間欠開閉現象が生じる。この接点バウンスは電磁開閉装置の機構上、必ず生じる現象であるから、第２計測部６は、接点バウンスによって接点部１が開閉される回数をカウントしないことが望ましい。本実施形態では、第２計測部６は、接点部１の開極又は閉極を検出した時点から（閉極の場合は接点バウンス時間が経過後の）所定時間の間に接点部１が開閉される回数を基に第２計数（閉極の場合は１回）を取得する。

また、第２計測部６は、開制御信号が入力されてから第２所定時間の間に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に開成されれば、第２所定値（例えば“１”）で第２計数を変更する（例えば第２所定値を第２計数から減算する）ように構成される。

異常判断部７は、第１計数と第２計数の差に基づいて固定接点1A及び可動接点1Bの状態を判断するように構成される。本実施形態では、異常判断部７は、記憶部８に記憶されている第１計数と第２計数との差の絶対値を所定のしきい値（上限値）と比較し、前記差の絶対値が所定のしきい値未満であれば接点部１の異常（接点不良）なしと判断する。一方、前記差の絶対値がしきい値以上であれば、異常判断部７は接点部１に異常有りと判断し、その判断結果を制御部３に出力する。

具体的には、異常判断部７は、閉制御信号から得られる差の絶対値が第１上限値（少なくとも“１”）以上であれば、予め決められた第１判断結果（固定接点1A及び可動接点1Bに異常（接点バウンス又はチャタリング）があるとの判断結果）を出力するように構成される。また、異常判断部７は、開制御信号から得られる差の絶対値が第２上限値（例えば“２”）以上であれば、予め決められた第２判断結果（固定接点1A及び可動接点1Bに異常（溶着）があるとの判断結果）を出力するように構成される。

制御部３は、異常判断部７から第１又は第２判断結果（異常有りの判断結果）を受け取ると、出力部10から、対応する異常検出信号を出力させるように構成される。なお、制御部３と入力部４と異常判断部７と記憶部８とタイマ９と出力部10とは、それぞれが別々のハードウェア(回路)で実現されてもよいし、１つのマイクロコンピュータ及び種々のソフトウェアで実現されてもよい。

ここで、入力部４に制御信号が入力されてから、駆動部２が接点部１を駆動して接点部１の開閉状態が切り換わるまでにはある程度の時間が必要となる。図２に示すように、電磁リレー(電磁開閉装置)においては、通常、接点が閉極するときに要する時間が動作時間Tonと呼ばれ、接点が開極するときに要する時間が復帰時間Toffと呼ばれる。つまり、第２計測部６が動作時間Tonや復帰時間Toffに接点部１が開閉される回数を計測してしまうと、第１計数と第２計数との差を、異常判断部７が正しく評価し難くなってしまう。したがって、第２計測部６は、動作時間Tonや復帰時間Toffが経過するまでの間、接点部１が開閉される回数を計測しないことが望ましい。

本実施形態では、図２に示すように、第２計測部６は、動作時間Ton及び接点バウンス時間Tbを含み動作時間Ton及び接点バウンス時間Tbより長い第１所定時間Tth1を使用し、また、復帰時間Toffを含み復帰時間Toffより長い第２所定時間Tth2を使用する。また、第１計数及び第２計数は適宜初期化される。

図２の例では、閉制御信号が入力部４に入力されると、その閉制御信号が入力された回数（“１”）が初期値（例えば“０”）の第１計数に加算され、第１計数は“１”となる。また、閉制御信号が入力されてから第１所定時間Tth1の間に固定接点1A及び可動接点1Bが閉成されているので、第１所定時間Tth1の間に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に開閉された回数に関係なく、所定値（例えば“１”）が初期値（例えば“０”）の第２計数に加算され、第２計数は“１”となる。したがって、第１計数と第２計数の差の絶対値は“０”となり、第１上限値（例えば“１”）以上でないので、固定接点1A及び可動接点1Bの閉状態は正常であると判断される。

その後、開制御信号が入力部４に入力されると、その開制御信号が入力された回数（“１”）が第１計数から減算され、第１計数は“０”となる。また、開制御信号が入力されてから第２所定時間Tth2の間に固定接点1A及び可動接点1Bが開成されているので、第２所定値（例えば“１”）が第２計数から減算され、第２計数は“０”になる。したがって、第１計数と第２計数との差の絶対値は“０”となり、第２上限値（例えば“１”）以上でないので、固定接点1A及び可動接点1Bの開状態は正常であると判断される。

図３の例では、閉制御信号が入力部４に入力されると、その閉制御信号が入力された回数（“１”）が初期値（例えば“０”）の第１計数に加算され、第１計数は“１”となる。また、閉制御信号が入力されてから第１所定時間Tth1の間に固定接点1A及び可動接点1Bが閉成されているので、所定値（例えば“１”）が初期値（例えば“０”）の第２計数に加算され、第２計数は“１”となる。しかし、第１所定時間Tth1の経過後、固定接点1A及び可動接点1Bが開閉される回数が“２”であるので、２×所定値、即ち“２”が第２計数に加算され、第２計数は“３”になる。したがって、第１計数と第２計数との差の絶対値は“２”となり、第２上限値（例えば“１”）以上であるので、固定接点1A及び可動接点1Bの閉状態は異常であると判断される。

図４の例では、閉制御信号が入力部４に入力されると、その閉制御信号が入力された回数（“１”）が初期値（例えば“０”）の第１計数に加算され、第１計数は“１”となる。また、閉制御信号が入力されてから第１所定時間Tth1の間に固定接点1A及び可動接点1Bが閉成されているので、所定値（例えば“１”）が初期値（例えば“０”）の第２計数に加算され、第２計数は“１”となる。したがって、第１計数と第２計数との差の絶対値は“０”となり、第１上限値（例えば“１”）以上でないので、固定接点1A及び可動接点1Bの閉状態は正常であると判断される。

その後、開制御信号が入力部４に入力されると、その開制御信号が入力された回数（“１”）が第１計数から減算され、第１計数は“０”となる。また、開制御信号が入力されてから第２所定時間Tth2の間に固定接点1A及び可動接点1Bが開成されていないので、第２所定値（“１”）が第２計数から減算されない。したがって、第２計数は“１”を保持し、第１計数と第２計数との差の絶対値は“１”となり、第２上限値（例えば“１”）以上であるので、固定接点1A及び可動接点1Bの開状態は異常であると判断される。

而して、接点部１の消耗や接点部１に接圧を付与する接圧ばねの劣化などが原因で接点バウンスの回数が増加した場合、異常判断部７が第１計数と第２計数との差に基づいて接点部１に異常が生じていると判断する。あるいは、接点部１の溶着などが原因で接点部１が開極しなかった場合にも、異常判断部７が第１計数と第２計数との差に基づいて接点部１に異常が生じていると判断する。そして、異常判断部７の判断結果が制御部１から出力部10を通じて外部に出力されるので、接点部１に異常が生じていることが検出可能になる。なお、第１計測部５及び第２計測部６にて開極した回数(開回数)と閉極した回数(閉回数)を個別に計測し、異常判断部７が、開回数同士の差又は閉回数同士の差を比較して異常判断を行ってもよい。

ところで、電磁開閉装置Ａでは、通常、動作時間Ton(励磁コイル20に定格電圧を加えてから接点が接触するまでの時間であって、接点バウンス時間を含まない時間)や接点バウンス時間Tbが規定されている(図２参照)。したがって、接点バウンス時間(規格値)Tbを超えて接点バウンスが継続するようになれば、接点部１に異常が生じていると判断して差し支えない。

そこで、指令が入力されてから所定時間、すなわち、入力部４に閉制御信号が入力されてから接点バウンス時間(規格値)Tbよりも長い第１所定時間Tth1が経過するまでの期間において接点部１が開閉される回数の差が所定の上限値以上である場合、異常判断部７が異常有りと判断すればよい。つまり、接点バウンス時間Tb内において接点部１が開閉される回数は１回であるので、接点バウンス時間Tbを過ぎてからカウントされる回数が増えるに連れて、第１計数と第２計数との差が大きくなる。故に、第１計数と第２計数との差が上限値以上になれば、異常判断部７が接点部１に異常有りと判断できる。

一実施形態において、第１計数は、外部指令が固定接点1A及び可動接点1Bを閉成するための閉制御信号用の第１計数を含む。第１計測部５は、外部指令が閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を基に閉制御信号用の第１計数を変更するように構成される。例えば、第１計測部５は、外部指令が閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を閉制御信号用の第１計数に加算するように構成される。第２計数もまた、閉制御信号用の第２計数を含む。第２計測部６は、閉制御信号が入力されてから第１所定時間Tth1の間に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に閉成された回数を所定値（例えば“１”）に変更し、第１所定時間Tth1の間に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に開閉された回数に関係なくその所定値で閉制御信号用の第２計数を変更し（例えばその所定値を第２計数に加算し）、第１所定時間Tth1の経過後に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に開成されて閉成される毎に上記所定値で閉制御信号用の第２計数を変更する（例えば上記所定値を閉制御信号用の第２計数に加算する）ように構成される。

加えて、異常判断部７は、閉制御信号用の第１計数と閉制御信号用の第２計数の差の絶対値が閉制御信号用の第１上限値以上であれば、予め決められた第１判断結果を出力するように構成される。この実施形態では、図３に示す異常が一過性の異常であれば、その一過性の異常が検出されるのを防止することができる。具体的には、図３の例において、閉制御信号用の第１上限値を３以上に設定すれば、図３の異常を一過性の異常と仮に判断することができる。閉制御信号用の第１上限値が例えば“３”であるとき、閉制御信号用の第１計数は“１”であり、閉制御信号用の第２計数は“３”であり、それらの差の絶対値が“２”であるので、図４の異常を一過性の異常と仮に判断することができる。その後、再度閉制御信号が入力されたときに図３の現象が発生すれば、閉制御信号用の第１計数は“２”となり、閉制御信号用の第２計数は例えば“６”となって、それらの差の絶対値が“４”となるので、図３の現象を異常として検出することができる。なお、閉制御信号用の第１計数と閉制御信号用の第２計数は、接点部１が開閉された回数が所定値（２以上、例えば５や１０など）に達するたびに初期化することが望ましい。

また、この実施形態では、第１計数は、外部指令が固定接点1A及び可動接点1Bを開成するための開制御信号用の第１計数を含むことになり、第２計数は、開制御信号用の第２計数を含むことになる。この場合、第１計測部５は、外部指令が開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を基に開制御信号用の第１計数を変更するように構成される。例えば、第１計測部５は、外部指令が開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を開制御信号用の第１計数に追加するように構成されてもよい。第２計測部６は、開制御信号が入力されてから第２所定時間Tth2の間に固定接点1A及び可動接点1Bが実際に開成されれば、第２所定値で開制御信号用の第２計数を変更し（例えば第２所定値（例えば“１”）を開制御信号用の第２計数に追加する）ように構成される。

加えて、異常判断部７は、開制御信号用の第１計数と開制御信号用の第２計数の差の絶対値が開制御信号用の第１上限値以上であれば、予め決められた第２判断結果を出力するように構成される。開制御信号用の第１上限値は“１”以上に設定される。図２後の図４の例において、開制御信号用の第１上限値が例えば“１”に設定されると、図４の現象を検出することができる。即ち、図４の例において、開制御信号が入力されると、開制御信号用の第１計数は“２”となり、開制御信号用の第２計数は“１”に保持され、それらの差の絶対値は“１”となる。これにより、図４の現象を異常として検出することができる。なお、開制御信号用の第１計数と開制御信号用の第２計数は、接点部１が開閉された回数が所定値（２以上、例えば５や１０など）に達するたびに初期化することが望ましい。

Claims

固定接点及び可動接点を備え、前記固定接点及び可動接点を開閉するための外部指令に応じて前記固定接点及び可動接点を開閉するように構成される電磁開閉装置であって、
前記外部指令が入力された回数を基に第１計数を取得するように構成される第１計測部と、
前記固定接点及び可動接点が実際に開閉された回数を基に第２計数を取得するように構成される第２計測部と、
前記第１計数と前記第２計数の差に基づいて前記固定接点及び可動接点の状態を判断するように構成される判断部と、
前記判断部の判断結果を外部に出力するように構成される出力部と
を備えることを特徴とする電磁開閉装置。
前記判断部は、前記差の絶対値が所定の上限値以上である場合に前記固定接点及び可動接点に異常があると判断するように構成されることを特徴とする請求項１記載の電磁開閉装置。
前記判断部は、前記外部指令が入力されてから所定時間の間における前記差の絶対値が所定の上限値以上である場合に前記固定接点及び可動接点に異常があると判断するように構成されることを特徴とする請求項１記載の電磁開閉装置。
前記第１計測部は、前記外部指令が前記固定接点及び可動接点を閉成するための閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を基に前記第１計数を変更するように構成され、
前記第２計測部は、
前記閉制御信号が入力されてから第１所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に閉成された回数を所定値に変更し、前記第１所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に開閉された回数に関係なくその所定値で前記第２計数を変更し、
前記第１所定時間の経過後に前記固定接点及び可動接点が実際に開成されて閉成される毎に前記所定値で前記第２計数を変更する
ように構成される
ことを特徴とする請求項１記載の電磁開閉装置。
前記第１計測部は、前記外部指令が前記固定接点及び可動接点を閉成するための閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を前記第１計数に加算するように構成され、
前記第２計測部は、
前記閉制御信号が入力されてから第１所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に閉成された回数を所定値に変更し、前記第１所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に開閉された回数に関係なくその所定値を前記第２計数に加算し、
前記第１所定時間の経過後に前記固定接点及び可動接点が実際に開成されて閉成される毎に前記所定値を前記第２計数に加算する
ように構成される
ことを特徴とする請求項１又は４記載の電磁開閉装置。
前記判断部は、前記差の絶対値が第１上限値以上であれば、予め決められた第１判断結果を出力するように構成されることを特徴とする請求項４又は５記載の電磁開閉装置。
前記第１計測部は、前記外部指令が前記固定接点及び可動接点を開成するための開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を基に前記第１計数を変更するように構成され、
前記第２計測部は、前記開制御信号が入力されてから第２所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に開成されれば、第２所定値で前記第２計数を変更する
ように構成される
ことを特徴とする請求項１及び４〜６の何れか１項に記載の電磁開閉装置。
前記第１計測部は、前記外部指令が前記固定接点及び可動接点を開成するための開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を前記第１計数から減じるように構成され、
前記第２計測部は、前記開制御信号が入力されてから第２所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に開成されれば、第２所定値を前記第２計数から減算するように構成される
ことを特徴とする請求項１及び４〜７の何れか１項に記載の電磁開閉装置。
前記判断部は、前記差の絶対値が第２上限値以上であれば、予め決められた第２判断結果を出力するように構成されることを特徴とする請求項７又は８記載の電磁開閉装置。
前記第１計数は、前記外部指令が前記固定接点及び可動接点を閉成するための閉制御信号用の第１計数を含み、
前記第１計測部は、前記外部指令が前記閉制御信号であれば、その閉制御信号が入力された回数を基に前記閉制御信号用の第１計数を変更するように構成され、
前記第２計数は、前記閉制御信号用の第２計数を含み、
前記第２計測部は、
前記閉制御信号が入力されてから第１所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に閉成された回数を所定値に変更し、前記第１所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に開閉された回数に関係なくその所定値で前記閉制御信号用の第２計数を変更し、
前記第１所定時間の経過後に前記固定接点及び可動接点が実際に開成されて閉成される毎に前記所定値で前記閉制御信号用の第２計数を変更する
ように構成される
ことを特徴とする請求項１記載の電磁開閉装置。
前記判断部は、前記閉制御信号用の第１計数と前記閉制御信号用の第２計数の差の絶対値が前記閉制御信号用の第１上限値以上であれば、予め決められた第１判断結果を出力するように構成されることを特徴とする請求項１０記載の電磁開閉装置。
前記第１計数は、前記外部指令が前記固定接点及び可動接点を開成するための開制御信号用の第１計数を含み、
前記第１計測部は、前記外部指令が前記固定接点及び可動接点を開成するための開制御信号であれば、その開制御信号が入力された回数を基に前記開制御信号用の第１計数を変更するように構成され、
前記第２計数は、前記開制御信号用の第２計数を含み、
前記第２計測部は、前記開制御信号が入力されてから第２所定時間の間に前記固定接点及び可動接点が実際に開成されれば、第２所定値で前記開制御信号用の第２計数を変更するように構成される
ことを特徴とする請求項１、１０及び１１の何れか１項に記載の電磁開閉装置。
前記判断部は、前記開制御信号用の第１計数と前記開制御信号用の第２計数の差の絶対値が前記開制御信号用の第１上限値以上であれば、予め決められた第２判断結果を出力するように構成されることを特徴とする請求項１２記載の電磁開閉装置。