JP2012185587A - タッチパネルの製造方法、タッチパネル、オリゴマーの析出防止方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】製造工程に加熱工程を含んでなる、透明基板1の少なくとも片面に透明導電層2を有してなる静電容量式タッチパネル7の製造方法において、前記透明基板1として、透明プラスチックフィルム11の表面に、ポリアミドイミド樹脂を含有する厚みが30〜120nmの被膜12を有する構成を一部に含む積層体、を用いる。
【選択図】図1
Description
)、円相当径で1μmφ以上の析出物が50個未満、好ましくは20個以下、さらに好ましくは10個以下であることをいう。なお、析出物の円相当径で1μmφ未満の場合、顕微鏡レベルではその存在を確認することは困難である。しかしながら、上述した加熱処理後に、耐湿試験を行うと、析出物が成長し、円相当径で1μmφ以上となって顕微鏡で確認できるレベルになることもある。
Capacitive)に分けることができる。
[実験例1]
厚み125μmの両面が易接着処理された透明ポリエステルフィルム(コスモシャインA4350:東洋紡績社)の一方の面に、下記処方の塗布液aを塗布、乾燥し、厚み35nmの被膜を形成した。
・ポリアミドイミド樹脂(固形分:25%) 1部
(バイロマックスHR-14ET:東洋紡績社)
(ガラス転移温度250℃、数平均分子量10×103)
・希釈溶剤 24部
・電離放射線硬化型樹脂組成物(固形分100%) 10部
(ビームセット575、荒川化学工業社)
・光重合開始剤 0.5部
(イルガキュア651:チバ・ジャパン社)
・希釈溶剤 23部
ポリアミドイミド樹脂を、東洋紡績社製の製品名バイロマックスHR-15ET(固形分25%)、ガラス転移温度260℃、数平均分子量6×103)に変更し、被膜の厚みを115nmに変更した以外は、実験例1と同様にして透明基板を得た。
塗布液aを下記処方の塗布液cに変更した以外は、実験例1と同様にして透明基板を得た。
<塗布液c>
・テトラエトキシシランの加水分解液(固形分2%) 10部
・希釈溶剤 5部
塗布液aを下記処方の塗布液dに変更した以外は、実験例1と同様にして透明基板を得た。
<塗布液d>
・セルロースアセテートプロピオネート 0.3部
(AC3533B:イーストマンコダック社)
・希釈溶剤 30部
塗布液aを下記処方の塗布液eに変更した以外は、実験例1と同様にして透明基板を得た。
<塗布液e>
・ポリアリレート樹脂 0.3部
(ユニファイナーM-1000:ユニチカ社)
・希釈溶剤 30部
(ガラス転移点280℃)。
塗布液aを塗布液bに変更し、被膜の厚みを1μmに変更した以外は、実験例1と同様にして透明基板を得た。
被膜の厚みを20nmに変更した以外は、実験例1と同様にして透明基板を得た。
被膜の厚みを130nmに変更した以外は、実験例1と同様にして透明基板を得た。
実験例1〜9により得られた透明基板について、下記特性を評価した。結果を表1に示す。
(1−1)オリゴマー析出防止性(顕微鏡)
得られた透明基板を150℃のオーブンに投入し、4時間後に取り出した。次に、取り出した透明基板の被膜側を顕微鏡(200倍)で観察し、10視野当たり(面積0.5mm2)に、円相当径で1μmφ以上の析出物が10個以下であった(オリゴマーの析出が全く認められなかった)ものを「○」、上記析出物が20個を超え50個未満であった(オリゴマーの析出がやや認められたが問題なしと考えられる)ものを「△」、上記析出物が50個を超えた(オリゴマーの析出が認められた)ものを「×」として評価した。
得られた透明基板に対し、ヘーズメータNDH2000(日本電色社)を用いてヘーズ値「%」(JIS−K7136:2000)を測定し、加熱前ヘーズ値を得た。その後、透明基板を150℃のオーブンに投入して4時間後に取り出した。次に、取り出した透明基板のヘーズ値を上記同様に測定し、加熱後ヘーズ値を得た。そして、下記式により加熱前後のヘーズ変化率「%」を算出した。その結果、ヘーズ値の変化率が0.5%以下の場合を「○」、0.5%超の場合を「×」として評価した。
ヘーズ値の変化率=(加熱前ヘーズ値−加熱後ヘーズ値)
得られた透明基板を被膜が外側になるように2つに折り曲げた後、150℃のオーブンに投入し、4時間後に取り出した。次に、取り出した透明基板の被膜側を上記(1−1)と同様に観察し、同様の基準で評価した。
上記(1−3)と同様に、得られた透明基板を被膜が外側になるように2つに折り曲げ、その折り曲げた部分の被膜にクラックを生じるか否かを目視で観察した。その結果、クラックが確認できなかったものを「○」、クラックを確認できたものを「×」として評価した。
透明ポリエステルフィルムとして、厚み125μmの片面が易接着処理された透明ポリエステルフィルム(ルミラーU49K:東レ社)を用い、当該フィルムの非易接着処理面に被膜を形成し、ハードコート層を形成しなかった以外は、実験例1〜8と同様にして、実験例1’〜8’の透明基板を得た。得られた透明基板の透明プラスチックフィルムと被膜との密着性を碁盤目テープ法(JIS−K5600−5,6)により評価した。碁盤目テープ法による剥離試験の結果、碁盤目部分が全く剥離しなかったものを「○」、碁盤目部分が剥離したものを「×」として評価した。
11・・・透明プラスチックフィルム
12・・・被膜
13・・・接着層
14・・・ハードコート層
2・・・・透明導電層
3・・・・保護層
4・・・・電磁波シールド層
5・・・・引き出し電極線
6・・・・スペーサー
7・・・・静電容量式タッチパネル
8・・・・抵抗膜式タッチパネル
Claims (7)
- 製造工程に加熱工程を含んでなる、透明基板の少なくとも片面に透明導電層を有してなる静電容量式タッチパネルの製造方法において、前記透明基板として、透明プラスチックフィルムの表面に、ポリアミドイミド樹脂を含有する厚みが30〜120nmの被膜を有する構成を一部に含む積層体、を用いてなることを特徴とする静電容量式タッチパネルの製造方法。
- 製造工程に加熱工程を含んでなる、透明基板上に透明導電層を有してなる上部電極および下部電極の透明導電層どうしを対向するようにスペーサーを介して配置してなる抵抗膜方式タッチパネルの製造方法において、前記上部及び/又は下部の透明基板として、透明プラスチックフィルムの表面に、ポリアミドイミド樹脂を含有する厚みが30〜120nmの被膜を有する構成を一部に含む積層体、を用いてなることを特徴とする抵抗膜式タッチパネルの製造方法。
- 透明基板の少なくとも片面に透明導電層を有してなる静電容量式タッチパネルにおいて、前記透明基板として、透明プラスチックフィルムの表面に、ポリアミドイミド樹脂を含有する厚みが30〜120nmの被膜を有する構成を一部に含む積層体、を用いてなることを特徴とする静電容量式タッチパネル。
- 透明基板上に透明導電層を有してなる上部電極および下部電極の透明導電層どうしを対向するようにスペーサーを介して配置してなる抵抗膜方式タッチパネルにおいて、前記上部及び/又は下部の透明基板として、透明プラスチックフィルムの表面に、ポリアミドイミド樹脂を含有する厚みが30〜120nmの被膜を有する構成を一部に含む積層体、を用いてなることを特徴とする抵抗膜式タッチパネル。
- 透明プラスチックフィルム表面へのオリゴマーの析出を防止する方法であって、透明プラスチックフィルムの表面に、ポリアミドイミド樹脂を含有する厚みが30〜120nmの被膜を形成する工程を含むことを特徴とするオリゴマーの析出防止方法。
- 透明プラスチックフィルムの表面に、ポリアミドイミド樹脂を含有する厚みが30〜120nmの被膜を有することを特徴とする透明基板。
- 前記透明プラスチックフィルムの前記被膜とは反対側の表面に機能性膜を有することを特徴とする請求項6記載の透明基板。
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JP2010253934A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-11-11 | Kimoto & Co Ltd | シート、積層体及びタッチパネル |
JP2011044145A (ja) * | 2007-01-18 | 2011-03-03 | Nitto Denko Corp | 透明導電性フィルム、その製造方法及びそれを備えたタッチパネル |
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