JP2012160231A - 磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法 - Google Patents
磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012160231A JP2012160231A JP2011019244A JP2011019244A JP2012160231A JP 2012160231 A JP2012160231 A JP 2012160231A JP 2011019244 A JP2011019244 A JP 2011019244A JP 2011019244 A JP2011019244 A JP 2011019244A JP 2012160231 A JP2012160231 A JP 2012160231A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- flag
- data
- magnetic disk
- disk device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/02—Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B5/09—Digital recording
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
- G11B20/10268—Improvement or modification of read or write signals bit detection or demodulation methods
- G11B20/10287—Improvement or modification of read or write signals bit detection or demodulation methods using probabilistic methods, e.g. maximum likelihood detectors
- G11B20/10296—Improvement or modification of read or write signals bit detection or demodulation methods using probabilistic methods, e.g. maximum likelihood detectors using the Viterbi algorithm
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
- G11B20/10305—Improvement or modification of read or write signals signal quality assessment
- G11B20/10361—Improvement or modification of read or write signals signal quality assessment digital demodulation process
- G11B20/1037—Improvement or modification of read or write signals signal quality assessment digital demodulation process based on hard decisions, e.g. by evaluating bit error rates before or after ECC decoding
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
- G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
- G11B2220/2508—Magnetic discs
- G11B2220/2516—Hard disks
Abstract
【課題】予め定められた複数の温度区分のうちデータベリファイ制御処理を効果的に省略できる磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法を提供する。
【解決手段】ディスクを備える磁気ディスク装置において、前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを、予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録するフラグ更新手段と、前記磁気ディスク装置の環境温度を検出する温度検出器と、前記検出された環境温度が、前記複数の温度区分のうちの一温度区分に対応し、且つこの一温度区分に対応付けて前記フラグ更新手段が登録したフラグに応じて前記ベリファイを実行又は非実行とするベリファイ手段とを具備する磁気ディスク装置。
【選択図】 図6
【解決手段】ディスクを備える磁気ディスク装置において、前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを、予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録するフラグ更新手段と、前記磁気ディスク装置の環境温度を検出する温度検出器と、前記検出された環境温度が、前記複数の温度区分のうちの一温度区分に対応し、且つこの一温度区分に対応付けて前記フラグ更新手段が登録したフラグに応じて前記ベリファイを実行又は非実行とするベリファイ手段とを具備する磁気ディスク装置。
【選択図】 図6
Description
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法に関する。
磁気ディスク装置では、記録媒体としてのディスク(磁気ディスク)にヘッドによりデータが書き込まれ、また当該ディスクに格納されているデータがヘッドにより読み出される。このヘッドによるデータの書き込み/読み出しは、磁気ディスク装置の環境温度に影響される。そのため、磁気ディスク装置は一般に、当該磁気ディスク装置の環境温度が予め定められた温度範囲(例えば動作保証温度範囲)にある状態において、常に最適なデータの書き込み/読み出しが可能なような仕組みを有している。
この仕組みによれば、磁気ディスク装置の環境温度に応じて、最適な書き込み/読み出しの条件が設定される。書き込み/読み出しの条件として、ライト電流及びライトプリコンペンセイション値等のパラメータが知られている。
そこで、磁気ディスク装置の環境温度に応じて最適なパラメータが設定可能なように、予め定められた温度(温度範囲)Ti(i=1,2,…n)に対応付けて、その温度に最適なパラメータが設定されたパラメータテーブルが用いられる。このパラメータテーブルは一般に磁気ディスク装置の製造工程で生成される。
理想的には、想定されうる環境温度全体を含むような パラメータテーブルを
製造過程にて生成する必要があるが、そのためには、多大な工程時間を要し、しかも工程設備で想定されうる環境温度全体を含むように可変に設定できるように対応しておく必要がある。このため、これらの実施が難しい場合には、従来技術では、一部の温度(例えば低温側の温度)Tjについて、当該温度Tjの設定と、当該温度Tjにおける最適なパラメータについて 、サンプル装置での実際の測定結果と、対象装置の測定済みの他の温度環境でのパラメータ値から組み合わせて計算した値を設定値とする場合があった。
製造過程にて生成する必要があるが、そのためには、多大な工程時間を要し、しかも工程設備で想定されうる環境温度全体を含むように可変に設定できるように対応しておく必要がある。このため、これらの実施が難しい場合には、従来技術では、一部の温度(例えば低温側の温度)Tjについて、当該温度Tjの設定と、当該温度Tjにおける最適なパラメータについて 、サンプル装置での実際の測定結果と、対象装置の測定済みの他の温度環境でのパラメータ値から組み合わせて計算した値を設定値とする場合があった。
しかしパラメータが未調整の環境温度で磁気ディスク装置が使用される場合、ホストからのアクセスの効率がリトライ処理により低下する可能性が無いとはいえない。
例えばこのアクセス効率の低下に対処するために、パラメータを調整する方法に関する制御などが行われている。
特許文献1乃至特許文献3には、光磁気ディスク装置に関し、再生レーザーパワーを温度変化に応じて調整する方法について記載されている。これらの方法では、温度変化が一定のしきい値を超えると、レーザーパワーの再調整を行うとしている。その調整を行う物理的な箇所としては、あらかじめ調整用に用意した領域、またはすでにユーザが使用している領域でもよいとしている。とくに、本参考考案は再生用のレーザーパワーであるため、どちらでも大きな違いはない。また、温度の変化を検出していると、再生パワーの調整作業はその都度行われる。
特許文献1乃至特許文献3には、光磁気ディスク装置に関し、再生レーザーパワーを温度変化に応じて調整する方法について記載されている。これらの方法では、温度変化が一定のしきい値を超えると、レーザーパワーの再調整を行うとしている。その調整を行う物理的な箇所としては、あらかじめ調整用に用意した領域、またはすでにユーザが使用している領域でもよいとしている。とくに、本参考考案は再生用のレーザーパワーであるため、どちらでも大きな違いはない。また、温度の変化を検出していると、再生パワーの調整作業はその都度行われる。
また特許文献4は、温度に応じて、ライト電流の設定値を変化させるその方法について言及している。この方法では、製造時のデフォルト設定値と、ある温度環境下での装置自身での測定値とを使用している。たとえば、上位装置からアクセスがあり、調整ができない場合にはデフォルト設定値を採用するとしている。
以上、データライト時のパラメータを調整する方法に関する考案が見られる。他方でデータベリファイ制御処理そのものを省略するという要望があるが、かかる要望を実現するための手段は知られていない。
本発明は、予め定められた複数の温度区分のうちデータベリファイ制御処理を効果的に省略できる磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、実施形態によれば磁気ディスク装置は、ディスクを備える磁気ディスク装置において、前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを、予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録するフラグ更新手段と、前記磁気ディスク装置の環境温度を検出する温度検出器と、前記検出された環境温度が、前記複数の温度区分のうちの一温度区分に対応し、且つこの一温度区分に対応付けて前記フラグ更新手段が登録したフラグに応じて前記ベリファイを実行または非実行とするベリファイ手段と、ベリファイ処理と同時にエラーレイトを測定できる機能を具備する。
以下、実施形態を説明する。
(第1の実施形態)
第1の実施形態を図1乃至図5を参照して説明する。
図1は第1の実施形態に係る磁気ディスク装置を備えた電子機器の典型的な構成を示すブロック図である。図1において、電子機器は、磁気ディスク装置(HDD)10及びホスト(ホストシステム)20を備えている。電子機器は、例えば、パーソナルコンピュータ、ビデオカメラ、音楽プレーヤー、携帯端末、或いは携帯電話機である。ホスト20はHDD10を当該ホスト20の記憶装置として利用する。
(第1の実施形態)
第1の実施形態を図1乃至図5を参照して説明する。
図1は第1の実施形態に係る磁気ディスク装置を備えた電子機器の典型的な構成を示すブロック図である。図1において、電子機器は、磁気ディスク装置(HDD)10及びホスト(ホストシステム)20を備えている。電子機器は、例えば、パーソナルコンピュータ、ビデオカメラ、音楽プレーヤー、携帯端末、或いは携帯電話機である。ホスト20はHDD10を当該ホスト20の記憶装置として利用する。
HDD10は、ヘッドディスクアセンブリ部(HDA部)100と、制御ボード部200とを備えている。
HDA部100は、例えば2枚のディスク(磁気ディスク)110-1及び110-2と、スピンドルモータ(SPM)130と、アクチュエータ140と、ヘッドIC150と、温度検出器160と、振動検出器170とを備えている。
HDA部100は、例えば2枚のディスク(磁気ディスク)110-1及び110-2と、スピンドルモータ(SPM)130と、アクチュエータ140と、ヘッドIC150と、温度検出器160と、振動検出器170とを備えている。
ディスク110-1及び110-2の各々は上側と下側の2つの記録面を備えている。ディスク110-1及び110-2はSPM130により高速に回転させられる。ディスク110-i(i=1,2)はCDR(constant density recording)と呼ばれる周知の記録フォーマットを適用している。このためディスク110-iの各記録面は、当該ディスク11-iの半径方向に複数のゾーンに区分して管理される。つまり、ディスク110-iの各記録面は、複数のゾーンを備えている。
図2は、ディスク110-iの記録面のフォーマットの一例を示す概念図である。図2の例では、作図の都合上、ディスク110-iの記録面は4個のゾーンZ0乃至Z3に区分されている。しかし、ディスク110-iの記録面上のゾーンの数は4個に限らない。
ディスク110-iのゾーンZp(p=0,1,2,3)は、当該ゾーンZp内のユーザ領域にデータを書き込む際、または、当該ゾーンZp内のユーザ領域からデータを読み出す際に用いられるパラメータを調整するパラメータ調整処理に用いられるパラメータ調整領域111を備えている。第1の実施形態で適用されるパラメータ調整処理は、パラメータ調整領域111にデータを書き込んで、そのパラメータ調整領域111に書き込まれたデータを読み出して、エラーレイトを算出する動作を、パラメータを変更しながら実行する。
第1の実施形態において、パラメータ調整領域111は、ゾーンZp内の中周に位置しており、少なくとも1データトラックを備えているものとする。この場合、パラメータ調整領域111を用いたパラメータ調整処理で調整されたパラメータは、ゾーンZp内の全てのデータトラックに対して最適であることが期待される。
なお、例えば、ディスク110-iの記録面当たりのゾーンの数が十分多く、十分細かく区分されている場合、パラメータ調整領域111がゾーンZpの内周または外周側に位置していても構わない。また、パラメータ調整領域111が、1データトラックの一部の領域、つまり1データトラックのデータセクタ数よりも少ないデータセクタを備えた領域であっても構わない。
再び図1を参照すると、アクチュエータ140はディスク110-1のそれぞれの記録面に対応して配置されるヘッド・アームの先端にヘッド(磁気ヘッド)120-0及び120-1を備えている。アクチュエータ140は更に、ディスク110-2のそれぞれの記録面に対応して配置されるヘッド・アームの先端にヘッド120-2及び120-3を有する。ヘッド120-0及び120-1は、ディスク110-1へ/からのデータの書き込み/読み出しに用いられ、ヘッド120-2及び120-3は、ディスク110-2へ/からのデータの書き込み/読み出しに用いられる。
アクチュエータ140はボイスコイルモータ(VCM)141を備えている。アクチュエータ140はVCM141によって駆動され、ヘッド120-0乃至120-3をディスク110-1及び110-2の半径方向に移動させる。
SPM130及びVCM141は、後述するモータドライバIC210からそれぞれ供給される駆動電流(SPM電流及びVCM電流)により駆動される。
ヘッドIC150は、ヘッド120-j(j=0,1,2,3)により読み出された信号(リード信号)を増幅する。ヘッドIC150はまた、後述するリード/ライトチャネル230から転送されるライトデータをライト電流に変換してヘッド120-jに出力する。
SPM130及びVCM141は、後述するモータドライバIC210からそれぞれ供給される駆動電流(SPM電流及びVCM電流)により駆動される。
ヘッドIC150は、ヘッド120-j(j=0,1,2,3)により読み出された信号(リード信号)を増幅する。ヘッドIC150はまた、後述するリード/ライトチャネル230から転送されるライトデータをライト電流に変換してヘッド120-jに出力する。
温度検出器160は、HDD10が使用される環境における温度(環境温度)Tを検出する。振動検出器170は、HDD10の外部から当該HDD10に加えられる振動を検出する。
制御ボード部200は、モータドライバIC210及びシステムLSI220の2つのLSIを備えている。モータドライバIC210は、SPM130を一定の回転速度で駆動する。モータドライバIC210はまた、CPU270から指定されたVCM操作量に相当する値の電流(VCM電流)をVCM141に供給することで、アクチュエータ140を駆動する。
システムLSI220は、リード/ライトチャネル(R/Wチャネル)230、ディスクコントローラ(HDC)240、バッファRAM250、フラッシュメモリ260、プログラムROM270、CPU280及びRAM290が単一チップに集積されたSOC(System on Chip)と呼ばれるLSIである。
R/Wチャネル230は、リード/ライトに関連する信号処理を行う信号処理デバイスである。R/Wチャネル230は、リード信号をデジタルデータに変換し、このデジタルデータからリードデータを復号する。R/Wチャネル230はまた、上記デジタルデータからヘッド120-jの位置決めに必要なサーボデータを抽出する。R/Wチャネル230はまた、ライトデータを符号化する。
HDC240は、ホスト20とホストインタフェース21を介して接続されている。HDC240は、ホスト20から転送されるコマンド(ライトコマンド、リードコマンド等)を受信する。HDC240は、ホスト20と当該HDC240との間のデータ転送を制御する。HDC240は、R/Wチャネル230を介して行われるディスク110-i(i=1,2)と当該HDC240との間のデータ転送を制御する。
バッファRAM250は、ディスク110-iに書き込まれるべきデータ及びディスク110-iからヘッドIC150及びR/Wチャネル230を介して読み出されたデータを一時格納するのに用いられる。
フラッシュメモリ260は、書き換え可能な不揮発性メモリである。フラッシュメモリ260は、後述するパラメータ管理テーブル261や識別フラグテーブル264を格納するのに用いられる。
プログラムROM270は、制御プログラム(ファームウェアプログラム)を予め格納する。なお、制御プログラムがフラッシュメモリ260の一部の領域に格納されていても構わない。
CPU280は、HDD10の主コントローラとして機能する。CPU280はプログラムROM270に格納されている制御プログラムに従ってHDD10内の他の少なくとも一部の要素を制御する。RAM290の一部の領域は、CPU280の作業領域として用いられる。この作業領域には、HDD10のパワーオン時に、フラッシュメモリ260に格納されているパラメータ管理テーブル261および識別フラグテーブル264がロードされる。
図3は、パラメータ管理テーブル261のデータ構造例を示す。
パラメータ管理テーブル261は、パラメータテーブル262とフラグテーブル263とを備えている。
パラメータテーブル262は、ディスク110-1及び110-2の記録面に対応するヘッド120-j(j=0,1,2,3)毎で、且つゾーンZp(p=0,1,2,3)毎に、予め定められた複数の温度区分Tq(q=1,2,…n)に対応付けてパラメータを登録する。第1の実施形態では、温度検出器160によって温度Tが検出された場合、当該温度Tが上記複数の温度区分Tqのうちのいずれの温度区分Tqに対応するかが判定される。
パラメータ管理テーブル261は、パラメータテーブル262とフラグテーブル263とを備えている。
パラメータテーブル262は、ディスク110-1及び110-2の記録面に対応するヘッド120-j(j=0,1,2,3)毎で、且つゾーンZp(p=0,1,2,3)毎に、予め定められた複数の温度区分Tq(q=1,2,…n)に対応付けてパラメータを登録する。第1の実施形態では、温度検出器160によって温度Tが検出された場合、当該温度Tが上記複数の温度区分Tqのうちのいずれの温度区分Tqに対応するかが判定される。
第1の実施形態において、パラメータが、温度区分Tqだけでなく、ヘッド120-j及びゾーンZpにも対応付けられるのは、HDD10の書き込み/読み出しの特性が、温度区分Tqだけでなく、ヘッド120-j及びゾーンZpによっても異なることを考慮したためである。しかし、パラメータが、温度区分Tqのみに対応付けられていてもよく、温度区分Tqと、ヘッド120-j及びゾーンZpの一方との組み合わせに対応付けられていてもよい。
第1の実施形態では、ヘッド120-jにはヘッド番号h(h=j)が割り当てられ、ゾーンZpにはゾーン番号z(z=p)が割り当てられている。つまり、パラメータテーブル262は、ヘッド番号h(h=0,1,2,3)及びゾーン番号z(z=0,1,2,3)の組み合わせ毎に、上記複数の温度区分Tqに対応付けてパラメータを登録する。図3に示すパラメータテーブル262は、説明の簡略化のために、パラメータがライト電流のみである場合を想定している。しかし、パラメータがライトプリコンペンセイション値を含んでいてもよい。
フラグテーブル263は、ディスク110-1及び110-2の記録面に対応するヘッド120-j毎で、且つゾーンZp毎に、上記複数の温度区分Tqに対応付けてフラグFを登録する。つまり、フラグテーブル263は、ヘッド番号h(h=0,1,2,3)及びゾーン番号z(z=0,1,2,3)の組み合わせ毎に、上記複数の温度区分Tqに対応付けてフラグFを登録する。
フラグテーブル263に登録されている、ヘッド120-j(h=j)、ゾーンZp(z=p)及び温度区分Tqの組み合わせ(h,z,Tq)に対応するフラグFは、パラメータテーブル262に登録されている当該組み合わせ(h,z,Tq)に対応するパラメータが、調整済みであるか或いは未調整であるか、つまり調整の有無を示す。図3の例では、フラグFが“1”の場合、対応するパラメータが調整済みであることを示し、フラグFが“0”の場合、対応するパラメータが未調整であることを示す。以下の説明では、調整済みを示すラグFが対応する温度区分Tqを調整済みポイントと呼び、未調整を示すラグFが対応する温度区分Tqを未調整ポイントと呼ぶ。
図3の例では、作図の都合で、隣接する温度区分Tq及びTq+1の間の温度間隔が比較的大きく設定されている。しかし第1の実施形態では、例えば温度検出器160によって検出された温度Tが温度区分Tqに属する(つまり対応する)場合に、隣接する温度区分Tq−1またはTq+1に対応付けられたパラメータを使用しても、正常に読み出し/書き込みが可能な程度に、温度区分が細かく設定されているものとする。この場合、上記検出された温度Tが属する温度区分Tqに対応付けられたパラメータを、例えば線形補間処理を必要とすることなく、そのまま用いることができる。このため、読み出し/書き込みに用いられるパラメータ値が最適値に対して乖離するのを防止できる。
また、図3の例では、パラメータ管理テーブル261(パラメータテーブル262)に登録されるパラメータには、簡略化のために整数が用いられている。しかし、後述する補間処理の高精度化のために、パラメータ管理テーブル261に登録されるパラメータとして、小数点付きの数値を用いてもよい。但し、ディスクアクセスのためのパラメータ設定に用いられるレジスタは、一般に整数値を保持する。このため、小数点付きの数値のパラメータを用いる場合には、当該パラメータの整数部を上記レジスタに設定すればよい。また、上記レジスタの分解能、つまり数値“1”に相当する温度差で、温度区分を設定してもよい。このような温度区分を適用した場合、隣接する温度区分に対応付けられたパラメータを使用しても、正常に読み出し/書き込みが可能となることが期待される。但し、“1”より大きい数値に相当する温度差の温度区分でも構わない。
図3のパラメータ管理テーブル261は、当該パラメータ管理テーブル261を備えたHDD10が出荷された時点の状態を示している。図3の例では、パラメータ管理テーブル261内のフラグテーブル263により、ヘッド番号hが0乃至3(ヘッド120-0乃至120-3)及びゾーン番号zが0乃至3(ゾーンZ0乃至Z3)の組み合わせにおける、温度区分Tq毎のパラメータのうち、20℃(いわゆる常温)の温度区分Tqに対応するパラメータのみが調整済みであり、残りの温度区分に対応するパラメータは全て未調整であることが示されている。
このように第1の実施形態では、HDD10を製造する工程において、ヘッド番号h及びゾーン番号zの組み合わせ毎に、20℃の温度区分Tqに対応するパラメータのみが調整される。上記複数の温度区分Tqのうち20℃を除く全ての温度区分に対応するパラメータには、予め定められたデフォルト値(暫定値)が未調整のパラメータとして用いられる。なお、HDD10を製造する工程におけるパラメータ調整が、例えば60℃のような、20℃以外の温度区分で行われてもよく、20℃及び60℃のように、2つ以上の温度区分で行われてもよい。
図4は、識別フラグテーブル264のデータ構造例を示す。識別フラグテーブル264は、パラメータ管理テーブル261とは温度区分が異なっていても差し支えない(この例では5度単位に区分されている)。図4に示した構造例では、headの区分は省略されている。この例において、“1”はフラグが立っているセット状態(Verify on)であり、“0”はフラグがクリアされているリセット状態(Verify off)である。このフラグは、Verify処理の実行(on)とするか、非実行(off)とするかを決定するための値である。温度とZoneとのマトリクスで決定され、フラグが設定される設定枠をセルと称する。
次に、図1に示される電子機器におけるHDD10の動作について、図5のフローチャートを参照して説明する。
まず、HDD10がパワーオンされた場合、フラッシュメモリ260に格納されているパラメータ管理テーブル261や識別フラグテーブル264が、CPU280の制御によりRAM290にロードされる。そこで以下の図5の説明では、RAM290にパラメータ管理テーブル261や識別フラグテーブル264が格納されているものとする。
まず、HDD10がパワーオンされた場合、フラッシュメモリ260に格納されているパラメータ管理テーブル261や識別フラグテーブル264が、CPU280の制御によりRAM290にロードされる。そこで以下の図5の説明では、RAM290にパラメータ管理テーブル261や識別フラグテーブル264が格納されているものとする。
CPU280は、HDD10がパワーオンされている状態では、温度検出器160によって検出される温度(つまりHDD10の環境温度)Tを定常的に、または所定時間間隔で読み込む。そしてCPU280は、複数の温度区分Tqのうち温度Tが属する温度区分Tqを特定する。
<動作1>
低温でのライト動作が行われるた場合、その温度が、ベリファイ起動条件に達していれば、HDC240はライト後にベリファイ処理を行い、ビタビマージンまたはエラーレイトを測定する。
低温でのライト動作が行われるた場合、その温度が、ベリファイ起動条件に達していれば、HDC240はライト後にベリファイ処理を行い、ビタビマージンまたはエラーレイトを測定する。
たとえば、あるヘッドにて、zone3、温度10℃の環境でHDC240が データ書き込みをおこなうとする。
この場合に、zone3 温度10℃ に相当する識別フラグテーブル264上のセルに’1’ が設定されていれば、verify動作が write動作(ステップS1)のあとに起動される(ステップS2のyes)。 また当該セルに’1’が設定されていなければ次のwrite動作が実行される(ステップS2のno)。
この場合に、zone3 温度10℃ に相当する識別フラグテーブル264上のセルに’1’ が設定されていれば、verify動作が write動作(ステップS1)のあとに起動される(ステップS2のyes)。 また当該セルに’1’が設定されていなければ次のwrite動作が実行される(ステップS2のno)。
この verify動作では、前述のように、ビタビマージンまたはエラーレイトの測定が同時に行われる(ステップS3)。
測定したverifyセクタ数が 前述の規定したセクタ数を満たし(ステップS4のyes)、エラーレイトが 先に定めたしきい値以内に収まっているとき(ステップS5のyes)、以降の、zone3 温度10℃の条件での write動作では verify処理が省略できると判定される。このとき、識別フラグテーブル264は、HDC240により図4のように更新される。つまり図4のように、 zone3 / 10℃ のセルが 1→0 に更新される。
測定したverifyセクタ数が 前述の規定したセクタ数を満たし(ステップS4のyes)、エラーレイトが 先に定めたしきい値以内に収まっているとき(ステップS5のyes)、以降の、zone3 温度10℃の条件での write動作では verify処理が省略できると判定される。このとき、識別フラグテーブル264は、HDC240により図4のように更新される。つまり図4のように、 zone3 / 10℃ のセルが 1→0 に更新される。
なお、上記でセクタ数を満たしてないときは(ステップS4のno)、次のwrite動作が実行される。またエラーレイトが 先に定めたしきい値以内に収まっていないときは(ステップS5のno)、当該セルは “1”のままに据え置かれる。すなわち、次に同じ温度が検出された場合、write処理のあとにverify処理が実行されることになる。なお、これまでは低温側での動作を説明してきたが、高温側でも同様の動作が実行されてよい。
(第2の実施形態)
本発明による第2の実施形態を図1乃至図6を参照して説明する。実施形態1と共通する部分は説明を省略する。
図6は、温度が低い側でverify処理が不要と判定されたときに、より高温側(パラメータが調整された常温側)もverify処理が不要とされることを示す説明図である。なお、更に高温側の記載は省略しているが、動作範囲が65℃までであるとすると25℃から5℃刻みに65℃まで識別フラグテーブルを延長しておけばよい。この延長の範囲では、温度が高い側でverify不要と判定したときは、パラメータ調整済みの常温と今回の温度とのあいだの、より低温側(パラメータが調整された常温側)もverify不要とする処理となる。
本発明による第2の実施形態を図1乃至図6を参照して説明する。実施形態1と共通する部分は説明を省略する。
図6は、温度が低い側でverify処理が不要と判定されたときに、より高温側(パラメータが調整された常温側)もverify処理が不要とされることを示す説明図である。なお、更に高温側の記載は省略しているが、動作範囲が65℃までであるとすると25℃から5℃刻みに65℃まで識別フラグテーブルを延長しておけばよい。この延長の範囲では、温度が高い側でverify不要と判定したときは、パラメータ調整済みの常温と今回の温度とのあいだの、より低温側(パラメータが調整された常温側)もverify不要とする処理となる。
<動作2>
データの書き込み処理を行うときの温度が、5℃である場合の例を説明する。この場合にも動作1と同様の verify処理および、今後のverify 必要性の 是非が判定される。
データの書き込み処理を行うときの温度が、5℃である場合の例を説明する。この場合にも動作1と同様の verify処理および、今後のverify 必要性の 是非が判定される。
verify 不要となれば、図6(a)のように、テーブルが更新される。
ところで、この場合、まだ zone3 にて 10℃の環境では データの書き込みを行っていなかった場合がある。このような場合、より温度が常温に近い側のテーブルのセルについては、verifyを省略してよいと判断することができる。この場合、テーブルは さらに図6(b)のように更新される。
ところで、この場合、まだ zone3 にて 10℃の環境では データの書き込みを行っていなかった場合がある。このような場合、より温度が常温に近い側のテーブルのセルについては、verifyを省略してよいと判断することができる。この場合、テーブルは さらに図6(b)のように更新される。
以上の実施形態の判定処理は、HDDの電源ONのたびにやり直すようにしてもよく、このデータを媒体に記録して、パワーオン時にメモリに展開して、前回の結果を継続するようにしてもよい。
さらに、経年変化に対応するために、一定時間が経過したあとに、定期的にテーブルをデフォルト状態に戻す処理を 施してもよい。
媒体への記録タイミングは、パワーセーブ、unload処理のタイミングで記録されるとしてよい。
エラーレイトが しきい値以内におさまっていない場合には、verify動作の省略を行わない。また、本実施形態によるverify省略条件に達せず、verify動作が必要となる 環境については、設定パラメータの調整を行い、調整が完了した時点で テーブル上の該当箇所を1→0とする。
媒体への記録タイミングは、パワーセーブ、unload処理のタイミングで記録されるとしてよい。
エラーレイトが しきい値以内におさまっていない場合には、verify動作の省略を行わない。また、本実施形態によるverify省略条件に達せず、verify動作が必要となる 環境については、設定パラメータの調整を行い、調整が完了した時点で テーブル上の該当箇所を1→0とする。
調整したパラメータは、以後、次回のアクセスに採用することができるようにすることで、verify動作を省略できるようになるからである。
なお、パラメータ調整を行う 手段については、公知技術を用いることとする。
パフォーマンスの低下が許されない環境では、verifyをできるだけ避ける必要があるため、 調整したパラメータを保持しておいて再利用することにより、verifyによるI/O性能の低下を防ぐことができる。
なお、パラメータ調整を行う 手段については、公知技術を用いることとする。
パフォーマンスの低下が許されない環境では、verifyをできるだけ避ける必要があるため、 調整したパラメータを保持しておいて再利用することにより、verifyによるI/O性能の低下を防ぐことができる。
以上の実施形態の効果を挙げる。
(1)verify処理をできるだけ実施しない制御方法による低温条件下または高温条件下の性能低下防止
(2)製造コストの増大防止(温度範囲を限定した初期調整の実施)
以上の実施形態の特徴を挙げる。
a) head、zone、温度で区分した 区分テーブルに対応してverify必要の箇所、 不要の箇所を識別する為の 識別フラグテーブルを具備することを特徴とする。
(1)verify処理をできるだけ実施しない制御方法による低温条件下または高温条件下の性能低下防止
(2)製造コストの増大防止(温度範囲を限定した初期調整の実施)
以上の実施形態の特徴を挙げる。
a) head、zone、温度で区分した 区分テーブルに対応してverify必要の箇所、 不要の箇所を識別する為の 識別フラグテーブルを具備することを特徴とする。
b) 常時 温度を監視し、現在の温度が該当するパラメータテーブルの各区分においてverify必要か、不要かを検索する。
c) 必要である場合、write動作の直後にverifyを実施する。このとき、同時にエラーレートを測定する。
d)エラーレートが良好であれば、以後、その区分でのverifyを不要とし、これを示すように 識別フラグのテーブルを更新する。
e) verify処理不要としたセルよりも既に調整済みと判定、または既にverify不要と判定したセル側にあるセルは、無条件にverify不要と設定する。
c) 必要である場合、write動作の直後にverifyを実施する。このとき、同時にエラーレートを測定する。
d)エラーレートが良好であれば、以後、その区分でのverifyを不要とし、これを示すように 識別フラグのテーブルを更新する。
e) verify処理不要としたセルよりも既に調整済みと判定、または既にverify不要と判定したセル側にあるセルは、無条件にverify不要と設定する。
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
また、上記した実施の形態に開示されている複数の構成要素を適宜に組み合わせることにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても良いものである。さらに、異なる実施の形態に係わる構成要素を適宜組み合わせても良いものである。
また、上記した実施の形態に開示されている複数の構成要素を適宜に組み合わせることにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても良いものである。さらに、異なる実施の形態に係わる構成要素を適宜組み合わせても良いものである。
10…HDD(磁気ディスク装置)、20…ホスト、110-1,110-2,110-i…ディスク、111…パラメータ調整領域、120-0〜120-3…ヘッド、160…温度検出器、170…振動検出器、230…R/Wチャネル(リード/ライトチャネル)、240…HDC、260…フラッシュメモリ、262…パラメータテーブル、263…フラグテーブル、264…識別フラグテーブル、270…プログラムROM、280…CPU、290…RAM、Z0〜Z3…ゾーン。
Claims (5)
- ディスクを備える磁気ディスク装置において、
前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを、予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録するフラグ更新手段と、
前記磁気ディスク装置の環境温度を検出する温度検出器と、
前記検出された環境温度が、前記複数の温度区分のうちの一温度区分に対応し、且つこの一温度区分に対応付けて前記フラグ更新手段が登録したフラグに応じて前記ベリファイを実行又は非実行とするベリファイ手段と、ベリファイと同じタイミングでエラーレイトを測定する手段を具備する磁気ディスク装置。 - 前記フラグ更新手段は、ある前記温度区分に対応付けられたフラグがセットされていない場合には、この温度区分よりも常温側の前記温度区分に対応付けられているフラグをセットしていない状態に更新する請求項1に記載の磁気ディスク装置。
- 前記フラグ更新手段は、前記ベリファイの際に同時に実施されるエラーレイト測定においてエラーレイトがしきい値を超える場合は前記一温度区分に対応付けられた当該フラグをセットする請求項1に記載の磁気ディスク装置。
- 更にパラメータ調整手段を備え、前記マージンの測定においてエラーレイトがしきい値を超える場合は、前記検出された環境温度に対応付けられたパラメータを当該環境温度において適合するように調整する請求項3に記載の磁気ディスク装置。
- ディスクを備える磁気ディスク装置におけるデータベリファイ制御方法であって、
予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録する識別フラグテーブルに、前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを登録し、
温度検出器によって検出された前記磁気ディスク装置の環境温度に対応する、前記複数の温度区分のうちの一温度区分を特定し、
前記一温度区分に対応付けて前記識別フラグテーブルに登録されているフラグに応じて前記ベリファイを実行又は非実行とする
データベリファイ制御方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011019244A JP2012160231A (ja) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | 磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法 |
US13/361,827 US20120194940A1 (en) | 2011-01-31 | 2012-01-30 | Magnetic disk device and data verification control method in the device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011019244A JP2012160231A (ja) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | 磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012160231A true JP2012160231A (ja) | 2012-08-23 |
Family
ID=46577175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011019244A Pending JP2012160231A (ja) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | 磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120194940A1 (ja) |
JP (1) | JP2012160231A (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9263088B2 (en) * | 2014-03-21 | 2016-02-16 | Western Digital Technologies, Inc. | Data management for a data storage device using a last resort zone |
EP3121961B1 (en) * | 2015-07-24 | 2019-04-03 | Nxp B.V. | Temperature sensing |
JP2019040648A (ja) | 2017-08-23 | 2019-03-14 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置及びライト方法 |
CN107818025B (zh) * | 2017-10-31 | 2021-06-29 | 郑州云海信息技术有限公司 | 硬盘冷数据校验方法、装置、设备及计算机可读存储介质 |
US11422710B2 (en) * | 2020-08-14 | 2022-08-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Handling of verification data in disk drive cache |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100459722B1 (ko) * | 2002-09-04 | 2004-12-03 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브에 데이터를 기록하는 방법 및 그제어장치 |
KR20090106126A (ko) * | 2008-04-04 | 2009-10-08 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브 및 하드 디스크 드라이브의기록검증기능 활성화 온도설정방법 |
-
2011
- 2011-01-31 JP JP2011019244A patent/JP2012160231A/ja active Pending
-
2012
- 2012-01-30 US US13/361,827 patent/US20120194940A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120194940A1 (en) | 2012-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4223897B2 (ja) | サーマルプロトリューション量を浮上量管理に用いる機能を持つ磁気ディスク装置、その機能を有す検査装置。 | |
US8068299B2 (en) | Disk drive device and data rewrite method thereof | |
JP5264630B2 (ja) | 磁気ディスク・ドライブ及びそのデータの書き直し方法 | |
US8049985B2 (en) | Variable spindle speed control for data storage devices | |
US7602574B2 (en) | Storage apparatus, storage medium, and control method and program of storage apparatus | |
US7864474B2 (en) | Disk drive and control method thereof | |
JP2012160231A (ja) | 磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法 | |
JP2008071388A (ja) | 磁気ディスクの欠陥検査方法、その装置及び磁気ディスク・ドライブ装置 | |
JP4895560B2 (ja) | データ記憶装置 | |
US7609596B2 (en) | Storage apparatus and computer-readable storage medium | |
JP2007250162A (ja) | メディア・ドライブ装置及びその制御方法 | |
JP4937396B2 (ja) | データリードのためのヘッド位置決めにオフセットを用いる磁気ディスク装置及びヘッド位置決め方法 | |
US8320070B2 (en) | Magnetic disk drive and method for adjusting parameter in the same | |
JP2004206795A (ja) | ディスク記憶装置及びライト制御方法 | |
KR100855973B1 (ko) | 자기 헤드 부상 높이를 조절하는 하드디스크 드라이브 및그 방법 | |
JP2015022778A (ja) | 磁気ディスク装置および磁気ディスクのライト方法 | |
US7426086B2 (en) | Off track write protection for data storage device | |
CN114155905A (zh) | 磁盘装置的数据管理方法及磁盘装置 | |
JP2008004139A (ja) | 磁気記録再生装置の製造方法 | |
JP2011129213A (ja) | 磁気ディスク・ドライブ及びそのリフレッシュ・ライト方法 | |
JP2006236402A (ja) | 磁気ディスク装置及び製造方法 | |
US9190107B2 (en) | Information recording device and information recording method | |
JP2003141702A (ja) | ディスク記憶装置及びライト制御方法 | |
US9177597B2 (en) | Disk storage apparatus and method for managing storage area | |
JP2004118993A (ja) | 代替処理機能を有するディスク装置及び代替処理方法 |