JP2012088342A - 屈折率分布計測方法および屈折率分布計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】屈折率分布計測方法は、媒質M中における被検物140の配置が互いに異なる複数の配置について、第1の波長による被検物の第1の透過波面の計測結果と基準被検物が該媒質中にて被検物の配置と同じ配置とされているときの第1の波長による透過波面との差分である第1の波面収差を複数の配置について算出し、第2の波長による被検物の第2の透過波面の計測結果と基準被検物が該媒質中において被検物の配置と同じ配置とされているときの第2の波長による透過波面との差分である第2の波面収差を複数の配置について算出する。第1及び第2の波面収差に基づいて、被検物の形状成分を除去しつつ、複数の配置のそれぞれにおける被検物の屈折率分布投影値を取得し、複数の配置に対応する複数の屈折率分布投影値に基づいて被検物の3次元屈折率分布を算出する。
【選択図】図5
Description
140 被検物
200 演算部
Claims (6)
- 被検物の屈折率とは異なる屈折率を有する媒質中に前記被検物を配置し、前記被検物に参照光を入射させて該被検物の透過波面を計測する計測ステップと、前記透過波面の計測結果を用いて前記被検物の屈折率分布を算出する算出ステップとを含む屈折率分布計測方法であって、
前記計測ステップにおいて、前記媒質中における前記被検物の配置が互いに異なる複数の配置について、第1の波長による第1の透過波面と、前記第1の波長とは異なる第2の波長による第2の透過波面とを計測し、
前記算出ステップにおいて、
前記第1の透過波面の計測結果と、前記被検物と同一形状および特定の屈折率分布を有する基準被検物が前記媒質中において前記被検物の配置と同じ配置とされているときの前記第1の波長による透過波面との差分である第1の波面収差を前記複数の配置について算出し、
前記第2の透過波面の計測結果と、前記基準被検物が前記媒質中において前記被検物の配置と同じ配置とされているときの前記第2の波長による透過波面との差分である第2の波面収差を前記複数の配置について算出し、
前記第1の波面収差と前記第2の波面収差に基づいて、前記被検物の形状成分を除去しつつ、前記複数の配置のそれぞれにおける前記被検物の屈折率分布投影値を取得し、前記複数の配置に対応する複数の屈折率分布投影値に基づいて前記被検物の3次元屈折率分布を算出することを特徴とする屈折率分布計測方法。 - 前記複数の配置は、前記被検物への入射光線が前記被検物の光入射側の光学面とコバとの境界を通ると共に光出射側の光学面とコバとの境界を通る配置を含むことを特徴とする請求項1に記載の屈折率分布計測方法。
- 光学素子をモールド成形するステップと、請求項1又は2に記載の屈折率分布計測方法を用いて前記光学素子の屈折率分布を計測することによって、成形された光学素子の光学性能を評価するステップと、を含むことを特徴とする光学素子の製造方法。
- 第1および第2の波長で発光する光源と、被検物の屈折率とは異なる屈折率を有する媒質中における被検物の配置を調整する調整手段と、前記光源からの光を用いて前記媒質中に配置された前記被検物の透過波面を計測する計測手段と、前記第1および第2の波長においてそれぞれ計測された第1の透過波面と第2の透過波面に基づいて前記被検物の屈折率分布を求める演算手段とを有する屈折率分布計測装置であって、
前記計測手段によって、前記第1の透過波面と前記第2の透過波面を、前記媒質中における前記被検物の配置が互いに異なる複数の配置についてそれぞれ計測し、
前記演算手段は、
前記第1の透過波面の計測結果と、前記被検物と同一形状および特定の屈折率分布を有する基準被検物が前記媒質中において前記被検物の配置と同じ配置とされているときの前記第1の波長による透過波面との差分である第1の波面収差を前記複数の配置について算出し、
前記第2の透過波面の計測結果と、前記基準被検物が前記媒質中において前記被検物の配置と同じ配置とされているときの前記第2の波長による透過波面との差分である第2の波面収差を前記複数の配置について算出し、
前記第1の波面収差と前記第2の波面収差に基づいて、前記被検物の形状成分を除去しつつ、前記複数の配置のそれぞれにおける前記被検物の屈折率分布投影値を取得し、前記複数の配置に対応する複数の屈折率分布投影値に基づいて前記被検物の3次元屈折率分布を算出することを特徴とする屈折率分布計測装置。 - 前記計測手段はシアリング干渉計を有することを特徴とする請求項4に記載の計測装置。
- 前記計測手段はシャックハルトマンセンサを有することを特徴とする請求項4に記載の計測装置。
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