JP2012135850A - 加工装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】排気装置を大型化することなく、加工チャンバーや洗浄チャンバー内の排気能力を向上させること。
【解決手段】ワークを吸引保持するチャックテーブル機構3と、チャックテーブル機構3に保持されたワークを加工するブレード711,721と、ブレード711,721を回転可能に支持する気体軸受けを有するスピンドル712,722と、を備えた第一及び第二の切削加工手段71,72と、ブレード711,721がワークに作用する加工点を覆う加工チャンバー100とを有する加工装置であって、チャックテーブル機構3若しくは第一及び第二の切削加工手段71,72の気体軸受けに用いられた気体の排気経路713,723に加工チャンバー100内に吸引力を発生させるエジェクター111,112を有する。
【選択図】図2

Description

本発明は、工具がワークに作用する加工点を覆う加工チャンバーや洗浄保持手段を覆う洗浄チャンバーを備える加工装置に関するものである。
半導体デバイス製造工程では、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に形成されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって区画された多数の領域にIC,LSI等の回路を形成し、回路が形成された各領域を分割予定ラインに沿って分割することによって、個々の半導体デバイスが製造される。一般に、半導体ウエーハを分割する分割装置としては、切削装置が用いられている。この切削装置は、半導体ウエーハを保持するチャックテーブルと、チャックテーブルに保持された半導体ウエーハを切削する切削ブレードを有する切削手段とを備え、切削ブレードを回転しつつチャックテーブルを相対的に切削送りさせることによって、半導体ウエーハを切削する。
このような切削装置では、切削加工を行う際、半導体ウエーハの加工点を冷却すると共に切削加工屑を排出する冷却水が使用されるために、切削加工雰囲気中に冷却水の噴霧が発生する。また、半導体ウエーハに洗浄水を供給することによって半導体ウエーハを洗浄する洗浄機構が設けられている場合には、洗浄雰囲気中に洗浄水の噴霧が発生する。このため、このような切削装置には、半導体ウエーハの加工点を覆う加工チャンバーや洗浄雰囲気を覆う洗浄チャンバーが設けられ、排気装置を利用して加工チャンバーや洗浄チャンバー内を排気することによって冷却水や洗浄水の噴霧が外部に拡散しないようにしている(特許文献1参照)。なお、加工チャンバーや洗浄チャンバーは、研削/研磨装置等の切削装置以外の加工装置にも用いられ、切削装置以外の加工装置でも同様に加工チャンバーや洗浄チャンバー内を排気するようにしている。
特開2010−017798号公報
ところで、近年、噴霧の拡散及び噴霧が半導体ウエーハに付着することを抑制するために、加工チャンバーや洗浄チャンバー内をより強力に排気したいという要望があった。しかしながら、排気装置を利用して加工チャンバーや洗浄チャンバー内をより強力に排気しようとすると、排気装置が大型になり、コストが増加してしまう。このため、排気装置を大型化することなく、加工チャンバーや洗浄チャンバー内をより強力に排気可能な技術の提供が期待されていた。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、その目的は、排気装置を大型化することなく、加工チャンバーや洗浄チャンバー内の排気能力を向上可能な加工装置を提供することにある。
上記課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る加工装置は、ワークを吸引保持する加工保持手段と、該加工保持手段に保持されたワークを加工する工具と、該工具を回転可能に支持する気体軸受けを有するスピンドルと、を備えた加工手段と、該工具がワークに作用する加工点を覆う加工チャンバーと、ワークを吸引保持する洗浄保持手段と、該洗浄保持手段に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、該洗浄保持手段を覆う洗浄チャンバーと、を有する加工装置であって、該加工保持手段若しくは該加工手段の気体軸受け若しくは該洗浄保持手段の何れかに用いられた気体の排気経路に、該加工チャンバー内若しくは該洗浄チャンバー内に吸引力を発生させるエジェクターを配設したことを特徴とする。
また、本発明に係る加工装置は、上記の発明において、該加工保持手段若しくは該加工手段の気体軸受けの何れかに用いられた気体の排気経路に、該加工チャンバー内に吸引力を発生させるエジェクターを配設したことを特徴とする。
また、本発明に係る加工装置は、上記の発明において、該洗浄保持手段に用いられた気体の排気経路に、該洗浄チャンバー内に吸引力を発生させるエジェクターを配設したことを特徴とする。
本発明に係る加工装置によれば、排気装置を大型化することなく、加工チャンバーや洗浄チャンバー内の排気能力を向上させることができる。
図1は、本発明の一実施形態である切削装置の構成を示す斜視図である。 図2は、本発明の一実施形態である加工チャンバーの構成を示す平面図である。 図3は、図2に示すエジェクターの構成を示す平面図である。 図4は、図3に示すエジェクターの変形例の構成を示す平面図である。 図5は、図4のD−D線断面図である。 図6は、本発明の一実施形態である洗浄チャンバーの構成を示す断面図である。
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態である切削装置の構成について説明する。なお、以下では、鉛直方向をZ方向、鉛直方向に直交する方向(チャックテーブルの送り方向)をX方向、Z方向及びX方向に直交する方向をY方向(切削手段の送り方向)と表現する。また、切削装置が行う切削加工の中には溝入れ加工も含まれるものとする。
〔切削装置の構成〕
始めに、図1を参照して、本発明の一実施形態である切削装置の全体構成について説明する。図1は、本発明の一実施形態である切削装置の構成を示す斜視図である。
図1に示すように、本発明の一実施形態である切削装置1は、略直方体状の装置ハウジング2を備える。装置ハウジング2には、ワークを吸引保持してX方向にワークを移動させるチャックテーブル機構3が配設されている。チャックテーブル機構3は、本発明に係る加工保持手段として機能する。なお、切削装置1の加工対象となるワークは、特に限定されないが、例えばシリコンウエーハ,GaAsウエーハ,SiCウエーハ等の半導体ウエーハ、チップ実装用としてウエーハの裏面側に設けられるDAF(Die Attach Film)等の粘着部材、半導体製品のパッケージ、セラミックス,ガラス,サファイア(Al)等の無機材料基板、液晶ディスプレイドライバー等の各種電子部品、ミクロンオーダーからサブミクロンオーダーの平坦度(TTV:Total Thickness Variation:ワークの被研削面を基準として厚み方向に測定した高さのワーク被研削面の全面における最大値と最小値との差)が要求される各種加工材料等を例示できる。
装置ハウジング2の+X方向側面には、カセット30内に収容されているワークを搬出する搬出手段31が設けられている。搬出手段31は、先端部311aにおいてワークを保持するL字状の搬出アーム311と、搬出アーム311をY方向にガイドするガイド機構312とを備える。搬出手段31は、装置ハウジング2の+X方向側面に配設され、Y方向に延びる雄ネジロッド313を備える。雄ネジロット313は、装置ハウジング2に取り付けられた図示しない軸受部材によって回転自在に支持されている。図示しない軸受部材には、雄ネジロッド313を回転駆動するパルスモータ314が配設されている。搬出アーム311には、Y方向に延びる図示しない貫通雌ネジ孔が設けられている。雄ネジロッド313は、図示しない貫通雌ネジ孔に螺合している。これにより、パルスモータ314が正転した場合、搬出アーム311は+Y方向に移動する。一方、パルスモータ314が逆転した場合には、搬出アーム311は−Y方向に移動する。
搬出手段31の近傍には、X方向に配列された一対のワーク支持部材315が設けられている。一対のワーク支持部材315のX方向の間隔は、図示しない駆動機構によって変更することができる。搬出アーム311によって搬出されたワークは、一対のワーク支持部材315上に載置される。一対のワーク支持部材315の近傍には、ワークを吸着保持する搬送手段32が設けられている。搬送手段32は、一対のワーク支持部材315上に載置されたワークをチャックテーブル機構3に搬送する。搬出手段31及び搬送手段32によって、カセット30内に収容されたワークをチャックテーブル機構3に搬送することができる。
チャックテーブル機構3は、装置ハウジング2の凹部21に設けられた加工送り手段4によってX方向に往復移動される。加工送り手段4は、図示しない加工送り機構と、蛇腹手段41,42とを備える。蛇腹手段41,42は、チャックテーブル機構3のX方向端部に配設されている。蛇腹手段41,42は、キャンパス布等の適宜材料により形成されている。蛇腹手段41の−X方向端部は凹部21の−X方向側面から所定距離離間した位置に固定され、+X方向端部はチャックテーブル機構3に固定されている。蛇腹手段42の−X方向端部はチャックテーブル機構3に固定され、+X方向端部は凹部21の+X方向側面に固定されている。図示しない加工送り機構によってチャックテーブル機構3を−X方向に移動する場合、蛇腹手段41及び蛇腹手段42はそれぞれ収縮及び伸長する。一方、チャックテーブル機構3を+X方向に移動する場合には、蛇腹手段41及び蛇腹手段42はそれぞれ伸長及び収縮する。
装置ハウジング2は、加工送り手段4を跨いで配設された門型の支持フレーム5を備える。門型の支持フレーム5は、加工送り手段4の+Y方向側面に配設された第一の柱部51と、加工送り手段4の−Y方向側面に配設された第二の柱部52と、第一の柱部51の上端と第二の柱部52の上端とを連結してY方向に沿って配設された支持部53とを備える。支持部53の+X方向側面にはY方向に沿って一対の案内レール531,531が設けられている。第一の柱部51及び第二の柱部52の+X方向側面にはそれぞれ、第一の切削加工機構61及び第二の切削加工機構62が設けられている。
第一の切削加工機構61は、移動基台611,612と、移動基台612の下端部に装着された第一の切削加工手段71とを備える。移動基台611の−X方向側面は、一対の案内レール531,531に摺動可能に係合している。移動基台611の+X方向側面には、Z方向に沿って一対の案内レール613,613が設けられている。移動基台612の−X方向側面は、一対の案内レール613,613に摺動可能に係合している。第一の切削加工手段71は、ワークを切削加工するブレード711(図2参照)と、Y方向を回転軸としてブレード711を回転可能に支持する図示しない気体軸受けを有するスピンドル712とを備える。第一の切削加工手段71及びブレード711はそれぞれ、本発明に係る加工手段及び工具として機能する。
支持部53の+X方向側面には、第一の切削加工機構61を一対の案内レール531,531に沿ってX方向に移動させる第一のスピンドル送り手段81が設けられている。第一のスピンドル送り手段81は、支持部53の+X方向側面に配設され、Y方向に延びる雄ネジロッド811を備える。雄ネジロット811は、端部が支持部53に取り付けられた図示しない軸受部材によって回転自在に支持されている。図示しない軸受部材には、雄ネジロッド811を回転駆動するパルスモータ812が配設されている。移動基台611の−X方向側の面には、その軸方向中央部から−X方向に延びる図示しない貫通雌ネジ孔が設けられている。雄ネジロッド811は、図示しない貫通雌ネジ孔に螺合している。これにより、パルスモータ812が正転した場合、移動基台611、すなわち第一の切削加工機構61は+Y方向に移動する。一方、パルスモータ812が逆転した場合には、移動基台611、すなわち第一の切削加工機構61は−Y方向に移動する。
移動基台611の+X方向側面には、移動基台612を一対の案内レール613,613に沿ってZ方向に移動させる移動手段91が設けられている。移動手段91は、移動基台611の+X方向側面に配設され、Z方向に延びる雄ネジロッド911を備える。雄ネジロット911は、移動基台611に取り付けられた図示しない軸受部材によって回転自在に支持されている。図示しない軸受部材には、雄ネジロッド911を回転駆動するパルスモータ912が配設されている。移動基台612の−X方向側面には、その軸方向中央部から−X方向に延びる図示しない貫通雌ネジ孔が設けられている。雄ネジロッド911は、図示しない貫通雌ネジ孔に螺合している。これにより、パルスモータ912が正転した場合、移動基台612は+Z方向に移動する。一方、パルスモータ912が逆転した場合には、移動基台612は−Z方向に移動する。
第二の切削加工機構62は、移動基台621,622と、移動基台622の下端部に装着された第二の切削加工手段72と、を備える。移動基台621の−X方向側面は、一対の案内レール531,531に摺動可能に係合している。移動基台621の+X方向側面には、Z方向に沿って一対の案内レール623,623が設けられている。移動基台622の−X方向側面は、一対の案内レール623,623に摺動可能に係合している。第二の切削加工手段72は、ワークを切削加工するブレード721と、Y方向を回転軸としてブレード721を回転可能に支持する図示しない気体軸受けを有するスピンドル722とを備える。第二の切削加工手段72及びブレード721はそれぞれ、本発明に係る加工手段及び工具として機能する。
支持部53の+X方向側面には、第二の切削加工機構62を一対の案内レール531,531に沿ってX方向に移動させる第二のスピンドル送り手段82が設けられている。第二のスピンドル送り手段82は、支持部53の+X方向側面に配設され、Y方向に延びる雄ネジロッド821を備える。雄ネジロット821は、支持部53に取り付けられた図示しない軸受部材によって回転自在に支持されている。図示しない軸受部材には、雄ネジロッド821を回転駆動する図示しないパルスモータが配設されている。移動基台621の−X方向側面には、その軸方向中央部から−X方向に延びる図示しない貫通雌ネジ孔が設けられている。雄ネジロッド821は、図示しない貫通雌ネジ孔に螺合している。これにより、図示しないパルスモータが正転した場合、移動基台621、すなわち第二の切削加工機構62は−Y方向に移動する。一方、図示しないパルスモータが逆転した場合には、移動基台621、すなわち第二の切削加工機構62は+Y方向に移動する。
移動基台621の+X方向側面には、移動基台621を一対の案内レール623,623に沿ってZ方向に移動させる移動手段92が設けられている。移動手段92は、移動基台621の+X方向側面に配設され、Z方向に延びる雄ネジロッド921を備える。雄ネジロット921は、移動基台921に取り付けられた図示しない軸受部材によって回転自在に支持されている。図示しない軸受部材には、雄ネジロッド921を回転駆動するパルスモータ922が配設されている。移動基台622の−X方向側面には、その軸方向中央部から−X方向に延びる図示しない貫通雌ネジ孔が設けられている。雄ネジロッド921は、図示しない貫通雌ネジ孔に螺合している。これにより、パルスモータ922が正転した場合、移動基台622は+Z方向に移動する。一方、パルスモータ922が逆転した場合には、移動基台622は−Z方向に移動する。
切削装置1は、底面部100aと底面部100aに立設された4つの側面部100bとを有する箱状の加工チャンバー100を備える。加工チャンバー100の1つの側面部100bは、加工チャンバー100の内部に連通する排気ダクト101を備える。Y方向の2つの側面部100bと底面部100aとには、第一の切削加工機構61及び第二の切削加工機構62の移動を許容するためのスリット部102が形成されている。この加工チャンバー100は、ワークの切削加工を行う前に、ブレードがワークに作用する加工点を覆うように底面部100aを上面として図中破線で示す位置に配置される。そして、ワークの切削加工を行う際には、加工チャンバー100は、Y方向への第一の切削加工機構61及び第二の切削加工機構62の移動を許容しつつ、排気ダクト101に接続された図示しない排気装置を利用してワークの加工点を冷却するために供給された冷却水の噴霧を排出する。また、切削加工屑を含む冷却水は、装置ハウジング2の凹部21に設けられたドレン口22を介して外部に排出される。
切削装置1は、ワークを洗浄するための洗浄手段93を備える。洗浄手段93は、ワークを洗浄手段93に搬送する搬送手段931と、ワークを吸引保持する洗浄保持手段932と、洗浄保持手段932によって吸引保持されたワークに洗浄液を供給する洗浄液供給手段933(図6参照)と、洗浄保持手段932を覆う洗浄チャンバー934とを備える。図6に示すように、洗浄保持手段932は排気経路935を介してエジェクター937に接続されており、エジェクター937が排気経路935を介してワークWの保持面に吸引力を発生させる。
〔加工チャンバーの構成〕
次に、図2乃至図4を参照して、加工チャンバー100の構成について説明する。図2は、加工チャンバー100の構成を示す平面図である。図3は、図2に示すエジェクター111の構成を示す平面図である。図4は、図3に示すエジェクター111の変形例の構成を示す平面図である。図5は、図4のD−D線断面図である。
図2に示すように、加工チャンバー100は、エジェクター111,112を備える。エジェクター111,112はそれぞれ、スピンドル712,722の気体軸受けから排出される気体若しくはチャックテーブル機構3でのワークの吸引保持のために図示しないエジェクターが排出する気体の排気経路713,723に連結されており、スピンドル712,722若しくはチャックテーブル機構3の動作に伴い発生する排気経路713,723内の気体の流れによって加工チャンバー100の内部に吸引力を発生させる。具体的には、図3に示すように、エジェクター111は、排気経路713に連通する排気経路111aと、排気経路111aと加工チャンバー100の内部とを連通する排気経路111bとを備える。
このような構成を有するエジェクター111では、スピンドル712,722若しくはチャックテーブル機構3の動作に伴い発生する矢印A方向への気体の流れによって矢印B方向に吸引力が発生する。なお、エジェクター112もエジェクター111と同様の構成を有する。これにより、排気装置を大型化することなく、加工チャンバー100内の排気能力を向上させることができる。また、排気経路713,723に気体が流れるタイミングと加工チャンバー100内の排気が必要なタイミングは一致するので、加工チャンバー100内を適切なタイミングで排気することができる。
なお、エジェクター111,112は図4及び図5に示すような構成を有していてもよい。すなわち、図4及び図5に示すエジェクター111は、排気経路111cと排気経路111dとを備える。排気経路111cは、排気経路713に連通し、矢印A方向に示すようにスピンドル712,722若しくはチャックテーブル機構3の気体軸受けに用いられた気体を噴出口111eから+Y方向に噴出する。排気経路111dは、加工チャンバー100に連通し、噴出口111eからの気体の噴出に伴い矢印B方向への吸引力を発生させる。
〔洗浄チャンバーの構成〕
次に、図6を参照して、洗浄チャンバー934の構成について説明する。図6は、洗浄チャンバー934の構成を示す断面図である。
図6に示すように、洗浄チャンバー934は、エジェクター113を備える。エジェクター113は、洗浄保持手段932でのワークWの吸引保持のためにエジェクター937が排出する気体の排気経路936に連結されており、洗浄保持手段932の動作に伴い発生する排気経路936内の気体の流れによって洗浄チャンバー934の内部に吸引力を発生させる。具体的には、洗浄保持手段932に接続されたエジェクター937による吸引力の発生に伴い、排気経路936には図中矢印Aで示すようにエジェクター937からの気体の流れが発生する。この結果、エジェクター937の下流側に設置されたエジェクター113は、図中矢印Bで示すよう吸引力を発生させ、洗浄チャンバー934の内部を排気する。これにより、排気装置を大型化することなく、洗浄チャンバー934内の排気能力を向上できる。また、洗浄保持手段932を吸引保持するタイミング(排気のタイミング)と洗浄チャンバー934内の排気が必要なタイミングは一致するので、洗浄チャンバー934内を適切なタイミングで排気することができる。
以上、本発明者らによってなされた発明を適用した実施の形態について説明したが、上記実施形態による本発明の開示の一部をなす記述及び図面により本発明は限定されることはない。例えば、本実施形態では、加工チャンバー100と洗浄チャンバー934との両方に排気能力を向上させるためのエジェクターを設けたが、加工チャンバー100と洗浄チャンバー934との一方に排気能力を向上させるためのエジェクターを設けるようにしてもよい。このように、上記実施形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施形態、実施例、及び運用技術等は、全て本発明の範疇に含まれる。
1 切削装置
3 チャックテーブル機構
71 第一の切削加工手段
72 第二の切削加工手段
711,721 ブレード
712,722 スピンドル
713,723 排気経路
932 洗浄保持手段
933 洗浄液供給手段
934 洗浄チャンバー
936 排気経路
111,112,113 エジェクター

Claims (3)

  1. ワークを吸引保持する加工保持手段と、
    該加工保持手段に保持されたワークを加工する工具と、該工具を回転可能に支持する気体軸受けを有するスピンドルと、を備えた加工手段と、
    該工具がワークに作用する加工点を覆う加工チャンバーと、
    ワークを吸引保持する洗浄保持手段と、
    該洗浄保持手段に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、
    該洗浄保持手段を覆う洗浄チャンバーと、を有する加工装置であって、
    該加工保持手段若しくは該加工手段の気体軸受け若しくは該洗浄保持手段の何れかに用いられた気体の排気経路に、該加工チャンバー内若しくは該洗浄チャンバー内に吸引力を発生させるエジェクターを配設したことを特徴とする加工装置。
  2. 該加工保持手段若しくは該加工手段の気体軸受けの何れかに用いられた気体の排気経路に、該加工チャンバー内に吸引力を発生させるエジェクターを配設したことを特徴とする請求項1に記載の加工装置。
  3. 該洗浄保持手段に用いられた気体の排気経路に、該洗浄チャンバー内に吸引力を発生させるエジェクターを配設したことを特徴とする請求項1に記載の加工装置。
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