JP2012142549A - Thin substrate support body attachment/removal equipment and attachment/removal methods of in the same - Google Patents
Thin substrate support body attachment/removal equipment and attachment/removal methods of in the same Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012142549A JP2012142549A JP2011165264A JP2011165264A JP2012142549A JP 2012142549 A JP2012142549 A JP 2012142549A JP 2011165264 A JP2011165264 A JP 2011165264A JP 2011165264 A JP2011165264 A JP 2011165264A JP 2012142549 A JP2012142549 A JP 2012142549A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support
- thin substrate
- chuck
- vacuum
- thin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
Abstract
Description
本発明は、薄型基板用支持体脱着設備及びその脱着方法に関するもので、詳しくは、本体と、該本体内部に設けられ、上下方向に駆動するシリンダと、該本体上に設けられる真空チャンバと、該真空チャンバ内で前記シリンダ上に結合されて支持体が設けられる真空チャックと、該本体上に設けられた支持台上に設けられ、薄型基板が結合される多孔チャックとから構成される装置を用いることによって、薄型基板と支持体とを脱着する過程において該薄型基板の損傷を最小化する設備及び方法に関するのである。 The present invention relates to a support for detaching a substrate for a thin substrate and a method for detaching the same, and more specifically, a main body, a cylinder provided inside the main body and driven in the vertical direction, a vacuum chamber provided on the main body, An apparatus comprising: a vacuum chuck coupled to the cylinder in the vacuum chamber and provided with a support; and a porous chuck provided on a support base provided on the main body and coupled with a thin substrate. The present invention relates to an apparatus and a method for minimizing damage to the thin substrate in the process of detaching the thin substrate and the support.
半導体素子を生産する製造工程は、ウエハ基板を加工してチップを作る「前工程」、該チップにリード線を付けてパッケージング作業を行う「組立工程」、各工程ごとに不良有無を検査する「検査工程」に大別される。 The manufacturing process for producing semiconductor elements includes a “pre-process” in which a chip is formed by processing a wafer substrate, an “assembly process” in which a lead wire is attached to the chip and a packaging operation is performed. It is roughly divided into “inspection process”.
このうち、加工が完了したウエハ基板にリード線を取り付けてパッケージングを行う「組立工程」において、特にWLP工程ではウエハ基板が装備の支持体と脱着される過程で損傷が発生し易いことがある。 Among these, in the “assembly process” in which lead wires are attached to a finished wafer substrate for packaging, damage is likely to occur during the process of detaching the wafer substrate from the equipment support, particularly in the WLP process. .
一方、一般にシリコンを用いるウエハ基板が利用されて来たが、最近、薄型基板の材料として有機物素材が研究されている。 On the other hand, in general, a wafer substrate using silicon has been used, but recently, an organic material has been studied as a material for a thin substrate.
しかし、該有機物素材の半導体ウエハ基板は、反り及び損傷がより発生し易い。そのため、半導体工程の進行に不都合があって工程性を改善するための半導体ウエハ基板用支持体脱着設備及びその脱着方法が必要となる。ひいては、WLP工程においてウエハ基板だけではなく薄型の基板に全て適用可能な基板用支持体脱着設備及びその方法が必要となる。 However, the semiconductor wafer substrate made of the organic material is more likely to be warped and damaged. Therefore, there is an inconvenience in the progress of the semiconductor process, and there is a need for a semiconductor wafer substrate support desorbing facility and its desorbing method for improving processability. As a result, in the WLP process, not only a wafer substrate but also a thin substrate can be used, and a substrate support attaching / detaching apparatus and method thereof are required.
本発明は上記の問題点に鑑みて成されたものであって、本体と、該本体内部に設けられ、上下方向に駆動するシリンダと、該本体上に設けられる真空チャンバと、該真空チャンバ内で、該シリンダ上に結合され、支持体が設けられる真空チャックと、該本体上に設けられた支持台上に設けられ、薄型基板が結合される多孔チャックとから構成される装置を用いることによって、薄型基板と支持体とを脱着する過程において薄型基板の損傷を最小化する設備及びその方法を提供することに、その目的がある。 The present invention has been made in view of the above problems, and includes a main body, a cylinder provided inside the main body and driven in the vertical direction, a vacuum chamber provided on the main body, and an inside of the vacuum chamber. By using an apparatus constituted by a vacuum chuck coupled on the cylinder and provided with a support, and a porous chuck provided on a support base provided on the main body and coupled with a thin substrate. An object of the present invention is to provide an apparatus and method for minimizing damage to a thin substrate in the process of detaching the thin substrate and the support.
上記目的を解決するために、本発明の好適な実施形態による薄型基板用支持体脱着設備は、本体と、該本体内部に設けられ、上下方向に駆動するシリンダと、前記本体上に設けられる真空チャンバと、該真空チャンバ内で、前記、シリンダ上に結合され、支持体が設けられる真空チャックと、該本体上に設けられた支持台上に設けられ、薄型基板が結合される多孔チャックとを含んで構成される。 In order to solve the above-described object, a support for attaching and detaching a thin substrate according to a preferred embodiment of the present invention includes a main body, a cylinder provided inside the main body and driven in the vertical direction, and a vacuum provided on the main body. A chamber, a vacuum chuck coupled on the cylinder and provided with a support in the vacuum chamber, and a porous chuck provided on a support base provided on the main body and coupled with a thin substrate. Consists of including.
前記多孔チャックは、多孔性の材料を含むことができる。 The porous chuck may include a porous material.
前記真空チャックは、その上面に真空領域を有することができる。 The vacuum chuck may have a vacuum region on an upper surface thereof.
前記真空チャックは、その上面の一側に空気噴射口を備えることができる。 The vacuum chuck may include an air injection port on one side of the upper surface thereof.
また、上記目的を解決するために、本発明の他の好適な実施形態による薄型基板用支持体脱着方法は、真空チャックに支持された支持体と結合している薄型基板の脱着方法であって、該基板を多孔チャックに実装して吸気する工程と、空気を噴射して前記基板と前記支持体とを分離する工程とを含んで構成される。 In order to solve the above object, a thin substrate support removing method according to another preferred embodiment of the present invention is a method for removing a thin substrate coupled to a support supported by a vacuum chuck. And a step of mounting the substrate on a perforated chuck and sucking air, and a step of jetting air to separate the substrate and the support.
前記多孔チャックは、多孔性材料を含むことができる。 The porous chuck may include a porous material.
前記真空チャックは、その上面に真空領域を有することができる。 The vacuum chuck may have a vacuum region on an upper surface thereof.
前記真空チャックは、その上面の一側に空気噴射口を備えることができる。 The vacuum chuck may include an air injection port on one side of the upper surface thereof.
前記支持体と前記基板との分離工程において、前記真空チャックを一側から傾ける工程をさらに含むことができる。 The step of separating the support and the substrate may further include a step of tilting the vacuum chuck from one side.
本発明によれば、WLP工程で薄型基板の反りや損傷の現象を最小化すると共に、薄型基板の脱着を容易に行うことができるという効果を奏する。 According to the present invention, it is possible to minimize the warping and damage phenomenon of the thin substrate in the WLP process and to easily attach and detach the thin substrate.
以下、本発明の好適な実施の形態は図面を参考にして詳細に説明する。次に示される各実施の形態は当業者にとって本発明の思想が十分に伝達されることができるようにするために例として挙げられるものである。従って、本発明は以下示している各実施の形態に限定されることなく他の形態で具体化されることができる。そして、図面において、装置の大きさ及び厚さなどは便宜上誇張して表現されることができる。明細書全体に渡って同一の参照符号は同一の構成要素を示している。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Each embodiment shown below is given as an example so that those skilled in the art can sufficiently communicate the idea of the present invention. Therefore, the present invention is not limited to the embodiments described below, but can be embodied in other forms. In the drawings, the size and thickness of the device can be exaggerated for convenience. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.
本明細書で使われた用語は、実施形態を説明するためのものであって、本発明を制限しようとするものではない。本明細書において、単数形は文句で特別に言及しない限り複数形も含む。明細書で使われる「含む」とは言及された構成要素、ステップ、動作及び/又は素子は、一つ以上の他の構成要素、ステップ、動作及び/又は素子の存在または追加を排除しないことに理解されたい。 The terminology used herein is for the purpose of describing embodiments and is not intended to limit the invention. In this specification, the singular includes the plural unless specifically stated otherwise. As used herein, a component, step, operation, and / or element referred to as “comprising” does not exclude the presence or addition of one or more other components, steps, operations, and / or elements. I want you to understand.
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態による薄型基板用支持体脱着設備及びその脱着方法について説明すれば、次のとおりである。 Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, a thin substrate support detachment facility and a detachment method thereof according to a preferred embodiment of the present invention will be described.
[薄型基板用支持体脱着設備]
図1は、本発明の薄型基板用支持体脱着設備の正面図である。同図のように、本発明による設備は、本体100と、シリンダ110と、真空チャンバ120と、真空チャック130と、多孔チャック140とで構成される。
[Thin substrate support desorption equipment]
FIG. 1 is a front view of a support for attaching and detaching a thin substrate according to the present invention. As shown in the figure, the equipment according to the present invention includes a
詳しくは、本発明の薄型基板用支持体脱着設備は、本体100と、該本体100の内部に設けられ、上下方向に駆動するシリンダ110と、該本体100上に設けられる真空チャンバ120と、該真空チャンバ120内でシリンダ110上に結合されて支持体10が設けられる真空チャック130と、該本体100上に設けられた支持台上に設けられ、薄型基板が結合される多孔チャック140とを含んで構成される。
Specifically, the support for attaching and detaching a thin substrate according to the present invention includes a
前記本体100は、本発明の薄型基板用支持体脱着設備を支持する機能をする。
The
前記シリンダ110は、前記本体100内部に設けられ、上下方向に駆動することによって、該シリンダ110上に結合されている真空チャック130が上下方向に駆動され、それによって支持された支持体10が薄型基板(図1には図示せず)30との脱着が円滑に行われるようになる。
The
前記支持体10は、本発明の装置内で薄型基板の反り現象を改善して工程の進行を容易にするものであって、金属、セラミックス、ガラス高分子など、工程の進行性を確保可能な材料ならいずれでも使用が可能である。
The
前記支持体10には、再生テープ(図1には図示せず)20が付着される。この再生テープ20は、前記支持体10と薄型基板30のマスク層とを互いに連結する機能をし、脱着が数回可能な再生素材が挙げられる。
Recycled tape (not shown in FIG. 1) 20 is attached to the
前記真空チャンバ120は、前記本体100に設けられ、薄型基板30と支持体10との脱着工程が真空状態で行われるように空間を形成する機能をする。特に、前記薄型基板30と支持体10との付着工程の際、界面における気泡を最小化する。
The
前記真空チャック130は、前記真空チャンバ120内で前記シリンダ110上に結合され、支持体10が設けられるもので、薄型基板30と支持体10とが付着工程で真空ラミネーティングを行われるように、真空環境を形成する。
The
ここで、前記真空チャック130は、前記シリンダ110と連結される下部固定枠131によって支持される。該下部固定枠131には貫通部が形成されており、該貫通部を通じて貫通ピン132が貫くことによって真空チャック130が固定される。該貫通部の一側には、貫通ピン132が動き得る一定な空間部133が存在し、該真空チャック130が傾斜運動できるようになる。
Here, the
前記多孔チャック140は、前記本体100上に設けられた支持台上に設けられ、薄型基板30が結合される部材であって、前記支持体10と薄型基板30とが付着される場合、前記多孔チャック140は前記薄型基板30と分離され、前記支持体10と薄型基板30とが脱着される場合は、前記多孔チャック140は前記薄型基板30と付着される。
The
前記多孔チャック140は、前記薄型基板30の損傷を最小化するために、多孔性の材料から成るのが望ましい。
The
図2aは、真空チャック130の真空領域を示す平面図であって、図2bは、真空チャック130の空気噴射領域を示す平面図である。
FIG. 2 a is a plan view showing a vacuum region of the
まず、図2aに示すように、真空チャック130の上面には真空領域134が形成される。前述のように、支持体10と薄型基板30との付着工程において、前記真空領域134を介して真空ラミネーティングが行われる。ここで、前記真空領域134はこれに限定するものではなく、多様な変形が可能であり、当業者にとっては自明なものである。
First, as shown in FIG. 2 a, a
また、図2bに示すように、真空チャック130の上面には空気噴射口135が形成されている。該空気噴射口135は、支持体10と薄型基板30との脱着工程において真空チャック130から支持体10を経って薄型基板30の方へ空気を噴射(blow)することによって、薄型基板30の損傷を最小化すると共に脱着が容易に行われるようにする。支持体10には、前記空気噴射口135から抜けて来る空気が通過するように、図3に示すような気孔11が形成される。
In addition, as shown in FIG. 2 b, an
特に、該空気噴射口135は真空チャック130の一側のみに設けられている。この場合、該一側のみで空気噴射が行われ、真空チャック130が傾きながら薄型基板30と脱着されるため、該薄型基板30の損傷を最小化すると共に脱着も容易に行われる。
In particular, the
一方、前述のように、前記支持体10の上部には再生テープ20が付着される。図3で示すように、支持体10に設けられる気孔11が露出するように、該再生テープ20には一定なオープン領域21が形成される。
On the other hand, as described above, the
[薄型基板用支持体脱着方法]
図4a〜図4fは、本発明の薄型基板用支持体脱着設備を用いる脱着方法を示す断面図である。
[Thin substrate support removal method]
4a to 4f are cross-sectional views showing a desorption method using the thin substrate support desorption facility of the present invention.
脱着工程に先立って、その前提になる付着工程に対して説明すると、まず、再生テープ20が付着された支持体10と薄型基板30とを各々真空チャック130、多孔チャック140に実装する(図4a)。
Prior to the desorption process, the attachment process, which is a prerequisite for this, will be described. First, the
続いて、該真空チャック130に圧力を加えて、前記再生テープ20が付着された支持体10と薄型基板30とを真空ラミネーティングする。真空チャック130の上面に形成された真空領域134を介して真空ラミネーティングが行われる(図4b)。
Subsequently, pressure is applied to the
続いて、前記多孔チャック140から薄型基板30を分離して前記再生テープ20が付着された支持体10の上部に薄型基板30を付着する(図4c)。該薄型基板30は、前記多孔チャック140から分離され、該薄型基板30は前記支持体10に付着された再生テープ20によって支持体10に付着されることによって付着工程が完了する。
Subsequently, the
次に、本発明の脱着工程に対して説明する。まず、前記薄型基板30を前記多孔チャック140に実装し吸気する(図4d)。前述のように、多孔チャック140は多孔性材料からなるため、吸気が可能である。このような吸気過程によって、多孔チャック140に前記薄型基板30が良く付着されて支持体10からの薄型基板30の離脱が容易に行われる。
Next, the desorption process of the present invention will be described. First, the
続いて、真空チャック130の空気噴射口135を通じて空気を噴射して前記薄型基板30と前記再生テープ20が付着された支持体10とを分離することによって、脱着工程が完了する(図4e及び図4f)。前記真空チャック130は、一側に空気噴射口135を備え、これを通じて一側のみから空気を噴射するため、図4fに示すように前記真空チャック130が一側から傾くようになり、薄型基板30の損傷なしに脱着が容易になる。
Subsequently, air is ejected through the
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、前記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiments but by the scope of claims, and is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of claims.
10 支持体
20 再生テープ
30 薄型基板
100 本体
110 シリンダ
120 真空チャンバ
130 真空チャック
140 多孔チャック
DESCRIPTION OF
Claims (9)
前記本体内部に設けられ、上下方向に駆動するシリンダと、
前記本体上に設けられる真空チャンバと、
前記真空チャンバ内で前記シリンダ上に結合され、支持体が設けられる真空チャックと、
前記本体上に設けられた支持台上に設けられ、薄型基板が結合される多孔チャックと、
を含む薄型基板用支持体脱着設備。 The body,
A cylinder provided inside the main body and driven in the vertical direction;
A vacuum chamber provided on the body;
A vacuum chuck coupled to the cylinder in the vacuum chamber and provided with a support;
A porous chuck provided on a support base provided on the main body and to which a thin substrate is coupled;
Equipment for attaching and detaching a support for thin substrates.
前記基板を多孔チャックに実装して吸気する工程と、
空気を噴射して前記基板と前記支持体とを分離する工程と、
を含む薄型基板用支持体脱着方法。 In a method for attaching and detaching a thin substrate coupled with a support supported by a vacuum chuck,
Mounting the substrate on a perforated chuck and sucking air;
Injecting air to separate the substrate and the support;
A method for detaching and supporting a thin substrate.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100137732A KR101175918B1 (en) | 2010-12-29 | 2010-12-29 | Apparatus for attaching and detaching of support of film substrate and detaching method using the same |
KR10-2010-0137732 | 2010-12-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012142549A true JP2012142549A (en) | 2012-07-26 |
Family
ID=46678484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011165264A Pending JP2012142549A (en) | 2010-12-29 | 2011-07-28 | Thin substrate support body attachment/removal equipment and attachment/removal methods of in the same |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2012142549A (en) |
KR (1) | KR101175918B1 (en) |
TW (1) | TW201230168A (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023507966A (en) * | 2019-12-17 | 2023-02-28 | キューリック・アンド・ソファ・ネザーランズ・ベーフェー | Adhesive tape for receiving individual components |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0839377A (en) * | 1994-07-29 | 1996-02-13 | Ckd Corp | Method and device for removing work from vacuum chuck device |
JP2009170761A (en) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | Pasting apparatus of substrate body, and treating method of substrate body |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100674033B1 (en) * | 2004-01-30 | 2007-01-26 | 엘지전자 주식회사 | Deposition Apparatus |
-
2010
- 2010-12-29 KR KR1020100137732A patent/KR101175918B1/en not_active IP Right Cessation
-
2011
- 2011-07-07 TW TW100124105A patent/TW201230168A/en unknown
- 2011-07-28 JP JP2011165264A patent/JP2012142549A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0839377A (en) * | 1994-07-29 | 1996-02-13 | Ckd Corp | Method and device for removing work from vacuum chuck device |
JP2009170761A (en) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | Pasting apparatus of substrate body, and treating method of substrate body |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101175918B1 (en) | 2012-08-22 |
KR20120075851A (en) | 2012-07-09 |
TW201230168A (en) | 2012-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI419213B (en) | Universal die detachment apparatus | |
KR101596461B1 (en) | Apparatus and Method for Chip Detaching | |
JP5210060B2 (en) | Peeling apparatus and peeling method | |
KR20040041789A (en) | Chip pick-up method and device for manufacturing semiconductor device using air blowing | |
KR20060050860A (en) | Stage for mounting substrate and method for attracting and separating substrate | |
JP2010010207A (en) | Separating apparatus and separating method | |
CN107686007B (en) | Glass substrate separation method and glass substrate separator | |
JP2009188157A (en) | Chip-releasing device, chip-releasing method, and chip-pickup device | |
JP2002280330A (en) | Pickup method of chip-type component | |
JP2006319150A (en) | Semiconductor chip pick-up device and method therefor | |
JP4408097B2 (en) | Method for picking up semiconductor components | |
JP2009049127A (en) | Production method of semiconductor device and collet chuck | |
JP6366223B2 (en) | Semiconductor chip pickup device | |
JP2012142549A (en) | Thin substrate support body attachment/removal equipment and attachment/removal methods of in the same | |
KR20180112489A (en) | Substrate supporting member and method of de-chucking substrate thereof | |
CN218274552U (en) | Mesa of wafer laser dissociation bonding | |
JP5662744B2 (en) | Holding device | |
JP2017041532A (en) | Chip peeling device and chip peeling method | |
JP2010087359A (en) | Pickup apparatus | |
JP4801644B2 (en) | Substrate holding device, substrate processing apparatus, and substrate processing method | |
JP2014165301A (en) | Pick-up device for semiconductor chip | |
KR102330661B1 (en) | Die pickup module and die bonding apparatus including the same | |
KR200363934Y1 (en) | Back-up holder for die bonder | |
JP5227554B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
KR20050092184A (en) | Aapparatus for picking up a die and method using the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121023 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130123 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130128 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130225 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130709 |