JP2012154969A - サーモクロミック体及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】サーモクロミック体1は、基体20上に形成された、下地膜としての酸化亜鉛系薄膜11と、酸化亜鉛系薄膜11上に形成された二酸化バナジウム系薄膜12と、二酸化バナジウム系薄膜12上に形成された酸化ケイ素系薄膜13とを備え、400nm以下である波長λ0に対し、酸化亜鉛系薄膜11の光学膜厚はλ0/4であり、二酸化バナジウム系薄膜12の光学膜厚はλ0/2であり、酸化ケイ素系薄膜13の光学膜厚はλ0/4である。
【選択図】図1
Description
1.サーモクロミック体
2.サーモクロミック体の第1の変形例
3.サーモクロミック体の第2の変形例
4.サーモクロミック体の第3の変形例
5.サーモクロミック体の製造方法
6.サーモクロミック体の適用例
7.実施例
本実施の形態におけるサーモクロミック体について説明する。図1に示すように、本実施の形態におけるサーモクロミック体1は、基体20上に、下地膜である第1の薄膜層として酸化亜鉛系薄膜11が形成されている。そして、酸化亜鉛系薄膜11上に第2の薄膜層として二酸化バナジウム系薄膜12が形成され、さらに二酸化バナジウム系薄膜12上に第3の薄膜層として酸化ケイ素系薄膜13が形成されている。すなわち、サーモクロミック体1は、基体20上に、酸化亜鉛系薄膜11と、二酸化バナジウム系薄膜12と、酸化ケイ素系薄膜13とからなる3層積層膜10を備えてなる。
本実施の形態におけるサーモクロミック体の第1の変形例であるサーモクロミック体1Aは、下地膜である第1の薄膜層としての酸化亜鉛系薄膜11Aと、酸化亜鉛薄膜11A上に形成された第2の薄膜層としての二酸化バナジウム系薄膜12と、二酸化バナジウム系薄膜12上に形成された第3の薄膜層としての酸化ケイ素系薄膜13とからなる3層積層膜10Aを基体20上に形成してなる。
本実施の形態におけるサーモクロミック体の第2の変形例であるサーモクロミック体1Bは、基体20上に形成された下地膜としての酸化亜鉛系薄膜11と、酸化亜鉛系薄膜11上に形成された第2の薄膜層としての二酸化バナジウム系薄膜12と、二酸化バナジウム系薄膜12上に形成された第3の薄膜層としての酸化ケイ素系薄膜13Bとからなる3層積層膜10Bを備える。
本実施の形態におけるサーモクロミック体の第3の変形例であるサーモクロミック体1Cは、基体20上に形成された下地膜である第1の薄膜層としての酸化亜鉛系薄膜11Aと、酸化亜鉛系薄膜11A上に形成された第2の薄膜層としての二酸化バナジウム系薄膜12と、二酸化バナジウム系薄膜12上に形成された第3の薄膜層としての酸化ケイ素系薄膜13Bとからなる3層積層膜10Cを備える。
サーモクロミック1は、基体20上に、下地膜として酸化亜鉛系薄膜11を形成し、酸化亜鉛系薄膜11上に二酸化バナジウム系薄膜12を形成し、二酸化バナジウム系薄膜12上に酸化ケイ素系薄膜13を形成することにより製造される。
サーモクロミック体1は、例えば、熱線遮蔽ガラスや、熱線遮蔽フィルムに好適に適用することができる。熱線遮蔽ガラスや熱線遮蔽フィルムは、例えば、基体10としてガラスやフィルムを用い、この基体10上に酸化亜鉛系薄膜からなる下地膜11を形成し、下地膜11上に二酸化バナジウム系薄膜12を形成し、二酸化バナジウム系薄膜12上に酸化ケイ素系薄膜13を形成することにより得られる。このとき、熱線遮蔽ガラスや熱線遮蔽フィルムは、下地膜11と、二酸化バナジウム系薄膜12と、酸化ケイ素系薄膜13との各薄膜層の光学膜厚を制御した薄膜を基体10上に順次積層形成することによって、可視光領域、特に波長400〜500nmの短波長側において高い透過率を得ることが可能な熱線遮蔽フィルム又は熱線遮蔽ガラスとすることができる。
以下、本発明の実施例によって本発明をさらに詳細に説明するが、本発明は、これらの実施例によって限定されるものではない。
基体上に、第1の薄膜層として酸化亜鉛薄膜からなる下地膜を形成し、下地膜上に、第2の薄膜層として二酸化バナジウム薄膜を形成し、さらに、二酸化バナジウム薄膜上に、第3の薄膜層として酸化ケイ素系薄膜を形成した。これにより、基体上に3層積層膜を成膜してなるサーモクロミック体を製造した。製造したサーモクロミック体において、第1の薄膜層の光学膜厚をλ0/4、第2の薄膜層の光学膜厚をλ0/2、第3の薄膜層の光学膜厚をλ0/4とした。実施例1において、波長λ0は、300nmとした。
実施例2では波長λ0を400nmとし、実施例3では波長λ0を200nmとした以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。
比較例1では波長λ0を500nmとし、比較例2では波長λ0を550nmとした以外は、実施例1〜3と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。
第1の薄膜層の酸化亜鉛薄膜の光学膜厚及び第3の薄膜層の酸化ケイ素薄膜の光学膜厚を何れもλ0/4よりも厚くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜の光学膜厚については、波長λ0を300nmでλ0/2に固定し、酸化亜鉛薄膜の光学膜厚λ1/4、酸化シリコン薄膜の光学膜厚λ3/4を、波長λ1及びλ3が何れも400nm(実施例4)、500nm(実施例5)、600nm(実施例6)相当の光学膜厚となるように設定した。
第1の薄膜層である酸化亜鉛薄膜の光学膜厚及び第3の薄膜層である酸化シリコン薄膜の光学膜厚をともにλ0/4より厚くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜の光学膜厚については波長λ0を300nmに固定し、酸化亜鉛薄膜の光学膜厚λ1/4及び酸化シリコン薄膜の光学膜厚λ3/4を、波長λ1及びλ3が何れも700nm相当の光学膜厚となるよう厚くした。
第1の薄膜層である酸化亜鉛薄膜の光学膜厚及び第3の薄膜層である酸化シリコン薄膜の光学膜厚を何れもλ0/4よりともに薄くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第2の薄膜層である二酸化バナジウム薄膜の光学膜厚については波長λ0を300nmに固定し、酸化亜鉛薄膜の光学膜厚λ1/4及び酸化シリコン薄膜の光学膜厚λ3/4を、波長λ1及びλ3が200nm相当の光学膜厚となるように薄くした。
最表面の第3の薄膜層となる酸化ケイ素系薄膜を形成しないこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、2層積層膜を備えたサーモクロミック体を製造した。
第1の薄膜層の酸化亜鉛薄膜の光学膜厚をλ0/4より厚くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜及び第3の薄膜層の酸化ケイ素薄膜の光学膜厚については波長λ0を300nmに固定し、酸化亜鉛薄膜のみを、波長λ1が500nm(実施例7)、700nm(実施例8)相当の光学膜厚λ1/4となるように厚くした。
第1の薄膜層の酸化亜鉛薄膜の光学膜厚をλ0/4より厚くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜及び第3の薄膜層の酸化ケイ素薄膜の光学膜厚については、波長λ0を300nmに固定し、酸化亜鉛薄膜のみを、波長λ1が900nm相当の光学膜厚λ1/4となるように厚くした。
第1の薄膜層の酸化亜鉛薄膜の光学膜厚をλ0/4より薄くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜及び第3の薄膜層の酸化シリコン薄膜の光学膜厚については、波長λ0を300nmに固定し、酸化亜鉛薄膜のみを、波長λ1が200nm相当の光学膜厚λ1/4となるように薄くした。
第3の薄膜層である酸化ケイ素薄膜の光学膜厚をλ0/4より厚くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第1の薄膜層である酸化亜鉛薄膜の光学膜厚及び第2の薄膜層である二酸化バナジウム薄膜の光学膜厚については、何れも波長λ0を300nmに固定し、第3の薄膜層の酸化ケイ素薄膜のみを、波長λ3が500nm(実施例9)、700nm(実施例10)相当の光学膜厚となるように厚くした。
第3の薄膜層である酸化ケイ素薄膜の光学膜厚をλ0/4より厚くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第1の薄膜層である酸化亜鉛薄膜の光学膜厚及び第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜の光学膜厚については、何れも波長λ0を300nmに固定し、第3の薄膜層の酸化ケイ素薄膜のみを、波長λ3が900nm相当の光学膜厚λ3/4となるように厚くした。
第3の薄膜層の酸化シリコン薄膜の光学膜厚をλ0/4より薄くしたこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第1の薄膜層の酸化亜鉛薄膜の光学膜厚及び第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜の光学膜厚については、波長λ0を300nmに固定し、第3の薄膜層の酸化ケイ素薄膜のみ、波長λ3が200nm相当の光学膜厚となるように薄くした。
第1の薄膜層をアルミニウム添加酸化亜鉛薄膜に変更したこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。この際、酸化亜鉛薄膜へのアルミニウム添加量は、Al/(Zn+Al)原子数比で0.047とした。
第1の薄膜層の光学膜厚及び第3の薄膜層の酸化ケイ素薄膜の光学膜厚をλ0/4より厚くしたこと以外は、実施例11と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。
第1の薄膜層をガリウム添加酸化亜鉛薄膜に変更したこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。このとき、酸化亜鉛薄膜へのガリウム添加量は、Ga/(Zn+Ga)原子数比で0.050とした。
第1の薄膜層のガリウム添加酸化亜鉛薄膜の光学膜厚及び第3の薄膜層の酸化ケイ素薄膜の光学膜厚を何れもλ0/4よりも厚くしたこと以外は、実施例14と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。具体的には、第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜の光学膜厚については波長λ0を300nmに固定し、第1の薄膜層及び第3の薄膜層を、波長λ1及びλ3が何れも400nm(実施例15)、500nm(実施例16)相当の光学膜厚λ1/4,λ3/4となるように厚くした。
第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜をタングステン添加二酸化バナジウム薄膜に変更したこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。第2の薄膜層の二酸化バナジウム薄膜のタングステン添加量は、W/(V+W)で表されるタングステン原子数比で0.015とした。
第2の薄膜層をモリブデン添加二酸化バナジウム薄膜に変更したこと以外は、実施例1と同様の処理を行い、サーモクロミック体を製造した。第2の薄膜層のタモリブデン添加量は、Mo/(V+Mo)で表されるモリブデン原子数比で0.032とした。
Claims (11)
- 基体上に形成された、下地膜としての酸化亜鉛系薄膜と、
前記酸化亜鉛系薄膜上に形成された二酸化バナジウム系薄膜と、
前記二酸化バナジウム系薄膜上に形成された酸化ケイ素系薄膜とを備え、
400nm以下である波長λ0に対し、前記酸化亜鉛系薄膜の光学膜厚はλ0/4であり、前記二酸化バナジウム系薄膜の光学膜厚はλ0/2であり、前記酸化ケイ素系薄膜の光学膜厚はλ0/4であることを特徴とするサーモクロミック体。 - 波長λ0は、200〜400nmであることを特徴とする請求項1記載のサーモクロミック体。
- 前記酸化亜鉛系薄膜は、酸化亜鉛からなる薄膜、又は、酸化亜鉛に、アルミニウムと、ガリウムと、硼素と、インジウムとからなる元素群から選択される1種以上の元素を添加してなる薄膜であることを特徴とする請求項1又は2記載のサーモクロミック体。
- 前記二酸化バナジウム系薄膜は、二酸化バナジウムからなる薄膜、又は、二酸化バナジウムに、タングステンと、モリブデンと、タンタルと、ニオブとからなる金属元素群から選択される1種以上の金属元素を添加してなる薄膜であることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項記載のサーモクロミック体。
- 前記二酸化バナジウム系薄膜は、二酸化バナジウムにタングステンを添加してなる薄膜であり、該二酸化バナジウム系薄膜中の該タングステンの含有量は、W/(V+W)で表わされる原子数比で0.001〜0.1であることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項記載のサーモクロミック体。
- 前記二酸化バナジウム系薄膜は、二酸化バナジウムにモリブデンを添加してなる薄膜であり、該二酸化バナジウム系薄膜中の該モリブデンの含有量は、Mo/(V+Mo)で表わされる原子数比で0.001〜0.1であることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項記載のサーモクロミック体。
- 基体上に形成された、下地膜としての酸化亜鉛系薄膜と、
前記酸化亜鉛系薄膜上に形成された二酸化バナジウム系薄膜と、
前記二酸化バナジウム系薄膜上に形成された酸化ケイ素系薄膜とを備え、
400nm以下である波長λ0に対し、λ1は、λ0よりも大きく700nm以下であり、前記酸化亜鉛系薄膜の光学膜厚はλ1/4であり、前記二酸化バナジウム系薄膜の光学膜厚はλ0/2であり、前記酸化ケイ素系薄膜の光学膜厚はλ0/4であることを特徴とするサーモクロミック体。 - 基体上に形成された、下地膜としての酸化亜鉛系薄膜と、
前記酸化亜鉛系薄膜上に形成された二酸化バナジウム系薄膜と、
前記二酸化バナジウム系薄膜上に形成された酸化ケイ素系薄膜とを備え、
400nm以下である波長λ0に対し、λ3は、λ0よりも大きく700nm以下であり、前記酸化亜鉛系薄膜の光学膜厚はλ0/4であり、前記二酸化バナジウム系薄膜の光学膜厚はλ0/2であり、前記酸化ケイ素系薄膜の光学膜厚はλ3/4であることを特徴とするサーモクロミック体。 - 基体上に形成された、下地膜としての酸化亜鉛系薄膜と、
前記酸化亜鉛系薄膜上に形成された二酸化バナジウム系薄膜と、
前記二酸化バナジウム系薄膜上に形成された酸化ケイ素系薄膜とを備え、
400nm以下である波長λ0に対し、λ1、λ3は、何れもλ0よりも大きく600nm以下であり、前記酸化亜鉛系薄膜の光学膜厚は、λ1/4であり、前記二酸化バナジウム系薄膜の光学膜厚はλ0/2であり、前記酸化ケイ素系薄膜の光学膜厚はλ3/4であることを特徴とするサーモクロミック体。 - 前記請求項1乃至請求項9の何れか1項に記載のサーモクロミック体からなる熱線遮蔽ガラス。
- 基体上に下地膜として酸化亜鉛系薄膜を形成し、
前記酸化亜鉛系薄膜上に二酸化バナジウム系薄膜を形成し、
前記二酸化バナジウム系薄膜上に酸化ケイ素系薄膜を形成し、
400nm以下である波長λ0に対し、前記酸化亜鉛系薄膜の光学膜厚をλ0/4とし、前記二酸化バナジウム系薄膜の光学膜厚をλ0/2とし、前記酸化ケイ素系薄膜の光学膜厚をλ0/4とすることを特徴とするサーモクロミック体の製造方法。
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